JPS63228337A - Method for driving parity generation circuit - Google Patents
Method for driving parity generation circuitInfo
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- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はパリティ生成回路の駆動方法に関し、きらに半
導体メモリ装置に組み込まれる誤り訂正回路に適する高
速パリティ生成回路の駆動方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for driving a parity generation circuit, and more particularly to a method for driving a high-speed parity generation circuit suitable for an error correction circuit incorporated in a semiconductor memory device.
(従来の技術)
近年、半導体メモリ装置において、耐アルファ粒子性2
歩留り向上の観点から、誤り自己訂正回路をオンチップ
に搭載する方法が注目されている。オンチップに誤り自
己訂正回路を搭載する方法では出来る限り誤り自己訂正
回路による遅延時間が短いことが要求される。誤り訂正
に要する時間の殆どはパリティ生成に費やされており、
このパリティ生成回路の高速化が強く望まれる。(Prior art) In recent years, in semiconductor memory devices, alpha particle resistance 2
From the viewpoint of improving yield, a method of mounting an error self-correction circuit on a chip is attracting attention. In the method of mounting an error self-correction circuit on-chip, it is required that the delay time due to the error self-correction circuit be as short as possible. Most of the time required for error correction is spent on parity generation.
It is strongly desired to increase the speed of this parity generation circuit.
従来知られている高速なパリティ生成回路としては第3
図に示したものがある。このパリティ生成回路はIEE
Eジ〜−ナル・才ブ・ソリッドステートサーキッツ(I
EEE Journal of 5olid 5tat
eCircuits )第5C−20巻、第5号の95
8ページから963ページに”A 7O−ns Wor
d−Wide 1−Mbit ROMWith 0n−
Chip Error Correction C1r
cuits”と題して発表された論文の中に示きれたも
のである。This is the third known high-speed parity generation circuit.
There is one shown in the figure. This parity generation circuit is an IEE
Eji~Naru Saibu Solid State Circuits (I
EEE Journal of 5solid 5tat
eCircuits) Volume 5C-20, No. 5, 95
From page 8 to page 963 “A 7O-ns Wor
d-Wide 1-Mbit ROM With 0n-
Chip Error Correction C1r
This was shown in a paper titled ``Cuits''.
第3図において、DOとDo 、 ・−、Dn& Dn
jよそれぞれ相補なデータ対で、待機時には全てのデー
タ対は高電位に保たれ、パリティ生成回路内部のノード
の電位は接地電位となる。動作時、各データ対のいずれ
か一方が低電位となり、パリティ生成回路内にバスが形
成される。 NANDゲート39の入力はデータ対のう
ち最も遅いデータ対であり、パリティ生成回路内にバス
が形成された後、NANDゲートの出力が高電位となり
、NANDゲートの出力がパリティ生成回路内のバスを
伝播していく。従ってNANDゲートが起動された後、
パリティを得るまでの時間は信号がパリティ生成回路内
を伝播していく伝播遅延時間で決定される。In Figure 3, DO and Do, ・-, Dn & Dn
The data pairs are complementary to each other, and during standby, all data pairs are kept at a high potential, and the potential of the node inside the parity generation circuit becomes the ground potential. In operation, one of each data pair is at a low potential, forming a bus within the parity generation circuit. The input of the NAND gate 39 is the slowest data pair among the data pairs, and after the bus is formed in the parity generation circuit, the output of the NAND gate becomes a high potential, and the output of the NAND gate connects the bus in the parity generation circuit. It will spread. Therefore, after the NAND gate is activated,
The time it takes to obtain parity is determined by the propagation delay time during which the signal propagates within the parity generation circuit.
(発明が解決しようとする問題点)
前述の従来知られているパリティ生成回路ではNAND
ゲートに起動をかける信号として最も遅いデータ対を使
っているので、最も早いデータ対がパリティ生成回路に
到着してから、パリティが出力されるまでの時間は、最
も早いデータ対がパリティ生成回路に到着してから最も
遅いデータ対がパリティ生成回路に到着するまでの時間
と、NANDゲー!・の出力がパリティ生成回路を伝播
していく伝播遅延時間との和となる。この様子を表わし
7たものが第4図である。第4図において、データ対D
o 、 Doが最も早い信号でデータ対Di 、 Di
が最も遅い信号を表わしている。データ対[)i 、
Diの変化によりNANDゲートが起動され、NAND
ゲートの出力がパリティ生成回路内を伝播し出力される
。従ってこの様な従来技術においては、最初のデータ対
の変化から出力が得られるまでの時間はデータ対の遅延
時間とパリティ生成回路内の伝播遅延時間の和となり、
それ以下にすることはできない。即ちパリティ生成回路
内の伝播遅延時間が全て反映きれるので、パリティ生成
回路の入力データ対の数が多くなり信号伝播経路が長く
なってくるとパリティ出力を得る時間が長くなるという
問題を有する。(Problem to be solved by the invention) In the conventionally known parity generation circuit described above, the NAND
Since the slowest data pair is used as the signal to activate the gate, the time from when the earliest data pair arrives at the parity generation circuit to when parity is output is as long as the earliest data pair reaches the parity generation circuit. The time from arrival until the latest data pair arrives at the parity generation circuit, and the NAND game! The output of . is the sum of the propagation delay time of propagation through the parity generation circuit. FIG. 4 shows this situation. In FIG. 4, data pair D
o, Do are the earliest signals and the data pair Di, Di
represents the slowest signal. data pair [)i,
The change in Di activates the NAND gate, and the NAND
The output of the gate is propagated within the parity generation circuit and output. Therefore, in such conventional technology, the time from the first change in the data pair until the output is obtained is the sum of the data pair delay time and the propagation delay time within the parity generation circuit.
It cannot be lower than that. That is, since the propagation delay time within the parity generation circuit is fully reflected, there is a problem that as the number of input data pairs of the parity generation circuit increases and the signal propagation path becomes longer, the time required to obtain a parity output becomes longer.
そこで、本発明の目的は、上述の従来技術の問題点を改
善し、従来技術に較べ高速にパリティ生成回路を駆動で
きる方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a method that can improve the above-mentioned problems of the prior art and drive a parity generation circuit faster than the prior art.
(問題点を解決するための手段)
前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段は
、第1の信号線をゲート電極とし、第1のノードをドレ
イン電極とし、第20ノードをソース電極とする第1の
トランジスタと、前記第1の信号線をゲート電極とし、
第3のノードをドしイン電極とし、第4のノードをソー
ス電極とする第2のトランジスタと、第2の信号線をゲ
ート電極とし、前記第1のノードをドレイン電極とし、
前記第4のノードをソース電極とする第3のトランジス
タと、前記第2の信号線をゲート電極とし、前記第iの
ノードをドレイン電極とし、前記第2のノードをソース
電極とする第4のトランジスタとから成る論理ブロック
を多段に接続したパリティ生成回路の駆動方法において
、待機時には前記第1及び前記第2の信号線は前記各ト
ランジスタを非導通状態にできる電位に保ち、動作時に
は前記第1及び第2の信号線のうちのいずれか一方の信
号線のみを前記トランジスタを導通状態にできる電位に
することを特徴とする。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides means in which the first signal line is the gate electrode, the first node is the drain electrode, and the 20th node is the drain electrode. a first transistor serving as a source electrode; and the first signal line serving as a gate electrode;
a second transistor having a third node as a do/in electrode, a fourth node as a source electrode, a second signal line as a gate electrode, and the first node as a drain electrode;
a third transistor having the fourth node as a source electrode; and a fourth transistor having the second signal line as a gate electrode, the i-th node as a drain electrode, and the second node as a source electrode. In the method for driving a parity generation circuit in which logic blocks consisting of transistors are connected in multiple stages, the first and second signal lines are kept at a potential that allows each of the transistors to become non-conductive during standby, and the first and a second signal line, only one of the signal lines is set to a potential that can make the transistor conductive.
(作用)
本発明は上述の駆動方法をとることにより、従来技術に
おける問題点を改善した。つまり、従来技術では、待機
時全ての入力データ対を高電位に保ち、パリティ生成回
路内部の全てのノードがグランドと電気的に接続される
様にしているため、入力データ対の一方が低1位となり
、パリティ生成回路内部の状態が決定し、NANDゲー
トの出力信号(論理“1”信号)がグランドと短絡しな
い状態になってから、論理“1”信号を伝播させる必要
があったわけで、本発明では全ての入力データ対を待機
中低電位に保ち活性時にいずれか一方を高電位にする方
法をとることにより従来技術の様な定常的なグランドと
のパスが存在せず、従って伝播させる高電位状態(論理
“1″信号)をパリティ生成回路内部の状態が決定する
前に与えることが出来、高速化がはかれるのである。(Function) The present invention has improved the problems in the prior art by employing the above-described driving method. In other words, in the conventional technology, all input data pairs are kept at a high potential during standby, and all nodes inside the parity generation circuit are electrically connected to the ground, so one of the input data pairs is at a low level. It was necessary to propagate the logic "1" signal after the state inside the parity generation circuit was determined and the output signal of the NAND gate (logic "1" signal) was not shorted to ground. In the present invention, all input data pairs are kept at a low potential during standby and one of them is set at a high potential when activated, so there is no steady path to ground as in the prior art, and therefore propagation is possible. A high potential state (logic "1" signal) can be applied before the internal state of the parity generation circuit is determined, increasing speed.
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の典型的な実施例として第2図に示した
パリティ生成回路の駆動方法を示したものである。第2
図に示したパリティ生成回路は第3図に示した従来のバ
!1ディ生成回路と、高電位を伝播させる信号源が異な
っているだけであるが、本発明の駆動方法により第2図
に示した様にXmVccを伝播きせる信号源とすること
が可能になる。さて、本発明の駆動方法においては、第
1図に示した様に待機時全ての入力デー〃対DOとのト
ランジスタを導通させない低電位に保たれている。従っ
て待機状態においては第2図に示した電源Vccとグラ
ンドとの間に電流パスは存在しない。動作状態となると
、第1図に示した様に低電位になっている入力データ対
のいずれか一方が高電位となる様に駆動されるので、高
電位となる入力データ線に接続されているトランジスタ
は導通状態となる。本実施例においては第1図に示す様
に電源Vccに近い入力データ対Do 、 Doから順
にパリティ生成回路に入力され、最後に最も電源Vcc
から離れた入力データ対Dn 、 Dnが入力される。FIG. 1 shows a method of driving the parity generation circuit shown in FIG. 2 as a typical embodiment of the present invention. Second
The parity generation circuit shown in the figure is similar to the conventional parity generation circuit shown in FIG. Although the only difference is the 1D generation circuit and the signal source that propagates a high potential, the driving method of the present invention makes it possible to use a signal source that propagates XmVcc as shown in FIG. Now, in the driving method of the present invention, as shown in FIG. 1, during standby, all input data pairs are kept at a low potential that does not cause the transistors connected to DO to conduct. Therefore, in the standby state, there is no current path between the power supply Vcc shown in FIG. 2 and the ground. In the operating state, as shown in Figure 1, one of the input data pairs that is at a low potential is driven to a high potential, so that it is connected to the input data line that is at a high potential. The transistor becomes conductive. In this embodiment, as shown in FIG. 1, input data pairs Do and Do that are closest to the power supply Vcc are input to the parity generation circuit in order, and finally, the input data pairs closest to the power supply Vcc are input to the parity generation circuit.
An input data pair Dn, Dn separated from is input.
まず入力データ対Do 、 Doがパリティ生成回路に
入力された場合を考える。今Doが高電位に変化したと
しよう、このときブロックAのトランジスタ3及びトラ
ンジスタ4が導通状態となる。従って電源Vccはトラ
ンジスタ3を経由してブロックAの下側の出力線に伝播
し、グランド電位はトランジスタ4を経由してブロック
Aの上側の出力線に伝播する。これらがブロックAの出
力となり入力データ対DO2Doが入力されてから少し
遅れてブロックAから出力される。その後順次入力デー
タ線の入力に伴い電@1Vcc及びグランド電位は伝播
し、i番目の入力データ対Di 、 Diが入力される
と少し遅れてi番目のブロックBから出力され、最後の
入力データ対Dn 、 Dnが入力されると最後のブロ
ックCから出力が出、パリティ生成回路の出力が得られ
る。First, consider the case where the input data pair Do, Do is input to the parity generation circuit. Assume that Do now changes to a high potential, and at this time transistors 3 and 4 of block A become conductive. Therefore, the power supply Vcc is propagated to the lower output line of block A via transistor 3, and the ground potential is propagated to the upper output line of block A via transistor 4. These become the outputs of block A and are output from block A with a slight delay after the input data pair DO2Do is input. Thereafter, the voltage @1Vcc and the ground potential propagate as the input data lines are sequentially input, and when the i-th input data pair Di, Di is input, it is output from the i-th block B with a little delay, and the last input data pair is output from the i-th block B. When Dn and Dn are input, an output is output from the last block C, and the output of the parity generation circuit is obtained.
以上の説明で明らかな様に本発明の駆動方法では、入力
データ対の一方が高電位になるたびに対応するブロック
から順次出力が出るので最後の入力データ対Dn 、
Dnが入力された時、パリティ生成回路全体の出力が得
られることになる。従って第1図と第4図を比較すると
わかる様に最後の入力データ対が入力されてから活性化
するパスが本発明では1ブロツクだけですむので全ブロ
ックを活性化する必要のあった従来技術に較べ格段の高
速化が達成される。しかも本発明ではパリティ生成回路
の入力数つまりブロック数が多い程従来技術に較べて高
速化が達成されることが容易に理解きれよう。As is clear from the above explanation, in the driving method of the present invention, each time one of the input data pairs becomes a high potential, outputs are sequentially output from the corresponding blocks, so that the last input data pair Dn,
When Dn is input, the output of the entire parity generation circuit is obtained. Therefore, as can be seen by comparing FIG. 1 and FIG. 4, in the present invention, only one block is required to be activated after the last input data pair is input, so in the prior art, it was necessary to activate all blocks. Significant speedup is achieved compared to . Moreover, it is easy to understand that in the present invention, the higher the number of inputs to the parity generation circuit, that is, the number of blocks, the faster the processing speed can be achieved compared to the prior art.
(発明の効果)
以上述べた様に本発明によれば、入力数が多い程従来の
パリディ生成回路の駆動方法に較べ高速にパリティを生
成できるパリティ生成回路の駆動方法が得られる。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, there is provided a method for driving a parity generation circuit that can generate parity faster as the number of inputs increases compared to conventional methods for driving a parity generation circuit.
第1図は本発明の典型的な一実施例の駆動方法を示すタ
イミング図であり、第2図は第1図の駆動方法を適用す
るパリティ生成回路を示した図である。また第3図は従
来のパリティ生成回路の構成を示す図であり、第4区は
その駆動方法を示すタイミング図である。
1〜12.31〜38・・・トランジスタ、39・・・
NANDゲート、A、B、C,D、E・・・ブロック。FIG. 1 is a timing diagram showing a driving method according to a typical embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a parity generation circuit to which the driving method of FIG. 1 is applied. Further, FIG. 3 is a diagram showing the configuration of a conventional parity generation circuit, and the fourth section is a timing diagram showing its driving method. 1-12.31-38...transistor, 39...
NAND gate, A, B, C, D, E...block.
Claims (1)
イン電極とし、第2のノードをソース電極とする第1の
トランジスタと、 前記第1の信号線をゲート電極とし、第3のノードをド
レイン電極とし、第4のノードをソース電極とする第2
のトランジスタと、 第2の信号線をゲート電極とし、前記第1のノードをド
レイン電極とし、前記第4のノードをソース電極とする
第3のトランジスタと、 前記第2の信号線をゲート電極とし、前記第3のノード
をドレイン電極とし、前記第2のノードをソース電極と
する第4のトランジスタとから成る論理ブロックを多段
に接続したパリテイ生成回路の駆動方法において、 待機時には前記第1及び前記第2の信号線は前記各トラ
ンジスタを非導通状態にできる電位に保ち、動作時には
前記第1及び第2の信号線のうちのいずれか一方の信号
線のみを前記トランジスタを導通状態にできる電位にす
ることを特徴とするパリテイ生成回路の駆動方法。[Scope of Claims] A first transistor having a first signal line as a gate electrode, a first node as a drain electrode, and a second node as a source electrode; and the first signal line as a gate electrode. , a second node with a third node as a drain electrode and a fourth node as a source electrode.
a third transistor having a second signal line as a gate electrode, the first node as a drain electrode, and the fourth node as a source electrode; and a third transistor as the second signal line as a gate electrode. , a method for driving a parity generation circuit in which a logic block including a fourth transistor having the third node as a drain electrode and the second node as a source electrode is connected in multiple stages, wherein the first and the fourth transistors are connected in a standby state. The second signal line is maintained at a potential that allows each of the transistors to be rendered non-conductive, and during operation, only one of the first and second signal lines is maintained at a potential that enables the transistor to be rendered conductive. A method for driving a parity generation circuit, characterized in that:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62063400A JPS63228337A (en) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | Method for driving parity generation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62063400A JPS63228337A (en) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | Method for driving parity generation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63228337A true JPS63228337A (en) | 1988-09-22 |
Family
ID=13228217
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62063400A Pending JPS63228337A (en) | 1987-03-18 | 1987-03-18 | Method for driving parity generation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63228337A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013009314A (en) * | 2011-05-20 | 2013-01-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device |
-
1987
- 1987-03-18 JP JP62063400A patent/JPS63228337A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013009314A (en) * | 2011-05-20 | 2013-01-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device |
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