JPS63181145A - 磁気光学ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、差動再生法による再生信号の検出を行う磁気
光学ヘッドの構成に関する。

〔従来の技術〕

情報の書き換えが可能な大容量高密度メモリとして、磁
気光学的情報記録媒体である光磁気ディスクメモリが実
用化されようとしている。しかし、その磁気光学ヘッド
は、通常の光デイスク用光学ヘッドに比べ、情報記録面
から反射してくる光の偏光状態の微小変化（カー効果）
を検出しなければならないため、Ｃ／Ｈの向上が最も重
要・な課題となっている。と（に、半導体レーザ光源の
強度変動や、情報記録面の反射光量の変動があると、情
報記録面から反射してくる光を単一の検光子のみで検波
する直接再生法では十分なＣ／Ｎが得られなかった。従
来、このような再生信号の強度変動を原因とするＣ／Ｈ
の劣化を防ぐために、２個の検光子で検波する差動再生
法が提案されている。

しかし、構造的に大形になるといった問題点があり実用
には至らなかった。

これに対し、特開昭５７−４４２４１号に記載のように
、検光子として偏光分離機能を有するウォラストンプリ
ズムを用いて、互いに直交する偏光面を持つ２つの光に
分離し、七〇差動出力によって信号を再生するといった
差動再生法が提案されている。また、特開昭５７−１６
９９４７号に記載のように、検光子として偏光ビームス
プリッタを用いる方法も提案されている。

ウォラストンプリズムを用いる構成では、その偏光分離
角が比較的小さいため、２つの受光領域が同一平面上に
一体化して形成された１個の光検出器を用いればよく、
ヘッドが構造的に簡単で小形になる。しかし、ウォラス
トンプリズム自体が水晶等の材料を用いるために高価で
あることや、大きな偏光分離角を得るためにはウォラス
トンプリズムの形状が大きくなるといった問題があった
。

一方、偏光ビームスプリッタを用いる構成は、ウォラス
トンプリズムよりも安価となる。しかし、透過光と反射
光とに分離するので分離角が９０度と非常に大きく、そ
れぞれの光を検出するために２個の光検出器を必要とす
るといった問題点があった。

これに対し、第３３回応用物理学関係連合講演会講演予
稿集２ｐ−Ｈ−１２に記載のように、検光子に偏光ビー
ムスプリッタを用い、かつ光検出器が１個で済む小形の
ヘッドが提案されている。この偏光ビームスプリッタは
、偏光膜をはさんで三角柱プリズムと傾斜した反射面を
有する光学部材により構成されている。この偏光ビーム
スプリッタに平行光束を入射させ、偏光膜と反射面の相
対角により偏光分離角を設定することができるようにな
っている。

〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、上記従来技術では、所定の偏光分離角に設定さ
れた２つの光束をそれぞれの受光領域に導びくための集
光レンズを、偏光ビームスプリッタの後方に配置するの
で、偏光ビームスプリッタから光検出器までの距離が長
くなる点については配慮されていなかった。さらに、傾
斜した反射面を有する光学部材を用いた偏光ビームスプ
リッタは、２個の三角柱プリズムで構成された一般の偏
光ビームスプリッタに比べて製造コストが高くなる点に
ついても配慮されていなかった。さらに、フォーカス誤
差信号等を検出するために、特別の分割受光領域を有す
る光検出器が必要とされ、安価な６分割受光素子を応用
するといった点は配慮されていなかった。

本発明の目的は、上記問題点を解決し、偏光ビームスプ
リッタから光検出器までの距離を短かくしてヘッドを小
形化し、さらに安価な偏光ビームスプリッタを用いて差
動再生法による再生信号の検出を、さらには安価な６分
割受光素子を用いてフォーカス誤差信号の検出を行うこ
とのできる磁気光学ヘッドの構成を提供することにある
。

〔問題点を解決するための手段〕

上記した目的を達成するために、本発明では、検光子を
、Ｐ偏光を透過しＳ偏光を反射する偏光膜と、その偏光
膜をはさんで三角柱プリズムと透明平板てより成る偏光
ビームスプリッタとした。

〔作用〕

本発明で用いる偏光ビームスプリッタの偏光膜は、従来
の偏光ビームスプリッタの偏光膜と同様に、入射する光
をＰ偏光の透過光と、Ｓ偏光の反射光とに分離する作用
を有する。偏光膜を透過したＰ偏光は、透明平板中を進
行し、裏側平面で全反射して再度偏光膜を透過し、この
透過したＰ偏光と偏光膜で反射したＳ偏光とが、所定の
間隔に分離される。ここで、透明平板の厚さをｔとする
と、分離されるＰ偏光とＳ偏光の間隔ｄは、ｄ＝万ｔ　
　　　　　　　　・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・（１）となる。これより、この偏光ビー
ムスプリッタを集光レンズ後方の収束光中に配置すれば
、間隔ｄは、集束レンズの焦点距離、偏光ビームスグリ
ツタの位置や偏光ビームスプリッタの屈折率等によらず
一定であることがわかる。また、収束光中て配置するの
で、偏光ビームスプリッタから光検出器までの距離を短
かく構成することができる。また、透明平板の裏面への
入射角は全反射の臨界角よりも大きくすることができる
ので、全反射のためのコーティングが不要となる。偏光
ビームスプリッタの屈折率をかとすれば、臨界角θＣは
、θ、　＝　５ｉｎ−’　（１）　　　　　　　　・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（２）
ル である。収束光光軸の入射角が４５度において、全反射
コーティング不要となる収束光の入射角αの範囲は、 １αｌ　＜　４５　度−θＣ・・・・・・・・・・・・
・・・・−・・−・・＋３１である。例えば、偏光ビー
ムスプリッタに光学ガラスＥＫ７を用いた場合には、 となる。光学ガラス、５７’ｌｌを用いた場合には、と
なる。また、透明平板は、傾斜した反射面を有する光学
部材や三角柱プリズムに比べて形状が簡単であるから、
本発明で用いられる偏光ビームスプリッタの製造コスト
は、従来のそれよりも安くなる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を、図面を参照して詳細に説明す
る。

第１図は本発明による磁気光学ヘッドの第１の実施例を
示す側面図である。第１図において、直線偏光光源であ
る半導体レーザ光源１かも発射された発散光束２は、コ
リメータレンズ３により平行光束４となる。平行光束４
は、ビームスプリッタ５を透過して、ミラー６で反射さ
れた後、対物レンズ７により絞り込まれて、磁気光学的
情報記録媒体であるディスク８の情報記録面８α上に照
射される。

ディスク８からの反射光束９は、対物レンズ７により再
び平行光束１０に変換され、ミラー６で反射され、ビー
ムスプリッタ５の反射面５αで反射される。反射後の平
行光束１１は、光学軸の方位が２２．５度の）波長板１
２に入射し、出射光の偏光の方位を４５度回転させる。

この平行光束１１は、集光レンズ１３に入射して収束光
束１４となる。収束光束１４は、略４５度回転して配置
された円柱レンズ１５に入射し、非点収差が与えられる
。円柱レンズ１５を通過した収束光束１４は、検光子で
ある偏光ビームスプリッタ１６に入射する。

偏光ビームスプリッタ１６は、Ｐ偏光（紙面に平行な振
動方向の偏光）を透過し、Ｓ偏光（紙面に垂直な振動方
向の偏光）を反射する偏光膜１６αをはさんで、二等辺
直角三角柱プリズム１６Ａと、平行な透明平板１６Ｃに
より成っている。収束光束１４は、三角柱プリズム１６
ｂの上側より偏光膜１６αに入射する。偏光膜１６αを
透過したＰ偏光１４αは、透明平板１６Ｃの裏側平面１
６ｄで全反射して再度偏光Ｍ　１６ａを透過して三角柱
プリズム１６ｂの左側に向かって進行する。一方、偏光
膜１６αで反射されたＳ偏光１４ｂも、Ｐ偏光１４αと
同じ方向に進行し、光検出器１７に入射する。

光検出器１７は、第２図Ｉ／Ｃ示すように、Ｐ偏光１４
αを受光する受光領域１７αと、Ｓ偏光１４Ａを受光す
る田の字状の４分割受光領域１７ｂ　、　１７ｃ、　１
７ｄ。

１７ａと未使用の受光領域１７ｆとを含み、かつ各受光
領域１７α〜ｆが同一平面上に一体化して形成された６
分割受光素子である。このような６分割受光素子は、広
くコンパクトディスクプレーヤ等に使用されており、安
価で入手可能である。例えば、Ｐ偏光１４αとＳ偏光１
４ｂの間隔ｄが、ｄ　中０．３６ｍ　　　　　　　　　
・・・曲・曲・川・凹曲山・・（６１の時は、（１）式
より透明平板１６ｃの厚さｔを、ｅ　中０．２５１１　
　　　　　　　　　・・・・・川・・・・・・・・旧・
・・・・・・・・・・（７１・に設定すれば良い。容易
に入手可能な６分割受光・素子の間隔ｄは、 ０．１５１ＲＩ　＜　ｄ　＜　０．６０ｍ　　　　　・
・・・・・・・・・・・・・・曲・・・・・・・・・・
（８１の範囲にあるから、 ０．１１！！Ｉ　＜　ｔ　＜　０．４３１１１　　　　
　・・曲■・・叩・・凹曲・・・（９）の範囲とすれば
よい。

受光領域１７ｂ　、　１フｄの出力信号１８と受光領域
１７ｃ、。

１７４の出力信号１９は、加算器２０により加算され信
号２１となる。受光領域１７αの出力信号２２と信号２
１は、減算器２３により減算され差動再生法による再生
信号２４が検出される。一方、出力信号１８と出力信号
１９は、減算器２５により減算されフォーカス誤差信号
２６が検出される。さらに、信号２１と出力信号２２は
、加算器２７により加算され、和信号２８が検出される
。和信号２８からは、トラッキング誤差信号等が検出さ
れるが、本発明の主旨とは関係ないので説明は省略する
。

光検出器１７上のＰ偏光１４ｂのスポット形状が円形の
時に、Ｓ偏光１４αのスポット形状が若干楕円状になる
。これは、Ｐ偏光１４ａがＳ偏光１４ｂに比べて、透明
平板１６Ｃ中を進行する分だけ光路の長さが長いためで
ある。これによる焦点ずれδは、厚さｔ、屈折率ルを用
いて、 δ＝−ｈｊ−・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・（１０）ル とあられされる。例えば、 とすると δ＝０．２０１１　　　　　　・・−・・明・・・・・
明・・明・・・・・（１２）となり、焦点ずれδはわず
かであり問題ないことがわかる。

本実施例では、透明平板１６ｃを平行平板としたがこれ
に限るものではない。例えば、第３図に示すような偏光
ビームスプリッタ２９を、偏光ビームスプリッタ１６の
代わり圧用いることもできる。

この偏光ビームスプリッタ２９は、偏光膜２９αをはさ
んで、二等辺直角三角柱プリズム２９ｈと、くさび状の
透明平板２９ＣＪＣより成っている。ここで、透明平板
の厚さを’ｔ＜さび状の透明平板２９ｃのくさび角をβ
、屈折率をル、二等辺直角二角柱プリズム２９ｈの辺の
長さをｌ、偏光ビームスプリッタ２９と光検出器１７の
間隔をｅとすると、分離されるＰ偏光１４αとＳ偏光１
４ｂの間隔ｄは、ｄ−Ｆ−レ２　ｔ　＋ｌｄ　＋　２β
ルー　　　凹曲・・川・・・・・（１３）となる。この
場合、収束光光軸の入射角は、（入射角）＝４５度十β
　　・・・叫・川・・川・・（１４）であるから、全反
射コーティング不要となる収束光の入射角αの範囲は、 １αｌ＜４５度＋７−θＣ・・・・・・・・・・・・・
・・・・（１５）となる。例えば、偏光ビームスプリッ
タにＢＨ３を用い、（さび角βを β＝３ｉ　　　　　　　　　・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・旧・・・・・・・・（１６）とした場合
には、 となり、平行平板の場合に比べて全反射コーティング不
要となる収束光の入射角αの範囲がより拡大されること
がわかる。

第４図は、本発明による磁気光学ヘッドの第３の実施例
を示す側面図である。第４図において、直線偏光光源で
ある半導体レーザ光源１から発射された発散光束２は、
コリメータレンズ３０の第１の集光レンズ群３０αによ
り平行光束に近い発散光束３１となる。この発散光束３
１は、ビームスプリッタ５を透過後、コリメータレンズ
３０の第２の集光レンズ群３０ｂにより平行光束４とな
る。平行光束４は、ミラー６で反射された後１．対物レ
ンズ７により絞り込まれて、磁気光学的情報記録媒体で
あるディスク８の情報記録面８α上に照射される。

ディスク８からの反射光束９は、対物レンズ７により再
び平行光束１０に変換され、ミラー６で反射され、第２
の集光レンズ群３ｏｂにより元の発散光束３１と同じ平
行光束に近い収束光束３２となる。

収束光束３２は、ビームスプリッタ５の反射面５αで反
射される。反射後の収束光束３３は、光学軸の方位が２
２．５度の音波長板１２に入射し、出射光の偏光の方位
は４５度回転する。この収束光束３３は、検光子である
偏光ビームスプリッタ１６に入射する。

偏光ビームスプリッタ１６は、第１の実施例と同じであ
るので説明は省略する。Ｐ偏光１４αとＳ偏光１４ｂは
、４５度回転して配置された円柱レンズ１５に入射し、
非点収差が与えられる。円柱レンズ１５を通過したＰ偏
光１４αとＳ偏光１４ｂは、光検出器１７に入射する。

光検出器１７からの信号検出方法は第１の実施例と同じ
であるので説明は省略する。

本実施例では、透明平板１６ｃを平行平板とじたがこれ
に限るものではなく、第１の実施例と同様に第３図に示
すような偏光ビームスプリッタ２９を、偏光ビームスプ
リッタ１６の代わりに用いることができる。この場合の
作用については前述と同じであるので説明は省略する。

なお、第１の実施例および第２の実施例においては、磁
気光学ヘッドをより小形化する目的で、構成光学部品の
接着複合化がなされている。

第１図に示した第１の実施例においては、ビームスプリ
ッタ５と十波長板１２を接合し、円柱レンズ１５と偏光
ビームスプリッタ１６を接合した。

第４図に示した第２の実施例（おいては、ビームスプリ
ッタ５．＋波長板１２．偏光ビームスプリッタ１６およ
び円柱レンズ１５を接合した。

さらに、ミラー６を内部反射で使うことによりビームス
グリツタ５と接合することもできる。ただし内部反射に
おいては偏光に位相差を生じることがあるので、位相差
が発生しないような反射膜のコーティングや外部に位相
差補正手段が必要である。

なお、第１の実施例および第２の実施例においては、再
生信号の他にフォーカス誤差信号をも検出するために、
円柱レンズ１５といった非点収差光学手段と４分割受光
領域を設けたが、これに限るものではない。

第５図は、本発明による磁気光学ヘッドの第１の実施例
の変形例である。平行光束１１が集光レンズ１３に入射
して収束光束１４となるまでは第１の実施例と同じであ
る。収束光束１４は、偏光ビームスプリッタ３４に入射
する。

偏光ビームスプリッタ３４は、偏光膜３４αをはさんで
、二等辺直角三角柱プリズム３４ｂと、第６図に示すよ
うな厚さの異なる２枚の平行な透明平板３４ｃ１　、３
４’２により成っている。この２枚の透明平板３４７１
　、３４Ｃ２は接合されており、その接合ｉ！４３４ｅ
は収束光束１４の中央に位置させである。収束光束１４
は、三角柱プリズム３４ｂの上側より偏光膜３４αに入
射する。偏光膜３４αを透過したＰ偏光１４αは、透明
平板３４ＣＩ　、　３４Ｃ２の娯側平面３４ｄ、　、　
３４ｄ２で全反射して２分割され、Ｐ偏光１４α１，１
４α２となり、再度偏光膜３４αを透過して三角柱プリ
ズム３４ｂの左側に向かって進行する。一方、偏光膜３
４αで反射されたＳ偏光１４Ａも、Ｐ偏光１４ａｌ　、
　１４ａ２と同じ方向に進行し、光検出器１７に入射す
る。

光検出器１７は、第７図に示すように、第１の実施例と
同一のものが利用できる。例えば、Ｐ偏光１４αｌとＳ
偏光１４ｈの間隔ｄ！と、Ｐ偏光１４α２とＳ偏光１４
ｂの間隔ｄ２がそれぞれ、 の時は、（１）式より透明平板３４ｄｌ、　３４ｄｔの
厚さｔ□。

ｔ２を、 に設定すれば良い。

受光領域１７ｈ、　１７ｇの出力信号３５と受光領域１
７Ｃ、１７ｄの出力信号３６は、減算器３７により減算
されフォーカス誤差信号３８が検出される。さらに、信
号３５と信号３６は、加算器３９により加算され、信号
４０が出力される。信号４０と、受光領域１７αの出力
信号４１は、減算器４２により減算されトラッキング誤
差信号４３が検出される。さらに、信号４０と信号４１
は、加算器４４により加算され、信号４５が出力される
。受光領域１７ｆの出力信号４６と信号４５は、減算器
４７により減算され差動再生法による再生信号４８が検
出される。さらに、信号４６と信号４５は、加算器４９
により加算され和信号５０が出力される。

この実施例は、ウェッジ法によるフォーカス誤差検出の
構成の一例であり、これに限るものではなく幾多の変形
が可能である。

第８図は、本発明による磁気光学ヘッドの第１の実施例
の他の変形例である。平行光束１１が集光レンズ１３に
入射して収束光束１４となるまでは第１の実施例と同じ
である。収束光束１４は、偏光ビームスプリッタ５１に
入射する。

偏光ビームスプリッタ５１は、偏光膜５１αをはさんで
、二等辺三角柱プリズム５１ｂと、第９図に示すように
、１枚の平行な透明平板５１Ｃ１と２枚のくさび状の透
明平板５１　Ｃ２、５ｌ　ｃ　３により成っている。

この３枚の透明平板５１Ｃ１＋　５ＩＣ２、５Ｃ’３は
接合されており、その接合線５１ｊ、　、　５１４２は
収束光束１４の中央に位置させてあり互いに直交してい
る。収束光束１４は、三角柱プリズム５１ｂの上側より
偏光膜５１αに入射する。偏光膜５１αを透過したＰ偏
光１４αは、透明平板５１Ｃｔ　、　５１Ｃｚ　ｌ　５
１Ｃ３の部側平面５１ｄ１　、５１４＋５１ｄ３で全反
射して３分割され、Ｐ偏光１４α１１　ｙ　１４α１２
＋１４２．３となり、再度偏光膜５１αを透過して三角
柱プリズム５１ｂの左側に向かって進行する。一方、偏
光膜５１αで反射されたＳ偏光１４ｂも、Ｐ偏光１４ａ
１１　＋　１４αｘｚ　＋　１４４１３と同じ方向に進
行し、光検出器１７に入射する。

光検出器１７は、第１０図に示すように、第１の実施例
と同一のものが利用できる。透明平板５１ｃ、　。

５１Ｃ２、５１ｔ”３の厚さとくさび角を所定の値に設
定することにより、図のような各受光領域に光束を入射
させる。

受光領域１７Ｃの出力信号５２と受光領域１７ｄの出力
信号５３は、減算器５４により減算されフォーカス誤差
信号５５が検出される。さらに、受光領域１７ｂの出力
信号５６と受光領域１７１の出力信号５７は、減算器５
８により減算されトラッキング誤差信号５９が検出され
る。信号５２．信号５３．信号５６、および信号５７は
、加算器６０により加算され信号６１が出力される。受
光領域１７ｆの出力信号６２と信号６１は、減算器６３
により減算され差動再生法による再生信号６４が検出さ
れる。さらに、信号６２と信号６１は、加算器６５によ
り加算され和信号６６が検出される。

この他にも、様々な変形例が可能であることは言うまで
もない。

以上説明したように、本発明の一実施例によれば、検光
子を偏光膜をはさんで三角柱プリズムと透明平板より成
る偏光ビームスプリッタで構成し、これを集光レンズと
光検出器との間の収束光中に配置する構成とした。また
は、コリメータレンズを第１の集光レンズ群と第２の集
光レンズ群とに分け、ビームスプリッタをこれらの間に
配置するとともに、検光子を偏光膜をはさんで三角柱プ
リズムと透明平板より成る偏光ビームスプリッタで構成
し、これをビームスプリッタと光検出器との間の収束光
中に配置する構成とした。

これにより、偏光ビームスプリッタから光検出器までの
距離を短かくしてヘッドを小形とし、さらに安価な偏光
ビームスプリッタを用いて、差動再生法による再生信号
の検出を行えるようになるといった効果がある。

また、光検出器て入射する光束に非点収差を与えるため
の非点収差光学手段をビームスプリッタと光検出器との
間に配置するとともに、偏光ビームスプリッタで分離さ
れるＰ偏光とＳ偏光のそれぞれを受光する受光領域の一
方を田の字状４分割受光素子として、この出力信号より
フォーカス誤差信号を得るようにした。

これにより、容易に入手可能な６分割受光素子を光検出
器に用いて、差動再生法による再生信号とフォーカス誤
差信号の両方を検出することができるといった効果があ
る。

〔発明の効果〕

本発明によれば、ヘッドの小型化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の磁気光学ヘッドの側面図、
第２図は第１図の光検出器と信号処理ブロック図、第３
図は偏光ビームスプリッタと光検出器の側面図、第４図
は本発明の他の実施例の磁気光学ヘッドの側面図、第５
図は第１図の変形例の磁気光学ヘッドの側面図、第６図
は第５図の透明平板の斜視図、第７図は第５図の光検出
器と信号処理ブロック図、第８図は第１図の他の変形例
の磁気光学ヘッドの側面図、第９図は第８図の透明平板
の斜視図、第１０図は第８図の光検出器と信号処理ブロ
ック図である。 １３・・・集光レンズ、１５・・・円柱レンズ、１６・
・・偏光ビームスプリッタ、 １６α・・・偏光膜、　　　　１６ｈ・・・三角柱プリ
ズム、１６Ｃ・・・透明平板、　　　１４α・・・Ｐ偏
光、１４ｂ・・・Ｓ偏光、　　　　１７・・・光検出器
。 代毬へ云埋士　ｌ」＼　月１　肪　男ゝ−・処２区 もつ　凶 拓４　図 第５聞 あ乙　図 カフ目 地８に 第７図 男１０の

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、半導体レーザ光源と、該半導体レーザ光源から発射
   された光束を集光して磁気光学的情報記録媒体の情報記
   録面上に導く対物レンズと、該情報記録面からの反射光
   束を検波するための検光子と、該検波された光を検出す
   る光検出器を有する磁気光学ヘッドにおいて、該検光子
   を、Ｐ偏光を透過しＳ偏光を反射する偏光膜と、該偏光
   膜をはさんで三角柱プリズムと透明平板により成る偏光
   ビームスプリッタとするとともに、該検光子を収束光束
   中に配置したことを特徴とする磁気光学ヘッド。 ２、該偏光ビームスプリッタを該集光レンズと該光検出
   器との間の収束光中に配置したことを特徴とする特許請
   求の範囲第１項に記載の磁気光学ヘッド。 ３、該光検出器を、該偏光ビームスプリッタの該偏光膜
   を透過したＰ偏光が該透明平板の裏側平面で全反射して
   再度該偏光膜を透過するＰ偏光を受光する第１の受光領
   域と、該偏光膜で反射するＳ偏光を受光する第２の受光
   領域とを含み、かつ該第１の受光領域と該第２の受光領
   域とを略同一平面上に一体化して形成し、該第１の受光
   領域と該第２の受光領域の出力信号の差により再生信号
   を得るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲１項
   又は第２項に記載の磁気光学ヘッド。 ４、該半導体レーザ光源から発射された発散光束を平行
   光束にするコリメータレンズと、該情報記録面からの反
   射光束を該半導体レーザ光源からの光路から分離するた
   めのビームスプリッタと、該分離された光束を検波する
   ための検光子とを有し、該コリメータレンズは第１の集
   光レンズ群と第２の集光レンズ群とにより成り、該ビー
   ムスプリッタを該第１の集光レンズ群と該第２の集光レ
   ンズ群との間に配置するとともに、該検光子は、Ｐ偏光
   を透過しＳ偏光を反射する偏光膜と、該偏光膜をはさん
   で三角柱プリズムと透明平板により成る偏光ビームスプ
   リッタであり、該偏光ビームスプリッタを該ビームスプ
   リッタと該光検出器との間の収束光中に配置するととも
   に、該光検出器は、該偏光ビームスプリッタの該偏光膜
   を透過したＰ偏光が該透明平板の裏側平面で全反射して
   再度該偏光膜を透過するＰ偏光を受光する第１の受光領
   域と、該偏光膜で反射するＳ偏光を受光する第２の受光
   領域とを含み、かつ該第１の受光領域と該第２の受光領
   域とが略同一平面上に一体化して形成されており、該第
   １の受光領域と該第２の受光領域の出力信号の差により
   再生信号を得るようにしたことを特徴とする特許請求の
   範囲第１項記載の磁気光学ヘッド。 ５、該光検出器に入射する光束に非点収差を与えるため
   の非点収差光学手段を該ビームスプリッタと該光検出器
   との間に配置するとともに、該第１の受光領域と該第２
   の受光領域の少なくとも一方を田の字状の４分割受光領
   域として、該４分割受光領域の出力信号よりフォーカス
   誤差信号を得るようにしたことを特徴とする特許請求の
   範囲第３項または第４項に記載の磁気光学ヘッド。