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JPS6296951A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

Info

Publication number
JPS6296951A
JPS6296951A JP23835985A JP23835985A JPS6296951A JP S6296951 A JPS6296951 A JP S6296951A JP 23835985 A JP23835985 A JP 23835985A JP 23835985 A JP23835985 A JP 23835985A JP S6296951 A JPS6296951 A JP S6296951A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
type
gas
photoconductive
barrier layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23835985A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Miki
明 三城
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Mariko Yamamoto
山本 万里子
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP23835985A priority Critical patent/JPS6296951A/ja
Publication of JPS6296951A publication Critical patent/JPS6296951A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業の利用分野] この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が優
れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術及びその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF)等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化1度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有殿材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン〈以下、a−3iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、’;jll Il! トランジスタ及びイメージ
センサへの応用が活発になされている。このa−3iの
応用の一環として、a−8iを電子写真感光体の光導電
性材料として使用する試みがなされており、a−3iを
使用した感光体は、無公害の材料で競るから回収処理の
必要がないこと、他の材料に比して可視光領域で高い分
光感度を有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝
撃性が優れていること等の利点を有する。
このa−8iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた11層型
の構造にすることにより、このような要求を満足させて
いる。
ところで、a−3iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8i腹中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気的
及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−3ilに
侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャップ
が大きくなり、a−3iの抵抗が高くなるが、それにと
もない、長波長光に対する光感度が低下してしまうので
、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプリン
タに使用することが困難である。また、a−3i膜中の
水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、<S 
i H2)ル及び5i82等の結合構造を有するものが
膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうすると、
ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増加す
るため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体として使
用不能になる。逆に、a−3i中に侵入する水素の量が
低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、その
抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加す
る。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダングリ
ングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が少な
くなる。このため、発生するキャリアの移動度が低下し
、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしまい
、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH+とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH+
とでは、最適基板湿度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。
また、GeH+の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も?!雑である。従って、このような
技術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に2みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された障壁層と、このr4壁
層の上に形成された光導電層と、を有する電子写真感光
体において、前記障壁層は、炭素、!lI素及び窒素か
ら選択された少なくとも1種の元素並びに水素を含有す
るp型若しくはn型のマイクロクリスタリンシリコン又
はアモルファスシリコンで形成されており、前記光導電
層は、水素を含有するn型のアモルファスシリコンで形
成された第1層と、水素を含有するマイクロクリスタリ
ンシリコン又はアモルファスシリコンで形成された第2
層との積層体であることを特徴とする。
この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、n型のa−3iを電子写真感光体の少なく
とも一部に使用することにより、この目的を達成するこ
とができることに想到して、この発明を完成させたもの
である。
以下、この発明について具体的に説明する。この発明の
特徴は、従来のa−3iの替りにn型のa−3iを使用
したことにある。つまり、光導電層の全ての領域又は一
部の領域がn型のa−3iで形成されているか、n型の
a−3iと真性半導体(i型)!:I)a−8iとの積
層体、n型のa−8iとマイクロクリスタリンシリコン
(以下、μC−3iと略す)との積層体、又はn型のa
−8iとC,O,Nから選択された少なくとも1種の元
素を含有するa−8iとの積層体で形成されている。ま
た、様能分離型の電子写真感光体においては、電荷発生
層にn型のa−3iを使用している。
このn型のa−3(は、a−3iに周期律表の第■族に
属する元素、例えば、窒素N、リンP、ヒ素AS1アン
チモンsb及びビスマスBi等をドーピングすることに
より形成される。このn型のa−8iとしては、これら
のドーピング元素をライトドープしたn−型及びヘビー
ドープしたn+型のいずれの場合であってもよいが、電
子写真感光体として使用される場合の種々の光導電特性
を考慮すると、これらのドーピング元素を。
10ろ乃至10゛3原子%含有させたn−型のa−3i
であることが好ましい。
導電性支持体と光導電層との間に、障壁層が配設されて
いる。この障壁層は、導電性支持体と、光導電層との間
の電荷の流れを抑制することにより、光導電性部材の表
面における電荷の保持機能を高め、光導電性部材の帯電
能を高める。カールソン方式においては、感光体表面に
正帯電させる場合には、支持体側から光導N11へ電子
が注入されることを防止するために、障壁層をn型にす
る。
一方、感光体表面に負帯電させる場合には、支持体側か
ら光導電層へ正孔が注入されることを防止するために、
障壁層をn型にする。また、障1層として、絶縁性の膜
を支持体の上に形成することも可能である。障壁層はμ
c−8iを使用して形成してもよいし、a−3iを使用
して障壁層を構成することも可能である。
μc−3iは、以下のような物性上の特徴により、a−
3i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−3tは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μc−5iは
、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
1060・チ5であるのに対し、μC−3iは1011
Ω・1以上の暗抵抗を有する。このμc−3iは粒径が
約数十オングストローム以上である微結晶が集合して形
成されている。
この発明のように、光導電層の第11に、n型のa−8
iを使用することによって、長波長光、特に、790n
m付近に発振波長を有する半導体レーザ光に対しても高
感度の電子写真感光体を1qることができる。従って、
この発明に係る電子写真感光体は、PPC(普通紙複写
機)は勿論のこと、半導体レーザを装着したレーザプリ
ンタにも適用することができる。第1図は、横軸にPH
3/5i2esガス流量比で示すPのドーピング比をと
り、縦軸にn型a−8iの導電率(1/Ω・α)をとっ
て、導電率に及ぼすドーピング比の彰響を示すグラフ図
である。この成膜ガス中のPH3ガスの流山比PH3/
S i H6が高くなると、n型のa−3i中のP元素
の含有量が高くなり、強n型(n+)になる。第1図に
示すように、Pを含有しない場合には、暗時の導電率σ
Dが3.87X10−11  (1/Ω・α)であり、
790nmのレーザ光を照射した場合の導電率(7p 
(790nal)が1.15X10−’ (1/Ω・C
ta )である。しかし、ドーピング比を増加させると
、導電率が上昇し、PH3/S 12Hsドーピング比
が33DDmの場合には、ap (790r+m)が5
.57X10−8  (1/Ω・α)になり、Pをドー
ピングしない場合に比して1桁以上上昇している。なお
、この場合に、σDも5.28X10=  (1/Ω・
α)に上昇し、ドーピング比が高くなると共に、ap 
(790nl)及びσDの双方が上昇するが、結局、ド
ーピング比が10””乃至10−5の範囲においては、
(7p (790n1Il)がPをドーピングしない場
合よりも1桁以上^い高値になり、更にSN比を約3桁
とることができる。従って、光導電層の第1層にこの程
度のドーピング比でP等をドーピングしたn型のa−3
iを使用することにより、長波長光に対する感度が充分
に高い酩光体を得ることができ、レーザプリンタ用の感
光体として充分に実用化することができる。
次に、このように、a−3iをn型にすることにより、
長波長光に対する感度を高めることができる理由につい
て説明する。第2図は、横軸にPH3/S i Hs 
ドーピング比をとり、縦軸に光学的バンドギャップ及び
活性化エネルギをとって、夫々の関係を示すグラフ図で
ある。この第2図から明らかなように、光学的バンドギ
ャップはドーピング比を変化させても変化せず、実質的
に一定である。これに対し、活性化エネルギΔEは、ド
ーピング比を高めると小さくなる。この場合に、光学的
バンドギャップEOは、価電子帯と、伝導帯との間のエ
ネルギ差であり、活性化エネルギΔEは、フェルミレベ
ルF、Lと伝導帯との間のエネルギ差である。光学的バ
ンドギャップEaは、電子を価電子帯から伝導帯まで励
起するのに必要なエネルギであり、これが小さい方がよ
り低いエネルギの光でも吸収してキャリアを発生する。
一方、フェルミレベルF−Lは、伝導帯と(iIliN
子帯との間に存在し、活性化エネルギが小さい程、キャ
リアが励起されやすい。従って、活性化エネルギが小さ
い程、hν(ブランク定数×周波数)が小さな長波長光
に対して高感度になり、キャリアが励起される。この発
明のように、光導電層にn型のa−3iを使用すること
により、第1図に示すように長波長光に対する感度が高
くなるのは、周期律表の第V族に属する元素をドーピン
グしてa−3iをn型にすることにより、フェルミレベ
ルF−Lが上昇し、その結果、活性化エネルギΔEが小
さくなって、エネルギが小さい光(長波長光)に対する
感度が上昇したためであると考えられる。
一方、n型a−3iを光導電層に使用すると、光導7R
層の暗比抵抗が低くなり、電荷保持能が低くなる。これ
を補償するために、光導電層の第2層に、水素を含有す
るμc−3i又はa−3iを使用し、光導電層を、ごの
第2層と、n型のa−3iで形成された第1層との積層
体構造とする。これにより、n型a−8i第1層の低暗
比抵抗が第2層(高抵抗)により補償され、実用性が高
い感光体を得ることができる。
なお、μc−3iの光学的エネルギギャップEaは、a
−3iの光学的エネルギギャップEa(1,65乃至1
.70eV)に比較して小さい。
このため、μC−3iは、可視光より長波長であってエ
ネルギが小さな近赤外光までも吸収することができ、長
波長側に高い光感度を有する。また、μC−3iはa−
3iよりもキャリアの移動度が高い。
このようなn型のa−8iを有する光導電層は、高周波
グロー放電分解法により、シランガスを原料とし、ドー
パントガスとして、主に、ホスフィンガス(PH3ガス
)を使用して、導電性支持体上にn型のa−8iを堆積
させることにより製造することができる。この場合に、
原料ガスであるSiH+及び5i2Hs等の高次のシラ
ンガスを水素で希釈したり、水素ガスをシラン系ガスと
混合することにより、層中の水素含有量を制御すること
ができる。また、希釈ガスを使用することにより、成膜
速度を高め、均一なプラズマを形成することができる。
第3図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1,2゜3.4には、例
えば、夫々SiH4,5i2Hs 。
82 H6、H2、CH4等の原料ガスが収容されてい
る。これらのガスボンベ1.2.3.4内のガスは、流
量調整用のバルブ6及び配管7を介して混合器8に供給
されるようになっている。各ボンベには、圧力計5が設
置されており、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を
調整することにより、混合器8に供給する各原料ガスの
流量及び混合比を調節することができる。混合器8にて
混合されたガスは反応容器9に供給される。反応容器9
の底部11には、回転軸10が鉛直方向の回りに回転可
能に取りつけられており、この回転軸1Oの上端に、円
板状の支持台12がその面を回転軸10に垂直にして固
定されている。反応容器9内には、円筒状の電極13が
その軸中心を回転軸10の軸中心と一致させて底部11
上に設置されている。感光体のドラム基体14が支持台
12上にその軸中心を回転軸10の軸中心と一致させて
載置されており、このドラム基体14の内側には、ドラ
ム基体加熱用のヒータ15が配設されている。
電極13とドラム基体14との間には、高周波電源16
が接続されており、電極13及びドラム基体14間に高
周波電流が供給されるようになっている。回転軸10は
モータ18により回転駆動される。反応容器9内の圧力
は、圧力計17により監視され、反応容器9は、ゲート
バルブ18を介して真空ポンプ等の適宜の排気手段に連
結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r )の圧力以下に排気する。次いで、ボ
ンベ1.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比
で混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応
容器9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が
0.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モー
タ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ
15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にa−5iが堆積
する。なお、原料ガス中にN20.NH3、NO2、N
2 。
CH4、C2H4,02ガス等を使用することにより、
これらの元素をa−8i中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電、子写真感光体は、従来
のa−3iを使用したものと同様に、クローズドシステ
ムの製造装置で製造することができるため、人体に対し
て安全である。また、この電子゛写真感光体は、耐熱性
、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰
り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点
がある。さらに、GeH+等の長波長増感用ガスが不要
であるので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業
的生産性が著しく高い。
n型のa−8i、a−8i又は1tc−3iには、水素
を0゜1乃至30原子%含有させることが好ましい。こ
れにより、暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたものになり
、光導電特性が向上する。n型のa−Si%a−8i又
はμc−3i層への水素のドーピングは、例えば、グロ
ー放電分解法による場合は、SiH4及び5i21−1
s等のシラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスと
を反応容器内に導入してグロー放電させるか、S i 
F4及び5IC14等のハロゲン化ケイ素と、水素ガス
との混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガス
と、ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい
。更に、グロー故電分解法によらず、スパッタリング等
の物理的な方法によってもn型のa−8i11等を形成
することができる。なお、n型のa−3i等を含む光導
電層は、光導電特性上、1乃至80μmの膜厚を有する
ことが好ましく、更に膜厚を5乃至5C1mにすること
が望ましい。
n型のa−3i、a−8i又はμc−8iには、窒素N
、炭素C及び酸素0から選択された少なくとも1種の元
素をドーピングすることが好ましい。
これにより、n型のa−3i等の暗抵抗を高くして光導
電特性を高めることができる。
μC−8i及びa−3iをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B、アルミニ
ウムA1、ガリウムGa1インジウムIn、及びタリウ
ムT!等をドーピングすることが好ましく、μc−3i
及びa−3iをn型にするためには、周期律表の第V族
に属する元素、例えば、窒素N、リンP、ヒ素As、ア
ンチモンSb1及びビスマス8i等をドーピングするこ
とが好ましい。このn型不純物又はn型不純物のドーピ
ングにより、支持体側から光導′21fmへ電荷が移動
することが防止される。
μc−3i及びa−3i自体は、若干、n型であるが、
μc−3i又はa−3iで形成された光導電層又は障壁
層に周期律表の第■族に属する元素をライトドープ(1
0−7乃至10−3原子%)することにより、光導′i
4層又はVJ壁層は、1型(真性)半導体になり、暗抵
抗が高くなり、SN比と帯電能が向上する。
光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。
光導電層のμc−8iは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層を
設けることにより、光導電層が損傷から保護される。さ
らに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、
表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成すル材
料トシテハ、Si3N4、Si○z、SiC。
Al2O3、a−8iN:H,a−8iO:Hl及びa
−8iC:H等の無機化合物及びポリ塩化ビニル及びポ
リアミド等の有機材料がある。
電子写真感光体としては、上述のごとく、支持体上に障
壁層を形成し、この障壁層上に光導電層を形成し、この
光導’IIIの上に表面層を形成したものに限らず、支
持体の上に電荷移動層(CTL)を形成し、電荷移動層
の上に電荷発生層(CGL)を形成した別記分離型の形
態に構成することもできる。この場合に、電荷移動層と
、支持体との間に、障壁層を設けてもよい。電荷発生層
は、光の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生
層は、蕾の一部又は全部をn型のa−8iで形成し、そ
の厚さは1乃至10μmにすることが好ましい。
電荷移動層は電荷発生層で発生したキャリアを高効率で
支持体側に到達させる層であり、このため、キャリアの
寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが必要で
ある。電荷移動層はμc−8i又はa−3iで形成する
ことができる。暗抵抗を高めてWF電能を向上させるた
めに、周期律表の第■族又は第V族のいずれか一方に属
する元素をライトドーピングすることが好ましい。また
、帯電能を一層向上させ、電荷移動層と電荷発生層との
両機能を持たせるために、C,N、Oの元素のうち、い
ずれか1種以上を含有させてもよい。電荷移動層は、そ
の膜厚が簿過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能を充
分に発揮しない。このため、電荷移動層の厚さは3乃至
80Iimであることが好ましい。
障壁層を設けることにより、電荷移動層と電荷発生層と
を有する機能分離型の感光体においても、その電荷保持
機能を高め、帯電能を向上させることができる。なお、
障壁層をp型にするか、又はn型にするかは、その帯電
特性に応じて決定される。この障壁層は、a−8iで形
成してもよく、またμc−8iで形成してもよい。
[実施例] 第4図乃至第6図は、この発明の実施例に係る電子写真
感光体を示す一部所面図である。第4図に示す感光体に
おいては、導電性支持体21の上に、障壁層22が形成
されており、障壁層22の上に先導11131が形成さ
れている。この光導電層31は、障壁M22の上に形成
されたn型のa−8i第1層23と、この第111の上
に形成されたμc−3i又はa−8iからなる第2層2
4との積層体で構成されている。第5図に示す感光体に
おいては、光導電層32のμC−3+又はa−8iの第
2層24が障壁層22の上に形成されており、n型のa
−8i第1層23は感光体表面側に形成されている。一
方、第6図に示す感光体においては、第4図の感光体の
光導電層31の上に表面層25が形成されている。
障壁層22は、C,O,Nから選択された少なくとも1
種の元素及びHを含有し、p型若しくはn型のμc−8
i又はa−8iで形成されており、その層厚は、0.0
1乃至10μm、好ましくは、0.1乃至3μmに形成
されている。また、C1○、Nの含有量は、1乃至20
原子%であることが好ましい。更に、障壁1122をn
型又はn型にするためにドーピングされる周期律表第■
族又は第V族に属する元素の含有量はlX10゛3乃至
5原子%であることが好ましい。
光導電[31又は32の第1層23は、n型のa−8i
で形成されており、その層厚は、1乃至20μmである
ことが好ましい。また、a−8iをn型にするための周
期律表第V族元素のドーピング量は、lX104乃至1
×10°3原子%であることが好ましい。第2層24は
、Hを含有するμc−8i又はa−3iで形成されてい
る。この第2層24には、周期律表の第■族に属する元
素をライトドープし、第2層をi型にして暗抵抗を高め
、光導電特性を向上させることが好ましい。
この第2層24の層厚は、1乃至20μmであることが
好ましく、ドーピング量は、1X10−7乃至1X10
°3であることが好ましい。
次に、この発明の実施例について説明する。
111と 反応容器内を、図示しない拡散ポンプにより、排気し、
約0.1トルの真空度にする。その後、ドラム基体を加
熱し、約400℃に保持する。次いで、2008CCM
の流量のSiH+ガス、このSiH+ガス流量に対する
流量比が10゛]のB2 H6ガス、及び11005C
CのCH4ガスを混合して反応容器に供給した。その後
、メカニカルブースタポンプ及びロータリポンプにより
反応容器内を排気し、その圧力を1トルに調整した。
電極に13.56MHzで300ワツトの高周波電力を
印加して、電極とドラム基体との間にプラズマを生起さ
せ、15分間成護膜て支持体21上にa−8i障壁層2
2を1.5μm形成した。
その後、S i H4カス17)流量!5008ccM
、H2ガスの流山を15008CCMに設定してこれら
のガスを反応容器内に導入した。反応圧力が0.8トル
の状態でIKWの電力を投入して2時間成膜し、12μ
mのμc−3i第21124を形成した。次いで、5i
2Hsガスを 1005CCMSPH3ガスを5i2e−Isガスに対
する流量比で5X10−”に設定し、反応圧力が0.5
トル、高周波電力が100ワツトの条件で1時間成膜し
た。これにより、8μmのn型のa−3i第1層23が
形成された。
その後、SiH+ガスを3008CCM。
NH3ガスを1508CCMに設定し、反応圧力が1ト
ル、高周波電力が200ワツトの条件で15分間成護膜
、1μmの表面層25を形成した。
このようにして成膜した感光体を790nmの発振波長
の半導体レーザを搭載したレーザプリンタに搭載して画
像を形成したところ、+6.0kVの印加電圧(ドラム
流入電流0.1mA)に対して、+500Vの表面電位
が得られ、また、半減露光層は7 、5 era c+
e2と極めて良好な値が得られた。更に、35 erg
 c+a2の露光機に対する残留電位は+40Vと極め
て低い値であった。
11L この実施例は、障壁層及び第2層がμc−3iで形成さ
れたものである。先ず、2008CCMの流量のSiH
+ガス、このSiH4ガス流量に対する流量比が10°
3のB2 H6ガス、1100OSCCのH2ガス及び
100SCCMのCH4ガスを混合して反応容器に供給
した。その後、メカニカルブースタポンプ及びロータリ
ポンプにより反応容器内を排気し、その圧力を1トルに
調整した。電極に13.56MHzで300ワツトの高
周波電力を印加して、電極とドラム基体との間にプラズ
マを生起させ、15分間成膜して支持体21上にμc−
8i障壁層22を0.3μm形成した。
その後、SiH4ガスの流量を5008CCM、H2ガ
スの流量を15003CCMに設定してこれらのガスを
反応容器内に導入した。反応圧力が0.8トルの状態で
IKWの電力を投入して3時間成膜し、15μmのμc
−8i第2層24を形成した。次いで、5izHsガス
を 11008CC,PH3ガスを5i2Hsガスに対する
流量比で5X10”6に設定し、反応圧力が0.5トル
、高周波電力が10oワツトの条件で1時間成摸した。
これにより、8μmのn型のa−3i第1層23が形成
された。
その後、SiH+ガスを300SCCM。
NH3ガスを1508CCMに設定し、反応圧力が1ト
ル、高周波電力が200ワツトの条件で15分間成膜し
、1μmの表面層25を形成した。
このようにして成膜した感光体を790nmの発振波長
の半導体レーザを搭載したレーザプリンタに搭載して画
像を形成したところ、+6.Ok■の印加電圧(ドラム
流入電流0.1mA)に対して、+450Vの表面電位
が得られ、また、半減露光量は7 、 Oerg 01
112と極めて良好な値が得られた。更に、35 er
gcm2の露光量に対する残留電位は+25Vと極めて
低い値であった。
支i11 この実施例は、障壁層がμc−8iで形成され、第2層
がa−8iで形成されたものである。先ず、2008C
CMの流量のSiH+ガス、このS i H4ガス流量
に対する流量比が10°3のB2 H6ガス、1100
OSCCのH2ガス及び11005CCのCH4ガスを
混合して反応容器に供給した。その後、メカニカルブー
スタポンプ及びロータリポンプにより反応容器内を排気
し、その圧力を1トルに調整した。電極に13.56M
H2で300ワツトの高周波電力を印加して、電極とド
ラム基体との間にプラズマを生起させ、15分間成膜し
て支持体21上にμc−8t障壁層22を0.3μm形
成した。
その後、SiH+ガスの流量を5008CCM、B2ガ
ス流量をSiH+ガス流石に対する流量比で3X10−
6.H2ガスの流量を 15008CCMに設定してこれらのガスを反応容器内
に導入した。反応圧力が0.8トルの状態でIKWの電
力を投入して1時間成膜し、10μmのa−3i第2層
24を形成した。次いで、5i2Hsガスを1008C
CM、PH3ガスを5i2Hsガスに対する流量比で5
X10−6に設定し、反応圧力が0.51−ル、高周波
電力が100ワツトの条件で1時間成膜した。これによ
り、8μmのn型のa−8i第1層23が形成された。
その後、SiH+ガスを300SCCM、NH3ガスを
150SCCMに設定し、反応圧力が1トル、高周波電
力が200ワツトの条件で15分間成膜し、1μmの表
面層25を形成した。
このようにして成膜した感光体を790nmの発振波長
の半導体レーザを搭載したレーザプリンタに搭載して画
像を形成したところ、+6.0kVの印加電圧(ドラム
流入電流0.1mA)に対して、+560Vの表面電位
が得られ、また、半減露光量はg 、□ erg C1
112と極めて良好な値が得られた。更に、35 er
g ca+2の露光量に対する残留電位は+40Vと極
めて低い値であった。
ilL この実施例は、障壁層及び第2層がa−3iで形成され
たものである。先ず、2008CCMの流量のSiH+
ガス、このS i H4ガス流量に対する流量比が10
°3のB2 Hsガス及び11005CCのCH4ガス
を混合して反応容器に供給した。その後、メカニカルブ
ースタポンプ及びロータリポンプにより反応容器内を排
気し、その圧力を1トルに調整した。N&に13.56
MH2で300ワツトの高周波電力を印加して、電極と
ドラム基体との間にプラズマを生起させ、15分間成膜
して支持体21上にa−3i障壁層22を1.5μm形
成した。
その後、SiH<ガスのi最を500SCCM、82 
H6ガス流量をSiH+に対する流量比で3X10−6
に設定してこれらのガスを反応容器内に導入した。反応
圧力が0.8トルの状態で1゜5KWの電力を投入して
1時間成膜し、12μmのa−8i第2層24を形成し
た。次いで、3i2Hsガスを1008CCM、PH3
ガスを5i2Hsガスに対する流量比で5X10−8に
設定し、反応圧力が0.5トル、高周波電力が100ワ
ツトの条件で1時間成膜した。これにより、8μmのn
型のa−8i第1層23が形成された。
その後、SiH+ガスを3008CCM、NH3ガスを
1508CCMに設定し、反応圧力が1トル、高周波電
力が200ワツトの条件で15分間成成膜、1μmの表
面1m25を形成した。
このようにして成膜した感光体を790nmの発振波長
の半導体レーザを搭載したレーザプリンタに搭載して画
像を形成したところ、+6.0kVの印加電圧(ドラム
流入電流0.1mA)に対して、+550Vの表面電位
が得られ、また、半減露光量は8 、8 erg cm
”と極めて良好な値が得られた。更に、35 erg 
cm2の露光量に対する残留電位は+40Vと極めて低
い値であった。
[発明の効果1 この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い電子写真感光体を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はドーピング比と導電率との関係を示すグラフ図
、第2図はドーピング比と活性化エネルギ及び光学的バ
ンドギャップとの関係を示すグラフ図、第3図はこの発
明に係る電子写真感光体の製造装置を示す図、第4図乃
至第6図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示
す断面図である。 1.2.3.4;ポンベ、5:圧力計、6:バルブ、7
:配管、8:混合器、9;反応容器、1o;回転軸、1
3;電極、14ニドラム基体、15:ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;支持体、22:
障壁層、23;第1層、24:第2Ji、25;表面層
、31.32:光導電層 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 PH3/5i2Hs 第1図 1d 第3図 第4 図 第5図 第6図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた障壁層と、この障壁層の上に形成された光導電層と
    、を有する電子写真感光体において、前記障壁層は、炭
    素、酸素及び窒素から選択された少なくとも1種の元素
    並びに水素を含有するp型若しくはn型のマイクロクリ
    スタリンシリコン又はアモルファスシリコンで形成され
    ており、前記光導電層は、水素を含有するn型のアモル
    ファスシリコンで形成された第1層と、水素を含有する
    マイクロクリスタリンシリコン又はアモルファスシリコ
    ンで形成された第2層との積層体であることを特徴とす
    る電子写真感光体。
  2. (2)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
    に属する元素から選択された少なくとも1種の元素を含
    有することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    電子写真感光体。
  3. (3)前記光導電層の上に、表面層が形成されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の電子写真
    感光体。
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