JPS6296846A - Particulate detector - Google Patents
Particulate detectorInfo
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- JPS6296846A JPS6296846A JP60237864A JP23786485A JPS6296846A JP S6296846 A JPS6296846 A JP S6296846A JP 60237864 A JP60237864 A JP 60237864A JP 23786485 A JP23786485 A JP 23786485A JP S6296846 A JPS6296846 A JP S6296846A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業−1−の利用分野]
この発明は、所定の場所の空気(以下サンプルエアとい
う)の清浄度を測定するための微粒子検出装置に関する
。Detailed Description of the Invention [Field of Application in Industry-1-] The present invention relates to a particle detection device for measuring the cleanliness of air (hereinafter referred to as sample air) in a predetermined location.
[従来の技術]
従来、サンプルエアの清浄度を測定するための装置とし
ては、サンプルエアにレーザ光を射光シ、サンプルエア
中の微粒子をレーザ光の散乱光を介して光散乱検出4(
光散乱セル)で検出するいわゆる光散乱式微粒子検出器
がある。[Prior Art] Conventionally, as a device for measuring the cleanliness of sample air, a laser beam is emitted onto the sample air, and fine particles in the sample air are detected by light scattering detection (4) through the scattered light of the laser beam.
There is a so-called light scattering particle detector that detects particles using a light scattering cell.
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、このような従来の光散乱式微粒子検出器
においては、1つのレーザ発振器に1つの光散乱検出器
しか配置していないことから、多点数のサンプリングを
同時に行うには複数台の微粒子検出ムが必dとなり、1
台の微粒子検出器で多点数のサンプリングを行うには電
磁弁等によりサンプル点を時系列点に切換えなければな
らないという問題がある。また、サンプルエアを大吸引
量で測定する場合には、レーザパワーの増大が必要とな
り、このことがらレーザ発振器が人べ(化するという問
題がある。[Problems to be Solved by the Invention] However, in such conventional light scattering particle detectors, only one light scattering detector is disposed in one laser oscillator, making it difficult to perform multi-point sampling. To perform this simultaneously, multiple particulate detection systems are required, and 1
In order to perform multi-point sampling using a single particle detector, there is a problem in that the sample points must be switched to time-series points using a solenoid valve or the like. Furthermore, when measuring a large amount of sample air, it is necessary to increase the laser power, which causes the problem that the laser oscillator becomes human-like.
[発明の目的]
この発明の1−1的は、前記従来の問題を解決するもの
であって、な微粒子検出装置を提供することにある。[Object of the Invention] 1-1 of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a fine particle detection device.
[問題点を解決するための手段]
このような[1的を達成するためのこの発明の−P段は
、iEn角形(nは3以−1−の整数)の形状において
その各辺上に配置され、前記正n角形の各頂点方向にレ
ーザ光を送出するn個又は2n個のレーザ発振器と、こ
のレーザ発振器と前記各頂点との間に配置されてサンプ
ルエア中の微粒子を前記レーザ光の散乱光を介して検出
する2n個の検出器と、前記各頂点に配置されたn個の
ミラーと、前記検出器からの検出信号に応じて前記微粒
子の51を計7!IIIする測定回路とを備え、前記ミ
ラーは、前記サンプルエアを透過して前記各「1点に到
達する2方向からの前記各レーザ光の入射角が等しくな
るように位置決めされる微粒子検出装置にある。[Means for Solving the Problems] The -P stage of the present invention for achieving the above-mentioned objective is to n or 2n laser oscillators arranged to emit laser beams in the direction of each vertex of the regular n-gon; 2n detectors for detecting through scattered light, n mirrors arranged at each vertex, and 51 of the particles in total according to the detection signal from the detectors, 7! the mirror is positioned such that the incident angles of the laser beams from two directions that pass through the sample air and reach the one point are equal; be.
[作用]
このように構成いた微粒子検出装置は、正n角形の形状
においてその各辺」−に配置されたn個又は2 n個の
レーザ発振器から、各辺の両端の+1:、n角形の各「
1点方向にレーザ光が送111される。そして、各レー
ザ光振器と各「1点との間に配置された2 n個の検出
器が、各レーザ発振器から送出されたレーザ光の散乱光
を介してサンプルエア中の微粒rを検出する。そして、
この微粒子の酸は、−1定回路により各検出器からの検
出信号に応じて測定される。また、1Erx角形の各頂
点にはn個のミラーが配置され、各ミラーはサンプルエ
アを透過して各頂点に到達する2方向からの各レーザ光
の入射角が等しくなるように位置決めされていることか
ら、サンプルエアを透過して各ミラーに到達する2方向
からの各レーザ光は、それぞれ他方向から入射してくる
各レーザ光に反射する。このことから、各レーザ発振器
と各頂点との間でレーザパワーが増大する。而して、こ
の微粒子検出装置には2n個の検出器が配置されること
から、多点数のサンプリングを同時に行うことができる
。また、21個の検出器で同一・点数のサンプリングを
行えば人ヤ!レーザを使用した場合と等しい効果を得る
ことができる。[Operation] The particle detection device configured in this manner is configured to detect laser oscillators from n or 2n laser oscillators arranged on each side of a regular n-gon, +1: on both ends of each side, each"
Laser light is transmitted 111 in a single point direction. Then, 2n detectors placed between each laser beam oscillator and each point detect fine particles r in the sample air through the scattered light of the laser beam sent out from each laser oscillator. Then,
The acid in the fine particles is measured by a -1 constant circuit according to the detection signal from each detector. Furthermore, n mirrors are arranged at each vertex of the 1Erx rectangle, and each mirror is positioned so that the incident angles of the laser beams from two directions passing through the sample air and reaching each vertex are equal. Therefore, each laser beam from two directions that passes through the sample air and reaches each mirror is reflected by each laser beam that enters from the other direction. This increases the laser power between each laser oscillator and each vertex. Since 2n detectors are arranged in this particle detection device, sampling at multiple points can be performed simultaneously. Also, if you sample the same number of points with 21 detectors, you will be amazed! The same effect as using a laser can be obtained.
[実施例]
以ド、この発明における微粒子検出器の一実施例につい
て図面を参照して詳細に説明する。[Example] Hereinafter, an example of the particle detector according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図乃至第3図は、この発明における微粒子検出装置
の−・実施例を示したものである。1 to 3 show embodiments of a particle detection device according to the present invention.
第1図に示すように、この微粒P検出装置lは、正n角
形としての正三角形の形状において、3つの辺上にレー
ザ発振器としてのレーザ管2を1本ずつ配置したもので
ある。As shown in FIG. 1, this particle P detection device 1 has the shape of an equilateral triangle, which is a regular n-gon, with one laser tube 2 as a laser oscillator arranged on each of three sides.
この3木のレーザ管2.2.2は、両端がらレーザ光を
送出するものであって、正三角形の形状において、この
3辺]−に配置されることにより、8辺の両端のこの正
三角形の偵点ノ」向にレーザ光を送出するものである。These three laser tubes 2.2.2 emit laser light from both ends, and by being placed on the three sides of an equilateral triangle, it is possible to It emits laser light in the direction of a triangular reconnaissance point.
そして、この3木のレーザ管2.2.2の両側には、前
記正三角形の各「1点との間に、1つすっ配置された計
6つの検出器3が配置される。A total of six detectors 3 are arranged on both sides of the three laser tubes 2.2.2, with one detector 3 arranged directly between each point of the equilateral triangle.
この6つの検出器3は、第2図に示すように各レーザ管
2,2.2の両端から送出されるレーザ光の散乱光を介
し、サンプルエア12(第3図参!1.(1)中の微粒
rを検出するものであって、各検出器3は、測定回路4
に接続されている。As shown in FIG. 2, these six detectors 3 detect sample air 12 (see FIG. 3! 1. ), each detector 3 is connected to a measuring circuit 4.
It is connected to the.
この測定回路4は、検出器3に対応した数の増幅器5と
、粒径弁別回路6と、カウンタ7と、表示回路8とを有
する。The measurement circuit 4 includes a number of amplifiers 5 corresponding to the number of detectors 3, a particle size discrimination circuit 6, a counter 7, and a display circuit 8.
増幅7!A5は、検出器3からの送出信号を増幅するも
のであり、粒径弁別回路6は、増幅器5で増幅された信
号に応じて、微粒子を粒径別に6つに区分し、この6つ
の区分毎の信号をカウンタ7に送出するものである。Amplification 7! A5 is for amplifying the signal sent from the detector 3, and the particle size discrimination circuit 6 classifies the particulates into six groups according to particle size according to the signal amplified by the amplifier 5. This is to send out each signal to the counter 7.
また、カウンタ7は、粒径弁別回路6から送出される6
つの区分毎の信号に対応した6つのチャネルを自し、微
粒子の粒径別の量を6つの区分毎にカウントして、この
信号を表示回路8に送出するものであり、表示回路8は
、この信号に応じてカウンタ7のカウント値を表示する
ものである。The counter 7 also receives the 6
It has six channels corresponding to signals for each of the six divisions, counts the amount of fine particles according to particle size for each of the six divisions, and sends this signal to the display circuit 8, which The count value of the counter 7 is displayed in response to this signal.
なお、測定回路4は、加算回路9と切換回路10を有す
る。Note that the measurement circuit 4 includes an addition circuit 9 and a switching circuit 10.
加算回路9は、6つの増幅器5と6つの粒径弁別回路6
との間に接続され、6つの検出器3の内から選択された
1つの検出器3からの送出信号に基づき、これを加算し
て6つの粒径弁別回路6の内の1つの粒径弁別回路6に
切換回路10を介して信号を送出するものである。そし
て、この切換回路10は、前記1つの粒径弁別回路6に
接続され、この粒径弁別回路6を検出V913又は加算
回路9に接続するための切換えを行う。The adder circuit 9 includes six amplifiers 5 and six particle size discrimination circuits 6.
Based on the sending signal from one detector 3 selected from the six detectors 3, the signals are added to perform particle size discrimination by one of the six particle size discrimination circuits 6. A signal is sent to the circuit 6 via the switching circuit 10. This switching circuit 10 is connected to the one particle size discrimination circuit 6, and performs switching for connecting this particle size discrimination circuit 6 to the detection V913 or the addition circuit 9.
さて、この微粒子検出装置1は、前記正三角形の形状に
おいて、この正三角形の各頂点に配置された3つのミラ
ー11.tt、tiを備える。Now, this particulate detection device 1 has the shape of an equilateral triangle, and three mirrors 11. It is equipped with tt and ti.
この3つのミラー11,11.11は100%反射主反
射であって、第2図及び第3図に示すように、2つのレ
ーザ管2から送出されてサンプルエア12を通過し、l
l’l記正三角形の3つの「1点に到達する、2方向か
らの各レーザ光の入射角0が等しくなるように位置決め
されている。These three mirrors 11, 11.11 are 100% main reflection, and as shown in FIG. 2 and FIG.
The laser beams are positioned so that the incident angles 0 of the laser beams from two directions reaching one point of the three equilateral triangles are equal.
このように構成した微粒子検出装置1は、正三角形の形
状において、この各辺l−に配置された3木のレーザ管
2.2.2の両端から、正二角形の各珀点力向にレーザ
光が送出される。そして、各レーザ管2.2.2と各頂
点との間に配置された6つの検出器3が、各レーザ管2
.2.2から送出されたレーザ光の散乱光を介して、サ
ンプルエア12中の微粒子を検出する。The particulate detection device 1 configured in this way has an equilateral triangular shape, and a laser beam is emitted from both ends of three laser tubes 2.2.2 arranged on each side l- of the equilateral triangle in the direction of force at each square point of the equilateral triangle. Light is sent out. Then, six detectors 3 arranged between each laser tube 2.2.2 and each vertex are connected to each laser tube 2.2.2.
.. Particles in the sample air 12 are detected through the scattered light of the laser beam sent out from the sample air 12.
そして、この6つの検出器3は、それぞれこの微粒子の
検出信号を測定回路4に送出する。Each of the six detectors 3 sends a detection signal of the fine particles to the measurement circuit 4.
この測定回路4に送出された検出信号は、まず、増幅?
A5で増幅される。そして、粒径弁別回路6で微粒子の
粒径に応じて6つに区分され、この6つの区分毎の信号
がカウンタ7に送出される。カウンタ7は、6つのチャ
ネルで6つの区分毎の微粒−rの量をカウントし、この
信号が表示回路8に送出され、表t%回路8でカウント
値が表示される。The detection signal sent to this measurement circuit 4 is first amplified?
It is amplified by A5. Then, the particle size discrimination circuit 6 classifies the fine particles into six categories according to the particle size, and signals for each of the six categories are sent to the counter 7. The counter 7 counts the amount of fine particles -r in each of the six sections using six channels, and this signal is sent to the display circuit 8, where the count value is displayed on the table t% circuit 8.
面して、6点数のサンプルエアが1点数毎に同時に/1
u11定されることとなる。Facing each other, 6 sample air points are simultaneously sampled per point.
u11 will be determined.
次に、同一点数のサンプルエアを大吸引量で測定する場
合には、6箇所に配置されたサンプルエア導入11(図
、1<せず)を1つにまとめ、同一雰囲気のサンプルエ
アとしてこれを6つの検出器3に均等に導入する。そし
て、6つの検出器3の内から選択された1つの検出器3
からの送出信号に基づき、これを論理和して、6つの内
の1つのオーl径弁別回路6にこの加算した信号を送出
する。Next, when measuring the same number of sample air with a large suction amount, combine the six sample air introductions 11 (see figure 1 < not shown) into one sample air in the same atmosphere. are introduced equally into the six detectors 3. Then, one detector 3 selected from the six detectors 3
Based on the output signal from the O/L diameter discrimination circuit 6, the summed signal is ORed and the added signal is output to one of the six O/L diameter discrimination circuits 6.
この場合の切換回路10は、加算回路9に接続され、粒
径弁別回路6と加算回路9を接続する。The switching circuit 10 in this case is connected to the addition circuit 9 and connects the particle size discrimination circuit 6 and the addition circuit 9.
なお、切換回路10は、多点数のサンプルエアを1点数
毎に測定する場合には、増幅器5に接続され、この増幅
器5を介して粒径弁別回路6と検出器3を接続するもの
である。The switching circuit 10 is connected to an amplifier 5 when measuring multiple sample air points one by one, and connects the particle size discrimination circuit 6 and the detector 3 via the amplifier 5. .
而して、多点数及び同一点数のサンプルエアが微粒子検
出装置1によりサンプリングされるが、この微粒子検出
装置1は、■E玉玉形形形状において、この正−ミ角形
の各頂点に配置された3つのミラー11,11.11を
備えており、この3つのミラー11,11.11がlO
O%反射ミラーであり、各ミラー11.11.11が2
方向からの各レーザ光の入射角θが等しくなるように位
置決めされていることから、2方向から各ミラー11゜
11.11に到達する各レーザ光は、それぞれ他Jj向
から入射してくる各レーザ光に反射する。Thus, the sample air of multiple points and the same number of points is sampled by the particle detection device 1, but this particle detection device 1 is arranged at each vertex of this regular square in the E ball shape. It is equipped with three mirrors 11, 11.11, and these three mirrors 11, 11.11 are
0% reflective mirror, each mirror 11.11.11 is 2
Since the laser beams from each direction are positioned so that the incident angles θ are equal, each laser beam that reaches each mirror 11゜11.11 from two directions will be Reflects on laser light.
このことから、各レーザ管2.2.2とIF正五角形各
m点との間でレーザパワーが増大しレーザ光の発振効率
が向−1−する。From this, the laser power increases between each laser tube 2.2.2 and each m point of the IF regular pentagon, and the oscillation efficiency of the laser beam increases.
以]−1実施例について説明したが、レーザ管は正五角
形の形状においてその各辺上に配置するものに限るもの
ではなく、正四角形、正五角形等の形状においてその各
辺上に配置してもよい。この場合には、正四角形、正五
角形等の形状に対応する数の検出器及びミラーを配置す
る。[Below]-1 Example has been described, but the laser tube is not limited to being arranged on each side of a regular pentagon shape, but it can also be arranged on each side of a regular square, regular pentagon, etc. shape. Good too. In this case, the number of detectors and mirrors corresponding to the shape of a regular square, regular pentagon, etc. are arranged.
また、発振器としては、レーザ管に限るものではなく、
一方向にレーザ光を送出する発振器を背中合わせに2つ
ずつ各辺上に配置して正n角形の各n′1点方同方向−
ザ光を送出するようにしてもよい。In addition, the oscillator is not limited to a laser tube,
Two oscillators that emit laser light in one direction are placed back to back on each side, and each n'1 point of a regular n-gon is placed in the same direction.
Alternatively, the light may be sent out.
[発明の効果コ
以りの説明から明らかなように、この発明における微粒
子検出装置は、11有l角形(nは3以l−の整数)の
形状においてその各辺上に配置され、前記+l: n角
形の各頂点方向にレーザ光を送出するIX個又は2n個
のレーザ発振器と、このレーザ発振器と+1ii記各「
1点との間に配置されてサンプルエア中の微粒子を前記
レーザ光の散乱光を介して検出する2n個の検出器と、
前記各頂点に配置されたn個のミラーと、前記検出器か
らの検出信号に応じてmll機微粒子量を計測する測定
回路とを備え、前記ミラーは、前記サンプルエアを透過
して前記各rrr点に到達する2方向からの前記各レー
ザ光の入射角が等しくなるように位置決めされるので、
1台で多点数のサンプリングを同時に行うことができ、
レーザパワーを増大せずに大吸引量のサンプルエアを測
定することができ、しかもコンパクトである。[Effects of the Invention] As is clear from the following explanation, the particle detection device of the present invention is arranged on each side of an 11-sided polygon (n is an integer of 3 or more), and : IX or 2n laser oscillators that emit laser beams in the direction of each vertex of an n-gon, and these laser oscillators and each of the "+1ii"
2n detectors arranged between one point and detecting particles in the sample air through scattered light of the laser beam;
n mirrors disposed at each of the vertices, and a measurement circuit that measures the amount of mll fine particles in accordance with a detection signal from the detector; Since the laser beams arriving at the point are positioned so that the incident angles from the two directions are equal,
Multiple points can be sampled simultaneously with one device.
A large amount of sample air can be measured without increasing laser power, and it is compact.
第1図は、この発明における微粒子検出装置の一実施例
を示した説明図、第2図は、第1図の「1点部分の拡大
図、第3図は、レーザ光に射光されるサンプルエアを示
した説明図である。
1・・・・数粒r検出装置、2−・・・レーザ管、3曲
検出本、4・・・・測定回路、9曲加算回路、10−
切換回路、11・・・・ミラー。Fig. 1 is an explanatory diagram showing one embodiment of the particle detection device according to the present invention, Fig. 2 is an enlarged view of one point in Fig. 1, and Fig. 3 is a sample irradiated with laser light. It is an explanatory diagram showing air. 1...Several grain r detection device, 2-...Laser tube, 3 song detection lines, 4...Measuring circuit, 9 song addition circuit, 10-...
Switching circuit, 11...mirror.
Claims (3)
の各辺上に配置され、前記正n角形の各頂点方向にレー
ザ光を送出するn個又は2n個のレーザ発振器と、この
レーザ発振器と前記各頂点との間に配置されてサンプル
エア中の微粒子を前記レーザ光の散乱光を介して検出す
る2n個の検出器と、前記各頂点に配置されたn個のミ
ラーと、前記検出器からの検出信号に応じて前記微粒子
の量を計測する測定回路とを備え、前記ミラーは、前記
サンプルエアを透過して前記各頂点に到達する2方向か
らの前記各レーザ光の入射角が等しくなるように位置決
めされることを特徴とする微粒子検出装置。(1) n or 2n laser oscillators arranged on each side of a regular n-gon (n is an integer of 3 or more) and transmitting laser beams in the direction of each vertex of the regular n-gon; 2n detectors arranged between a laser oscillator and each of the vertices to detect particles in the sample air via scattered light of the laser beam, and n mirrors arranged at each of the vertices; a measurement circuit that measures the amount of the particles according to a detection signal from the detector, and the mirror is configured to receive each of the laser beams from two directions so as to pass through the sample air and reach each of the vertices. A particle detection device characterized by being positioned so that the angles are equal.
からレーザ光を送出するn個のレーザ管であって、測定
回路は、2n個の検出器に個別に接続された2n個の粒
径弁別回路と、この粒径弁別回路に接続されたカウンタ
と、カウント値を表示する表示回路とを有し、前記粒径
弁別回路は、前記検出器からの送出信号に応じて所定の
粒径別に微粒子を区分してこの区分毎の信号を前記カウ
ンタに送出し、前記カウンタは、この信号に基づき粒径
別の微粒子をカウントし、その信号を前記表示回路に送
出することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の微
粒子検出装置。(2) The laser oscillators are n laser tubes placed on each side and emit laser beams from both ends, and the measurement circuits are 2n laser tubes individually connected to 2n detectors. a particle size discrimination circuit, a counter connected to the particle size discrimination circuit, and a display circuit for displaying a count value, and the particle size discrimination circuit is configured to perform a predetermined detection according to a signal sent from the detector. The method is characterized in that the fine particles are classified by particle size and a signal for each classification is sent to the counter, and the counter counts the fine particles by particle size based on this signal and sends the signal to the display circuit. A particulate detection device according to claim 1.
回路との間に接続された加算回路と、切換回路とを有し
、前記加算回路は、前記2n個の検出器の内から選択さ
れたいずれか1つ又は複数からの送出信号に基づきこれ
らを加算して前記2n個の粒径弁別回路の内の1つに前
記切換回路を介して信号を送出し、前記切換回路は前記
1つの粒径弁別回路を前記検出器又は前記加算回路に接
続するための切換えを行うものである特許請求の範囲第
2項記載の微粒子検出装置。(3) The measurement circuit includes an adder circuit and a switching circuit connected between the 2n detectors and the 2n particle size discrimination circuits, and the adder circuit is connected between the 2n detectors and the 2n particle size discrimination circuits. Adding the signals based on the sending signals from any one or more selected from among them and sending the signal to one of the 2n particle size discrimination circuits via the switching circuit, 3. The particle detection device according to claim 2, wherein said one particle size discrimination circuit is switched to connect said one particle size discrimination circuit to said detector or said addition circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60237864A JPS6296846A (en) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | Particulate detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60237864A JPS6296846A (en) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | Particulate detector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6296846A true JPS6296846A (en) | 1987-05-06 |
Family
ID=17021547
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60237864A Pending JPS6296846A (en) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | Particulate detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6296846A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01155240A (en) * | 1987-11-12 | 1989-06-19 | Unilever Nv | Measuring apparatus |
WO2011083200A1 (en) * | 2010-01-11 | 2011-07-14 | Consejo Superior De Investigaciones Científicas (Csic) | Device and system for counting and analysing particles and use of said system |
-
1985
- 1985-10-24 JP JP60237864A patent/JPS6296846A/en active Pending
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