JPS63117210A - 距離測定装置 - Google Patents
距離測定装置Info
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- JPS63117210A JPS63117210A JP61263110A JP26311086A JPS63117210A JP S63117210 A JPS63117210 A JP S63117210A JP 61263110 A JP61263110 A JP 61263110A JP 26311086 A JP26311086 A JP 26311086A JP S63117210 A JPS63117210 A JP S63117210A
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- light
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は距離測定装置に関し、例えば自動焦点(A F
(Automatic Focusing))カメラ
に用いられる投光素子及び受光素子からなる三角測距方
式の距離測定装置に適用して好適なものである。
(Automatic Focusing))カメラ
に用いられる投光素子及び受光素子からなる三角測距方
式の距離測定装置に適用して好適なものである。
従来、小型カメラにおいては、焦点合わせを自動的に行
い操作性を格段的に向上させ得るいわゆるA F (A
utomatic Focusjng)カメラが用いら
れている。
い操作性を格段的に向上させ得るいわゆるA F (A
utomatic Focusjng)カメラが用いら
れている。
このようなAFカメラに用いられる距離測定装置として
は、投光素子及び半導体装置検出器(PS D (Po
sition 5ensitive Device)
)をカメラ本体に内蔵し、投光素子によって出射した光
のうち被写体で反射した反射光の一部をPSDで受け、
PSDの2つの出力の差信号により距離信号を得るいわ
ゆるアクティブAF方式の三角測距方式を利用した距離
測定装置が用いられている(特公昭58−42411号
公報)。
は、投光素子及び半導体装置検出器(PS D (Po
sition 5ensitive Device)
)をカメラ本体に内蔵し、投光素子によって出射した光
のうち被写体で反射した反射光の一部をPSDで受け、
PSDの2つの出力の差信号により距離信号を得るいわ
ゆるアクティブAF方式の三角測距方式を利用した距離
測定装置が用いられている(特公昭58−42411号
公報)。
このアクティブAF方式の距離測定装置においては、特
に距離測定精度を向上させるため(すなわちI’SDの
2つの出力の差信号を正確に距離信号と対応させるため
)2つの出力の和信号により投光素子にパルス変調をか
けて、2つの出力の和信号が被写体の距離に関係な(常
に一定となるように投光素子の出力をフィードバック制
御するようになされている。
に距離測定精度を向上させるため(すなわちI’SDの
2つの出力の差信号を正確に距離信号と対応させるため
)2つの出力の和信号により投光素子にパルス変調をか
けて、2つの出力の和信号が被写体の距離に関係な(常
に一定となるように投光素子の出力をフィードバック制
御するようになされている。
ところが、上述した特公昭58−42411号公報に開
示されている構成によれば、PSDの2つの出力の和信
号が一定値となる条件の下で、PSDの2つの出力の差
信号を距離信号として用いるために、被写体が遠距離に
ある場合には、投光素子をその発光限度まで発光させて
もPSDによる受光出力が所定値を得られないおそれが
あり、結局距離を測定し得ないという問題点があった。
示されている構成によれば、PSDの2つの出力の和信
号が一定値となる条件の下で、PSDの2つの出力の差
信号を距離信号として用いるために、被写体が遠距離に
ある場合には、投光素子をその発光限度まで発光させて
もPSDによる受光出力が所定値を得られないおそれが
あり、結局距離を測定し得ないという問題点があった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、従来のア
クティブAF方式の距離測定装置の問題点を解決するこ
とにより、被写体がどのような場合でも距離を測定し得
る距離測定装置を提案しようとするものである。
クティブAF方式の距離測定装置の問題点を解決するこ
とにより、被写体がどのような場合でも距離を測定し得
る距離測定装置を提案しようとするものである。
かかる問題点を解決するため本発明においては、被測定
物体6にパルス変調光し1を投光する投光手段2.3.
4.5と、その投光手段2.3.4.5と所定間隔を有
するように配置され、被測定物体6で反射したパルス変
調光し2を受光し、被測定物体6との距離Yに基づいて
相補的に変化する第1及び第2の位置出力!、及びIA
を出力する受光手段7.8.9と、その受光手段7.8
.9から出力される第1及び第2の位置信号I、及びI
Aの和(Il+IA)及び差N++−ra)を検出して
第1及び第2の出力電圧■1..及びV。
物体6にパルス変調光し1を投光する投光手段2.3.
4.5と、その投光手段2.3.4.5と所定間隔を有
するように配置され、被測定物体6で反射したパルス変
調光し2を受光し、被測定物体6との距離Yに基づいて
相補的に変化する第1及び第2の位置出力!、及びIA
を出力する受光手段7.8.9と、その受光手段7.8
.9から出力される第1及び第2の位置信号I、及びI
Aの和(Il+IA)及び差N++−ra)を検出して
第1及び第2の出力電圧■1..及びV。
として出力する検出手段10.12.14及びll、1
3.15と、第1の出力電圧V refを抵抗分圧する
基準電圧発生部R1〜R7で得られた電圧値v1〜v、
3及び第2の出力電圧■。を比較する比較部23〜3
0とからなる比較手段22とを具えるようにする。
3.15と、第1の出力電圧V refを抵抗分圧する
基準電圧発生部R1〜R7で得られた電圧値v1〜v、
3及び第2の出力電圧■。を比較する比較部23〜3
0とからなる比較手段22とを具えるようにする。
検出手段10.12.14及び1113.15によって
、受光手段7.8.9より得られる第1及び第2の位置
信号I、及びIAの和(■8+IA)及び差Ha−ra
)を検出して第1及び第2の出力電圧V rsf及び■
。とし、これを比較手段22によって比較して、この比
較結果を被測定物体6までの距離情報として出力するこ
とによって、受光手段7.8.9の受光出力の総量すな
わち第1及び第2の位置信号1.及びIAの和(11+
lA)が、被測定物体6や外光等の影響により変動して
も、これに追従して正確に被測定物体6との距離を測定
し得る距離測定装置を実現できる。
、受光手段7.8.9より得られる第1及び第2の位置
信号I、及びIAの和(■8+IA)及び差Ha−ra
)を検出して第1及び第2の出力電圧V rsf及び■
。とし、これを比較手段22によって比較して、この比
較結果を被測定物体6までの距離情報として出力するこ
とによって、受光手段7.8.9の受光出力の総量すな
わち第1及び第2の位置信号1.及びIAの和(11+
lA)が、被測定物体6や外光等の影響により変動して
も、これに追従して正確に被測定物体6との距離を測定
し得る距離測定装置を実現できる。
以下、図面について本発明の一実施例を詳述する。
第1図において、1は全体として距離測定装置を示す。
距離測定装置1において、発振器2から出力されるパル
ス信号PLによって、投光素子駆動回路3を動作させ、
これにより例えば赤外発光ダイオード(IRED)等で
なる投光素子4が駆動制御されて点滅する。
ス信号PLによって、投光素子駆動回路3を動作させ、
これにより例えば赤外発光ダイオード(IRED)等で
なる投光素子4が駆動制御されて点滅する。
この投光素子4から射出された投射光L1は、投光レン
ズ5を通過して距離Yだけ離れた被写体6に至る。また
被写体6の反射光の一部の反射光L2は、受光レンズ7
を介して半導体装置検出器(PSD)8上で結像される
。かくしてPSDB上の結像位置Pに応じてPSD8の
電極A及びBに出力電流IA及び■3が出力される。
ズ5を通過して距離Yだけ離れた被写体6に至る。また
被写体6の反射光の一部の反射光L2は、受光レンズ7
を介して半導体装置検出器(PSD)8上で結像される
。かくしてPSDB上の結像位置Pに応じてPSD8の
電極A及びBに出力電流IA及び■3が出力される。
ここでPSD8は第2図に示すように、バイアス用電源
9によりバイアスされており受光面8A上に光が入射す
ると、その入射光量に応じて光電流Iを発生する。これ
に加えてPSD8は入射した光が結像する電極A及びB
間の位置に応じて2つの電極A、Bから電流1m及びI
I (但しIA+l1=1)を出力するようになされ
ている。
9によりバイアスされており受光面8A上に光が入射す
ると、その入射光量に応じて光電流Iを発生する。これ
に加えてPSD8は入射した光が結像する電極A及びB
間の位置に応じて2つの電極A、Bから電流1m及びI
I (但しIA+l1=1)を出力するようになされ
ている。
すなわち電極A及びBの距離をし、受光レンズ7の光軸
7AとPSD8の交点を点01電極A及びBの中点を点
Mとし、さらに電fiAから点Oまでの距離をxo、点
0から点Mまでの距離をX。
7AとPSD8の交点を点01電極A及びBの中点を点
Mとし、さらに電fiAから点Oまでの距離をxo、点
0から点Mまでの距離をX。
とじ、被写体6の反射光L2が受光レンズ7を通ってP
SD8の受光面8A上の点P上に結像したとき、電極A
から距離Xの点Pに反射光が入射すると、2つの電fi
A及びBより出力される出力電流IA及び!、の比は次
式 また投光レンズ5の光軸と受光レンズ7の光軸7Aとの
距離(これを基線長という)をS、受光レンズ7からP
SD8の受光面8Aまでの距離をFとすると、三角測距
方式の原理から次式、x S の関係が成立する。(2)式を(1)式に代入すると となる、従ってPSD8の出力電流の差(T3−IA)
及び和N、+IA)の比は次式、■7 となる。(4)式よりPSD8の2つの電極A及びBよ
り出力される出力電流の差(1m IA)及び和(
1,+IA)の比は、距離Yの逆数(=1 /Y)に比
例する。これにより、出力電流の差及び和の比(In
In ) / (Is + Ia )を求めれば距離
Yを求めることかで゛きる。
SD8の受光面8A上の点P上に結像したとき、電極A
から距離Xの点Pに反射光が入射すると、2つの電fi
A及びBより出力される出力電流IA及び!、の比は次
式 また投光レンズ5の光軸と受光レンズ7の光軸7Aとの
距離(これを基線長という)をS、受光レンズ7からP
SD8の受光面8Aまでの距離をFとすると、三角測距
方式の原理から次式、x S の関係が成立する。(2)式を(1)式に代入すると となる、従ってPSD8の出力電流の差(T3−IA)
及び和N、+IA)の比は次式、■7 となる。(4)式よりPSD8の2つの電極A及びBよ
り出力される出力電流の差(1m IA)及び和(
1,+IA)の比は、距離Yの逆数(=1 /Y)に比
例する。これにより、出力電流の差及び和の比(In
In ) / (Is + Ia )を求めれば距離
Yを求めることかで゛きる。
PSD8の2つの電極A及びBより出力される出力電流
IA及び■8は、それぞれ電流電圧変換回路10及び1
1(第1図)によって電圧に変換され、さらにそれぞれ
カップリング用コンデンサCI及びC2を介して交流増
幅回路12及び13によって増幅され、その増幅出力が
両方ともに、第1及び第2の同期検波回路14及び15
に入力される。
IA及び■8は、それぞれ電流電圧変換回路10及び1
1(第1図)によって電圧に変換され、さらにそれぞれ
カップリング用コンデンサCI及びC2を介して交流増
幅回路12及び13によって増幅され、その増幅出力が
両方ともに、第1及び第2の同期検波回路14及び15
に入力される。
同期検波回路14は、発振器2がらのパルス信号PLに
基づいて、投光素子4の点滅と同期した信号成分のみを
同期検波し、基準電圧発生回路18よりの基準電圧V、
を受けてPSD8の2つの出力の差 Vo=ko (Is Im)+V3 −− (5)
を出力する。また同期検波回路15も同様にしてPSD
8の2つの出力の和 V、、f= krmt (I m + I A) +
V3・・・・ (6)を出力する。
基づいて、投光素子4の点滅と同期した信号成分のみを
同期検波し、基準電圧発生回路18よりの基準電圧V、
を受けてPSD8の2つの出力の差 Vo=ko (Is Im)+V3 −− (5)
を出力する。また同期検波回路15も同様にしてPSD
8の2つの出力の和 V、、f= krmt (I m + I A) +
V3・・・・ (6)を出力する。
同期検波回路14の出力■。は、バッファ回路19を介
して、アナログ/ディジタル変換回路(A/D変換回路
とよぶ)22の8つのコンパレータ23.24.25.
26.27.28.29.30のそれぞれの反転入力端
へ入力される。
して、アナログ/ディジタル変換回路(A/D変換回路
とよぶ)22の8つのコンパレータ23.24.25.
26.27.28.29.30のそれぞれの反転入力端
へ入力される。
同期検波回路15の出力V rafは、バッファ回路1
6を介して、A/D変換回路22の抵抗値の等しい7つ
の抵抗R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7を直
列接続してなる分圧回路の一端に入力される。またバッ
ファ回路16の出力V rafは、抵抗RIOを介して
、負帰還抵抗R11を有する演算増幅回路構成の反転回
路17の反転入力端へ入力される。
6を介して、A/D変換回路22の抵抗値の等しい7つ
の抵抗R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7を直
列接続してなる分圧回路の一端に入力される。またバッ
ファ回路16の出力V rafは、抵抗RIOを介して
、負帰還抵抗R11を有する演算増幅回路構成の反転回
路17の反転入力端へ入力される。
反転回路17の非反転入力端には、基準電圧発生回路1
8の基準電圧■、が与えられ、反転回路17の出力 −V、。f= kr。t (1,+ IA) +
vs・・・・・・ (7) が、A/D変換回路22の分圧回路R1−R7の他端に
入力されるようになされている。
8の基準電圧■、が与えられ、反転回路17の出力 −V、。f= kr。t (1,+ IA) +
vs・・・・・・ (7) が、A/D変換回路22の分圧回路R1−R7の他端に
入力されるようになされている。
かくしてA/D変換回路22の分圧回路R1〜R7には
、出力V raf及び−V rsfが与えられ、その両
端の電圧v1及びv8がそれぞれコンパレータ23及び
30の非反転入力端に入力されると共に、各抵抗R1及
びR2、R2及びR3、R3及びR4、R4及びR5、
R5及びR6、R6及びR7の接続中点に発生する分圧
電圧v2、v3、v4、v5、v6及びv7がそれぞれ
コンパレータ24.25.26.27.28.29の非
反転入力端に入力される。
、出力V raf及び−V rsfが与えられ、その両
端の電圧v1及びv8がそれぞれコンパレータ23及び
30の非反転入力端に入力されると共に、各抵抗R1及
びR2、R2及びR3、R3及びR4、R4及びR5、
R5及びR6、R6及びR7の接続中点に発生する分圧
電圧v2、v3、v4、v5、v6及びv7がそれぞれ
コンパレータ24.25.26.27.28.29の非
反転入力端に入力される。
かくして、PSD8の2つの電極A及びBに発生した出
力電流IA及びImの差(1,−IA)と和Hm +
IA)の比が8ビツトのディジタル信号に変換されて、
A/D変換回路22の出力端TI、T2、T3、T4、
T5、Tσ、T7、T8に出力されるようになされてい
る。
力電流IA及びImの差(1,−IA)と和Hm +
IA)の比が8ビツトのディジタル信号に変換されて、
A/D変換回路22の出力端TI、T2、T3、T4、
T5、Tσ、T7、T8に出力されるようになされてい
る。
なお、コンパレータ21には、その非反転入力端に同期
検波回路15の出力■、、。1が与えられ、また反転入
力端には基準電圧発生回路18より電源20を介して比
較電圧VC+V、が与えられ、かくして同期検波回路1
5の出力V refが比較電圧Vc+V、より小さいと
きには、コンパレータ21がオン動作することにより、
同期検波回路14の出力■。がGND (グランド)レ
ベルとなり、A/D変換回路22のすべてのコンパレー
タ23〜30は被測定物体が無限遠にあることを意味す
る論理「I(」レベルを出力するようになされている。
検波回路15の出力■、、。1が与えられ、また反転入
力端には基準電圧発生回路18より電源20を介して比
較電圧VC+V、が与えられ、かくして同期検波回路1
5の出力V refが比較電圧Vc+V、より小さいと
きには、コンパレータ21がオン動作することにより、
同期検波回路14の出力■。がGND (グランド)レ
ベルとなり、A/D変換回路22のすべてのコンパレー
タ23〜30は被測定物体が無限遠にあることを意味す
る論理「I(」レベルを出力するようになされている。
以上の構成において、例えば被写体6が至近距離にある
ときは、被写体6による投光素子4の反射光L2は、受
光レンズ7を介してPSDB上の受光面8Aの電極Bに
近い所に集光する。
ときは、被写体6による投光素子4の反射光L2は、受
光レンズ7を介してPSDB上の受光面8Aの電極Bに
近い所に集光する。
これによりPSD8の電iA及びBより出力される出力
電流IA及び1.の関係は次式、I、>1.
・・・・・・(8)となる。ここで出力
電流Illが出力電流■1と比較して極めて大きいとき
(すなわち出力電流IAを無視し得るとき)、同期検波
回路14及び15の出力■。及びV rafは、次式、 Vo= ko I m+ Vs
−−(9う’jr*t= kraf I II” v、
・・・・・・(10)となる。従ってA/
D変換回路22の出力端Tl〜T8には、第3図に示す
ようにすべて論理「L」レベルの値が出力される。
電流IA及び1.の関係は次式、I、>1.
・・・・・・(8)となる。ここで出力
電流Illが出力電流■1と比較して極めて大きいとき
(すなわち出力電流IAを無視し得るとき)、同期検波
回路14及び15の出力■。及びV rafは、次式、 Vo= ko I m+ Vs
−−(9う’jr*t= kraf I II” v、
・・・・・・(10)となる。従ってA/
D変換回路22の出力端Tl〜T8には、第3図に示す
ようにすべて論理「L」レベルの値が出力される。
また被写体6が遠い距離にあるときは、被写体6による
投光素子4の反射光L2は受光レンズ7を介してPSD
a上の受光面8A上の受光レンズ7の光軸7Aとの交点
0に近い位置に集光する。
投光素子4の反射光L2は受光レンズ7を介してPSD
a上の受光面8A上の受光レンズ7の光軸7Aとの交点
0に近い位置に集光する。
これにより、PSD8からの出力電流!え及び!、の関
係は次式、 1s<Ia ・・・・・・
(11)となる。ここで上述の場合と逆に出力電流I
、は、はとんど無視し得るとすれば、同期検波回路14
及び15の出力■。及びV、。、は、次式、Vo=
ko I A+ Vs −= (12)V
rat = k rat I A+V s
・・・・・・(13)となる。従って、A/D変換回
路22の出力端T1〜T8には、第3図に示すようにす
べて論理「H」レベルの値が出力される。
係は次式、 1s<Ia ・・・・・・
(11)となる。ここで上述の場合と逆に出力電流I
、は、はとんど無視し得るとすれば、同期検波回路14
及び15の出力■。及びV、。、は、次式、Vo=
ko I A+ Vs −= (12)V
rat = k rat I A+V s
・・・・・・(13)となる。従って、A/D変換回
路22の出力端T1〜T8には、第3図に示すようにす
べて論理「H」レベルの値が出力される。
さらに被写体6が、中間の距離にあって、反射光L2が
、受光レンズ7を介してPSDS上の受光面8Aの電極
A及びB間の中点M上に集光するときには、出力電流■
、及びI、の関係は、次式、11=TA
・・・・・・(14)となる。このとき同期検
波回路14及び15の出力■。及びVl@(は、次式 %式%(15) となる、従って、A/D変換回路22の出力端には、第
3図に示すように、出力端T1〜T4に論理rHJレベ
ル、出力端T5〜T8に論理rLJレベルの値が出力さ
れる。
、受光レンズ7を介してPSDS上の受光面8Aの電極
A及びB間の中点M上に集光するときには、出力電流■
、及びI、の関係は、次式、11=TA
・・・・・・(14)となる。このとき同期検
波回路14及び15の出力■。及びVl@(は、次式 %式%(15) となる、従って、A/D変換回路22の出力端には、第
3図に示すように、出力端T1〜T4に論理rHJレベ
ル、出力端T5〜T8に論理rLJレベルの値が出力さ
れる。
このような被写体6の距離とA/D変換回路22の出力
端T1〜T8の間には、第3図に示すように段階的に変
化する関係を有し、このデジタル出力T1〜T8を例え
ばカメラ制御部(図示せず)に与え、レンズの焦点調整
に用いれば、精度の高いAFカメラとなし得る。
端T1〜T8の間には、第3図に示すように段階的に変
化する関係を有し、このデジタル出力T1〜T8を例え
ばカメラ制御部(図示せず)に与え、レンズの焦点調整
に用いれば、精度の高いAFカメラとなし得る。
なお、被写体6が例えば無限遠にあり、PSD8からの
出力電流IA及び■、の値が極端に低いときには、誤動
作を防止するためコンパレータ21がオン動作すること
により、A/D変換回路22の出力端T1〜T8がすべ
て論理rHJレベルとなり、かくして、無限遠の距離を
検出し得るようになされている。
出力電流IA及び■、の値が極端に低いときには、誤動
作を防止するためコンパレータ21がオン動作すること
により、A/D変換回路22の出力端T1〜T8がすべ
て論理rHJレベルとなり、かくして、無限遠の距離を
検出し得るようになされている。
以上の構成によれば、PSD8の2つの電極A及びBか
ら出力される出力電流IA及び1.の差と和の比によっ
て距離を測定するようにしたことにより、簡易な構成で
被写体がどのような距離にあっても有効に距離測定をな
し得る距離測定装置を実現できる。
ら出力される出力電流IA及び1.の差と和の比によっ
て距離を測定するようにしたことにより、簡易な構成で
被写体がどのような距離にあっても有効に距離測定をな
し得る距離測定装置を実現できる。
さらに本発明による距離測定装置は、特公昭58−42
411号公報に開示されているものと組合わせて構成す
ればより高精度で広範囲な距離測定装置が実現できる。
411号公報に開示されているものと組合わせて構成す
ればより高精度で広範囲な距離測定装置が実現できる。
なお、上述の実施例においては、PSD8の受光面8A
を有効利用するため、受光レンズ7の光軸7Aを電極A
側にオフセットして取り付けたが、これに代え第1図及
び第2図との対応部分に同一符号を付して示す第4図及
び第5図に示すように、受光レンズ7の光軸7AをPS
D8の電極A及びBの中点Mを通るように取り付けても
良い。因にこの場合は、位置検出精度は若干粗くなるが
、第1図の実施例と比較して反転回路17を省略し得回
路構成を一段と簡略化できるという利点がある。
を有効利用するため、受光レンズ7の光軸7Aを電極A
側にオフセットして取り付けたが、これに代え第1図及
び第2図との対応部分に同一符号を付して示す第4図及
び第5図に示すように、受光レンズ7の光軸7AをPS
D8の電極A及びBの中点Mを通るように取り付けても
良い。因にこの場合は、位置検出精度は若干粗くなるが
、第1図の実施例と比較して反転回路17を省略し得回
路構成を一段と簡略化できるという利点がある。
また上述の実施例においては、アナログ/デジタル変換
回路22において、比較出力を8分割する構成を示した
が、分割数はこれに限らず、何分側にしても良い。
回路22において、比較出力を8分割する構成を示した
が、分割数はこれに限らず、何分側にしても良い。
さらに上述の実施例においては、受光素子として半導体
装置検出器(P S D)を用いているが、これに限ら
ず、例えばフォトダイオード等の受光素子を2つ用いて
も良い。因に、2つの受光素子を被写体の距離に応じて
、それぞれの出力が相補的に変化するような位置に配置
し、それぞれの出力を電流電圧変換回路10.11に与
えれば上述の実施例と同様に被写体の距離を測定し得る
。
装置検出器(P S D)を用いているが、これに限ら
ず、例えばフォトダイオード等の受光素子を2つ用いて
も良い。因に、2つの受光素子を被写体の距離に応じて
、それぞれの出力が相補的に変化するような位置に配置
し、それぞれの出力を電流電圧変換回路10.11に与
えれば上述の実施例と同様に被写体の距離を測定し得る
。
また上述の実施例においては、本発明による距離測定装
置をAFカメラに適用した一実施例について述°べたが
、本発明は例えばビデオカメラの距離測定装置等信の距
離測定装置に適用し得るものである。
置をAFカメラに適用した一実施例について述°べたが
、本発明は例えばビデオカメラの距離測定装置等信の距
離測定装置に適用し得るものである。
上述のように本発明によれば、受光素子より得られる2
つの出力の和及び差を比較して距離情報を得るようにし
たことにより、被測定物体との距離が変化しても正確に
被測定物体との距離の測定をなし得る簡易な構成の距離
測定装置を実現できる。
つの出力の和及び差を比較して距離情報を得るようにし
たことにより、被測定物体との距離が変化しても正確に
被測定物体との距離の測定をなし得る簡易な構成の距離
測定装置を実現できる。
第1図は本発明による距離測定装置の一実施例を示す接
続図、第2図はその半導体装置検出器の配置を示す路線
図、第3図は被写体の距離と距離測定装置の出力の関係
を示す図表、第4図は本発明による他の実施例を示す接
続図、第5図はその半導体装置検出器の配置を示す路線
図である。 1・・・・・・距離測定装置、2・・・・・・発振器、
3・・・・・・投光素子駆動回路、4・・・・・・投光
素子、5・・・・・・投光レンズ、6・・・・・・被写
体、7・・・・・・受光レンズ、8・・・・・・半導体
装置検出器、10.11・・・・・・電流電圧変換回路
、12.13・・・・・・交流増幅回路、14.15・
・・・・・同期検波回路、18・・・・・・基準電圧発
生回路、21・・・・・・コンパレータ、22・・・・
・・アナログ/ディジタル変換回路。
続図、第2図はその半導体装置検出器の配置を示す路線
図、第3図は被写体の距離と距離測定装置の出力の関係
を示す図表、第4図は本発明による他の実施例を示す接
続図、第5図はその半導体装置検出器の配置を示す路線
図である。 1・・・・・・距離測定装置、2・・・・・・発振器、
3・・・・・・投光素子駆動回路、4・・・・・・投光
素子、5・・・・・・投光レンズ、6・・・・・・被写
体、7・・・・・・受光レンズ、8・・・・・・半導体
装置検出器、10.11・・・・・・電流電圧変換回路
、12.13・・・・・・交流増幅回路、14.15・
・・・・・同期検波回路、18・・・・・・基準電圧発
生回路、21・・・・・・コンパレータ、22・・・・
・・アナログ/ディジタル変換回路。
Claims (2)
- (1)被測定物体にパルス変調光を投光する投光手段と
、 上記投光手段と所定間隔を有するように配置され、上記
被測定物体で反射した上記パルス変調光を受光し、上記
被測定物体との距離に基づいて相補的に変化する第1及
び第2の位置信号を出力する受光手段と、 上記受光手段から出力される第1及び第2の位置出力の
和及び差を検出して第1及び第2の出力電圧として出力
する検出手段と、 上記第1の出力電圧を抵抗分圧する基準電圧発生部と、
当該基準電圧発生部で得られた電圧値及び上記第2の出
力電圧を比較する比較部とからなる比較手段と を具え、上記比較部による比較結果を、上記被測定物体
までの距離情報として出力することを特徴とする距離測
定装置。 - (2)上記基準電圧発生部は、上記第1の出力電圧を反
転手段によつて反転させてなる第3の電圧値及び上記第
1の出力電圧の間の電位差を抵抗分圧して得ることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の距離測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61263110A JPS63117210A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61263110A JPS63117210A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 距離測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63117210A true JPS63117210A (ja) | 1988-05-21 |
Family
ID=17384966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61263110A Pending JPS63117210A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 距離測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63117210A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01265108A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-23 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
JPH0642917A (ja) * | 1992-07-22 | 1994-02-18 | Railway Technical Res Inst | レール変位量測定装置 |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP61263110A patent/JPS63117210A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01265108A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-23 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
JPH0642917A (ja) * | 1992-07-22 | 1994-02-18 | Railway Technical Res Inst | レール変位量測定装置 |
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