JPS6391503A - Apparatus for measuring head levitation gap - Google Patents
Apparatus for measuring head levitation gapInfo
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- JPS6391503A JPS6391503A JP23777186A JP23777186A JPS6391503A JP S6391503 A JPS6391503 A JP S6391503A JP 23777186 A JP23777186 A JP 23777186A JP 23777186 A JP23777186 A JP 23777186A JP S6391503 A JPS6391503 A JP S6391503A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ヘッド浮上隙間測定装置に関するものであり
、より詳細には、浮動形磁気ディスク用ヘッドの浮上隙
間を、より精密に実時間で連続的に実施し得る新規な隙
間測定測定装置の構成に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a head flying gap measuring device, and more specifically, it measures the flying gap of a floating magnetic disk head more accurately and continuously in real time. The present invention relates to the configuration of a new gap measurement measurement device that can be implemented in the following manner.
発明の技術的背景と問題点
比較的小型のコンピュータシステムのための外部記憶装
置のひとつとして、いわゆる固定ディスク装置がある。Technical Background and Problems of the Invention One type of external storage device for relatively small computer systems is a so-called fixed disk device.
この固定ディスク装置は記憶密度が比較的高く、近年の
ハードウェア並びにソウトウエアの進歩に付随する情報
の大量処理への要求に対応するものとして利用が拡大し
、それにつれて更なる高性能化が求められている。This fixed disk device has a relatively high storage density, and its use has expanded to meet the demands for large-volume processing of information accompanying advances in hardware and software in recent years. ing.
固定ディスク装置は、磁気記録媒体と磁気ヘッドとをひ
とつの容器内に収容して構成することにより各部材の位
置関係等を精密に設定して高密度記録を可能とすること
を特徴としている。A fixed disk device is characterized by being constructed by housing a magnetic recording medium and a magnetic head in one container, thereby enabling high-density recording by precisely setting the positional relationship of each member.
また、固定ディスク装置の他の大きな特徴として気体軸
受構造が挙げられる。これは、記録媒体である磁気ディ
スクの回転によって生じる空気流によって、磁気ヘッド
の検出面すなわちヘッドスライダをディスクの記録面か
ら浮上させ、停止時は記憶媒体上の所定の非記録領域上
に当接・保持する構成によって、両者の実質的な摩耗を
回避するものである。Another major feature of the fixed disk device is the gas bearing structure. The detection surface of the magnetic head, that is, the head slider, is raised above the recording surface of the disk by the airflow generated by the rotation of the magnetic disk, which is the recording medium, and when it stops, it comes into contact with a predetermined non-recording area on the storage medium. - The holding structure avoids substantial wear of both.
このような固定ディスク装置に用いられる浮動ヘッドと
記録媒体との間隙は、1μm以下の極めて小さなもので
あり、製品の管理あるいは開発においてこの微小な間隙
を測定するために数々の方法が提案されている。The gap between the floating head and the recording medium used in such fixed disk devices is extremely small, less than 1 μm, and many methods have been proposed to measure this minute gap in product management or development. There is.
発明が解決しようとする問題点
従来用いられていた代表的な浮動ヘッドの隙間測定方法
として、回転する透明なガラス円板などに対して浮動ヘ
ッドを浮上させ、このヘッドのスライダ面に白色光を照
射して白色干渉による干渉色彩を観察する方法がある。Problems to be Solved by the Invention The typical floating head gap measurement method that has been used in the past involves floating a floating head on a rotating transparent glass disk or the like, and shining white light onto the slider surface of the head. There is a method of irradiating it and observing the interference color due to white interference.
即ち、この方法は通常の顕微鏡で浮上ヘッドの浮上状態
を観察し、別途作成した基準の色彩−隙間対照表と比較
して浮上隙間を評価する〔シー、リンおよびアール、エ
フ、サリバン「薄膜測定に対する白色光干渉測定の応用
」アイビーエム ジュー。リサーチ デベロップメント
、第116巻、第269頁(1972年)(C。That is, in this method, the flying state of the flying head is observed with a normal microscope, and the flying gap is evaluated by comparing it with a standard color-gap comparison table prepared separately [See, Lin and Earl, F, Sullivan, "Thin Film Measurement". "Application of white light interferometry to" IBM. Research Development, Vol. 116, p. 269 (1972) (C.
Lin and RlF、5ullivan、 ”An
application of White Lig
ht Interferometry in Th1n
Film IJeasurements” IBM
J、 RES、 Develop、Vol、16. p
269(1972’。Lin and RIF, 5ullivan, “An
Application of White Lig
ht Interferometry in Th1n
Film IJeasurements” IBM
J, RES, Develop, Vol, 16. p
269 (1972').
この方法は、簡便であり、また測定時間が比較的短時間
ですむという利点がある反面、隙間が0.3μm以下と
なる領域では色彩判別精度が急激に低下するという問題
点がある。Although this method has the advantage of being simple and requires relatively short measurement time, it has the problem that color discrimination accuracy rapidly decreases in areas where the gap is 0.3 μm or less.
そこで、より微小な隙間をより高精度に測定する方法と
して、低浮上隙間領域に適用される単色光による光干渉
強度測定法が提案されている。Therefore, as a method for measuring even smaller gaps with higher precision, an optical interference intensity measurement method using monochromatic light has been proposed, which is applied to the low flying gap region.
この測定方法には、代表的な2つの方法が提案されてい
る。そのひとつは、単一波長(λ)での光干渉強度が
・・・・(1)
但し、S l= S o x N +
N1:透明円板の反射率
S2= (SO31)XN2
N2:ヘッド浮上面の反射率
So=入射光強度
−で表せることから、単一波長光源(たとえばシー1〕
。ザ光など)を用いて光の強度から浮上隙間を計算する
方法である〔ジュー。エム、フレイシャーおよびシー、
リン「気流分離測定のための赤外レーザ干渉計」アイビ
ーエム ジュー。リサーチ デベロップメント、第18
巻、第529頁(1974年)(J。Two typical methods have been proposed for this measurement method. One of them is the optical interference intensity at a single wavelength (λ)... (1) However, S l = S o x N + N1: Reflectance of transparent disk S2 = (SO31)XN2 N2: Head Since the reflectance of the air bearing surface can be expressed as So = incident light intensity - a single wavelength light source (for example Sea 1)
. This is a method of calculating the levitation gap from the intensity of light using a light source (e.g. M., Fleisher and C.
Lin “Infrared Laser Interferometer for Air Flow Separation Measurement” IBM J.D. Research Development, No. 18
Vol. 529 (1974) (J.
M、 Fleischer and C,Lin、
”Infrared LaserInterfe
rometer for Measuring Air
−BearingSeparation” IBM J
、 RES、Develop、 Vol、18. p5
29(1974) )。Fleischer, M. and Lin, C.
”Infrared LaserInterfe
meter for Measuring Air
-Bearing Separation” IBM J
, RES, Develop, Vol. 18. p5
29 (1974)).
しかしながら、この方法は特定の単一波長を用いるので
、測定する隙間の大きさに対して周期的に測定感度が極
端に低下する領域(4d/λm1但しmは整数)が発生
する。従って、一般的な測定器として使用することはで
きない。However, since this method uses a specific single wavelength, a region (4d/λm1, where m is an integer) periodically occurs where the measurement sensitivity is extremely reduced with respect to the size of the gap to be measured. Therefore, it cannot be used as a general measuring instrument.
また、同じ原理を利用した他の方法として、可変波長光
源(例えばモノクロメータ−など)を用いて、光強度が
最大または最小となる波長を見つけて浮上隙間を計算す
る方法が利用されている〔丸山「波長スキャン方式を用
いたスペーシング測定装置」昭和60年度信学会部門全
国大会Nα58゜1985 )。Another method using the same principle is to use a variable wavelength light source (for example, a monochromator) to find the wavelength at which the light intensity is maximum or minimum and calculate the floating gap. Maruyama "Spacing measurement device using wavelength scanning method" 1985 IEICE Division National Conference Nα58゜1985).
この方法は、波長を走査するために回折格子などを機械
的に動かす必要があり、1回の測定に数十秒から数分に
わたる時間を要する。従って、例えば起動時あるいは停
止時のように、連続的に変化する浮上隙間を測定する動
的測定は不可能であるという問題点がある。In this method, it is necessary to mechanically move a diffraction grating or the like to scan the wavelength, and one measurement takes several tens of seconds to several minutes. Therefore, there is a problem in that it is impossible to perform dynamic measurements that measure the flying clearance that changes continuously, such as when starting up or stopping, for example.
更に、光干渉を利用したいずれの方法においても、別途
白色干渉を用いた方法で浮上状態を観測するための顕微
鏡が必要であり、総じて測定系が重く且つ大型化すると
いう問題点がある。即ち、浮上測定は水平に配置した回
転円板の下に浮動ヘッドを配しているために、上方から
観測することが普通であり、測定系が被測定物に対して
オーバーハングする形となるので、測定系の重量増加は
、振動による測定誤差の増大を招来する。しかしながら
、上述のようにこの方式の測定系は軽量化が困難であっ
た。Furthermore, any method using optical interference requires a separate microscope to observe the levitation state using a method using white interference, and there is a problem in that the overall measurement system becomes heavy and large. In other words, in floating measurements, a floating head is placed below a rotating disk placed horizontally, so observation is usually done from above, and the measurement system overhangs the object to be measured. Therefore, an increase in the weight of the measurement system results in an increase in measurement errors due to vibration. However, as mentioned above, it has been difficult to reduce the weight of this type of measurement system.
そこで、本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決
し、動的測定を含めた高精度な測定を行い得る新規な浮
動ヘッド隙間測定装置を提供することにある。更に、本
発明は、軽量で取り扱いの容易な浮動ヘッド隙間測定装
置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a novel floating head gap measuring device that can solve the problems of the prior art described above and perform highly accurate measurements including dynamic measurements. A further object of the present invention is to provide a floating head clearance measuring device that is lightweight and easy to handle.
問題点を解決するための手段
即ち、本発明により、浮動ヘッドの浮上距離を測定する
ヘッド浮上隙間測定装置であって、透明な円板に対して
浮動状態にあ、る前記ヘッドのスライダ面に該透明な円
板を介して白色光を照射する白色光源と、前記ヘッドか
らの反射光によって前記ヘッドのスライダ面表面の像を
結像する第1結像光学系と、前記第1結像光学系によっ
て結ばれた像の少なくとも一部を分光する分光手段と、
前記分光手段によって分光された光の像を所定の面上に
結像する第2結像光学系と、前記第2結像光学系により
結ばれた像を受光面上に受ける一次元受光素子とを備え
ることを特徴とするヘッド浮上隙間測定装置が提供され
る。Means for Solving the Problems According to the present invention, there is provided a head flying gap measuring device for measuring the flying distance of a floating head, which measures the flying distance of a floating head on the slider surface of the head floating with respect to a transparent disk. a white light source that emits white light through the transparent disk; a first imaging optical system that forms an image of the slider surface of the head using reflected light from the head; and the first imaging optical system. spectroscopic means for spectrally dispersing at least a portion of the image formed by the system;
a second imaging optical system that forms an image of the light separated by the spectroscopy means on a predetermined surface; and a one-dimensional light receiving element that receives the image formed by the second imaging optical system on a light receiving surface. Provided is a head flying gap measuring device comprising:
作用
上述のように構成された測定装置では、透明円板に対し
て浮上した状態のヘッドのスライダ面に対′して、白色
光源からの白色光が透明円板を介して照射される。この
白色光は、スライダ面によって反射され、第1結像光学
系によって所定の面に像を結ぶ。In the measuring device configured as described above, white light from a white light source is irradiated via the transparent disk onto the slider surface of the head that is floating relative to the transparent disk. This white light is reflected by the slider surface and focused on a predetermined surface by the first imaging optical system.
この結像した反射光をプリズム等の分光器によって分光
すると、反射光は波長に応じて空間的に分離される。尚
、このとき、第1結像光学系の出力光に対してアパーチ
ャを配設し、結ばれた像の一部のみを処理する構成とす
ることによって、後段の構成を小型化することができる
。When this imaged reflected light is separated into spectra using a spectrometer such as a prism, the reflected light is spatially separated according to wavelength. At this time, by arranging an aperture for the output light of the first imaging optical system and processing only a part of the formed image, it is possible to reduce the size of the subsequent structure. .
分光手段によって分光された反射光は、更に第2結像光
学系によって一次元受光素子の受光面上に再結像する。The reflected light separated by the spectroscopic means is further imaged again on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element by the second imaging optical system.
このとき、再結像した光は、分光プリズムを通過するこ
とにより、波長に応じて空間的に分離される。従って、
一次元受光素子によって、アパーチャを通過した光のス
ペクトル強度分布を電気的に検出することができる。At this time, the re-imaged light is spatially separated according to wavelength by passing through a spectroscopic prism. Therefore,
The one-dimensional light receiving element allows electrical detection of the spectral intensity distribution of the light that has passed through the aperture.
一方、浮動ヘッドによって反射された白色光は、ヘッド
スライダ面と透明円板の表面との間の多重干渉により特
定の波長が強調されているため、前述の式(1)と同じ
スペクトル強度分布を付与される。従って、ある位置の
スペクトル強度が最大または最小となる波長を、分光手
段を経て一次元受光素子に受光された反射光から検出す
ることによってヘッドの隙間を評価できる。On the other hand, the white light reflected by the floating head has the same spectral intensity distribution as the above equation (1) because a specific wavelength is emphasized due to multiple interference between the head slider surface and the surface of the transparent disk. Granted. Therefore, the gap between the heads can be evaluated by detecting the wavelength at which the spectral intensity at a certain position is maximum or minimum from the reflected light received by the one-dimensional light receiving element via the spectroscopic means.
この測定は、一次元受光素子の出力を電気的に処理する
ことによって測定結果を得ることができるので、浮動ヘ
ッドの隙間が連続的に変化しても、これを連続的に処理
することができる。This measurement can obtain measurement results by electrically processing the output of a one-dimensional light receiving element, so even if the gap between the floating heads changes continuously, it can be processed continuously. .
実施例
以下に添付の図面を参照して本発明を具体的に詳述する
が、以下に示されるものは本発明の一実施例に過ぎず、
本発明の技術的範囲を何隻制限するものではない。EXAMPLES The present invention will be specifically described in detail below with reference to the accompanying drawings, but what is shown below is only one example of the present invention.
This does not limit the technical scope of the present invention.
第1図は、本発明に従って構成されたヘッド浮上隙間測
定装置の概略的な構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a head flying gap measuring device constructed according to the present invention.
同図において、図の中央に示されるのは、支持筒11に
組み付けた対物レンズ系12、結像レンズ系13並びに
接眼レンズ系14とから主に構成され、更に落射照明系
10を備えた、いわゆる金属顕微鏡である。照明系10
は、この金属顕微鏡1の観測光路上にハーフミラ−16
を備えており、観測側から被測定物に対して白色光を照
射するように構成されている。In the figure, what is shown in the center of the figure is mainly composed of an objective lens system 12, an imaging lens system 13, and an eyepiece system 14 assembled to a support tube 11, and further includes an epi-illumination system 10. This is a so-called metallurgical microscope. Lighting system 10
is a half mirror 16 on the observation optical path of this metallurgical microscope 1.
It is configured to irradiate the object to be measured with white light from the observation side.
またこの顕微鏡1の結像レンズ系13にはプリズム15
が備わっており、接眼レンズ系14と同時に、顕微鏡1
の頂部にも結像するように構成されている。In addition, the imaging lens system 13 of this microscope 1 includes a prism 15.
is equipped with the eyepiece system 14 and the microscope 1 at the same time.
It is configured so that the image is also formed on the top of the
顕微鏡1の頂部の結像面にはアパーチャ20が配設され
ており、このアパーチャ20を介して検出系2が形成さ
れている。検出系2は光路に沿って配列された、分光プ
リズム21、集束レンズ22、一次元受光素子23と受
光測定器24とから構成されている。An aperture 20 is provided on the imaging surface at the top of the microscope 1, and a detection system 2 is formed through this aperture 20. The detection system 2 includes a spectroscopic prism 21, a focusing lens 22, a one-dimensional light receiving element 23, and a light receiving measuring device 24 arranged along the optical path.
一方、隙間を測定すべき浮動ヘッドHは、回転する透明
な円板30を介して、顕微鏡1の対物系12に対面して
配置される。即ち、透明円板30は、固定装置における
使用状態の磁気記録媒体と同じように回転しているとき
、この円板30によって発生する気流によって浮動ヘッ
ドHは、円板30から微小な間隙をもって浮上する。On the other hand, the floating head H whose gap is to be measured is placed facing the objective system 12 of the microscope 1 via a rotating transparent disk 30. That is, when the transparent disk 30 rotates in the same way as a magnetic recording medium in use in a fixed device, the floating head H floats from the disk 30 with a small gap due to the airflow generated by the disk 30. do.
尚、プリズム21はアパーチャ200貫通孔よりも僅か
に大きな寸法があればよい。従って、目的とする計測領
域を0.01mmとし、顕微鏡倍率を100倍に設定し
た場合、アパーチャ20の穴径はl mmとなり、プリ
ズム210寸法はそれより少し大きい程度、実際には1
.5mmで十分である。この寸法は、顕微鏡1を構成す
る各部材に比較して極めて小さく、またその重量も事実
上無視できるものである。また、プリズム21と集束レ
ンズ22の位置関係は逆でも差し支えない。Note that the prism 21 only needs to have a dimension slightly larger than the through hole of the aperture 200. Therefore, when the target measurement area is 0.01 mm and the microscope magnification is set to 100 times, the hole diameter of the aperture 20 is 1 mm, and the prism 210 dimensions are slightly larger than that, in fact, 1 mm.
.. 5 mm is sufficient. This size is extremely small compared to each member constituting the microscope 1, and its weight can be virtually ignored. Further, the positional relationship between the prism 21 and the focusing lens 22 may be reversed.
一次元受光素子としては、フォトダイオードアレイや一
次元CCDを使用することができる。クロック4MHz
のCCDとして一般的な512素子を用いると、8KH
zの繰り返しでスペクトル強度を容易に検出することが
できる。今、計測波長範囲を例えば0.25μmから0
.75μmとすると、後述のようにして観測可能な隙間
範囲は最小0.0625μmあり、分解能は5オングス
トロームと十分に精度高い。A photodiode array or a one-dimensional CCD can be used as the one-dimensional light receiving element. Clock 4MHz
If a general 512 element is used as a CCD, 8KH
The spectral intensity can be easily detected by repeating z. Now, change the measurement wavelength range from 0.25μm to 0.
.. Assuming 75 μm, the minimum gap range that can be observed as described below is 0.0625 μm, and the resolution is 5 angstroms, which is sufficiently accurate.
このように構成した測定装置は、浮上した状態のヘッド
Hに対して、白色光源系10からの白色光が円板30を
介して照射し、結像系13によって像を結ぶ。アパーチ
ャ20によってこの像の任意の一部を測定系2へ取り出
し、プリズム21によって分光し、更に集束レンズ22
によって一次元受光素子23上に再結像する。In the measurement apparatus configured as described above, white light from the white light source system 10 is irradiated onto the head H in a flying state via the disk 30, and an image is formed by the imaging system 13. An arbitrary part of this image is taken out to the measurement system 2 by the aperture 20, separated into spectra by the prism 21, and further by the focusing lens 22.
The image is then re-imaged onto the one-dimensional light receiving element 23.
分光プリズム21を通過した光は、波長に応じて空間的
に分光されるので、これを一次元受光素子で受光するこ
とによって一度にスペクトル強度分布を検出することが
できる。Since the light that has passed through the spectroscopic prism 21 is spatially separated according to its wavelength, the spectral intensity distribution can be detected at once by receiving this light with a one-dimensional light receiving element.
即ち、ヘッドHによって反射され、アパーチャ20を通
過した光は、ヘッドスライダ面と透明円板200表面と
の間の多重干渉により強調されているため、特定の波長
が式(1)と同じスペクトル強度分布を得る。そこで、
ある位置のスペクトル強度が最大または最小となること
を検出することによってヘッドHの隙間が評価できる。That is, the light reflected by the head H and passed through the aperture 20 is emphasized by multiple interference between the head slider surface and the surface of the transparent disk 200, so that a specific wavelength has the same spectral intensity as in equation (1). Get the distribution. Therefore,
The gap between the heads H can be evaluated by detecting that the spectral intensity at a certain position is maximum or minimum.
尚、ここではプリズム21と集束レンズ22とを組み合
わせて使用したが、これらの代わりに例えば第2図に示
すような、プリズム作用とレンズ作用を兼ねる集束プリ
ズム200を用いても良い。この様なプリズムはプラス
チックの射出整形で簡単に得られる。Although the prism 21 and the focusing lens 22 are used in combination here, a focusing prism 200 having both a prism function and a lens function may be used instead, for example, as shown in FIG. 2. Such a prism can be easily obtained by injection molding of plastic.
また、プリズムでは極短波長または長波長領域では材質
の透過率が悪くなる場合が条るが、その場合には分光特
性の平坦な回折格子を用い、第3図に示すような、集光
を兼ねることが出来る凹面回折格子201を用いること
ができる。この場合、分光効率をよくするためには大型
の回折格子が必要となるので測定系がやや大きくなるが
、構造は単純化される。In addition, the transmittance of the material of a prism may be poor in the extremely short wavelength or long wavelength region, but in that case, a diffraction grating with flat spectral characteristics is used to condense light as shown in Figure 3. A concave diffraction grating 201 that can also be used can be used. In this case, a large diffraction grating is required to improve the spectral efficiency, so the measurement system becomes somewhat large, but the structure is simplified.
更に、通常の照明系は、視野全体が均一に照らされるよ
うになっているが、アパーチャ部の光透過部に相当する
スライダ面のみを照明するようにすれば、光源に要する
電力を節約することができる。また、この場合には、ラ
ンプハウスが小さくできるので、通常の白色干渉による
測定装置よりも装置を小型化できる。Furthermore, in a normal illumination system, the entire field of view is uniformly illuminated, but by illuminating only the slider surface that corresponds to the light-transmitting part of the aperture part, the power required for the light source can be saved. Can be done. Further, in this case, since the lamp house can be made smaller, the apparatus can be made smaller than a normal measuring apparatus using white interference.
発明の効果
前述したように、本発明では照明系・対物接眼系は従来
の白色干渉法で用いられていた顕微鏡光学系と同じ部材
を用いることができる。従って、測定装置と同時に、浮
動ヘッド全体を目視観測する目視観察系を構成すること
ができる。また、白色干渉測定と目視光学系を共用する
ことから、安価且つ容易に構成することができる。Effects of the Invention As described above, in the present invention, the same members as the microscope optical system used in the conventional white light interference method can be used for the illumination system and the objective eyepiece system. Therefore, a visual observation system for visually observing the entire floating head can be constructed at the same time as the measuring device. Furthermore, since the white light interference measurement and the visual viewing optical system are shared, it can be constructed at low cost and easily.
換言すれば、目視光学系に、部品点数からも寸法からも
僅かな部材を加えるのみで測定系を構成することができ
る。従って、重量増は殆どなく、特殊な振動対策等を必
要とすることはない。In other words, the measurement system can be constructed by adding only a small number of parts and dimensions to the viewing optical system. Therefore, there is almost no increase in weight, and no special vibration countermeasures are required.
また、本発明に従う測定装置は、従来の装置では実現し
得なかった高速且つ精密な測定の実施を可能にする。特
に、その検出処理を電気的に行うことができるので、事
実上連続的な処理が可能になる。従って、浮動ヘッドの
起動停止のような動的測定はもちろん、1回転中での隙
間変動も可能であり、ディスク動的測定、1回転中での
隙間変動の測定も可能になる。Furthermore, the measuring device according to the present invention enables high-speed and precise measurements that could not be achieved with conventional devices. In particular, since the detection process can be performed electrically, virtually continuous processing becomes possible. Therefore, it is possible to perform not only dynamic measurements such as starting and stopping of the floating head, but also gap fluctuations during one rotation, and disk dynamic measurements and measurements of gap fluctuations during one rotation.
このような本発明に従うヘッド浮上隙間測定装置の特性
は、ディスク振動の影響を分析する等、基礎的な研究に
もそのまま使えるなど極めて広範な適用範囲がある。The characteristics of the head flying gap measuring device according to the present invention have an extremely wide range of applications, such as being usable as is for basic research such as analyzing the influence of disk vibration.
第1図は、本発明に従って構成されたヘッド浮上隙間測
定装置の一実施例の構成を概略的に示す図であり、
第2図は、第1図に示した装置の分光手段並びに第2結
像光学系に適用できる集束プリズムを用いた構成例を部
分的に示す図であり、
第3図は、第1図に示した装置の分光手段並びに第2結
像光学系に適用できる凹面回折格子を用いた構成例を部
分的に示す図である。
(主な参照番号)
10・・・白色光源、
11・・・支持鏡筒、
12・・・対物レンズ、
13・・・結像レンズ、
14・・・接眼レンズ、
16・・・ハーフミラ−1
20・・・アパーチャ、
21・・・分光プリズム、
22・・・集束レンズ、
23・・・一次元受光素子、
30・・・透明円板、
H・・・浮動ヘッド、
200 ・・集束プリズム、
201 ・・凹面回折格子FIG. 1 is a diagram schematically showing the configuration of an embodiment of a head flying gap measuring device constructed according to the present invention, and FIG. 2 shows a spectroscopic means and a second output of the device shown in FIG. 3 is a diagram partially showing a configuration example using a focusing prism that can be applied to the imaging optical system; FIG. 3 is a diagram showing a concave diffraction grating that can be applied to the spectroscopy means of the apparatus shown in FIG. It is a figure which partially shows the example of a structure using. (Main reference numbers) 10... White light source, 11... Support barrel, 12... Objective lens, 13... Imaging lens, 14... Eyepiece lens, 16... Half mirror-1 20... Aperture, 21... Spectroscopic prism, 22... Focusing lens, 23... One-dimensional light receiving element, 30... Transparent disk, H... Floating head, 200... Focusing prism, 201...Concave diffraction grating
Claims (7)
測定装置であって、 透明な円板に対して浮動状態にある前記ヘッドのスライ
ダ面に該透明な円板を介して白色光を照射する白色光源
と、 前記ヘッドからの反射光によって前記ヘッドのスライダ
面表面の像を結像する第1結像光学系と、前記第1結像
光学系によって結ばれた像の少なくとも一部を分光する
分光手段と、 前記分光手段によって分光された光の像を所定の面上に
結像する第2結像光学系と、 前記第2結像光学系により結ばれた像を受光面上に受け
る一次元受光素子と を備えることを特徴とするヘッド浮上隙間測定装置。(1) A head flying gap measuring device for measuring the flying distance of a floating head, which irradiates white light through the transparent disk onto the slider surface of the head that is floating relative to the transparent disk. a white light source, a first imaging optical system that forms an image of the slider surface of the head using reflected light from the head, and spectrally spectra at least a portion of the image formed by the first imaging optical system. a second imaging optical system that forms an image of the light separated by the spectroscopic means on a predetermined surface; and a primary optical system that receives the image formed by the second imaging optical system on a light-receiving surface. 1. A head flying gap measuring device comprising: an original light receiving element;
微鏡であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載のヘッド浮上隙間測定装置。(2) The head flying gap measuring device according to claim 1, wherein the white light source and the first imaging optical system are metallurgical microscopes.
光手段が分光プリズムであることを特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載のヘッド浮上隙間測定装置。(3) The head flying gap measuring device according to claim 1, wherein the second imaging optical system is a condenser lens, and the spectroscopic means is a spectroscopic prism.
レンズと分光プリズムとが一体に形成された集束プリズ
ムであることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
のヘッド浮上隙間測定装置。(4) The head floating according to claim 1, wherein the second imaging optical system and the spectroscopic means are a condenser prism in which a condenser lens and a spectroscopic prism are integrally formed. Gap measuring device.
特性の平坦な、凹面回折格子であることを特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載のヘッド浮上隙間測定装置。(5) The head flying gap measuring device according to claim 1, wherein the second imaging optical system and the spectroscopic means are concave diffraction gratings with flat spectral characteristics.
を特徴とする特許請求の範囲第1項から第5項までのい
ずれか1項に記載のヘッド浮上隙間測定装置。(6) The head flying gap measuring device according to any one of claims 1 to 5, wherein the one-dimensional light receiving element is a CCD image sensor.
記第1結像光学系による像の一部のみを透過するアパー
チャを更に備えることを特徴とする特許請求の範囲第1
項から第6項までのいずれか1項に記載のヘッド浮上隙
間測定装置。(7) Claim 1 further comprising an aperture between the first imaging optical system and the spectroscopic means that transmits only a part of the image formed by the first imaging optical system.
6. The head flying gap measuring device according to any one of items 6 to 6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23777186A JPS6391503A (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Apparatus for measuring head levitation gap |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23777186A JPS6391503A (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Apparatus for measuring head levitation gap |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6391503A true JPS6391503A (en) | 1988-04-22 |
Family
ID=17020193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23777186A Pending JPS6391503A (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Apparatus for measuring head levitation gap |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6391503A (en) |
-
1986
- 1986-10-06 JP JP23777186A patent/JPS6391503A/en active Pending
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