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JPS63241510A - テレセントリック列カメラを有する光学式走査装置 - Google Patents

テレセントリック列カメラを有する光学式走査装置

Info

Publication number
JPS63241510A
JPS63241510A JP63056453A JP5645388A JPS63241510A JP S63241510 A JPS63241510 A JP S63241510A JP 63056453 A JP63056453 A JP 63056453A JP 5645388 A JP5645388 A JP 5645388A JP S63241510 A JPS63241510 A JP S63241510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning device
concave mirror
mirror
strip
diode array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63056453A
Other languages
English (en)
Inventor
ハインリヒ ヒッピンメイヤー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Original Assignee
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erwin Sick GmbH Optik Elektronik filed Critical Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Publication of JPS63241510A publication Critical patent/JPS63241510A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/02Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
    • H04N3/08Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、被写体の表面上の線ゾーンのための装置で
、被写体側にテレセントリック・イメージング系をもつ
ダイオード列カメラを含む光学式走査装置に関する。
この発明の目的は、鮮鋭さの全域にわたって焦点ズレが
生じた場合に、映像サイズを一定に保持することである
この発明は、ダイオード列の方向に対し平行になってい
る球形凹面鏡ストリップの焦点面内に、通常のノンテレ
セントリック・カメラの対物レンズの瞳孔か配置されて
いること、および凹面鏡ス1−リップとカメラの対物レ
ンズか、連帯てダイオード列にの線ンーンの像を形成す
ることを特徴とする。
カメラ、特に被写体側にテレセントリック・イメージン
グ系を有する列カメラもまた、例えば。
被写体とカメラの対物レンズとの距離の変化により、像
形成光学系に焦点ズレが生した場合に、鮮鋭の全域内に
おいて像サイズが一定になっているという点で、ノン・
テレセントリック・カメラに優る利点を有している。こ
れは、被写体面上の距離を測定するさいに何よりも有利
である。このように、鮮鋭の領域内で深さのある被写体
構造が誤差なく測定できる。
テレセントリ・ンク観測や検査対物レンズは、要求され
る走査長さよりもやや大きな前面レンズ径を有する。1
圓■の走査長さに対し、前面レンズの径は、例えば12
0mmに達する。この発明のストリップ状凹面鏡を付加
的に設けることにより、走査長さは10の係数て容易に
増大させることができ、斯くして周知のレーザスキャナ
で実現し得る領域内になる。従って1ないし2メートル
の長さの線ゾーンを走査する列カメラ用のテレセントリ
ックltQ測系を斯くして実現することができる。
被写体側のテレセントリック像形成系の実現のために、
通常のカメラ対物レンズを球形凹面鏡ストリップと結合
させて、この凹面鏡ストリップにより、かつ、ダイオー
ド列上へのカメラ対物レンズを通して便宜上一つまたは
それ以上の偏光鏡ストリップにより、被写体を映像化さ
せるようにする。この配置においてはカメラの対物レン
ズの瞳孔を、凹面鏡の焦点面内に配置し、かつ被写体を
該凹面鏡内または該凹面鏡からやや離して配置する。
もし被写体を凹面鏡から焦点距離たけ離しておけば、そ
のさいは被写体の表面上の線ゾーンをダイオード列上に
鮮鋭な画像として実現するために、カメラの対物レンズ
を無限大にセットする。
もしも被写体か凹面鏡の焦点距離よりも凹面鏡に近けれ
ば、そのさいはダイオード列上に被写体の表面の鮮鋭な
像を形成させるために、カメラの対物レンズは、単に無
限大よりも低距離にセットせねばならない。
凹面鏡か球形構造になっている場合にそれは特に便宜で
ある。
被写体の照射用に、ストリップ状凹面鏡を、また任意に
偏光鏡をも利用するために、この発明のもう一つの実施
例は、好ましくは物理的ビーム・ディバイダにより、列
カメラの対物レンズの前でビーム分割を起こさせ、かつ
、コレクタにより、ダイオード列と同様のストリップ形
構造の光源を、ディバイダ鏡によりビーム進路内へ結合
させようとしている。これは、鏡状に反射する被写体を
使用するにさいし、被写体をオートコリメーションて垂
直に照射する(被写体の表面に対し垂直に)ことを意味
する。少なくとも部分的に透明な被写体の場合には、多
数の個々の要素から構成したストリップ状構造の反射器
を被写体の後方に配置して、凹面鏡に対し平行に延ばす
よう便宜上用意する。
以下この発明を添附図面を参照しながら説明する。
第1図には拡大構造が見られるが、この中では被写体1
2の照射面または発光面11上の線ゾーンの諸点を、ダ
イオード列カメラ14のダイオード列16の個々のダイ
オード16′上に映像化させるビームの進路を明らかに
するために、凹面鏡および必要な偏光鏡を、同じ焦点距
離のストリップ状レンズ13により交替させる。しかし
ながら、第1図を参照して、同じ焦点距離のストリップ
状凹面鏡13について次に再び説明する。
ダイオード列カメラ14には対物レンズ15があり、こ
の対物レンズ15が、ストリップ状凹面鏡1コを介して
ダイオード列16上に被写体12の表面11の像を形成
する。ダイオード列I6は、電子処理回路23へ連絡し
であるが、この電子処理回路23が、列の個々のダイオ
ード16’を代わる代わる問合わせて調べ、斯くして被
写体12の面11上の欠陥のある点を認識する。対応す
る欠陥記号は、電子処理回路23の出力口24で伝達さ
れる。
被写体側における主光線25は、凹面鏡13上に衝突す
る前に互いに平行に延びていることが、被写体側のテレ
セントリック・ビーム進路から見られる。第1図によれ
ば、被写体12の表面11は、凹面鏡13から、凹面鏡
I3の焦点距離fの距離たけ凹面鏡13に対し平行に離
間して配置しである。同様にダイオード列カメラ14の
対物レンズ15は、それ自体の焦点距離とは無関係に、
凹面鏡13からこの焦点距離fに対応する距離を有して
いる。凹面鏡13の11IJ fi8焦点而内面被写体
が配置しである結果として、凹面鏡13が拡大鏡として
作用して被写体の表面11の映像を無限大に形成する。
ダイオード列カメラ14の対物レンズ15も同様に無限
大にセットされるので、表面11の線ゾーンが、ダイオ
ード列16上に鮮鋭に映像化される。
被写体12の表面11をストリップ状凹面鏡13に一層
近づけ、かつ、例えば第1図に破線で示した位51 t
t’ までも実際に接近させると、テレセントリック・
ビームの進路は、対物レンズ側にそのままになっている
が、しかしながら、ストリップ状凹面鏡13はその視野
距離としてだけしか作用しないて、ダイオード列カメラ
14の対物レンズ15は、それに対応した。より短距離
にセットせねばならない。
両方の場合に、被写体内を求めて走査する長さは、スト
リップ状凹面fi13の寸法によって制限されており、
従ってそれはカメラの対物レンズ15の径よりも何倍も
大きい。
第2図と第3図に見られるとおり、走査すべき被写体1
2を透明支持体27上に配置するが、支持体27の下方
には反射器22を設け、この反射器22は、平面と、被
写体12の上方に設けたストリップ状偏光鏡17とに対
し平行に延ばしである。反射器22は、小さな三面鏡の
ストリップ状配置または真珠のスクリーン(スコッチラ
イト)から成立させることかでき、かつ、それの構造が
映像形成装貯の焦点の深さの外側にあるよう、被写体の
後方の距離に配置する。偏光鏡17は、ストリップ状凹
面鏡13に対し平行に配置し、被写体12からの反射器
22から来る光線を、凹面鏡13上に投射するが、それ
かダイオード列カメラ14の対物レンズ15へ小角度α
て偏光させられるように投射する。第2図および第3図
では、被写体12が、凹面鏡13から焦点距離よりも小
さな距離に配置しであるので、映像形成条件は、第1図
の位置IF内の被写体の配置と一致する。
対物レンズ15の直前にビーム・ディバイダ19か“設
けてあり、それを介して照射ビーム進路か対物レンズ2
0オよびストリップ状光源21へと通じている。光源2
1の線範囲がダイオード列哩16の線範囲と一致してい
るので、対応的に何倍も延びてきた照射線が被写体12
の表面11上に生ずる。換言すれば、被写体12の表面
ll上の線ゾーンが、光源21により凹面鏡13の全線
範囲上に照射される。
ストリップ状偏光鏡17および反射器22は、相互に対
し、かつストリップ状凹面鏡13に対し平行に延びてお
り、また対応距離を有している。
更に、反射被写体12の場合には、この配置はこの被写
体12をオートコツメ−シミ1ンで照射することを第2
図から見ることができる。
第4図の実施例においては、被写体12の表面11が、
凹面鏡13からの焦点距離の距離に配置してあって、ス
トリップ状平面偏光鏡18が、凹面鏡13とダイオード
列カメラ14との間に設けである。斯くしてダイオード
列カメラ14は、凹面鏡13から被写体12と光学上同
距離に位置させである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明による光学式走査装置のビーム進路
の基本原理を示す概略側面図であり、図示を単純にさせ
るために、ストリップ状凹面鏡をレンズとして示した図
、第2図は、透明被写体のための照射ビーム進路の付加
的表示を有する光学式走査装置の図、第3図は、第2図
の光学式走査装置の平面図、第4図は、光学式走査装置
のもう一つの実施例の第2図と同様の側面図である。 なお、図中、11・・・照射面、12・・・被写体、1
3・・・ストリップ状レンズ、14・・・ダイオード列
カメラ、15・・・対物レンズ、16・・・ダイオード
列、17・・・ストリップ状偏光鏡、18・・・ストリ
ップ状平面偏光鏡、19・・・ビーム・ディバイダ、2
0・・・対物レンズ、21・・・光源を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)被写体の表面上の線ゾーンのための装置で、被写
    体側にテレセントリック・イメージング系をもつダイオ
    ード列カメラを含む光学式走査装置であて、通常のノン
    ・テレセントリック・カメラの対物レンズ(15)の瞳
    孔が、ダイオード列(16)の方向に対し平行になって
    いる球形凹面鏡ストリップ(13)の焦点面内に配置し
    てあること;および凹面鏡ストリップ(13)と、カメ
    ラ対物レンズ(15)とが、連帯してダイオード列(1
    6)上に線ゾーンの像を形成することを特徴とする光学
    式走査装置。 (2)請求項第1項に記載の走査装置であって、被写体
    (12)の表面(11)が、凹面鏡(13)の焦点距離
    の距離だけ、凹面鏡(13)から離間して配置してある
    ことを特徴とする走査装置。 (3)請求項第2項に記載の走査装置であって、被写体
    (12)が、凹面鏡(13)から、凹面鏡(13)の焦
    点距離よりも小さな距離に横たわっていることを特徴と
    する走査装置。 (4)請求項第1項から第3項のどれか1項に記載の走
    査装置であって、面偏光鏡(17)が、被写体(12)
    と凹面鏡(13)との間に配置してあることを特徴とす
    る走査装置。 (5)請求項第1項から第4項のどれか1項に記載の走
    査装置であって、面偏光鏡(18)が、凹面鏡(13)
    と対物レンズ(15)との間に配置してあることを特徴
    とする走査装置。 (6)請求項第1項から第5項のどれか1項に記載の走
    査装置であって、ビーム分割が、分割鏡(19)、好ま
    しくは物理的分割鏡を介して、列カメラ(14)の対物
    レンズ(15)の前で生ずること、およびもう1つの対
    物レンズ(20)を介し、ダイオード列(16)と類似
    のストリップ状構造から成る光源 (21)が、分割鏡(19)を介してビーム進路内へ結
    合させてあることを特徴とする走査装置。 (7)請求項第6項に記載の走査装置であって、鏡状に
    反射している被写体(12)を使用するにさいしては、
    被写体(12)をオートコリメーションで垂直に照射す
    ることを特徴とする走査装置。 (8)少なくとも部分的に透明の被写体のための請求項
    第6項に記載の走査装置であって、多数の個々の要素か
    らなるストリップ状構造の反射器が被写体の後方に配置
    してあって、凹面鏡(13)に対し平行に延びているこ
    とを特徴とする走査装置。
JP63056453A 1987-03-12 1988-03-11 テレセントリック列カメラを有する光学式走査装置 Pending JPS63241510A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3707979.4 1987-03-12
DE19873707979 DE3707979A1 (de) 1987-03-12 1987-03-12 Optische abtastvorrichtung mit telezentrischer zeilenkamera

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63241510A true JPS63241510A (ja) 1988-10-06

Family

ID=6322876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63056453A Pending JPS63241510A (ja) 1987-03-12 1988-03-11 テレセントリック列カメラを有する光学式走査装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4851698A (ja)
EP (1) EP0281750B1 (ja)
JP (1) JPS63241510A (ja)
DE (2) DE3707979A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5055663A (en) * 1988-06-28 1991-10-08 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Optical scanning system and method for adjusting thereof
DE3833728A1 (de) * 1988-10-04 1990-04-12 Sick Optik Elektronik Erwin Optische abtastvorrichtung
US5880772A (en) * 1994-10-11 1999-03-09 Daimlerchrysler Corporation Machine vision image data acquisition system
FI114743B (fi) * 1999-09-28 2004-12-15 Ekspansio Engineering Ltd Oy Telesentrisellä periaatteella toimiva laitteisto ja menetelmä
WO2001089204A1 (en) * 2000-04-21 2001-11-22 Lockheed Martin Corporation Wide-field extended-depth doubly telecentric catadioptric optical system for digital imaging
DE10146583A1 (de) * 2001-09-21 2003-04-17 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren zum optischen Abtasten einer Substratscheibe
DE102005061834B4 (de) 2005-12-23 2007-11-08 Ioss Intelligente Optische Sensoren & Systeme Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum optischen Prüfen einer Oberfläche
EP4227673A1 (en) * 2022-01-27 2023-08-16 Finnos Oy Apparatus for capturing images of elongated timber

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5797507A (en) * 1980-12-10 1982-06-17 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Imaging optical system

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3892468A (en) * 1973-09-28 1975-07-01 Bell Telephone Labor Inc Optical scanner utilizing organ arrays of optical fibers
DE2550815C3 (de) * 1975-11-12 1979-05-31 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches Abtastsystem
GB1531893A (en) * 1976-05-10 1978-11-08 Rank Organisation Ltd Catadioptric objective system
JPS5391754A (en) * 1977-01-21 1978-08-11 Canon Inc Scannint type photo detector
US4199219A (en) * 1977-04-22 1980-04-22 Canon Kabushiki Kaisha Device for scanning an object with a light beam
DE2718040C3 (de) * 1977-04-22 1979-10-18 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Vorrichtung zum Darstellen und schnellen meßbaren Erfassen von in einem Streckenintervall eines Körpers vorhandenen Unebenheiten sowie deren statistische Verteilung im Streckenintervall
DE2855799A1 (de) * 1978-12-22 1980-07-03 Agfa Gevaert Ag Optische abbildungsvorrichtung fuer eine vorrichtung zur elektronischen s8-filmabtastung
DD144125B1 (de) * 1979-06-01 1987-04-08 Klaus Krueger Spiegellinsenobjektiv mit telezentrischem strahlengang
JPS57135577A (en) * 1981-02-17 1982-08-21 Canon Inc Reader
JPS58150924A (ja) * 1982-03-04 1983-09-07 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 二重共役維持光学系
JPS6052819A (ja) * 1983-09-01 1985-03-26 Canon Inc 読取り装置
DE3501653A1 (de) * 1985-01-19 1986-07-24 Ingenieurbüro Klinkler + Kolar oHG, 6100 Darmstadt Vorrichtung zur optischen gegenstandsabtastung mittels einer fotoelektrischen sensorzeile

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5797507A (en) * 1980-12-10 1982-06-17 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Imaging optical system

Also Published As

Publication number Publication date
US4851698A (en) 1989-07-25
EP0281750A3 (en) 1988-10-19
EP0281750B1 (de) 1991-07-03
EP0281750A2 (de) 1988-09-14
DE3863446D1 (de) 1991-08-08
DE3707979A1 (de) 1988-09-29
DE3707979C2 (ja) 1989-01-05

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