JPS63107899A - 薄膜形成方法 - Google Patents
薄膜形成方法Info
- Publication number
- JPS63107899A JPS63107899A JP25455386A JP25455386A JPS63107899A JP S63107899 A JPS63107899 A JP S63107899A JP 25455386 A JP25455386 A JP 25455386A JP 25455386 A JP25455386 A JP 25455386A JP S63107899 A JPS63107899 A JP S63107899A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- forming
- gas
- diamond
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は低圧域におけるダイヤモンド、i−カーボン膜
の作製方法に関し、特に磁界及びマイクロ波印加により
発生した高密度プラズマを用いてこれら薄膜を作製する
方法に関する。
の作製方法に関し、特に磁界及びマイクロ波印加により
発生した高密度プラズマを用いてこれら薄膜を作製する
方法に関する。
従来、低圧域にてダイヤモンド、i−カーボン膜の合成
が可能であると言われてきた形成方法として化学気相法
(Chemical Vapor Depositio
n)とイオン化蒸着法等が知られている。
が可能であると言われてきた形成方法として化学気相法
(Chemical Vapor Depositio
n)とイオン化蒸着法等が知られている。
この化学気相法のうち反応性ガスを励起する手段として
数種類知られており熱CVD 、加熱フィラメントCv
口、化学輸送法、13.56 Ml、の周波数を用いる
プラズマCVD法、マイクロ波を用いるプラズマCVD
法が用いられている。これらのうちマイクロ波を用いる
プラズマCVD法が特にダイヤモンド薄膜形成のため、
広く研究されている。このマイクロ波を用いるプラズマ
CVD法は、減圧下に保持された反応室内に薄膜形成用
気体、例えばメタンガスと水素ガスを導入し、マイクロ
波発振器より発振されたマイクロ波を印加し、前記気体
を励起し、プラズマを発生させて、そのプラズマ中に存
在する高エネルギーを持つ電子と水素分子との非弾性衝
突により解離されて生成する水素原子が析出(Depo
sition)反応に関与し、ダイヤモンド、i−カー
ボン膜が形成されるものであります。
数種類知られており熱CVD 、加熱フィラメントCv
口、化学輸送法、13.56 Ml、の周波数を用いる
プラズマCVD法、マイクロ波を用いるプラズマCVD
法が用いられている。これらのうちマイクロ波を用いる
プラズマCVD法が特にダイヤモンド薄膜形成のため、
広く研究されている。このマイクロ波を用いるプラズマ
CVD法は、減圧下に保持された反応室内に薄膜形成用
気体、例えばメタンガスと水素ガスを導入し、マイクロ
波発振器より発振されたマイクロ波を印加し、前記気体
を励起し、プラズマを発生させて、そのプラズマ中に存
在する高エネルギーを持つ電子と水素分子との非弾性衝
突により解離されて生成する水素原子が析出(Depo
sition)反応に関与し、ダイヤモンド、i−カー
ボン膜が形成されるものであります。
そのため、マイクロ波の発振器よりマイクロ波を別の場
所へ導く導波管の2波長の部分が一番高いエネルギー密
度が得られるので、その領域に反応性気体及び基板を設
は高エネルギーにより励起された活性種により基板上に
ダイヤモンド薄膜を形成していた。しかしながらマイク
ロ波の導波管を太き(することは技術的な問題が多いた
め現在では小面積基板上にしか薄膜を形成することは不
可能であった。
所へ導く導波管の2波長の部分が一番高いエネルギー密
度が得られるので、その領域に反応性気体及び基板を設
は高エネルギーにより励起された活性種により基板上に
ダイヤモンド薄膜を形成していた。しかしながらマイク
ロ波の導波管を太き(することは技術的な問題が多いた
め現在では小面積基板上にしか薄膜を形成することは不
可能であった。
一方イオンビーム蒸着法はプラズマ発生室にて原料とな
る炭素に外部よりエネルギーを与え発生した炭素イオン
をビーム状に集束し、負電界を加えて加速し基板表面に
衝突させて析出する方法である。
る炭素に外部よりエネルギーを与え発生した炭素イオン
をビーム状に集束し、負電界を加えて加速し基板表面に
衝突させて析出する方法である。
これら従来のいずれの方法においてもダイヤモンド、i
−カーボン膜が生成されたという報告がある。しかしな
がら、これら従来の方法にて、これら薄膜を形成するに
は非常に再現性にとぼしく、かつその生成条件も非常に
狭い範囲でしか形成されなかった。
−カーボン膜が生成されたという報告がある。しかしな
がら、これら従来の方法にて、これら薄膜を形成するに
は非常に再現性にとぼしく、かつその生成条件も非常に
狭い範囲でしか形成されなかった。
さらにこれら従来形成されたダイヤモンド、l−カーボ
ン膜は非常に小面積しが形成できず工業的な応用を考え
た場合、より大面積に形成される必要があった。
ン膜は非常に小面積しが形成できず工業的な応用を考え
た場合、より大面積に形成される必要があった。
なお、i−カーボン膜とはアモルファス状の炭素膜のマ
トリックス中にダイヤモンド、あるいはカルビンなどの
微細な結晶が析出した膜のことを言う。
トリックス中にダイヤモンド、あるいはカルビンなどの
微細な結晶が析出した膜のことを言う。
本発明はこれら従来法の問題点を解決するものであり再
現性よく、より巾広い条件下にて大面積のダイヤモンド
、i−カーボン膜を形成することを目的とするものであ
る。
現性よく、より巾広い条件下にて大面積のダイヤモンド
、i−カーボン膜を形成することを目的とするものであ
る。
本発明はその特許請求の範囲にあるように「減圧状態に
保持されたプラズマ発生室及び、反応室内に炭化水素気
体を含む薄膜形成気体を導入し、該気体に対して外部よ
り磁界及びマイクロ波電力を加え、その相互作用により
100Paから10−2Paという幅広い圧力範囲にお
いて、高密度のプラズマを発生せしめ前記高密度プラズ
マにより薄膜形成用気体中の励起されたイオン種、活性
種等により、あらかじめ加熱されて反応室内に保持され
ていた基板表面上にダイヤモンド状薄膜(i−カーボン
膜)又はダイヤモンド薄膜を形成することを特徴とした
薄膜形成方法。Jを特徴とするものであり、すなわち従
来より知られたマイクロ波を用いたプラズマCVD法に
磁場の力を加え、マイクロ波と磁場によりECR(エレ
クトロンサイクロトロン共1!!:S)条件又はホイッ
スラーモードを含む相互作用を利用して幅広い圧力範囲
下において高密度、高エネルギーのプラズマを発生させ
ることにより高エネルギー状態の炭素原子を多量に発生
させ再現性にすぐれ、幅広い条件下にてダイヤモンド薄
膜、i−カーボン膜の形成を可能としたものであります
。
保持されたプラズマ発生室及び、反応室内に炭化水素気
体を含む薄膜形成気体を導入し、該気体に対して外部よ
り磁界及びマイクロ波電力を加え、その相互作用により
100Paから10−2Paという幅広い圧力範囲にお
いて、高密度のプラズマを発生せしめ前記高密度プラズ
マにより薄膜形成用気体中の励起されたイオン種、活性
種等により、あらかじめ加熱されて反応室内に保持され
ていた基板表面上にダイヤモンド状薄膜(i−カーボン
膜)又はダイヤモンド薄膜を形成することを特徴とした
薄膜形成方法。Jを特徴とするものであり、すなわち従
来より知られたマイクロ波を用いたプラズマCVD法に
磁場の力を加え、マイクロ波と磁場によりECR(エレ
クトロンサイクロトロン共1!!:S)条件又はホイッ
スラーモードを含む相互作用を利用して幅広い圧力範囲
下において高密度、高エネルギーのプラズマを発生させ
ることにより高エネルギー状態の炭素原子を多量に発生
させ再現性にすぐれ、幅広い条件下にてダイヤモンド薄
膜、i−カーボン膜の形成を可能としたものであります
。
また加える磁場の強さを任意に可変可能な為電子のみで
はなく特定のイオンのECR条件を設定することができ
る特徴がある。
はなく特定のイオンのECR条件を設定することができ
る特徴がある。
また本発明の構成に付加してマイクロ波と磁場との相互
作用により高密度プラズマを発生させた後基板表面上ま
で至る間に高エネルギーを持つ光(例えば紫外光)を照
射し、活性種にエネルギーを与えつづけると高密度プラ
ズマ発生領域より十分離れた位置においても高エネルギ
ー状態に励起された炭素原子が存在し、より大面積にダ
イヤモンド薄膜、i−カーボン膜を形成することも可能
であった。
作用により高密度プラズマを発生させた後基板表面上ま
で至る間に高エネルギーを持つ光(例えば紫外光)を照
射し、活性種にエネルギーを与えつづけると高密度プラ
ズマ発生領域より十分離れた位置においても高エネルギ
ー状態に励起された炭素原子が存在し、より大面積にダ
イヤモンド薄膜、i−カーボン膜を形成することも可能
であった。
さらに磁場とマイクロ波電力との相互作用により発生す
る高エネルギー励起種に直流バイアス電圧を加えて基板
側に多量の励起種が到達するようにすることは薄■りの
形成速度を向上させる効果があった。
る高エネルギー励起種に直流バイアス電圧を加えて基板
側に多量の励起種が到達するようにすることは薄■りの
形成速度を向上させる効果があった。
以下に実施例を示し、さらに本発明を説明する。
第1図に本発明にて用いた磁場印加可能なマイクロ波プ
ラズマCVD装匝を示す。
ラズマCVD装匝を示す。
同図において、この装置は減圧状態に保持可能な反応室
1と磁場を発生する外部磁場発生器5とマイクロ波発振
器3、排気系9、基板加熱ヒーター6、高密度プラズマ
発生領域2、ガス導入系7゜8より構成されている。
1と磁場を発生する外部磁場発生器5とマイクロ波発振
器3、排気系9、基板加熱ヒーター6、高密度プラズマ
発生領域2、ガス導入系7゜8より構成されている。
まず薄膜形成用基板10を基板加熱ヒーター6上に設置
し、約500’Cに加熱する。次ぎに水素ガスをIOS
CCMガス系7を通して高密度プラズマ発生領域2へ導
入し、外部よりマイクロ波500 W、磁界1.5にガ
ウスを印加し高密度プラズマを発生させる。この時反応
室内1の圧力は0.1Paに保持されている。この高密
度プラズマ領域2より高エネルギーを持つ水素原子また
は電子が反応室1へ完敗磁界により導かれ、ガス系8よ
り反応室1へ導入されたメタンガスと非弾性衝突を起こ
し、高エネルギーに励起された炭素原子が生成され、約
500°Cに加熱された基板上に、この炭素原子が堆積
し、ダイヤモンド薄膜又はi−カーボン膜が形成される
。
し、約500’Cに加熱する。次ぎに水素ガスをIOS
CCMガス系7を通して高密度プラズマ発生領域2へ導
入し、外部よりマイクロ波500 W、磁界1.5にガ
ウスを印加し高密度プラズマを発生させる。この時反応
室内1の圧力は0.1Paに保持されている。この高密
度プラズマ領域2より高エネルギーを持つ水素原子また
は電子が反応室1へ完敗磁界により導かれ、ガス系8よ
り反応室1へ導入されたメタンガスと非弾性衝突を起こ
し、高エネルギーに励起された炭素原子が生成され、約
500°Cに加熱された基板上に、この炭素原子が堆積
し、ダイヤモンド薄膜又はi−カーボン膜が形成される
。
本実施例の場合は高密度プラズマ発生領域と基板との間
隔は約10mmであり、その時直径301箇範囲で±1
0%の膜厚分布を有するダイヤモンド薄膜又はi−カー
ボン膜が得られたが加える磁場の強さによりその間隔は
変化し、±10%の膜厚分布の範囲も変化した。
隔は約10mmであり、その時直径301箇範囲で±1
0%の膜厚分布を有するダイヤモンド薄膜又はi−カー
ボン膜が得られたが加える磁場の強さによりその間隔は
変化し、±10%の膜厚分布の範囲も変化した。
また比較のために同条件下で磁場を印加せずに薄膜形成
を行った。その時基板上に形成された薄膜はグラファイ
ト膜であった。
を行った。その時基板上に形成された薄膜はグラファイ
ト膜であった。
さらに本実施例と同条件下において基板温度を6509
0以上とした場合ダイヤモンド薄膜を形成することが可
能であった。
0以上とした場合ダイヤモンド薄膜を形成することが可
能であった。
本実施例にて形成された薄膜のR11E E D像をと
ったところ不明確ながらもダイヤモンドの回折線がみら
れ、i−カーボン膜となっていた。さらに基板温度を上
げて形成してゆくにしたがい650 90以上でよりは
っきりとダイヤモンドの回折線が見られた。。
ったところ不明確ながらもダイヤモンドの回折線がみら
れ、i−カーボン膜となっていた。さらに基板温度を上
げて形成してゆくにしたがい650 90以上でよりは
っきりとダイヤモンドの回折線が見られた。。
また基板加熱温度を150 ″C未満とした場合、強力
な磁場を加えてもダイヤモンド薄膜を作成することはで
きなかった。
な磁場を加えてもダイヤモンド薄膜を作成することはで
きなかった。
また本実施例において炭化水素気体としてメタンガスを
用いたが、その他の炭化水素気体を用いることも可能で
ある。
用いたが、その他の炭化水素気体を用いることも可能で
ある。
本発明の構成を取ることにより、従来作製されていたダ
イヤモンド薄膜、i−カーボン膜の作製条件より幅広い
条件下にて作製可能であった。
イヤモンド薄膜、i−カーボン膜の作製条件より幅広い
条件下にて作製可能であった。
また従来法に比べ大面積に均一な薄膜を形成することが
可能であった。
可能であった。
さらに作製された薄膜は引張、圧縮とも膜応力をほとん
ど有さない良好な膜であった。
ど有さない良好な膜であった。
第1図は本発明で用いる磁場印加可能なマイクロ波CV
O装置の概略を示す。 1・・・・・・反応室 2・・・・・・高密度プラズマ発生領域3・・・・・・
マイクロ波発振器 4・・・・・・整合器 5・・・・・・外部磁場発生器
O装置の概略を示す。 1・・・・・・反応室 2・・・・・・高密度プラズマ発生領域3・・・・・・
マイクロ波発振器 4・・・・・・整合器 5・・・・・・外部磁場発生器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、減圧状態に保持されたプラズマ発生室及び、反応室
内に炭化水素気体を含む薄膜形成気体を導入し、該気体
に対して外部より磁界及びマイクロ波電力を加え、その
相互作用により100Paから10^−^2Paという
幅広い圧力範囲において、高密度のプラズマを発生せし
め前記高密度プラズマにより薄膜形成用気体中の励起さ
れたイオン種、活性種等により、あらかじめ加熱されて
反応室内に保持されていた基板表面上にダイヤモンド状
薄膜(i−カーボン膜)又はダイヤモンド薄膜を形成す
ることを特徴とした薄膜形成方法。 2、特許請求の範囲第1項において薄膜形成用基板は1
50℃〜1000℃の範囲にて加熱されていることを特
徴とする薄膜形成方法。 3、特許請求の範囲第1項において薄膜形成用気体とし
てメタンと水素を用いたことを特徴とする薄膜形成方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25455386A JPS63107899A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 薄膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25455386A JPS63107899A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 薄膜形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63107899A true JPS63107899A (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=17266637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25455386A Pending JPS63107899A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 薄膜形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63107899A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5104634A (en) * | 1989-04-20 | 1992-04-14 | Hercules Incorporated | Process for forming diamond coating using a silent discharge plasma jet process |
US5242663A (en) * | 1989-09-20 | 1993-09-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of and apparatus for synthesizing hard material |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP25455386A patent/JPS63107899A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5104634A (en) * | 1989-04-20 | 1992-04-14 | Hercules Incorporated | Process for forming diamond coating using a silent discharge plasma jet process |
US5242663A (en) * | 1989-09-20 | 1993-09-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of and apparatus for synthesizing hard material |
US5436036A (en) * | 1989-09-20 | 1995-07-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of synthesizing hard material |
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