JPS63221970A - 半導体ウエハの研磨方法 - Google Patents
半導体ウエハの研磨方法Info
- Publication number
- JPS63221970A JPS63221970A JP62052680A JP5268087A JPS63221970A JP S63221970 A JPS63221970 A JP S63221970A JP 62052680 A JP62052680 A JP 62052680A JP 5268087 A JP5268087 A JP 5268087A JP S63221970 A JPS63221970 A JP S63221970A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- polishing
- polishing jig
- semiconductor wafer
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- Pending
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半導体ウェハの研磨方法に関するものである。
[従来の技術]
ICやFET (電界効果トランジスタ)を製作する場
合は、Si (シリコン)単結晶やあるいはGaAs
(ガリウム・ヒ素)単結晶のウェハが用いられるが、こ
れらのウェハは板厚寸法や平行度及び平坦度が数ミクロ
ン以下となるように極めて高精度の研磨加工が行なわれ
て無歪の鏡面状に仕上げられる。
合は、Si (シリコン)単結晶やあるいはGaAs
(ガリウム・ヒ素)単結晶のウェハが用いられるが、こ
れらのウェハは板厚寸法や平行度及び平坦度が数ミクロ
ン以下となるように極めて高精度の研磨加工が行なわれ
て無歪の鏡面状に仕上げられる。
上記の単結晶から鏡面状ウェハを製作するには、単結晶
をスライスしてウェハとし、このスライスされたウェハ
表面の凹凸をラッピング(機械的研磨)して平坦にし、
次にエツチングを行って加工層を除去し、次いでポリッ
シング(メカノケミカル研磨)によりエツチング表面を
平滑にして鏡面状とする。
をスライスしてウェハとし、このスライスされたウェハ
表面の凹凸をラッピング(機械的研磨)して平坦にし、
次にエツチングを行って加工層を除去し、次いでポリッ
シング(メカノケミカル研磨)によりエツチング表面を
平滑にして鏡面状とする。
ここでラッピング及びポリッシングを行なう場合は、通
常、ウェハを接着用ワックスで研磨治具に貼付して固定
された状態で行なうが、このときのウェハ取付状態の良
否、すなわちウェハの貼付状態の良否がウェハの平坦度
や鏡面状態に大きな影響を及ぼすことになる。
常、ウェハを接着用ワックスで研磨治具に貼付して固定
された状態で行なうが、このときのウェハ取付状態の良
否、すなわちウェハの貼付状態の良否がウェハの平坦度
や鏡面状態に大きな影響を及ぼすことになる。
特にGaAsウニへの場合はウェハの形状、サイズ等が
多岐にわたるため貼付作業はかなり面倒で、第3図に示
すように1枚づつ貼付する方法が用いられる。
多岐にわたるため貼付作業はかなり面倒で、第3図に示
すように1枚づつ貼付する方法が用いられる。
第3図(a) 、 (b)はこの作業に用いられるウェ
ハ取付装置を示すもので、それぞれ正面図、及び平面図
を示す。
ハ取付装置を示すもので、それぞれ正面図、及び平面図
を示す。
同図(a) 、 (b)より、1はウェハ、2はウェハ
1を貼付する研磨治具、3はウェハ1を押圧するスタン
ピング装置、4は研磨治具2を加熱するホットプレート
を示す。
1を貼付する研磨治具、3はウェハ1を押圧するスタン
ピング装置、4は研磨治具2を加熱するホットプレート
を示す。
図より、ウェハ1を貼付する場合は次のような工程で行
なわれる。
なわれる。
(A) 研磨治具2をホットプレート4の上に取付け
、接着ワックスの軟化点より30〜40℃高温となるよ
うに加熱する。
、接着ワックスの軟化点より30〜40℃高温となるよ
うに加熱する。
(B) 加熱された研磨治具2のウェハを貼付する場
所に接着ワックスを塗布する。
所に接着ワックスを塗布する。
(C) 加熱した接着ワックスの上にウェハ1を貼付
する。
する。
(D) ウェハを押圧するスタンピング装置3により
ウェハ1を一枚づつ加圧してウェハ1と研磨治具2との
間に介在するワックス層を均一にする。
ウェハ1を一枚づつ加圧してウェハ1と研磨治具2との
間に介在するワックス層を均一にする。
(E) 研磨治具2を取出して冷却板の上に設置し、
上部よりワックス層が不均一にならないよう加圧板を押
付けながらワックスを固化させる。
上部よりワックス層が不均一にならないよう加圧板を押
付けながらワックスを固化させる。
[発明が解決しようとする問題点]
上述したように、研磨作業を行なう場合はウェハ取付状
態の良否がウェハの仕上り精度に大きな影響を与えるこ
とになるが、取付作業を実施する場合に次のような問題
点が発生した。
態の良否がウェハの仕上り精度に大きな影響を与えるこ
とになるが、取付作業を実施する場合に次のような問題
点が発生した。
ウェハを一枚毎加圧するので貼付に長時間を必要とする
。
。
スタンピング加圧後にワックスやウェハに反りを生じて
貼付精度を悪化させる現象が現われる。
貼付精度を悪化させる現象が現われる。
スタンピング装置の加圧ヘッドをウェハのサイズ毎に交
換しなければならない。
換しなければならない。
本発明の目的は、ウェハの貼付作業を省力化して研磨作
業の効率、精度を大幅に向上する半導体ウェハの研磨方
法を提供することにある。
業の効率、精度を大幅に向上する半導体ウェハの研磨方
法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、半導体ウェハを接着ワックスを用いて研磨治
具に貼付して表面を研磨する半導体ウェハの研磨方法に
おいて、前記研磨治具が予熱された平坦な面を備え、こ
の平坦な面の複数個所に前記接着ワックスを塗布してそ
の上に前記半導体ウェハをそれぞれ貼付し、この貼付さ
れた複数の半導体ウェハの上面に皿状のスペーサを設け
、このスペーサの上面部を加圧装置により加圧して前記
複数の半導体ウェハを同時に前記研磨治具に圧着し、そ
の後この研磨治具を冷却して前記接着ワックスを固化す
ることを特徴とし、ウェハの貼付作業並びに研磨作業を
高効率、高精度化するようにして目的の達成を計ったも
のである。
具に貼付して表面を研磨する半導体ウェハの研磨方法に
おいて、前記研磨治具が予熱された平坦な面を備え、こ
の平坦な面の複数個所に前記接着ワックスを塗布してそ
の上に前記半導体ウェハをそれぞれ貼付し、この貼付さ
れた複数の半導体ウェハの上面に皿状のスペーサを設け
、このスペーサの上面部を加圧装置により加圧して前記
複数の半導体ウェハを同時に前記研磨治具に圧着し、そ
の後この研磨治具を冷却して前記接着ワックスを固化す
ることを特徴とし、ウェハの貼付作業並びに研磨作業を
高効率、高精度化するようにして目的の達成を計ったも
のである。
[作 用コ
本発明の半導体ウェハの研磨方法では、ウニノーを研磨
治具に取付けるとき、研磨治具の上に接着ワックスを塗
布してその上にウニノ\を貼付するのであるが、このと
きそれぞれのウェハの上面に周、−4− 辺が中央部より高くなるように形成されている皿状のス
ペーサを載せ、この皿状のスペーサの周辺部を加圧装置
で加圧するようにしであるので、貼付しようとする多数
のウェハはこのスペーサを介して同時かつ均一に加圧さ
れることになり、ウェハの貼付作業が大幅に省力化され
ると共に、余分な接着ワックスが外部に押出されるので
接着面が平坦となり、研磨作業を高効率化すると同時に
高精度に行なうことが可能となる。
治具に取付けるとき、研磨治具の上に接着ワックスを塗
布してその上にウニノ\を貼付するのであるが、このと
きそれぞれのウェハの上面に周、−4− 辺が中央部より高くなるように形成されている皿状のス
ペーサを載せ、この皿状のスペーサの周辺部を加圧装置
で加圧するようにしであるので、貼付しようとする多数
のウェハはこのスペーサを介して同時かつ均一に加圧さ
れることになり、ウェハの貼付作業が大幅に省力化され
ると共に、余分な接着ワックスが外部に押出されるので
接着面が平坦となり、研磨作業を高効率化すると同時に
高精度に行なうことが可能となる。
[実施例]
以下、本発明による一実施例を図を用いて説明する。
第1図は本発明のウェハ研磨方法に用いられるウェハ取
付装置の一実施例の説明図を示す。第3図と同一部分に
は同一符号が付けられている。
付装置の一実施例の説明図を示す。第3図と同一部分に
は同一符号が付けられている。
図において5はスペーサで、ウェハ1の上面を押える。
6はスペーサ5を通してウニノ11を加圧する加圧装置
である。
である。
第2 図(a) 、 (b)はスペーサ5の詳細図を示
すもので、同図(a)が上面図、同図(b)が側面図を
示す。
すもので、同図(a)が上面図、同図(b)が側面図を
示す。
スペーサ5はテフロン等の耐熱性合成樹脂でコーティン
グされた薄鋼板で作製されており、数葉に分割されて周
辺が中央部より高くなるように皿状に形成されている。
グされた薄鋼板で作製されており、数葉に分割されて周
辺が中央部より高くなるように皿状に形成されている。
第1図、第2図より、本実施例では、ホットプレート4
により所定の温度に加熱された研磨治具2の上面所定位
置に接着ワックスを塗布する。
により所定の温度に加熱された研磨治具2の上面所定位
置に接着ワックスを塗布する。
塗布された接着ワックスの上にウェハ1を貼付し、その
上にスペーサ5を載せる。
上にスペーサ5を載せる。
ウェハ1とスペーサ5がそれぞれセットされたならば、
その上部より加圧装置6により加圧する。
その上部より加圧装置6により加圧する。
このときスペーサ5にはそれぞれ一様に圧力が加わるの
でウェハ1も均一に加圧されることになる。また、同時
に余分なワックスがウェハ1の周辺から外部に押出され
るので、ウェハ1と研磨治具2の接着面が平坦となり、
研磨精度が向上することになる。
でウェハ1も均一に加圧されることになる。また、同時
に余分なワックスがウェハ1の周辺から外部に押出され
るので、ウェハ1と研磨治具2の接着面が平坦となり、
研磨精度が向上することになる。
加圧装置6による加圧時間は1分以下で十分である。
所定の加圧時間が経過したならば研磨治具2を取出して
冷却部に移し、塗布したワックスを固化させてウェハ1
を研磨治具2に完全に固定させる。
冷却部に移し、塗布したワックスを固化させてウェハ1
を研磨治具2に完全に固定させる。
このような操作により、ウェハに塗布されたワックス層
の厚さのバラツキを2μm以下とすることができ、また
、ウェハ研磨後の平坦度を4μm以下とすることが可能
となる。
の厚さのバラツキを2μm以下とすることができ、また
、ウェハ研磨後の平坦度を4μm以下とすることが可能
となる。
以下、本実施例を用いることにより次のような効果が得
られる。
られる。
(1)多数のウェハを同時に加圧、処理することができ
るので、従来のようにウェハを1枚毎処理する場合に比
べ、作業効率を格段に向上させることができる。
るので、従来のようにウェハを1枚毎処理する場合に比
べ、作業効率を格段に向上させることができる。
(2)スペーサを用いたことにより、貼付精度、並びに
ウェハの平坦度を大幅に向上することができる。
ウェハの平坦度を大幅に向上することができる。
(3) ウェハサイズが異なる場合でも取付及び研磨
作業が容易となり、多品種、少量生産ラインを拡張する
ことができる。
作業が容易となり、多品種、少量生産ラインを拡張する
ことができる。
(4) ウェハの厚さが同一ならば、サイズが異なる
場合でも同一研磨治具に同一精度で取付けて稼動するこ
とができる。
場合でも同一研磨治具に同一精度で取付けて稼動するこ
とができる。
[発明の効果]
本発明によれば、ウェハの貼付作業を省力化して研磨作
業の効率、精度を大幅に向上する半導体ウェハの研磨方
法を提供することができる。
業の効率、精度を大幅に向上する半導体ウェハの研磨方
法を提供することができる。
第1図は本発明の半導体ウェハの研磨方法に用いられる
取付装置の一実施例の説明図、第2図はスペーサの説明
図、第3図は従来方法を用いる説明図である。 1:ウ エ ハ、 2 : 研 磨 治 具、 4:ホットプレート、 5ニス ベ − サ、 6 : 加 圧 装 置。
取付装置の一実施例の説明図、第2図はスペーサの説明
図、第3図は従来方法を用いる説明図である。 1:ウ エ ハ、 2 : 研 磨 治 具、 4:ホットプレート、 5ニス ベ − サ、 6 : 加 圧 装 置。
Claims (1)
- (1)半導体ウェハを接着ワックスを用いて研磨治具に
貼付して表面を研磨する半導体ウェハの研磨方法におい
て、前記研磨治具が予熱された平坦な面を備え、該平坦
な面の複数個所に前記接着ワックスを塗布してその上に
前記半導体ウェハをそれぞれ貼付し、該貼付された複数
の半導体ウェハの上面に皿状のスペーサを設け、該スペ
ーサの上面部を加圧装置により加圧して前記複数の半導
体ウェハを同時に前記研磨治具に圧着し、その後該研磨
治具を冷却して前記接着ワックスを固化することを特徴
とする半導体ウェハの研磨方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62052680A JPS63221970A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体ウエハの研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62052680A JPS63221970A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体ウエハの研磨方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63221970A true JPS63221970A (ja) | 1988-09-14 |
Family
ID=12921597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62052680A Pending JPS63221970A (ja) | 1987-03-06 | 1987-03-06 | 半導体ウエハの研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63221970A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5573447A (en) * | 1993-07-13 | 1996-11-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for grinding brittle materials |
JP2012204604A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Fujikoshi Mach Corp | ワーク貼着方法およびワーク貼着装置 |
-
1987
- 1987-03-06 JP JP62052680A patent/JPS63221970A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5573447A (en) * | 1993-07-13 | 1996-11-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for grinding brittle materials |
JP2012204604A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Fujikoshi Mach Corp | ワーク貼着方法およびワーク貼着装置 |
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