JPS63120448A - 放熱用基板 - Google Patents
放熱用基板Info
- Publication number
- JPS63120448A JPS63120448A JP26626786A JP26626786A JPS63120448A JP S63120448 A JPS63120448 A JP S63120448A JP 26626786 A JP26626786 A JP 26626786A JP 26626786 A JP26626786 A JP 26626786A JP S63120448 A JPS63120448 A JP S63120448A
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- JP
- Japan
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- heat dissipation
- impregnated
- thermal expansion
- low thermal
- fiber
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は放熱用基板に関する。
半導体装置においては、素子の容量が増大(パワー化)
し、集積度が高密度化するに伴い、素子から発生する熱
の放出を如何にうまく行うか、ということが重要な課題
となっている。
し、集積度が高密度化するに伴い、素子から発生する熱
の放出を如何にうまく行うか、ということが重要な課題
となっている。
そのため、半導体素子(半導体チップ)を放熱用基板に
直接取付けることが行われているが、この場合、放熱用
基板と半導体素子の熱膨張率の差が問題となる。熱膨張
率の差が大きいと、半導体素子のシリコン基板が過大な
応力を受け、基板にクラックを生じたり、動作の異常を
生じたりするのである。
直接取付けることが行われているが、この場合、放熱用
基板と半導体素子の熱膨張率の差が問題となる。熱膨張
率の差が大きいと、半導体素子のシリコン基板が過大な
応力を受け、基板にクラックを生じたり、動作の異常を
生じたりするのである。
従来、粉末状のW(タングステン)やMo(モリブデン
)を焼結させた焼結基板に、Cu(銅)を含浸させた放
熱基板が使用されている。しかしながら、このものは製
造工程が煩雑であり、Cuの充分な含浸も困難である。
)を焼結させた焼結基板に、Cu(銅)を含浸させた放
熱基板が使用されている。しかしながら、このものは製
造工程が煩雑であり、Cuの充分な含浸も困難である。
W、Moの粉末成形体は、1つ1つ成形する必要があり
、さらに、そき焼結体においては、粉末同士が融着し空
隙も少なく、Cuとのヌレ性の割には、焼結体内部へC
Uを充分に含浸させることができないからである。その
ため、充分な放熱性を得ることが難しく、コストも高い
。
、さらに、そき焼結体においては、粉末同士が融着し空
隙も少なく、Cuとのヌレ性の割には、焼結体内部へC
Uを充分に含浸させることができないからである。その
ため、充分な放熱性を得ることが難しく、コストも高い
。
他に使用される放熱用基板として、Cu板とインバー(
Invar:Feが約64重量%でNiが36重量%の
合金)板のクラッド基板がある。
Invar:Feが約64重量%でNiが36重量%の
合金)板のクラッド基板がある。
このクラッド基板は、Cu板で放熱をさせ、インバー板
で膨張を抑えるという構造となっている。
で膨張を抑えるという構造となっている。
しまたがって、インバーは、一定1メートの厚みを有し
ていなければならない。そのため、充分な放熱性を(l
)にくいという問題がある。
ていなければならない。そのため、充分な放熱性を(l
)にくいという問題がある。
、二の発明は、上記の事情に鑑み、放熱性に優れ、低い
熱膨張率であって、しかも、製造も容易な放熱用、j5
板を提供することをL1的たする。
熱膨張率であって、しかも、製造も容易な放熱用、j5
板を提供することをL1的たする。
前記目的を達成するため1、二の発明は、低熱膨張性金
属材料の繊維からなる基材に、放熱性の良い金属材料を
含浸させてなる放熱用基板を要旨点する。
属材料の繊維からなる基材に、放熱性の良い金属材料を
含浸させてなる放熱用基板を要旨点する。
以下、この発明の放熱用基板を、その一実施例の製造過
程から参照しながら詳しく説明する。
程から参照しながら詳しく説明する。
放熱用基板は、次のようにU2て製造される。
まず、低熱膨張性(熱膨張率の小さい)金属(4料から
なる繊維により基材を作る。
なる繊維により基材を作る。
低熱膨張性金属としては、インバー、W、M。
などが用いられるが、通常「半金属」と称されるような
C,、SiCなどでもよい。
C,、SiCなどでもよい。
繊維の態様としては、ウィスカのようなもの、長繊維や
短繊維のようなもの、あるいは、例えば、単線や撚線の
カーボン繊維を用いて織った織布状のようなものなどが
ある。例えば、インバーをビビリ切削することにより、
径100μm、長さ1〜2m+1の繊維を作ることがで
きる。
短繊維のようなもの、あるいは、例えば、単線や撚線の
カーボン繊維を用いて織った織布状のようなものなどが
ある。例えば、インバーをビビリ切削することにより、
径100μm、長さ1〜2m+1の繊維を作ることがで
きる。
繊維は、金型に入れ圧力を加えて、所望形状の基材に成
形する。基材は、内部に隙間がある、いわゆるスケルト
ンになっている。次に、第1図にみるよ・うに、この基
材1をヒータ2でもって加熱し、放熱性の良い金属材料
、例えば、Cuの溶湯3を、金型5の可動型4で圧力を
加えつつ含浸させる。従来のような粉末の焼結体でない
ので、CUば基材1内部へ充分に含浸される。なお、C
uを含浸させる前に、成形体を焼結処理してもよい。焼
結しても、基材は繊維状金属からなるので、やばり含浸
をさせ易い。
形する。基材は、内部に隙間がある、いわゆるスケルト
ンになっている。次に、第1図にみるよ・うに、この基
材1をヒータ2でもって加熱し、放熱性の良い金属材料
、例えば、Cuの溶湯3を、金型5の可動型4で圧力を
加えつつ含浸させる。従来のような粉末の焼結体でない
ので、CUば基材1内部へ充分に含浸される。なお、C
uを含浸させる前に、成形体を焼結処理してもよい。焼
結しても、基材は繊維状金属からなるので、やばり含浸
をさせ易い。
含浸がなされる基材における繊維の占有率(含有率)は
、成形時の圧力、繊維の態様などによって調整すること
ができるが、通常、20〜80体積%とされる。占有率
が20体積%を下回ると、Cuの膨張を抑える効果が得
に(くなってくる。
、成形時の圧力、繊維の態様などによって調整すること
ができるが、通常、20〜80体積%とされる。占有率
が20体積%を下回ると、Cuの膨張を抑える効果が得
に(くなってくる。
占有率が80体積%を上回ると、Cuの含浸量が少なく
なり、充分な放熱効果が得にくくなる。
なり、充分な放熱効果が得にくくなる。
含浸が済んだ基材は、圧延により適宜必要な厚みとした
り、所望形状に切断することもでき、加工性がよい。圧
延を行う場合、圧延前の基板の厚みが、例えば30〜5
0m1のとき、圧延後の厚みを11程度とすることもで
きる。
り、所望形状に切断することもでき、加工性がよい。圧
延を行う場合、圧延前の基板の厚みが、例えば30〜5
0m1のとき、圧延後の厚みを11程度とすることもで
きる。
このように、この発明にかかる放熱用基板の基材は、含
浸が容易で加工性に冨むため、放熱用基板の製造が簡単
となる。ただ、織布状の繊維を層状に重ねて用いた基材
は、伸び難いので、圧延しにくい傾向がある。
浸が容易で加工性に冨むため、放熱用基板の製造が簡単
となる。ただ、織布状の繊維を層状に重ねて用いた基材
は、伸び難いので、圧延しにくい傾向がある。
このように作成された放熱用基板は、半導体素子を直接
取り付けたり、あるいは、その上にセラミ、り絶縁層を
形成してから素子を取り付けたりするほか、絶縁層上に
配線パターン形成や部品搭載するような使い方もできる
。
取り付けたり、あるいは、その上にセラミ、り絶縁層を
形成してから素子を取り付けたりするほか、絶縁層上に
配線パターン形成や部品搭載するような使い方もできる
。
次により具体的実施例の説明をおこなう。
(実施例1)
直径100μm、長さ2龍の短繊維を金型に入れ、1t
on/c+Jの圧力で成形して基材を得る。基材におけ
る繊維の占有率は60体積%であった。
on/c+Jの圧力で成形して基材を得る。基材におけ
る繊維の占有率は60体積%であった。
つぎに、金型温度は1050〜1070 ’Cに設定し
、Cuの溶湯を0. 5ton /cfl!の圧力でも
つ”’C含浸させた。Cuの酸化を防ぐため、この含浸
処理は、N2ガス雰囲気中でなされた。含浸の済んだ厚
み30龍の基材を厚み11mとなるように圧延して放熱
用基板を完成した。
、Cuの溶湯を0. 5ton /cfl!の圧力でも
つ”’C含浸させた。Cuの酸化を防ぐため、この含浸
処理は、N2ガス雰囲気中でなされた。含浸の済んだ厚
み30龍の基材を厚み11mとなるように圧延して放熱
用基板を完成した。
(実施例2)
直径10〜20μmで、種々の長さのカーボン繊維を金
型に入れ、1ton/cI11の圧力で成形して基材を
得た。基材における繊維の占有率は45体積%であった
。つぎに、金型温度は1050〜1070℃に設定し、
Cuの溶湯を0. 5ton /crAの圧力でもって
含浸させた。Cuの酸化を防ぐため、この含浸処理は、
N2ガス雰囲気中でなされた。含浸の済んだ厚み30m
1の基材を厚み1龍となるように圧延して放熱用基板を
完成した。
型に入れ、1ton/cI11の圧力で成形して基材を
得た。基材における繊維の占有率は45体積%であった
。つぎに、金型温度は1050〜1070℃に設定し、
Cuの溶湯を0. 5ton /crAの圧力でもって
含浸させた。Cuの酸化を防ぐため、この含浸処理は、
N2ガス雰囲気中でなされた。含浸の済んだ厚み30m
1の基材を厚み1龍となるように圧延して放熱用基板を
完成した。
(実施例3)
直径100μm、長さ3〜4uのW繊維を金型に入れ、
1ton/adの圧力で成形して基材を得た。基材にお
ける繊維の占有率は40体積%であった。つぎに、金型
温度は1050〜1070℃に設定し、Cuの溶湯を0
. 5ton /crAの圧力でもって含浸させる。C
uの酸化を防ぐため、この含浸処理は、N2ガス雰囲気
中でなされる。含浸の済んだ厚み30vsの基材を厚み
1flとなるように圧延して放熱用基板を完成した。
1ton/adの圧力で成形して基材を得た。基材にお
ける繊維の占有率は40体積%であった。つぎに、金型
温度は1050〜1070℃に設定し、Cuの溶湯を0
. 5ton /crAの圧力でもって含浸させる。C
uの酸化を防ぐため、この含浸処理は、N2ガス雰囲気
中でなされる。含浸の済んだ厚み30vsの基材を厚み
1flとなるように圧延して放熱用基板を完成した。
実施例1〜3の放熱用基板の熱伝導率と線膨張率の測定
を行った。併せて、つぎのような比較例1.2の熱伝導
率と線膨張率の測定をおこなった(比較例1) インバー板を間にして上下にCu板をクラッドし放熱用
基板とした。
を行った。併せて、つぎのような比較例1.2の熱伝導
率と線膨張率の測定をおこなった(比較例1) インバー板を間にして上下にCu板をクラッドし放熱用
基板とした。
各板の厚みの比率は1.10:80:80である(比較
例2) W粉末を焼結した焼結体にCuを含浸させて放熱用基板
とした。
例2) W粉末を焼結した焼結体にCuを含浸させて放熱用基板
とした。
測定結果は、第1表の通りである。
第1表
第1表にみるように、実施例1〜3の放熱用基板は、比
較例1.2の放熱用基板と比べて、放熱性が著しく向上
しており、しかも、低い熱膨張性を維持している。
較例1.2の放熱用基板と比べて、放熱性が著しく向上
しており、しかも、低い熱膨張性を維持している。
この発明は、以上の実施例に限定されない。例えば、含
浸方法やこれに用いる金属材料、あるいは、完成した放
熱用基板の厚みが、例示したちの以外であってもよい。
浸方法やこれに用いる金属材料、あるいは、完成した放
熱用基板の厚みが、例示したちの以外であってもよい。
以上に述べたように、この発明にかかる放熱用基板は、
低熱膨張性金属材料の繊維からなる基材に放熱性の良い
金属材料を含浸させてなる構成となっている。そのため
、放熱用基板は、放熱性に優れ、低い熱膨張率であって
、しかも、製造も容易である。
低熱膨張性金属材料の繊維からなる基材に放熱性の良い
金属材料を含浸させてなる構成となっている。そのため
、放熱用基板は、放熱性に優れ、低い熱膨張率であって
、しかも、製造も容易である。
第1図は、この発明にかかる放熱用基板の製造過程にお
ける基材にCuの溶湯を含浸させる時の様子をあられす
説明図である。 1・・・基材 2・・・ヒータ 3・・・Cuの
溶湯5・・・金型 第1図
ける基材にCuの溶湯を含浸させる時の様子をあられす
説明図である。 1・・・基材 2・・・ヒータ 3・・・Cuの
溶湯5・・・金型 第1図
Claims (2)
- (1)低熱膨張性金属材料の繊維からなる基材に、放熱
性の良い金属材料を含浸させてなる放熱用基板。 - (2)含浸がなされる基材における繊維の占有率が20
〜80体積%であり、含浸後の基材に圧延が施されてい
る特許請求の範囲第1項記載の放熱用基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26626786A JPS63120448A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | 放熱用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26626786A JPS63120448A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | 放熱用基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63120448A true JPS63120448A (ja) | 1988-05-24 |
Family
ID=17428598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26626786A Pending JPS63120448A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | 放熱用基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63120448A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03111524A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 放熱性基板の製造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5585058A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-26 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
JPS55162249A (en) * | 1979-06-04 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Heat discharge electrode plate for ic device |
JPS5916406A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-27 | Pioneer Electronic Corp | 増幅装置 |
-
1986
- 1986-11-08 JP JP26626786A patent/JPS63120448A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5585058A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-26 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
JPS55162249A (en) * | 1979-06-04 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Heat discharge electrode plate for ic device |
JPS5916406A (ja) * | 1982-07-20 | 1984-01-27 | Pioneer Electronic Corp | 増幅装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03111524A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 放熱性基板の製造方法 |
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