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KR100253647B1 - 전력감소회로 - Google Patents

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KR100253647B1
KR100253647B1 KR1019970005455A KR19970005455A KR100253647B1 KR 100253647 B1 KR100253647 B1 KR 100253647B1 KR 1019970005455 A KR1019970005455 A KR 1019970005455A KR 19970005455 A KR19970005455 A KR 19970005455A KR 100253647 B1 KR100253647 B1 KR 100253647B1
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KR
South Korea
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voltage
circuit
threshold voltage
power reduction
pmos transistor
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박주현
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윤종용
삼성전자주식회사
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Abstract

서로 다른 레벨의 문턱 전압을 갖는 회로에 대기 전력 감소(standby power reduction)회로를 연결한 전력 감소 회로에 관한 것으로서, 외부로부터 소정의 제 1 전원 전압, 제 2 전원 전압, 제 1 접지 전압, 그리고 제 2 접지 전압을 인가 받아 소정 레벨의 N 웰 전압을 출력하는 대기 전력 감소 회로와; 전원 전압과 상기 대기 전력 감소 회로로부터 출력되는 N 웰 전압을 인가 받고, 외부로부터 인가되는 소정 신호에 응답하여 제 1 문턱 전압 및 상기 제 1 문턱 전압과 다른 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖고 상기 문턱 전압 중 어느 하나의 문턱 전압 레벨로 동작하는 회로를 포함한다. 이와 같은 장치에 의해서 다중 문턱 전압을 갖는 회로를 위해 추가로 수행해야 했던 공정 단계를 줄일 수 있고, 회로가 동작되지 않을 때 누설 전류의 양을 줄여 전력의 소비를 줄일 수 있다.

Description

전력 감소 회로(Power Reduction Circuit)
본 발명은 전력 감소 회로에 관한 것으로서, 구체적으로는 여러 개의 문턱 전압을 갖는 회로에 대기 전력 감소(Standby Power Reduction)회로를 연결한 전력 감소 회로에 관한 것이다.
빠른 속도와 전력 감소는 다중 매체 고밀도 집적회로(large scale integrated circuit)에 필요하다. 전지 작동이 휴대용으로 된 이후로 빠른 속도와 전력 감소는 다중 매체 회로의 중요한 요소가 되었으며, 초당 기가(giga) 동작이 진행되는 동안 디지털 비디오등을 사용하기 위해 전력이 소모되었다. 이하 대기 전력 감소 회로를 SPR 회로라 칭한다. SPR 회로에서 딜레이와 전력 소비는 전원 전압(VDD)과 MOS 트랜지스터의 문턱 전압(Threshold Voltage)에 의해 좌우된다. 그리고 상기 SPR 회로의 경우에는 액티브 모드시 전력 소비를 50% 이상 감소시킬 수 있다. 이러한, SPR 회로는 마이크로 컨트롤러(micro controller), DRAM, SRAM, NVM, ROM, 데이터 송.수신 장치 등과 같은 반도체 직접 회로에서 사용되며, 집적 회로의 내의 각 내부 기능 회로들이 동작되지 않는 슬립 모드(sleep mode)시 대응되는 내부 기능 회로의 전력 소모를 줄이는 역할을 한다.
전력 소비의 감소를 얻기 위한 장치에는 다중 문턱 전압 회로와 SPR 회로가 있다.
상기 다중 문턱 전압 회로는 하나의 제 1 문턱 전압만을 갖는 회로와는 달리 제 1 문턱 전압과 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖고 동작하게 된다. 그로 인해 전원 전압에서 그라운드로 흐르는 누설 전류의 양이 줄어 그에 따른 전력의 소모를 줄일 수 있다.
상기 SPR 회로는 기판과 웰(well)에 인가되는 벌크 바이어스(bulk bias)가 외부로부터 인가되는 소정 신호에 따라 액티브 모드(active mode)와 슬립 모드(sleep mode)로 동작하게 됨에 따라 전력의 소모가 줄어들게 된다. 도 1에는 다중 문턱 전압 회로가 개략적으로 도시되어 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 다중 문턱 전압 회로는 제 1 문턱 전압을 갖는 CMOS 인버터(10)와, 외부로부터 인가되는 소정 신호(SL)에 응답하여 온-오프됨에 따라 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖는 스위칭 회로(20)로 구성되어 있다. 상기 CMOS 인버터(10)는 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)와 제 3 NMOS 트랜지스터(MN3)를 포함한다. 그리고 상기 스위칭 회로(20)는 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)를 포함한다.
도시되지 않았지만 상기 제 2 문턱 전압을 갖는 스위칭 회로(20)의 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)는 웰 영역에 전원 전압(VDD)이 인가되며, 제 1 문턱 전압을 갖는 제 4 PMOS 트랜지스터(MP3)와 제 3 NMOS 트랜지스터(MN3)의 웰 영역이 소오스(source)에 연결된다. 상기 스위칭 회로(20)의 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1) 게이트(gate)에 하이레벨의 신호(
Figure kpo00001
)가 인가되면, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)는 턴-오프되어 제 1 노드는 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)를 통해 전달되는 전하들이 차단되어 플로팅 된다. 이대, 지연 시간은 있지만, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)가 턴-오프됨에 따라 그라운드로 향하는 누설 전류(leakage current)의 양은 줄어들게 된다.
그리고 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)의 게이트에 로우레벨의 신호(SL)가 인가되면, 액티브 모드로서 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)는 턴-온 되어 상기 제 1 노드는 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)를 통해 전달되는 전하들에 의해 전원 전압(VDD) 레벨로 챠지된다. 이때, 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖게 된다. 그로 인해 동작하는 시간이 빨라 지연 시간이 줄어들게 된다. 이와 같이, 상기 다중 문턱 전압 회로는 액티브 모드 및 슬립 모드 동안에 CMOS 인버터(10)로 제공되는 전하들의 양을 조절함으로써, CMOS 인버터(10)를 통해 누설되는 전력을 줄일 수 있다.
그러나, 상기 다중 문턱 전압 회로는, 제 1 문턱 전압과 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 동시에 갖고 있기 때문에 제 1 문턱 전압만을 위해 수행하던 레이어 공정 말고도 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 제 2 문턱 전압을 위한 추가의 레이어 공정을 수행해야 한다.
도 2A에는 SPR 회로의 상세한 회로도가 도시되어 있다.
도 2B에는 종래 실시예에 따른 SPR 회로의 개략적인 구성이 도시되어 있고, 도 2C에는 도 2B의 단면도가 도시되어 있다.
도 2A에 도시된 바와 같이, SPR 회로는 스위칭 회로(30), 제 1 쉬프트 회로(40), 그리고 제 2 쉬프트 회로(50)를 포함하며 두쌍의 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 그리고 제 2 접지 전압(VSS2)을 갖는다.
상기 스위칭 회로(30)는 제 5 PMOS 트랜지스터(MP5), 제 6 PMOS 트랜지스터(MP6), 제 6 NMOS 트랜지스터(MN6), 그리고 제 7 NMOS 트랜지스터(MN7)를 포함한다. 상기 제 1 쉬프트 회로(40)는 제 7 PMOS 트랜지스터(MP7), 제 8 PMOS 트랜지스터(MP8), 제 9 PMOS 트랜지스터(MP9), 제 4 NMOS 트랜지스터(MN4), 제 5 NMOS 트랜지스터(MN5), 제 1 커패시터(CW1), 제 1 다이오드(D1), 그리고 제 2 다이오드(D2)를 포함한다. 상기 제 2 쉬프트 회로(50)는 제 8 NMOS 트랜지스터(MN8), 제 9 NMOS 트랜지스터(MN9), 제 10 NMOS 트랜지스터(MN10), 제 10 PMOS 트랜지스터(MP10), 제 11 PMOS 트랜지스터(MP11), 제 2 커패시터(CW2), 제 3 다이오드(D3), 그리고 제 4 다이오드(D4)를 포함한다.
상기 SPR 회로는 외부로부터 제 1 입력 신호(
Figure kpo00002
), 제 2 입력 신호(
Figure kpo00003
), 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 그리고 제 2 접지 전압(VSS2)을 인가 받으면 상기 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 제 2 접지 전압(VSS2)이 소정 신호에 따라 제 1 쉬프트 회로(40)와 제 2 쉬프트 회로(50)를 통과하여 N 웰 전압(VNWELL)과 P 웰 전압(VPWELL)들을 출력한다.
먼저 상기 스위칭 회로(30)의 제 1 입력 단에 하이레벨의 제 1 입력 신호(
Figure kpo00004
)를 인가하고, 제 2 입력 단에 로우레벨의 제 2 입력 신호(
Figure kpo00005
)를 인가한다. 그리고 4V의 제 1 전원 전압(VDD1)과 2V의 제 2 전원 전압(VDD2)을 인가하고, OV의 제 1 접지전압(VSS1)과 -2V의 제 2 접지 전압(VSS2)을 인가한다. 그로 인해 4V의 제 1 전원 전압(VDD1)이 제 1 쉬프트 회로(40)를 통과하여 4V의 N 웰 영역 전압(VNWELL)이 출력되고, -2V의 제 1 접지 전압(VSS1)이 제 2 쉬프트 회로(50)를 통과하여 -2V의 P 웰 영역 전압(VPWELL)이 출력된다.
상기 하이레벨의 제 1 입력 신호(
Figure kpo00006
)와 로우레벨의 제 2 입력 신호(
Figure kpo00007
)가 인가될 때는 상기 스위칭 회로(30)의 제 5 PMOS 트랜지스터 및 제 6 NMOS 트랜지스터들(MP5, MN6)이 제 1 접지 전압(VSS1) 및 제 2 전압(VDD2)의 제어에 의해 턴-온되고 그리고 제 5 PMOS 트랜지스터 및 제 7 NMOS 트랜지스터들(MP6, MN7)이 상기 신호들의 제어에 의해 턴-오프된다. 또한.상기 제 1 쉬프트 회로(40)의 제 7 PMOS 트랜지스터(MP7), 제 4 MMOS 트랜지스터(MN4) 및 제 9 PMOS 트랜시즈터(MP9)가 턴-온되고 그리고 제 8 PMOS 트랜지스터(MP8), 및 제 5 NMOS 트랜지스터(MN5)가 턴-오프되어 상기 제 1 전원 전압(VDD1) 즉, 4V의 전압이 N 웰 영역 전압(VNWELL)으로서 출력된다.
그리고, 상기 제 2 쉬프트 회로(50)으; 제 8 NMOS 트랜지스터(MN8), 제 10 PMOS 트랜지스터(MP10) 및 제 10 NMOS 트랜지스터(MN10)가 턴-온되고 그리고 제 9 NMOS 트랜지스터(MN9) 및 제 11 PMOS 트랜지스터(MP11)가 턴-오프되어 상기 제 2 접지 전압(VSS2) 즉, -2V의 전압 P 웰 영역 전압(VPWELL)으로서 출력된다. 그러나, 4V의 N 웰 영역(VNWELL)과, -2V의 P 웰 영역 전압(VPWELL)으로 인해 즉, 상기 P 웰과 N 웰 사이에 큰 역바이어스 전압이 발생되고, 이로인해 접합 항복(junction breakdown)이 일어난다. 그러므로 상기 항복을 막기 위한 추가의 웰 공정을 해야 한다. 도. 2B에는 CMOS에 SPR 회로를 연결한 회로가 도시되어 있고 도 2C에는 상기 도 2B에 대한 단면도가 도시되어 있다. 이로써 역 바이어스를 위해 SPR 회로에 추가 웰 공정하는 것을 알 수 있다.
계속해서 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 제 2 접지 전압(VSS2)은 상기와 동일하게 인가되고, 상기 스위칭 회로(30)의 제 1 입력 단에 로우레벨의 제 1 입력 신호(
Figure kpo00008
)를 인가하고 제 2 입력 단에 하이레벨의 제 2 입력 신호(
Figure kpo00009
)를 인가한다. 그러면 상기 스위칭 회로(30)의 제 5 및 제 6 PMOS 트랜지스터들(MP5, MP6) 그리고 제 6 및 제 7 PMOS 트랜지스터들(MN6, MN7)이 턴-온된다. 또한, 상기 제 1 쉬프트 회로(40)의 제 7 PMOS 트랜지스터(MP7) 및 상기 제 2 쉬프트 회로(50)의 제 8 NMOS 트랜지스터(MN8)가 턴-온된다.
그러나, 상기 MOS 트랜지스터들(MP7, NM8)의 채널 크기들이 MOS 트랜지스터들(MP5, MP6, NM6, NM7)의 채널 크기들보다 작은 이유로 인해 상기 제 7 MOS 트랜지스터(NM7)의 드레인에는 제 1 접지 전압(VSS1)이 인가되고 그리고 제 8 MOS 트랜지스터(NM8)의 드레인에는 제 2 전압 전원 전압(VDD2)이 인가된다. 이로인해, 상기 제 1 쉬프트 회로(40)의 제 4 MMOS 트랜지스터(MN4) 및 제 8 PMOS 트랜지스터(MP9)가 턴-오프되고 그리고 제 8 PMOS 트랜지스터(MP8) 및 제 5 NMOS 트랜지스터(MN5)가 턴-오프되어 상기 제 2 전원 전압(VDD2) 즉, 2V의 전압이 N 웰 영역 전압(VNWELL)으로서 출력된다.
그리고, 상기 제 2 쉬프트 회로(50)의 제 8 NMOS 트랜지스터(MN8), 제 10 PMOS 트랜지스터(MP10) 및 제 10 NMOS 트랜지스터(MN10)가 턴-오프되고 그리고 제 9 NMOS 트랜지스터(MN9) 및 제 11 PMOS 트랜지스터(MP11)가 턴-온되어 상기 제 1 접지 전압(VSS1)즉, OV의 전압이 P 웰 영역 전압(VPWELL)으로서 출력된다.
그러나 상술한 바와 같은 전력 감소 회로는, 제 1 문턱 전압과 제 2 문턱 전압을 갖는 다중 문턱 전압 회로에서 상기 제 2 문턱 전압을 위한 추가의 공정이 필요하게 되는 문제점이 생기게 된다.
따라서 본 발명의 목적은 상술한 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 제 1 문턱 전압과 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖는 회로에서 상기 제 2 문턱 전압을 갖는 MOS 트랜지스터의 웰 영역에 SPR 회로를 연결시킴으로써 상기 제 2 문턱 전압을 위해 수행해야 했던 추가의 레이어 공정을 하지 않고도 전력을 감소시킬 수 있는 전력 감소 회로를 제공하는데 있다.
도 1은 다중 문턱 전압 회로를 개략적으로 보여주는 회로도.
도 2A는 대기 전력 감소 회로를 상세히 보여주는 회로도.
도 2B는 종래 실시예에 따른 대기 전력 감소 회로를 개략적으로 보여주는 회로도.
도 2C는 도 2B의 단면도.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전력 감소 회로.
*도면의 주요부분에 대한 부호 설명
100 : 대기 전력 감소 회로 200 : 다중 문턱 전압 회로
(구성)
외부로부터 소정의 제 1 전원 전압, 제 2 전원 전압, 제 1 접지 전압, 그리고 제 2 접지 전압을 인가 받고, 슬립 모드를 알리는 신호에 응답해서 소정 N 웰 전압을 출력하는 대기 전력 감소 수단과; 전원 전압과 상기 대기 전력 감소 수단으로부터 출력되는 N 웰 전압을 인가 받고, 상기 신호에 응답해서 제 1 문턱 전압 및 상기 제 1 문턱 전압과 다른 레벨의 문턱 전압을 갖는 제 2 문턱 전압 중 어느 하나의 문턱 전압 레벨로 동작하는 수단을 포함하, 상기 대기 전력 감소 수단은 상기 제 1 및 제 2 전원 전압들과 싱기 제 1 및 제 2 접지 전압들을 받아들여서 이들 중 적어도 하나의 전압을 상기 수단으로 출력하는 쉬프트 회로 및 상기 신호에 응답해서 쉬프트 회로로부터 출력되는 상기 전압들의 출력 경로들을 선택하는 스위칭 회로를 포함한다.
이 회로의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 대기 전력 감소 수단은 2V 내지 4V의 N 웰 영역 전압을 출력하는 것을 특징으로 한다.
이 회로의 바람직한 실시예에 있어서, 소오스가 제 1 노드에 연결된 제 4 PMOS 트랜지스터와 상기 제 4 PMOS 트랜지스터의 드레인에 연결되고 게이트가 상기 제 4 PMOS 트랜지스터의 게이트에 연결되고 소오스가 접지된 제 3 NMOS 트랜지스터를 포함하는 CMOS 인버터와, 소오스에 전원 전압이 인가되고, 게이트에 소정 신호가 인가되고 드레인이 제 1 노드에 연결되고 웰영역에 상기 대기 전력 감소 수단의 N 웰 영역의 전압이 인가되는 제 1 PMOS 트랜지스터를 구비한 스위칭 수단을 포함하는 전력 감소 회로
(작용)
제 1 문턱 전압과 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖고 동작하는 회로에서 상기 제 2 문턱 전압을 위해 수행해야 했던 추가의 레이어 공정을 하는 대신 상기 다중 문턱 전압 회로에 대기 전력 감소 회로를 연결함으로써 제 2 문턱 전압을 위한 레이어 공정을 줄일 수 있다.
(실시예)
이하 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 참조 도면 도 3에 의거하여 상세히 설명한다.
도 3에는 본 발명의 전력 감소 회로가 상세하게 도시되어 있다.
도 3을 참고하면, 전력 감소 회로는 외부로부터 소정 신호(
Figure kpo00012
)가 동시에 인가되는 대기 전력 감소 회로(100)와, 다중 문턱 전압 회로(200)를 포함한다. 상기 대기 전력 감소 회로(100)는 외부로부터 소정 신호(
Figure kpo00013
)를 인가 받고, 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 제 2 접지 전압(VSS2)을 인가 받아 2V내지 4V의 N 웰 영역의 전압(VNWELL)을 출력한다. 상기 대기 전력 감소 회로(100)는 도 2에 도시된 회로와 동일한 구성을 갖고 있다.
상기 다중 문턱 전압 회로(200)는 CMOS 인버터(10)와 외부로부터 인가되는 소정 신호(
Figure kpo00014
)에 응답하여 온오프되는 스위칭 회로(20)로 구성되어 있다.
상기 CMOS 인버터(10)는 제 1 문턱 전압을 갖고, 제 3 PMOS 트랜지스터(MP3)와 제 4 NMOS 트랜지스터(MN4)를 포함한다. 상기 스위칭 회로(20)는 게이트에 외부로부터 소정 신호(
Figure kpo00015
)가 인가되고 소오스에 전원 전압(VDD)이 인가되고 웰 영역에 상기 대기 전력 감소 회로(100)의 N 웰 전압(VNWELL)이 인가되는 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)이다. 상기 스위칭 회로(20)는 CMOS 인버터(10)가 갖는 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖는다.
상기 제 1 문턱 전압을 갖는 CMOS 인버터(10)에 포함되는 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)와 제 3 NMOS 트랜지스터(MN3)의 웰 영역이 상기 대기 전력 감소 회로(100)와 연결되어 있지 않기 때문에 N 웰과 P 웰 사이에 접합 항복이 없고, 그로 인해 상기 웰 사이에 일어나는 항복을 막기 위한 추가의 웰 공정이 필요 없게 된다. 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖는 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)의 웰 영역에만 상기 대기 전력 감소 회로(100)의 N 웰 전압(VNWELL)이 인가되므로 상기 대기 전력 감소 회로(100)의 N 웰과 P 웰 사이에 항복이 일어날 염려는 없다.
만일, 로우레벨의 신호(
Figure kpo00016
)가 다중 문턱 전압 회로(200)에 인가되면 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(PM1)는 턴-온 되어 제 2 문턱 전압을 갖게 된다. 상기 제 2 문턱 전압으로 인해 동작하는데 지연 시간은 늘어난다. 반면에 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)의 웰 영역에 대기 전력 감소 회로(100)가 연결됨으로써, 상기 다중 문턱 전압 회로(200)와 동시에 로우레벨의 신호를 인가 받은 대기 전력 감소 회로(100)는 제 2 문턱 전압보다 낮은 문턱 전압을 갖게 되어 상기 제 2 문턱 전압으로 인한 지연 시간을 줄일 수 있다. 그리고 하이레벨의 신호
Figure kpo00017
가 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)에 인가되면 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)는 턴-오프되지만 상기 대기 전력 감소 회로(100)로 인해 여전히 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 문턱 전압을 갖게 되어 전원 전압에서 접지로 흐르는 누설 전류의 양을 줄일 수 있다.
상기한 바와 같이, 상기 전력 감소 회로는 제 1 문턱 전압과 상기 제 1 문턱 전압보다 높은 레벨의 제 2 문턱 전압을 갖고 동작하는 다중 문턱 전압 수단에서 상기 제 2 문턱 전압을 위해 수행해야 했던 추가의 레이어 공정을 하는 대신 상기 수단에 대기 전력 감소 수단이 연결됨으로써 상기 레이어 공정을 줄일 수 있는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. 외부로부터 소정의 제 1 전원 전압(VDD1), 제 2 전원 전압(VDD2), 제 1 접지 전압(VSS1), 그리고 제 2 접지 전압(VSS2)을 인가 받고, 슬립 모드를 알리는 신호(SL) 에 응답해서 소정 N 웰전압(VNWELL)을 출력하는 대기 전력 감소 수단(100)과; 전원 전압(VDD)과 상기 대기 전력 감소 수단(100)으로부터 출력되는 N 웰 전압(VNWELL)을 인가 받고, 상기 시놓(SL)에 응답해서 제 문턱 전압 및 상기 제 1 문턱 전압과 다른 레벨의 문턱 전압을 갖는 제 2 문턱 전압 중 어느 하나의 문턱 전압 레벨로 동작하는 수단(200)을 포함하고, 상기 대기 전력 감소 수단(100)은, 상기 제 1 및 제 2 전원 전압들(VDD1, VDD2)과 상기 제 1 및 제 2 접지 전앙ㅂ들(VSS1, VSS2)을 받아들여서 이들 중 적어도 하나의 전압을 상기 수단(200)으로 출력하는 쉬프트 회로(40, 500 및, 상기 신호(SL)에 응답해서 상기 쉬프트 회로(40, 50)로부터 출력되는 상기 전압들(VDD1, VDD2, VSS1, VSS2)의 출력 경로들을 선택하는 스위칭 회로(30)를 포함하는 전력 감소 회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 대기 전력 감소 수단(100)은, 2V 내지 4V의 N 웰 영역 전압(VNWELL)을 출력하는 전력 감소 회로.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 다중 문턱 전압 수단(200)은, 소오스가 제 1 노드에 연결된 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)와 드레인이 상기 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)의 드레인에 연결되고 게이트가 상기 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)의 게이트에 연결되고 소오스가 접지 된 제 3 NMOS 트랜지스터(MN3)를 포함하는 CMOS 인버터(10)와; 소오스에 전원 전압(VDD)이 인가되고, 게이트에 소정 신호(
    Figure kpo00021
    )가 인가되고 드레인이 제 1 노드에 연결되고 웰영역에 상기 대기 전력 감소 수단(100)의 N 웰 영역 전압(VNWELL)이 인가되는 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)를 구비한 스위칭 수단(20)을 포함하는 전력 감소 회로.
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