JPS63257179A - セラミック金属ハロゲン化物高圧放電ランプ - Google Patents
セラミック金属ハロゲン化物高圧放電ランプInfo
- Publication number
- JPS63257179A JPS63257179A JP63074854A JP7485488A JPS63257179A JP S63257179 A JPS63257179 A JP S63257179A JP 63074854 A JP63074854 A JP 63074854A JP 7485488 A JP7485488 A JP 7485488A JP S63257179 A JPS63257179 A JP S63257179A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal halide
- discharge lamp
- high pressure
- arc tube
- pressure discharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/82—Lamps with high-pressure unconstricted discharge having a cold pressure > 400 Torr
- H01J61/827—Metal halide arc lamps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/30—Vessels; Containers
Landscapes
- Vessels And Coating Films For Discharge Lamps (AREA)
- Discharge Lamps And Accessories Thereof (AREA)
- Discharge Lamp (AREA)
- Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高圧セラミック金属ハロゲン化物(CMH)放
電ランプに関する。さらに詳細には、本発明は商業的に
受容しうるCMH放電ランプ、すなわち透光性のセラミ
ック材料の放電アーク・チューブ内に気密封入された適
当な金属ハロゲン化物蒸気を具備し、80〜130ボル
トのランプ電圧降下でもって動作するようになされた放
電ランプに関する。この範囲の電圧降下の場合には、ラ
ンプは標準的なワイヤ巻装チョーク・バラストまたは直
列コンデンサ回路のような市販されている始動回路を用
いて標準的な220〜240V電源から電力を供給され
る。さらに、商業的に受容しうるためには、ランプは水
平モードで動作しうることが好ましい。
電ランプに関する。さらに詳細には、本発明は商業的に
受容しうるCMH放電ランプ、すなわち透光性のセラミ
ック材料の放電アーク・チューブ内に気密封入された適
当な金属ハロゲン化物蒸気を具備し、80〜130ボル
トのランプ電圧降下でもって動作するようになされた放
電ランプに関する。この範囲の電圧降下の場合には、ラ
ンプは標準的なワイヤ巻装チョーク・バラストまたは直
列コンデンサ回路のような市販されている始動回路を用
いて標準的な220〜240V電源から電力を供給され
る。さらに、商業的に受容しうるためには、ランプは水
平モードで動作しうることが好ましい。
CM Hランプは、1981年8月9日IES会議で発
表されたブラウン他による「セラミック・エンベロープ
内のハロゲン化すすナトリウム・ランプ」という表題を
論文に提案されている(以下それをTSHランプと呼ぶ
)。このランプは効率を最適化することにより発展され
たが、200〜240Vのランプ電圧を必要とする変圧
器バラストを用いて動作するように設計されているので
、動作上の観点から不便であることがわかった。このこ
とは、このランプが一般的に商業上の用途に供される妨
げとなるであろう、さらに、従来のシール技術の限界の
ために、TSHランプの端シールは約600℃の温度を
保持し、そのランプの実効クール・スポット温度は約7
00℃よりも高(なかつた、実際には、700℃より幾
分高い実効クール・スポット温度が望ましかった。
表されたブラウン他による「セラミック・エンベロープ
内のハロゲン化すすナトリウム・ランプ」という表題を
論文に提案されている(以下それをTSHランプと呼ぶ
)。このランプは効率を最適化することにより発展され
たが、200〜240Vのランプ電圧を必要とする変圧
器バラストを用いて動作するように設計されているので
、動作上の観点から不便であることがわかった。このこ
とは、このランプが一般的に商業上の用途に供される妨
げとなるであろう、さらに、従来のシール技術の限界の
ために、TSHランプの端シールは約600℃の温度を
保持し、そのランプの実効クール・スポット温度は約7
00℃よりも高(なかつた、実際には、700℃より幾
分高い実効クール・スポット温度が望ましかった。
本明細書においてそのように呼ばれている実効クール・
スポット温度(effective cool 5po
tte+5pera ture)は、通常の動作時に得
られるランプ・スペクトラムを、ランプ・アーク・チュ
ーブの一端が溶融インジウムの浴中で異なるテスト温度
に維持されている場合に得られるスペクトルと比較する
ことによって測定される。実効クール・スボッHIA度
はスペクトルの最も密接な整合を与える温度であると考
えられる。
スポット温度(effective cool 5po
tte+5pera ture)は、通常の動作時に得
られるランプ・スペクトラムを、ランプ・アーク・チュ
ーブの一端が溶融インジウムの浴中で異なるテスト温度
に維持されている場合に得られるスペクトルと比較する
ことによって測定される。実効クール・スボッHIA度
はスペクトルの最も密接な整合を与える温度であると考
えられる。
実験用のセラミック金属ハロゲン化物ランプについての
研究結果が、1985年3月、日本で開催された1、E
、S/会議で発表されたイヮサキ・エレクトリック・カ
ンパニのエム・キタガワ、ニス・ヤマザキおよびケイ・
タバッによる「セラミック金属ハロゲン化物ランプの新
規な構造およびその特性」という論文に報告されている
。この実験用ランプの電気的特性についての詳細は記載
されていないが、それらの実験用ランプは、分析される
前に150Wの入力のもとて1000時間だけの寿命試
験を行われた。この報告によれば、800℃と900℃
の間の温度で動作した場合のランプの端部に対する損傷
が非常に大きかったということである。
研究結果が、1985年3月、日本で開催された1、E
、S/会議で発表されたイヮサキ・エレクトリック・カ
ンパニのエム・キタガワ、ニス・ヤマザキおよびケイ・
タバッによる「セラミック金属ハロゲン化物ランプの新
規な構造およびその特性」という論文に報告されている
。この実験用ランプの電気的特性についての詳細は記載
されていないが、それらの実験用ランプは、分析される
前に150Wの入力のもとて1000時間だけの寿命試
験を行われた。この報告によれば、800℃と900℃
の間の温度で動作した場合のランプの端部に対する損傷
が非常に大きかったということである。
従って、本発明は上述した問題点のうちの少なくとも幾
つかを除去する改良されたセラミ、り金属ハロゲン化物
ランプを提供することである。
つかを除去する改良されたセラミ、り金属ハロゲン化物
ランプを提供することである。
本発明によれば、1000℃までのシール動作温度で動
作するようになされた放電ランプであって、 透光性セラミック材料で作成されていて、金属ハロゲン
化物添加物と、水銀と、始動のための稀ガスよりなる充
填材の入ったアーク・チューブと、前記アーク・チュー
ブの各端を気密シールしておりかつ各放電電極を支持し
て、いる端蓋部材を具備しており、 前記放電電極を分離しているアーク・ギャップが10鶴
よりも大きくなく、かつ前記アーク・チューブに対する
壁負荷が少なくとも50WQl−”であるようになされ
ていることを特徴とするセラミック金属ハロゲン化物高
圧放電ランプが提供される。
作するようになされた放電ランプであって、 透光性セラミック材料で作成されていて、金属ハロゲン
化物添加物と、水銀と、始動のための稀ガスよりなる充
填材の入ったアーク・チューブと、前記アーク・チュー
ブの各端を気密シールしておりかつ各放電電極を支持し
て、いる端蓋部材を具備しており、 前記放電電極を分離しているアーク・ギャップが10鶴
よりも大きくなく、かつ前記アーク・チューブに対する
壁負荷が少なくとも50WQl−”であるようになされ
ていることを特徴とするセラミック金属ハロゲン化物高
圧放電ランプが提供される。
壁負荷は、ランプ入力電力と、アーク・ギャップを取り
囲んだアーク・チューブの部分の内部表面積との比とし
て定義される。円筒状のアーク・チューブの場合には、
適当な内部表面積は、アーク・チューブの内周にアーク
・ギャップを掛けたものとして評価される。
囲んだアーク・チューブの部分の内部表面積との比とし
て定義される。円筒状のアーク・チューブの場合には、
適当な内部表面積は、アーク・チューブの内周にアーク
・ギャップを掛けたものとして評価される。
前述のように、商業的に受容しうるセラミック金属ハロ
ゲン化物ランプの主たる要件は、電圧降下が80ボルト
と130ボルトとの間にあることである。水銀圧が高効
率(例えば70ルーメン/W−100ルーメン/W)の
ために固定されているとすると、所望の電圧降下はアー
ク・ギャップ値の11当りの所要ワット数を与え、これ
がアーク・チューブの所定直径に対する壁負荷を決定す
る。
ゲン化物ランプの主たる要件は、電圧降下が80ボルト
と130ボルトとの間にあることである。水銀圧が高効
率(例えば70ルーメン/W−100ルーメン/W)の
ために固定されているとすると、所望の電圧降下はアー
ク・ギャップ値の11当りの所要ワット数を与え、これ
がアーク・チューブの所定直径に対する壁負荷を決定す
る。
上述したブラウン他およびキタガワ他の論文には、それ
ぞれ40Wam−”および37WC11−”の最大壁負
荷を有するCMHランプについて記述されている0本発
明者等は、予期に反して、セラミック・アーク・チュー
ブはそれらの値よりもはるかに大きい、すなわち50W
cm−”よりも大きい、典型的には80 Was−ff
i〜160 Wc5−”の範囲の壁負萄で十分に動作で
きることを見出した。90Wcff+−2〜100 W
cm−”の範囲の壁負荷が好ましく、約90Wc「”の
壁負荷が特に満足しうるちのであることが認められた。
ぞれ40Wam−”および37WC11−”の最大壁負
荷を有するCMHランプについて記述されている0本発
明者等は、予期に反して、セラミック・アーク・チュー
ブはそれらの値よりもはるかに大きい、すなわち50W
cm−”よりも大きい、典型的には80 Was−ff
i〜160 Wc5−”の範囲の壁負萄で十分に動作で
きることを見出した。90Wcff+−2〜100 W
cm−”の範囲の壁負荷が好ましく、約90Wc「”の
壁負荷が特に満足しうるちのであることが認められた。
壁負荷が大きいと、前述した所望の電圧降下(すなわち
8QV〜13QV)に適合した比較的小さいアーク・ギ
ャップを用いることができることを本発明等は認めた。
8QV〜13QV)に適合した比較的小さいアーク・ギ
ャップを用いることができることを本発明等は認めた。
アーク・ギャップは10龍より大きくなくかつ好ましく
は5msより小さくない大きさであるべきであることを
本発明等は認めた。1つの実施例では、7.3uのアー
ク・ギャップが用いられた。
は5msより小さくない大きさであるべきであることを
本発明等は認めた。1つの実施例では、7.3uのアー
ク・ギャップが用いられた。
さらに、TSHランプは約2.2のアスペクト比(as
pect ratio)を有しているが、本発明による
ランプはそれよりもはるかに小さい、典型的には0.7
〜1.4の範囲の縦横比を有しうる。ここで、アスペク
ト比はアーク・ギャップと、アーク・チューブの内径の
比として定義される。本発明ではこのような低いアスペ
クト比を実現できるので、放電アークの屈曲(bowi
ng)によるアーク・チューブ壁に対する損傷を軽減し
、チューブを水平モードで使用できる。また、このよう
にアスペクト比を小さくしたことにより、アーク・チュ
ーブの壁温度が高くなり、かつ前述のように一般的に望
ましいより高い実効クール・スポット温度が得られる。
pect ratio)を有しているが、本発明による
ランプはそれよりもはるかに小さい、典型的には0.7
〜1.4の範囲の縦横比を有しうる。ここで、アスペク
ト比はアーク・ギャップと、アーク・チューブの内径の
比として定義される。本発明ではこのような低いアスペ
クト比を実現できるので、放電アークの屈曲(bowi
ng)によるアーク・チューブ壁に対する損傷を軽減し
、チューブを水平モードで使用できる。また、このよう
にアスペクト比を小さくしたことにより、アーク・チュ
ーブの壁温度が高くなり、かつ前述のように一般的に望
ましいより高い実効クール・スポット温度が得られる。
本発明による構成では、少なくとも700℃から100
0℃までのシール動作温度が予測されている。TSHラ
ンプについてブラウン他によって報告されたシール動作
温度よりも少なくとも100℃だけ高くなっていること
により、TSHランプに用いられているすすとナトリウ
ムのより過激な添加物(dose)に代えて、インジウ
ム、クリラムおよびナトリウムよりなる侵食性がより小
さく、揮発性がより低い添加物(dose)を用いるこ
とができる。
0℃までのシール動作温度が予測されている。TSHラ
ンプについてブラウン他によって報告されたシール動作
温度よりも少なくとも100℃だけ高くなっていること
により、TSHランプに用いられているすすとナトリウ
ムのより過激な添加物(dose)に代えて、インジウ
ム、クリラムおよびナトリウムよりなる侵食性がより小
さく、揮発性がより低い添加物(dose)を用いるこ
とができる。
以下図面を参照して采発明の実施例について説明しよう
。
。
第1図を参照すると、多結晶アルミナ・アーク・チュー
ブ10を具備した公知のTSHランプが示されており、
これは全長が約40.4nで、かつ約16.4nのアー
ク・ギャップを有する。始動のためにナトリウム・ハロ
ゲン化物に水銀と稀ガスを加えた金属ハロゲン化物添加
物が導電性のサーメット端蓋部材11によってセラミッ
ク・アーク・チューブ10内に気密封入されている。サ
ーメット端蓋部材11はアーク・チューブの端部12を
ほとんど完全に被っているように示されており、かつ金
属ハロゲン化物に対して耐性を有する適当なシール材料
13によってアーク・チューブに封着(シール)されて
いる。
ブ10を具備した公知のTSHランプが示されており、
これは全長が約40.4nで、かつ約16.4nのアー
ク・ギャップを有する。始動のためにナトリウム・ハロ
ゲン化物に水銀と稀ガスを加えた金属ハロゲン化物添加
物が導電性のサーメット端蓋部材11によってセラミッ
ク・アーク・チューブ10内に気密封入されている。サ
ーメット端蓋部材11はアーク・チューブの端部12を
ほとんど完全に被っているように示されており、かつ金
属ハロゲン化物に対して耐性を有する適当なシール材料
13によってアーク・チューブに封着(シール)されて
いる。
第2図は本発明によるCMI(ランプの1つの実施例を
示している。第1図のランプとは対照的に、多結晶アル
ミナで作成されたアーク・チューブ14は長さがはるか
に短く、すなわち全長が27.8鰭であり、かつアーク
・ギャップがわずかに7.3nというように小さい、入
力電力が150Wで、アーク・チューブの内径が7.3
5■識である場合には、壁負荷は約90W/am”であ
り、かつこのように減寸されたアーク・ギャップでは、
所要の電圧降下を80−130ボルトにすることができ
る。
示している。第1図のランプとは対照的に、多結晶アル
ミナで作成されたアーク・チューブ14は長さがはるか
に短く、すなわち全長が27.8鰭であり、かつアーク
・ギャップがわずかに7.3nというように小さい、入
力電力が150Wで、アーク・チューブの内径が7.3
5■識である場合には、壁負荷は約90W/am”であ
り、かつこのように減寸されたアーク・ギャップでは、
所要の電圧降下を80−130ボルトにすることができ
る。
アーク・チューブ14は、金属ハロゲン化物に対して耐
性を有する溶融した適当なシール材(図示はせず)によ
ってそれの端部に封着(シール)された導電性のサーメ
ット端蓋部材15によって気密的にシールされており、
この場合、前記シール材はサーメット部材15とアーク
・チューブ14の両面間をシールする。数字16で示さ
れているように約7關の間隔を保持しかつアーク・チュ
ーブの内径を7.35gmとした第2図の実施例では、
実効アスペクト比が約1である。この構成によれば、ラ
ンプは770℃という高いシール温度で動作することが
できる。動作温度が高いと、すす、ナトリウム・ハロゲ
ン化物よりなる過激な添加物に代えて、ナトリウム、タ
リウムおよびインジウムよりなるそれより過激でない添
加物を用いることができ、これにより電極の腐食が軽減
されかつ動作寿命が伸びることになる。さらに、図示さ
れた幾何学的形状によれば、放電アークの屈曲(bow
ing)が大幅に軽減されるか除去され、ランプを水平
状態で用いることができる。このことはランプの商業的
価値を実質的に高める。
性を有する溶融した適当なシール材(図示はせず)によ
ってそれの端部に封着(シール)された導電性のサーメ
ット端蓋部材15によって気密的にシールされており、
この場合、前記シール材はサーメット部材15とアーク
・チューブ14の両面間をシールする。数字16で示さ
れているように約7關の間隔を保持しかつアーク・チュ
ーブの内径を7.35gmとした第2図の実施例では、
実効アスペクト比が約1である。この構成によれば、ラ
ンプは770℃という高いシール温度で動作することが
できる。動作温度が高いと、すす、ナトリウム・ハロゲ
ン化物よりなる過激な添加物に代えて、ナトリウム、タ
リウムおよびインジウムよりなるそれより過激でない添
加物を用いることができ、これにより電極の腐食が軽減
されかつ動作寿命が伸びることになる。さらに、図示さ
れた幾何学的形状によれば、放電アークの屈曲(bow
ing)が大幅に軽減されるか除去され、ランプを水平
状態で用いることができる。このことはランプの商業的
価値を実質的に高める。
さらに、本発明のこの構成によれば比較的高いシール温
度(従って実効クール・スボッ1度)が得られる力5、
これにより主要なスペクトル線、すなわちナトリウム、
インジウムおよびタリウム・ハロゲン化物によってそれ
ぞれ発生される589nm、535nmおよび451n
mにおけるスペクトル線が大きくかつ有益な程度に拡げ
られることになる。さらに、原因は完全には理解されて
いない実質的なコンチニウム(continium)が
ランプによって発生される可視光の30%を占め、これ
がこの実施例において80という優れたカラー・レンダ
リング・インデックス(Ra)の発生に寄′与する。
度(従って実効クール・スボッ1度)が得られる力5、
これにより主要なスペクトル線、すなわちナトリウム、
インジウムおよびタリウム・ハロゲン化物によってそれ
ぞれ発生される589nm、535nmおよび451n
mにおけるスペクトル線が大きくかつ有益な程度に拡げ
られることになる。さらに、原因は完全には理解されて
いない実質的なコンチニウム(continium)が
ランプによって発生される可視光の30%を占め、これ
がこの実施例において80という優れたカラー・レンダ
リング・インデックス(Ra)の発生に寄′与する。
サーメット端部材の高いエミツタンス
(ext ttance)に基因する放射による端損失
を減少させるために、端部材15はTSHランプに用い
られているサーメット端蓋に比較してはるかに小さい寸
法を有している。第2図の実施例では、サーメット端部
材15は直径が3,8mmであり、かつアーク・チュー
ブの端面積の50%以上を被りているにすぎず、端部材
IIの@蓋がアーク・チューブ10の端面積の実質的に
全体を被っている第1図に示されたTSHランプに用い
られたサーメット端蓋に比較して寸法が大幅に減少され
ている。
を減少させるために、端部材15はTSHランプに用い
られているサーメット端蓋に比較してはるかに小さい寸
法を有している。第2図の実施例では、サーメット端部
材15は直径が3,8mmであり、かつアーク・チュー
ブの端面積の50%以上を被りているにすぎず、端部材
IIの@蓋がアーク・チューブ10の端面積の実質的に
全体を被っている第1図に示されたTSHランプに用い
られたサーメット端蓋に比較して寸法が大幅に減少され
ている。
シール材料はそれの熔融温度、すなわち1500〜16
00℃の温度に加熱されなければならないので、この溶
融温度を得るために大幅に減寸された寸法のサーメット
端部材を介して与えられなければならない大量の熱は、
添加物の蒸発を防止するためにたとえ極端に短いシール
時間が必要であるにしてもアーク・チューブ14の亀裂
を生じることはない。
00℃の温度に加熱されなければならないので、この溶
融温度を得るために大幅に減寸された寸法のサーメット
端部材を介して与えられなければならない大量の熱は、
添加物の蒸発を防止するためにたとえ極端に短いシール
時間が必要であるにしてもアーク・チューブ14の亀裂
を生じることはない。
第3図は本発明による1 00WCMHランプを示して
いる。多結晶アルミナ・アーク・チューブI7の全長が
21.3inまで減寸されたが、アーク・ギャップは7
.3fiに維持されている。バンクスペース18は、端
部の動作温度が若干高(、すなわち850℃となるよう
に若干短縮された。第2図の実施例と同様に、導電性サ
ーメット端部材19の直径は第1図のTSHランプの端
蓋11の直径の約25%である。図示の幾何学膨軟では
、壁負荷は約6QW/+IJ”である。
いる。多結晶アルミナ・アーク・チューブI7の全長が
21.3inまで減寸されたが、アーク・ギャップは7
.3fiに維持されている。バンクスペース18は、端
部の動作温度が若干高(、すなわち850℃となるよう
に若干短縮された。第2図の実施例と同様に、導電性サ
ーメット端部材19の直径は第1図のTSHランプの端
蓋11の直径の約25%である。図示の幾何学膨軟では
、壁負荷は約6QW/+IJ”である。
第1表は前述したTSHランプと本発明によるCMHラ
ンプの5つの実施例の比較を示している。
ンプの5つの実施例の比較を示している。
工旦旦
実施例 l
アーク長 (龍) 16
7.3チユーフ゛穴(曹富) 7
,34 7.34全 長 (u)
40 、 27.8電力入
力 (W) tgo 1
50壁負荷(Wcs−”) 40
88配 向 垂直 垂直 離クール・スポット憇(℃) 700
875電圧降下(V)
200−240 90ルー) y
(1m) 14000 120
0G効率(1m/w)938゜ CCT (K) 3800 4000R
a 70 80 t’jjJ勘(dose) 0.9 mg Na
C16,2mg Na 18.9 mg Hgz C
h 1.3 mg TI Br5.7 mg Hg
It O;4 mg Hg r。
7.3チユーフ゛穴(曹富) 7
,34 7.34全 長 (u)
40 、 27.8電力入
力 (W) tgo 1
50壁負荷(Wcs−”) 40
88配 向 垂直 垂直 離クール・スポット憇(℃) 700
875電圧降下(V)
200−240 90ルー) y
(1m) 14000 120
0G効率(1m/w)938゜ CCT (K) 3800 4000R
a 70 80 t’jjJ勘(dose) 0.9 mg Na
C16,2mg Na 18.9 mg Hgz C
h 1.3 mg TI Br5.7 mg Hg
It O;4 mg Hg r。
7.3 mg Sn O,2mg In29 mg
Hg 20 mg Hg1−一上一一1 本−1−房 娼捌2 カM3 娼鞭14 刀桝5
7.3 7.3 5.9
9.07.34 7.34
、llj、1 8.121.3
27.8 27.0
29垂直 水平 水平 水平600
0 10800 11550 ’
217064.5 mg Na +
6.2 mg’Na 1 6.2 mg
Na 1 6.2 mg Na
10.5 mgTI Br 1.3mgTl Br
1.3 mgTI Br 1.3 mgTI Br
0.30mgHg It 0.4mgHg
It 0.4 mgHg It
0.4 mgHg 1m0.15mg In
0.2mg In 0.2 mg In
0.2 mg In12 mgHg 20 mgH
g 27 mgHg 27 mgHg揮発性の
高い金属ハロゲン化物添加物を用いればセラミック・ア
ーク・チューブの端部をシールするに当り問題を生じ、
かつ約700℃においておよび1000℃まで動作する
ためのセラミック金属ハロゲン化物ランプに対する満足
しうるシールを提供するために、完成したシールは約1
300℃より低くない軟化温度を有していなければなら
ない、満足しうるシールを得るための1つの方法がヨー
ロッパ特許出願第86306645.2号に開示されて
おり、そこにはMgO,Altos、5iO1でガラス
質シールすなわちシニル組成を形成し、次にそれを高い
耐熱性を存する結晶性シールに変換することによって添
加物(dose)を有するアーク・チューブを迅速に形
成する方法が開示されている。この方法が成功したのは
おそらく完全なシール工程が実施される速度に全面に依
存しているであろう、この場合、約60秒w1続したシ
ール工程が特に有益であることが認められた。
Hg 20 mg Hg1−一上一一1 本−1−房 娼捌2 カM3 娼鞭14 刀桝5
7.3 7.3 5.9
9.07.34 7.34
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Na 1 6.2 mg Na
10.5 mgTI Br 1.3mgTl Br
1.3 mgTI Br 1.3 mgTI Br
0.30mgHg It 0.4mgHg
It 0.4 mgHg It
0.4 mgHg 1m0.15mg In
0.2mg In 0.2 mg In
0.2 mg In12 mgHg 20 mgH
g 27 mgHg 27 mgHg揮発性の
高い金属ハロゲン化物添加物を用いればセラミック・ア
ーク・チューブの端部をシールするに当り問題を生じ、
かつ約700℃においておよび1000℃まで動作する
ためのセラミック金属ハロゲン化物ランプに対する満足
しうるシールを提供するために、完成したシールは約1
300℃より低くない軟化温度を有していなければなら
ない、満足しうるシールを得るための1つの方法がヨー
ロッパ特許出願第86306645.2号に開示されて
おり、そこにはMgO,Altos、5iO1でガラス
質シールすなわちシニル組成を形成し、次にそれを高い
耐熱性を存する結晶性シールに変換することによって添
加物(dose)を有するアーク・チューブを迅速に形
成する方法が開示されている。この方法が成功したのは
おそらく完全なシール工程が実施される速度に全面に依
存しているであろう、この場合、約60秒w1続したシ
ール工程が特に有益であることが認められた。
第4図は、240V電源から100Vの公称電圧降下を
有する公称150WのCMHランプを動作させるように
なされた電気回路を示している。
有する公称150WのCMHランプを動作させるように
なされた電気回路を示している。
第4図かられかるように、1.8Aにおいて110オー
ムのインピーダンスを有しかつ0.06の電力係数を有
する単純な直列インダクタ・バラスト21が3KVと5
KVの間のパルスを発生する点火器22に接続されてい
る。
ムのインピーダンスを有しかつ0.06の電力係数を有
する単純な直列インダクタ・バラスト21が3KVと5
KVの間のパルスを発生する点火器22に接続されてい
る。
他の回路が第5図に示されているが、これは、450v
の動作圧力を有する約14Fの直列コンデンサ22を具
備している。この回路は電源電圧変動に対する安定性が
大きく、フリッカ発生が少な(かつ始動特性が改善され
ているという利点を有している。
の動作圧力を有する約14Fの直列コンデンサ22を具
備している。この回路は電源電圧変動に対する安定性が
大きく、フリッカ発生が少な(かつ始動特性が改善され
ているという利点を有している。
本発明によるCMHで用いられているセラミック・アー
ク・チュゴプはかならずしも円筒形である必要はないこ
とが理解されるであろう、それに代えて、球根状のアー
ク・チューブを用いてもよい。
ク・チュゴプはかならずしも円筒形である必要はないこ
とが理解されるであろう、それに代えて、球根状のアー
ク・チューブを用いてもよい。
さらに、本発明によるCMHアーク・ランプは完成品と
して種々のエンベロープ(管体)に組込まれうろことが
当業者には理解されるであろう。
して種々のエンベロープ(管体)に組込まれうろことが
当業者には理解されるであろう。
第1図は前述したブラウン他の論文に記載された公知の
TSHランプを示す図、第2図および第3図は本発明に
よる2個のCM Hランプの縦断面図、第4図および第
5図は第2図および第3図のCMHランプに使用するた
めの回路を示す図である。 図面において、14.17はアーク・チューブ、15.
19はサーメット端蓋部材、16.18はバックスペー
ス、20はCMHランプ、21はバラスト、22は直列
コンデンサをそれぞれ示す。
TSHランプを示す図、第2図および第3図は本発明に
よる2個のCM Hランプの縦断面図、第4図および第
5図は第2図および第3図のCMHランプに使用するた
めの回路を示す図である。 図面において、14.17はアーク・チューブ、15.
19はサーメット端蓋部材、16.18はバックスペー
ス、20はCMHランプ、21はバラスト、22は直列
コンデンサをそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、1000℃までのシール動作温度で動作するように
なされた放電ランプであって、 透光性セラミック材料で作成されていて、金属ハロゲン
化物添加物と、水銀と、始動のための稀ガスよりなる充
填材の入ったアーク・チューブと、前記アーク・チュー
ブの各端を気密シールしておりかつ各放電電極を支持し
ている端蓋部材を具備しており、 前記放電電極を分離しているアーク・ギャップが10m
mよりも大きくなく、かつ前記アーク・チューブに対す
る壁負荷が少なくとも50Wcm^−^2であるように
なされていることを特徴とするセラミック金属ハロゲン
化物高圧放電ランプ。 2、前記アーク・ギャップが5mm〜10mmの範囲に
ある請求項1に記載されたセラミック金属ハロゲン化物
高圧放電ランプ。 3、前記アーク・チューブに対する壁負荷が80Wcm
^−^2〜160Wcm^−^2の範囲にある請求項1
または2項に記載されたセラミック金属ハロゲン化物高
圧放電ランプ。 4、前記アーク・チューブに対する壁負荷が90Wcm
^−^2〜100Wcm^−^2の範囲にある請求項1
に記載されたセラミック金属ハロゲン化物高圧放電ラン
プ。 5、前記アーク・チューブが円筒形である請求項1〜4
のうちの1つに記載されたセラミック金属ハロゲン化物
高圧放電ランプ。 6、前記アーク・チューブが0.7〜1.4の範囲のア
スペクト比を有している請求項5に記載されたセラミッ
ク金属ハロゲン化物高圧放電ランプ。 7、前記金属ハロゲン化物添加物がインジウム、タリウ
ム、ナトリウムおよびハロゲンよりなる請求項1〜6の
うちの1つに記載されたセラミック金属ハロゲン化物高
圧放電ランプ。 8、前記ハロゲンがヨウ素または臭素である請求項7に
記載されたセラミック金属ハロゲン化物高圧放電ランプ
。 9、前記端蓋部材が導電性のサーメット材料で作成され
ている請求項1〜8のうちの1つに記載されたセラミッ
ク金属ハロゲン化物高圧放電ランプ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB878707670A GB8707670D0 (en) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | Ceramic metal halide lamps |
GB8707670 | 1987-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63257179A true JPS63257179A (ja) | 1988-10-25 |
Family
ID=10614978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63074854A Pending JPS63257179A (ja) | 1987-03-31 | 1988-03-30 | セラミック金属ハロゲン化物高圧放電ランプ |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4910432A (ja) |
EP (1) | EP0286247B1 (ja) |
JP (1) | JPS63257179A (ja) |
AT (1) | ATE60166T1 (ja) |
DE (1) | DE3861536D1 (ja) |
ES (1) | ES2019687B3 (ja) |
GB (1) | GB8707670D0 (ja) |
GR (1) | GR3001547T3 (ja) |
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US7795814B2 (en) | 2008-06-16 | 2010-09-14 | Resat Corporation | Interconnection feedthroughs for ceramic metal halide lamps |
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US20100001628A1 (en) * | 2008-07-02 | 2010-01-07 | General Electric Company | Igniter integrated lamp socket for hot re-strike of high intensity discharge lamp |
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JP2012514303A (ja) * | 2008-12-30 | 2012-06-21 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | セラミックガス放電メタルハライドランプ |
US9552976B2 (en) | 2013-05-10 | 2017-01-24 | General Electric Company | Optimized HID arc tube geometry |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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NL7005294A (ja) * | 1970-04-13 | 1971-10-15 | ||
DE2114804B2 (de) * | 1971-03-26 | 1978-09-14 | Patent-Treuhand-Gesellschaft Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh, 8000 Muenchen | Quecksilberdampf-Hochdruckentladungslampe mit Zusatz von Halogeniden der Seltenen Erden |
DE2725297C3 (de) * | 1977-06-04 | 1980-10-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Hochdruckquecksilberdampfentladungslampe |
NL185482C (nl) * | 1980-09-05 | 1991-01-16 | Philips Nv | Hogedrukontladingslamp. |
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NL184550C (nl) * | 1982-12-01 | 1989-08-16 | Philips Nv | Gasontladingslamp. |
GB8521809D0 (en) * | 1985-09-03 | 1985-10-09 | Emi Plc Thorn | Metal halide discharge lamps |
NL8502509A (nl) * | 1985-09-13 | 1987-04-01 | Philips Nv | Hogedrukkwikdampontladingslamp. |
-
1987
- 1987-03-31 GB GB878707670A patent/GB8707670D0/en active Pending
-
1988
- 1988-03-16 EP EP88302274A patent/EP0286247B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-16 AT AT88302274T patent/ATE60166T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-03-16 DE DE8888302274T patent/DE3861536D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-16 ES ES88302274T patent/ES2019687B3/es not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-28 US US07/173,095 patent/US4910432A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-30 JP JP63074854A patent/JPS63257179A/ja active Pending
-
1991
- 1991-03-05 GR GR91400262T patent/GR3001547T3/el unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES2019687B3 (es) | 1991-07-01 |
GR3001547T3 (en) | 1992-11-23 |
US4910432A (en) | 1990-03-20 |
EP0286247B1 (en) | 1991-01-16 |
EP0286247A1 (en) | 1988-10-12 |
ATE60166T1 (de) | 1991-02-15 |
DE3861536D1 (de) | 1991-02-21 |
GB8707670D0 (en) | 1987-05-07 |
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