[go: up one dir, main page]

JPS63139632A - Vacuum suction device - Google Patents

Vacuum suction device

Info

Publication number
JPS63139632A
JPS63139632A JP61281814A JP28181486A JPS63139632A JP S63139632 A JPS63139632 A JP S63139632A JP 61281814 A JP61281814 A JP 61281814A JP 28181486 A JP28181486 A JP 28181486A JP S63139632 A JPS63139632 A JP S63139632A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suction
vacuum suction
inner opening
positive pressure
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61281814A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0575539B2 (en
Inventor
Akihito Hirata
平田 明仁
Yasumasa Nishimura
西村 安正
Tadahiro Fuse
布施 忠宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61281814A priority Critical patent/JPS63139632A/en
Publication of JPS63139632A publication Critical patent/JPS63139632A/en
Publication of JPH0575539B2 publication Critical patent/JPH0575539B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Jigs For Machine Tools (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、真空吸着技術、特に、薄い板状物を繰り返し
て吸着保持する技術に関し、例えば、半導体装置の製造
工程において、ウェハを吸着保持するのに利用して有効
な技術に関する。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention relates to vacuum suction technology, in particular to technology for repeatedly suctioning and holding thin plate-like objects, for example, in the process of manufacturing semiconductor devices. Concerning effective techniques that can be used to

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置の製造工程において、ウェハをハンドリング
するシステムとして、エアコンベアと真空吸着装置との
間でウェハを交互に受は渡すように構成されているもの
がある。
2. Description of the Related Art In the manufacturing process of semiconductor devices, some systems for handling wafers are configured to alternately receive and transfer wafers between an air conveyor and a vacuum suction device.

このようなシステムに使用される真空吸着装置として、
吸着面を有する吸着ヘッドと、吸着面に開設されている
吸引口と、吸引口に負圧を供給する吸引路と、吸引路の
途中に介設されている第1開閉弁と、吸引路に第2開閉
弁を介して接続されている流体供給路とを備えており、
吸引口によるウェハの吸着保持を解除する際、第1開閉
弁を閉じて負圧の供給を停止した後、第2開閉弁を開い
て吸引口に流体を供給することにより、吸着を解除する
ように構成されているものがある。
As a vacuum suction device used in such systems,
A suction head having a suction surface, a suction port provided on the suction surface, a suction path that supplies negative pressure to the suction port, a first on-off valve interposed in the middle of the suction path, and a suction port provided in the suction path. and a fluid supply path connected via a second on-off valve,
When releasing the suction and holding of the wafer by the suction port, the first on-off valve is closed to stop the supply of negative pressure, and then the second on-off valve is opened to supply fluid to the suction port to release the suction. There are some that are configured in

なお、真空吸着技術を述べである例としては、特開昭5
7−128939号公報、がある。
Incidentally, an example of vacuum adsorption technology described in Japanese Patent Application Laid-open No. 5
No. 7-128939.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし、このような真空吸着装置においては、真空吸着
保持の解除が第1および第2開閉弁による負圧と正圧と
の切換によって実行されるため、正圧供給時にウェハが
吸着ヘッドに対して遊動する現象が発生し、その結果、
前記エアコンベアへのウェハの受は渡しが不確実になる
という問題点があることが、本発明者によって明らかに
された。
However, in such a vacuum suction device, the release of vacuum suction holding is performed by switching between negative pressure and positive pressure using the first and second on-off valves, so the wafer may not touch the suction head when positive pressure is supplied. A floating phenomenon occurs, and as a result,
The inventor of the present invention has revealed that there is a problem in that the delivery of wafers to the air conveyor becomes uncertain.

本発明の目的は、吸着保持解除時における被吸着物の遊
動を防止することができる真空吸着装置を提供すること
にある。
An object of the present invention is to provide a vacuum suction device that can prevent an adsorbed object from moving when suction holding is released.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
An overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、吸着面に内側開口とこの内側開口を取り囲む
外側開口とを設けるとともに、両開口に各通気路をそれ
ぞれ接続し、これら通気路に負圧および正圧の供給を切
り換える方向制御弁をそれぞれ介設したものである。
That is, an inner opening and an outer opening surrounding the inner opening are provided on the suction surface, and each ventilation passage is connected to each opening, and a directional control valve is provided to each of these ventilation passages to switch the supply of negative pressure and positive pressure. It was established.

〔作用〕[Effect]

前記した手段によれば、両方向制御弁を適宜操作するこ
とにより、真空吸着解除時に外側開口への負圧供給を維
持しながら、内側開口へ正圧を供給させることができる
ため、被吸着物と吸着面との関に空気層を局部的かつ一
時的に封じ込めることができる。この空気層により、被
吸着物は瞬間的に反るが、外側開口へ正圧が供給される
と、それ自体の復元力により吸着面から垂直に浮上する
According to the above-described means, by appropriately operating the bidirectional control valve, it is possible to supply positive pressure to the inner opening while maintaining negative pressure supply to the outer opening when vacuum suction is released, so that it is possible to supply positive pressure to the inner opening. An air layer can be locally and temporarily confined in relation to the adsorption surface. This air layer momentarily warps the adsorbed object, but when positive pressure is supplied to the outer opening, it floats vertically from the adsorption surface due to its own restoring force.

すなわち、被吸着物は横に遊動することなく、吸着面か
ら垂直に浮き上げられて吸着を解除されたことになる。
In other words, the object to be attracted does not move laterally, but is lifted vertically from the attraction surface and is released from attraction.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例である真空吸着装置を示す模
式的平面図、第2図は第1図の■−■線に沿う縦断面図
、第3図はその作用を説明するためのタイムチャート図
、第4図および第5図は同じく縦断面図である。
Fig. 1 is a schematic plan view showing a vacuum adsorption device which is an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a vertical cross-sectional view taken along the line ■-■ in Fig. 1, and Fig. 3 is for explaining its operation. The time chart diagrams, FIGS. 4 and 5 are also longitudinal sectional views.

本実施例において、この真空吸着装置は吸着ヘッド2を
備えており、このヘッド2は図示されない駆動装置によ
り昇降されるように構成されている。吸着へラド2は略
円盤形状に形成されており、その上面は被保持物として
のウェハlの外径よりも小径に設定されて吸着面3を構
成している。吸着面3には実質的に開口をそれぞれ構成
している中心穴4、中間穴5および周辺穴6がそれぞれ
円形の小穴形状に穿設されており、中心穴4は吸着面3
の中心線上に、中間穴5は複数個が吸着面3の同心円上
で中心穴4を取り囲むように周方向に互いに略等間隔に
、また、周辺穴6は複数個が吸着面3の周辺部で中間穴
5を同心円に取り囲むように周方向に互いに略等間隔に
、それぞれ配設されている。
In this embodiment, this vacuum suction device is equipped with a suction head 2, and this head 2 is configured to be raised and lowered by a drive device (not shown). The suction pad 2 is formed into a substantially disk shape, and its upper surface forms a suction surface 3 with a smaller diameter than the outer diameter of the wafer 1 as the object to be held. The suction surface 3 has a center hole 4, an intermediate hole 5, and a peripheral hole 6, each of which substantially constitutes an opening, each having a circular small hole shape.
On the center line of the suction surface 3, a plurality of intermediate holes 5 are arranged at approximately equal intervals in the circumferential direction so as to surround the center hole 4 on a concentric circle of the suction surface 3, and a plurality of peripheral holes 6 are arranged on the peripheral part of the suction surface 3. They are arranged at approximately equal intervals in the circumferential direction so as to concentrically surround the intermediate hole 5.

吸着ヘッド2の内部にはIJ1通気路7と第2通気路8
とが互いに流体的に独立する(連通しない)ように配さ
れて開設されており、第1通気路7は中間穴5に、第2
通気路8は中心穴4および周辺穴6にそれぞれ連通する
ように構成されている。
There are an IJ1 ventilation path 7 and a second ventilation path 8 inside the suction head 2.
are arranged and opened so that they are fluidly independent (do not communicate) with each other, and the first ventilation passage 7 is connected to the intermediate hole 5, and the second
The ventilation path 8 is configured to communicate with the center hole 4 and the peripheral hole 6, respectively.

これにより、周辺穴6群は内側開口としての中間穴5群
を取り囲む外側開口を実質的に構成することになる0両
通気路7.8には第1および第2配管9、lOが実質的
に通気路の一部を構成するように流体的にそれぞれ連結
されており、両配管9、lOは真空ポンプ等からなる負
圧源11、およびエアタンク等からなる正圧源12にそ
れぞれ接続されている。
As a result, the peripheral hole 6 group substantially constitutes an outer opening surrounding the intermediate hole 5 group as an inner opening. Both pipes 9 and 1O are connected to a negative pressure source 11 such as a vacuum pump and a positive pressure source 12 such as an air tank. There is.

両配管9.10の途中には方向制御弁としての第1およ
び第2電磁弁13.14がそれぞれ介設されており、両
電磁弁13.14は配管に対する負圧1ittと正圧源
12との切り換えを実行するように構成されている0両
電磁弁13.14のソレノイド15.16はコンピュー
タやタイマ等からなるコントローラ17に接続されてお
り、コントローラ17はソレノイドを介して両電磁弁1
3.14を適宜作動することにより、後述するような作
用を実現するように構成されている。
First and second solenoid valves 13.14 as directional control valves are interposed in the middle of both piping 9.10, and both solenoid valves 13.14 supply negative pressure 1itt and positive pressure source 12 to the piping. The solenoids 15 and 16 of the two solenoid valves 13 and 14 are connected to a controller 17 consisting of a computer, a timer, etc.
By operating 3.14 as appropriate, it is configured to realize the effects described below.

本実施例において、第1図に示されているように、吸着
ヘッド2はエアコンベア20の末端近傍に配設されてお
り、エアコンベア20との間でウェハlを相互に受は渡
すようになっている。そして、このエアコンベア20は
両側面ガイド21が吸着へフド2の外方には達していな
い構造になっている。また、吸着ヘッド2からエアコン
ベア20へのウェハの受は渡しを実行するため、吸着へ
フド2には複数個の送り用吹出口18がエアコンベア2
0の中心線と平行になるように2列に配されて、エアを
エアコンベア20(Illに傾斜させて上向きに吹き出
せるように開設されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 1, the suction head 2 is disposed near the end of the air conveyor 20, and is configured to receive and pass the wafer l between it and the air conveyor 20. It has become. This air conveyor 20 has a structure in which both side guides 21 do not reach the outside of the suction hood 2. In addition, in order to transfer the wafer from the suction head 2 to the air conveyor 20, the suction hood 2 has a plurality of feeding outlets 18 that are connected to the air conveyor 20.
They are arranged in two rows parallel to the center line of the air conveyor 20 (Ill), and are opened so that air can be blown upward at an angle to the air conveyor 20 (Ill).

次に作用を説明する。Next, the effect will be explained.

被吸着物としてのウェハ1がエアコンベア20から吸着
ヘッド2の吸着面3上に送られストッパ(図示せず)等
により機械的に位置決めされると、コントローラ17に
よりソレノイド15.16を介して第3図に示されてい
るように、第1および第2電磁弁13.14が配管9.
10を負圧源11にそれぞれ接続させるように切り換え
られる。
When the wafer 1 as an object to be attracted is sent from the air conveyor 20 onto the attraction surface 3 of the attraction head 2 and mechanically positioned by a stopper (not shown) or the like, a As shown in FIG. 3, the first and second solenoid valves 13.14 are connected to the piping 9.
10 to the negative pressure source 11, respectively.

これにより、第1および第2通気路9.10を経由して
負圧が中心穴4、中間穴5および周辺穴6の全てに供給
されるため、ウェハ1は吸着面3に全体にわたって真空
吸着され、吸着ヘッド2に保持されることになる。
As a result, negative pressure is supplied to all of the center hole 4, intermediate hole 5, and peripheral hole 6 via the first and second ventilation passages 9.10, so that the wafer 1 is vacuum-suctioned entirely on the suction surface 3. and is held by the suction head 2.

この真空吸着保持状態において、吸着ヘッド2が上昇さ
れる等してウェハ1は所望の作業を実施される。
In this vacuum suction holding state, the suction head 2 is raised, and the wafer 1 is subjected to a desired operation.

その後、ウェハlについての真空吸着保持が解除される
際、第3図に示されているように、コントローラ17に
より第2電磁弁14が負圧倒に接続されたまま、第1電
磁弁13が正圧倒に切り換えられる。続いて、若干時間
(例えば、約0.5秒間)経過後、第2電磁弁14も正
圧倒に切り換えられるとともに、送り用吹出口18から
エアが吹き出されると、ウェハlは横に遊動することな
く、垂直に浮上し、エアコンベア2Gの両ガイド21.
21間に真直ぐ適正に送り込まれる。
Thereafter, when the vacuum holding on the wafer l is released, as shown in FIG. It can be switched overwhelmingly. Subsequently, after a certain amount of time (for example, about 0.5 seconds) has passed, the second solenoid valve 14 is also switched to forward pressure, and when air is blown out from the feeding outlet 18, the wafer l moves laterally. The air conveyor 2G's guides 21.
It is sent straight and properly between 21 and 21.

ところで、真空吸着保持解除時に、全ての穴に正圧が同
時に供給された場合、第4図に示されているように、ウ
ェハ1が吸着面3に対して微小に傾斜するため、第1図
に想像線で示されているように、ウェハlが横にずれて
エアコンベア20の両ガイド21.21間に送り込まれ
ずに片側のガイド21に衝突する等の事故が発生する。
By the way, if positive pressure is supplied to all the holes at the same time when vacuum suction holding is released, the wafer 1 will be slightly tilted with respect to the suction surface 3 as shown in FIG. As shown by the imaginary line in , an accident occurs in which the wafer l shifts laterally and collides with one guide 21 without being sent between the guides 21 and 21 of the air conveyor 20.

これは、各穴における正圧の大きさにばらつきが発生し
ウェハ1が傾斜するため、起こると考えられる。
This is thought to occur because the wafer 1 is tilted due to variations in the magnitude of the positive pressure in each hole.

しかし、本実施例においては、真空吸着保持解除時にお
いて、中心穴4および周辺穴6と中間穴5とに対する負
圧から正圧への切り換えに時的差が設けられるため、ウ
ェハlは垂直に浮上しエアコンベア20に適正に送り込
まれる。
However, in this embodiment, when the vacuum suction holding is released, there is a time difference in switching from negative pressure to positive pressure for the center hole 4, peripheral hole 6, and intermediate hole 5, so that the wafer l is vertically It floats up and is properly sent to the air conveyor 20.

すなわち、まず、第2電磁弁14が負圧倒に接続された
ままで、第1電磁弁13が正圧倒に切り換えられると、
第1通気路9Oを介して中心穴4および周辺穴6に負圧
が供給され、第1通気路9を介して中間穴5に正圧が供
給されるため、第5図に示されているように、ウェハ1
は吸着面3との間に局部的な空気層19が形成されるよ
うに極く微小に弾性変形する。このとき、外側開口とし
ての周辺穴6群はウェハlの周辺部を吸着することによ
り、内側開口としての中間穴5群による空気層19を封
じ込めることになる。しかし、ウェハ1はそれ自体の弾
性により元の平板形状に瞬間的に復元する。
That is, first, when the first solenoid valve 13 is switched to positive overflow while the second solenoid valve 14 remains connected to negative overflow,
Negative pressure is supplied to the center hole 4 and peripheral hole 6 through the first ventilation path 9O, and positive pressure is supplied to the intermediate hole 5 through the first ventilation path 9, as shown in FIG. So, wafer 1
is elastically deformed extremely minutely so that a local air layer 19 is formed between it and the suction surface 3. At this time, the group of peripheral holes 6 serving as the outer openings attracts the peripheral portion of the wafer l, thereby sealing the air layer 19 caused by the group of intermediate holes 5 serving as the inner openings. However, the wafer 1 instantaneously restores its original flat shape due to its own elasticity.

この復元時、第2電磁弁14が正圧倒に切り換えられる
と、正圧分布のばらつき如何にかかわらず、ウェハ1は
横に遊動することなく垂直に浮上し、送り用吹出口18
からのエア吹き出しに従ってエアコンベア20に適正に
送り込まれる。
During this restoration, when the second solenoid valve 14 is switched to positive pressure, the wafer 1 floats vertically without moving laterally, regardless of variations in the positive pressure distribution, and the wafer 1 floats vertically through the feeding outlet 18.
The air is properly fed into the air conveyor 20 according to the air blown from the air.

前記実施例によれば次の効果が得られる。According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.

(1)  吸着面に内側開口と、この内側開口を取り囲
む外側開口とを設けるとともに、両開口に各通気路をそ
れぞれ接続し、これら通気路に負圧および正圧の供給を
切り換える方向制御弁をそれぞれ介設することにより、
両方向制御弁を適宜操作することによって、真空吸着解
除時に外側開口への負圧供給を維持しながら、内側開口
へ正圧を供給させることができるため、被吸着物を局部
的かつ一時的に弾性変形させることができ、その結果、
変形後の復元を利用して被吸着物を吸着面に対して垂直
に浮上させ、適正な真空吸着解除を実現させることがで
きる。
(1) An inner opening and an outer opening surrounding the inner opening are provided on the suction surface, and each ventilation passage is connected to both openings, and a directional control valve is installed in each of these ventilation passages to switch the supply of negative pressure and positive pressure. By intervening respectively,
By appropriately operating the two-way control valve, it is possible to supply positive pressure to the inner opening while maintaining negative pressure to the outer opening when vacuum suction is released, thereby locally and temporarily making the target object elastic. can be transformed, so that
By utilizing the restoration after deformation, the object to be attracted can be made to float perpendicularly to the suction surface, and proper release of vacuum suction can be achieved.

(2)真空吸着解除時に被吸着物を吸着面に対して垂直
に浮上させることにより、被吸着物をエアコンベア等に
横ずれ等を起こすことなく適正に送り込むことができる
ため、エアコンベアの両側面ガイドを真空吸着装置の対
向部まで延しし得ない状況の場合であっても、吸着解除
後の物品をエアコンベアの両側面ガイド間にirI突事
故や脱落事故を発生することなく適正に送り込むことが
できる。
(2) By floating the object perpendicular to the suction surface when vacuum suction is released, the object can be properly fed into the air conveyor, etc. without causing lateral displacement, so both sides of the air conveyor Even in situations where the guide cannot be extended to the opposite part of the vacuum suction device, the article after suction is released is properly fed between the guides on both sides of the air conveyor without causing an irI accident or falling accident. be able to.

ちなみに、エアコンベアのガイドを真空吸着装置の所ま
で延長し得ない状況としては、密着式露光装置において
、露光ステージに設備されている真空吸着装置にウェハ
がエアコンベアにより受は渡たされるハンドリングシス
テムが採用されている場合がある。つまり、この場合、
真空吸着装置の周りには露光ステージの他の機器が設備
されているため、エアコンベアのガイドを真空吸着装置
の所まで延長することができない。
Incidentally, a situation in which it is not possible to extend the guide of the air conveyor to the vacuum suction device is the handling situation in which the wafer is transferred by the air conveyor to the vacuum suction device installed on the exposure stage in a contact exposure system. system may be used. That is, in this case,
Since other equipment of the exposure stage is installed around the vacuum suction device, the guide of the air conveyor cannot be extended to the vacuum suction device.

(■ 方向制御弁をコンピュータやタイマ等からなるコ
ントローラによって自動操作されるように構成すること
により、真空吸着装置の真空吸着およびその解除作動を
全自動化させることができるため、無人化ないしは省力
化を促進することができる。
(■ By configuring the directional control valve to be automatically operated by a controller consisting of a computer, timer, etc., the vacuum suction and release operations of the vacuum suction device can be fully automated, making it possible to unmanned or save labor. can be promoted.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸説しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist of the invention. Not even.

例えば、真空吸着解除時に周辺穴6群への負圧供給を維
持したまま、中間穴5群へ正圧を供給するように構成す
るに限らず、中間穴5群への負圧供給を維持したまま、
中心穴4へ正圧を供給するように構成してもよい、この
場合、中間穴5群が内側開口としての中心穴4を取り囲
む外側開口となる。
For example, the configuration is not limited to supplying positive pressure to the 5 groups of intermediate holes while maintaining the negative pressure supply to the 6 groups of peripheral holes when vacuum suction is released; Mama,
It may be configured to supply positive pressure to the center hole 4. In this case, the intermediate hole 5 group becomes an outer opening surrounding the center hole 4 as an inner opening.

内側開口および外側開口は複数の小穴により構成するに
限らず、環状溝等により構成してもよい。
The inner opening and the outer opening are not limited to being formed by a plurality of small holes, but may be formed by an annular groove or the like.

真空吸着解除時における外側開口への負圧供給から正圧
供給への切換時間差、外側開口および内側開口の有効開
口it等は、負圧源の排気速度、正圧源の圧力等と、被
吸着物の弾性変形度およびその復元力等との関係に対応
して、各諸例毎に実験やコンピュータシェミレーシジン
による経験的な解析手法等により最適値を適宜設定する
ことが望ましい。
The switching time difference from negative pressure supply to positive pressure supply to the outer opening when vacuum suction is released, the effective opening IT of the outer opening and inner opening, etc. are determined by the pumping speed of the negative pressure source, the pressure of the positive pressure source, etc., and the adsorbed target. It is desirable to appropriately set the optimal value for each case by experiment or empirical analysis method using computer shemiresis, depending on the relationship between the degree of elastic deformation of the object and its restoring force.

また、吸着ヘッド、吸着面、開口および通気路等の形状
、構造等は所望に応じて変形することが望ましい。
Further, it is desirable that the shapes, structures, etc. of the suction head, suction surface, openings, ventilation passages, etc. be modified as desired.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるウェハの真空吸着装
置に通用した場合について説明したが、それに限定され
るものではなく、その他の基板、板材、小片、直方体等
の固形物を真空吸着する真空吸着装置全般に通用するこ
とができる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to a vacuum suction device for wafers, which is the background field of application of the invention, but it is not limited thereto, and is applicable to other substrates, plate materials, etc. It can be used in general vacuum suction devices that vacuum suction solid objects such as small pieces and rectangular parallelepipeds.

(発明の効果) 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
(Effects of the Invention) The effects obtained by typical inventions disclosed in this application will be briefly described as follows.

吸着面に内側開口と、この内側開口を取り囲む外側開口
とを設けるとともに、両開口に各通気路をそれぞれ接続
し、これら通気路に負圧および正圧の供給を切り換える
方向制御弁をそれぞれ介設することにより、両方向制御
弁を適宜操作することによって、真空吸着解除時に外側
開口への負圧供給を維持しながら、内側開口へ正圧を供
給させることができるため、被吸着物を局部的かつ一時
的に弾性変形させることができ、その結果、変形後の復
元を利用して被吸着物を吸着面に対して垂直に浮上させ
、適正な真空吸着解除を実現させることができる。
An inner opening and an outer opening surrounding the inner opening are provided on the suction surface, and each ventilation passage is connected to both openings, and a directional control valve for switching the supply of negative pressure and positive pressure is interposed in each of these ventilation passages. By operating the two-way control valve appropriately, it is possible to supply positive pressure to the inner opening while maintaining negative pressure to the outer opening when vacuum suction is released, which allows the target object to be locally and It can be temporarily elastically deformed, and as a result, the object to be attracted can be made to float perpendicularly to the suction surface by using the restoration after deformation, and proper release of vacuum suction can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例である真空吸着装置を示す模
式的平面図、 第2図は第1図の1」線に沿う縦断面図、第3図はその
作用を説明するためのタイムチャート図、 第4図および第5図は同じく縦断面図である。 1・・・ウェハ(被吸着物)、2・・・吸着ヘッド、3
・・・吸着面、4・・・中心穴、5・・・中間穴(内側
開口)、6・・・周辺穴(外側開口)、7・・・第1通
気路、8・・・第2通気路、9.10・・・配管、11
・・・負圧源、12・・・正圧源、13.14・・・電
磁弁(方向制御弁)、15.16− ・−ソレノイド、
17・・・コントローラ、18・・・送り用吹出口、1
9・・・空気層、20・・・エアコンベア、2I・・・
側面ガイド。 第  1  図 4−f心へ 、y−(牛1八こ?ブーく(Iて1イ」P゛1聞てコ)
c −saw、六(yyf+1 F/I o )第  
2  図 第  3  図 一−−−ヅリ出 第  4  図 第  5  図
Fig. 1 is a schematic plan view showing a vacuum adsorption device which is an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a vertical cross-sectional view taken along line 1'' in Fig. 1, and Fig. 3 is a diagram for explaining its operation. The time chart, FIG. 4, and FIG. 5 are also longitudinal sectional views. 1... Wafer (object to be attracted), 2... Suction head, 3
... Adsorption surface, 4... Center hole, 5... Middle hole (inner opening), 6... Peripheral hole (outer opening), 7... First ventilation path, 8... Second Ventilation path, 9.10...Piping, 11
... Negative pressure source, 12... Positive pressure source, 13.14... Solenoid valve (directional control valve), 15.16- - Solenoid,
17... Controller, 18... Feeding outlet, 1
9...Air layer, 20...Air conveyor, 2I...
Side guide. 1st Figure 4-f To the heart, y- (18 cows? Booku (I te 1 I) P゛1 listen)
c-saw, 6th (yyf+1 F/I o )th
2 Fig. 3 Fig. 1 --- Extrusion Fig. 4 Fig. 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、吸着面の内側部分に配設されている内側開口と、吸
着面に内側開口を取り囲むように配設されている外側開
口と、内側開口および外側開口にそれぞれ接続されてい
る各通気路と、これら通気路にそれぞれ介設されており
、負圧および正圧の供給を切り換えるように構成されて
いる各方向制御弁とを備えており、真空吸着解除時に外
側開口への負圧供給を維持しながら、内側開口へ正圧を
供給することにより、被吸着物下に局部層を形成させ得
るように構成されていることを特徴とする真空吸着装置
。 2、内側開口および外側開口が、複数個の小穴からそれ
ぞれ構成されており、互いに同心円となる環状に配設さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
真空吸着装置。 3、外側開口が、複数個の小穴から構成されており、内
側開口を取り囲む環状線上に配設されていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の真空吸着装置。
[Claims] 1. An inner opening disposed on the inner part of the suction surface, an outer opening disposed on the suction surface so as to surround the inner opening, and an inner opening and an outer opening connected to each other. It is equipped with each ventilation path and each directional control valve that is installed in each of these ventilation paths and configured to switch the supply of negative pressure and positive pressure. 1. A vacuum adsorption device characterized in that it is configured to form a local layer under an object to be adsorbed by supplying positive pressure to an inner opening while maintaining a negative pressure supply. 2. The vacuum suction device according to claim 1, wherein the inner opening and the outer opening are each composed of a plurality of small holes, and are arranged in an annular shape that is concentric with each other. 3. The vacuum suction device according to claim 1, wherein the outer opening is composed of a plurality of small holes and is arranged on an annular line surrounding the inner opening.
JP61281814A 1986-11-28 1986-11-28 Vacuum suction device Granted JPS63139632A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61281814A JPS63139632A (en) 1986-11-28 1986-11-28 Vacuum suction device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61281814A JPS63139632A (en) 1986-11-28 1986-11-28 Vacuum suction device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63139632A true JPS63139632A (en) 1988-06-11
JPH0575539B2 JPH0575539B2 (en) 1993-10-20

Family

ID=17644364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61281814A Granted JPS63139632A (en) 1986-11-28 1986-11-28 Vacuum suction device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63139632A (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0839377A (en) * 1994-07-29 1996-02-13 Ckd Corp Method and device for removing work from vacuum chuck device
JPH10277772A (en) * 1997-04-02 1998-10-20 Sharp Corp Laser beam machining device for substrate
JP2006036471A (en) * 2004-07-28 2006-02-09 Shinko Electric Co Ltd Substrate delivery method and its device
JP2008041761A (en) * 2006-08-02 2008-02-21 Sekisui Chem Co Ltd Separation method after treating object to be treated and installation device
JP2010177607A (en) * 2009-02-02 2010-08-12 Ushio Inc Work stage and exposure apparatus employing the same
JP2011042130A (en) * 2009-08-21 2011-03-03 Konica Minolta Ij Technologies Inc Method for manufacturing inkjet head
JP2011093081A (en) * 2009-10-30 2011-05-12 Sun Yueh Way Suction apparatus
CN102569147A (en) * 2010-12-28 2012-07-11 上海微电子装备有限公司 Silicon wafer adsorption mechanism and use method thereof
CN104440310A (en) * 2014-12-02 2015-03-25 竹昌精密冲压件(上海)有限公司 Automatic vacuum absorption device of numerically-controlled machine tool
CN106002406A (en) * 2016-07-01 2016-10-12 中航飞机股份有限公司西安飞机分公司 Vacuum turning-connection platform for flexible numerical control milling machine and using method
CN108922863A (en) * 2018-07-03 2018-11-30 苏州映真智能科技有限公司 Silicon wafer pick-up component and silicon wafer grasping mechanism

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0839377A (en) * 1994-07-29 1996-02-13 Ckd Corp Method and device for removing work from vacuum chuck device
JPH10277772A (en) * 1997-04-02 1998-10-20 Sharp Corp Laser beam machining device for substrate
JP2006036471A (en) * 2004-07-28 2006-02-09 Shinko Electric Co Ltd Substrate delivery method and its device
JP4626205B2 (en) * 2004-07-28 2011-02-02 シンフォニアテクノロジー株式会社 Substrate delivery method and apparatus
JP2008041761A (en) * 2006-08-02 2008-02-21 Sekisui Chem Co Ltd Separation method after treating object to be treated and installation device
JP2010177607A (en) * 2009-02-02 2010-08-12 Ushio Inc Work stage and exposure apparatus employing the same
JP2011042130A (en) * 2009-08-21 2011-03-03 Konica Minolta Ij Technologies Inc Method for manufacturing inkjet head
JP2011093081A (en) * 2009-10-30 2011-05-12 Sun Yueh Way Suction apparatus
CN102569147A (en) * 2010-12-28 2012-07-11 上海微电子装备有限公司 Silicon wafer adsorption mechanism and use method thereof
CN104440310A (en) * 2014-12-02 2015-03-25 竹昌精密冲压件(上海)有限公司 Automatic vacuum absorption device of numerically-controlled machine tool
CN106002406A (en) * 2016-07-01 2016-10-12 中航飞机股份有限公司西安飞机分公司 Vacuum turning-connection platform for flexible numerical control milling machine and using method
CN108922863A (en) * 2018-07-03 2018-11-30 苏州映真智能科技有限公司 Silicon wafer pick-up component and silicon wafer grasping mechanism

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0575539B2 (en) 1993-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63139632A (en) Vacuum suction device
US7963578B2 (en) Integrated vacuum gripper with internal releasable magnet and method of using same
TWI392051B (en) The method of removing the processed body and the program memory medium and the placing mechanism
TWI723212B (en) Transfer pad and wafer transfer method
TW202002135A (en) Apparatus for supporting and maneuvering wafers
US3976329A (en) Vacuum braking system for semiconductor wafers
KR101261313B1 (en) Apparatus for aligning and pick up transporting of moving object
JPS62219634A (en) Vacuum holding device
JP2975097B2 (en) Vacuum piping of vacuum suction substrate holding device
JP4942881B2 (en) Container group suspension gripping device and container group suspension gripping method
KR102794197B1 (en) Wafer transfer hand unit and wafer transfer device
JPS63164236A (en) Plate-shaped object holding device
JP4457351B2 (en) Substrate holding device
US6981312B2 (en) System for handling microelectronic dies having a non-piercing die ejector
JPS632345A (en) Vacuum suction apparatus
JPH0745692A (en) Sucking and holding apparatus for board
KR102703609B1 (en) Vacuum transferring apparatus
JPS6281725A (en) Semiconductor wafer chuck jig
JPH03272156A (en) Retention device for semiconductor wafer
KR100688572B1 (en) Index Arm of Semiconductor Device Manufacturing Equipment and Transfer Method Using the Same
KR20180021466A (en) Apparatus for transferring a substrate and Method for transferring a substrate
KR100460031B1 (en) Solenoid valve of semiconductor device manufacturing equipment for making attachment and detachment of a wafer fast by adding one connection tool to the solenoid valve and injecting forcibly gas
KR20240021603A (en) Wafer transfer hand unit and wafer transfer device
CN109427640B (en) Adsorption device and adsorption method
JPS63127844A (en) Vacuum suction device