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KR100420722B1 - 소재상에서의가공을위한빔또는제트를모니터하고위치결정하기위한방법및장치 - Google Patents

소재상에서의가공을위한빔또는제트를모니터하고위치결정하기위한방법및장치 Download PDF

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KR100420722B1
KR100420722B1 KR1019960043430A KR19960043430A KR100420722B1 KR 100420722 B1 KR100420722 B1 KR 100420722B1 KR 1019960043430 A KR1019960043430 A KR 1019960043430A KR 19960043430 A KR19960043430 A KR 19960043430A KR 100420722 B1 KR100420722 B1 KR 100420722B1
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South Korea
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jet
sensor
monitoring
seam
workpiece
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그로스 놀베르트
피. 헬름 하인츠
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엘파트로닉 아게
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Abstract

가공편을 작동하기 위하여 비임 또는 젯트(3)를 감시하고 위치조절하기 위한 방법에서, 비임 또는 젯트의 앞에서 제 1센서(7)(예를들면 비임의 경우에는 계목탐지시스템)가 그리고/또는 미리 설정된 값이 비임 또는 젯트(3)에 의하여 뒤따라지는 통로를 결정한다. 비임 또는 젯트(3)의 뒤에서 제 2센서(9)는 비임 또는 젯트의 작용을 감시한다. 미리 설정된 값 혹은 비임 또는 젯트(3)의 필요하여진 위치에 관련하여 제 1센서(7)에 의하여 얻어진 측정치는 비임 또는 젯트와 가공편 사이에서 속도에 의존하는 상대적인 변위를 고려하면서 비임 또는 젯트(3)의 실제위치에 관련하여 제 2센서(9)에 의하여 얻어진 측정치와 비교된다. 실제위치가 필요하여진 위치로부터 벗어난다면 비임 또는 젯트(3)는 기본위치에 대하여 교정된다.

Description

소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 방법 및 장치
본 발명은 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 방법(method for monitoring and positioning a beam or jet for operating on a workpiece)에 관한 것으로, 여기서, 상기 빔 또는 제트의 전방에서 시임을 검출하는 제 1 센서(seam detecting first sensor; 예를 들어, 빔의 경우에는 시임검출시스템) 및/또는 미리 설정된 값이 상기 빔 또는 제트에 의해 추종될 경로를 결정하며, 상기 빔 또는 제트의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(second sensor after the beam for monitoring the action of the beam)는 빔 또는 제트의 동작을 모니터한다. 본 발명은 또한 상기 방법을 실행하기 위한 장치에 관한 것이다.
다수의 주로 산업적인 기계가공 공정에 있어서, 빔 또는 제트는 모니터 또는 위치결정되거나 또는 모니터 및 위치결정되어야만 한다. 이것은 예를 들어, 레이저 빔 절단 또는 워터제트 절단에 적용된다. 양 경우들에 있어서, 빔 또는 제트의 경로는 일반적으로 전자시스템에 의해 미리 결정된다. 따라서 상기 빔 또는 제트는 상기 경로를 따라야만 한다. 절단 품질은 (다른 인자들 중에서도) 미리 정해진 경로에 대한 상기 빔 또는 제트의 정확한 고수(adherance) 여하에 의존한다.
더욱 더 큰 정도로, 동일한 사항이 빔을 가지는 용접에, 그리고 특히 레이저 빔 용접에 적용된다. 또한, (예를 들어, 자동차 산업에서 "테일러드블랭크들 (tailored blanks)"로 공지된 것들과 같은) 레이저 빔 공정에 의한 맞대기이음 용접에 의해 대량생산된 금속박판 부품들의 장점들은 구성요소들의 기하학적 허용오차, 절단된 가장자리의 품질, 및 레이저 방사의 특성들의 관점에서, 상기 공정의 정확한 필요조건들이 충족되지 않을 경우에, 충분히 개발될 수 없다.
0.2 내지 0.4mm의 공칭 초점직경을 가지는 경우에, 서로 접합될 2개의 소재들 사이의 접합선 상에서의 레이저 빔의 정확한 위치결정은 높은 품질의 용접 접합부가 획득되기 위하여 필수적이다. 기술적인 "영(nil)" 간격을 위하여, 최대 위치허용오차는 0.1mm를 초과해서는 안 된다. 또한, 상기 간격들이 용탕(molten pool)에 의해 가교연결되어져야 하는 경우에, 상기 허용오차는 더욱 감소되어야만 한다.
불량한 빔 위치결정으로 인한 용융부족은 용접부의 더 넓은 상부비드(upper run)에 의하여 감춰지기 때문에, 다만 부분적인 침투(penetration)를 가지는 용접부들에서 특히 치명적이다. 전체 침투를 가지는 용접부들에서 조차도 약간 확장된 시임 루트(seam root)는 볼 수 없는 내부 용융부족을 가져올 수도 있다.
오늘날, 충분히 높은 위치결정 정확도는 접합선의 실제 경로 즉, 빔 전방의, 소재들의 맞대어진 가장자리의 경로를, 일련의 보정좌표들로서 직접 기계제어시스템에 전달하는 광전자센서들(optoelectronic sensors) 또는 영상처리시스템에 의하여 얻어진다. 이러한 수단에 의하여, 레이저헤드는 약 0.05mm의 정확도로 상기 시임에 대하여 방향이 설정될 수 있다. 이러한 종류의 시임검출시스템은 예를 들어, DE-OS 4312241에 공지된다.
상기 방법들의 근본적인 단점은 접합선검출시스템들이 고정된, 미리 설정된 레이저 빔 위치로부터 시작되어야만 한다는 점에 있다.
측정된 좌표위치들은 빔의 실제위치에 관련될 수 없다. 이것은 주기적인 시간간격으로, 그리고 광경로(optical path)의 각각의 조정 후에 최소로, 보정절차를 실행함으로써 부분적으로 치유되기는 하지만, 그러나 이것은 생산에서의 중단(break)을 포함한다. 빔 발생 및 안내시스템에서 열적효과로 인한 레이저 빔의 위치 변화는 전적으로 보상되지 않은 채로 유지된다. 이 결과는 용접작업에서의 정확성에 있어서의 감소이다.
이론적으로 상기 문제들은 빔검출시스템의 부분으로서 이미 존재하는 빔안내 시스템 내로 빔검출시스템을 일체체시킴에 의해 해결될 수 있다. 그러나 이러한 검출시스템은 일반적으로 온라인 작업에 있어서 부적합하며, 적어도 이들의 사용은 상당한 추가비용을 초래할 것이다.
또한 용접된 시임은 빔의 후방에서 모니터될 수 있다는 것이 공지된다. 그러나 이것은 접합선의 위치를 고려하기 위해서가 아니라, 단지 용접된 시임의 품질을 결정하기 위하여 행해진다.
본 발명이 기초로 하는 목적은 그것들에 의해 빔 또는 제트, 특히 레이저 빔이 연속적으로 모니터되고 위치결정되며 기본위치로 보정될 수 있는, 상술한 종류의 방법과 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적은 빔 또는 제트와 소재 사이의 속도에 의존하는 상대적인 변위를 고려하면서, 빔 또는 제트의 요구되는 위치에 관한 미리 설정된 값, 또는 시임을 검출하는 제 1 센서에 의해 얻어진 검출값을 빔 또는 제트의 실제위치에 관한, 빔의 후방에서 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서에 의해 얻어진 검출값과 비교함으로써, 그리고 상기 실제위치가 요구되는 위치로부터 벗어나는 경우에는 기본위치로 빔 또는 제트를 보정함으로써 달성될 수 있다.
이것을 시임의, 특히 빔 후방의 용접된 시임의 경로가 상기 제 2 센서에 의해 측정되며 그리고 상기 경로 또는 상기 빔 전방의 요구되는 경로와 비교되는 것을 의미한다. 이것은 용접될 시임 자체의 품질검사와 결합되는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 상기 시스템은 2개의 소재들 사이의 용접된 접합부(joint)의생산, 또는 여기에 기재되는 레이저 용접의 특별한 경우에 제한되지 않으며, 그리고 이것은 경로가 안내되는(path-guided) 빔 또는 제트를 사용하는 모든 공정에 적용될 수 있다. 이러한 공정들 중에서 첫째로, 높은 에너지 방사를 이용하는 절단공정이 있다.
상기 과제의 해결은 접합선의 위치를 검출하기 위한 영상처리시스템에 관련하여 좌표의 기준시스템을 발생시키는 것에 의해 주로 달성될 수 있다. 제 2 영상처리시스템은 영상발생감지시스템이 공통적인 강성(rigid) 장착 표면에 고정되고 그리고 서로에 대해 보정된다는 전제하에 상기 좌표의 기준시스템에 관련될 수 있다.
레이저 용접유닛과 같은 많은 상황들에서 용접위치 바로 뒤에 위치되는 제 2 센서시스템이 생성된 시임의 결합구조(geometry)의 자동적인 검사를 수행하기 위하여 여하튼 요구되기 때문에, 상기 제 2 센서시스템의 광학적 영상기록 및 주사속도에 대한 필수조건은 접합선을 검출하기 위한 제 1 시스템의 필수조건과 유사하며 따라서 거의 동일한 구성이 용이하게 채택될 수 있다.
따라서 용접될 시임의 위치가 제 1 영상처리시스템에 의해 연속적으로 계산되는 한편, 차후의 영상처리시스템은 또한 좌표의 공통 기준시스템 내에서 그것의 위치와 관련하여 방금 용접된 시임을 특정한다. 정확하고 완전한 영상의 중첩을 얻기 위하여, 2개의 감지헤드가 고정된 공통 장착부를 가지므로 예를 들어 시임을 검출하는 제 1 센서의 영상영역의 좌표 원점으로부터 빔의 후방에서 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서의 영상영역 내의 상응하는 위치로 이동되는 소재 또는 빔에 의해 요구되는 속도에 의존하는 이동시간을 아는 것만이 필요하다. 상기 이동시간은 상업적으로 구입가능한 측정시스템으로 용이하게 기록될 수 있으며 중첩될 영상의 정렬을 위한 기초를 형성할 수 있다. 용접 또는 절단을 위한 구성요소들의 공급속도가 알려져 있을 경우에, 실제 경로와 요구되는 경로 사이의 정확한 대응(correspondence)이 얻어질 수 있다.
상술한 영상들의 중첩을 이용하여, 접합선의 실제위치에 관한 초점이 맞추어진 레이저 빔의 충돌점은 영상분석프로그램에 의하여 매우 정밀한 정밀도로 결정될 수 있다. 일단 상기 기준값이 알려지면, 초점직경 및 시임의 폭에 대해 알려진 값들에 근거하여 내부의 용융발생부족의 확률의 직접적인 추정을 하는 것이 우선 가능해진다. 또한 열적 원인에 기인하는 빔 위치에서의 이동이 비교적 서서히 일어나기 때문에, 빔 위치에 대한 보정이 용이하게 행해질 수 있다.
물론, 본 발명은 1차원적 공급(feed)에 제한되지 않는다. 또한 2차원적 또는 3차원적 공급에 있어서도 유사한 방법으로 빔 또는 제트가 모니터되고 위치결정되는 것도 가능하다.
접합선 및/또는 용접시임의 경로를 검출하기 위한 다수의 기술들은 선행기술로부터 공지된다. 이러한 모든 기술들은 본 발명과 관련하여 사용될 수 있다. 언급될 실시예는 광구간 기술(light section technique)와, 회색레벨 영상분석(grey-level image analysis)을 이용하는 기술이다. 광구간 기술의 기재는 예를 들어, DE-OS 4312241에서 발견될 수 있는 반면에, 회색레벨 영상분석에 의한 접합부 결합구조의 검출의 기재는 DVS-보고서, vol.94(1985), 페이지 44ff에서 발견될 수 있다.
환경에 따라, 상기 2개의 센서는 동일한 기술에 의해서, 또는 상이한 기술에 의하여 작동될 수 있다. 경험적으로 어떠한 품질적인 요구사항들이 개별적인 기술들에 부과될 것인가를 알 수 있다. 본 발명에 따른 방법이 빔 또는 제트에 의한 절단을 위해 사용되는 경우에는, 상기 빔 또는 제트에 앞서는 센서는 대부분의 경우에 불필요하게 된다. 요구되는 위치를 결정하는 데 있어서의, 그리고 또한 이에 따라 빔 또는 제트를 안내하는 데 있어서의 센서의 기능은 그 다음에 전자적 기억소자에 의해 저장 가능한 미리 설정된 값에 의해 떠맡어진다.
본 발명의 또 다른 장점들, 특징 및 상세한 사항들은 이하의 바람직한 실시예들의 기재로부터, 그리고 도면을 참조하여 분명하게 될 것이다.
제 1 도에 도시되는 바와 같이, 2개의 소재들(1 및 2)이 빔(3)에 의해 서로 접합될 것이다. 빔(3)의 전방의 2개의 소재들(1 및 2) 사이의 접합부의 영역은 접합선(4)으로서, 그리고 빔(3)의 후방의 동일한 영역은 용접된 시임(5)으로서 칭해진다.
상기 빔(3)은 예를 들어 십자형 슬라이드(cross slide)로서 구성될 수 있는 이동장치(6) 상의 공급원(source; 도시되지 않음)로부터 발생된다. 이러한 경우에 있어서, 상기 이동장치(6)는 2개의 차원 x 및 y로 이동 가능하다. 그러나 3차원 이동을 제공하는 것이 또한 가능하다. 다만 중요한 점은, 상기 이동장치(6)가 빔(3)이 접합선(4)을 따라 안내되는 것을 가능하게 하고, 그리고 상기 접합선에 정렬되는 것을 가능하게 한다는 점이다.
상기 빔(3)이 접합선(4)을 따라 안내될 수 있도록 하기 위하여, 시임을 검출하는 제 1 센서(7; 또한 시임검출시스템으로 칭해짐)는 빔(3)의 전방에 설치된다. 상기 시임을 검출하는 제 1 센서(7; seam detecting first sensor)는 제어유닛(8)에 연결되며 연속적으로 접합선(4)의 경로를 검출한다. 속도에 의존하는 소재들의 이동시간에 기초하여 -또는 소재에 대하여 횡단하는 경우에는 상기 빔의 이동시간에 기초하여-, 접합선(4)의 경로는 상기 제 1 센서(7)에 의해 얻어진 측정값을 따라 상기 이동장치(6)를 작동시키는 제어유닛(8)에 의하여 결정되며, 따라서 상기 빔(3)은 접합선(4)에, 바람직하게는 접합선(4)의 중심선(도시되지 않음)에 항상 정확하게 조준된다.
본 발명에 따르면, 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(9)가 빔(3)의 후방에 제공되며 마찬가지로 상기 제어유닛(8)에 연결된다. 상기 빔 또는 제트(3)의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서 (9; second sensor after the beam for monitoring the action of the beam) 는 용접된 시임(5)을 관찰한다.
본 발명에 따른 장치의 작동방식은 실시예에 의해, 제 2 도를 참조하여, 이하에 기재될 것이다.
상기 빔(3)에 선행하는 센서(7)는 소위 광구간 기술에 의해 작동된다. 이것은 현재의 경우에 5개의 평행한 스트립들(10)으로 구성되는 스트립들 패턴의, 센서렌즈시스템의 광학축에 경사각도에 있는 접합선(4)의 영역 상으로의 돌출부를 포함한다. 이러한 스트립들(10)은 본질적으로 용접될 접합선에 가로질러 연장되지만,그러나 또한 상이하게 위치될 수도 있다. 접합선(4)의 영역에서, 상기 스트립들은 중단되거나 또는 이동들(shifts)이 발생되는데, 이것들은 상기 센서에 의해 검출된다. 접합선의 경로는 다음에 스트립들의 수에 상응하는 지점들의 수로부터 결정될 수 있다.
제 2 도에 도시되는 바와 같이, 제 2 센서(9)는 동일한 원리로 작동되며 용접된 시임(5)은 유사한 스트립 패턴(11)으로 조사된다.
시간 경과 중에 예를 들어 열적으로 유도되는 드리프트(drift)의 결과로, 상기 빔(3)이 실선으로 도시된 그것의 위치로부터 파선으로 도시된 위치로 벗어나는 경우에, 이것은 제 1 센서(7)에 의해 검출될 수 없는데, 이것은 상기 제 1 센서가 빔(3)이 그의 기본위치에 존재하는 것을 항상 전제로 하기 때문이다. 그러나 예를 들어 영상분석에 의해 얻어진 위치좌표로 구성되는, 상기 제어유닛(8)에 공급되는 측정결과들이 더이상 일치하지 않기 때문에, 후행하는 제 2 센서(9)는 상기 제 1 센서(7)의 경로로부터 벗어난 용접된 시임(5)의 경로의 편차를 검출한다. 이것은 또한 파선으로 도면에서 개략적으로 나타난다. 그 다음에 이동장치는 얻어진 보정값에 따라 상기 제어유닛(8)에 의해 이동되며 따라서 상기 빔(3)은 다시 기본위치로 되돌아가게 된다.
제 1 도는 소재 상에서의 가공을 위한 빔을 모니터하고 위치결정하기 위한 장치를 부분적으로 블럭다이어그램 형태로 표시한 평면도이며;
제 2 도는 개략적으로 표시된 빔위치검출부를 가지는 제 1 도에 따른 장치의 평면도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1, 2 : 소재 3 : 빔 또는 제트
4 : 접합선 5 : 시임(seam)
7 : 센서 8 : 제어유닛

Claims (3)

  1. 빔 또는 제트(3)의 전방에서 시임을 검출하는 제 1 센서(7; 예를 들어, 빔의 경우에는 시임검출시스템) 및/또는 미리 설정된 값이 상기 빔 또는 제트(3)에 의해 추종될 경로를 결정하며, 빔 또는 제트(3)의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(9)가 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하는, 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 방법에 있어서,
    빔 또는 제트와 소재 사이의, 속도에 의존하는 상대적인 변위를 고려하면서, 빔 또는 제트(3)의 요구되는 위치에 관한, 상기 미리 설정된 값 또는 시임을 검출하는 제 1 센서(7)에 의해 얻어진 측정값은 상기 빔 또는 제트(3)의 실제위치에 관한, 상기 빔 또는 제트(3)의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(9)에 의해 얻어진 측정값과 비교되며, 상기 실제위치가 요구되는 위치로부터 벗어나는 경우에 상기 빔 또는 제트(3)는 기본위치로 보정되는 것을 특징으로 하는, 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 빔 또는 제트(3)의 요구되는 위치는 광구간 기술에 의해, 또는 광구간 기술 및 회색레벨 영상분석기술의 조합에 의해 검출되며, 상기 빔 또는 제트(3)의 실제위치는 회색레벨 영상분석기술에 의해, 또는 광구간 기술 및 회색레벨 영상분석기술의 조합에 의해 검출되고, 상기 검출된 위치들은 서로 비교되는 것을 특징으로 하는, 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 방법.
  3. 빔 또는 제트(3)의 전방에서 시임을 검출하는 제 1 센서(7; 예를 들어, 빔의 경우에는 시임검출시스템) 및/또는 미리 설정된 값이 상기 빔 또는 제트(3)에 의해 추종될 경로를 결정하며, 빔 또는 제트(3)의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(9)가 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하는, 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 장치에 있어서,
    상기 시임을 검출하는 제 1 센서(7) 및 빔 또는 제트(3)의 후방에서 상기 빔 또는 제트의 동작을 모니터하기 위한 제 2 센서(9)는 상기 2개의 센서(7, 9)에 의해 얻어진 측정값들을 비교하기 위한 제어유닛(8)에 연결되며, 상기 제어유닛(8)은 빔 또는 제트(3)와 소재 사이의 상대적인 변위를 위한 이동장치(6)에 연결되는 것을 특징으로 하는, 소재 상에서의 가공을 위한 빔 또는 제트를 모니터하고 위치결정하기 위한 장치.
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