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KR0116474Y1 - Data test circuit in an exchanger - Google Patents

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KR0116474Y1
KR0116474Y1 KR92028384U KR920028384U KR0116474Y1 KR 0116474 Y1 KR0116474 Y1 KR 0116474Y1 KR 92028384 U KR92028384 U KR 92028384U KR 920028384 U KR920028384 U KR 920028384U KR 0116474 Y1 KR0116474 Y1 KR 0116474Y1
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circuit
address
terminal
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clock
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KR92028384U
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이화종
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정장호
엘지정보통신주식회사
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Abstract

본 고안은 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 관한 것으로, 특히 송신 데이타의 비트 삽입(bit stuffing)에 의한 발신측 오류발생을 제거하도록한 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 관한 것이다.The present invention relates to a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange, and more particularly, to a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange configured to eliminate a source side error caused by bit stuffing of transmission data.

본 고안의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 연속적인 5개의 1이후에 0이 삽입된 어드레스가 공급되는 경우 송출 데이타 에러 인터럽트신호(INTTERR*)의 발생을 방지하므로, 데이타 송신순서 위반을 정확하게 감시할 수 있다.The data transmission sequence violation monitoring circuit of the present invention prevents the occurrence of a transmission data error interrupt signal (INTTERR * ) when an address inserted with zeros after five consecutive ones can be accurately monitored. have.

Description

전자교환기의 데이터 송신 순서위반 감시회로Data transmission sequence violation monitoring circuit of the electronic exchange

제1도는 종래 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로 구성도.1 is a block diagram of a data transmission sequence violation monitoring circuit of a conventional electronic exchange.

제2도는 제1도에 도시된 데이타 송신순서 위반 감시회로에서 사용되는 신호 메세지의 프레임 포맷도.2 is a frame format diagram of a signal message used in the data transmission sequence violation monitoring circuit shown in FIG.

제3도는 제1도에 도시된 데이타 송신순서 위반 감시회로의 동작을 설명하기 위한 도면.3 is a view for explaining the operation of the data transmission sequence violation monitoring circuit shown in FIG.

제4도는 본 고안에 의한 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로 구성도.4 is a block diagram of a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange according to the present invention.

제5도는 제4도에 도시된 데이타 송신순서 위반 감시회로의 동작을 설명하기 위한 타이밍도.5 is a timing diagram for explaining the operation of the data transmission sequence violation monitoring circuit shown in FIG.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of drawing

410 : 어드레스 래치회로 420 : 플레그 래치회로410: address latch circuit 420: flag latch circuit

430 : 비교기 440 : 인터럽트 발생회로430: comparator 440: interrupt generation circuit

450 : 다운 카운터 460 : 송출 어드레스 래치회로450: down counter 460: sending address latch circuit

470 : 송출 카운터 래치회로 500 : 스터핑 처리회로470: delivery counter latch circuit 500: stuffing processing circuit

본 고안은 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 관한 것으로, 특히 송신 데이타의 비트 삽입(bit stuffing)에 의한 발신측 오류발생을 제거하도록한 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 관한 것이다.The present invention relates to a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange, and more particularly, to a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange configured to eliminate a source side error caused by bit stuffing of transmission data.

일반적으로 전자 교환기는 하나의 신호 단말 그룹내에 다수의 신호단말 제어장치를 구비하고 송신시에는 한번에 하나의 신호제어장치만이 데이타를 송출 하는데, 신호단말 유지보수장치가 신호 단말의 고장을 실시간으로 검출하고 진단하여 신속한 고장처리를 하도록 하여 공통선 신호장치의 신뢰도를 극대화 시키기 위해서는 전술한 바와 같이 라운드 로빈 방식으로 데이타가 송신되는지의 여부를 감시하기 위한 데이타 송신순서 위반 감시회로를 구비해야 한다.In general, an electronic exchange includes a plurality of signal terminal controllers in a single signal terminal group, and only one signal controller transmits data at a time when transmitting. The signal terminal maintenance device detects a failure of a signal terminal in real time. In order to maximize the reliability of the common line signaling device by performing a quick diagnosis and diagnosis, a data transmission sequence violation monitoring circuit must be provided to monitor whether data is transmitted in a round robin manner as described above.

특허 공고 공보 제92-7140호에는 제1도에 도시된 바와 같은 전자 교환기의 데이타 송신 순서위반 감시회로가 제안되어 있다.Patent Publication No. 92-7140 proposes a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange as shown in FIG.

제1도에 도시된 바와 같이, 종래의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 어드레스 래치회로(410), 플러그 래치회로(420), 비교기(430), 인터럽트 발생회로(440), 다운 카운터(450), 송출 어드레스 래치회로(460) 및 송출 카운터 래치회로(470)를 구비하여 이루어 진다.As shown in FIG. 1, the conventional data transmission sequence violation monitoring circuit includes an address latch circuit 410, a plug latch circuit 420, a comparator 430, an interrupt generating circuit 440, a down counter 450, A sending address latch circuit 460 and a sending counter latch circuit 470 are provided.

어드레스 래치회로(410)는 클럭발생회로 및 신호 단말 버스 정합회로에 연결된 시프스 레지스터(411), 클럭 발생회로 및, 시프트 레지스터(411)에 연결된 시프트 레지스터(412), 클럭 발생회로 및 시프트 레지스터(412)에 연결된 시프트 레지스터(413) 및, 시프트 레지스터(411)에 연결된 D플립플롭회로(414)로 연결구성된다.The address latch circuit 410 includes a shift register 411 connected to a clock generation circuit and a signal terminal bus matching circuit, a clock generation circuit, a shift register 412 connected to a shift register 411, a clock generation circuit, and a shift register ( A shift register 413 connected to 412 and a D flip-flop circuit 414 connected to the shift register 411 are configured.

시프트 레지스터(411)에는 발신 어드레스(제2도의 A3)를 래치시키고, 시프트 레지스터(412)에는 착신 노드 어드레스(제2도의 A2)를 래치시키고, 시프트 레지스터(413)에는 착신 어드레스(제2도의 A1)를 대치 시킨다.The shift register 411 latches the source address (A3 in FIG. 2), the shift register 412 latches the destination node address (A2 in FIG. 2), and the shift register 413 the destination address (A1 in FIG. 2). Replace).

또한, 시프트 레지스터(411)를 통해 신호 단말 송신 데이타가 신호 단말 네트워크 노드 정합회로 측으로 송출되며, D플립플롭(414)를 통해 발신 어드레스(A3)를 감시회로 내부의 송출 어드레스 버스상에 출력시킨다.Further, the signal terminal transmission data is sent to the signal terminal network node matching circuit side through the shift register 411, and the source address A3 is output on the sending address bus inside the monitoring circuit via the D flip-flop 414.

플레그 래치회로(420)는 시프트 레지스터(421)로 구성되는데, 시프트 레지스터(421)는 클릭 발생회로 및 어드레스 래치회로(410)의 시프트 레지스터(413)에 연결되어 있고 플레그(제2도의 F)를 래치 시킨다.The flag latch circuit 420 is composed of a shift register 421, which is connected to the click register circuit and the shift register 413 of the address latch circuit 410, and connects the flag (F in FIG. 2). Latch it.

다운 카운터(450)는 4비트 업/다운(UP/Down) 카운터(451,452)로 구성되는데, 각각의 4비트 카운터(451,452)는 입력단이 클럭발생회로 및 신호 단말 버스 정합회로에 연결되고 출력단은 비교기(430) 및 송출 카운터 래치회로(47)에 연결된다.The down counter 450 is composed of four bit UP / Down counters 451 and 452, each of which has an input connected to a clock generation circuit and a signal terminal bus matching circuit and an output connected to a comparator. 430 and the output counter latch circuit 47.

어드레스 래치회로(410)가 송신 데이타 버스상에서 메세지의 어드레스를 추출함과 동시에 다운 카운터(450)는 신호 단말 버스 정합회로로 부터의 데이타 송출점유 신호(TXAST*) 및 동기신호(NSYNC*)와 클럭 발생회로로 부터의 신호 단말 버스클럭(NCLKI*)을 카운팅하여 발생된 송신버스 점유장치의 어드레스를 출력하며, 초기값은 0이 입력되어 다운 카운팅을 시작하고, 특정 신호 단말이 데이타를 송신중 일때는 카운팅을 중지하며 그외에는 계속 카운팅한다.As the address latch circuit 410 extracts the address of the message on the transmission data bus, the down counter 450 clocks the data transmission occupancy signal TXAST * and the synchronization signal NSYNC * from the signal terminal bus matching circuit. When the signal terminal bus clock (NCLKI * ) from the generation circuit is counted and the address of the transmission bus occupancy device is generated. The initial value is 0 to start counting down, and the specific signal terminal is transmitting data. Stops counting and continues counting.

비교기(430)는 감시회로 내부의 송출 어드레스 버스 및 다운 카운터(450)의 출력단에 연결된 8비트 어드레스 컴퍼레이터(431)로 구성되며, 데이타 송신버스로 송신중인 메세지의 발신 어드레스(A3: D플립플롭 회로(414)의 출력)와 다운 카운터(450)의 출력 어드레스를 입력하여 두 어드레스가 서로 다른 경우 송출 매치신호(MATCHTX*)를 니게이트(negate)시켜 출력한다.The comparator 430 is composed of an 8-bit address comparator 431 connected to a sending address bus inside the supervisory circuit and an output terminal of the down counter 450. The comparator 430 is an originating address (A3: D flip-flop) of a message being transmitted to the data transmitting bus. The output of the circuit 414 and the output address of the down counter 450 are inputted, and when the two addresses are different from each other, the transmission match signal MATCHTX * is negated and output.

인터럽트 발생회로(440)는 어드레스 래치회로(410)의 시프트 레지스터(413) 출력단에 연결된 NAND 게이트(441), 플레그 래치회로(420)의 시프트 레지스터(421) 출력에 연결된 NAND 게이트(442), NAND 게이트(441)의 출력단에 연결된 인버터(443a), 이 인버터(443a)와 NAND게이트(442)의 출력단에 연결된 OR 게이트(444), 이 OR 게이트(444)의 출력단에 데이타 입력단(D)을 연결하고 클럭 발생회로에 연결된 인버터(443d)를 클럭 입력단(CK)에 연결하며 출력단(Q)을 어드레스 래치회로(410)의 D플립플롭 회로(414) 클럭 입력단(CK)에 연결한 D플립플롭(445), 비교기(430)의 출력단에 데이타 입력단(D)을 연결하고 D 플립플롭(445)의 출력단(Q)에 클럭 입력단(CK)을 연결한 D 플립플롭(446), 5V 전원에 데이타 입력단(D)을 연결하고 D 플립플롭(446)의 출력단(Q)에 클럭 입력단(CK)을 연결하며 출력단(Q)을 송출 어드레스 래치회로(460) 및 송출 카운터 래지회로(470)의 클럭 입력단(CK)에 연결하고 출력단(Q)을 인터럽트 제어회로에 연결한 D 플립플롭(447)및 인터럽트 제어회로로 부터의 송출 에러신호(TXERR*)와 리세트 신호(RESET*)를 논리화(AND)하여 D 플립플롭(446)의 리세트 입력단(R)으로 출력하는 AND 게이트(448)로 구성되며, 반전된 신호단말 버스 클럭(NCLK1*)을 이용하여 플래그(F) 및 착신 어드레스(A1)를 조합한 입력 데아타를 래치시켜 발신 어드레스(A3)를 송출하도록 하고 비교기(431)로 부터의 송출 매치신호(MATCHTX*)를 이용하여 소출 데이타 래치신호(TXLATCH)를 송출 어드레스 래치회로(460) 및 송출 카운터 래치회로(470) 측으로 출력하고 송출 데이타 에러 인터럽트 신호(INTTXERR*)를 인터럽트 제어회로 측으로 출력한다. 미 설명부호 443b 및 443c는 인버터이다.The interrupt generation circuit 440 includes a NAND gate 441 connected to an output terminal of the shift register 413 of the address latch circuit 410, a NAND gate 442 connected to an output of the shift register 421 of the flag latch circuit 420, and a NAND signal. An inverter 443a connected to the output terminal of the gate 441, an OR gate 444 connected to the output terminal of the inverter 443a and the NAND gate 442, and a data input terminal D connected to an output terminal of the OR gate 444. And a D flip-flop connecting the inverter 443d connected to the clock generation circuit to the clock input terminal CK, and connecting the output terminal Q to the D flip-flop circuit 414 of the address latch circuit 410 to the clock input terminal CK. 445), the D flip-flop 446, which connects the data input terminal D to the output terminal of the comparator 430, and the clock input terminal CK to the output terminal Q of the D flip-flop 445, and the data input terminal to a 5V power supply. Connect (D), connect the clock input terminal (CK) to the output terminal (Q) of the D flip-flop 446, and send the output terminal (Q). Transmission error from the D flip-flop 447 and the interrupt control circuit connected to the clock input terminal CK of the address latch circuit 460 and the output counter latch circuit 470 and the output terminal Q connected to the interrupt control circuit. And an inverted signal terminal bus configured to AND the signal TXERR * and the reset signal RESET * and output them to the reset input terminal R of the D flip-flop 446. The clock NCLK1 * is used to latch the input data combining the flag F and the destination address A1 to send the source address A3, and to send the match signal MATCHTX * from the comparator 431. The output data latch signal TXLATCH is outputted to the sending address latching circuit 460 and the sending counter latching circuit 470 by using the output data error interrupt signal INTTXERR * to the interrupt control circuit. Reference numerals 443b and 443c are inverters.

송출 어드레스 회로(460)는 감신회로 내부의 송출 어드레스 버스에 입력단(D1∼D8)이 연결되고 내부 데이타 버스에 출력단(Q1∼Q8)이 연결된 8비트 래치회로(471)로 구성되며, 어드레스 래치회로(410)의 D 플립플롭 회로(414)를 통해 출력된 발신 어드레스(A3)를 래치 시킨다.The sending address circuit 460 is composed of an 8-bit latch circuit 471 having input terminals D1 to D8 connected to a sending address bus inside the sensing circuit and output terminals Q1 to Q8 connected to an internal data bus. The source address A3 output through the D flip-flop circuit 414 of 410 is latched.

송출 카운터 래치회로(470)는 다운 카운터(450)에 입력단(D1∼D8)이 연결되고 내부 데이타 버스에 출력단 (Q1∼Q8)이 연결된 8비트 래치회로(471)로 구성되며, 다운 카운터(450)로 부터 송출된 송신 어드레스를 래치 시킨다.The output counter latch circuit 470 includes an 8-bit latch circuit 471 having input terminals D1 to D8 connected to the down counter 450 and output terminals Q1 to Q8 connected to an internal data bus. Latches the transmission address sent from

전자 교환기에서는 데이타 송신버스의 발신부와 착신부가 HDLC(High Level Data Link Control)에 의해 운영되는데, 발신부는 데이타 송신시 플레그(F)를 송출한후 연속적으로 1이 5개 출력되면 그 뒤에 0을 삽입하고 착신부는 플레그(F)를 감지한후 비트 스트림(bit stream)을 조사하여 1이 연속적으로 5개 입력되면 다음 비트를 조사하여 0이면 이 비트를 제거하고 1이면서 그다음 비트가 0이면 플레그로 인정한다.In the electronic exchange, the transmitter and the receiver of the data transmission bus are operated by HDLC (High Level Data Link Control) .When the transmitter transmits 5 flags (F) after data transmission, it outputs 0 afterwards. When the receiver detects the flag F and examines the bit stream, if 1 is inputted 5 consecutively, the next bit is examined, and if it is 0, this bit is removed and if it is 1 and the next bit is 0, it is sent to the flag. I admit it.

예를 들어, 제3도의 (A)에 도시된 바와 같이 발신부가 착신 어드레스(A1)와 착신 노드 어드레스(A2)의 각각이 40 및 2F이고 발신어드레스(A3)와 발신 노드 어드레스(A4)의 각각이 83 및 5인 데이타를 착신부 측으로 송출하고자 하는 경우, 발신부는 착신 노드 어드레스(A2) 2F 및 발신 어드레스(A3) 83 사이에서 1이 연속적으로 5개 존재하므로 연속되는 1이후에 0을 삽입하여 전송한다. 따라서, 제3도의 (B)에 도시된 바와 같이 비트가 한자리씩 좌측으로 이동되고, 착신 노드 어드레스(A2) 2F가 4F로 되고 착신 어드레스(A1) 40이 80으로 변환되어 착신부 측으로 송출된다. 이때, 비교기(431)의 입력단(AΦ∼A7)에는 다운 카운터(450)로 부터 착신 노드 어드레스(A2) 2F가 공급되고 비교기(431)의 입력단(BΦ∼B7)에는 D 플립플롭 회로(414)로 부터 착신 노드 어드레스 4F가 공급되어 어드레스 불일치가 발생되므로, 비교기(431)가 인터럽트 발생회로(440)측으로 송출 매치신호(MATCHTX*)를 출력하게 되고 인터럽트 발생회로(440)는 송신순서가 위반 되었음을 알리는 송출 데이타 에러 인터럽트 신호(INTTXERR*)를 인터럽트 제어회로 측으로 출력한다.For example, as shown in (A) of FIG. 3, the calling unit has 40 and 2F of the destination address A1 and the destination node address A2, respectively, and each of the source address A3 and the source node address A4. In the case where the 83 and 5 data are to be sent to the called party, the calling unit inserts 0 after the continuous 1 because there are five 1s consecutively between the destination node address (A2) 2F and the calling address (A3) 83. send. Therefore, as shown in FIG. 3B, the bits are shifted left by one digit, and the destination node address A2 2F becomes 4F and the destination address A1 40 is converted to 80 and sent to the destination side. At this time, the destination node address A2 2F is supplied from the down counter 450 to the input terminals AΦ to A7 of the comparator 431 and the D flip-flop circuit 414 to the input terminals BΦ to B7 of the comparator 431. Since the destination node address 4F is supplied from and the address mismatch occurs, the comparator 431 outputs the transmission match signal MATCHTX * to the interrupt generating circuit 440, and the interrupt generating circuit 440 violates the transmission order. The notifier outputs a transmission data error interrupt signal (INTTXERR * ) to the interrupt control circuit.

따라서, 제1도의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 송신순서 위반이 발생되지 않았음에도 불구하고 송출 데이타 에러 인터럽트 신호(INTTXERR*)를 출력하게 되어 데이타 송신순서 위반을 정확하게 감시할 수 없게 되는 문제점이 있다.Therefore, the data transmission sequence violation monitoring circuit of FIG. 1 has a problem in that the transmission data error interrupt signal INTTXERR * is output even though no transmission sequence violation has occurred, so that the data transmission sequence violation cannot be accurately monitored.

본 기술은 전술한 바와 같이 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 송출 데이타에 비트 삽입이 발생하는 경우에도 데이타 송신순서 위반을 정확하게 감시할 수 있도록한 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로를 제공하는데 목적이 있다.The present technology has been devised to solve the problem as described above, and it is an object of the present invention to provide a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange that can accurately monitor a data transmission sequence violation even when a bit insertion occurs in the transmission data. There is this.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 어드레스 래치회로(410), 플레그 래치회로(420), 비교기(430), 인터럽트 발생회로(440), 다운 카운터(450), 송출 어드레스 래치회로(460) 및 송출카운터 래치회로(470)를 구비하는 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 있어서, 신호 단발 버스 정합회로로부터 송신 어드레스(TXD)를 공급받고 클럭 발생회로로 부터 신호단말 버스클럭(NCLK1*)을 공급받으며, 상기 송신 어드레스(TXD)에 소정 비트가 삽입되어 있으면 상기 소정 비트를 제외한 나머지 비트의 송신 어드레스(TXD)를 상기 어드레스 래치회로(410)의 D 플립플롭 회로(414) 측으로 출력하는 스터핑 처리회로(500)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides an address latch circuit 410, a flag latch circuit 420, a comparator 430, an interrupt generation circuit 440, a down counter 450, a sending address latch circuit 460, and In a data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic exchange having a sending counter latch circuit (470), a transmission address (TXD) is supplied from a signal single bus matching circuit and a signal terminal bus clock (NCLK1 *) is supplied from a clock generation circuit. If the predetermined address is inserted into the transmission address TXD, the stuffing process outputs the transmission address TXD of the remaining bits excluding the predetermined bit to the D flip-flop circuit 414 of the address latch circuit 410. It provides a data transmission sequence violation monitoring circuit of the electronic exchange further comprising a circuit (500).

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 고안에 의한 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 제4도에 도시된 바와 같이, 어드레스 래치회로(410), 플레그 래치회로(420), 비교기(430), 인터럽트 발생회로(440), 다운 카운터(450), 송출 어드레스 래치회로(460), 송출 카운터 래치회로(470) 및 스터핑 처리회로(500)를 구비하여 이루어진다.The data transmission sequence violation monitoring circuit of the electronic switch according to the present invention includes an address latch circuit 410, a flag latch circuit 420, a comparator 430, an interrupt generation circuit 440, and a down as shown in FIG. A counter 450, a sending address latch circuit 460, a sending counter latch circuit 470, and a stuffing processing circuit 500 are provided.

본 고안의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 제1도의 데이타 송신순서 위반 감시회로를 일부 개량하여 구성한 것으로, 제1도 에 도시된 어드레스 래치회로(410) 시프트 레지스터(411)와 D 플립플롭 회로(414)사이에 스터핑 처리회로(500)를 더 구비하여 이루어 진다.The data transmission sequence violation monitoring circuit of the present invention is constructed by partially modifying the data transmission sequence violation monitoring circuit of FIG. 1. The address latch circuit 410 shift register 411 and the D flip-flop circuit 414 shown in FIG. It is made by further comprising a stuffing processing circuit (500) between.

따라서, 다른 회로부에 대한 설명은 앞에서 설명한 바 있으므로 그에 대한 설명은 생략하고, 스터핑 처리회로(500)에 대한 설명을 하기로 한다.Therefore, since the description of the other circuit unit has been described above, the description thereof will be omitted and the description of the stuffing processing circuit 500 will be described.

스터핑 치리회로(500)는 시프트 레지스터(501), NAND 게이트(502), AND 게이트(503) 및 시프트 레지스터(504)를 구비하여 이루어 진다.The stuffing control circuit 500 includes a shift register 501, a NAND gate 502, an AND gate 503, and a shift register 504.

시프트 레지스터(501)는 인에이블단(En)에 신호단말 버스 정합회로가 연결되고, 클럭 입력단(Ck)에 클럭 발생회로가 연결되고, 입력단(A,B)에 +5V 전원이 연결되며, 출력단(Q0∼Q4)에 NAND 게이트(502)가 연결된다.The shift register 501 has a signal terminal bus matching circuit connected to the enable terminal En, a clock generation circuit connected to the clock input Ck, a + 5V power supply connected to the input terminals A and B, and an output terminal. The NAND gate 502 is connected to Q0 to Q4.

AND 게이트(503)는 입력단에 클럭발생회로가 연결되고 NAND 게이트(502)의 출력단이 연결된다.The AND gate 503 has a clock generation circuit connected to an input terminal and an output terminal of the NAND gate 502 connected thereto.

시프트 레지스터(504)는 클럭단(Ck)에 NAND 게이트(503)의 출력단이 연결되고 입력단(A,B)에 신호 단말버스 정합회로가 연결되며 출력단(Q0∼Q7)에 어드레스 래치회로(410)의 D 플립플롭 회로(410)가 연결된다.The shift register 504 has an output terminal of the NAND gate 503 connected to the clock terminal Ck, a signal terminal bus matching circuit connected to the input terminals A and B, and an address latch circuit 410 at the output terminals Q0 to Q7. D flip-flop circuit 410 is connected.

신호 단말버스 정합회로로 부터 제5도에 도신된 바와 같은 신호 단말버스 크럭(NCLKI*)이 시프트 레지스터(501)의 크럭 입력단(Ck)에 공급되고, 클럭 발생회호로로 부터 제5도에 도시된 바와 같은 송신 어드레스(TXD)가 시프트 레지스터(501)의 인에이블단(En)에 공급되는 경우, 인에이블단(En)에 공급된 송신 어드레스(TXD)의 어드레스 비트(ABT1: 제5도에 도시)에 1이 연속적으로 5개 존재하면 시프트 레지스터(501)이 출력단(Q0∼Q4)은 모두 1을 출력한다.The signal terminal bus clock NCLKI * as shown in FIG. 5 from the signal terminal bus matching circuit is supplied to the clock input terminal Ck of the shift register 501 and shown in FIG. 5 from the clock generation circuit. When the transmission address TXD as described above is supplied to the enable end En of the shift register 501, the address bit ABT1 of FIG. 5 is transmitted to the enable end En. If five 1s are present in succession, the shift register 501 outputs all of the output terminals Q0 to Q4.

이에 따라, NAND 게이트(502)는 제5도의 A와 같이 로우(low)신호를 출력한다.Accordingly, the NAND gate 502 outputs a low signal as shown in FIG. 5A.

AND 게이트(503)는 클럭 발생회로로 부터 공급된 제5도에 도시된 바와 같은 신호단말 버스클럭(NCLK1*)과 NAND 게이트(502)로 부터 공급된 제5도의 A와 같은 신호를 논리적(AND)하여 발생된 제5도의 B와 같은 신호를 시프트 레지스터(504)의 클럭 입력단(Ck) 측으로 출력한다.The AND gate 503 logically ANDs signals such as the signal terminal bus clock NCLK1 * as shown in FIG. 5 supplied from the clock generation circuit and A of FIG. 5 supplied from the NAND gate 502. Is generated and output to the clock input terminal Ck side of the shift register 504.

시프트 레지스터(504)는 신호 단말 정합회로로 부터 입력단(A,B)에 공급되는 송신 어드레스(TXD)의 어드레스 비트(ABT1)에 1이 연속적으로 5개 존재하면 AND 게이트(503)로 부터 클럭 입력단(Ck)에 공급된 제5도의 B와 같은 신호에 따라 어드레스 비트(ABT1)의 연속적인 5개 1 이후에 삽입된 0이 D 플립플롭 회로(414) 측으로 출력되지 않도록 하는데 제5도의 어드레스 비트(ABT2)와 같은 어드레스를 출력한다.The shift register 504 enters the clock input terminal from the AND gate 503 when five 1s are continuously present in the address bits ABT1 of the transmission address TXD supplied to the input terminals A and B from the signal terminal matching circuit. In accordance with a signal such as B of FIG. 5 supplied to Ck, zeros inserted after five consecutive ones of the address bits ABT1 are not output to the D flip-flop circuit 414 side. Output the same address as ABT2).

따라서, 송신 어드레스(TXD)에 비트 0이 삽입되더라도 다운 카운터(450)로 부터 비교기(431)의 입력단(BΦ∼B7)에 공급되는 어드레스 시프트 레지스터(414)로 부터 비교기(431)의 입력단(AΦ∼A7)에 공급되는 어드레스가 일치하게 되므로, 송신 어드레스(TXD)에 비트 0이 삽입됨에 따른 송출데이타 에러 인터럽트 신호(INTTXERR*)의 발생을 방지하게 한다.Therefore, even if bit 0 is inserted into the transmission address TXD, the input terminal AΦ of the comparator 431 is supplied from the address shift register 414 supplied from the down counter 450 to the input terminals BΦ to B7 of the comparator 431. Since the addresses supplied to ˜A7) coincide with each other, it is possible to prevent the generation of the transmission data error interrupt signal INTTXERR * caused by the insertion of bit 0 into the transmission address TXD.

이상 설명한 바와 같이, 본 고안의 데이타 송신순서 위반 감시회로는 연속적인 5개의 1이후에 0이 삽입된 어드레스가 공급되는 경우 송출 데이타 에러 인터럽신호(INTTERR*)의 발생을 방지하므로, 데이타 송신순서 위반을 정확하게 감시할 수 있게 된다.As described above, the data transmission sequence violation monitoring circuit of the present invention prevents the generation of the transmission data error interrupt signal INTTERR * when an address inserted with 0 after five consecutive ones is supplied. Accurately monitor violations.

Claims (2)

어드레스 래치회로(41), 플레그 래치회로(420), 비교기(430), 인터럽트 발생회로(440), 다운 카운터(450), 송출 어드레스 래치회로(460) 및 송출카운터 래치회로(470)을 구비하는 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로에 있어서, 신호 단말 버스 정합회로로 부터 송신 어드레스(TXD)를 공급받고 클럭 발생회로로 부터 신호단말 버스클럭(NCLK1*)을 공급받으며, 상기 송신 어드레스(TXD)에 소정 비트가 삽입되어 있으면 상기 소정 비트를 제외한 나머지 비트의 송신 어드레스(TXD)를 상기 어드레스 래치회로(410)의 D 플립플롭 회로(414) 측으로 출력하는 스터핑 처리회로(500)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 교환기의 데이타 송신순서 위반 감시회로.An address latch circuit 41, a flag latch circuit 420, a comparator 430, an interrupt generating circuit 440, a down counter 450, a feed address latch circuit 460 and a feed counter latch circuit 470; In the data transmission sequence violation monitoring circuit of an electronic switch, a transmission address (TXD) is supplied from a signal terminal bus matching circuit and a signal terminal bus clock (NCLK1 * ) is supplied from a clock generation circuit, and the transmission address (TXD) is supplied. And a stuffing processing circuit 500 for outputting the transmission address TXD of the remaining bits excluding the predetermined bits to the D flip-flop circuit 414 side of the address latch circuit 410 when a predetermined bit is inserted into the. A data transmission sequence violation monitoring circuit according to an electronic exchange. 제1항에 있어서, 상기 스터핑 처리회로(500)는 인에이블단(En)에 상기 단말버스 정합회로가 연결되고 클럭단(Ck)에 상기 클럭 발생회로가 연결되며 입력단(A,B)에 +5V 전원이 연결된 시프트 레지스터(501), 입력단에 상기 시프트 래지스터(501)의 출력단이 연결된 NAND 게이트(502), 입력단에 상기 NAND 게이트(502)의 출력단과 상기 클럭 발생회로가 연결된 AND 게이트(503) 및, 클럭 입력단(Ck)에 상기 AND 게이트(503)의 출력단이 연결되고 입력단(A,B)에 상기 신호 단말 버스 정합회로가 연결되며 출력단 (Q1∼Q7)에 상기 D 플립플롭 회로(414)의 입력단(D1∼D8)이 연결된 시프트 레지스터(504)를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 교환기의 데이터 송신순서 위반 감시회로.The stuffing processing circuit 500 of claim 1, wherein the terminal bus matching circuit is connected to an enable terminal En, the clock generation circuit is connected to a clock terminal Ck, and the input terminals A and B are connected to each other. A shift register 501 connected to a 5V power supply, a NAND gate 502 connected to an output terminal of the shift register 501 at an input terminal, and an AND gate 503 at which an output terminal of the NAND gate 502 and an clock generation circuit are connected to an input terminal of the shift register 501. And an output terminal of the AND gate 503 is connected to a clock input terminal Ck, and the signal terminal bus matching circuit is connected to input terminals A and B, and the D flip-flop circuit 414 is connected to output terminals Q1 to Q7. And a shift register (504) connected to the input terminals (D1 to D8) of the control unit.
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