JPS63282942A - 光磁気記録用媒体及びその製造方法 - Google Patents
光磁気記録用媒体及びその製造方法Info
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- JPS63282942A JPS63282942A JP11748587A JP11748587A JPS63282942A JP S63282942 A JPS63282942 A JP S63282942A JP 11748587 A JP11748587 A JP 11748587A JP 11748587 A JP11748587 A JP 11748587A JP S63282942 A JPS63282942 A JP S63282942A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は光学的記録媒体における光磁気記録用媒体及び
その製造方法に関するものである。
その製造方法に関するものである。
(従来の技術)
従来、このような分野の技術としては、アイイー イー
イー トランスアクションズ オン マグネティック
ス(IEEE TRANSACTIONS ONMAG
NETIC3) 、HAG −20[5] (1984
−9> (米)国中・長尾・金材[ダイナミック リー
ド/ライト キャラクタリスティックス オブマグネッ
ト・オプティカル TbFeCo アンドDyFeC
o ディスク (DYNAHICRFAI)/WRI
TECtlARACTERISTIC3OF MAGN
ETO−OPTICAL TbFeC。
イー トランスアクションズ オン マグネティック
ス(IEEE TRANSACTIONS ONMAG
NETIC3) 、HAG −20[5] (1984
−9> (米)国中・長尾・金材[ダイナミック リー
ド/ライト キャラクタリスティックス オブマグネッ
ト・オプティカル TbFeCo アンドDyFeC
o ディスク (DYNAHICRFAI)/WRI
TECtlARACTERISTIC3OF MAGN
ETO−OPTICAL TbFeC。
AND DyFeCo DISK) J 、P、103
3−1035に記載されるものがあった。以下、その構
成を図を用いて説明する。
3−1035に記載されるものがあった。以下、その構
成を図を用いて説明する。
第2図は従来の光磁気記録用媒体の一構成例を示す断面
図である。
図である。
この光磁気記録用媒体は、透明の基板1上に保護層2、
光磁気記録層3、及び背面保護層4をスパッタ法等によ
って積層状態に形成しまた構造をしている。
光磁気記録層3、及び背面保護層4をスパッタ法等によ
って積層状態に形成しまた構造をしている。
ここで、光磁気記録層3は希土類−遷移金属非晶質合金
(以下、RE−T)I膜という)で形成されている。R
E−TI−1膜は、具体的にはRFとしてガドリニウム
Gd、テルビウムTb、ジスプロシウムDy等、THと
して鉄FeまたはコバルトCOを主成分としている。
(以下、RE−T)I膜という)で形成されている。R
E−TI−1膜は、具体的にはRFとしてガドリニウム
Gd、テルビウムTb、ジスプロシウムDy等、THと
して鉄FeまたはコバルトCOを主成分としている。
このRE−TH膜は膜面に対して垂直な磁化をもついわ
ゆる垂直磁化膜である。
ゆる垂直磁化膜である。
このようなRE−T)I膜を用いた光磁気記録用媒体の
記録方式では、光を基板1及び保護層2を通して光磁気
記録層3に照射し、その光照射による加熱作用によって
磁性体により構成された光磁気記録層3をキューリ温度
以上に加熱し、その加熱された部分の磁極の向きをその
近傍に発生させた磁界によって反転させることにより、
データの書込みを行い、また光磁気記録層3の磁極の向
きの差による入射光の反射面の回転角の差を利用してデ
ータを言売出すようにしている。
記録方式では、光を基板1及び保護層2を通して光磁気
記録層3に照射し、その光照射による加熱作用によって
磁性体により構成された光磁気記録層3をキューリ温度
以上に加熱し、その加熱された部分の磁極の向きをその
近傍に発生させた磁界によって反転させることにより、
データの書込みを行い、また光磁気記録層3の磁極の向
きの差による入射光の反射面の回転角の差を利用してデ
ータを言売出すようにしている。
この種の光磁気記録用媒体では、1μn1φ程度に絞ら
れたレーザ光及び外部磁界を用いた熱磁気書込み方式に
よって108bit /ctRというきわめて高密度な
記録が可能で、しかも原理的には無限回に近い消去およ
び再書込みができるという非常に優れた特徴を有する。
れたレーザ光及び外部磁界を用いた熱磁気書込み方式に
よって108bit /ctRというきわめて高密度な
記録が可能で、しかも原理的には無限回に近い消去およ
び再書込みができるという非常に優れた特徴を有する。
ところで、光磁気記録層3を形成するRF−T)I膜は
、大きく分けてRE−Fe系とRE−Co系に分類され
る。RE−Fe系は、優れた磁気および光磁気特性を有
し、しかも特性の均一な膜を作成し易い。その反面、耐
食性が悪く、特に孔食の発生、成長が顕著であるという
欠点を有する。一方、RE−Co系は、耐食性の点では
多少優れているが、均一特性の膜が得にくく、またキュ
ーり温度が高いなめに熱磁気書込み特性の点で、RE−
Fe系よりも劣っている。
、大きく分けてRE−Fe系とRE−Co系に分類され
る。RE−Fe系は、優れた磁気および光磁気特性を有
し、しかも特性の均一な膜を作成し易い。その反面、耐
食性が悪く、特に孔食の発生、成長が顕著であるという
欠点を有する。一方、RE−Co系は、耐食性の点では
多少優れているが、均一特性の膜が得にくく、またキュ
ーり温度が高いなめに熱磁気書込み特性の点で、RE−
Fe系よりも劣っている。
さらに、耐食性の点においてRE金金属選択酸化が著し
く保磁化の変化が大きいという欠点を有する。
く保磁化の変化が大きいという欠点を有する。
このように、RE−TH膜は耐食性の点で信頼性に問題
があり、腐食防止の立場から改善か望まれる。
があり、腐食防止の立場から改善か望まれる。
そこで従来は、二酸化ケイ素Si02や酸化ケイ素Si
Oからなる保護層2及び背面保護層4で光磁気記録層3
を被覆して耐食性を向上させるようにしていた。
Oからなる保護層2及び背面保護層4で光磁気記録層3
を被覆して耐食性を向上させるようにしていた。
また、RE−TH膜に共通する欠点として、読出し性能
を決めるカー回転角が小さいという問題かある。これを
解決するために、従来ては光の干渉効果を利用して見か
けのカー回転角を増加させるカー効果エンハンスメント
の機能を保護層2に持たせるようにしていた。すなわち
、酸化ケイ素5iO1窒化アルミニウムA、Q N 、
窒化ケイ素Si3 N4等の透明で屈折率の高い誘電体
を用いて保護層2を形成し、その保護層2に保護膜とし
ての機能及びカー効果エンハンスメントの機能を持たせ
るようにしていた。
を決めるカー回転角が小さいという問題かある。これを
解決するために、従来ては光の干渉効果を利用して見か
けのカー回転角を増加させるカー効果エンハンスメント
の機能を保護層2に持たせるようにしていた。すなわち
、酸化ケイ素5iO1窒化アルミニウムA、Q N 、
窒化ケイ素Si3 N4等の透明で屈折率の高い誘電体
を用いて保護層2を形成し、その保護層2に保護膜とし
ての機能及びカー効果エンハンスメントの機能を持たせ
るようにしていた。
(発明か解決しようとする問題点)
しかしながら、上記構成の光磁気記録用媒体では、5i
02.5iO1A、Q N 、 313 N4等を用い
て保護層2を形成するようにしているので、次のような
問題点があった。
02.5iO1A、Q N 、 313 N4等を用い
て保護層2を形成するようにしているので、次のような
問題点があった。
Si02では屈折率が小さくカー効果エンハンスメント
が得られず、一方AN N 、 Si3 N4では基板
1との密着性が悪いなめに剥離のおそれがあった。また
SiOでは、波長850nm以下の光に対して完全に透
明な膜とするのは困難であり、さらに屈折率の大きい膜
とするには作成上の制約かあるのが実状であり、光学特
性に問題があった。さらに、5i02 、SiO、A、
ON 、 Si3N4等を用いた単一組成で単層の保護
層2を形成した場合、ピンホールを減少させるには限界
があり、それにより保護膜としての機能に劣るという問
題点があった。
が得られず、一方AN N 、 Si3 N4では基板
1との密着性が悪いなめに剥離のおそれがあった。また
SiOでは、波長850nm以下の光に対して完全に透
明な膜とするのは困難であり、さらに屈折率の大きい膜
とするには作成上の制約かあるのが実状であり、光学特
性に問題があった。さらに、5i02 、SiO、A、
ON 、 Si3N4等を用いた単一組成で単層の保護
層2を形成した場合、ピンホールを減少させるには限界
があり、それにより保護膜としての機能に劣るという問
題点があった。
本発明は前記従来技術が持っていた問題点として、基板
と光磁気記録層との間に形成される保護層が、密着性及
びピンホール面で保護膜としての機能に欠けると共に、
光透過性及び屈折率の面でカー効果エンハンスメントの
機能に欠けるという点について解決した光磁気記録用媒
体とその製造方法を提供するものである。
と光磁気記録層との間に形成される保護層が、密着性及
びピンホール面で保護膜としての機能に欠けると共に、
光透過性及び屈折率の面でカー効果エンハンスメントの
機能に欠けるという点について解決した光磁気記録用媒
体とその製造方法を提供するものである。
く問題点を解決するための手段)
前記問題点を解決するために、第1の発明に係る光磁気
記録用媒体では、光透過性の基板上に、下方向から上方
向へ向って基板の屈折率よりも小さい屈折率をもつS
+ 02層、基板の屈折率よりも大きな屈折率をもっS
!3Na層、及び垂直磁化膜からなる光磁気記録層を積
層状態に形成しis槽構造したものである。
記録用媒体では、光透過性の基板上に、下方向から上方
向へ向って基板の屈折率よりも小さい屈折率をもつS
+ 02層、基板の屈折率よりも大きな屈折率をもっS
!3Na層、及び垂直磁化膜からなる光磁気記録層を積
層状態に形成しis槽構造したものである。
また、第2の発明に係る光磁気記録用媒体の製造方法で
は、S1ターゲツトを用いたスパッタ法によりスパッタ
リングガスを変えることによって光透過性の基板上にS
+ 02層及びSi3N4層を連続的に形成し、さら
にそのSi3N4層上に垂直磁化膜からなる光磁気記録
層を形成するようにしたものである。
は、S1ターゲツトを用いたスパッタ法によりスパッタ
リングガスを変えることによって光透過性の基板上にS
+ 02層及びSi3N4層を連続的に形成し、さら
にそのSi3N4層上に垂直磁化膜からなる光磁気記録
層を形成するようにしたものである。
(作用)
第1の発明によれば、以上のように光磁気記録用媒体を
構成したので、S i 02層は基板への密着力を向上
させるように働くと共に、S!3N4層と共働してピン
ホールを減少させるように働く。また、Si3 N4層
は光の干渉効果によりカー回転角を増加させるように働
き、このカー効果エンハンスメントの機能がS i 0
2層によりさらに向上する。
構成したので、S i 02層は基板への密着力を向上
させるように働くと共に、S!3N4層と共働してピン
ホールを減少させるように働く。また、Si3 N4層
は光の干渉効果によりカー回転角を増加させるように働
き、このカー効果エンハンスメントの機能がS i 0
2層によりさらに向上する。
このようにS i 02層及びSi3N4層は、光磁気
記録層に対する強力な保護膜として機能すると共に、高
いカー効果エンハンスメントの効果を発揮する。
記録層に対する強力な保護膜として機能すると共に、高
いカー効果エンハンスメントの効果を発揮する。
従って前記問題点を除去できるのである。
また、第2の発明によれば、以上のように光磁気記録用
媒体の製造方法を構成しなので、スパッタ法によるS
i 02層及びSi3N4層の連続的形成は、製造工程
の作業能率を向上させると共に、S i O2層とSi
3N4層の界面に形成される5iON層がSi3N4層
の密着性を向上させる。従ってこのような製造方法によ
り、保護機能とカー効果エンハンスメントの優れる光磁
気記録用媒体が簡単、かつ的確に得られる。
媒体の製造方法を構成しなので、スパッタ法によるS
i 02層及びSi3N4層の連続的形成は、製造工程
の作業能率を向上させると共に、S i O2層とSi
3N4層の界面に形成される5iON層がSi3N4層
の密着性を向上させる。従ってこのような製造方法によ
り、保護機能とカー効果エンハンスメントの優れる光磁
気記録用媒体が簡単、かつ的確に得られる。
〈実施例)
第1図は本発明の実施例を示す片面形光磁気記録用媒体
の断面図である。
の断面図である。
この光磁気記録用媒体は、透明度か高くかつ光学特性の
良い基板10を有し、その基板10上にはSio2層1
1、Si3 N4層12、光磁気記録層13、及び背面
保護層14が順次積層状態に形成されている。
良い基板10を有し、その基板10上にはSio2層1
1、Si3 N4層12、光磁気記録層13、及び背面
保護層14が順次積層状態に形成されている。
基板10としては、ガラス板、ポリメチルメタアクリレ
ート板〈以下、PHHA板という)、ポリカーボネート
板(以下、PC板という)、エポキシ板等の種々の透明
板が使用できる。これらの透明板は、その屈折率が可視
領域でおよそ1.5〜1.6の値である。本実施例では
、基板10として例えば直径130mmの円板形PC板
を用い、そのPC板には予め平坦箇所のランド部が1.
OJim 、凹部箇所のグループ部が0.6μm、それ
らを合せたピッチが1.6μmのトラック状の溝が形成
されている。基板10上に形成されたSi02層11は
、その基板10に対して密着性が優れており、例えば2
0〜160nm程度の膜厚に形成されている。このSi
02層11の屈折率は、膜の作製条件に依存するが、お
よそ1.3〜146程度の値であり、基板10の屈折率
1.5〜1.6よりも小さい値である。Si02層11
上に形成されたSi3N4層12は、密着性に劣るもの
の、その屈折率が基板10よりも大きくおよそ1.9程
度の値を有しており、例えば80nm程度の膜厚に形成
されている。
ート板〈以下、PHHA板という)、ポリカーボネート
板(以下、PC板という)、エポキシ板等の種々の透明
板が使用できる。これらの透明板は、その屈折率が可視
領域でおよそ1.5〜1.6の値である。本実施例では
、基板10として例えば直径130mmの円板形PC板
を用い、そのPC板には予め平坦箇所のランド部が1.
OJim 、凹部箇所のグループ部が0.6μm、それ
らを合せたピッチが1.6μmのトラック状の溝が形成
されている。基板10上に形成されたSi02層11は
、その基板10に対して密着性が優れており、例えば2
0〜160nm程度の膜厚に形成されている。このSi
02層11の屈折率は、膜の作製条件に依存するが、お
よそ1.3〜146程度の値であり、基板10の屈折率
1.5〜1.6よりも小さい値である。Si02層11
上に形成されたSi3N4層12は、密着性に劣るもの
の、その屈折率が基板10よりも大きくおよそ1.9程
度の値を有しており、例えば80nm程度の膜厚に形成
されている。
Si3N4層12上の光磁気記録層13は、TbFe、
TbCo、Gd Fe、TbFeC0等のRE−T)l
膜である垂直磁化膜、あるいはHnB i系等の他の垂
直磁化膜を用いることができ、本実施例では例えば膜厚
1100n程度のTbFe膜で形成されている。また、
この光磁気記録層13上の背面保護層14は、光磁気記
録層13に対する保護膜としての機能を有するもので、
光学的特性を必要としないなめに、Si3N4膜、セラ
ミック膜、金属膜、ポリマー膜等の種々の膜の単層ある
いは複層構造で形成できる。本実施例では、背面保護層
14が例えば膜厚100nn1程度のSi3Na膜で形
成されている。
TbCo、Gd Fe、TbFeC0等のRE−T)l
膜である垂直磁化膜、あるいはHnB i系等の他の垂
直磁化膜を用いることができ、本実施例では例えば膜厚
1100n程度のTbFe膜で形成されている。また、
この光磁気記録層13上の背面保護層14は、光磁気記
録層13に対する保護膜としての機能を有するもので、
光学的特性を必要としないなめに、Si3N4膜、セラ
ミック膜、金属膜、ポリマー膜等の種々の膜の単層ある
いは複層構造で形成できる。本実施例では、背面保護層
14が例えば膜厚100nn1程度のSi3Na膜で形
成されている。
以上のように構成される光磁気記録用媒体の製造方法の
一例として、マグネトロンスパッタ法を第3図を用いて
説明する。なお、第3図はマグネトロンスパッタ装置の
概略構成図である。
一例として、マグネトロンスパッタ法を第3図を用いて
説明する。なお、第3図はマグネトロンスパッタ装置の
概略構成図である。
このマグネトロンスパッタ装置はターゲットが平板形に
なったプレーナマクネトロン陰極形横遣のものであり、
図示しない真空チャンバ内には陽極となる平板形のター
ゲット20が設置され、そのターゲット20の裏面に円
環状のマグネット21が設けられている。マグネット2
1により、ターゲット20の表面から出てそのターゲッ
ト20に入る磁力線22が形成され、その磁力線22か
ターゲット20の表面を取り巻いている。また、真空チ
ャンバ内においてターゲット20の上方には、陽極とな
るホルダ23が配設され、そのホルダ23に第1図の基
板10が取付けられる。
なったプレーナマクネトロン陰極形横遣のものであり、
図示しない真空チャンバ内には陽極となる平板形のター
ゲット20が設置され、そのターゲット20の裏面に円
環状のマグネット21が設けられている。マグネット2
1により、ターゲット20の表面から出てそのターゲッ
ト20に入る磁力線22が形成され、その磁力線22か
ターゲット20の表面を取り巻いている。また、真空チ
ャンバ内においてターゲット20の上方には、陽極とな
るホルダ23が配設され、そのホルダ23に第1図の基
板10が取付けられる。
このようなマグネトロンスパッタ装置を用いて光磁気記
録用媒体を製造するには、先ず直径130mmの円板形
PC板からなる透明の基板10をホルダ23に取付ける
と共に、S1ターゲツト20を真空チャンバ内にセット
し、酸素を20モル%混合しな酸素−アルゴンガスを真
空チャンバ内に導入してSiターゲット20とホルダ2
3との間に500−の高周波電力を印加する。すると、
Siターゲット20とホルダ23との間に放電が起こり
、磁界と電界が直交する部分では放電によって電離した
電子がマグネトロ= 11− ン運動を行い、高密度のプラズマを発生する。このプラ
ズマはSiターゲット20の表面をスパッタし、そのS
iターゲット20からの微粒子等が基板10の表面に被
着して例えば膜厚20〜160nm程度のS I O2
層11が基板10上に形成される。S i 02層11
の形成後、連続してスパッタリングガスの酸素を減少し
つつ窒素の導入量を増やして最終的に窒素20モル%、
アルゴン80モル%のスパッタリングガスとし、投入電
力600Wで同一のSiターゲツト20をスパッタする
と、例えば膜厚80nm程度のS!3N4層12が層面
2 O2層11上に形成される。ここで、S i 02
層11とS!3N4層12の層面2は5iON層か形成
されている。
録用媒体を製造するには、先ず直径130mmの円板形
PC板からなる透明の基板10をホルダ23に取付ける
と共に、S1ターゲツト20を真空チャンバ内にセット
し、酸素を20モル%混合しな酸素−アルゴンガスを真
空チャンバ内に導入してSiターゲット20とホルダ2
3との間に500−の高周波電力を印加する。すると、
Siターゲット20とホルダ23との間に放電が起こり
、磁界と電界が直交する部分では放電によって電離した
電子がマグネトロ= 11− ン運動を行い、高密度のプラズマを発生する。このプラ
ズマはSiターゲット20の表面をスパッタし、そのS
iターゲット20からの微粒子等が基板10の表面に被
着して例えば膜厚20〜160nm程度のS I O2
層11が基板10上に形成される。S i 02層11
の形成後、連続してスパッタリングガスの酸素を減少し
つつ窒素の導入量を増やして最終的に窒素20モル%、
アルゴン80モル%のスパッタリングガスとし、投入電
力600Wで同一のSiターゲツト20をスパッタする
と、例えば膜厚80nm程度のS!3N4層12が層面
2 O2層11上に形成される。ここで、S i 02
層11とS!3N4層12の層面2は5iON層か形成
されている。
次に、TbFe材からなるターゲット20を再セットし
、アルゴンガスにより投入電力400Wでスパッタすれ
ば、例えば膜厚1100n程度のTbFe膜からなる光
磁気記録層13がSi3N4層12上に形成される。
、アルゴンガスにより投入電力400Wでスパッタすれ
ば、例えば膜厚1100n程度のTbFe膜からなる光
磁気記録層13がSi3N4層12上に形成される。
続いて、Siターゲット20を再セットし、窒素20モ
ル%、アルゴン80モル%のスパッタリングガスにより
投入電力600Wでスパッタすれば、例えば膜厚100
nm程度のS、i3 N4からなる背面保護層14が光
磁気記録層13上に形成される。
ル%、アルゴン80モル%のスパッタリングガスにより
投入電力600Wでスパッタすれば、例えば膜厚100
nm程度のS、i3 N4からなる背面保護層14が光
磁気記録層13上に形成される。
このようにして製造した光磁気記録用媒体における各層
の屈折率は、波長780nmの光に対してPCの基板1
0で1Si、S + 02層11で1.40、S!3N
4層12で層面28であった。また、スパッタリングガ
スがアルゴン、酸素、窒素のときに形成されるS :0
2層11と8:3N4層12との間の5iON層の膜厚
は、およそ2nmであ−っな。
の屈折率は、波長780nmの光に対してPCの基板1
0で1Si、S + 02層11で1.40、S!3N
4層12で層面28であった。また、スパッタリングガ
スがアルゴン、酸素、窒素のときに形成されるS :0
2層11と8:3N4層12との間の5iON層の膜厚
は、およそ2nmであ−っな。
ここで、本実施例の光磁気記録用媒体の特性を検討する
ために、第4図に示すような比較用の光磁気記録用媒体
を作成しな。この第4図の光磁気記録用媒体は、S i
O2層11を形成していないものであり、PCの基板
10上に、第1図のものと同一形成条件下で膜厚80n
mのSi3N4層12を形成し、さらにその上にTbF
e膜からなる光磁気記録層13、及び膜厚1100nの
Si3N4膜からなる背(2)保護層14を形成したも
のである。
ために、第4図に示すような比較用の光磁気記録用媒体
を作成しな。この第4図の光磁気記録用媒体は、S i
O2層11を形成していないものであり、PCの基板
10上に、第1図のものと同一形成条件下で膜厚80n
mのSi3N4層12を形成し、さらにその上にTbF
e膜からなる光磁気記録層13、及び膜厚1100nの
Si3N4膜からなる背(2)保護層14を形成したも
のである。
以上のようにして作製した試料用の光磁気記録用媒体の
構成を表1に示す。
構成を表1に示す。
= 13−
表1
但し、光磁気記録層; TbFe
背面保護層:S!3N4
表1の試料No、 1〜No、6について書込み、読出
し試験を行い、まfS60°C580%S60°C58
0%相対上て基板10側からの反射率及び保磁力の変化
と、顕微鏡による各層の剥離状態を観察した。
し試験を行い、まfS60°C580%S60°C58
0%相対上て基板10側からの反射率及び保磁力の変化
と、顕微鏡による各層の剥離状態を観察した。
書込み、読出し試験は、試料を900rpmで回転し、
外部磁界5000e、読出し用のレーザ光パワー= 1
4− 1.2m−とし、書込み条件は変調周波数IMH7、チ
ューティ比50%、レーザ光パワーを3〜7nlWの範
囲で0.5mWきざみで変化させた。書込み読出しは、
基板10における半径45mmの箇所のランド部で行っ
た。以上の条件で、2次高調波が最低となる記録レーザ
光パワーを最適パワーとしてその時のキャリヤ対ノイズ
値く以下、C/N値という)を求め、表2のような結果
を得た。
外部磁界5000e、読出し用のレーザ光パワー= 1
4− 1.2m−とし、書込み条件は変調周波数IMH7、チ
ューティ比50%、レーザ光パワーを3〜7nlWの範
囲で0.5mWきざみで変化させた。書込み読出しは、
基板10における半径45mmの箇所のランド部で行っ
た。以上の条件で、2次高調波が最低となる記録レーザ
光パワーを最適パワーとしてその時のキャリヤ対ノイズ
値く以下、C/N値という)を求め、表2のような結果
を得た。
表2
表2に示されるように、S i O2層11の光学長く
屈折率×厚さ)が780nmの1/4付近である試料N
o、3.4.5においてC/N値がS i 09層11
のない試料No、 6に比べて大きくなっており、S
i O2層11のエンハンスメント効果が認められる。
屈折率×厚さ)が780nmの1/4付近である試料N
o、3.4.5においてC/N値がS i 09層11
のない試料No、 6に比べて大きくなっており、S
i O2層11のエンハンスメント効果が認められる。
また最適記録パワーも僅かながら減少しているが、これ
も5i02層11のエンハンスメント効果によるもので
ある。試料N011〜No、 6はSi3Na層12が
膜厚80nm形成されており、このSi3N4層12も
工〉・ハンスメントの効果を有している。SiO2層1
1はPCの基板10よりも小さい屈折率を有し、このS
i02層11が基板10とSi3N4層12との間に挿
入されることにより、エンハンスメントの効果が発揮さ
れる。しかも、5i02層11とSi3Na層12は、
同一のSiターゲット20を用いてスパッタリングガス
を変えることにより、簡単に連続成膜が可能であるとい
う利点を有する。
も5i02層11のエンハンスメント効果によるもので
ある。試料N011〜No、 6はSi3Na層12が
膜厚80nm形成されており、このSi3N4層12も
工〉・ハンスメントの効果を有している。SiO2層1
1はPCの基板10よりも小さい屈折率を有し、このS
i02層11が基板10とSi3N4層12との間に挿
入されることにより、エンハンスメントの効果が発揮さ
れる。しかも、5i02層11とSi3Na層12は、
同一のSiターゲット20を用いてスパッタリングガス
を変えることにより、簡単に連続成膜が可能であるとい
う利点を有する。
試料No、 1〜No、 6を60℃、80%の相対湿
度雰囲気に2000時間保持後の波長780叩に対する
反射率と保磁力を測定し、保持前のものと比較した値を
表3に示す。
度雰囲気に2000時間保持後の波長780叩に対する
反射率と保磁力を測定し、保持前のものと比較した値を
表3に示す。
表3
また、顕微鏡による観察では、試料No、6においてひ
び割れ状の剥離が光磁気記録用媒体面に認められたか、
Si02層11を設けた試料No、 1〜・No、 5
では剥離が認められなかった。表3に示す反射率と保磁
力の変化は、光磁気記録層13の酸素や水分による劣化
と、ひび割れ状態の剥離を反映したものである。表3か
ら明らかなように、5i02層11を設けることにより
、反射率及び保磁力ともにその変化か小さくなっている
。
び割れ状の剥離が光磁気記録用媒体面に認められたか、
Si02層11を設けた試料No、 1〜・No、 5
では剥離が認められなかった。表3に示す反射率と保磁
力の変化は、光磁気記録層13の酸素や水分による劣化
と、ひび割れ状態の剥離を反映したものである。表3か
ら明らかなように、5i02層11を設けることにより
、反射率及び保磁力ともにその変化か小さくなっている
。
以上のように、Si02層11を設けることにより、酸
素や水分に対する遮蔽効果か大きくなると共に、313
N4層12の応力緩和、基板10への密着性の向上によ
り、剥離を抑えることが可能となる。また、S1ターゲ
ツト20を用いてスパッタリングガスを変えることによ
り、簡単に基板10/5i02層11/Si3N4層1
2/光磁気記録層13/背面保護層14という構造の光
磁気記録用媒体が製造でき、しかもその製造結果物にお
けるカー効果エンハスメントの機能が増大し、さらに光
磁気記録用媒体の耐久性も著しく向上する。
素や水分に対する遮蔽効果か大きくなると共に、313
N4層12の応力緩和、基板10への密着性の向上によ
り、剥離を抑えることが可能となる。また、S1ターゲ
ツト20を用いてスパッタリングガスを変えることによ
り、簡単に基板10/5i02層11/Si3N4層1
2/光磁気記録層13/背面保護層14という構造の光
磁気記録用媒体が製造でき、しかもその製造結果物にお
けるカー効果エンハスメントの機能が増大し、さらに光
磁気記録用媒体の耐久性も著しく向上する。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(a)背面保護層14はカー効果工〉・ハ〉・スメント
機能を持たせる必要がないなめ、前述したようにSi3
N4膜、セラミック膜等の種々の材料で形成できる。上
記実施例ではSi3Na膜の単層で形成した例が示され
ているが、これに代えて、例えばSiターゲットを用い
てスバ・・/タリングガスを変えることにより、Si3
N4層及びS i 02層を連続的に形成して2層構造
とし、保護機能を増大させることも可能である。
機能を持たせる必要がないなめ、前述したようにSi3
N4膜、セラミック膜等の種々の材料で形成できる。上
記実施例ではSi3Na膜の単層で形成した例が示され
ているが、これに代えて、例えばSiターゲットを用い
てスバ・・/タリングガスを変えることにより、Si3
N4層及びS i 02層を連続的に形成して2層構造
とし、保護機能を増大させることも可能である。
(b)第1図の片面型光磁気記録用媒体において、光磁
気記録層13と背面保護層14との間に誘電体層を設け
たり、あるいは第1図の背面保護層14に代えて、光磁
気記録層13の上に保護層、光磁気記録層、Si0 層
、Si3 N4層、及び透明の基板を順成績層状態に形
成して両面型の光磁気記録用媒体にする等、種々の変形
が可能である。
気記録層13と背面保護層14との間に誘電体層を設け
たり、あるいは第1図の背面保護層14に代えて、光磁
気記録層13の上に保護層、光磁気記録層、Si0 層
、Si3 N4層、及び透明の基板を順成績層状態に形
成して両面型の光磁気記録用媒体にする等、種々の変形
が可能である。
(C)製造方法において、マグネトロンスパッタ法以外
のスパッタ法を用いることも可能である。
のスパッタ法を用いることも可能である。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明によれば、基板と光
磁気記録層の間に、Siターゲットを用いて密着性に優
れかつ基板の屈折率よりも小さい屈折率をもつSi02
層と、基板の屈折率よりも大きな屈折率をもつS!3N
4層を形成したもので、密着性の向上により剥離等が防
止でき、その上、2層構造のなめにピンホールが減少し
て水分や酸素等の浸入による光磁気記録層の腐食が防止
できる。
磁気記録層の間に、Siターゲットを用いて密着性に優
れかつ基板の屈折率よりも小さい屈折率をもつSi02
層と、基板の屈折率よりも大きな屈折率をもつS!3N
4層を形成したもので、密着性の向上により剥離等が防
止でき、その上、2層構造のなめにピンホールが減少し
て水分や酸素等の浸入による光磁気記録層の腐食が防止
できる。
さらに、Si3N4層は光の干渉効果によってカー回転
角を増加させるが、そのSi3N4層と基板との間に設
けられたSiO2層がカー効果エンハンスメントの機能
をより向上させる。また、Siターゲットを用いてスパ
ッタリングガスを変えることにより、Si02層及びS
i3N4層を連続的に形成する製造方法であるため、製
造効率がよく、しかもSiO層とSi3’N4層の界面
に5iON層が形成されるなめに密着性がさらに向上し
、信頼性及び耐久性の高い光磁気記録用媒体が得られる
。
角を増加させるが、そのSi3N4層と基板との間に設
けられたSiO2層がカー効果エンハンスメントの機能
をより向上させる。また、Siターゲットを用いてスパ
ッタリングガスを変えることにより、Si02層及びS
i3N4層を連続的に形成する製造方法であるため、製
造効率がよく、しかもSiO層とSi3’N4層の界面
に5iON層が形成されるなめに密着性がさらに向上し
、信頼性及び耐久性の高い光磁気記録用媒体が得られる
。
第1図は本発明の実施例を示す光磁気記録用媒体の断面
図、第2図は従来の光磁気記録用媒体の断面図、第3図
は本発明の実施例に係るマグネトロンスパッタ装置の概
略構成図、第4図は比較用の光磁気記録用媒体の断面図
である。 10・・・・・・基板、11・・・・・・Si02層、
12・・・・・・Si3N4層、13・・・・・・光磁
気記録層、14・・・・・・背面保護層、20・・・・
・・ターゲット、21・・・・・・マグネット、22・
・・・・・磁力線、23・・・・・・ホルダ。 第1菌 第2図
図、第2図は従来の光磁気記録用媒体の断面図、第3図
は本発明の実施例に係るマグネトロンスパッタ装置の概
略構成図、第4図は比較用の光磁気記録用媒体の断面図
である。 10・・・・・・基板、11・・・・・・Si02層、
12・・・・・・Si3N4層、13・・・・・・光磁
気記録層、14・・・・・・背面保護層、20・・・・
・・ターゲット、21・・・・・・マグネット、22・
・・・・・磁力線、23・・・・・・ホルダ。 第1菌 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光透過性の基板上に、基板の屈折率よりも小さい屈
折率をもつSiO_2層、基板の屈折率よりも大きな屈
折率をもつSi_3N_4層、及び垂直磁化膜からなる
光磁気記録層を順に積層して形成した光磁気記録用媒体
。 2、Siターゲットを用いたスパッタ法によりスパッタ
リングガスを変えることによって光透過性の基板上に、
SiO_2層及びSi_3N_4層を連続的に形成し、
さらにそのSi_3N_4層上に垂直磁化膜からなる光
磁気記録層を形成することを特徴とする光磁気記録用媒
体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11748587A JPS63282942A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | 光磁気記録用媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11748587A JPS63282942A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | 光磁気記録用媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63282942A true JPS63282942A (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=14712877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11748587A Pending JPS63282942A (ja) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | 光磁気記録用媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63282942A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6417238A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-20 | Hitachi Ltd | Magneto-optical multi-layered film medium |
JPH03147542A (ja) * | 1989-11-01 | 1991-06-24 | Nec Corp | 光磁気記録媒体の製造方法 |
CN104120398A (zh) * | 2014-08-11 | 2014-10-29 | 中国建材国际工程集团有限公司 | 消影玻璃中折射率匹配层的连续沉积方法 |
-
1987
- 1987-05-14 JP JP11748587A patent/JPS63282942A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6417238A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-20 | Hitachi Ltd | Magneto-optical multi-layered film medium |
JPH03147542A (ja) * | 1989-11-01 | 1991-06-24 | Nec Corp | 光磁気記録媒体の製造方法 |
CN104120398A (zh) * | 2014-08-11 | 2014-10-29 | 中国建材国际工程集团有限公司 | 消影玻璃中折射率匹配层的连续沉积方法 |
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