JPS6344721Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、光源および感光センサが設けられて
おり、該光源とセンサとの間を部品が通過するよ
うになつており、前記光源と前記部品との間にレ
ンズおよび遮光板が設けられており、かつ前記部
品と前記センサとの間に別のレンズが設けられて
おり、その際前記センサから送出される信号が検
査すべき部品の特性に対する尺度である、部品を
姿勢について検査するための装置に関する。

光源と感光センサとの間に以下加工物と称する
部品が供給され、その際光源と加工物との間に検
査すべき加工物の輪郭を有する輪郭形遮光板が挿
入されている光学検査装置は既に公知である。加
工物が輪郭に相応すると、センサへ光は殆んど入
射せず、加工物は同一なものとみなされる。加工
物が別の輪郭を有するとそれは欠陥品とみなされ
る。この装置は各々の加工物に対してその都度交
換しなければならない特別の輪郭が必要であると
いう欠点を有する。更にこの装置が誤つた指示を
行なわないように、検査すべき部品において少な
くとも２つの軸方向において高度な精度が要求さ
れる。

従つて本考案の課題は上述の欠点を回避した、
冒頭に述べた形式の部品を姿勢について検査する
装置を提供することである。

この課題は本考案によれば、次のようにして解
決される。既ち遮光板におけるスリツトの寸法お
よび形状が、部品の検査すべき部分および部品の
前記部分に関する局所的な分解能に整合されてお
りかつ部品の検査の際センサから送出される信号
の評価のために、加算方向および減算方向に計数
する計数装置が設けられており、その際該計数器
は前記センサからの信号が閾値に達してから該閾
値を下回るまでの間の時間を一方の方向に計数
し、かつ次に前記閾値に達してからさらに該閾値
を下回るまでの時間を前記一方の方向とは逆の方
向に計数し、前記第１の計数値と第２の計数値と
の差を形成するのである。

本考案によれば、設定された閾値との関連にお
いて可逆計数する計数装置を用いて部品が評価さ
れるので、検査期間中だけ検査品の一定の送り速
度を保持するようにすればよい点で有利である。

また複数の計数装置の結果を種々の部品を識別
するために用いるようにしても有利である。

次に本考案を図面を用いて詳細に説明する。

第１図には有利には発光ダイオードとして構成
されている光源１が示されている。しかし任意に
別の光源を使用することもできる。光源１から放
射される光線は遮光板２およびレンズ３を介して
加工物４に達する。この加工物は一定の速度で光
路５を通過する。別のレンズ６で光線は集束され
それから有利にはホトダイオードまたはホトトラ
ンジスタとして構成されている感光センサ７に達
する。センサとして別の感光素子を使用すること
も当然可能である。センサ７に図示されていない
閾値スイツチ、増幅器および有利には計数器であ
る積分装置が、センサ７によつて受取られたパル
スを評価するために後置接続されている。

本考案の測定装置は加工物の姿勢を検査するた
めに用いることができる。加工物４の前端部に設
けられた面取部８がスリツト遮光板に遮ぎられて
入射する狭い光路５を通過すると、ホトダイオー
ド７からその時の放射エネルギーに依存して第２
図に示す信号が送出される。その際信号が送出さ
れないとホトダイオードに最大のエネルギーが照
射されたことを意味し、信号が送出された場合は
ホトダイオード７に光線が達しなかつたかまたは
不透明な物体のため本来の光量の一部分のみが達
したことを意味する。加工物４がある箇所に例え
ばくびれ部分を有すると第２図の信号が送出され
る。ホトダイオード７に後置接続された閾値スイ
ツチが閾値１０に達すると計数器を投入接続す
る。すると計数器は閾値を下回るまで加算計数す
る。その際の計数状態は、閾値を２回通過する間
の素子の寸法１１の大きさに対する基準である。
次いで再度閾値に達すると計数器は次に閾値を下
回るまで減算計数を始める。これにより長さ１２
が与えられる。このように閾値１０に達してから
閾値１０を下回るまでの間を加算方向に計数し、
かつ次に閾値１０に達してからさらに閾値１０を
下回るまでの時間を減算方向に計数し、両方の計
数状態１１と１２との差を形成することにより素
子の姿勢が明確に決められる。即ち計数状態が零
より大きいと例えば加工物のくびれ部分は後方部
にあり、値が零より小さいと加工物の前方部にあ
る。このようにして加工物の明白な姿勢検査が可
能である。更に差形成の方法をとることによりす
べての加工物において速度を同じにする必要がな
くなる。

送り速度を一定にすれば、計数状態は同時に閾
値を２度通過する間の間隔の大きさである。この
場合寸法の検査が可能である。このように計数状
態に着目すれば、姿勢と寸法を同時に検査するこ
とができる。零と最大値の間で変化できる閾値を
適当に選択することにより、装置を任意の部品に
適応させることができる。

本考案により計数装置を用いると、集積化の点
および精度の点で有利である。高度な精度を得る
ために電子計数装置が使用される。

更に本考案は計数結果の評価により種々の部品
を識別するために使用可能である。その際複数の
光路５を前後に設けると有利であり、光路を相互
に違えて設けることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による加工物を検査するための
装置の概略図、第２図は第１図の装置の作動を説
明するためのパルスダイヤグラムである。 １……光源、２……遮光板、３，６……レン
ズ、４……加工物、５……光路、７……センサ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 光源および感光センサが設けられており、該
   光源とセンサとの間を部品が通過するようにな
   つており、前記光源と前記部品との間にレンズ
   および遮光板が設けられており、かつ前記部品
   と前記センサとの間に別のレンズが設けられて
   おり、その際前記センサから送出される信号が
   検査すべき部品の特性に対する尺度となる、部
   品を姿勢について検査するための装置におい
   て、前記遮光板２におけるスリツトの寸法およ
   び形状が、前記部品４の検査すべき部分および
   前記部品４の前記部分に関する局所的な分解能
   に整合されておりかつ前記部品４の検査の際前
   記センサ７から送出される信号の評価のため
   に、加算方向および減算方向に計数する計数装
   置が設けられており、その際該計数器は前記セ
   ンサからの信号が閾値１０に達してから該閾値
   を下回るまでの間の時間を一方の方向に計数し
   １１、かつ次に前記閾値１０に達してからさら
   に該閾値を下回るまでの時間を前記一方の方向
   とは逆の方向に計数し１２、前記第１の計数値
   １１と第２の計数値１２との差を形成する部品
   の検査装置。 ２ 光源１として発光ダイオードを使用した実用
   新案登録請求の範囲第１項記載の部品の検査装
   置。 ３ センサ７としてホトダイオードまたはホトト
   ランジスタを使用した実用新案登録請求の範囲
   第１項記載の部品の検査装置。