[go: up one dir, main page]

JPS6382377A - 電流測定回路 - Google Patents

電流測定回路

Info

Publication number
JPS6382377A
JPS6382377A JP61227635A JP22763586A JPS6382377A JP S6382377 A JPS6382377 A JP S6382377A JP 61227635 A JP61227635 A JP 61227635A JP 22763586 A JP22763586 A JP 22763586A JP S6382377 A JPS6382377 A JP S6382377A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
load
circuit
resistances
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61227635A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07104366B2 (ja
Inventor
Hirofumi Mori
森 弘文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP61227635A priority Critical patent/JPH07104366B2/ja
Publication of JPS6382377A publication Critical patent/JPS6382377A/ja
Publication of JPH07104366B2 publication Critical patent/JPH07104366B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、電流検出用抵抗を介して負荷に定電圧を印
加し、電流検出用抵抗の電圧降下によって負荷電流を測
定する電流測定回路に関する。
[従来の技術] 例えばICテスタにおいては、被測定ICの電源ピンな
どの流入電流測定、短絡やリークのチェックなどのため
に、電流測定回路が用いられている。
このような電流測定回路においては一般に、負荷にIC
r列に挿入される電流検出用抵抗は、負荷に定電圧を印
加するための定電圧ループ回路内に含められる。
[解決しようとする問題点コ このような電流測定回路において、負荷が容酸性の場合
、電圧印加時に過渡電流が流れるが、小電流レンジであ
ると電流検出用抵抗の値が大きいために、その電流が制
限される。
その結果、定電流ループ回路内のオペアンプや電流ブー
スタ(バッファ)が飽和を起こし、測定が不可能になる
という問題があった。
また、そのような飽和が起きない場合でも、負荷電流が
定常値に安定するまでに長い時間がかかり、測定時間が
増大するという聞届があった。
[発明の[1的コ したがって、この発明のr1的は、そのような容(i【
性負荷の電’lk測定に関する問題点を解消した電流測
定回路を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段コ この目的を達成するために、この発明は、負荷に定電圧
を印加するための定電圧ループ回路内に含まれる負荷と
直列の電流路に、電流検出用抵抗を挿入し、電流検出用
抵抗の電圧降下によって負荷電流を測定する電流測定回
路において、前記電流路に挿入された電流検出用抵抗を
短絡するためのスイッチ要素を設けることを特徴とする
ものである。
[作用] 負荷が容量性で小電流レンジであっても、電圧印加時に
スイッチ要素を閉じて電流検出用抵抗を短絡すれば、負
荷の過渡電流が制限されないので、定電圧ループ回路内
のオペアンプや電流ブースタなどの飽和を防止できる。
また、負荷電流は短時間で定常値に安定するので、その
安定に必要な時間を経過後にスイッチ要素を開くように
すれば、容量性負荷の電流測定を短時間で行うことがで
きる。
[実施例コ 以下、図面を参照し、この発明の実施例について1説明
する。
第1図は、この発明による電流測定回路の一実施例を/
J<す回路図である。
この図において、10は電流測定の対象となる負荷であ
り、定電圧ループ回路12によって定電JE V tが
印加されて電流測定を行われる。
この定電圧ループ回路12は一般的な構成である。すな
わち、オペアンプ14の反転入力に、デジタル/アナロ
グ変換器16からデジタル信号18によって指定された
直流電圧v2が抵抗20を介して印加されるとともに、
負荷電圧V/がオペアンプ22の電圧フォロワおよび抵
抗24を介してフィードバックされる。このオペアンプ
14の非反転入力は接地される。オペアンプ14の出力
は電流ブースタ(バッファ)26の人力に接続され、そ
の出力は負荷接続端子28に接続される。
この定電圧ループ回路12のゲインは抵抗20゜24の
値によって決定され、負荷電圧vlは直流電圧v2に比
例した一定値に保持される。
さて、定電圧ループ回路12内の負荷10と直列の電流
路、すなわち電流ブースタ26の出力と負荷接続端子2
8との間に、電流検出用抵抗が挿入される。R7”Rn
が電流検出用抵抗である。
この電流検出用抵抗の中の抵抗R/以外の抵抗R2〜R
nは、測定レンジに応じて1個または複数個が選択的に
挿入される。その選択的な挿入(測定レンジ切り換え)
のためのスイッチ要素として、リードリレーRY7”R
Ymが図示のように抵抗R2〜Rnに関連して設けられ
ている。
この実施例にあっては、電流測定用抵抗R/〜Rnを短
絡するためのスイッチ要素として、リードリレーRYn
が電流測定用抵抗R7”Rnに並列に接続されている。
30はリレー制御回路であり、デジタル制御信号32に
従って、前記リードリレーRY/ −RYnの開閉をダ
イナミックに制御するものである。
34は電流検出用抵抗の電圧降ドを検出するためのオペ
アンプである。その非反転入力は電流ブースタ26の出
力電圧を印加され、また、反転入力はオペアンプ36の
電圧フォロワを介して負荷電圧V/が印加される。この
オペアンプ34の出力電圧v3は、負荷電流に比例する
このような構成の電流測定回路において、負荷10が容
h1性の場合、測定動作は次のようなシーケンスで行わ
れる。
負荷10に所定の電圧を印加する時に、リード制御回路
30によって、測定レンジに応じてり−ドリレーRYz
”RYmの必要なものが閉じられ、抵抗R2〜Rnの1
個または複数個と抵抗R,が並列に接続された形で電流
路に挿入される。ただし、最小レンジでは、抵抗R/だ
けが挿入され、他の抵抗R2〜Rnは挿入されない。
同時に、リレー制御回路30によって、短絡用に追加さ
れたリードリレーRYnが閉じられる。
このように、負荷10と直列の電流路に挿入された電流
検出用抵抗はり−ドリレーRYnによって短絡されるの
で、小電流/Iσ1定レンジの場合でも負荷10の過渡
電流は制限されず、負荷電流は短時間に定常値に安定す
る。また、負荷電流が制限されないため、定電圧ループ
回路12内のオペアンプ14および電流ブースタ26の
飽和は起こらない。
このようにして、電jL印加から負荷電流が定常値に達
するまでに必要な時間を経過すると、リレー制御回路3
0により短絡用リードリレーRYnは開かれ、オペアン
プ34の出力電圧V3として負荷電流に比例した電圧が
得られ、負荷電流が測定される。
このように、容量性負荷の場合でも、負荷電流は短時間
に定常値に安定するので、短絡用リードリレーRYnの
閉成時間を適切に制御すれば、電流測定を短時間に行う
ことができる。
なお、測定レンジ切り換え用のリードリレーRY7”R
Ymの制御は、短絡用リードリレーRYnの閉成期間に
行ってもよい。
第2図は、この発明による電流測定回路の他の実施例を
示す回路図である。この図において、第1図と同一符号
は同等要素を示す。
この実施例の電流測定回路においては、電流検出用抵抗
R11”R7nは直列的に接続され、抵抗R72〜R7
nをリードリレーRY/ t −RY7mによって選択
的に短絡することにより、測定レンジの切り換えを行う
ようになっている。そして、短絡用リードリレーRY7
 nは、図示のように電流ブースタ26の出力と負荷接
続端子28との間に並列に接続される。
これ以外の構成は、前記実施例と同じである。
この電流測定回路においても、前記実施例の場合と同様
に、負荷10に過渡電流が流れる期間にリードリレーR
Y/ nを一時的に閉じることにより、容量性負荷の電
流測定が可能であることは明らかである。
以上、二つの実施例について説明したが、この発明はそ
れだけに限定されるものではなく、短絡用スイッチ要素
としてリードリレー以外のものを用いるなど、その要旨
を逸脱しない範囲内で適宜変形して実施し得るものであ
る。
さらに付言すれば、負荷電流から負荷の抵抗値を測定す
ことを1−1的とした測定回路にも、この発明は同様に
適用できることは当然である。
[発明の効果コ 以上実施例に関連して詳細に説明したように、この発明
は、負荷に定電圧を印加するための定電圧ループ回路内
に含まれる負荷と直列の電流路に、電流検出用抵抗を挿
入し、電流検出用抵抗の電圧降下によって負荷電流を測
定する電流測定回路において、前記電流路に挿入された
電流検出用抵抗を短絡するためのスイッチ要素を設ける
から、負荷が容量性で小電流レンジであっても、定電圧
ループ回路内のオペアンプや電流ブースタなどの飽和を
防止し、負荷電流測定を短時間で行うことができる電流
測定回路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明による電流測定回路の一実施例を示
す回路図、第2図は、この発明による電流測定回路の他
の実施例を示す回路図である。 10・・・負荷、12・・・定電圧ループ回路、14゜
22.34.36・・・オペアンプ、26・・・電流ブ
ースタ、R/−Rn、R/ t ”R/ n・・・電流
検出用抵抗、RY/ −RYmz RY/ t −RY
/ m−・・測定レンジ切り換え用リードリレー、RY
nt RY/n・・・短絡用リードリレー(スイッチ要
素)、30・・・リレー制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)負荷に定電圧を印加するための定電圧ループ回路
    内に含まれる前記負荷と直列の電流路に、電流検出用抵
    抗を挿入し、前記電流検出用抵抗の電圧降下によって前
    記負荷に流れる電流を測定する電流測定回路において、
    前記電流路に挿入された電流検出用抵抗を短絡するため
    のスイッチ要素を有することを特徴とする電流測定回路
JP61227635A 1986-09-26 1986-09-26 電流測定回路 Expired - Lifetime JPH07104366B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61227635A JPH07104366B2 (ja) 1986-09-26 1986-09-26 電流測定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61227635A JPH07104366B2 (ja) 1986-09-26 1986-09-26 電流測定回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6382377A true JPS6382377A (ja) 1988-04-13
JPH07104366B2 JPH07104366B2 (ja) 1995-11-13

Family

ID=16863981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61227635A Expired - Lifetime JPH07104366B2 (ja) 1986-09-26 1986-09-26 電流測定回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07104366B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0340577U (ja) * 1989-08-31 1991-04-18
JPH05109859A (ja) * 1991-10-15 1993-04-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の測定方法及び測定装置
WO2004053507A1 (ja) * 2002-12-11 2004-06-24 Advantest Corporation 電圧印加電流測定装置及びそれに使用されるスイッチ付き電流バッファ
JP2010019840A (ja) * 2008-07-11 2010-01-28 Advantest Corp 測定装置、試験装置および測定方法
JP2011043434A (ja) * 2009-08-21 2011-03-03 Keithley Instruments Inc アクティブオートレンジ電流検知回路
US7994771B2 (en) 2008-10-08 2011-08-09 Agilent Technologies, Inc. Current measurement circuit, current detection circuit and saturation prevention and recovery circuit for operational amplifier
US20150219696A1 (en) * 2012-09-07 2015-08-06 Continental Teves Ag & Co. Ohg Method and circuit for checking the plausibility of a current sensor measurement result
CN108761355A (zh) * 2018-04-13 2018-11-06 上海航安机场设备有限公司 一种故障灯检测电路与系统
CN110988433A (zh) * 2019-11-19 2020-04-10 苏州佳世达光电有限公司 电流检测电路及电流检测方法
JP2021021580A (ja) * 2019-07-25 2021-02-18 株式会社Gsユアサ 電流計測装置、電流の計測方法、蓄電装置及び抵抗器
WO2024013999A1 (ja) * 2022-07-15 2024-01-18 日立Astemo株式会社 インバータ制御装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6217666A (ja) * 1985-07-17 1987-01-26 Advantest Corp 電圧印加電流測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6217666A (ja) * 1985-07-17 1987-01-26 Advantest Corp 電圧印加電流測定装置

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0340577U (ja) * 1989-08-31 1991-04-18
JPH05109859A (ja) * 1991-10-15 1993-04-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の測定方法及び測定装置
WO2004053507A1 (ja) * 2002-12-11 2004-06-24 Advantest Corporation 電圧印加電流測定装置及びそれに使用されるスイッチ付き電流バッファ
US7352193B2 (en) 2002-12-11 2008-04-01 Advantest Corporation Voltage-impressed current measuring apparatus and current buffers with switches used therefor
KR100903405B1 (ko) 2002-12-11 2009-06-18 가부시키가이샤 아드반테스트 전압인가 전류측정 장치 및 그것에 사용되는 스위치부착 전류 버퍼
JP2010019840A (ja) * 2008-07-11 2010-01-28 Advantest Corp 測定装置、試験装置および測定方法
US7994771B2 (en) 2008-10-08 2011-08-09 Agilent Technologies, Inc. Current measurement circuit, current detection circuit and saturation prevention and recovery circuit for operational amplifier
JP2011043434A (ja) * 2009-08-21 2011-03-03 Keithley Instruments Inc アクティブオートレンジ電流検知回路
US20150219696A1 (en) * 2012-09-07 2015-08-06 Continental Teves Ag & Co. Ohg Method and circuit for checking the plausibility of a current sensor measurement result
US9651586B2 (en) * 2012-09-07 2017-05-16 Continental Teves Ag & Co. Ohg Method and circuit for checking the plausibility of a current sensor measurement result
CN108761355A (zh) * 2018-04-13 2018-11-06 上海航安机场设备有限公司 一种故障灯检测电路与系统
CN108761355B (zh) * 2018-04-13 2020-06-09 上海航安机场设备有限公司 一种故障灯检测电路与系统
JP2021021580A (ja) * 2019-07-25 2021-02-18 株式会社Gsユアサ 電流計測装置、電流の計測方法、蓄電装置及び抵抗器
CN110988433A (zh) * 2019-11-19 2020-04-10 苏州佳世达光电有限公司 电流检测电路及电流检测方法
WO2024013999A1 (ja) * 2022-07-15 2024-01-18 日立Astemo株式会社 インバータ制御装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07104366B2 (ja) 1995-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4082998A (en) Dual slope integration circuit
JP3184539B2 (ja) 電圧印加電流測定装置
JP4119060B2 (ja) 試験装置
JPS6382377A (ja) 電流測定回路
JP3392029B2 (ja) Icテスタの電圧印加電流測定回路
TWI409484B (zh) 電壓/電流源及具有電壓/電流源之測試系統
JP3119335B2 (ja) Ic試験装置
US4396986A (en) Digital DC power supply with current and voltage measurement
JP2862296B2 (ja) 電圧印加電流測定装置及び電流印加電圧測定装置
JP3331103B2 (ja) Icテスタの電流測定装置
JPS63135881A (ja) 電源回路
JPS63135879A (ja) 電源回路
JP2565866Y2 (ja) Icテスタの並列接続デバイス電源
JPH11281677A (ja) 電流測定装置
JPH0519821Y2 (ja)
EP0672911A1 (en) Quiescent supply current test device
JPH0854424A (ja) 電圧印加電流測定装置
JPH0875817A (ja) 電圧印加電流測定装置
JPH0519820Y2 (ja)
JPH0438303Y2 (ja)
JPS60253883A (ja) 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器
JPH07183346A (ja) 半導体テスト装置
SU1140050A1 (ru) Компаратор сопротивлений
JPH01308975A (ja) プリント板試験装置
JPH0634705Y2 (ja) Ic試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term