JPWO2008102577A1 - 弾性表面波センサー装置 - Google Patents
弾性表面波センサー装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2008102577A1 JPWO2008102577A1 JP2009500103A JP2009500103A JPWO2008102577A1 JP WO2008102577 A1 JPWO2008102577 A1 JP WO2008102577A1 JP 2009500103 A JP2009500103 A JP 2009500103A JP 2009500103 A JP2009500103 A JP 2009500103A JP WO2008102577 A1 JPWO2008102577 A1 JP WO2008102577A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acoustic wave
- surface acoustic
- sensor device
- wave sensor
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 title claims abstract description 113
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 18
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims abstract description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 34
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 34
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910002669 PdNi Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910010340 TiFe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 119
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 26
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 26
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 18
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 16
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N Nitric oxide Chemical compound O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- HNDVDQJCIGZPNO-UHFFFAOYSA-N histidine Natural products OC(=O)C(N)CC1=CN=CN1 HNDVDQJCIGZPNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000007853 buffer solution Substances 0.000 description 1
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 239000012460 protein solution Substances 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N triacetic acid Chemical compound CC(=O)CC(=O)CC(O)=O ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJHHPAUQMCHPRB-UHFFFAOYSA-N urea urea Chemical compound NC(N)=O.NC(N)=O ZJHHPAUQMCHPRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/02—Analysing fluids
- G01N29/022—Fluid sensors based on microsensors, e.g. quartz crystal-microbalance [QCM], surface acoustic wave [SAW] devices, tuning forks, cantilevers, flexural plate wave [FPW] devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/02—Analysing fluids
- G01N29/036—Analysing fluids by measuring frequency or resonance of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
- G01N5/02—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by absorbing or adsorbing components of a material and determining change of weight of the adsorbent, e.g. determining moisture content
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/025—Change of phase or condition
- G01N2291/0255—(Bio)chemical reactions, e.g. on biosensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/025—Change of phase or condition
- G01N2291/0256—Adsorption, desorption, surface mass change, e.g. on biosensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0423—Surface waves, e.g. Rayleigh waves, Love waves
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
検出対象物質に由来する質量負荷の変動が小さい場合であっても、検出対象物質を高精度に検出することを可能とする弾性表面波センサー装置を提供する。共振子型の弾性表面波フィルタへの質量負荷を周波数変化により検出する弾性表面波センサー装置であって、圧電基板2上に表面波励振用のIDT電極3が形成されており、IDT電極3を覆うように絶縁膜6が形成されており、絶縁膜6上に、検出対象物質または検出対象物質と結合する結合物質が反応される反応膜8が形成されており、該反応膜8が金属または金属酸化物からなる弾性表面波センサー装置1。
Description
本発明は、質量負荷による周波数変化に基づいて検出対象物質を検出する弾性表面波センサー装置に関し、より詳細には、検出対象物質または検出対象物質を結合する結合物質と反応し得る反応膜を備えた弾性表面波センサー装置に関する。
従来、弾性表面波装置を用いた様々なセンサーが提案されている。例えば下記の特許文献1には、図12に略図的に正面断面図で示す構造を備えた弾性表面波センサー装置が開示されている。
弾性表面波センサー装置501では、圧電基板502上に表面波を励振するためにIDT電極503が形成されている。IDT電極503は、Auなどからなる主電極層503aと、主電極層503aの上面及び下面に積層されており、Tiなどからなる密着層503b,503cとを有する。IDT電極503を覆うようにSiO2からなる保護膜504が形成されている。
保護膜504上に合成樹脂などの有機材料を主体とする反応膜505が積層されている。反応膜505は、検出対象物質と反応する反応物質を合成樹脂に混合してなる樹脂組成物により構成されている。
検出対象物質を含有する液体等が反応膜505に接触されると、反応膜505に検出対象物質が結合する。その結果、IDT電極503に対する質量負荷が増加する。この質量負荷の変動によりIDT電極503により励振される表面波の周波数が変化する。この周波数変化により、検出対象物質を検出することができる。
なお、密着層503bはIDT電極503の圧電基板502への密着性を高めるために設けられており、密着層503cは保護膜504とIDT電極503との密着性を高めるために設けられている。また、保護膜504は、IDT電極503を保護するために設けられている。
WO2005/003752
特許文献1に記載の弾性表面波センサー装置501では、検出対象物質は、反応膜505に結合される。ところが、反応膜505が有機材料からなるので、検出対象物質を含む液体が反応膜505の表面に接触すると、液体成分、例えば水が反応膜505を透過し、保護膜504が吸湿し、IDT電極503に至りがちであった。さらには、Tiなどからなる密着層503cが吸湿し、それによって、励振される表面波の周波数が変動しがちであった。すなわち周波数特性のドリフトが大きくなり、質量負荷の小さな変化による周波数変化を高精度に検出することが困難であった。
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を解消し、検出対象物質による質量負荷の変化が小さい場合であっても、検出対象物質を高精度に検出することを可能とする、共振子型の弾性表面波センサー装置を提供することにある。
本発明によれば、共振子型弾性表面波フィルタへの質量負荷を周波数変化により検出する弾性表面波センサー装置であって、圧電基板と、前記圧電基板上に形成されている表面波励振用電極と、前記表面波励振用電極を覆うように前記圧電基板上に形成されている絶縁膜と、前記絶縁膜上に形成されており、かつ検出対象物質または検出対象物質と結合する結合物質に反応する反応膜とを備え、前記反応膜が金属または金属酸化物からなることを特徴とする、弾性表面波センサー装置が提供される。なお、反応膜による反応とは、化学的もしくは生化学的な結合によるものに限らず、吸着、吸蔵、固着等による反応を広く含むものとする。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、前記圧電基板がLiTaO3からなり、前記絶縁膜がSiO2またはSiNからなり、前記表面波励振用電極の弾性表面波の波長で規格化された膜厚が0.1〜0.45の範囲内とされる。この場合には、周波数温度係数TCFの絶対値を小さくすることができる。従って、弾性表面波センサー装置の温度変化による特性の変動を小さくすることができる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、前記圧電基板がLiNbO3からなり、前記絶縁膜がSiO2またはSiNからなり、前記表面波励振用電極の弾性表面波の波長で規格化された膜厚が0.25〜1.125の範囲内とされる。この場合には、周波数温度係数TCFの絶対値を小さくすることができる。従って、弾性表面波センサー装置の温度変化による特性の変動を小さくすることができる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、反応膜として、Ni、Cu、Co及びZnから選択される一種の金属からなる反応膜が用いられる。その場合には、湿気を遮断することができる。よって、保護膜及びTiなどの密着層の吸湿による周波数特性の変動をより一層小さくすることが可能となる。また、反応膜を選択することで、ヒスチジンタグ付蛋白質などの特定の検出対象物質と結合することができる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、前記反応膜がPd、PdNi及びTiFeからなる群から選択された1種の金属からなる。この場合には、湿気を遮断することができ、絶縁膜等の吸湿による周波数特性の変動を小さくすることができる。また、これらの金属を用いることにより、水素ガスなどの気体の検出も可能となる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、前記反応膜がZnO、SnO及びPtからなる群から選択した1種の金属または金属酸化物からなる。この場合においても、周波数特性の変動が生じ難く、かつ一酸化炭素ガス等の気体の検出にも適した弾性表面波センサー装置を提供することができる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置では、好ましくは、上記反応膜がZrO2からなる。この場合には、周波数特性の変動が生じ難いだけでなく、検出対象物質として、窒素酸化物を高精度に検出することが可能となる。
本発明に係る弾性表面波センサー装置において用いられる表面波励振用電極は、様々な金属により構成し得るが、好ましくは、Alより重い金属、例えば、Au、Pt、Cu、Ta、Wなどを主成分とすることが望ましい。それによって、SiO2の規格化された膜厚が0.1〜0.45の範囲(LiTaO3の場合)、あるいは0.25〜1.125の範囲(LiNbO3の場合)であっても周波数特性を劣化させることなく形成することができる。
(発明の効果)
(発明の効果)
本発明に係る弾性表面波センサー装置は、圧電基板と、圧電基板上に形成された表面波励振用電極を備える共振子型弾性表面波フィルタへの質量負荷を周波数変化により検出する弾性表面波センサー装置であるため、トランスバーサル型の弾性表面波フィルタを用いた弾性表面波センサーに比べて小型化を図ることができる。
しかも、本発明によれば、上記絶縁膜により表面波励振用電極が保護されているだけでなく、絶縁膜上に、検出対象物質または検出対象物質と結合する結合物質に反応する反応膜が設けられており、該反応膜が金属または金属酸化物からなるため、金属膜がなく、かつ絶縁膜が薄い場合に比べて絶縁膜そのものやTiなどからなる密着層の耐吸湿性が大幅に改善される。従って、吸湿による周波数特性の変動すなわちドリフトが生じ難い。よって、質量負荷の変化が小さい場合であっても、高精度に検出対象物質を検出することが可能となる。
1…弾性表面波センサー装置
2…圧電基板
3A,3B…IDT電極
4,5…反射器
6…絶縁膜
7…密着層
8…反応膜
2…圧電基板
3A,3B…IDT電極
4,5…反射器
6…絶縁膜
7…密着層
8…反応膜
以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
図1は、本発明の第一の実施形態の弾性表面波センサー装置の模式的正面断面図であり、図2は、その電極構造を示す模式的平面図である。
弾性表面波センサー装置1は、圧電基板2を有する。圧電基板2は、本実施形態では、LiTaO3からなる。もっとも、圧電基板2は、LiNbO3または水晶などの他の圧電単結晶により形成されていてもよい。また、圧電基板2はPZT系セラミックスのような圧電セラミックスにより構成されてもよい。
好ましくは、SiO2等の正の温度係数をもつ材料を絶縁膜にする場合、圧電基板2は、LiTaO3またはLiNbO3などの負の周波数温度係数を有する圧電材料からなる。
圧電基板2上に、図2に示す表面波励振用の電極構造が形成されている。すなわち、表面波励振用電極としてのIDT電極3A,3Bと、IDT電極3A,3Bが設けられている領域の表面波伝搬方向両側に配置された反射器4,5とが形成されている。本実施形態の弾性表面波センサー装置1では、上記IDT電極3A,3B及び反射器4,5を有する共振子型の弾性表面波フィルタ装置が構成されている。図1では、IDT電極3Aが設けられている部分の断面構造が模式的正面断面図で示されている。
上記IDT電極3A,3B及び反射器4,5は、本実施形態では、Auからなる。もっとも、IDT電極3A,3B及び反射器4,5は、Au以外の他の金属、例えば、Pt、Ag、Cuなどにより形成されてもよく、またはこれらの金属を主体とする合金により形成されてもよい。また、図10に略図的に示すように、IDT電極及び反射器のような電極13は、複数の金属膜13a〜13cを積層してなる積層金属膜により形成されてもよい。
好ましくは、IDT電極3A,3B及び反射器4,5は、Au、Pt、Cu、Ta、W等のAlより重い金属を主成分とする。Auを主成分とするIDT電極3A,3B及び反射器4,5とは、Au、またはAuを主成分とする合金からなるもの、あるいは、積層金属膜の場合には、AuまたはAuを主成分とする合金膜が積層金属膜中の主要部分を占める構造を有するものである。
上記IDT電極3Aを覆うように、絶縁膜6が形成されている。絶縁膜6は、IDT電極3B及び反射器4,5をも覆うように形成されている。
絶縁膜6は、IDT電極3A,3B及び反射器4,5を保護するために設けられている。本実施形態では、絶縁膜6は、SiO2からなり、正の周波数温度係数TCFを有する。圧電基板2が、LiTaO3からなり、負の周波数温度係数TCFを有するため、SiO2膜とLiTaO3との組み合せにより、温度変化による周波数特性の変化を小さくすることが可能とされている。
絶縁膜6上には、密着層7が形成されている。密着層7は、Tiからなり、密着層7上に形成される、金属からなる後述の反応膜8の絶縁膜6への密着性を高めるために設けられている。
密着層7上に反応膜8が形成されている。本実施形態では、反応膜8は、Niからなる。Niからなる反応膜8は、ヒスチジンタグ付蛋白質を吸着により、反応する作用を有する。
弾性表面波センサー装置1の製造に際しては、圧電基板2上にIDT電極3A,3B及び反射器4,5を公知の弾性表面波装置の製造方法に従って形成する。しかる後、絶縁膜としてSiO2膜を例えばスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法、スピンコート法などにより560nm〜2540nm程度の厚みとなるように成膜する。次に、絶縁膜6上に、Tiなどから密着層7を、スパッタリング、蒸着またはメッキ法等の薄膜形成方法により5nm〜200nm程度の厚みに形成する。最後に、密着層7上に、Niからなる反応膜8を、同じくスパッタリング、蒸着またはメッキ法等の薄膜形成方法により形成すればよい。反応膜8の厚みは、特に限定されないが、5nm〜200nm程度の厚みとすればよい。反応膜8の厚みが薄過ぎると、検出対象物質に反応することができないおそれがあり、厚過ぎると、弾性表面波の励振を阻害するおそがある。
本実施形態の弾性表面波センサー装置1では、反応膜8がNiからなり、上述したようにヒスチジンタグ付蛋白質を吸着し、ヒスチジンタグ付蛋白質を結合する作用を有する。従って、液体の検体中にヒスチジンタグ付蛋白質が含有されている場合、液体の検体が反応膜8上に接触すると、ヒスチジンタグ付蛋白質が反応膜8に吸着される。
次に、弾性表面波センサー装置1を用いて、ヒスチジンタグ付き蛋白質を測定する方法を説明する。先ず、弾性表面波センサー装置1に、あらかじめ上記ヒスチジンタグ付蛋白質を含有していないリファレンス用液体を接触させた場合の周波数特性を測定しておく。
しかる後、上記ヒスチジンタグ付蛋白質が液体に含有されている検体を接触させ、ヒスチジンタグ付蛋白質を反応膜8に吸着させ、弾性表面波センサー装置1の周波数特性を測定する。
上記のようにして得られたリファレンス用液体を接触させた場合の周波数特性における共振周波数と、上記ヒスチジンタグ付き蛋白質が液体に含有されている検体を接触させた場合の周波数特性から得られる共振周波数との差により、検体中におけるヒスチジンタグ付き蛋白質の有無を検出することができる。
また、予め検量線を以下のようにして作成しておくことにより、ヒスチジンタグ付き蛋白質の濃度をも検出することができる。すなわち、あらかじめ既知の複数種の濃度のヒスチジンタグ付蛋白質含有標準検体を用い、上記と同様にして弾性表面波センサー装置1の周波数特性を測定する。この予め既知の複数種の濃度の標準検体が接触された際の周波数特性から得られた複数種の共振周波数と、上記リファレンス用液体を接触させた場合の共振周波数との差に基づいて、検量線を作成する。
そして、ヒスチジンタグ付蛋白質が含有されている未知の検体についての周波数特性を測定し、その共振周波数の上記リファレンス用液体の周波数特性による共振周波数との差を求め、上記検量線に基づいてヒスチジンタグ付蛋白質の濃度を求めればよい。
また、本発明の弾性表面波センサー装置1を使用するに際しては、液体の検体が反応膜8の表面をさほど汚染しない場合には、1つの弾性表面波センサー装置1を用いて上記のようにして検出対象物質の有無及び/または定量を行うことができる。すなわち、まず弾性表面波センサー装置1を用い、前述したようにして、検量線を作成し、次に同じ弾性表面波センサー装置1を用い、検体と同様にして用意されており、かつヒスチジンタグ付蛋白質を含有しないリファレンス用液体を用いて周波数特性を測定し、次に検体を用いて周波数特性を測定し2つの周波数特性の差を求めたのち、上記検量線に基づいてヒスチジンタグ付蛋白質を定量すればよい。
もっとも、ヒスチジンタグ付蛋白質を含有する検体のような生化学分野で用意される検体では、検体中の液体に、他の蛋白質や粘性を有する他の成分等が混在していることが多い。よって、検体を反応膜8に一度接触させると、十分に洗浄したとしても、汚染による影響を免れ難い。その場合には、複数の弾性表面波センサー装置1を用意し、まず検量線作成用の複数種の検体を用いて、検量線を作成する。そして、新たな2つの弾性表面波センサー装置1を用い、先ず、新たな弾性表面波センサー装置1の一方をリファレンス用液体と接触させ周波数特性を測定し、さらに他方の新たな弾性表面波センサー装置1を用い、測定対象である検体と接触させ周波数特性を測定すればよい。
なお、本発明に係る弾性表面波センサー装置1を用いて、その周波数特性を測定するには、弾性表面波センサー装置1に、該弾性表面波センサー装置1を駆動する発振回路を接続し、弾性表面波センサー装置1における励振電極としてのIDT電極3A,3Bを励振し、該弾性表面波センサー装置1の出力信号の周波数特性を測定すればよい。この場合、上記のように、新たな2つの弾性表面波センサー装置1を用いてリファレンス用液体及び検体の周波数特性を測定する場合には、2つの弾性表面波センサー装置1の出力の周波数差を周波数カウンタなどにより求めることで、検体の有無及び濃度を検出することができる。
次に、具体的な実験例を説明する。圧電基板2として、36°YカットX伝搬のLiTaO3基板を用い、170nmからなる厚みのAu膜よるIDT電極3A,3B及び反射器4,5を形成した。IDT電極3A,3Bの電極指の周期による波長λは、5.64μmとした。IDT電極3A,3B及び反射器4,5を覆うように、膜厚hが、h/λ=0.3となるようにSiO2膜をスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法、スピンコート法などにより形成した。さらに、スパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法などにより5nmの厚みのTiからなる密着層7を形成し、さらに最上層にスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法などにより10nmの厚みのNiからなる反応膜8を形成した。
上記弾性表面波センサー装置1に、リファレンス用液体として、PBS(Phosphate Buffered
Saline)を10分間接触させ、共振周波数の変動を測定した。結果を図3に実線で示す。
Saline)を10分間接触させ、共振周波数の変動を測定した。結果を図3に実線で示す。
比較のために、接着層のTiや反応膜のNiなどの金属膜のない構成の弾性表面波センサー装置を用意し、すなわち、図12に示す弾性表面波センサー装置501を用意し、同様にして、リファレンス用液体を接触させて、共振周波数を測定した。結果を図3に破線で示す。図3から明らかなように、比較のために用意した弾性表面波センサー装置では、測定開始後60分までの間に共振周波数が徐々に低下し、大きな周波数ドリフトの生じていることがわかる。これは吸湿による周波数特性のドリフトであると考えられる。これに対して、本実施形態の弾性表面波センサー装置1では、60分経過後も、共振周波数はほとんど変化してしない。
また、上記弾性表面波センサー装置1及び比較のために用意した弾性表面波装置をそれぞれ複数用意し、60℃及び相対湿度95%の環境のもとに1千時間放置する湿中放置実験を行った。湿中放置実験においては、100時間後、250時間後、500時間後及び1千時間後に、それぞれ、共振周波数を測定し、初期共振周波数に対する共振周波数変動量Δf0=(測定共振周波数f−初期共振周波数f0)を求めた。結果を図4に示す。図4の実線が、上記実施形態の結果を示し、破線が比較のために用意した弾性表面波センサー装置の結果を示す。
図4から明らかなように、比較のために用意した弾性表面波センサー装置では、時間の経過とともに、共振周波数が低下していくのに対し、上記実施形態によれば、1千時間放置後も、特性変動がほとんど生じないことがわかる。
従って、長期間保存した場合においても、本実施形態の弾性表面波センサー装置1では、周波数特性の変化を著しく小さくし得ることがわかる。
次に、上記実施形態の弾性表面波センサー装置1において、変性剤として8mol/lの尿素ureaを含み、ヒスチジンタグ付蛋白質濃度が0.04mg/mlのヒスチジンタグ付蛋白質溶液を検体として用い、上記弾性表面波センサー装置に接触させ、共振周波数を測定した。図5は、上記検体を接触させ、30分経過後までの共振周波数の変化を示す図である。図5の縦軸は、初期共振周波数f0に対する周波数変化量を示す。
図5から明らかなように、検体を接触させ、その検体中の結合対象物質であるヒスチジンタグ付蛋白質の吸着による結合が進行するにつれて、共振周波数が変化し、約20分経過後に周波数変化がほぼ飽和し、安定化していることがわかる。
なお、好ましくは、上記ヒスチジンタグ付蛋白質をNiからなる反応膜8に安定に吸着させるには、反応膜8上にイオン化したNi+2をニトリル三酢酸(NTA)などのキレート剤を介して固着させておくことが好ましく、それによって、ヒスチジンタグ付蛋白質をより確実に反応膜に吸着させ、より高精度に測定を行うことができる。
(第2の実施形態)
第1の実施形態と同様にして、ただし、反応膜8としてNiではなく水素を吸蔵し得るPd膜をスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法により成膜し、第2の実施形態の弾性表面波センサー装置を得た。第2の実施形態の弾性表面波センサー装置では、反応膜8がPdからなるため、水素を吸蔵する作用を有し、水素ガスを検出するセンサーとして用いることができる。これを具体的な実験例に基づき説明する。
第1の実施形態と同様にして、ただし、反応膜8としてNiではなく水素を吸蔵し得るPd膜をスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法により成膜し、第2の実施形態の弾性表面波センサー装置を得た。第2の実施形態の弾性表面波センサー装置では、反応膜8がPdからなるため、水素を吸蔵する作用を有し、水素ガスを検出するセンサーとして用いることができる。これを具体的な実験例に基づき説明する。
第1の実施形態の実験例の場合と同様にして、ただし、厚み10nmのNi膜からなる反応膜に変えて、厚み50nmのPdからなる反応膜をスパッタリング、蒸着などのPVD法やCVD法により形成した。60℃及び相対湿度95%の環境の下で第2の実施形態の弾性表面波センサー装置の当初の周波数特性として共振周波数を60分間測定した。比較のために、接着層のTiや反応層のPdなどの金属膜のない第2の比較例の弾性表面波センサー装置を作成し、共振周波数を60分間、同様の条件で測定した。結果を図6に示す。図6の実線が第2の実施形態の結果を、破線が上記第2の比較例の結果を示す。
また、第1の実施形態の場合の湿中放置実験と同様にして、上記第2の実施形態の弾性表面波センサー装置及び第2の比較例の弾性表面波センサー装置を各複数個用意し、湿中放置実験を行い、周波数を変化量Δf0を測定した。結果を図7に示す。
図6及び図7から明らかなように、第2の実施形態においても、第2の比較例の弾性表面波センサー装置に比べて、経時による特性の変動が小さく、また長期間の保存時の特性変動が抑制されることがわかる。これは、第2の実施形態においても、上記反応膜がPdからなり、すなわち金属からなるので、IDT電極3A,3B及び絶縁膜6への水分の侵入を抑制し得るためと考えられる。すなわち吸湿性が低いため、周波数特性の変動が生じ難く、かつ長期間保存した際にも特性変動が抑制されるものと考えられる。
第2の実施形態の弾性表面波センサー装置を用い、検体として水素ガスを用い、10分間、接触させて、共振周波数の変化を求めた。結果を図8に示す。
図8から明らかなように、時間の経過とともに、共振周波数が変化し、約8分経過後にほぼ安定になることがわかる。従って、本実施形態によれば、検出対象物質としての水素ガスが反応膜に吸蔵され、それによって、水素ガスの有無及び量を検出し得ることがわかる。
(変形例)
第1,2の実施形態では、LiTaO3により圧電基板2が構成されている。LiTaO3基板の周波数温度係数TCFは負の値である。絶縁膜6は、SiO2からなり、その周波数温度係数TCFは正の値である。もっとも、SiO2の膜厚を変化させることにより、弾性表面波センサー装置1の周波数温度係数TCFは変化する。図9は、LiTaO3からなる圧電基板を用い、上記第1の実施形態の弾性表面波センサー装置1を作成した場合に、SiO2からなる絶縁膜の膜厚を変化させた場合の、弾性表面波センサー装置1の周波数温度係数TCFの変化を示す図である。
第1,2の実施形態では、LiTaO3により圧電基板2が構成されている。LiTaO3基板の周波数温度係数TCFは負の値である。絶縁膜6は、SiO2からなり、その周波数温度係数TCFは正の値である。もっとも、SiO2の膜厚を変化させることにより、弾性表面波センサー装置1の周波数温度係数TCFは変化する。図9は、LiTaO3からなる圧電基板を用い、上記第1の実施形態の弾性表面波センサー装置1を作成した場合に、SiO2からなる絶縁膜の膜厚を変化させた場合の、弾性表面波センサー装置1の周波数温度係数TCFの変化を示す図である。
この場合、SiO2の規格化膜厚h/λを0.1〜0.45の範囲とすれば、弾性表面波センサー装置1の全体の周波数温度係数TCFの絶対値を30ppm/℃以下とすることができ、それによって良好な温度特性が得られることがわかる。
図11は、SiO2の規格化膜厚h/λと、感度のピークを1とした場合の規格化感度との関係を示す図である。図11から明らかなように、SiO2の規格化膜厚h/λが0.135付近で感度がピークとなり、0.135から離れるにしたがって感度が低下することがわかる。他方、弾性表面波センサー装置の発熱または室温の変動などによる検体の温度変化によるセンサー特性の変化を小さくするには、図9より、TCFが0となる場合のSiO2の規格化膜厚=0.27付近がもっとも良いことがわかる。
また、SiO2上に金属膜を形成する場合、バルク波のSiO2と金属膜との界面における反射や、IDT電極または引き出し電極などの下層の電極とバルク波との電磁界結合などの影響が生じるおそれがある。このような影響を小さくするには、SiO2膜の規格化膜厚h/λは、0.10以上であることが必要であると考えられており、SiO2膜の規格化膜厚h/λが大きいほど上記影響が小さくなると考えられている。
従って、上述した規格化感度、温度変化による特性の変化及びバルク波による影響等を勘案すると、SiO2膜の規格化膜厚h/λは0.10〜0.45の範囲とすることが好ましく、上記規格化感度を0.9以上とすることができるので、h/λはより好ましくは、0.10〜0.35の範囲とすることが好ましい。
また、LiNbO3の場合には、その温度係数がLiTaO3の温度係数に比べて約2.5倍であるため、SiO2膜の規格化膜厚h/λを0.25〜1.125の範囲とすれば、弾性表面波センサー装置の全体の周波数温度係数TCFの絶対値を30ppm/℃以下とすることができ、LiTaO3の場合と同様に、良好な温度特性が得られる。
第1の実施形態では、反応膜がNiにより形成されていたが、Cu、Co、またはZnを用いて反応膜8を形成してもよく、その場合においても、上記実施形態と同様に、ヒスチジンタグ付蛋白質を検出することができる。
また、第2の実施形態では、反応膜は、Pdにより形成されていたが、Pdに変えて、PdNi合金またはTiFe合金などを用いてもよく、その場合においても、同様に水素が吸蔵されるので、水素ガスを検出することがてきる。
反応膜を構成する材料は、第1,2の実施形態で示した材料に限定されず、検出対象物質に応じて、様々な金属または金属酸化物を用いることができる。例えば、一酸化炭素ガスを検出するには、反応膜は、ZnO、SnO、Ptなどの金属もしくは金属酸化物を用いればよく、窒素酸化物を検出するには、ZrO2からなる反応膜を用いればよい。
要するに、本発明においては、反応膜が金属または金属酸化物からなり、SiO2などの絶縁膜の上に直接膜を形成する場合、金属膜やh/λが0.1以上のSiO2などの絶縁膜がない場合に比べて吸湿を抑制することができるので、上記金属または金属酸化物としては、検出対象物質を吸着、もしくは化学結合、吸蔵などの様々な態様で反応し得る、または検出対象物質と結合する結合物質と反応し得る様々な金属もしくは金属酸化物を用いることができる。
なお、共振子型弾性表面波フィルタを構成する表面波励振用電極の構造についても、2つのIDTと1対の反射器を用いたものに限定されず、様々な共振子型弾性表面波装置の電極構造を適宜用いることができる。
また、絶縁膜6についても、SiO2に限らず、SiNなどの他の正の周波数温度係数TCFを有する絶縁材料を用いてもよい。正の周波数温度係数TCFを有する絶縁材料を用いることにより、負の周波数温度係数を有する圧電基板と組み合わせることにより、周波数温度特性を改善することがてきる。
もっとも絶縁膜6は、正の温度周波数温度係数TCFを有する絶縁材料に限らず、他の絶縁材料、例えばポリイミド、PMMAなどの樹脂により形成してもよい。
Claims (8)
- 共振子型弾性表面波フィルタへの質量負荷を周波数変化により検出する弾性表面波センサー装置であって、
圧電基板と、
前記圧電基板上に形成されている表面波励振用電極と、
前記表面波励振用電極を覆うように前記圧電基板上に形成されている絶縁膜と、
前記絶縁膜上に形成されており、かつ検出対象物質または検出対象物質と結合する結合物質に反応する反応膜とを備え、
前記反応膜が金属または金属酸化物からなることを特徴とする、弾性表面波センサー装置。 - 前記圧電基板がLiTaO3からなり、前記絶縁膜がSiO2またはSiNからなり、前記表面波励振用電極の弾性表面波の波長で規格化された膜厚が0.1〜0.45の範囲にあることを特徴とする、請求項1に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記圧電基板がLiNbO3からなり、前記絶縁膜がSiO2またはSiNからなり、前記表面波励振用電極の弾性表面波の波長で規格化された膜厚が0.25〜1.125の範囲にあることを特徴とする、請求項1に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記反応膜がNi、Cu、Co及びZnから選択される1種の金属からなることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記反応膜がPd、PdNi及びTiFeからなる群から選択された1種の金属からなる、請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記反応膜がZnO、SnO及びPtからなる群から選択した1種の金属または金属酸化物からなる、請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記反応膜がZrO2からなる、請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性表面波センサー装置。
- 前記表面波励振用電極がAlより重い金属を主成分とする、請求項1〜7のいずれか1項に記載の弾性表面波センサー装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007038064 | 2007-02-19 | ||
JP2007038064 | 2007-02-19 | ||
PCT/JP2008/050363 WO2008102577A1 (ja) | 2007-02-19 | 2008-01-15 | 弾性表面波センサー装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008102577A1 true JPWO2008102577A1 (ja) | 2010-05-27 |
Family
ID=39709857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009500103A Pending JPWO2008102577A1 (ja) | 2007-02-19 | 2008-01-15 | 弾性表面波センサー装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8156814B2 (ja) |
JP (1) | JPWO2008102577A1 (ja) |
WO (1) | WO2008102577A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020060588A (ja) * | 2016-02-29 | 2020-04-16 | 京セラ株式会社 | センサ素子およびセンサ装置 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009078089A1 (ja) * | 2007-12-17 | 2009-06-25 | Fujitsu Limited | 弾性波素子、通信モジュール、および通信装置 |
WO2010041390A1 (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-15 | 株式会社 村田製作所 | 弾性波センサ及び弾性波センサを用いた検出方法 |
DE102008052437A1 (de) * | 2008-10-21 | 2010-04-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Detektion einer Substanz mit Hilfe eines Dünnfilmresonators mit Isolationsschicht |
US8317392B2 (en) | 2008-12-23 | 2012-11-27 | Honeywell International Inc. | Surface acoustic wave based micro-sensor apparatus and method for simultaneously monitoring multiple conditions |
WO2010146923A1 (ja) * | 2009-06-18 | 2010-12-23 | 株式会社 村田製作所 | 弾性表面波センサー |
EP2477332A4 (en) | 2009-09-11 | 2013-12-25 | Panasonic Corp | ACOUSTIC WAVE ELEMENT AND ACOUSTIC WAVE ELEMENT SENSOR |
US20130201316A1 (en) | 2012-01-09 | 2013-08-08 | May Patents Ltd. | System and method for server based control |
US9322809B2 (en) * | 2012-01-20 | 2016-04-26 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Elastic wave sensor |
CN103529120B (zh) * | 2013-10-25 | 2016-06-01 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 声表面波传感器复合敏感膜的制备工艺 |
CN103868818A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-06-18 | 中国电子科技集团公司第二十六研究所 | 一种三维纳米结构声表面波气敏传感器 |
US20160109322A1 (en) * | 2014-10-20 | 2016-04-21 | HGST Netherlands B.V. | Leak detection using acoustic wave transducer |
US10261078B2 (en) * | 2015-08-17 | 2019-04-16 | National Technology & Engineering Solutions Of Sandia, Llc | Shear horizontal surface acoustic wave (SH-SAW) resonators and arrays thereof |
KR102115177B1 (ko) | 2015-10-23 | 2020-05-26 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 탄성파 장치 |
US11156542B2 (en) * | 2016-09-20 | 2021-10-26 | Autonomous Medical Devices Inc. | Surface acoustic wave biosensor employing an analog front end and DNA encoded libraries to improved limit of detection (LOD) with exemplary apparatus of the same |
JP7304606B2 (ja) * | 2017-08-10 | 2023-07-07 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 膜型表面応力センサーを用いた水素センサー及び水素検出方法 |
CN111149141A (zh) | 2017-09-04 | 2020-05-12 | Nng软件开发和商业有限责任公司 | 用于收集并使用来自交通工具的传感器数据的方法和装置 |
CN109613647B (zh) * | 2019-01-10 | 2020-05-05 | 济南晶正电子科技有限公司 | 一种铌酸锂/氮化硅光波导集成结构及其制备方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH055689A (ja) * | 1991-06-28 | 1993-01-14 | Meitec Corp | 酸素ガスセンサ |
JP2003258602A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-09-12 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波装置 |
JP2004340766A (ja) * | 2003-05-16 | 2004-12-02 | Hitachi Ltd | 化学物質検出装置 |
JP2005189213A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Alps Electric Co Ltd | 水素センサ |
JP2006220508A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Shimadzu Corp | ガスセンサ |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3167053B2 (ja) | 1992-12-25 | 2001-05-14 | マルヤス工業株式会社 | 液体の性質を測定するための弾性表面波装置 |
AUPR507601A0 (en) | 2001-05-21 | 2001-06-14 | Microtechnology Centre Management Limited | Surface acoustic wave sensor |
EP2139110A1 (en) | 2003-02-10 | 2009-12-30 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Boundary acoustic wave device |
US7168298B1 (en) * | 2003-05-12 | 2007-01-30 | Sandia Corporation | Mass-sensitive chemical preconcentrator |
JP3774782B2 (ja) | 2003-05-14 | 2006-05-17 | 富士通メディアデバイス株式会社 | 弾性表面波素子の製造方法 |
JPWO2005003752A1 (ja) | 2003-07-04 | 2006-08-17 | 株式会社村田製作所 | 弾性表面波センサー |
JP4497159B2 (ja) | 2004-04-08 | 2010-07-07 | 株式会社村田製作所 | 弾性境界波フィルタ |
CN100595581C (zh) * | 2004-09-10 | 2010-03-24 | 株式会社村田制作所 | 液体中物质检测传感器及使用它的液体中物质检测装置 |
EP1788384B1 (en) * | 2004-09-10 | 2012-09-26 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Surface acoustic wave sensor for detecting substance in liquid and device for detecting substance in liquid employing the sensor |
WO2006114829A1 (ja) * | 2005-04-06 | 2006-11-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 表面波センサ装置 |
TWI331216B (en) * | 2006-06-15 | 2010-10-01 | Murata Manufacturing Co | Sensor for detecting substance in liquid |
-
2008
- 2008-01-15 WO PCT/JP2008/050363 patent/WO2008102577A1/ja active Application Filing
- 2008-01-15 JP JP2009500103A patent/JPWO2008102577A1/ja active Pending
-
2009
- 2009-07-20 US US12/505,571 patent/US8156814B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH055689A (ja) * | 1991-06-28 | 1993-01-14 | Meitec Corp | 酸素ガスセンサ |
JP2003258602A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-09-12 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波装置 |
JP2004340766A (ja) * | 2003-05-16 | 2004-12-02 | Hitachi Ltd | 化学物質検出装置 |
JP2005189213A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Alps Electric Co Ltd | 水素センサ |
JP2006220508A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Shimadzu Corp | ガスセンサ |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6008019440, J.Freudenberg ,et al., "A SAW immunosensor for operation in liquid using a SiO2 protective layer", Sensors and Actuators B, 200106, 第76巻, 147頁〜151頁 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020060588A (ja) * | 2016-02-29 | 2020-04-16 | 京セラ株式会社 | センサ素子およびセンサ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090272193A1 (en) | 2009-11-05 |
WO2008102577A1 (ja) | 2008-08-28 |
US8156814B2 (en) | 2012-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPWO2008102577A1 (ja) | 弾性表面波センサー装置 | |
JP4147116B2 (ja) | 表面弾性波センサ | |
Benes et al. | Comparison between BAW and SAW sensor principles | |
US9322809B2 (en) | Elastic wave sensor | |
US7788979B2 (en) | Monolithic antenna excited acoustic transduction device | |
KR101711204B1 (ko) | 단일입력 다중출력 표면탄성파 디바이스 | |
JPWO2011030519A1 (ja) | 弾性波素子と弾性波素子センサ | |
WO2010150587A1 (ja) | 弾性表面波センサー | |
US7816837B2 (en) | Surface acoustic wave sensor | |
JP2007225546A (ja) | 弾性表面波センサ | |
JP2010286465A (ja) | Sawセンサーデバイス | |
JP2006313092A (ja) | 弾性表面波センサ及び弾性表面波センサシステム | |
JP5423681B2 (ja) | 弾性波センサ及び弾性波センサを用いた検出方法 | |
US7803632B2 (en) | Method for detecting substance in liquid and sensor for detecting substance in liquid | |
JP5917973B2 (ja) | Sawセンサおよびsawセンサ装置 | |
WO2010021100A1 (ja) | 弾性表面波センサー装置 | |
Martin et al. | Sensing in liquids with SH plate mode devices | |
WO2010146923A1 (ja) | 弾性表面波センサー | |
US20110086435A1 (en) | Determination of dissociation constants using piezoelectric microcantilevers | |
AU2002308401B2 (en) | Surface acoustic wave sensor | |
Schweyer et al. | Comparison of surface transverse wave (STW) and shear horizontal acoustic plate mode (SHAPM) devices for biochemical sensors | |
JPH055689A (ja) | 酸素ガスセンサ | |
Andle et al. | Application of unidirectional transducers in acoustic plate mode biosensors | |
WO2023145434A1 (ja) | 検出装置 | |
AU2002308401A1 (en) | Surface acoustic wave sensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100823 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101026 |