JPS63297568A - Plasma CVD equipment - Google Patents
Plasma CVD equipmentInfo
- Publication number
- JPS63297568A JPS63297568A JP13452087A JP13452087A JPS63297568A JP S63297568 A JPS63297568 A JP S63297568A JP 13452087 A JP13452087 A JP 13452087A JP 13452087 A JP13452087 A JP 13452087A JP S63297568 A JPS63297568 A JP S63297568A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- chamber
- ground shield
- shield
- plasma
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、アースシールドをプラズマクリーニング用電
極に兼用できるようにした対向電極形のプラズマCVD
装置に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is directed to a counter-electrode type plasma CVD device in which the earth shield can also be used as a plasma cleaning electrode.
It is related to the device.
[従来の技術]
平行平板型に代表される対向電極形のプラズマCVD装
置は、第3図に示すように、チャンバ1内で基板2と電
極3とを対向配置して構成されるとともに、電極3の背
面に該電極3を遮蔽するアースシールド4を配置する場
合が多い。このアースシールド4は、絶縁材5を挟んで
電極3と絶縁され、かつコネクタ部6でアース7に確実
に接続されて、電極3とチャンバ1との間の放電を防止
しプラズマPaを基板−電極間に閉じ込める役割を果す
ものである(なお第3図において、8は基板背面に設置
したヒータを、9はマツチングボックス10を介し電極
3に高周波を印加するRF電源を示している)。[Prior Art] As shown in FIG. 3, a facing electrode type plasma CVD apparatus, typically a parallel plate type, is constructed by arranging a substrate 2 and an electrode 3 facing each other in a chamber 1. In many cases, an earth shield 4 is disposed on the back surface of the electrode 3 to shield the electrode 3. This earth shield 4 is insulated from the electrode 3 with an insulating material 5 in between, and is securely connected to the earth 7 through the connector part 6, preventing discharge between the electrode 3 and the chamber 1, and directing the plasma Pa to the substrate. It plays the role of confining between the electrodes (in FIG. 3, 8 indicates a heater installed on the back surface of the substrate, and 9 indicates an RF power source that applies high frequency to the electrodes 3 via the matching box 10).
しかし、上記のアースシールド4を配した場合でも、成
膜中、チャンバ1の内面にある程度のプラズマ粒子が回
り付いて付着、堆積することは避けられず、それ故チャ
ンバ1の内面から定期的に付着物(例えばa−8i J
Ppoly−8i等)を除去することが必要とされる。However, even when the above-mentioned earth shield 4 is provided, it is unavoidable that some plasma particles will wrap around, adhere to, and accumulate on the inner surface of the chamber 1 during film formation, and therefore Deposits (e.g. a-8i J
Ppoly-8i, etc.) is required.
一方、チャンバ1内を浄化するための有力でかつ簡便な
る手段として、エツチングを利用したプラズマクリーニ
ングが知られる。すなわち、この方法はチャンバ1内に
CF4、NF3等のエッチングガスを導入し、電極3と
チャンバ1等の間でプラズマ放電させ、付着物をエツチ
ングにより除去するようにしたものである。On the other hand, plasma cleaning using etching is known as an effective and simple means for cleaning the inside of the chamber 1. That is, in this method, an etching gas such as CF4, NF3, etc. is introduced into the chamber 1, plasma discharge is generated between the electrode 3 and the chamber 1, etc., and the deposits are removed by etching.
[発明が解決しようとする問題点]
ところが、電極背面に前記アースシールド4を配したも
のでは、その際のプラズマ生成領域もやはりシールド4
の遮蔽を受けるため、プラズマの回り込みにくい場所、
即ちシールド4の背面側に当るチャンバ内壁1aや底部
1bなどに付着、堆積した付着物は容易に除去されない
。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the case where the earth shield 4 is disposed on the back of the electrode, the plasma generation area at that time is also covered by the shield 4.
Places where it is difficult for plasma to get around because of the shielding of
That is, the deposits that have adhered or accumulated on the chamber inner wall 1a, bottom 1b, etc. on the back side of the shield 4 are not easily removed.
そのため、エツチング効果の波及し難い場所についた付
着物は、一旦チャンバ1内を大気に解放してから内壁1
a等を物理的な手段で磨いたり、あるいは部品を取外し
て酸洗するなど、別個にクリーニング作業を行なうこと
が余儀無くされる。Therefore, deposits that have adhered to places where the etching effect is difficult to spread can be removed by first releasing the inside of the chamber 1 to the atmosphere and then removing the deposits from the inner wall 1.
It is necessary to carry out separate cleaning work, such as physically polishing parts such as a, or removing and pickling parts.
しかし乍ら、かかる浄化手段を採ると、クリーニング作
業に手間が掛るばかりでなく、チャンバ1内をその都度
大気に解放しなければならないので、装置の稼働働効率
が悪くなってしまう。However, if such a purifying means is adopted, not only is the cleaning work time-consuming, but also the inside of the chamber 1 must be exposed to the atmosphere each time, resulting in a decrease in the operating efficiency of the apparatus.
本発明は、このような問題点を解消するため、チャンバ
内を大気に戻すことなく、プラズマクリーニングによっ
てチャンバ内に付着した付着物を隈無く除去できるよう
に改善したプラズマCVD装置を提供するものである。In order to solve these problems, the present invention provides an improved plasma CVD apparatus that can thoroughly remove deposits deposited inside the chamber by plasma cleaning without returning the inside of the chamber to the atmosphere. be.
[問題点を解決するための手段]
本発明が上記の目的達成のために採る手段は、アースシ
ールドを有する対向電極形のプラズマCVD装置におい
て、前記アースシールドをアースと絶縁可能に設けると
ともに、高周波電源を該アースシールドと電極とに接続
切換可能に設けるようにした点にある。[Means for Solving the Problems] The means taken by the present invention to achieve the above-mentioned object is that in an opposed electrode type plasma CVD apparatus having an earth shield, the earth shield is provided so as to be insulated from the earth, and the earth shield is provided so as to be insulated from the earth. The present invention is characterized in that a power source is connected to and connected to the earth shield and the electrode in a switchable manner.
[作用]
このように構成したものであると、チャンバ内をプラズ
マクリーニングするに際しては、そのアースシールドを
アースと絶縁し、高周波電源をCVD用電極から該アー
スシールドに接続を切換えるようにすればよい。すると
、高周波が印加されるアースシールドがプラズマクリー
ニング用電極の役目を果して、該シールドと対面するチ
ャンバ内面との間で放電しプラズマを生成する。[Function] With this configuration, when performing plasma cleaning inside the chamber, it is sufficient to insulate the earth shield from the earth and switch the connection of the high frequency power source from the CVD electrode to the earth shield. . Then, the earth shield to which the high frequency is applied acts as a plasma cleaning electrode, and discharge occurs between the shield and the inner surface of the chamber facing the chamber, generating plasma.
このように本装置では、アースシールドをクリーニング
電極に兼用することで、CVD時とクリーニング(エツ
チング)時とでチャンバ内でのプラズマ生成領域を大き
く変更することができ、クリーニング時には必要なシー
ルド背面側のチャンバ内壁や底部等に付着した付着物を
エツチングにより効果的に除去することができる。In this way, in this device, by using the ground shield as a cleaning electrode, it is possible to greatly change the plasma generation area in the chamber between CVD and cleaning (etching). Deposits attached to the inner wall or bottom of the chamber can be effectively removed by etching.
[実施例コ 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。[Example code] Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図と第2図は、本発明に係る平行平板型のプラズマ
CVD装置の概要を、第3図の従来例と対比して図示し
たもので、第1図にCVD使用状態を、第2図にクリー
ニング使用状態を示している。ここに、装置の基本構成
に係る各部符号は、従来例のものと共通して用いられる
。即ち、1はチャンバ、2は基板、3は(CVD用)電
極、4はアースシールド、7はアース、8は基板ヒータ
、9はRF(高周波)電源、10はマツチングボックス
をそれぞれ示す。なお、電極3にはそれ自身の内部から
ガスを吹き出す方式のもの等、種々の構造、形態のもの
が利用できる。1 and 2 show an outline of the parallel plate type plasma CVD apparatus according to the present invention in comparison with the conventional example shown in FIG. 3. The figure shows the cleaning condition. Here, the reference numerals for each part related to the basic configuration of the device are used in common with those of the conventional example. That is, 1 is a chamber, 2 is a substrate, 3 is an electrode (for CVD), 4 is an earth shield, 7 is a ground, 8 is a substrate heater, 9 is an RF (high frequency) power source, and 10 is a matching box. Note that the electrode 3 can have various structures and forms, such as one that blows out gas from inside itself.
しかして、この装置の改変された要部の構成について説
明すると、まずアースシールド4は、アース7との確実
な接続状態から該アース7との確実な絶縁状態に切換可
能に設けられている。このようなアース7との絶縁を可
能にするため、アースシールド4は、次のように設けら
れている。To explain the structure of the modified main parts of this device, first, the earth shield 4 is provided so as to be switchable from a securely connected state to the ground 7 to a securely insulated state from the ground 7. In order to enable such insulation from the earth 7, the earth shield 4 is provided as follows.
すなわち、背面側を遮蔽するようにして電極3の周りに
配設される筒状のアースシールド4は、内周に絶縁材5
aを、外周に絶縁材5bを挟んで電極3とチャンバ1の
底部から突設したガイド筒11との間にスライド可能に
嵌合され、大気側からチャンバ1内に向けて所定のスト
ロークで昇降可能に設置されている。そして、チャンバ
1内でその中途部外周に断面り形をなす環状のアースコ
ンタクト6aを突設している一方で、このアースコンタ
クト6aの外周に対面する位置のチャンバ底部1bにア
ース7に導通されるアースコンタクト6bを設置してい
る。かくして、アースシールド4がその下降位置にある
ときは、第1図のように、両コンタクト6a、6bが密
着して、アースシールド4はアース7との確実な接続状
態に保持されるものとなる。他方、アースシールド4が
その上昇位置にあるときは、第2図のように、コンタク
ト6aがコンタクト6bと完全に離反する位置に浮上し
て、アース7との確実な絶縁状態に保持されることにな
る。That is, a cylindrical earth shield 4 arranged around the electrode 3 so as to shield the back side has an insulating material 5 on the inner periphery.
A is slidably fitted between the electrode 3 and a guide cylinder 11 protruding from the bottom of the chamber 1 with an insulating material 5b sandwiched between the outer periphery, and is raised and lowered at a predetermined stroke from the atmosphere side toward the inside of the chamber 1. Possibly installed. An annular earth contact 6a having a cross-sectional shape is protruded from the outer periphery of the middle part of the chamber 1, while a ground 7 is connected to the chamber bottom 1b at a position facing the outer periphery of the earth contact 6a. A ground contact 6b is installed. Thus, when the earth shield 4 is in its lowered position, both contacts 6a and 6b are in close contact with each other, as shown in FIG. 1, and the earth shield 4 is maintained in a secure connection with the earth 7. . On the other hand, when the earth shield 4 is in its raised position, the contact 6a floats to a position completely separated from the contact 6b, as shown in FIG. 2, and is maintained in a securely insulated state from the earth 7. become.
また、電極3にマツチングボックス10を介して給電す
るRF電源9は、必要に応じて電極3に切換えてアース
シールド4に高周波を印加することができるように、両
者に対して接続切換可能に設けられている。すなわち、
電極3とアースシールド4の大気側の突出端とにそれぞ
れ給電端子12a、12bを設け、これにマツチングボ
ックス10の出力端子13をスイッチ14を介して択一
的に接続するようにしている。Furthermore, the RF power source 9 that supplies power to the electrode 3 via the matching box 10 can be switched between the two so that it can be switched to the electrode 3 and apply high frequency to the earth shield 4 as needed. It is provided. That is,
Power supply terminals 12a and 12b are provided on the electrode 3 and the protruding end of the earth shield 4 on the atmosphere side, respectively, to which the output terminal 13 of the matching box 10 is selectively connected via a switch 14.
このように構成したプラズマCVD装置は、以下のよう
な作動の下に基板2への薄膜形成とチャンバ1内のクリ
ーニングとが実行される。The plasma CVD apparatus configured as described above executes the formation of a thin film on the substrate 2 and the cleaning of the inside of the chamber 1 under the following operations.
まず、第1図のCVD時においては、アースシールド4
が確実にアースされた状態で電極3に高周波が印加され
、この電極3と対向する基板2との間の閉じ込められた
領域にプラズマPaを生成し、従来装置と同様にして基
板2−1.に膜形成して行くものとなる。First, during the CVD shown in Figure 1, the earth shield 4
A high frequency is applied to the electrode 3 while the electrodes 3 are securely grounded, and plasma Pa is generated in a confined area between the electrode 3 and the opposing substrate 2, and the substrates 2-1 . A film will form on the surface.
次いで、第2図のクリーニング時においては、アースシ
ールド4をチャンバ1内で上昇位置にセットしアース7
と絶縁状態に保持するとともに、チャンバ1内に前述し
たエツチングガスを導入してからスイッチ13をCVD
用電極3の端子12aからアースシールド4の端子12
bに切換え、該シールド4に高周波を印加する。すると
、アースシールド4がプラズマクリーニング用電極の役
目を果し、対面するチャンバ内壁1aやチャンバ底部1
bとの間でプラズマpbを生成し、従前ではプラズマク
リーニングが困難であったチャンバ内面の当該部分やア
ースシールド4の外面に付着した付着物をエツチングに
より効率よく除去することができる。Next, during the cleaning shown in FIG. 2, the earth shield 4 is set in the raised position in the chamber 1 and the earth
At the same time, the above-mentioned etching gas is introduced into the chamber 1, and then the switch 13 is heated by CVD.
from the terminal 12a of the electrode 3 to the terminal 12 of the earth shield 4
b, and apply a high frequency to the shield 4. Then, the earth shield 4 serves as a plasma cleaning electrode, and the earth shield 4 acts as a plasma cleaning electrode, and the facing inner wall 1a and the chamber bottom 1 are connected to each other.
Plasma Pb is generated between Pb and Pb, and deposits adhering to the part of the inner surface of the chamber and the outer surface of the earth shield 4, which were difficult to plasma clean in the past, can be efficiently removed by etching.
以上の如く、本発明に係るプラズマCVD装置では、C
VD用電極の背面を遮蔽するアースシールドをプラズマ
クリーニング用電極に兼用したことで、チャンバ内にお
けるプラズマ生成領域を大きく変更することが可能とな
り、これに伴いプラズマクリーニングによりチャンバ内
から付着物を効率良くエツチングして除去することがで
きる。As described above, in the plasma CVD apparatus according to the present invention, C
By using the ground shield that shields the back of the VD electrode as the plasma cleaning electrode, it is possible to greatly change the plasma generation area in the chamber, and with this, plasma cleaning can efficiently remove deposits from inside the chamber. It can be removed by etching.
これ故、クリーニング作業の毎にチャンバを大気に解放
しなければならなかった不都合が一挙に解消されるもの
となる。Therefore, the inconvenience of having to open the chamber to the atmosphere every time a cleaning operation is performed can be eliminated at once.
なお、本発明を実施する上で、アースシールドをアース
と絶縁可能に設けるための機構や、高周波電源をアース
シールドとCVD用電極との間で接続切換可能にするた
めの機構については、勿論上記実施例で示したものは一
例に過ぎず、その他適宜構成を採用することができる。In carrying out the present invention, the mechanism for providing the earth shield so that it can be insulated from the earth, and the mechanism for enabling the connection of the high frequency power source to be switched between the earth shield and the CVD electrode will of course be the same as described above. What is shown in the embodiment is merely an example, and other configurations may be adopted as appropriate.
また、本発明を適用するプラズマCVD装置は平行平板
型のものに限らず、アースシールドを有する対向電極形
のもの一般に利用可能である。Further, the plasma CVD apparatus to which the present invention is applied is not limited to the parallel plate type, but can generally be used as a counter electrode type having an earth shield.
[発明の効果]
以上の通り、本発明のプラズマCVD装置ではアースシ
ールドをCV D電極と別異のプラズマ生成領域を形成
するプラズマクリーニング用電極に兼用するものとした
ため、シールド背面のチャンバ内面やシールド外面に付
着した付着物もプラズマクリーニングにより効果的に除
去することができて、クリーニングの都度チャンバ内を
大気に解放しなくともよいのが特徴である。[Effects of the Invention] As described above, in the plasma CVD apparatus of the present invention, since the earth shield is used also as a plasma cleaning electrode that forms a plasma generation area different from the CVD electrode, The feature is that deposits on the outer surface can be effectively removed by plasma cleaning, and the inside of the chamber does not have to be exposed to the atmosphere every time cleaning is performed.
第1図と第2図は本発明の一実施例を示すプラズマCV
D装置の概略断面図であって、第1図はCVD作動状態
を第2図はプラズマクリーニングの作動状態を示してい
る。第3図は従来例を示すプラズマCVD装置の概略断
面図である。FIG. 1 and FIG. 2 show a plasma CV according to an embodiment of the present invention.
FIG. 1 is a schematic sectional view of the device D, in which FIG. 1 shows the CVD operating state and FIG. 2 shows the plasma cleaning operating state. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a conventional plasma CVD apparatus.
Claims (1)
電極とを対向配置してなる対向電極形のプラズマCVD
装置において、前記アースシールドをアースと絶縁可能
に設けるとともに、高周波電源を該アースシールドと前
記電極とに接続切換可能に設けたことを特徴とするプラ
ズマCVD装置。Opposed electrode type plasma CVD in which a substrate and an electrode whose back surface is shielded by an earth shield are placed facing each other in a chamber.
A plasma CVD apparatus, characterized in that the earth shield is provided so as to be insulated from the earth, and a high frequency power source is provided so as to be switchable in connection between the earth shield and the electrode.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13452087A JPH0692636B2 (en) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Plasma CVD equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13452087A JPH0692636B2 (en) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Plasma CVD equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63297568A true JPS63297568A (en) | 1988-12-05 |
JPH0692636B2 JPH0692636B2 (en) | 1994-11-16 |
Family
ID=15130246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13452087A Expired - Lifetime JPH0692636B2 (en) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | Plasma CVD equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0692636B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0770771A (en) * | 1990-02-09 | 1995-03-14 | Applied Materials Inc | How to clean shields in a physical vapor deposition chamber |
EP0676793A3 (en) * | 1994-04-06 | 1998-01-21 | Canon Sales Co., Inc. | Substrate holder and reaction apparatus |
-
1987
- 1987-05-28 JP JP13452087A patent/JPH0692636B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0770771A (en) * | 1990-02-09 | 1995-03-14 | Applied Materials Inc | How to clean shields in a physical vapor deposition chamber |
EP0676793A3 (en) * | 1994-04-06 | 1998-01-21 | Canon Sales Co., Inc. | Substrate holder and reaction apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0692636B2 (en) | 1994-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5449410A (en) | Plasma processing apparatus | |
KR100294064B1 (en) | Shield for an electrostatic chuck | |
TWI611457B (en) | Plasma processing equipment, cleaning system thereof and control method | |
KR970058390A (en) | Chamber Etching Method of Plasma Processing Apparatus and Plasma Processing Apparatus for Implementing the Same | |
CN110660635B (en) | Process chamber and semiconductor processing equipment | |
JPS63297568A (en) | Plasma CVD equipment | |
KR102667901B1 (en) | Ceramic air inlet radio frequency connected cleaning device | |
JPH0822980A (en) | Plasma processing equipment | |
JPH108269A (en) | Dry etching device | |
JPH05125541A (en) | Plasma treating device | |
GB2144669A (en) | Cleaning electrical contacts | |
JPH01140724A (en) | plasma processing equipment | |
JP2554896B2 (en) | Plasma CVD equipment | |
JPH062952B2 (en) | Plasma CVD apparatus and film forming method by plasma CVD | |
JP3324417B2 (en) | Plasma cleaning equipment | |
JPS63119225A (en) | Plasma CVD equipment | |
JPH0258829A (en) | Dry etching apparatus | |
JPH04167425A (en) | Coaxial plasma treatment apparatus | |
JPH05326410A (en) | Plasma treatment apparatus | |
JPH10177993A (en) | Parallel plate narrow electrode type plasma processing equipment | |
JPH0596062U (en) | Plasma processing device | |
JPH0666297B2 (en) | Decompression device and its insulating container | |
KR101086481B1 (en) | Sputter | |
JPS6249626A (en) | Semiconductor manufacturing equipment | |
KR20070025543A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus using plasma having separated upper ring |