JPS6386584A - Semiconductor laser output control equipment - Google Patents
Semiconductor laser output control equipmentInfo
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- JPS6386584A JPS6386584A JP23208586A JP23208586A JPS6386584A JP S6386584 A JPS6386584 A JP S6386584A JP 23208586 A JP23208586 A JP 23208586A JP 23208586 A JP23208586 A JP 23208586A JP S6386584 A JPS6386584 A JP S6386584A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06825—Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明はレーザプリンタ、レーザファックス等に用いら
れる半導体レーザの出力を安定化させる半導体レーザ出
力制御装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field) The present invention relates to a semiconductor laser output control device that stabilizes the output of a semiconductor laser used in laser printers, laser facsimile machines, and the like.
(従来技術)
従来、半導体レーザ出力制御装置として半導体レーザの
光出力を光検出回路で検出してコンパレータで基準値と
比較し、この結果によりアップダウンカウンタをアップ
カウント又はダウンカウントさせてそのカウント値に応
じた電流を半導体レーザに流すものが知られている。ま
た半導体レーザの光出力を光検出回路で検出して誤差増
幅器で基準値との誤差を増幅し、その出力をタイミング
信号によりサンプルホールドしてその出力により半導体
レーザを駆動するものが提案されている。(Prior art) Conventionally, as a semiconductor laser output control device, the optical output of the semiconductor laser is detected by a photodetection circuit, and compared with a reference value by a comparator. Based on this result, an up/down counter is incremented or decremented to calculate the count value. There is a known device that causes a current to flow through a semiconductor laser according to the current. It has also been proposed to detect the optical output of a semiconductor laser with a photodetector circuit, amplify the error from the reference value with an error amplifier, sample and hold the output using a timing signal, and drive the semiconductor laser with the output. .
しかし後者では半導体レーザが点灯していない時にサン
プルホールド回路でサンプルを行うと、半導体レーザに
過大な電流が流れて半導体レーザが劣化してしまう。However, in the latter case, if the sample and hold circuit performs a sample when the semiconductor laser is not lit, an excessive current flows through the semiconductor laser and the semiconductor laser deteriorates.
(目 的)
本発明は上記欠点を除去し、半導体レーザの劣化を防止
することができる半導体レーザ出力制御装置を提供する
ことを目的とする。(Objective) An object of the present invention is to provide a semiconductor laser output control device that can eliminate the above-mentioned drawbacks and prevent deterioration of a semiconductor laser.
(構 成)
本発明は光検出回路、誤差増幅器、サンプルホ−ルド回
路、半導体レーザ駆動回路及び保護回路を有し、半導体
レーザの光出力を光検出回路で検出して誤差増幅器で基
準値との誤差を増幅する。(Structure) The present invention has a photodetection circuit, an error amplifier, a sample and hold circuit, a semiconductor laser drive circuit, and a protection circuit. amplify the error of
そしてこの誤差増幅器の出力信号をサンプルホールド回
路でタイミング信号によりサンプルホールドしてその出
力信号に応じて半導体レーザ駆動回路で半導体レーザを
駆動し、保護回路により光検出回路の出力信号が所定値
以下の時に上記タイミング信号を禁止する。The output signal of this error amplifier is then sampled and held using a timing signal in a sample and hold circuit, and the semiconductor laser is driven by a semiconductor laser drive circuit according to the output signal. Sometimes the above timing signals are inhibited.
以下図面を参照しながら本発明の実施例について説明す
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第5図は本発明の実施例の基本的回路構成を示し、第6
図はそのタシミングチャートである。FIG. 5 shows the basic circuit configuration of an embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a tamishing chart.
半導体レーザ1はレーザプリンタ等に光源として用いら
れるものであり、その後方に出射される光出力がフォト
ダイオード2で検出される。このフォトダイオード2と
増幅器3は光検出回路を構成し、フォトダイオード2は
半導体レーザ1の光出力に比例した電流を発生してこの
電流が増幅器3で電圧に変換される。増幅器3の出力信
号VMは誤差増幅器4で基準電圧Vrefとの差が増幅
されてサンプルホールド回路5でタイミング信号により
サンプルホールドされ、半導体1ノ一ザ駆動回路6がサ
ンプルホールド回路5の出力信号に応じた電流を半導体
レーザlに流す。よって半導体1ノーザ1の駆動電流は
基準電圧V refに応じた値に安定化され、半導体レ
ーザ1の光出力が一定に制御される。また半導体レーザ
駆動回路6はビデオ信号を含む変調信号により半導体レ
ーザ1を変調する(オン/オフさせる)が、その変調信
号はゲー1へ7を通してサンプルホールド回路5に上記
タイミング信号(サンプル信号)として加えられる。A semiconductor laser 1 is used as a light source in a laser printer or the like, and a photodiode 2 detects the light output emitted from the rear thereof. The photodiode 2 and the amplifier 3 constitute a photodetection circuit. The photodiode 2 generates a current proportional to the optical output of the semiconductor laser 1, and the amplifier 3 converts this current into a voltage. The difference between the output signal VM of the amplifier 3 and the reference voltage Vref is amplified by the error amplifier 4, and sampled and held by the sample and hold circuit 5 according to a timing signal. A corresponding current is passed through the semiconductor laser l. Therefore, the drive current of the semiconductor laser 1 is stabilized to a value corresponding to the reference voltage V ref, and the optical output of the semiconductor laser 1 is controlled to be constant. Further, the semiconductor laser drive circuit 6 modulates (turns on/off) the semiconductor laser 1 with a modulation signal including a video signal, but the modulation signal is passed through the gate 1 to the sample hold circuit 5 as the timing signal (sample signal). Added.
そして増幅器3の出力信号VMは比較器8で所定のスレ
ッシュレベルVTHと比較されてこのスレッシュレベル
VT)1以下か否かが判定され、その出力信号がゲート
7に加えられる。したがって半導体レーザ1の光出力が
所定値以下で増幅器3の出力信号がスレッシュレベルV
TH以下の時にはゲート7がオフして」二記タイミング
信号が禁止され、サンプルホールド回路5のサンプルが
禁止される。このため半導体レーザ1が点灯していない
時にはサンプルホールド回路5のサンプルが禁止されて
半導体レーザ1には過大な電流が流れなくなり、半導体
レーザ1の劣化が防止される。Then, the output signal VM of the amplifier 3 is compared with a predetermined threshold level VTH by a comparator 8 to determine whether it is less than this threshold level VT)1, and the output signal is applied to the gate 7. Therefore, when the optical output of the semiconductor laser 1 is below a predetermined value, the output signal of the amplifier 3 is at the threshold level V.
When the voltage is below TH, the gate 7 is turned off, the second timing signal is inhibited, and the sample and hold circuit 5 is inhibited from sampling. Therefore, when the semiconductor laser 1 is not lit, sampling by the sample and hold circuit 5 is prohibited, so that no excessive current flows through the semiconductor laser 1, and deterioration of the semiconductor laser 1 is prevented.
第7図は第5図の回路を具体的に示すものである。FIG. 7 specifically shows the circuit of FIG. 5.
増幅器3は演算増幅器9及び抵抗10で構成され、誤差
増幅器4は演算増幅器11及び抵抗12〜15で構成さ
れる。サンプルホールド回路5はサンプル用スイッチ1
6、ホールド用コンデンサ17及び抵抗18で構成され
、半導体レーザ駆動回路6は電界効果トランジスタ19
、ドライバ20及び抵抗21で構成される。ドライバ2
0は変調信号により半導体レーザ1をオン/オフさせ、
電界効果トランジスタ19は半導体レーザ1のオン時に
サンプルホールド回路5の出力信号に応じた電流を半導
体レーザ1に流す。The amplifier 3 is composed of an operational amplifier 9 and a resistor 10, and the error amplifier 4 is composed of an operational amplifier 11 and resistors 12-15. Sample hold circuit 5 is sample switch 1
6. The semiconductor laser drive circuit 6 is composed of a hold capacitor 17 and a resistor 18, and the semiconductor laser drive circuit 6 includes a field effect transistor 19.
, a driver 20 and a resistor 21. driver 2
0 turns on/off the semiconductor laser 1 by a modulation signal,
The field effect transistor 19 causes a current to flow through the semiconductor laser 1 in accordance with the output signal of the sample and hold circuit 5 when the semiconductor laser 1 is turned on.
第1図は本発明の一実施例を示す。FIG. 1 shows an embodiment of the invention.
この実施例は第5図の回路において上記変調信号の有無
を判定する回路23とオア回路24を設けたものであり
、ゲート7及び判定回路23の出力信号がオア回路24
を介してサンプルホールド回路5に加えられる。In this embodiment, a circuit 23 for determining the presence or absence of the modulation signal and an OR circuit 24 are provided in the circuit shown in FIG.
The signal is applied to the sample and hold circuit 5 via.
判定回路22は例えば第2図に示すようにカウンタ24
及びフリップフロップ25で構成され、上記変調信号の
立上りでカウンタ24がリセッ1へされて上記変調信号
の立上りでフリップフロップ25がリセットされる。そ
してカウンタ24が所定数のクロックをカウントして出
力信号を出すと、この信号によりフリップフロップ25
がセットされてフリッププロップ25の出力信号がタイ
ミング信号としてオア回路23を介してサンプルホール
ド回路5に出力される。したがってサンプルホールド回
路5は変調信号が有る時(カウンタ24により初期の所
定時間を除く)にタイミング信号が入力されて誤差増幅
器4の出力信号をサンプルし、半導体レーザ1の出力制
御を行なわせる。The determination circuit 22 includes, for example, a counter 24 as shown in FIG.
and a flip-flop 25, the counter 24 is reset to 1 at the rise of the modulation signal, and the flip-flop 25 is reset at the rise of the modulation signal. When the counter 24 counts a predetermined number of clocks and outputs an output signal, this signal causes the flip-flop 25 to
is set, and the output signal of the flip-flop 25 is outputted to the sample and hold circuit 5 via the OR circuit 23 as a timing signal. Therefore, the sample and hold circuit 5 receives the timing signal when there is a modulation signal (excluding the initial predetermined time by the counter 24), samples the output signal of the error amplifier 4, and controls the output of the semiconductor laser 1.
判定回路22は第3図に示すようにワンショット回路2
6及びアンド回路27で構成することもできる。The determination circuit 22 is a one-shot circuit 2 as shown in FIG.
6 and an AND circuit 27.
ワンショット回路26は変調信号の立上りでトリガ−さ
れて負のパルスを発生し、このパルスと変調信号とのア
ンドがアンド回路27でとられる。このアンド回路27
の出力は変調信号が入力されている時(ワンショット回
路2Gの出力パルス発生時を除く)に発生し、オア回路
23を通してサンプルホールド回路5へ出力される。The one-shot circuit 26 is triggered by the rising edge of the modulation signal to generate a negative pulse, and this pulse and the modulation signal are ANDed by an AND circuit 27. This AND circuit 27
The output is generated when a modulation signal is input (except when an output pulse is generated from the one-shot circuit 2G), and is output to the sample and hold circuit 5 through the OR circuit 23.
第4図は本発明の他の実施例を示す。FIG. 4 shows another embodiment of the invention.
この実施例は上記実施例において判定回路22及びオア
回路23からなる回路28を比較器8とゲート7との間
に設けたものであり、比較器8及び判定回路22の出力
信号がオア回路23を通してゲート7へ送られて上記実
施例と同様にサンプルホールド回路5しこタイミング信
号が与えられる。In this embodiment, a circuit 28 consisting of a judgment circuit 22 and an OR circuit 23 is provided between the comparator 8 and the gate 7 in the above embodiment, and the output signals of the comparator 8 and the judgment circuit 22 are connected to the OR circuit 23. The timing signal is sent to the gate 7 through the sample hold circuit 5 as in the above embodiment.
(効 果)
以上のように本発明によれば半導体レーザの光出力を光
検出回路で検出して誤差増幅器で基準値との誤差を増幅
しその出力をサンプルホールド回路でタイミング信号に
よりサンプルホールドしてその出力に応じて半導体レー
ザ駆動回路で半導体レーザを駆動する半導体レーザ出力
制御装置において、上記光検出回路の出力信号が所定値
以下の時に上記タイミング信号を禁止する保護回路を設
けたので、半導体レーザに過大な電流が流れず半導体レ
ーザの劣化を防止することができる。(Effects) As described above, according to the present invention, the optical output of the semiconductor laser is detected by the photodetector circuit, the error with the reference value is amplified by the error amplifier, and the output is sampled and held by the sample and hold circuit using a timing signal. In a semiconductor laser output control device that drives a semiconductor laser with a semiconductor laser drive circuit according to its output, a protection circuit is provided that inhibits the timing signal when the output signal of the photodetection circuit is below a predetermined value. Deterioration of the semiconductor laser can be prevented without excessive current flowing through the laser.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図及
び第3図は判定回路の各側を示すブロック図、第4図は
本発明の他の実施例を示すブロック図、第5図は本発明
の実施例の基本的回路を示すブロック図、第6図は同回
路のタイミングチャート、第7図は同回路を具体的に示
す回路図である。
1・・・・半導体レーザ、2,3・・・・光検出回路、
4・・・・誤差増幅器、5・・・・サンプルホールド回
路。
6・・・・半導体レーザ駆動回路、7,8・・・・保護
回路。
手続補正書
昭和61年11月6 日
1、事件の表示
昭和61年特許願第232085号
2、発明の名称
判導体レーザ出力制御装置
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
名 称 (674) 株式会社リコー4、代
理 人
住 所 東京都世田谷区経堂4丁目5番4号明細書の「
発明の詳細な説明」の欄および図 面
(1)明細書第3頁第13行の「タシミング」を「タイ
ミング」に訂正する。
(2)同第5頁第20行の「回路23とオア回路24」
を[回路22とオア回路23」に訂正する。
(3)同第6頁第1行の「判定回路23」を「判定回路
22」に訂正する。
(4)同第6頁第2行の「オア回路24」を「オア回路
23」に訂正する。
(5)図面中筒7図を別添の通り訂正する。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are block diagrams showing each side of the determination circuit, and FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. FIG. 5 is a block diagram showing a basic circuit of an embodiment of the present invention, FIG. 6 is a timing chart of the same circuit, and FIG. 7 is a circuit diagram specifically showing the same circuit. 1... Semiconductor laser, 2, 3... Photo detection circuit,
4...Error amplifier, 5...Sample and hold circuit. 6... Semiconductor laser drive circuit, 7, 8... Protection circuit. Procedural amendment dated November 6, 1985 1. Indication of the case Patent Application No. 232085 of 1988 2. Name of the invention Conductor laser output control device 3. Person making the amendment Relationship with the case Patent applicant name (674) ) Ricoh Co., Ltd.
Address: 4-5-4 Kyodo, Setagaya-ku, Tokyo "
"Detailed Description of the Invention" column and drawings (1) In the specification, page 3, line 13, "tamashing" is corrected to "timing." (2) "Circuit 23 and OR circuit 24" on page 5, line 20
is corrected to [Circuit 22 and OR circuit 23]. (3) Correct "determination circuit 23" in the first line of page 6 to "determination circuit 22." (4) Correct "OR circuit 24" in the second line of page 6 to "OR circuit 23". (5) Correct Figure 7 of the cylinder in the drawing as attached.
Claims (1)
検出回路の出力信号と基準値との誤差増幅を行う誤差増
幅器と、この誤差増幅器の出力信号をタイミング信号に
よりサンプルホールドするサンプルホールド回路と、こ
のサンプルホールド回路の出力信号に応じて上記半導体
レーザを駆動する半導体レーザ駆動回路と、上記光検出
回路の出力信号が所定値以下の時に上記タイミング信号
を禁止する保護回路とを具備する半導体レーザ出力制御
装置。A photodetection circuit that detects the optical output of the semiconductor laser, an error amplifier that amplifies the error between the output signal of the photodetection circuit and a reference value, and a sample hold circuit that samples and holds the output signal of the error amplifier using a timing signal. , a semiconductor laser comprising: a semiconductor laser drive circuit that drives the semiconductor laser according to an output signal of the sample and hold circuit; and a protection circuit that inhibits the timing signal when the output signal of the photodetection circuit is below a predetermined value. Output control device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23208586A JPS6386584A (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Semiconductor laser output control equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23208586A JPS6386584A (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Semiconductor laser output control equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6386584A true JPS6386584A (en) | 1988-04-16 |
Family
ID=16933761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23208586A Pending JPS6386584A (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Semiconductor laser output control equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6386584A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010093123A (en) * | 2008-10-09 | 2010-04-22 | Opnext Japan Inc | Optical transmission apparatus and control method of optical transmission signal |
JP2014064014A (en) * | 2013-11-05 | 2014-04-10 | Japan Oclaro Inc | Optical transmission apparatus and control method of optical transmission signal |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP23208586A patent/JPS6386584A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010093123A (en) * | 2008-10-09 | 2010-04-22 | Opnext Japan Inc | Optical transmission apparatus and control method of optical transmission signal |
JP2014064014A (en) * | 2013-11-05 | 2014-04-10 | Japan Oclaro Inc | Optical transmission apparatus and control method of optical transmission signal |
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