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JPS63113338A - 単一モ−ド光フアイバ線路の検査方法 - Google Patents

単一モ−ド光フアイバ線路の検査方法

Info

Publication number
JPS63113338A
JPS63113338A JP25932986A JP25932986A JPS63113338A JP S63113338 A JPS63113338 A JP S63113338A JP 25932986 A JP25932986 A JP 25932986A JP 25932986 A JP25932986 A JP 25932986A JP S63113338 A JPS63113338 A JP S63113338A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
mode
line
light
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25932986A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryozo Yamauchi
良三 山内
Toshiaki Kobayashi
俊明 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujikura Ltd filed Critical Fujikura Ltd
Priority to JP25932986A priority Critical patent/JPS63113338A/ja
Publication of JPS63113338A publication Critical patent/JPS63113338A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/333Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/335Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は、1本の単一モード光ファイバにより構成さ
れた、もしくは複数本の単一モード光ファイバを接続し
て構成された、単一モード光ファイバ線路の伝送特性の
検査を行うための方法に関する。
【従来の技術】
光通信に使用される光ファイバは、第4図に示される光
ファイバ1のように、長さ方向(Z方向)には均一で、
且つ断面形状は同心円状であって、その中心に屈折率の
高い領域であるコア14を有し、その周囲にコア14よ
りは屈折率の低い領域のクラッド15を備える。ここで
、コア14とクラッド15との間の屈折率差を低くし、
且つコア14の直径を小さくしていくと、光フアイバ1
中を伝播可能なモードは徐々に少なくなり、最後にはた
だ1つのモードが伝播するだけとなり、いわゆる単一モ
ード光ファイバとなる。この単一モード光ファイバの特
徴は、伝播するモードが1つしかないので、情報を光パ
ルスとして長距離送ってもパルス波形に歪が生じないこ
とにあり、これにより非常に大きい伝送容量を達成でき
る。ちなみに、複数個のモードが伝播可能な多モード光
ファイバでは、個々のモードがそれぞれ異なる速度で光
フアイバ中を伝播するので光パルス波形の歪が大きくな
る欠点がある。光ファイバの半径r方向の屈折率分布が
第5図に示すようなステップ型の場合、理論的にただ1
つのモードが伝播する条件は、コア半径をa、コア・ク
ラッド間の比屈折率差をΔとすると、つぎの(1)式で
示されるパラメータV(正規化周波数と呼ぶ)が2.4
05以下となることである。 V=(2g/λ) a nIF=m H+・(1)ここ
で、λは光通信に使用する光源の発光波長、nlはコア
の部分のガラスの屈折率である。厳密に言えば、LPo
!モードと呼ばれる基本モードには2つのモードが属し
ているが、この2つのモードは単に光フアイバ断面内に
おける電界の向きが直交している点が異なるだけで、こ
れを除けば全く同じ伝播状態を表しているので、通常の
光フアイバ通信では単一モードとして扱って差し支えな
い。 理論的な単一モード条件は上の式(1)で与えられると
しても、実際には、もう少し大きい■の値であっても、
実効的な単一モード状態となることが知られている。す
なわち、コア半径a、比屈折率差Δの一方または両方が
、理論的な単一モード状態を与えるa、Δよりも大きい
場合でも、実効的な単一モード条件が成立する。この理
由を第6図を用いて説明する。この第6図A、 B、 
Cは■の値を変えた各場合であり、これらの(イ)に基
本モードであるt、p、、モードの電界分布を、同(ロ
)に第2次モードであるLpHモードの電界分布を示す
。 この第6図の各図からV=3程度であっても、第2次モ
ードであるtp、、モードの電磁界分布はコアよりも大
きく、クラッド中にはみ出していることが分かる。とこ
ろが、実際の光ファイバの使用状態はまっすぐのもので
はなく、光フアイバケーブル中で撚り合わされており、
曲がりや圧力を受けている。また、ケーブルの敷設環境
においてもいたるところで曲がりを受けている。このよ
うな曲がりなどが存在すると、コアから大きくはみ出し
ているモードは容易に放射して遠方まで伝播しなくなる
。その結果、■の値が2.405よりも多少大きくても
実効的に単一モード伝送が可能となるからである。 実効的に単一モード伝送となるVの値は、屈折率分布に
よって異なり、たとえば直径方向の屈折率分布が第7図
に示すようにコア部分において2乗分布型となっている
光ファ、イバでは、■・3.5程度で理論的な単一モー
ド条件となる。 ところで、このように■の値を大きくして実効的な単一
モード光ファイバを設計するのは、コア内への基本モー
ドの閉じ込め作用が大きくなるという利点があるからで
ある。すなわち、第8図に示すように、■値を大きくし
ていくと、クラッド中を伝播する光エネルギーの割合が
小さくなり、また、実際にもV値を大きくして得た実効
的な単一モード光ファイバは曲がりなどが与えられたと
きでもコア内の光エネルギーが外部に放射することなく
、安定な特性を示すことが知られている。 しかし、実際の使用にあたっては、複数本の光ファイバ
を長さ方向に接続して長尺化することが不可避であるが
、このようにV値が大きい単一モード光ファイバではそ
の接続点で問題が生じる場合がある。たとえば、第9図
に示すように光ファイバ11.12を接続する場合、そ
の接続部13は必ずしも完全なものとなっているとは限
らず、この第9図のように不完全になっている場合が実
際上柱々にして起こる。そして、このような不完全な接
続部13では、光ファイバ11の基本モードであるLP
01モードが光ファイバ12のLP11モードに変換さ
れることがある。もちろん、この変換されて発生したt
、pl、モードの電磁界は、上に述べたようにコアから
大きくはみ出しており、あまり長距離伝播できないが、
光ファイバ2の長さが短い場合には、最終的に受光器に
入射し、受信光パルスの歪を発生させかねない。また、
光ファイバ2の長さが短い場合でない場合でも、光ファ
イバ12の実際の製造条件によっては同じ問題が生じる
場合もある。すなわち、■値の大きい実効的単一モード
光ファイバの製造過程での製造装置の偏差により、LP
、lモードもかなりの長距離伝播可能な■の条件、具体
的にはV・4近くかそれ以上と思われる条件で製造が行
われることもあるからである。 このように、V値の大きい実効的な単一モード光ファイ
バを実際に用いる場合には、主パルスの他に不要パルス
も受信されることになって波形の歪が引き起こされる虞
が生じる。すなわち、たとえば第10図の測定系におい
て、不完全な接続部13によって光ファイバ11.12
が接続されて形成されている単一モード光ファイバ線路
に光源2からパルス変調された光信号を入射し、この光
フアイバ線路の出射光を受光器6で検出し、その受信信
号の波形をオシロスコープって観測すると、第11図A
のようにLPo1モードパルスの他にLP、。 モードパルスが現れたり、あるいは第11図Bのように
t、p、、モードの伝播による裾引き現象が現れたりす
る。 そこで、近時、この不要なLP11モードの存在をどの
ように確認したらよいか、が問題となっている。その1
つの方法として第12図に示すように、被測定光ファイ
バ線路1の一端に安定な光源2から光を入射し、他端に
光パワーメーター61を配し、光フアイバ線路1の途中
の適当な箇所に曲がり5や圧力などの擾乱を与えて、そ
の光フアイバ線路1の出射光のパワーの変化を調べるこ
とが考えられている。 また、第13図のように光フアイバ線路1に対しパルス
信号で変調された光源2からの光パルスを入射し、その
出射光を受光器6で受け、受信信号の波形をオシロスコ
ープって観測し、光フアイバ線路1の適当な箇所に曲が
り5などの擾乱を加えたときに、第14図Aのt、p、
、モードパルスと思われる部分が点線のように減衰した
り消滅したりすることを確認する方法も考えられる。
【発明が解決しようとする問題点】
しかしながら、上記の第12図で示す光フアイバ線路か
らの出射パワー変化を捉える方法では、曲がりなどの擾
乱を与えたときに、基本モードが損失を受けたのか、L
P11モードが損失を受けたのかが明確にならないとい
う本質的な欠点がある。 また、第13図に示した光パルス法では、仮に基本モー
ドと不要モードとがその伝播速度が等しいとすると、曲
げを与えても第14図Bのように主パルスと考えられる
部分の高さが低くなるだけであるから、第12図の方法
と同様に曲げによる損失がLP、、モードに生じたのか
LP、、モードに生じたのか判別ができない。さらに、
このパルス法では、パルス間隔をある程度離しておかな
いと、不要パルスが発生していても、等間隔で送られて
くる主パルスと重なり、これに埋もれて区別することが
難しいという問題もある。加えて、パルス法の場合には
光源自身の時間的なエネルギー利用効率が低下するので
、必ずしも高い信号対雑音比で測定することが難しくな
り、このことは長尺の光ファイバの測定ができないこと
を意味する。また、LPol、LPl、モードの伝搬速
度を予め知ることは容易でなく、LP1zモードのパル
スと思われる部分をオシロスコープの画面上で探すこと
も時間と経験を要する。 この発明は、単一モード光ファイバ線路に不要なモード
が伝播していないかどうかを精度よくかつ簡便に測定で
き、しかも光源出力の利用効率を高くして非常に長尺の
線路のように損失の大きい線路でも測定できる、検査方
法を提供することを目的とする。
【問題点を解決するための手段】
この発明による単一モード光ファイバ線路の検査方法は
、基準信号発生器からの正弦波信号で変調された光を該
線路内に入射し、該線路の長さ方向の適当な位置で光フ
ァイバに対し曲がり、圧力などの擾乱を加え及びこれを
取り除き、この擾乱の有無の各状態での、該線路からの
出射光のベースバンド周波数領域における振幅及び位相
を測定し、且つこの測定を上記正弦波信号の周波数を変
えて行うことを特徴とする。
【作  用】
単一モード光ファイバ線路の出射光のベースバンド出力
は、基本モードと不要モードとのベク)・ル的な合成波
として観測される。そこで、該線路に対し曲がり等の擾
乱を与えれば、不要モードを減衰させることができるの
で、このベースバンド出力の振幅と位相とを変化させる
ことができる。 したがって、単一モード光ファイバ線路に対し擾乱を与
えたときに出射光のベースバンド出力の振幅及び位相が
変化すれば、不要モードが存在していることが分かる。 また、たまたま基本モードと不要モードとの位相が一致
している場合には、擾乱を与えても合成波たる出射光出
力の振幅のみが変化し、位相は変化しないが、正弦波の
変調信号の周波数を変えることにより、これら2つのモ
ードの位相をずらすことができ、振幅及び位相の変化と
して不要モードの存在を知ることができる。
【実 施 例】
第1図において、被測定単一モード光ファイバ線路1は
、1本の単一モード光ファイバにより構成された、もし
くは複数本の単一モード光ファイバを接続して構成され
た線路で、この光フアイバ線路1に、出力の安定化され
なレーザダイオードあるいは発光ダイオードによる光源
2からの光を光学系3を介して入射させる。この光源2
は、周波数の安定化された高周波発振器4がらの正弦波
信号により変調されている。光フアイバ線路1の出射光
は、アバランシェフォトダイオード(APD)などの受
光器6により検出され、その出力がアンプ7を経てベク
I・ルボルトメーター8の信号入力端子に送られる。他
方、このベクトルボルトメーター8の基準信号入力端子
には、高周波発振器4からの正弦波信号が入力されてい
る。 受光器6から出力される受信信号は、変調波と同じ正弦
波信号となるはずであり、この出力はいわゆるベースバ
ンド信号と呼ばれるものである。 これが、ベクトルポルI・メーター8において、その位
相と振幅につき正弦波変調信号と比較される。 つぎに、光フアイバ線路1の適当な位置で光ファイバに
曲がり5などの擾乱を与えて、仮に高次モード(LP1
1モード)が伝播しているときにはこれを曲げ等により
放射せしめ、受光器6に到達しないようにする。そして
、このときの受光器6の出力の振幅及び位相をベクトル
ボルトメーター8で測定する。 この光フアイバ線路1の2つの状態で測定された振幅及
び位相に変化がなければ、LP、1などの高次モードが
伝播していないことが分かるし、位相が変化すれば、高
次モードが伝播していることの証拠となる。もし、位相
の変化がなくて、振幅のみが幾らか変化するような場合
には、LPolモードとtp、、モードの位相がたまた
ま同じになっている可能性もあるので、高周波発振器4
からの変調信号の周波数を変化させて同じ測定を繰り返
す。このとき、最初の周波数と次の周波数との関係は、
整数比にない方がよい。なぜなら、t、p、 1モード
の伝播速度をτo1、t、p、、モードの伝播速度をτ
11、変調周波数をf、線路1の長さをLとするとき、
LP、、モードとLpHモードの位相が一致していると
いうことは、つぎの(2)式が成立しているからである
。 2gfL(τox−τtt)= 2πn−・−・・(2
)(nは整数) すなわち、fを整数倍もしくは整数分の1としても、(
2)式が再び成立してしまうからである。 このように、いくつかの周波数で測定を行い、光フアイ
バ線路1に与えた擾乱による線路1がらのベースバンド
出力の位相が変化を示さなければ、その擾乱を与えた線
路1の位置において線路1は実効的に単一モード伝送を
行っていることが確認できる。 なお、上記を第2図のベクトル図を用いて説明すると、
受光器6から得られる受信信号は同図Aに示すようにL
Polモードの信号とLP11モードの信号とのベクト
ル的な合成波である。そのため、同図Aのように2つの
モードの位相が異なっている場合には、線路1に曲がり
を与えることによってLP11モードを減衰させれば、
LP01モードの信号のみとなるので位相がθ0 から
θlへと変化するとともに振幅も変化する。これに対し
、同図Bのように2つのモードの位相が一致している場
合には、曲げを与えても位相は変化せず、単に振幅のみ
が変化する。そこでこの第2図Bの場合には、変調周波
数を変1ヒさせて第2図Aの状態とした上で、曲げを与
えればよい。変調周波数を変化させても位相変化がなけ
れば、不要モードは伝播していないと考えることができ
る。 つぎに第3図に示すように2本の光ファイバ11.12
を不完全に接続して光フアイバ線路を形成し、これにつ
き上記の方法で検査してみた。ここで、光ファイバ11
.12は、波長1.3μmにおいてV値がほぼ3.5で
、屈折率分布がほぼステップ型の実効的な単一モード光
ファイバであり、その長さは各々lkmで合計2kmの
長さの線路を構成した。接続部13は故意に不完全にし
てあり、基本モード間の接続損失として約1.5dB程
度の損失を有する。この線路を第1図に示す測定系で測
定した。曲がりは接続部13の後方(受光器6側)にお
いて与えた。この曲がりは光ファイバ12を直径約20
mmに10回転させたものである。この曲がりを与えな
いときと、与えたときとの位相、振幅を測定したところ
、次の表に示す結果を得た。この表から、この光フアイ
バ線路は、不完全な接続部13により10%程度の不要
モードが伝播していると判定できる。 (以下余白)
【発明の効果】
この発明の検査方法によれば、単一モード光ファイバ線
路に不要モードが伝播しているかどうかを窩い精度で、
且つ確実に検査できる。また、従来のパルス法で測定す
る場合のように不要モードによる信号をブラウン管上で
探す手間が不要となり、容易に測定できる。さらに、正
弦波で変調した光信号を用いているので、光源出力の利
用効率が高く、そのため信号対雑音比を高くでき、非常
に長尺の線路のように損失の大きい光フアイバ線路につ
いても確実な検査が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例にかかる検査方法を実施す
るための測定系のブロック図、第2図は動作を説明する
ためのベクI・ル図、第3図は被測定単一モード光ファ
イバ線路の一例を示す模式図、第4図は光ファイバの構
造を示す模式図、第5図は屈折率分布の一例を示すグラ
フ、第6図は各モードの電界分布を示すグラフ、第7図
は屈折率分布の他の例を示すグラフ、第8図はV値に対
するクラッド中を伝播する光の割合を示すグラフ、第9
図は不完全な接続により不要モードが発生することを示
す模式図、第10図は不要モードの測定系を示すブロッ
ク図、第11図は第10図の系で得られる波形を示す波
形図、第12図は従来の検査方法の例を示すためのブロ
ック図、第13図は池の従来例のブロック図、第14図
は第13図の系で得られる波形を示す波形図である。 1・・・被測定単一モード光ファイバ線路、2・・・光
源、3・・・光学系、4・・・高周波発振器、5・・・
曲がり、6・・・受光器、7・・・アンプ、8・・・ベ
クトルポルI・メーター、9・・・オシロスコープ、1
1.12・・・光ファイバ、13・・・不完全な接続部
、14・・・コア、15・・・クラッド、61・・・光
パワーメーター。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基準信号発生器からの正弦波信号で変調された光
    を該線路内に入射し、該線路の長さ方向の適当な位置で
    光ファイバに対し曲がり、圧力などの擾乱を加え及びこ
    れを取り除き、この擾乱の有無の各状態での、該線路か
    らの出射光のベースバンド周波数領域における振幅及び
    位相を測定し、且つこの測定を上記正弦波信号の周波数
    を変えて行う単一モード光ファイバ線路の検査方法。
JP25932986A 1986-10-30 1986-10-30 単一モ−ド光フアイバ線路の検査方法 Pending JPS63113338A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010035399A1 (ja) * 2008-09-24 2010-04-01 三菱電線工業株式会社 光ファイバの接続構造
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