JPS6363973A - 掃引信号の特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は時間に比例して一定傾斜の掃引信号を発生する
掃引発生器、特にその掃引信号の特性を測定する装置に
関する。

〔従来の技術とその問題点〕

オシロスコープは少くとも１個の掃引発生器を有し、陰
極線管（ＣＲＴ　）の電子ビームのＣＲＴスクリーン上
での水平方向移動（掃引）を制御する傾斜電圧出力を発
生する。電子ビームの垂直方向移動はオシロスコープに
入力された被測定デバイス又は信号源からの入力信号で
制御され、その結果ＣＲＴスクリーン上の表示波形は入
力信号を時間の関数で表わすものとなる。オシロスコー
プの掃引発生器は掃引開始前はチめ定めたー疋レベルに
あり、トリ力信号により掃引発生器が起動（トリガ）さ
れる迄そのレベルにととまる。トリガ起動されると、掃
引信号電圧は一定スルーレート（変化率）で予め定めた
最終レベル迄上昇（又は降下）する。その後、掃引信号
は最初の開始レベルへ戻り、再度起動される迄そのレベ
ルにとどまる。

スクリーン上のビームの水平位置は掃引信号電圧に比例
する。掃引信号の通常の開始及び停止レベルは夫々オシ
ロスコープのＣＲＴスクリーンの目盛の左右両端と市な
る位置に来るよう選定可能である。掃引を開始させるト
リガ信号は、入力信号が選定したトリガレベルに達する
時点に発生するのが普通である。よって、波形のトリガ
点はスクリーンの左端の目盛位置と一致するのが普通で
ある。目盛はＣＲｌ”スクリーンの表示領域を均一な垂
直及び水平目盛線で格子状に区切り、波形上の任意の点
の振幅及び時間（目盛左端からの水平位置）をオペレー
タが求めることができるようにしている。トリガ点と波
形上のその後続部分間の遅延時間は電子ビームの掃引速
度（又は掃引率）と左端目盛線からの変移を表わす目盛
数との積で決まる。ここに、掃引速度とは１目盛当り電
子ビームが横切るに要する時間である。

しかし乍ら、遅延時間の決定ネｎ度はオペレータがスク
リーン上の電子ビームの水平（ｑ置を目盛で読取る精度
のみならず、掃引信号自体の精度によっても決まる。掃
引信号の実際の開始レベルが予め定めた一定値でなけれ
ば、掃引開始点は左端の目盛線と一致せず、よって掃引
には「オフセット感差」が生じる。また、実際の掃引信
号の掃引速度が公称値から外れていると１−掃引速度Ｊ
誤差を生じる。これらいずれの誤差も、実際の掃引開始
レベルと掃引速度が共に公称値であることを前提として
測定するので、ａｔ＝時間の決定に誤差を導入すること
となる。

従来のオシロスコープにおいて、このオフセ。

ト及び掃引速度誤差を低減する一般的な手法は、掃引発
生器を校正して正しいオフセット及び掃引速度を保証す
ることであった。しかし、掃引速度とオフセットの面精
度調整には研究室用（超高精度）の試験ｍ器が必要であ
り、場合によってはオシロスコープを一部分解する必要
があるので、頻繁に校正して掃引電圧の開始レベルと掃
引速度をオシロスコープの動作状態の変化又はオシロス
コープ部品のエージングによる変化を禎正することは不
司能であった。

（発明の目的〕 従って、本発明の目的は掃引発生器の出力信号のオフセ
ット及び掃引速度が特徴付けられる新規な掃引信号の特
性測定装置を提供することである。

本発明の他の目的はオシロスコープに表示される波形上
の２点間の時間差を商楕度に決定できる新規な装置を提
供することである。

（発明のｍ要〕 不発明を使用するオシロスコープでは、掃引信号はＣＲ
Ｔスクリーン上での電子ビームの水平位置を制御し、−
万入力信号は電子ビームの垂直位置を制御する。掃引信
号が例えば入力信号であるイベントによりトリガされる
と、掃引ｆ言号の１辰１陥が好ましくは一定スルーレー
トで開始レベルから終ｒレベルに向って増加し、電子ビ
ームをＣＲ′ｒススクリーン上水平方向に一定速度で掃
引する。

帰り１信号徹幅がオシロスコープ内のマイクロコンピュ
ータ又はマイクロプロセッサ（μＰ）からの入力データ
を受けるデジタルアナロク変ｆｆ１Ｗ（ＤＡＣ）の出力
レベルと等しくなると、電子ビームの強度を増加して、
表示波形上に瞬間的に輝点を生じさせる。オペレータが
オシロスコープのフロントパネル上の制御つまみを回転
すると、μＰはＤＡＣへの入力データを調整し、輝点を
つまみ回転量に応じ゛ζ水平方向に移動させ、オペレー
タが輝度を表示波形上の任２点に移動可能にする。

本発明の位置観点によると、μＰが掃引の開始時点（一
般には入力信号のトリガイベントに相当）と輝点で表示
される表示波形上の点間の遅延時間を計算する。この計
算は掃引信号を特徴付ける「描引刊得」　（Ｇ）と１−
掃引開始ｊ　　（Ｖｏ）パラメータの測定値とＤＡＣに
供給する入力データ（Ｌ））の値に基づいて行う。掃引
開始パラメータＶｏはＤＡＣ単位、即ちＤＡＣが掃引信
号の（公称値ではなく）実際の開始レベルと等しい出力
電圧を生じる１）ＡＣの入力データ値で表わすことがで
きる。掃引信号Ｇは１秒当りのＤＡＣ単位で表わすこと
ができる。これにより、実際の掃引信号のスルーレート
と同じ変化率ををするＤＡＣ出力信号を生じるのに要す
るＤＡＣ入力データの増加率で表わす、掃引開始点及び
輝点間の遅延時間゛ｒｄは次式で表わせる。

′Ｉ’ｄ　＝　（Ｄ　−Ｖｏ　）　／Ｇこのようにして
遅延時間を決めると、計算は掃引信号の実際の開始レベ
ル及び掃引速度に関連しており、実際の開始レベル又は
掃引速度と公称値からの偏差は遅延時間の精度に影なか
ない。従って、遅延時間測定上のオフセット及び掃引速
度誤差の影響は排除できる。

本発明の別の観点に依ると、既知周波数の矩形特性信号
を用いて、その信号の最初のパルスの前縁で掃引をトリ
ガ起動して掃引利得Ｇを正確に測定する。ＤＡＣの入力
データは、特性信号の半周期中に掃引信号が増加（又は
変化）した後、ＤＡＣの出力が掃引信号の公称（又は期
待）振幅と等しくなる値に予め設定する。第１比較器で
掃引ｆオ号がＬ）ＡＣの出力信号を超すときＤフ’Ｊ　
７プ・フロップ（１−’　？’　）をクロックし、第２
比較器は特性信号をトリガレベル信号と比較して特性信
号が同（又は低）のとき出力信号を高（又は低）に駆動
する。第２比較器の出力はＱ出力を有するＦＦのＤ入力
を駆動してμＰに入力する。リセット端子はμＰで制御
される。各掃引毎にＦＦがクロックされた後、μＰはＤ
ＡＣに供給されるデータをＩ”ＦのＱ出力が高低いずれ
か、即ち掃引信号がＬ）ＡＣ出力レベルに到達した時点
で校正信号が高低いずれであるかに依って増減調整する
。各掃引後にＤＡＣ入力データに対して行われる調整は
ＤＡＣ入力データの最小桁（Ｌ　Ｓ　Ｂ）以下になる迄
順次小さくする。そのとき、Ｌ）ＡＣ入力データの最終
調整値はデータ値（Ｖ　Ｌ）であり、これは掃引信号が
特性信号の半周期中、その開始レベルから増加した後、
ＤＡＣ出力信号が実際の掃引信号１辰幅と実質的に等し
くなるに要するものである。

このプロセスを反復する。但し、今回は特性信号の１．
５周期中に掃引信号が増加（又は変化）した後、ＤＡＣ
出力信号が掃引信号の公称（又は期待）値となるＤＡＣ
入力データをμＰがセットする。この場合、Ｌ）ＡＣ入
力データの最終調整値はデータ値（Ｖ　Ｈ）であり、こ
れは掃引信号が開始レベルから特性信号の１．５周期後
に実際の掃引信号レベルと実質的に等しい振幅のＤＡＣ
出力信号を生ずるのに必要な値である。次に、掃引利得
ＧはＶＨとＶ　Ｌの差を特性信号の周期（Ｐｃ）で除算
することにより次式で求められる。

Ｇ−（ＶＨ−ＶＬ）／Ｐｃ 特性信号の最初のパルスの開始点で掃引は開始し、これ
はＶＬに対応する掃引信号レベルの半周期前に起きてい
るので、掃引の開始レベルに対応するＤＡＣ入力データ
ＶｏＯ値は次式で求められる。

Ｖｏ　＝ＶＬ−ＧｘＰｃ／２ 測定したＶＨ及びＶＬパラメータの精度、よって計算で
求めるＧと■０パラメータの精度は特性信号の周期Ｐｃ
の精度に負うところが大きい。

本発明の史に他の観点に依ると、高精度の水晶制御型矩
形波発生器をオシロスコープのシャーシ内に取付け、そ
の出力を掃引信号のトリガ信号入力とマルチプレックス
する。そして、μＰにより上述した特性化（キャラクタ
ライズ）手順を自動的に実行してオペレータの命令によ
りＧとＶＯの値を頻繁且つ迅速に、しかも別の試験機器
を使用することなく決定できる。ＶＯとＧを頻繁に測定
し、これらパラメータを用いて遅延時間を計算すること
により、動作温度又はその他の変化原因に起因する掃引
オフセント又は掃引速度の変化による時間測定への影響
を最小にすることが可能である。

〔実施例〕

第１図はＡ（通常）及びＢ（遅延）掃引発生器（１０）
　、　　（１２）を含む本発明によるオシロスコープの
−Ｈｌ５分のブしドック図である。両掃引発生器共に傾
象１′屯圧（掃引（，１号）を発生し、水平増幅回路に
入力してＣＲＴの電子ビームをスクリーン上で水平方向
（左から右方向）への移動、即ち掃引を制θ１１する。

電子ビームの水平掃引速度は掃引信号のスルーレートに
比例する。電子ビームのＣＲ”Ｉ”スクリーン上での垂
直位置はオシロスコープへ入力される被側定入力信号の
振幅で制御されるので、スクリーン上の表ボ波形は入力
信号の時間関数振幅となる。八及びＢ掃引発生器（１０
）　、　　（１２）は独立したスルーシ・−トを有し、
オシロスコープに別個のトレースを生じさせることがで
きる。

Ａ掃引発生器（１０）は初期掃引信号出力を予定の開始
レベルに維持し、トリガレベル比較器（１６）からの出
力が高レベルとなるとき、掃引開始信号を発生するＡゲ
ート回路（１４）からの掃引開始信号を受けると掃引を
開始する。この掃引開始は、マルチプレクサ（ＭｔＪＸ
）　　（１８）を介して比較器（１６）の非反転入力に
送られるトリガ信号の振幅がデジタル・アナログ変換器
（１）ＡＣ）　　（２０）により作られ比較器（１６）
の反転入力に印加するトリガレベル信号振幅を超すとき
生じる。ＭｔＪＸ（１８）のトリガ信号出力はＭＵＸ（
１８）の入力に接続された各種外部及び内部トリガ信号
源から選択される。また、ＭＬＩＸ（１８）はその制御
端子に入力されるμＰ（２２）が出力する制御信号によ
りこれら多くのトリガ（Ｗ　＠ｆ源から所耀のものを選
）尺する。　ＤＡＣ（２０）の出力信号１辰幅はμＰ（
２２）から供給される入力データにより制御される。

一度比較器（１６）が出力信号を高レベルに駆動し、ト
リ９１６号入力がトリガレベル入力を超えたことを示す
と、Ａゲート回路（１４）は掃引開始信号をＡ掃引発生
回路（ｌＯ）へ送る。その後、その掃引信号出力電圧は
μＰ　（２２）からのレンジ制御信号で設定された実質
的に一定のスルーレートで上昇する。掃引信号はＡゲー
ト回路（１４）に帰還して、掃引信号が１度起動される
と掃引信号が予定の上限値に達する迄比較器（１６）の
出力を無視する。上限に達した時点で、Ａゲート回路（
１４）は掃引開始信号を終了させ「掃引終了」信号をμ
Ｐ（２２）に送り、その後比較器（１６）が次のトリガ
信号の発生を示すまで待機し、次のトリガ信号が発生す
ると掃引開始（４号を再始動する。掃引開始信号が（掃
引終了時に）終了すると、Ａ掃引発生器（１０）は掃引
信号を開始レベルにリセットし、掃引信号を、その後掃
引開始４ｇ号が再始動されるまでそのレベルに維持する
。

Ｂ掃引発へ［−器（１２）に関連するＢ掃引回路はＢゲ
ート回路（１５）、比較５　（１７）　、　ＭＩＪＸ　
（１９）及びＬ）ＡＣ（２１）を有し、μＰ（２２）で
制御され、これら素子はすべてＡ掃引回路のゲート回路
（１４）。

比較ａ　（１６）　、　ＭＵＸ　（１Ｂ＞及びＤＡＣ（
２０）と同様に動作してＢ掃引信号を発生する。

八及びＢ　ｆｉ１引回路の各部品は周知であるが、本発
明の理解の為にもう少し詳しく説明することとする。第
２図はＡ掃引発生器（ｌＯ）の簡単な回路図であり、出
力端子から掃引信号を出す演算増幅器（２４）　、演算
増幅器（２４）の出力と反転入力間を結合するコンデン
サ（２６）、演算増幅器（２４）の反転及び非反転入力
端に夫々接続された電流源（２８）及びオフセント電圧
源（２９）及びコンデンサ両端間に接続されたスイッチ
（３０）を含んでいる。スイッチ（３０）を閉じると、
コンデンサ（２６）が放電して、演算増幅器（２４）の
出力電圧をオフセット電圧＃（２９）のオフセット電圧
Ｖｏｆｆに保持する。第１図のＡゲート回路（１４）か
らの掃引開始信号によりスイッチ（３０）を開くと、増
幅器（２４）とコンデンサ（２６）は周知のミラー積分
器として動作し、コンデンサ（２６）が電ｉ’ｔａ　（
２８）の電流で充電するにつれて開始レベルＶｏｆｆか
ら掃引出力電圧が線形に増加する。掃引開始信号が終了
すると、スイッチ（３０）が閉じ、コンデンサ（２６）
の電荷を急速に放電して増幅器（２４）の掃引出力信号
を開始レベル（Ｖｏｆ【）に戻し、掃引開始信号が再度
起動されるまでそのレベルにとどまる。

掃引信号の実際の開始レベルは、電圧２１９ｉ（２９）
の出力電圧の不正確さ及び増幅器（２４）に不可避的に
存するオフセット電圧及びドリフト等の為に、公称開始
レベルから変化し得る。掃引信号のスル−レートはＴｔ
１流ａ（２８）の電流をコンデンサ（２６）の容量で除
した値に等しい。尚、第２図にはｌ（固のコンデンサ（
２６）と１個の電流源（２８）を示すのみであるが、μ
Ｐ制御型のオシロスコープでは数個の異なるコンデンサ
と異なる電流源を増幅器（２４）に接続し、これらコン
デンサ及び電流源をμＰで制御されるスイッチング回路
で適宜選択する。多くのコンデンサと電流源の組合せを
第１図のμＰ　（２２）で選択することにより、掃引信
号として多数の公称スルーレートから選択する。しかし
、コンデンサ（２６）の容量又は電ｆＲ源（２８）の出
力電流の公称値からの変動により、実際のスルーレート
が掃引（ｆｉ号の公称スルーレートから異なることとな
る。

第３図は波形表示領域（２７）　、　その上下のデータ
、メニュ及びその他の情報表示領域（２３）。

（２５）を含むスクリーンを有するオシロスコープの正
面図（フロントパネル）を示す。波形測定用目盛線（３
６）が波形表示領域（２７）に形成され、表示領域り２
７）を多数の小さい正（又は長）方形に区切り、オペし
・−夕が表示波形（４０）の１点（３８）の大きさく振
幅）及び水平位置を測定できるようにする。オシロスコ
ープのスクリーン上でのビームの水平位置は掃引信号電
圧に比例し、掃引信号の公称開始及び（３）化レベルは
波形表示領域（２７）の目盛線（３６）の左右両端で決
まる位置と一致するように選定する。第１図のＭＩＪＸ
（１８）から送られるトリガ信号は電子ビームの垂直位
置を決める被測定信号と同じでもよく、この場合には表
示波形のトリガ点（即ち、掃引開始信号を起υ）する入
力信号上の点に対応する波形上の点）は、目盛線（３６
）の左端（４２）にあるのが普通である。

ｌ・リガ点と表示波形（４０）上の点（３８）間の遅延
時間は目盛線（３６）の左端から点（３８）までの水、
＝ｌ’目盛数に電子ビームの公称掃引速度をｎトけた値
と略等しい。掃引速度は掃引発生器の出力信号の公称ス
ルーレートに比例し、これは電子ビームがスクリーンを
横ＩＪＪる公称速度の目安であり、目盛／単位時間で表
示する。

しかし、この手動による遅延時間の決定ネｈ度は掃引発
生器（ｌＯ）が掃引信号の開始レベルとスルーレートを
制御する精度に一部依存する。掃引発生器の出力信号が
「オフセット誤差」　（即ち掃引の実際の開始レベルと
公称又は期待開始レベルとの不一致）があると、表示波
形の開始位置は目盛（３６）の左端からオフセットして
、点（３８）を含む全表示波形は目盛（３６）に対して
左右に移動する。また、掃引信号には「掃引速度誤差」
を含み、掃引信号の実際の掃引速度が公称値と一致しな
い。

オフセット及び掃引速度誤差が存在するのが普通である
ので、トリガ点と点（３８）間の遅延時間は目盛（３６
）で読取った点（３８）の読取り位置と電子ビームの公
称掃引速度で計算すると誤差を生じ得る。

次に、再度第１図を参照する。Ａ掃引発生器（１０）の
掃引出力信号は、オシロスコープの水平前置増幅器に入
力して水平ビーム位置を制御することに加えて、比較器
（４４）の反転入力にも入力される。他方、基準ＤＡＣ
（４６）の出力信号が比較器（４４）の非反転入力に入
力される。この基準１）ＡＣ（４６）の出力信号振幅は
μＰからＬＩＡＣへ入力されるデジタルデータに比例す
る。比較器（４４）の出力は電子ビームの強さく輝度）
を制御するオシロスコープの「Ｚ軸」回路に入力する。

Ａ掃引発生器（ｌＯ）の掃引出力信号が基準Ｌ）ＡＣ（
４６）の出力信号レベルを超すと、比較器（４４）の出
力は低レベルとなり、Ｚ軸回路をして第３図の表示波形
（４０）上に点（３８）として示す如く、波形上に小さ
く明るい点を生じるべく電子ビーム輝度を一時的に上昇
する。（説明の都合上、第３図中では点（３８）の点を
表示波形全体との関係で誇張して図示している。）従っ
て、基準ＤＡＣ（４６）に供給する入力データの値はス
クリーン上の輝点く３８）の位置を制御する。オペレー
タがオシロスコープのフロントパネル上に取付けた基準
制御つまみ（４８）を回転して、つまみインターフェー
ス（１／Ｆ）回路（５０）からμＰ（２２）に入力を与
えると、μ）’（２２）は基準ＤＡＣ（４６）に供給す
るデータを調節して、輝点をつまみ（４８）の回転に比
例して移動するようにする。よって、オペレータはつま
み（４８）を用いて輝点（３８）を波形上の任怠点に移
動することができる。

上述したとおり、μＰ　（２２）はＡ掃引発生器（１０
）の掃引発生器へのレンジ制御信号を介してその掃引速
度をセントするべく第２図の増幅器（２４）に接続され
るコンデンサと電流源の組合せを選択する。またオペレ
ータはオシロスコープのフロントパネル上に取付けられ
ている掃引レンジ制御つまみ（５２）を用いてＡ掃引発
生器の掃引速度の選択１６号をつまみＩ／Ｆ回路（５３
）を介してμＰ（２２）に入力する。μＰ（２２）は基
準Ｌ）ＡＣ（４６）に供給するデータに基づき目盛の左
端から輝点の公称変移を決定することができ、またμＰ
（２２）は掃引レンジの設定値から公称掃引速度を知る
ことができるので、μＰ（２２）は公称移動を公称掃引
速度で除して掃引を起動したトリガ点と表示波形の高輝
度点（３８）に対応する入力波形の関心ある点間の概略
遅延時間を決定するようプログラムされている。しかし
、μＰ（２２）で計算した遅延時間は掃引信号にオフセ
ット及び掃引速度誤差がある限りｉｐ、　Ｍを生じ得る
。

本発明に依ると、μＰ　（２２）は入力信号の実際のト
リガ点と入力波形に沿う輝点（３８）に対応する点間の
実際の時間を測定する。この輝点（３８）は掃引信号を
特徴付ける「掃引開始Ｊ　　（Ｖｏ）及び「掃引ゲイン
」　（Ｇ）パラメータの測定値と基準１）ＡＣ（４６）
への入力として供給され輝点（３８）の現在位置をセッ
トするデータ値（Ｄ）とにより表わされる。掃引開始パ
ラメータＶｏはＤＡＣ単位で表わされ、これはＬ）ＡＣ
（４６）が掃引信号の実際の（公称値でなく）開始レベ
ルと等しい出力電圧を生じさせるＤＡＣ（４６）への入
力データ値である。掃引ゲインＧはＬ）ＡＣ単位／秒で
表わされ、ＤＡＣ出力信号が掃引信号のスルーレートと
同じ割合で増加するのに必要なりＡＣ（４６）の入力デ
ータ増加率を示す。輝点（３８）と掃引信号開始間のｉ
！！！延時間’ｌ’　ｄは次式で与えられる。

Ｔｄ　＝　（Ｄ−Ｖｏ）　／Ｇ 計算した遅延時間はオペレータに例えばオシロスコープ
のスクリーン上への表示として与えられる。よって、本
発明に依ると、掃引信号は開始ＤＡＣ入力データ値（■
０）とＤＡＣをして実際の掃引信号の開始レベルとスル
ーレートと類似の開始レベル及びスルーレートを有する
出力信号を生じさせるＤＡＣ入力データ値（Ｇ）の変化
速度により特徴付けられる。（掃引の公称開始位置及び
掃引速度や目盛線に対する輝点位置でなく）Ｖｏ。

Ｇ及びＤパラメータがＴｄの計算に使用される。

遅延時間がこのようにして計算されると、計算は掃引信
号の実際の開始レベル及びスルーレートと掃引の実際の
開始位置又は掃引速度のずれは遅延時間の決定精度に影
響がない。よって、遅延時間測定へのオフセント及び掃
引速度誤差の影響は排除される。

ＶｏとＧの値は第１図に示す如（オシロスコープ回路内
のＤＦＦ（５４）とプログラマブルクロフタ（５６）を
用いて決定される。比較器（４４）の出力は）’Ｆ（５
４）のクロック入力を駆動し、μＰ（２２）はリセット
入力Ｒを制御し、Ｂ掃引比較器（１７）の出力は０入力
を制御する。ＦＦ（５４）のＱ出力はμＰ（２２）に送
られる。μ）’　（２２）はクロック（５６）が作る矩
形特性信号の周期を制御し、この特性信号はＭＬＩＸ　
（１８）　、　　（１９）の双方への付加トリガ源とな
る。

μＰ（２２）はＭＵＸ　（１Ｂ）　、　　（１９）によ
りクロック（５６）の特性信号出力を比較器（１６）　
、　　（１７）の非反転入力に接続し、ＤＡＣ（２０）
　、　　（２１）のトリガレベル出力を、クロック（５
６）が作る矩形信号が比較器（１６）　、　　（１７）
をそのパルスの前縁で高、復縁で低に駆動するようセッ
トすることにより、掃引ゲイン及び掃引開始パラメータ
Ｇ及びＶｏの測定を始める。また１、ＩＪＰ（２２）は
ＤＡＣ（４６）の入力データをセットして、特性信号パ
ルスの前縁による掃引トリガの後、特性信号の半周帰Ｐ
　ｃ　／　２で掃引１８号が上昇する公称振幅値付亡の
出力信号をＤＡＣ（４６）が出力するよ・）にする。

第４図はＡ掃引信号（６０）と特性信号（６６）の振幅
を共に時間の関数で表わした図である。特性１４号（６
６）の振幅はボルトで表しているが、掃引信−士の振幅
はボルトでなく等価Ｌ）ＡＣ単位で表している。ＤＡＣ
（４６）の出力電圧はその入力データの大きさに比例す
るので、Ａ掃引発生器（１０）の出力電圧を特定のＤＡ
Ｃ（４６）の入力データ（ＤＡＣ単位）即ちＤＡＣ（４
６）が特定電圧を生じるＤＡＣ（４６）への入力データ
で表わすのが便利である。第１図及び第４図を参照して
、掃引信号（６０）が特性信号（６６）の最初のパルス
（６４）の前縁で時刻′ｒ１にトリガされると、掃引信
号（６０）の振幅はＶｏから上昇を開始し、掃引信号（
６０）が１）ＡＣ（４６）の出力振幅に到達すると、比
較′１ｊＩ（４４）の（立下がり）出力によりＦＦ（５
４）をクロックする。ところで、Ｂ掃引回路の比較器（
１７）はクロック（５６）の特性信号出力をｌ）　Ａ　
Ｃ（２１）のトリガレベル信号出力と比較して、特性信
号が高（又は低）のとき、その出力を高（又は低）に駆
動する。比較器（４４）の出力の後縁で１・’　Ｆ　（
５４）がクロックされたとき比較器（１７）の出力が高
レベルであれば、ＦＦ（５４）はセフ１−される。もし
、ＦＦ（５４）がセットされたとき比較器（１７）の出
力が低であれば、ＦＦ（５４）はりセフＩ・される、各
掃引の後に、Ａゲート回路（１４）による掃引信号の終
りに示す如く、μＰ（２２）はｌ・’）”（５４）の状
態を読んでそれをリセットする。

各掃引の起動後に比較５（４４）の出力によりＦＦ（５
４）がクロックされた後、ｌ−’　Ｉ−”　（５４）の
Ｑ出力が＾低いずれであるか、即ち掃引４７４号がＤＡ
Ｃ（４６）の出力レベルに到達したとき（時刻゛ｒ２）
迄に、最初の特性信号パルス（６４）のｔ＆縁が起った
か否かに依って、μＰ（２２）はＬ）ＡＣ＜４６）へ入
力する入力データを増減調節する。μＰ（２２）は各掃
引後に順次小さい変化量で１）ＡＣ（４６）の分解能限
界に到達するまで、Ｌ）ＡＣ（４６）の入力データを調
節し続ける。この調節が終ると、Ｌ）ＡＣ（４６）のＭ
終調整した入力データはＬ）ＡＣ＜４６）の出力ｌｉｔ
号が第４図の時刻′ｌ゛２におけるｆ１１１引信号０実
際振幅、即ち掃引信ぢ・が開始レベルから特性ｆｌｊ号
（６６）の半周期中に上昇した振幅と等しくなるに要す
るデータ値（ＶＬ）である。

次にμＰ（２２）はＬ）ＡＣ（４６）の入力端子を調節
して、掃引のトリガ後、時刻′Ｉ゛３即ち２番目の特性
信号パルス（６８）の後縁で起る公称掃引信号レベル付
近の出力レベルをＤＡＣ（４６）が出力するようにする
。そして、ＤＡＣ（４６）の入力データの反復調節プロ
セスを繰り返えす。この際、１；’Ｆ（５４）のクロッ
キングはＤＡＣ（４６）の入力データが順次小ｉ［節さ
れるにつれて、時刻Ｔ３に近付く、２番目の反復調整プ
ロセスの終りに、Ｌ）ＡＣ（４６）の入力データ値は、
掃引信号がその開始レベルからスタートして特性信号の
１．５周期中増加した後の掃引信号の実際の振幅と実質
的に等しい振幅となるＤＡＣ（４６）の出力信号を出す
データ値（ＶＨ）とする。

次に、μＰ　（２２）はｖＨとＶＬＯ差を特性信号の周
期（Ｐｃ）で除して掃引ゲインＧをＤＡＣ入力入力デー
タ単位／針算する。これは次式で表わされる。

Ｇ＝　（ＶＨ−ＶＬ）／Ｐｃ 掃引の開始点は特性信号（６６）の最初のパルス（６４
）の前縁、即ち掃引信号レベルがＶＬに対応するよりも
特性信号の半周期（Ｐｃ／２）前で起るので、μｌ’　
（２２）は掃引信号の開始レベルに対応するＤＡＣ（４
６）の入力データ値Ｖｏを次式で計算する。

Ｖｏ”ＶＬ　　（Ｇ＊Ｐｃ／２）　　又はＶｏ　＝ＶＬ
−（ＶＨ−ＶＬ）／２ 測定したＶＨ及びＶＬパラメータのネｉ′７度、即ち計
算したＧ及びＶＯパラメータの精度は特性信号の周期の
精度に依存する。従って、クロック（５６）は好ましく
は水晶その他高精度且つ高安定発Ｓ器で構成するのが好
ましい。クロック（５６）とドＦ（５４）をオシロスコ
ープのシャーシ内に取付け、且ツ、ｕＰ（２２）が自動
的ニＶ　Ｈ及びｖＬ？ｊＩＩＪ定を行い、計算したＧ及
びＶｏパラメータ値を関節するので、Ｇ及びＶｏパラメ
ータを容易且つ＋ＩＪｉ繁に調節して、掃引オフセット
及び掃引速度が動作温度その他の要因の変動により変化
して遅延時間測定に影響するのを排除ないし軽減するこ
とができる。

別の回路を設けることにより、Ｂ掃引発生器（１２）で
駆動されるトレース上の輝点位置を制御し、Ｂ掃引発生
器に関連するＶＬ及びＶＨパラメ−夕を測定できるが（
第１図中には示さず）、このＢ掃引発生器の掃引出力信
号を特徴付けるＶ。

及びＧパラメータの測定回路及び求め方はＡ掃引発生器
（１０）に関連する上述の説明から容易に理解できよう
。

史にまた、Ｇ及びＶｏパラメータ値は同じ掃引発生器（
１０）内に使用するコンデンサと電流源の組合せを変え
ることにより変化することが理解できよう、従って、Ｖ
Ｈ，ＶＬ及びＧ、Ｖｏの測定はコンデンサと電流源の組
合せが異なる毎に行い、求めたＧ及びＶｏパラメータを
ストアして後で遅延時間を計算するのに使用できるよう
にする。測定プロセス中、特性信号の周期Ｐｃは、各コ
ンデンサと電ｔＰＬ源の組合せ毎に、掃引信号が開始レ
ベルから終了レベルに増加するに要する時間が少くとも
特性信号の１．５サイクル以上の按さになるよう十分小
さく調メしなければならない、よって、例えば、もし掃
引にｌ０ＩＩＳを要する場合には、特性信号周期はその
２／３である６、６６ａ＋ｓを超えてはならない。他方
、ＶＬとＶＨの差が大きければ太きい程、測定精度は高
くなる。よって、特性（校正）信号の周期Ｐｃは各コン
デンサと電流源の組合せにつき、最大期待掃引時間の２
／３より小さく且つこれにできる限り近いことが好まし
い。

第４図を参照すると、μＰ（２２）がＶＨを求めるＤＡ
Ｃ入力データのレンジは十分広く、２番目の特性信号パ
ルス（６８）の後縁はＤＡＣ（４６）の選択したレンジ
に応じて生じる掃引信号がＤＡＣ出力電圧レンジ内にあ
るとき、常に起るようにすべきである。しかし、Ｌ）Ａ
Ｃ入力データの捜査範囲は十分狭く、掃引信号が１）Ａ
Ｃ出力電圧の対応レンジ内のとき第２及び第３特性パル
スの前縁が起らないことが必要である。従って、ＤＡＣ
入力データはＶＨの最小及び最大期待値であるＶＨ（ｍ
ｔｎ）からＶＨ（ｗａｘ）にまたがる範囲に制限すべき
であり、次式で与えられる。

ＶＨ（ｗｉｎ　）　＝Ｖｏ　　（＋ｗｉｎ　）　＋Ｇ　
（ｍａｉｎ　）　　３Ｐｃ　／２　　及びＶ）（（＋ａ
ａｘ　）　”Ｖｃ　（＆ＩＸ　）　＋Ｇ　（ｗａｘ　）
　３Ｐｃ　／２上式でＶｏ　（ｓｉｎ）とＶｏ（＋ｍａ
ｘ）は掃引開始パラメータＶｏの最小及び最大期待値で
あり、Ｇ（＋ｉｎ）及びＧ（ｗａｘ）は掃引ゲインパラ
メータＧの最小及び最大期待値である。これら期待値は
掃引発生器（１０）とＤＡＣ（４６）の許容誤差に基づ
き推定できよう、ＶＨＯがレンジの中心とすると、Ｖ　
Ｈの捜査範囲は次式で与えられる。

ＶＨＯ土（ＶＨ（ｗａｘ）　−ＶＨ（ｓｉｎ）　）　／
２ＲＶ−（ＶＨ（ｗａｘ）　−ＶＨ（ａｋｉｎ）　）　
／２とすると、上式の捜査範囲はＶＨＯ±ＲＶと表すこ
トカテきる。一方、ＶＬのＤＡＣ（４６）入力データ捜
査範囲についてもその公称期待値ＶＬＯの前後の同様範
囲（±ｋＶ）に制限できよう。

本発明の好適実施例では、掃引発生器（１０）は３個の
コンデンサ（例えばＣ１，Ｃ２，Ｃ３）と９個の電流源
（例えば１１．１２．・・・・、１ｓ）から選択して所
望の掃引速度を確立することが可能である。この場合、
可能な組合せは３Ｘ９＝２７であるので、オシロスコー
プが各組合せにつきＶＨ及びＶＬをαｊ定してＶＯとＧ
を求めるには相当長時間を宏する。しかし、第２図の掃
引発生回路でコンデンサ（２６）の値を変化する影響は
掃引信号出力のスルーレートに現われるのみであり、開
始レベルには現われないという事実を勘案すれば、必要
とする測定数は低減可能である０面、スルーレートの変
化はコンデンサ（２６）の容量に反比例すること前述し
たとおりである。よ−２て、本発明の好適実施例では各
電流源１１〜ｌうにつき最初にＶＨとＶＬの値を例えば
コンデンサＣ２との組合せで測定する。ＶＨとＶＬの９
つの測定値の各々につき■０とＧパラメータを上述した
とおり計算してその結果をμＰ（２２）内のランダムア
クセスメモリ　（ＲＡＭ）にストアする０次に、ＶＨと
ＶＬパラメータを例えばＩ５とＣＬ及び１５とＣ３の組
合せで２回測定し、夫々のＧパラメータを求める。最後
に［ゲイン補正係数ＪＧｃ（Ｘ）を次式に基づき各コン
デンサにつき計算する。ここで、Ｘはコンデンサ０１〜
Ｃ３の番号を示す。

Ｇｃ　　（Ｘ）＝Ｇ　（Ｘ、５）／Ｇ　（２，５）上式
で、Ｇ　（Ｘ、５）はコンデンサＣｘと電流線Ｉ５の組
合せにつき計算した掃引ゲインパラメータであり、Ｇ　
（２，５）はコンデンサＣ２と電流諒１　ｓの組合せに
つき計算した掃引ゲインパラメータである。Ｇｃ　　（
Ｘ）は無単位量であり、１５と共に０２の代りにＣｘを
使用した場合の掃引ゲインの増減変化を示す。コンデン
サの切換えにより生じる掃引ゲインの増減は掃引発生器
のどの電流源を使用するかに関係なく同じであることに
υ７怠されたい。また、Ｇｃ（２１はｌである。よって
、任愈のコンデンサＣｘと電流１）ＪＡ　１　ｙの組合
せの掃引ゲインＧ　（Ｘ、　Ｙ）はｃ、（２，Ｙ）とＧ
ｃ　　（Ｘ）の積に等しい。１度Ｇｃ　　（Ｘ）を各コ
ンデンサＣｘにつき計算してメモリにストアすると、そ
の後にＣｘとＩＹの組合せで掃引速度を決定するとき遅
延時間゛１゛ｄの計算は次式で表わされる。

’Ｉ’ｄ　＝　（Ｄ−Ｖｏ　（２，Ｙ）　）　／　（Ｇ
　（２，Ｙ）　Ｇｃ　（Ｘ）　）ここでＤはＬ）ＡＣ（
４６）の入力データ値であり、Ｖｏ　　（２，Ｙ）とＧ
　（２，Ｙ）は０２及びＩＹの組合せで測定したＶｏ及
びＧパラメータである。

用途に依ってはμ）’（２２）で掃引の開始から輝点（
３８）の変移を、その変移が表わす遅延時間でなく　Ｃ
Ｒスクリーン上の目盛を計算する方が好ましい場合があ
る。その場合には、Ｃｘとｌｖの組合せについての計算
した掃引ゲインＧ　（Ｘ、Ｙ）は、１秒当りの水平目盛
で表わした公称掃引レンジＲ（Ｘ、Ｙ）と目盛数とをＩ
ま）けてノーマライズして、ノーマライズした１）ＡＣ
車位／目盛で表示されたノーマライズ（標準化）掃引ゲ
インパラメータＧｓ　　（Ｘ、Ｙ）を得る。次に、この
パラメータを用いてＬ）ＡＣ（４６）への入力データＤ
の大きさと掃引開始点からの輝点の変位（目＋Δ車位）
を次式で関係付ける。

変位＝　（１）−Ｖｏ　　（２，Ｙ）　ｌ　／Ｇｓ　　
（２，Ｙ）　Ｇｃ第５図は第１図につき上述したμＰ　
（２２）がＶＨ及びＶＬを測定し、Ｃ２と１１乃至１９
の組合せ及びＣｘ乃至Ｃ３と１５の組合せにっきＶ。

（Ｘ、Ｙ）及びＧ　（Ｘ、Ｙ）を計算し、且ッｃｉ乃至
Ｃ３につきＧｃ（ｘ）を計算するプログラムのフローチ
ャート（流れ線図）である。ブロック（７２）から始め
ると、μＰ　（２２）は第［図のＭＵＸ　（１８）　、
　　（１９）をセットし、比較器り１６）及び（１７）
へのトリガ入力として特性借りを選択する。

次に、ブロック（７４）へ進み、μＰ（２２）はコンデ
ンサＣｘのＸとして２を（Ｃ２）　、電流源ＩＹのＹと
して１（１１）を選択する。ブロック（７６）では、μ
Ｐ　（２２）は掃引発生器（１０）へのレンジイバ号を
セットし、第２図の増幅器（２４）に０２及び１１を接
続する。ブロック（７８）では、特性信号の周期Ｐｃを
適当な値Ｐｃ　　（Ｘ、Ｙ）にセットし、次にＶＬ　（
Ｘ、Ｙ）パラメータをＣＸＩＩＹの組合せの公称値ＶＬ
Ｏ（Ｘ、Ｙ）にセットする。

２つのインデックスＮ及びＪを共に０にセットする。Ｊ
インデックスは、μＰ（２２）が現にＶＬを求めている
とき０であり、ＶＨを求めているときｌである。Ｎイン
デックスはＤＡＣ（４（ｉ）入力データを各掃引サイク
ル後に増減すべきときに、その変化敬を決定するのに使
用する。Ｊは最初０であるので、Ｌ）ＡＣ（４６）の入
力データはＶＬ（Ｘ。

Ｙ）の現在値にセントする（ブロック（８０））。

Ｌ）ＡＣ（４６）の入力データは掃引中にブロック（８
０）で変化されているかも知れないので、μＰ（２２）
は掃引が２回終了したことをＡゲート回路（１４）が指
示するまで待ち（ブロック（８２））、ＤＡＣ（４６）
の入力データが完全な１掃引中変化しないことを保証す
る。その後ブロック（８４）では、μＰ（２２）はＪイ
ンデックスが０を超すか否かチェックし、もし超さなけ
ればｌ’Ｆ（５４）のＱ出力が高レベルか否かをチェッ
クする（ブロック（８６））。もしＱが高レベルである
と、ＶＬ　（Ｘ。

Ｙ）を）＜Ｖ／２Ｎだけ増加しくブロック（８Ｂ））、
もし低レベルであるとＶＬ　（Ｘ、Ｙ）はＲＶ／２Ｎだ
け減少する（ブロック（９０））。ここで、ＲＶは上述
した捜査範囲である。その後、ブロック（９８）で、Ｆ
Ｆ（５４）はリセットしてＮの値を順次増加する。もし
ＲＶ／２Ｎが１未満でなければ（ブロック（１００）　
）、即ちＶＬ　（Ｘ、Ｙ）が最後に変化した量がＤＡＣ
（４６）の１入力単位未満でなければ、プログラムの流
れはブロック（８０）に戻す。ここでμＰ（２２）はＤ
ＡＣ（４６）の入力データをＶＬ　（Ｘ、Ｙ）の新しい
値にセントする。

上述したプロセスはブロック（８０）　、　　（８２）
　。

（８４）　、　　（８Ｇ）　、　　（８８）　　（又は
（９０）　）　、　　（９８）及び（１００）を含むル
ープで反復！ｌＩ統して、ＶＬ（Ｘ、Ｙ）（７）値がブ
Ｃ１−／り（８８）及び／又は（９０）でＤＡＣ（４６
）の分解能限界まで調整され、ＲＶ／２’が１未満にな
ると停止する（ブロック（１００）　）。

その後、ブロック（１０２）で、Ｎの値を０．Ｊの値を
順次増加する。もしＪの値が２以上でなければ（ブロッ
ク（１０４）　’）　、ＶＨ（Ｘ、　　Ｙ）の値をＣｘ
及びＩＹの現在の組合せ用ＤＡＣ（４６）入力データの
公称、期待値ＶＨＯ（Ｘ、Ｙ）にセントする（ブロック
（１０５））。次に、μＰはブロック（８０）に戻り、
ＤＡＣ入力データをＶＨ（Ｘ。

Ｙ）の初期値にリセットし、掃引信号が２回終了するの
を待つ（ブロック（８２））。今Ｊは１以上であるので
（ブロック（８４）　）、μＰはＦ）’（５４）のＱ出
力をチェックしくブロック（９２）　）　、Ｑが高レベ
ルであればＶＨ（Ｘ、Ｙ）をＲＶ／２Ｎたけ増加しくブ
ロック（９４）　）　、ｔＪが低レベルであればＲＶ／
２ＮだけＶＨ（Ｘ、Ｙ）を減少する（ブロック　（９６
）　）。ＦＦ（５４）をリセットしくブロック（９８）
で）Ｎを１だけ増加し、もしＨＶ／２Ｎが１未満でなけ
れば（ブロック（１００）　）、μＰはブロック（８０
）に戻る。μＰはブロック（８０）　、　　（８２）　
、　　（８４）　、　　（９２）　、　　（９４）　　
（又は（９６）　）　、　　（９Ｂ）及び（１００）よ
り成るループを反復してブロック（９４）及び／又は（
９６）でＶＨ（Ｘ、　Ｙ）の値がＤＡＣ（４６）の分解
能限界まで調節されＲＶ／２’が１未満になると終了す
る（ブロック（１００）　）　、次に、ブロック（１０
２）で、Ｎの値をＯにリセットし、Ｊの値を２に増加す
る。ここでＪの値はｌを超すので（ブロック（１０４）
　）　、μＰは上述した関係に従ってＶＬ（Ｘ、Ｙ）及
びＶＨ（Ｘ、Ｙ）　の値を最ｔ＆　ニｆｌｉｉ　ｆｉ”
）した値から０２と１１の組合せのＶｏ　　（Ｘ、Ｙ）
及びＧ　（Ｘ、Ｙ）の値を計算する。

Ｘの値が１でなく　（ブロック（１０８））また３でな
く　（ブロック（１１２）　）　、ＬかもＹの値が８を
超さないと（ブロック（１１４））、Ｙは１だけ増加し
て（ブロック（１１Ｂ　）　）プログラムをブ１コック
（７６）に戻し、ここでＡ掃引発生器へのレンジ信号を
ｘ、Ｙ共に２とし、Ｃ２及び１２を選択するようセット
する。ブロック（７８）では、特性信号の周期Ｐｃを変
化してＶＬ　（Ｘ、Ｙ）パラメータをＣ２，１２の組合
せに適合する新しい初期値ニセフトし、Ｎ及びＪインデ
ックスを再度イニシャライズする。ブロック（８０）乃
至（１０６）で示す反復プロセスを反復して、このコン
デンサと′ｔｆ１流源との組合せでＶｏ　　（Ｘ、Ｙ）
とＧ　（Ｘ、Ｙ）を計算する。その後、ブロック（１１
８）で再度Ｙを順次増加してプログラムの流れをフロッ
ク（７６）に戻す。そしてＹが９になると、Ｖｏ　　（
Ｘ、Ｙ）とＧ　（Ｘ、Ｙ）を０２と１１乃至１９の組合
せで計算し、このとき（ブロック（１１４）　）Ｙが８
を超すのでブロック（１１６）によりＸを１．Ｙを５に
セットする。プログラム動作は再度ブロック（７６）に
戻り、Ｃ１と１５を選択する。反復的なＶＬ　（Ｘ、Ｙ
）及びＶＨ（Ｘ、Ｙ）ａｌ定ブｏセスを行い、Ｖｏ　　
（Ｘ、　Ｙ）とＧ　（Ｘ、　Ｙ）をＣＬと１５の組合せ
で計算する（ブロック（１０６））。

Ｘ＝１であるので、ブロック（１０８）はブロック（１
１０）に行き、ここでＸ−３，Ｙ＝５にセットする０次
にブロック（７６）に戻ると、Ｃ３とｉ５が選択される
０反復測定を再度行い、Ｃ〕と１５の組合せについてｖ
Ｏ（ｘ、Ｙ）及びＧ　（Ｘ、Ｙ）を計算する（ブロック
（１０６）　）　、　Ｘは３であるので、ブロック（１
１２）はブロック（１２０）へ導き、ここでＧｃ　（１
）、　Ｇｃ　（２１及びＧ　ｃ　（３）の値をブ１コッ
ク（１０６）で求めたＶｏ　　（Ｘ、Ｙ）及びＧ　（Ｘ
。

Ｙ）の測定値に基づいて前述した関係式により貧１算す
る。これで計算プロセスは終了する。

〔発明の効果〕

上述の説明から明らかな如く、本発明に依ると、オシロ
スコープは掃引信号の開始から表示波形に沿った選択点
までの遅延時間を、掃引信号を特徴付ける掃引ゲイン（
Ｇ）と掃引開始（■０）の測定値とＤＡＣ（４６）に供
給し出力電圧制御点の選択を行うデータ値（Ｄ）とに基
づき計算する。開始パラメータＶｏはＤＡＣの出力が掃
引信号の実際の開始レベルと等しい電圧を生じる入力デ
ータであり、掃引ゲインパラメータＧは掃引信号と同じ
スルーレートのＤＡＣ出力を得る為に必要なりＡＣ入力
データの増加率を示す。掃引ゲインＧと掃引開始Ｖｏパ
ラメータは既知の周期であって掃引をトリガ起動する矩
形波を用い、ＤＡＣの入力データを反復的に調節し、且
つ掃引信号をＤＡＣ出力信号と比較して矩形波信号の２
つの異なるパルス縁での掃引信号振幅と一致させること
により正確に決定する。次に、パラメータＧ及びＶＯを
矩形波信号の既知周期ＰｃとＶＬ及びＶＨとから計算す
る。従って、本発明によると、水晶発振器等の極めて安
定した特性ないし校正信号を用いて、掃引発生器のすべ
ての掃引速度につき、周囲温度変化、使用するデバイス
の経年変化、電源電圧変化等により変化する掃引信号の
各パラメータを求めることができるので、斯るパラメー
タに基づき後に入力信号波形の各種パラメータを高精度
で求められるという実用上の顕著な効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を使用するオシロスコープの要部ブロッ
ク図、第２図は典型的な掃引発生器の回路図、第３図は
本発明を使用するオシロスコープの１例の正面図、第４
図は本発明の動作説明図、第５図は本発明の掃引信号誤
差測定手順を示す流れ線図を示す。 （１０）　、　　（１２）は掃引発振器、（１４）　、
　　（１５）はゲート回路、（１６）　、　　＜１７）
は比較器、＜１８）。 （１９）はマルチプレクサ、（２０）　、　　（２１）
はデジタル・アナログ変換器、（２２）はマイクロプロ
セッサ、（２３）　、　　（２５）は表示領域、（２４
）は演算増幅回路、（２６）はコンデンサ、（２８）は
電流源、（２９）はオフセット電圧源、（３０）はスイ
ッチ、（４６）は基準ＤＡＣ１（６０）は掃引信号、（
６／ｌ）　。 （６８）は特性信号パルス、（６６）は特性信号である
。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、開始レベルから略一定傾斜で変化する掃引信号の特
   性を求める装置であって、入力データに対応する出力信
   号を生じる第１手段と、該第１手段の入力データを変化
   して上記掃引信号の傾斜と対応する出力を発生させて掃
   引傾斜パラメータを求める第２手段と、上記第１手段の
   入力データを変化して上記掃引信号の開始レベルに対応
   する出力を発生させ上記開始レベルパラメータを求める
   第３手段とを具える掃引信号の特性測定装置。 ２、上記第２手段は既知周期の特性信号を用い、上記掃
   引信号をトリガ起動すると共に上記特性信号の周期に関
   連する２点での上記掃引信号振幅差を求めることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の掃引信号の特性測定
   装置。 ３、上記掃引信号は異なる複数の掃引速度に切換選択で
   き、上記第２及び第３手段により求めた傾斜及び開始レ
   ベルパラメータは夫々メモリに記憶されるようにした特
   許請求の範囲第１項記載の掃引信号の特性測定装置。