[go: up one dir, main page]

KR100403360B1 - Internal supply voltage generating circuit - Google Patents

Internal supply voltage generating circuit Download PDF

Info

Publication number
KR100403360B1
KR100403360B1 KR10-2000-0050493A KR20000050493A KR100403360B1 KR 100403360 B1 KR100403360 B1 KR 100403360B1 KR 20000050493 A KR20000050493 A KR 20000050493A KR 100403360 B1 KR100403360 B1 KR 100403360B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
supply voltage
power supply
signal
pull
level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
KR10-2000-0050493A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20020017280A (en
Inventor
강동금
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR10-2000-0050493A priority Critical patent/KR100403360B1/en
Publication of KR20020017280A publication Critical patent/KR20020017280A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100403360B1 publication Critical patent/KR100403360B1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current 
    • G05F1/46Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
    • G05F1/468Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC characterised by reference voltage circuitry, e.g. soft start, remote shutdown
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/148Details of power up or power down circuits, standby circuits or recovery circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 안정된 내부전원전압을 발생하는 내부전원전압 발생회로에 관한 것으로, 특히, 기준전압과 내부전원전압을 비교하여 비교신호를 출력하는 비교기; 상기 비교신호에 구동되어 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 1풀업 트랜지스터; CMOS 레벨의 구동신호에 응답하여 상기 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 2풀업 트랜지스터; 제 1 및 제 2출력신호를 발생하는 정전류원; 인에이블신호와 상기 정전류원의 제 1출력신호와 상기 비교기의 비교신호에 응답하여 외부전원전압 레벨의 출력신호를 발생하는 레벨변환부; 및 상기 레벨변환부의 출력신호와 상기 정전류원의 제 2출력신호에 응답하여 상기 CMOS 레벨의 구동신호를 출력하는 구동신호 발생부를 구비하며, 상기 비교신호가 제 1논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴온시키고, 상기 비교신호가 제 2논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴오프시키는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an internal power supply voltage generation circuit for generating a stable internal power supply voltage, and in particular, a comparator for comparing a reference voltage and an internal power supply voltage and outputting a comparison signal; A first pull-up transistor driven by the comparison signal to pull up an internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level; A second pull-up transistor configured to pull up the internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level in response to a CMOS signal; A constant current source for generating first and second output signals; A level converter configured to generate an output signal of an external power supply voltage level in response to an enable signal, a first output signal of the constant current source, and a comparison signal of the comparator; And a driving signal generator for outputting a driving signal of the CMOS level in response to an output signal of the level converter and a second output signal of the constant current source. The second pull-up transistor is turned on, and the first and second pull-up transistors are turned off when the comparison signal is at the second logic level.

Description

내부전원전압 발생회로{Internal supply voltage generating circuit}Internal supply voltage generating circuit

본 발명은 반도체 집적 회로의 전원 회로에 관한 것으로, 특히, 안정된 내부전원전압을 발생하는 내부전원전압 발생회로에 관한 것이다.The present invention relates to a power supply circuit of a semiconductor integrated circuit, and more particularly, to an internal power supply voltage generation circuit for generating a stable internal power supply voltage.

반도체 집적 회로의 집적도가 증가함에 따라 모스 트랜지스터(MOS transistor)의 게이트 길이와 옥사이드 두께가 점차 감소하고 있다. 그러나 외부 전원 전압은 계속 5V를 사용하기 때문에 채널의 전계가 필요 이상으로 커져서 옥사이드의 내압 한계에 이르므로 트랜지스터의 신뢰도를 떨어뜨리는 원인이 된다. 이 때문에 반도체 메모리의 경우에는 16M 디램부터 저전압 발생기를 채택하고 있다. 저전압 발생기는 전압 강압 회로라고도 불리는데, 외부 전원전압을 강압시켜서 저전압 회로에 적합한 내부전원전압을 발생시킨다.As the degree of integration of semiconductor integrated circuits increases, gate lengths and oxide thicknesses of MOS transistors gradually decrease. However, since the external supply voltage continues to use 5V, the channel's electric field becomes larger than necessary, reaching the oxide breakdown limit, which causes the transistor to lose reliability. For this reason, in the case of semiconductor memories, low voltage generators have been adopted since 16M DRAM. The low voltage generator, also called a voltage step down circuit, steps down the external power supply voltage to generate an internal power supply voltage suitable for the low voltage circuit.

도 1은 종래의 내부전원전압 발생회로를 나타낸 회로도이다. 도 1에 나타낸 바와 같이, 비교기(102)는 기준전압(VREF)과 내부전원전압(VINT)을 비교하여 그 결과에 따라 논리 1 또는 논리 0의 비교 신호를 발생시킨다. 만약 내부전원전압(VINT)보다 기준전압(VREF)이 크면 논리 0의 비교 신호를 발생시키고, 반대로 기준전압(VREF)보다 내부전원전압(VINT)이 크면 논리 1의 비교 신호를 발생시킨다.1 is a circuit diagram showing a conventional internal power supply voltage generation circuit. As shown in FIG. 1, the comparator 102 compares the reference voltage V REF with the internal power supply voltage V INT and generates a comparison signal of logic 1 or logic 0 according to the result. If the internal supply voltage (V INT) than the reference voltage (V REF) generating a comparison signal of the larger logic 0 and, conversely, generates a comparison signal of the internal power supply voltage (V INT) is larger logical one than the reference voltage (V REF) Let's do it.

비교기(202)에서 출력되는 비교신호는 풀업 소자인 피모스 트랜지스터(104)를 제어한다. 비교신호가 논리 0(로우 레벨)이면 피모스 트랜지스터(104)가 턴온되어 내부전원전압 출력단(106)의 내부전원전압(VINT)은 상승하게 된다. 비교신호는 직렬 연결된 두 개의 인버터 체인(110)을 통해 또 다른 풀 업 소자인 피모스 트랜지스터(108)를 제어한다. 피모스 트랜지스터(108) 역시 비교 신호가 논리 0일 때 턴온되어 내부전원전압 출력단(106)의 전압을 상승시킨다. 비교 신호가 논리 0인 경우는 기준전압(VREF)보다 내부전원전압(VINT)이 작은 경우이므로, 두 개의 피모스 트랜지스터(104)(108)가 턴온되어 내부전원전압 출력단(106)의 내부전원전압(VINT)이 기준전압(VREF)의 레벨에 도달할 때까지 내부전원전압 출력단(106)의 전압 레벨을 상승시키는 것이다.The comparison signal output from the comparator 202 controls the PMOS transistor 104 which is a pull-up element. If the comparison signal is a logic 0 (low level), the PMOS transistor 104 is turned on to raise the internal power supply voltage V INT of the internal power supply voltage output terminal 106. The comparison signal controls the PMOS transistor 108 which is another pull-up element through two inverter chains 110 connected in series. The PMOS transistor 108 is also turned on when the comparison signal is logic 0 to increase the voltage of the internal power supply voltage output terminal 106. When the comparison signal is a logic zero, since the internal power supply voltage V INT is smaller than the reference voltage V REF , the two PMOS transistors 104 and 108 are turned on and the internal power supply voltage output terminal 106 is turned on. The voltage level of the internal power supply voltage output terminal 106 is increased until the power supply voltage V INT reaches the level of the reference voltage V REF .

이와 같은 종래의 내부전원전압 발생회로에 있어 풀업 트랜지스터(104)(108)는 비교기(102)에서 출력되는 차동 증폭 신호 즉, 아날로그 레벨의 신호에 의해 제어되기 때문에, 인버터(110)의 출력 신호의 논리 레벨이 불안정해져서 회로가 오동작할 수 있고, 또 회로 동작시에 피모스 트랜지스터(108)가 안정적으로 턴오프되지 않아 능동 전력 소비(Dynamic Power Consumption)에 의한 불필요한 전력 소비가 발생하는 문제가 있다.In the conventional internal power supply voltage generation circuit, since the pull-up transistors 104 and 108 are controlled by differential amplification signals output from the comparator 102, that is, analog level signals, the output signals of the inverter 110 The logic level may become unstable and the circuit may malfunction, and the PMOS transistor 108 may not be turned off stably during the operation of the circuit, causing unnecessary power consumption due to dynamic power consumption.

본 발명은 내부전원전압 출력단의 풀업 트랜지스터를 안정적으로 제어하여 안정된 내부전원전압을 발생하는 내부전원전압 발생회로를 제공하는 데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an internal power supply voltage generation circuit for stably controlling the pull-up transistor of the internal power supply voltage output stage to generate a stable internal power supply voltage.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 기준전압과 내부전원전압을 비교하여 비교신호를 출력하는 비교기; 상기 비교신호에 구동되어 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 1풀업 트랜지스터; CMOS 레벨의 구동신호에 응답하여 상기 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 2풀업 트랜지스터; 제 1 및 제 2출력신호를 발생하는 정전류원; 인에이블신호와 상기 정전류원의 제 1출력신호와 상기 비교기의 비교신호에 응답하여 외부전원전압 레벨의 출력신호를 발생하는 레벨변환부; 및 상기 레벨변환부의 출력신호와 상기 정전류원의 제 2출력신호에 응답하여 상기 CMOS 레벨의 구동신호를 출력하는 구동신호 발생부를 구비하며, 상기 비교신호가 제 1논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴온시키고, 상기 비교신호가 제 2논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴오프시키는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a comparator for comparing a reference voltage and an internal power supply voltage and outputting a comparison signal; A first pull-up transistor driven by the comparison signal to pull up an internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level; A second pull-up transistor configured to pull up the internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level in response to a CMOS signal; A constant current source for generating first and second output signals; A level converter configured to generate an output signal of an external power supply voltage level in response to an enable signal, a first output signal of the constant current source, and a comparison signal of the comparator; And a driving signal generator for outputting a driving signal of the CMOS level in response to an output signal of the level converter and a second output signal of the constant current source. The second pull-up transistor is turned on, and the first and second pull-up transistors are turned off when the comparison signal is at the second logic level.

도 1은 종래의 내부전원전압 발생회로를 나타낸 회로도.1 is a circuit diagram showing a conventional internal power supply voltage generation circuit.

도 2는 본 발명에 따른 내부전원전압 발생회로를 나타낸 회로도.2 is a circuit diagram showing an internal power supply voltage generation circuit according to the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

102, 202 : 비교기102, 202: Comparator

104, 108, 204, 208, 222, 224, 230, 232, 236 : 피모스 트랜지스터104, 108, 204, 208, 222, 224, 230, 232, 236: PMOS transistor

110, 210 : 인버터110, 210: Inverter

114, 214 : 부하 캐패시터114, 214: load capacitor

216 : 정전류원216: constant current source

218 : 레벨변환부218: level converter

220 : 구동신호 발생부220: drive signal generator

226, 228, 234, 240 : 엔모스 트랜지스터226, 228, 234, 240: NMOS transistor

VREF: 기준전압V REF : Reference Voltage

ACT : 인에이블신호ACT: Enable Signal

VINT: 내부전원전압V INT : Internal power supply voltage

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.도 2는 본 발명에 따른 내부전원전압 발생회로를 나타낸 회로도로서, 도시된 바와 같이, 비교기(202)와, 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터(204,208)와, 정전류원(216)과, 레벨변환부(218)와, 구동신호 발생부(220)로 구성된다.비교기(202)의 반전 입력단(-)에는 기준전압(VREF)이 입력되고, 비반전 입력단(+)에는 내부전원전압(VINT)이 입력된다. 이 비교기(202)는 내부전원전압(VINT)과 기준전압(VREF)을 비교하여, 내부전원전압(VINT)이 기준전압(VREF)보다 크면 논리 1의 비교 신호를 발생시키고, 반대로 기준전압(VREF)이 내부전원전압(VINT)보다 크면 논리 0의 비교 신호를 발생시킨다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an internal power supply voltage generation circuit according to the present invention. And a first and second pull-up transistors 204 and 208, a constant current source 216, a level converter 218, and a drive signal generator 220. A reference voltage at the inverting input terminal (-) of the comparator 202. (V REF ) is input, and the internal power supply voltage V INT is input to the non-inverting input terminal (+). The comparator 202 compares the internal power supply voltage V INT and the reference voltage V REF , and generates a comparison signal of logic 1 when the internal power supply voltage V INT is greater than the reference voltage V REF , and vice versa. When the reference voltage V REF is greater than the internal power supply voltage V INT , a comparison signal of logic 0 is generated.

제 1풀업 트랜지스터(204)는 피모스 트랜지스터로서 내부전원전압 출력단(206)과 외부전원전압(VEXT) 사이에 연결되며, 비교기(202)의 비교신호에 의해 구동된다. 이 제 1풀업 트랜지스터(204)는 비교신호가 논리 0일 때 턴온되어 내부전원전압 출력단(206)의 전압을 외부전원전압(VEXT) 레벨로 풀업시킨다.The first pull-up transistor 204 is a PMOS transistor connected between the internal power supply voltage output terminal 206 and the external power supply voltage V EXT and driven by a comparison signal of the comparator 202. The first pull-up transistor 204 is turned on when the comparison signal is logic 0 to pull up the voltage of the internal power supply voltage output terminal 206 to the external power supply voltage V EXT level.

제 2풀업 트랜지스터(208)는 피모스 트랜지스터로서 내부전원전압 출력단(206)과 외부전원전압(VEXT) 사이에 연결되며, 구동신호 발생부(220)에서 제공되는 CMOS 레벨의 구동신호에 의해 구동된다. 이 제 2풀업 트랜지스터(208)는 상기 CMOS 레벨의 구동신호가 논리 1일 때 턴온되어 내부전원전압 출력단(206)의 전압을 외부전원전압(VEXT) 레벨로 풀업시킨다.The second pull-up transistor 208 is a PMOS transistor, which is connected between the internal power supply voltage output terminal 206 and the external power supply voltage V EXT , and is driven by a CMOS level drive signal provided from the drive signal generator 220. do. The second pull-up transistor 208 is turned on when the driving signal of the CMOS level is logic 1 to pull up the voltage of the internal power supply voltage output terminal 206 to the external power supply voltage V EXT level.

정전류원(216)은 일정한 크기의 정전류를 공급하기 위한 것으로, 제 1 및 제 2출력신호를 발생한다. 피모스 트랜지스터(222)에는 외부 전원전압(VEXT)이 공급된다. 이 피모스 트랜지스터(222)의 게이트는 접지에 연결되어 항상 턴온턴온이며, 일정한 크기의 전류를 흘린다. 피모스 트랜지스터(222)를 통해 흐르는 전류는 엔모스 트랜지스터(226)의 드레인과 게이트에 동시에 공급된다. 따라서 엔모스 트랜지스터(226)를 통해 흐르는 전류는 피모스 트랜지스터(222)로부터 공급되는 전류의 크기에 비례하며, 항상 일정하다. 피모스 트랜지스터(222)의 드레인 전압은 제 1출력신호로서 엔모스 트랜지스터(228)의 게이트에도 공급된다. 따라서 두 개의 엔모스 트랜지스터(226)(228)에는 동일한 크기의 전류가 흐르게 된다. 엔모스 트랜지스터(228)의 드레인은 피모스 트랜지스터(224)의 드레인과 게이트에 연결된다. 따라서 피모스 트랜지스터(224)의 드레인 전압은 엔모스 트랜지스터(228)를 통해 흐르는 전류에 비례하며, 항상 일정하다. 이 피모스 트랜지스터(224)의 드레인 전압은 제 2출력신호로서 레벨변환부(218)에 공급된다.The constant current source 216 is for supplying a constant current of a constant size, and generates the first and second output signals. The PMOS transistor 222 is supplied with an external power supply voltage VEXT. The gate of the PMOS transistor 222 is connected to ground and is always turned on and flows a constant current. The current flowing through the PMOS transistor 222 is simultaneously supplied to the drain and the gate of the NMOS transistor 226. Therefore, the current flowing through the NMOS transistor 226 is proportional to the magnitude of the current supplied from the PMOS transistor 222 and is always constant. The drain voltage of the PMOS transistor 222 is also supplied to the gate of the NMOS transistor 228 as the first output signal. Therefore, two NMOS transistors 226 and 228 have the same current. The drain of the NMOS transistor 228 is connected to the drain and the gate of the PMOS transistor 224. Therefore, the drain voltage of the PMOS transistor 224 is proportional to the current flowing through the NMOS transistor 228 and is always constant. The drain voltage of the PMOS transistor 224 is supplied to the level converter 218 as a second output signal.

레벨변환부(218)는 피모스 트랜지스터(230)(232)와 엔모스 트랜지스터(234)가 외부전원전압(VEXT)과 접지 사이에 직렬 연결되어 이루어진다. 피모스 트랜지스터(230)는 정전류원(228)으로부터 공급되는 정전류에 의해 제어되므로 항상 일정한 크기의 전류를 흘린다. 피모스 트랜지스터(232)는 비교신호에 의해 제어되며, 비교신호가 논리 0일 때 턴온된다. 엔모스 트랜지스터(234)는 인에이블신호(ACT)에 의해 제어되는데, 인에이블신호(ACT)가 논리 1일 때 턴온된다.예컨대, 인에이블신호(ACT)가 하이 레벨로 활성화된 상태에서 비교신호가 논리 0인 경우 피모스 트랜지스터(232)와 엔모스 트랜지스터(234)가 모두 턴온되어, 피모스 트랜지스터(230)의 전류가 그대로 접지로 빠져나가 노드(242)에서는 로우 레벨(논리 0)의 검출 신호가 출력된다. 그러나 인에이블신호(ACT)가 하이 레벨로 활성화되더라도 비교신호가 논리 1인 경우에는 피모스 트랜지스터(232)가 턴오프되므로, 피모스 트랜지스터(230)의 전류에 의해 노드(242)에서 하이 레벨(논리 1)의 검출 신호가 출력된다.The level converting unit 218 is formed by connecting the PMOS transistors 230 and 232 and the NMOS transistor 234 in series between an external power supply voltage V EXT and ground. Since the PMOS transistor 230 is controlled by a constant current supplied from the constant current source 228, a current having a constant magnitude always flows. PMOS transistor 232 is controlled by a comparison signal and is turned on when the comparison signal is logic zero. The NMOS transistor 234 is controlled by the enable signal ACT, which is turned on when the enable signal ACT is logic 1. For example, the comparison signal when the enable signal ACT is activated to a high level. Is 0, the PMOS transistor 232 and the NMOS transistor 234 are both turned on, so that the current of the PMOS transistor 230 flows out to the ground as it is, and the node 242 detects a low level (logic 0). The signal is output. However, even when the enable signal ACT is activated to a high level, when the comparison signal is logic 1, since the PMOS transistor 232 is turned off, the node 242 at the high level may be turned on by the current of the PMOS transistor 230. The detection signal of logic 1) is output.

구동신호 발생부(220)는 피모스 트랜지스터(236)와 엔모스 트랜지스터(238)(240)가 외부전원전압(VEXT)과 접지 사이에 직렬 연결되어 이루어진다. 피모스 트랜지스터(236)와 엔모스 트랜지스터(238)는 인버터를 형성하여 레벨변환부(218)의 출력신호의 논리 값을 반전시킨다. 엔모스 트랜지스터(240)는 정전류원(216)의 엔모스 트랜지스터(226)(228)와 동일한 전류에 의해 제어되므로, 구동신호 발생부(220)에 흐르는 전류는 정전류원(216)에 의해 결정되며, 항상 일정하다. 구동신호 발생부(220)의 노드(244)에서 출력되는 신호는 인버터(210)에 의해 다시 한번 반전되어 CMOS 레벨의 논리 신호로서 출력된다. 즉, 비교기(202)에서 출력되는 비교신호가 레벨변환부(218)와 구동신호 발생부(220)를 거치면서 안정된 논리 0과 논리 1의 상태 값을 갖는 외부전원전압(VEXT) 레벨의 CMOS논리 신호로 변환된다. 따라서, 이와 같은 CMOS 논리 신호에 의해 제 2풀업 트랜지스터(208)의 온/오프 제어가 확실하게 이루어진다.The driving signal generator 220 includes a PMOS transistor 236 and an NMOS transistor 238 and 240 connected in series between an external power supply voltage V EXT and a ground. The PMOS transistor 236 and the NMOS transistor 238 form an inverter to invert the logic value of the output signal of the level converter 218. Since the NMOS transistor 240 is controlled by the same current as the NMOS transistors 226 and 228 of the constant current source 216, the current flowing through the driving signal generator 220 is determined by the constant current source 216. , Is always constant. The signal output from the node 244 of the driving signal generator 220 is inverted once again by the inverter 210 and output as a logic signal of CMOS level. That is, the CMOS of the external power supply voltage (V EXT ) level having stable logic 0 and logic 1 state values while the comparison signal output from the comparator 202 passes through the level converter 218 and the driving signal generator 220. Is converted to a logic signal. Therefore, the on / off control of the second pull-up transistor 208 is surely performed by such a CMOS logic signal.

이상에서와 같이, 본 발명은 내부전원전압 출력단의 풀업 트랜지스터를 제어하는 구동신신호를 안정된 CMOS 논리 레벨의 신호로 변환함으로써, 회로의 오동작과 불필요한 전력 소비를 억제하는 효과를 제공한다.As described above, the present invention provides the effect of suppressing circuit malfunction and unnecessary power consumption by converting the drive new signal for controlling the pull-up transistor of the internal power supply voltage output stage into a signal having a stable CMOS logic level.

Claims (6)

기준전압과 내부전원전압을 비교하여 비교신호를 출력하는 비교기;A comparator for comparing a reference voltage with an internal power supply voltage and outputting a comparison signal; 상기 비교신호에 구동되어 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 1풀업 트랜지스터;A first pull-up transistor driven by the comparison signal to pull up an internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level; CMOS 레벨의 구동신호에 응답하여 상기 내부전원전압 출력단을 외부전원전압 레벨로 풀업시키는 제 2풀업 트랜지스터;A second pull-up transistor configured to pull up the internal power supply voltage output terminal to an external power supply voltage level in response to a CMOS signal; 제 1 및 제 2출력신호를 발생하는 정전류원;A constant current source for generating first and second output signals; 인에이블신호와 상기 정전류원의 제 1출력신호와 상기 비교기의 비교신호에 응답하여 외부전원전압 레벨의 출력신호를 발생하는 레벨변환부; 및A level converter configured to generate an output signal of an external power supply voltage level in response to an enable signal, a first output signal of the constant current source, and a comparison signal of the comparator; And 상기 레벨변환부의 출력신호와 상기 정전류원의 제 2출력신호에 응답하여 상기 CMOS 레벨의 구동신호를 출력하는 구동신호 발생부를 구비하며,A driving signal generator for outputting a driving signal of the CMOS level in response to an output signal of the level converter and a second output signal of the constant current source, 상기 비교신호가 제 1논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴온시키고, 상기 비교신호가 제 2논리레벨일 경우 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터를 턴오프시키는 것을 특징으로 하는 저전압 발생기.A low voltage generator, turning on the first and second pull-up transistors when the comparison signal is at a first logic level and turning off the first and second pull-up transistors when the comparison signal is at a second logic level; . 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2풀업 트랜지스터는 각각이 피모스 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 저전압 발생기.Wherein said first and second pull-up transistors are PMOS transistors, respectively. 삭제delete
KR10-2000-0050493A 2000-08-29 2000-08-29 Internal supply voltage generating circuit Expired - Fee Related KR100403360B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0050493A KR100403360B1 (en) 2000-08-29 2000-08-29 Internal supply voltage generating circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0050493A KR100403360B1 (en) 2000-08-29 2000-08-29 Internal supply voltage generating circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20020017280A KR20020017280A (en) 2002-03-07
KR100403360B1 true KR100403360B1 (en) 2003-10-30

Family

ID=19685912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2000-0050493A Expired - Fee Related KR100403360B1 (en) 2000-08-29 2000-08-29 Internal supply voltage generating circuit

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100403360B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100925326B1 (en) 2008-03-31 2009-11-04 한양대학교 산학협력단 DC-DC converter

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100925326B1 (en) 2008-03-31 2009-11-04 한양대학교 산학협력단 DC-DC converter

Also Published As

Publication number Publication date
KR20020017280A (en) 2002-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960009394B1 (en) Power Circuit for Dynamic Random Access Memory
KR100427204B1 (en) Semiconductor device
KR100240423B1 (en) The level detecting circuit of semiconductor device
KR100240874B1 (en) A circuit of generating internal voltage of semiconductor device
US20100182867A1 (en) Internal voltage generating circuit of semiconductor memory device
KR0127318B1 (en) Back bias voltage generator
US7482847B2 (en) Power-on reset circuit
US6025707A (en) Internal voltage generator
KR100319606B1 (en) Voltage down circuit
KR100293012B1 (en) Semiconductor device and input and output circuit thereof
JPH05114291A (en) Generating circuit of reference voltage
US20030080717A1 (en) Semiconductor device
US5786723A (en) Voltage switching circuit for a semiconductor memory device
KR19990007459A (en) Differential amplifier circuit
US20070070761A1 (en) Internal voltage generator
KR100403360B1 (en) Internal supply voltage generating circuit
KR20060104899A (en) Temperature Change Adaptive Internal Power Generator
JP3920467B2 (en) Semiconductor device
US6636451B2 (en) Semiconductor memory device internal voltage generator and internal voltage generating method
US20020079955A1 (en) Circuit for generating internal power voltage in a semiconductor device
KR100460808B1 (en) Internal voltage down converter in semiconductor memory device
KR100282437B1 (en) Internal voltage generator
US5907257A (en) Generation of signals from other signals that take time to develop on power-up
KR0183874B1 (en) Vint generation circuit of semiconductor memory device
JP3604660B2 (en) Circuit device with internal supply voltage

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20000829

PA0201 Request for examination
PG1501 Laying open of application
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20020628

Patent event code: PE09021S01D

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20030226

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20030923

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20031015

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20031016

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20060920

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20070914

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20081006

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20090922

Start annual number: 7

End annual number: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100920

Year of fee payment: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20100920

Start annual number: 8

End annual number: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee