JPS6318523A - 追記型光デイスクの欠陥検査方式 - Google Patents
追記型光デイスクの欠陥検査方式Info
- Publication number
- JPS6318523A JPS6318523A JP16208186A JP16208186A JPS6318523A JP S6318523 A JPS6318523 A JP S6318523A JP 16208186 A JP16208186 A JP 16208186A JP 16208186 A JP16208186 A JP 16208186A JP S6318523 A JPS6318523 A JP S6318523A
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- Japan
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- write
- defect
- optical disk
- rotational speed
- disk
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
追記型光ディスクの記録部分に読出しモードのレーザ光
を照射してその反射光によりディスクの欠陥を検出する
欠陥検査方式において、この欠陥検査時のディスクの回
転速度をデータの書込みあるいは読出し時の回転速度よ
りも速くすることにより、バースト欠陥の検出を可能と
するとともに検査に要する時間を短縮するようにした。
を照射してその反射光によりディスクの欠陥を検出する
欠陥検査方式において、この欠陥検査時のディスクの回
転速度をデータの書込みあるいは読出し時の回転速度よ
りも速くすることにより、バースト欠陥の検出を可能と
するとともに検査に要する時間を短縮するようにした。
本発明は、追記型光ディスクを回転しながらその記録部
分に読出しモードのレーザ光を照射し、その反射光に基
づいてディスクの欠陥を検出する追記型光ディスクの欠
陥検出方式に関する。
分に読出しモードのレーザ光を照射し、その反射光に基
づいてディスクの欠陥を検出する追記型光ディスクの欠
陥検出方式に関する。
第２図は追記型光ディスクの一例のデータ記録前の状態
を示す図であり、セクタアドレスなどを示すＩＤ部（セ
クタ識別部）に後続して設けられるデータ記録部分には
トラッキング制御を行うためのプリグループ（案内溝）
が予め形成されており、データはこのプリグループの底
部に記録される。
を示す図であり、セクタアドレスなどを示すＩＤ部（セ
クタ識別部）に後続して設けられるデータ記録部分には
トラッキング制御を行うためのプリグループ（案内溝）
が予め形成されており、データはこのプリグループの底
部に記録される。
第２図（ｂ）は同図（ａｌに示したプリグループＰの線
■−〇での断面を示す図であり、同図にＡで示す部分は
記録膜が塗布されず、また、Ｂで示す部分は記録膜が厚
く塗布されたいずれも欠陥部分であり、このような欠陥
部分にはデータが正しく記録されない。
■−〇での断面を示す図であり、同図にＡで示す部分は
記録膜が塗布されず、また、Ｂで示す部分は記録膜が厚
く塗布されたいずれも欠陥部分であり、このような欠陥
部分にはデータが正しく記録されない。
従来、データを正確に記録するための一つの方法として
、データの記録を行った直後に記録されたデータを読出
し、この読出したデータと記録したデータとを比較して
その一致により誤りのないことを確認することが行われ
ているが、記録した複数のセクタ中に誤りが発見された
場合には予め設けられた交替セクタに再度記録を行わな
ければならず、必ずしも使用されない交替セクタを用意
しておく必要があるばかりでなく、記録に用いるデータ
バッファの記憶容量に相当するデータが一度に記録され
るため、例えばこの記憶容量が２０セクタ分の場合には
記録を開始したセクタからこの２０セクタより後にこの
交替セクタを設ける必要があり、しかもこのようにして
記録を行ったにしても第３図（ａ）に示したところから
明らかなように記録されたデータの配列が順番にならな
いのでデータの読出しに余計なアクセスタイムを要した
り、あるいは読出したデータの処理に無用な処理を付加
することが必要になるなどの欠点がある。
、データの記録を行った直後に記録されたデータを読出
し、この読出したデータと記録したデータとを比較して
その一致により誤りのないことを確認することが行われ
ているが、記録した複数のセクタ中に誤りが発見された
場合には予め設けられた交替セクタに再度記録を行わな
ければならず、必ずしも使用されない交替セクタを用意
しておく必要があるばかりでなく、記録に用いるデータ
バッファの記憶容量に相当するデータが一度に記録され
るため、例えばこの記憶容量が２０セクタ分の場合には
記録を開始したセクタからこの２０セクタより後にこの
交替セクタを設ける必要があり、しかもこのようにして
記録を行ったにしても第３図（ａ）に示したところから
明らかなように記録されたデータの配列が順番にならな
いのでデータの読出しに余計なアクセスタイムを要した
り、あるいは読出したデータの処理に無用な処理を付加
することが必要になるなどの欠点がある。
このような欠点を除去するために、記録を行う以前に追
記型光ディスクの欠陥を検査することが行われており、
その一つの方法として、被検査ディスクを回転させなが
ら記録部分に読出しモードのレーザ光を照射して第２図
（Ｃ）のような反射光を検出し、その反射光に基づく出
力がＡ′に示したように記録膜が塗布されなかった部分
で低下し、またＢ′で示したように記録膜が厚く塗布さ
れた部分で上昇し、これらの値が予め定めた値を超える
ことによって記録部分の欠陥の存在を検出することが行
われている。
記型光ディスクの欠陥を検査することが行われており、
その一つの方法として、被検査ディスクを回転させなが
ら記録部分に読出しモードのレーザ光を照射して第２図
（Ｃ）のような反射光を検出し、その反射光に基づく出
力がＡ′に示したように記録膜が塗布されなかった部分
で低下し、またＢ′で示したように記録膜が厚く塗布さ
れた部分で上昇し、これらの値が予め定めた値を超える
ことによって記録部分の欠陥の存在を検出することが行
われている。
このようにして記録を行う以前に記録部分に欠陥の検出
されたセクタについては、該当するセクタのＩＤ部にエ
ラーフラグを書き込んでおくことによりデータ記録時に
そのセクタに書込みが行われないようにすることによっ
て、第３図Ｃｂ）に示すように欠陥のあったセクタを飛
ばして順次各セクタに記録を行うことができるが、この
欠陥の存在の検査をデータの記録シーケンスと組み合わ
せて一つのシーケンスとして実行すると書込み処理時間
が著しく大きくなり、また、光ディスクの使用開始前に
その全面についての検査を行うようにすると長い検査時
間が必要になるという欠点があった。
されたセクタについては、該当するセクタのＩＤ部にエ
ラーフラグを書き込んでおくことによりデータ記録時に
そのセクタに書込みが行われないようにすることによっ
て、第３図Ｃｂ）に示すように欠陥のあったセクタを飛
ばして順次各セクタに記録を行うことができるが、この
欠陥の存在の検査をデータの記録シーケンスと組み合わ
せて一つのシーケンスとして実行すると書込み処理時間
が著しく大きくなり、また、光ディスクの使用開始前に
その全面についての検査を行うようにすると長い検査時
間が必要になるという欠点があった。
また、このような第２図について説明した検査方法の場
合に、書込みあるいは読出しに用いられる回転速度によ
って検査を行うと記録ピットの長さ程度の長さを有する
欠陥は容易に検出できるけれども、記録ビットに比して
著しく長いバースト欠陥についてはその反射光の変化量
がその長さに比して少なく、したがって第２図ＴＣ）に
示したような検出出力のこのバーストによる出力の変化
は極めて低い周波数帯域に存在するので、増幅器の周波
数特性などに基づく検出器の検出能力の点からその検出
が困難であった。
合に、書込みあるいは読出しに用いられる回転速度によ
って検査を行うと記録ピットの長さ程度の長さを有する
欠陥は容易に検出できるけれども、記録ビットに比して
著しく長いバースト欠陥についてはその反射光の変化量
がその長さに比して少なく、したがって第２図ＴＣ）に
示したような検出出力のこのバーストによる出力の変化
は極めて低い周波数帯域に存在するので、増幅器の周波
数特性などに基づく検出器の検出能力の点からその検出
が困難であった。
（発明が解決しようとする問題点〕
本発明は、第２図について説明したような、追記型光デ
ィスクの使用前に読出しモードのレーザ光により記録部
分の欠陥を検査する追記型光ディスクの欠陥検査方式に
おいて、検査の所要時間を短縮するとともに長いバース
ト欠陥の検出を可能にした欠陥検査方式を提供しようと
するものである。
ィスクの使用前に読出しモードのレーザ光により記録部
分の欠陥を検査する追記型光ディスクの欠陥検査方式に
おいて、検査の所要時間を短縮するとともに長いバース
ト欠陥の検出を可能にした欠陥検査方式を提供しようと
するものである。
本発明は、欠陥検査時における未記録の追記型光ディス
クの回転速度を、書込みあるいは読出し時における回転
速度より速い回転速度とすることにより、このディスク
の検査を短時間に行い得るようにするとともに、長いバ
ースト欠陥の検出を可能ならしめた。
クの回転速度を、書込みあるいは読出し時における回転
速度より速い回転速度とすることにより、このディスク
の検査を短時間に行い得るようにするとともに、長いバ
ースト欠陥の検出を可能ならしめた。
この回転速度の切換を行うためには、第１図に示すよう
に、追記型光ディスクＤを回転させるための駆動モータ
Ｍの駆動回路に書込みおよび読出し時の回転速度と検査
時の回転速度とを切換える回転速度制御手段Ｃを設ける
ことにより達成することができる。
に、追記型光ディスクＤを回転させるための駆動モータ
Ｍの駆動回路に書込みおよび読出し時の回転速度と検査
時の回転速度とを切換える回転速度制御手段Ｃを設ける
ことにより達成することができる。
本発明が対象とするような追記型光ディスクを回転しな
がら記録トランクを追跡して欠陥を検出する欠陥検査方
式においては、この光ディスクの回転速度を高くすれば
その検査に要する時間が短縮されることは格別の説明を
要しないであろう。
がら記録トランクを追跡して欠陥を検出する欠陥検査方
式においては、この光ディスクの回転速度を高くすれば
その検査に要する時間が短縮されることは格別の説明を
要しないであろう。
しかしながら、このように高速の回転速度で検査を行う
と、検出し得る欠陥の最小の大きさが大きくなる。すな
わち、記録あるいは読出しの際に用いられる回転速度に
おいて読出し可能な大きさの最小値が光学系のＭ Ｔ
Ｆ （Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ ＴｒａｎｓｆｅｒＦｕｎ
ｃｔｉｏｎ）の制約などにより１μｍであるとすると、
例えばその１００倍の回転速度で読出せる最小値はその
１００倍の１１００ｃｒとなり、これ以下の長さを有す
る欠陥を検出することができなくなる。
と、検出し得る欠陥の最小の大きさが大きくなる。すな
わち、記録あるいは読出しの際に用いられる回転速度に
おいて読出し可能な大きさの最小値が光学系のＭ Ｔ
Ｆ （Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ ＴｒａｎｓｆｅｒＦｕｎ
ｃｔｉｏｎ）の制約などにより１μｍであるとすると、
例えばその１００倍の回転速度で読出せる最小値はその
１００倍の１１００ｃｒとなり、これ以下の長さを有す
る欠陥を検出することができなくなる。
ところで、このような追記型光ディスクにおいて欠陥と
して検出する必要があるのは、記録したデータが正しく
再生できないような欠陥であり、光ディスクから読出し
た情報を誤り訂正手段などを用いて訂正することによっ
て正しいデータが得られる場合には欠陥として検出する
必要がないことは明らかであろう。このような誤り訂正
手段として、例えば特開昭６０−１４３４８５号公報に
より開示された誤り訂正方式においては２００ビット程
度のバースト誤りについては完全に訂正することが可能
である。したがって記録および読出しに用いられる回転
速度における読出し可能な最小の大きさが１μｍである
とすれば上記のような誤り訂正方式を適用することによ
り２００μｍ以下のバースト欠陥を検出する必要はなく
なり、この検査の際の光ディスクの回転速度を通常の読
出し時の回転速度の２００倍程変色することができる。
して検出する必要があるのは、記録したデータが正しく
再生できないような欠陥であり、光ディスクから読出し
た情報を誤り訂正手段などを用いて訂正することによっ
て正しいデータが得られる場合には欠陥として検出する
必要がないことは明らかであろう。このような誤り訂正
手段として、例えば特開昭６０−１４３４８５号公報に
より開示された誤り訂正方式においては２００ビット程
度のバースト誤りについては完全に訂正することが可能
である。したがって記録および読出しに用いられる回転
速度における読出し可能な最小の大きさが１μｍである
とすれば上記のような誤り訂正方式を適用することによ
り２００μｍ以下のバースト欠陥を検出する必要はなく
なり、この検査の際の光ディスクの回転速度を通常の読
出し時の回転速度の２００倍程変色することができる。
このように、本発明における欠陥検査時の追記型光ディ
スクの回転速度は、検出すべきバースト欠陥の最小の大
きさと使用されるエラー訂正方式とを勘案して定めるも
のである。
スクの回転速度は、検出すべきバースト欠陥の最小の大
きさと使用されるエラー訂正方式とを勘案して定めるも
のである。
第４図は追記型光ディスクが記録・再生機構にローディ
ングされたときにこの光ディスクの欠陥の検査を行うよ
うにした本発明の実施例を示すブロック図である。
ングされたときにこの光ディスクの欠陥の検査を行うよ
うにした本発明の実施例を示すブロック図である。
追記型光ディスクｌがローディングされると、ディスク
センサ２はこの光ディスクが所定位置に存在することを
示す信号をディスクローディング検出器３に送出し、こ
の検出器がデスクのローディングが完了したことを検出
してローディング終了信号を送出すると、この信号を受
けたディスクドライバ４はピックアップ５に読出しモー
ドの光量のレーザ光を上記光ディスクに投射するように
制御する光量切換信号を送出すると同時に、通常の回転
速度より速い検査のための回転速度で光ディスク１を回
転させるように回転駆動モータ６を制御する。
センサ２はこの光ディスクが所定位置に存在することを
示す信号をディスクローディング検出器３に送出し、こ
の検出器がデスクのローディングが完了したことを検出
してローディング終了信号を送出すると、この信号を受
けたディスクドライバ４はピックアップ５に読出しモー
ドの光量のレーザ光を上記光ディスクに投射するように
制御する光量切換信号を送出すると同時に、通常の回転
速度より速い検査のための回転速度で光ディスク１を回
転させるように回転駆動モータ６を制御する。
上記ピックアップから光ディスクに投射されたレーザ光
線はプリグループで反射され、この反射光はこのピック
アップ内の光電変換素子により第３図（Ｃ１に示したよ
うな出力信号を発生し、レベル検出器７によりその信号
レベルが欠陥の存在を示す振幅に達すると欠陥検出信号
を前記ディスクドライバ４と信号発生器８に印加し、デ
ィスクドライバ４は前記ピンクアップ５のレーザ光線の
強度を書込みレベルに上昇させ、同時に信号発生器８は
エラーフラグ書込信号をこのピックアップに供給して欠
陥が検出されたセクタのＩＤ部にエラーフラグを書込み
、このセクタにはデータの書込みが行われないようにす
る。
線はプリグループで反射され、この反射光はこのピック
アップ内の光電変換素子により第３図（Ｃ１に示したよ
うな出力信号を発生し、レベル検出器７によりその信号
レベルが欠陥の存在を示す振幅に達すると欠陥検出信号
を前記ディスクドライバ４と信号発生器８に印加し、デ
ィスクドライバ４は前記ピンクアップ５のレーザ光線の
強度を書込みレベルに上昇させ、同時に信号発生器８は
エラーフラグ書込信号をこのピックアップに供給して欠
陥が検出されたセクタのＩＤ部にエラーフラグを書込み
、このセクタにはデータの書込みが行われないようにす
る。
なお、この第４図に示したスライス回路９は通常の読出
し信号を整形してこの光ディスクに記録されて１いたデ
ータを図示しない例えばプロセッサを含むような読取り
手段に供給するものであり、また、以上に説明した追記
型光ディスクの検査および通常の記録・読取りの制御が
図示しないプロセッサなどの制御手段により行われるこ
とはいうまでもない。
し信号を整形してこの光ディスクに記録されて１いたデ
ータを図示しない例えばプロセッサを含むような読取り
手段に供給するものであり、また、以上に説明した追記
型光ディスクの検査および通常の記録・読取りの制御が
図示しないプロセッサなどの制御手段により行われるこ
とはいうまでもない。
本発明によれば、追記型光ディスクの欠陥検査に要する
時間を例えば１／２００程度に短縮することができ、ま
た、この追記型光ディスクから読出したデータに誤り訂
正処理を行うことによって正確に記録・再生ができる欠
陥については欠陥として検出されないので、このような
検出されない欠陥を有する記録部分も記録に利用するこ
とにより追記型光ディスクの記録容量を実質上大きくす
ることができるという格別の作用効果を得ることができ
る。
時間を例えば１／２００程度に短縮することができ、ま
た、この追記型光ディスクから読出したデータに誤り訂
正処理を行うことによって正確に記録・再生ができる欠
陥については欠陥として検出されないので、このような
検出されない欠陥を有する記録部分も記録に利用するこ
とにより追記型光ディスクの記録容量を実質上大きくす
ることができるという格別の作用効果を得ることができ
る。
第１図は本発明の詳細な説明する図、第２図は追記型光
ディスクの記録・読取りを説明する図、第３図はデータ
の記録状態を概念的に説明する図、第４図は本発明の実
施例の要部を示すブロック図である。 ａイ【イ１５−杉′ 練狸起 第１図 （ｂ） （。） °提 Ｍ’６乙型免−１ンスりのワ０リク：し一つ８じび゛ス
Ｓｈ％Ｄｈ奴１畜そ第２図
ディスクの記録・読取りを説明する図、第３図はデータ
の記録状態を概念的に説明する図、第４図は本発明の実
施例の要部を示すブロック図である。 ａイ【イ１５−杉′ 練狸起 第１図 （ｂ） （。） °提 Ｍ’６乙型免−１ンスりのワ０リク：し一つ８じび゛ス
Ｓｈ％Ｄｈ奴１畜そ第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 追記型光ディスクを回転しながらこの光ディスクの記録
部分に読出しモードのレーザ光を照射するとともに、検
出されたこの光ディスクからの反射光に基づいてディス
クの欠陥を検査する追記型光ディスクの欠陥検査方式に
おいて、 この検査時におけるディスクの回転速度を、データの書
込みあるいは読出し時の回転速度よりも速くしたことを
特徴とする追記型光ディスクの欠陥検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16208186A JPS6318523A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 追記型光デイスクの欠陥検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16208186A JPS6318523A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 追記型光デイスクの欠陥検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6318523A true JPS6318523A (ja) | 1988-01-26 |
Family
ID=15747722
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16208186A Pending JPS6318523A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 追記型光デイスクの欠陥検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6318523A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008282529A (ja) * | 2008-07-11 | 2008-11-20 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
| JP2009289395A (ja) * | 2009-07-13 | 2009-12-10 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
| US7738332B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-06-15 | Hitachi, Ltd. | Reproduction method, optical disk drive, and IC circuit |
| JP2011187160A (ja) * | 2011-06-27 | 2011-09-22 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
-
1986
- 1986-07-11 JP JP16208186A patent/JPS6318523A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7738332B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-06-15 | Hitachi, Ltd. | Reproduction method, optical disk drive, and IC circuit |
| JP2008282529A (ja) * | 2008-07-11 | 2008-11-20 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
| JP4538512B2 (ja) * | 2008-07-11 | 2010-09-08 | 株式会社日立製作所 | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
| JP2009289395A (ja) * | 2009-07-13 | 2009-12-10 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
| JP2011187160A (ja) * | 2011-06-27 | 2011-09-22 | Hitachi Ltd | 情報記録装置、情報記録方法、および記録媒体 |
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