JPS6273105A - Length measurement device using charged particle beam - Google Patents
Length measurement device using charged particle beamInfo
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- JPS6273105A JPS6273105A JP21415385A JP21415385A JPS6273105A JP S6273105 A JPS6273105 A JP S6273105A JP 21415385 A JP21415385 A JP 21415385A JP 21415385 A JP21415385 A JP 21415385A JP S6273105 A JPS6273105 A JP S6273105A
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は荷電粒子線を用いて試料を走査し、走査に伴っ
て得られた検出信号に基づいて表示装置に試料像を表示
し、該像中の任意の注目する部分の長さを測長するよう
にした装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention scans a sample using a charged particle beam, displays an image of the sample on a display device based on a detection signal obtained during scanning, and The present invention relates to a device for measuring the length of any part of interest in an image.
[従来の技術]
電子線により被測長対象を含む領域を電子線により走査
し、被測長対象を含む領域の像を陰極線管等の表示装置
に表示し、この像を観察しながら測長する部分をマーカ
ーで指定して測長することが行なわれている。[Prior art] An area including the object to be measured is scanned with an electron beam, an image of the area including the object to be measured is displayed on a display device such as a cathode ray tube, and the object is measured while observing this image. This is done by specifying the part to be measured with a marker and measuring the length.
いま、陰Fil線管画面を表わした第8図(a>に示さ
れているマスクMの幅Wを測定しようとする場合を考え
る。従来の測長装置においては、上記マーカ〜として例
えば同図に示すような4木の縦カーソルCx1. Cx
2. Cx3. Cx4を表示すルト共に1本の横カー
ソルCyを表示している。このような装置を用いて、マ
スクMの像と各カーソルとの位置関係を監視しながら、
第8図(b)に示すようにマスクMの一端を挟むように
縦カーソルCX1. CX2を移動させると共に、マス
クMの使端を挟むように縦カーソルCx3. Cx4を
移動させると共に、横カーソルCyを測長しようとする
垂直位置に移動させている。このような各カーソルの移
動の後、測長の開始を指示すると、装置は横カーソルC
y上にあって縦カーソルCX1. Cx2で挟まれた領
域に対応する第9図(a)のAで示す映像信号と、横カ
ーソルCy上にあって縦カーソルCX3. CX4によ
って挟まれた領域に対応する第9図(a)の8で示す映
像信号をラインメモリ等に取り込む。次に、以下に述べ
るようにしてこれら信号に基づいてマスクMの両方の端
部の水平走査位置を自動的に決定する。即ち、まず、第
9図(a)の信号部分Aの最大値1paと最小値1(I
aを求め、更にこの最大値、最小値間を予め定めた比で
内分する点の水平走査位置X1を求める。この比として
は、多くの場合に像との対比から妥当であるということ
で、50%が良く使用される。第9図(a)のBの信号
に対しても同様な信号処理により最大値tabと最小値
[qbが求められ、こられの値に基づいて同様な内分点
の水平位置座標×2がマスクMの他方の端部に対応した
座標として求められる。更に、このようにして求められ
た位置データXI 、X2と、観察倍率情報を用いてマ
スクMの測長値が測定され表示される。尚、第9図(d
)は被測長対象との対比を容易にするために、マスクM
や各カーソルを示している。Now, let us consider a case where the width W of the mask M shown in FIG. 4-tree vertical cursor Cx1.Cx as shown in
2. Cx3. Both routes displaying Cx4 display one horizontal cursor Cy. Using such a device, while monitoring the positional relationship between the image of the mask M and each cursor,
As shown in FIG. 8(b), move the vertical cursor CX1. While moving CX2, move the vertical cursor Cx3. While moving Cx4, the horizontal cursor Cy is also moved to the vertical position where the length is to be measured. After each cursor movement like this, when you instruct the start of length measurement, the device moves the horizontal cursor C.
Vertical cursor CX1. The video signal indicated by A in FIG. 9(a) corresponding to the area sandwiched by Cx2 and the vertical cursor CX3 . The video signal indicated by 8 in FIG. 9(a) corresponding to the area sandwiched by CX4 is taken into a line memory or the like. Next, the horizontal scanning positions of both ends of the mask M are automatically determined based on these signals as described below. That is, first, the maximum value 1pa and the minimum value 1(I
a is determined, and then the horizontal scanning position X1 of a point that internally divides the maximum value and minimum value at a predetermined ratio is determined. As this ratio, 50% is often used because it is appropriate in many cases from the comparison with the image. For the signal B in Fig. 9(a), the maximum value tab and minimum value [qb are obtained by similar signal processing, and based on these values, the horizontal position coordinate x 2 of the similar internal division point It is determined as the coordinates corresponding to the other end of the mask M. Further, the length measurement value of the mask M is measured and displayed using the position data XI, X2 obtained in this manner and observation magnification information. In addition, Fig. 9 (d
) is a mask M to facilitate comparison with the object to be measured.
and each cursor.
[発明が解決しようとする問題点]
ところがマスクMを移動させ、それにより二次電子検出
器等との位置関係が変化すると、前記各カーソルを移動
させて被測長対象の同一箇所を走査した信号をサンプリ
ングしたにもかかわらず、第9図(a)の映像信号が例
えば第9図(b)に示すように変化することがある。こ
のような信号に対して上記と同一の信号処理を施すと、
第9図(a)におけるIpa、 Iqa、 Xl 、
Ipb、 IQb。[Problems to be Solved by the Invention] However, when the mask M is moved and its positional relationship with the secondary electron detector etc. changes, each of the cursors is moved to scan the same location on the object to be measured. Even though the signal is sampled, the video signal in FIG. 9(a) may change as shown in FIG. 9(b), for example. If we apply the same signal processing as above to such a signal, we get
Ipa, Iqa, Xl in FIG. 9(a),
Ipb, IQb.
×2の値は第9図(b)のIpa=、 Iqa−、X
1+、 Ipb−、Iqb−、X2−で示すようにな
る。The value of ×2 is Ipa=, Iqa-, X in Fig. 9(b)
1+, Ipb-, Iqb-, and X2-.
この第9図(b)を第9図(a)の場合と比較すると明
らかなように、×2の位置に対するX2 ”の位置は殆
んど不変であるが、×1の位置に対する×1′の位置は
大きく変化してしまう。これは、第9図(b)の信号部
分Aの最大値1pa′を与える位置は第9図(a)の場
合と比較して殆んど変らないのに対して、最小値za′
を与える水平走“査位置が第9図(a)の場合の左側か
ら右側に移動してしまうためである。そのため、測長対
象となる幅は水平走査位置X1 ”、 X2 ′間に対
応したW′となってしまう。又、電子線の加速電圧の変
化等によって信号は第9図(C)のように変化してしま
うこともある。このような場合、信号部分Aに対して略
同−の極小値が2個生じると共に、信号部分Bに対して
も略同−の極小値が2個生じ、ノイズ等の影響により最
小値を与える点としてUa、Ubで示す位置が選ばれた
結果、水平位置座標×1“、X2“間の距a w ”を
測長してしまう場合もある。このように従来においては
、測長の再現性が損われる場合があった。As is clear from comparing FIG. 9(b) with FIG. 9(a), the position of X2'' with respect to the position of ×2 is almost unchanged, but This is because the position that gives the maximum value 1pa' of signal portion A in Fig. 9(b) hardly changes compared to the case in Fig. 9(a). On the other hand, the minimum value za′
This is because the horizontal scanning position that gives It becomes W'. Furthermore, the signal may change as shown in FIG. 9(C) due to changes in the accelerating voltage of the electron beam. In such a case, two approximately the same minimum values occur for signal portion A, and two approximately same minimum values occur for signal portion B, resulting in the minimum value due to the influence of noise etc. As a result of selecting the positions indicated by Ua and Ub as points, the distance aw between the horizontal position coordinates ×1" and X2" may be measured.In this way, conventional methods In some cases, sexuality was impaired.
本発明はこのような従来の欠点を解決し、被測長対象の
位置を移動させたり、被副長対象に照射する荷電粒子線
の加速電圧を変化させた場合にも、再現性良り811長
することのできる荷電粒子線を用いた測長方法を提供す
ることを目的としている。The present invention solves these conventional drawbacks and can measure the length of 811 with good reproducibility even when the position of the object to be measured is moved or the acceleration voltage of the charged particle beam irradiated to the object to be measured is changed. The purpose of the present invention is to provide a length measurement method using a charged particle beam that can perform the following steps.
[問題点を解決するための手段1
このような目的を達成するため、本発明は荷電粒子線で
試料を走査し、該走査に伴って1qられた検出信号に基
づいて表示装置に試料像を表示する手段と、該試料像に
マーカーを表示することによって該表示像の特定の領域
を選択するための手段であって、該領域は任意の線状又
は帯状領域上にあり任意の幅を有する領域である手段と
、該選択指定された領域に対応する映像信号に基づいて
いずれか一方が最大値で他方が最小値である第1゜第2
の値を求める手段と、該一対の値の間を所定の比で内分
する点の該線状又は帯状領域上における走査位置を求め
る手段と、互いに異なった該領域の各々について求めら
れたこのような2点の走査位置データに基づいて該試P
4S中の注目する部分の測長を行なうようにした装置に
おいて、第1の値を与える走査位置に基づいて分割され
た211!1の部分領域のうち特定の部分子fa域を選
択し、該第1の値と該部分領域内に存在する第2の値に
基づいて該部分領域信号内の前記内分点を求める手段を
備えることを特徴としている。[Means for Solving the Problems 1] In order to achieve such an object, the present invention scans a sample with a charged particle beam, and displays an image of the sample on a display device based on a detection signal obtained by 1q during the scanning. means for displaying, and means for selecting a specific area of the displayed image by displaying a marker on the sample image, the area being on an arbitrary linear or strip area and having an arbitrary width. a means which is a region, and a first means and a second means whose one is the maximum value and the other is the minimum value based on the video signal corresponding to the selected and specified region.
means for determining the scanning position on the linear or band-shaped area of a point that internally divides the pair of values by a predetermined ratio; Based on the scanning position data of two points such as
In a device designed to measure the length of a portion of interest in 4S, a specific partial molecule fa region is selected from among 211!1 partial regions divided based on the scanning position that gives the first value, and The method is characterized by comprising means for determining the internal division point within the partial area signal based on the first value and the second value existing within the partial area.
[実施例] 以下、図面に基づき実施例を詳述する。[Example] Hereinafter, embodiments will be described in detail based on the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示すための図であり、図中
1は電子銃、2は電子銃1よりの電子線EBを集束する
集束レンズ、3はX(水平)及びY(垂直)偏向コイル
対から成る偏向コイル、4はマスク等の被測定試料であ
る。5は二次電子検出器、6はデジタル走査信号発生回
路、7,8はデジタル走査信号発生回路よりの走査信号
をアナログ信号に変換して増幅する走査回路、9は陰極
線管、90は走査コイル、10はAD変換器、11はラ
インメモリ、12はメモリコントローラ213は積、=
+、14はカーソルメモリ、15はカーソルメモリコン
トローラ、16はカーソルメモリ14よりの信号に基づ
いてブライトアップ信号を発生するブライトアップ回路
、17はcpu。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is an electron gun, 2 is a focusing lens that focuses the electron beam EB from the electron gun 1, and 3 is an X (horizontal) and a Y ( 4 is a sample to be measured such as a mask. 5 is a secondary electron detector, 6 is a digital scanning signal generation circuit, 7 and 8 are scanning circuits that convert the scanning signals from the digital scanning signal generation circuit into analog signals and amplified them, 9 is a cathode ray tube, and 90 is a scanning coil. , 10 is an AD converter, 11 is a line memory, 12 is a memory controller 213 is a product, =
14 is a cursor memory, 15 is a cursor memory controller, 16 is a bright-up circuit that generates a bright-up signal based on a signal from the cursor memory 14, and 17 is a CPU.
18は操作卓、19はデータ表示用メモリ等を内臓しC
PtJ17よりの信号に基づいて陰極線管9に測長値デ
ータ等を表示するための表示信号を発生するデータ表示
信号発生回路、20はその出力端が陰極線管9のグリッ
ド9Gに導入された合成回路である。18 is an operation console, 19 has a built-in memory for displaying data, etc.
A data display signal generation circuit generates a display signal for displaying measurement value data etc. on the cathode ray tube 9 based on the signal from PtJ 17, and 20 is a synthesis circuit whose output end is introduced into the grid 9G of the cathode ray tube 9. It is.
ラインメモリ10は第2図に示すように陰極線管9の−
X方向走査ラインに対応して4096のアドレスを有し
ており、各アドレスは8ビツトの深さを有している。又
、カーソルメモリ14は第3図に示すように陰lI線管
9の一画面に対応して深さ1ピツトの4096X 40
96のアドレスを有している。As shown in FIG. 2, the line memory 10 is connected to the -
It has 4096 addresses corresponding to the X-direction scan line, and each address has a depth of 8 bits. Furthermore, as shown in FIG.
It has 96 addresses.
陰極線管9の画面にX方向に平行な4本の横カーソルC
xl、 Cx2. Cx3. Cx4とY方向に平行な
1本の横カーソルCyを表示するため、対応するカーソ
ルメモリ14のアドレスには1が記憶されている。操作
卓18には、第4図に示すように前記カーソルC×1.
〜.Cx4.Cyの画面上の位置を制御するため操作つ
まみVxl、〜、Vx4.Vyが備えられている。又、
操作卓18には縦カーソルで挟まれた全体領域に対応す
る信号を2個の部分領域に対応する信号に分割する際に
、該全体領域信号の最大値を与える走査位置を境界とし
て分割を行なうか、最小値を基準として分割を行なうか
を指示する選択ボタンKp、Kqが備えられている。更
に又、該分割された2個の部分領域信号のうち、どちら
側の部分領域信号を選択するかを指示するボタンJi、
Joが備えられている。更に又、操作卓18には映像信
号の積算回数を指示するキー(図示せず)も備えられて
いる。Four horizontal cursors C parallel to the X direction on the screen of the cathode ray tube 9
xl, Cx2. Cx3. In order to display one horizontal cursor Cy parallel to Cx4 in the Y direction, 1 is stored in the corresponding address of the cursor memory 14. As shown in FIG. 4, the operation console 18 has the cursor C×1.
~. Cx4. To control the position of Cy on the screen, use the operation knobs Vxl, ~, Vx4. Vy is provided. or,
When dividing a signal corresponding to the entire area between the vertical cursors into signals corresponding to two partial areas, the operation console 18 performs the division using the scanning position that gives the maximum value of the entire area signal as a boundary. Selection buttons Kp and Kq are provided for instructing whether to perform division based on the minimum value or the minimum value. Furthermore, a button Ji for instructing which side of the divided partial area signal to select from among the two divided partial area signals;
Jo is provided. Furthermore, the console 18 is also equipped with a key (not shown) for instructing the number of times the video signal is integrated.
次に、前記第8図(a)に示したマスクMの幅Wを測定
する場合を例にとり本発明の詳細な説明する。Next, the present invention will be explained in detail by taking as an example the case where the width W of the mask M shown in FIG. 8(a) is measured.
上述した構成において、操作卓18のボタンKpを押し
てこの測定では、前記領域の分割を最大値を与える水平
走査位置を境界として分割することを指示すると共に、
ボタンJoを押してこのような境界点の対に対して外側
に位置する側の部分領域を選択して信号処理することを
指示する。In the above-described configuration, pressing the button Kp on the operation console 18 instructs to divide the area using the horizontal scanning position that gives the maximum value as the boundary in this measurement, and
By pressing the button Jo, the user instructs to select a partial region located on the outside of such a pair of boundary points and to perform signal processing.
この後、装置を稼働させると、デジタル走査信号発生回
路6より走査信号が発生し、電子線EBは試料4上を二
次元的に走査し、この走査に伴う検出器5よりの信号は
合成回路20を介して陰極線管9に輝度信号として供給
される。そのため、陰極線管9には試料像が表示される
。この際、デジタル走査信号発生回路6よりの走査信号
がカーソルメモリコントローラ15に送られているため
、カーソルメモリ14は電子線EBによる試料4の二次
元的な走査に同期して読み出しが行なわれる。After this, when the apparatus is operated, a scanning signal is generated from the digital scanning signal generation circuit 6, the electron beam EB scans the sample 4 two-dimensionally, and the signal from the detector 5 accompanying this scanning is sent to the synthesis circuit. The luminance signal is supplied to the cathode ray tube 9 via 20 as a luminance signal. Therefore, the sample image is displayed on the cathode ray tube 9. At this time, since the scanning signal from the digital scanning signal generation circuit 6 is sent to the cursor memory controller 15, the cursor memory 14 is read out in synchronization with the two-dimensional scanning of the sample 4 by the electron beam EB.
カーソルメモリ14よりの信号に基づいてブライトアッ
プ信号発生回路16はブライトアップ信号を発生させ、
ブライトアップ信号を合成回路2゜を介して陰極線管9
に送るため、陰極線管9の画面には試料像に重畳して5
本のカーソルCX’l、〜。The bright-up signal generation circuit 16 generates a bright-up signal based on the signal from the cursor memory 14,
The bright-up signal is sent to the cathode ray tube 9 via the synthesis circuit 2°.
5 superimposed on the sample image on the screen of the cathode ray tube 9.
Book cursor CX'l, ~.
CX4.cyが表示される。そこで、操作卓18のつま
みVXl、 〜、 VX4. VVl、 VV2を操作
すると、CPU17よりの信号に基づいてカーソルメモ
リコントローラ15が制御され、カーソルメモリ14内
の1を書き込むアドレスが変更されるため、陰極線管9
に表示されるカーソルの位置が移動する。このようなつ
まみVxi、〜、Vx4.vyの操作により、第8図(
b)に示す位置に各カーソルCXI、 Cx2. CX
3. CX4. (、’を移動させる。いま、カーソル
Cxl、 Cx2. Cx3. Cx4の水平方向(×
方向)の位置乃至は座標をHl 、 H2、)(3。CX4. cy is displayed. Therefore, the knobs VXl, . . . , VX4. When VVl and VV2 are operated, the cursor memory controller 15 is controlled based on a signal from the CPU 17, and the address for writing 1 in the cursor memory 14 is changed, so the cathode ray tube 9
The position of the cursor displayed on the screen moves. Such knobs Vxi, ~, Vx4. By operating vy, Figure 8 (
Each cursor CXI, Cx2. CX
3. CX4. (,' is moved. Now, move the cursor Cxl, Cx2. Cx3. Cx4 in the horizontal direction (×
The position or coordinates of direction) Hl, H2, )(3.
H4とする。そこで、副長の開始を指示すると、CPU
17よりの制御信号がデジタル走査信号発生回路6に送
られ、電子線EBは第5図(a>に示すX走査信号に基
づいてマスクMの横カーソルCyに対応したラインを連
続的に10回走査する。Let's call it H4. Therefore, when I instruct the start of the vice-master, the CPU
17 is sent to the digital scanning signal generation circuit 6, and the electron beam EB continuously scans the line corresponding to the horizontal cursor Cy of the mask M 10 times based on the X scanning signal shown in FIG. scan.
第1回目の走査に伴って検出器5より(qられた信号は
、AD変換器10に送られてデジタル信号に変換された
後、ラインメモリ11の各画素の座標に対応したアドレ
スに記憶される。ラインメモリ11には、第2回目以降
の走査により略同様の検出信号が送られて来るが、ライ
ンメモリコントローラ12にはCPU17よりの前記座
標1−11.82 、 !−13、HAを表わす信号が
送られており、座標H1と112で挟まれた領域の信号
と、座標H3とH4で挟まれた領域のデジタル信号が積
σ器13により′f?40され、この積算された信号が
ラインメモリ11に記憶される。The signal received by the detector 5 during the first scan is sent to the AD converter 10 and converted into a digital signal, and then stored at an address corresponding to the coordinates of each pixel in the line memory 11. Almost the same detection signals are sent to the line memory 11 from the second and subsequent scans, but the line memory controller 12 receives the coordinates 1-11.82, !-13, HA from the CPU 17. The signal representing the area is being sent, and the signal in the area between the coordinates H1 and 112 and the digital signal in the area between the coordinates H3 and H4 are multiplied by f?40 by the multiplier 13, and this integrated signal is is stored in the line memory 11.
さて、この記憶された信号が第9図(a)に対応した第
5図(b)に示すようなものであるとづると、CPU1
7は以下の第6図のフローに従った制御を行なう。即ち
、まず、第6図のステップ21で示すように、ラインメ
モリ11に記憶されている信号を読み出して、この信号
の各座標の値を比較することにより、座標1−11 、
H2で挟まれた領域の信号Aが最大値[paをとる座
標Xpaと、最小値■qaをとる座m X qaを求め
る。次に、量大値をとる座a!Xpaにより信号Aを分
割することが操作卓18により指示されているため、第
6図のステップ22で示すようにCPU17は座標×p
aにより第5図(b)に示す信号部を同図において実線
で示す外側領域信号AOと点線で示す内側領域信号Ai
に分割する。次に、操作車18の指示により外側領域信
号を選択することが指示されているため、CPU17は
同図のステップ23に示すように外側領域信号AOを選
択する。次に、CPU17はラインメモリ11に記憶さ
れている映像信号に基づいて同図の24に示すように外
側領域信号AOの最小!ia foqa (= I
aa)を求める。Now, if this stored signal is as shown in FIG. 5(b) corresponding to FIG. 9(a), CPU1
7 performs control according to the flow shown in FIG. 6 below. That is, first, as shown in step 21 in FIG. 6, by reading out the signal stored in the line memory 11 and comparing the values of each coordinate of this signal, the coordinates 1-11,
Find the coordinate Xpa where the signal A in the area sandwiched by H2 takes the maximum value [pa, and the coordinate m x qa where the signal A takes the minimum value ■qa. Next, the seat a that takes a large quantity value! Since the console 18 instructs to divide the signal A by Xpa, the CPU 17 calculates the coordinates
a, the signal portion shown in FIG. 5(b) is divided into an outer area signal AO indicated by a solid line and an inner area signal Ai indicated by a dotted line in the figure.
Divide into. Next, since the operating vehicle 18 instructs to select the outer area signal, the CPU 17 selects the outer area signal AO as shown in step 23 in the figure. Next, the CPU 17 determines the minimum value of the outer area signal AO as shown at 24 in the figure based on the video signal stored in the line memory 11. ia foqa (= I
Find aa).
そして、同図の25に示すように最大値1paと前記最
小1aloqaを例えば50%に内分する点の座標×1
を求める。CPU17は第5図(b)の信号Bに対して
も同様の処理を行ない、最大値+pbと外側最小値1
oabに基づいて座標×2を求める。Then, as shown in 25 in the same figure, the coordinates of a point that internally divides the maximum value 1pa and the minimum value 1aloqa into, for example, 50% x 1
seek. The CPU 17 performs similar processing on the signal B in FIG. 5(b), and calculates the maximum value + pb and the outer minimum value 1.
Find coordinates x 2 based on oab.
そして、最後にこれら2座標間の差と観察倍率情報に基
づいて幅Wを側長し、この値を陰極線管9に表示する。Finally, the width W is lengthened based on the difference between these two coordinates and observation magnification information, and this value is displayed on the cathode ray tube 9.
そこで、被測長対象を移動させた後、被測長対象の同一
部分を測長するため、各カーソルを移動させた後、測長
をスタートさせたとする。その結果、第8図(b)に対
応した第5図(C)に示す信号がラインメモリ11に1
9られたとすると、CPU17は順次第6図に示すよう
な処理を行なうため、第5図(C)の信号部弁部−を最
大値1pa−をとる座標Xpa−を境界として同図にお
いて実線で示す外側部分AO′と点線で示す内側部分A
i−に分割する。そのうち外側部分の部分信号AQ′が
選択され、部分信号AO−の最小値1 oba′が求め
られ、最大値1pa′と最小値1oqa−を50%に内
分する座標×1′が求められる。同様に第5図(C)の
信号部分B′を処理することにより最大値[pb−と最
小値oqb −を50%に内分する点の座標が求められ
、これら座標に基づいて幅Wを測長し、その副長値が陰
極F2管9に表示される。Therefore, it is assumed that after moving the length-measuring object, each cursor is moved and then length measurement is started in order to measure the same part of the length-measuring object. As a result, the signal shown in FIG. 5(C) corresponding to FIG. 8(b) is stored in the line memory 11.
9, the CPU 17 sequentially performs the processing as shown in FIG. 6. Therefore, the solid line in FIG. The outer part AO' shown and the inner part A shown by the dotted line
Divide into i-. The outer partial signal AQ' is selected, the minimum value 1 oba' of the partial signal AO- is determined, and the coordinate x 1' that divides the maximum value 1 pa' and the minimum value 1 oqa- into 50% is determined. Similarly, by processing the signal portion B' in Fig. 5(C), the coordinates of the point that divides the maximum value [pb- and the minimum value oqb- into 50% are obtained, and the width W is calculated based on these coordinates. The length is measured and the sub-length value is displayed on the cathode F2 tube 9.
さて、第5図(b)における座標×1と第5図(C)に
おける座標X1−を比較すると明らかであるが、従来に
おいては被測長対象の移動によって最大値をとる点の内
側に移動してしまった座標X1が捨てられ、前回の測定
時と同様に最大値をとる点の外側にある座標X1 ′が
自動的に選択されるため、最初の測長値と被測長対象の
移動後にお1ノる測長値は殆んど変化せず、測長の再現
性を向上できる。Now, if you compare the coordinate x1 in Figure 5(b) and the coordinate The previously measured coordinate X1 is discarded, and the coordinate X1' outside the point that takes the maximum value is automatically selected as in the previous measurement. The subsequent length measurement value hardly changes, and the reproducibility of length measurement can be improved.
尚、上述した実施例は本発明の一実施例に過ぎず、幾多
の他の変形が考えられる。Note that the embodiment described above is only one embodiment of the present invention, and many other modifications are possible.
例えば、上述した実施例においては、被測長対象の移動
に基づく測長値のずれに対処する場合について説明した
が、試料に照射される電子線の加速電圧の変化より信号
波形の変化により測長値のずれに対処するためにも本発
明は適用できる。For example, in the above-mentioned embodiment, a case was explained in which the deviation of the measured length value due to the movement of the object to be measured was dealt with. The present invention can also be applied to deal with deviations in long values.
更に又、上述した実施例においては、座標H1゜1」2
等で挟まれた領域に対応する信号をその最大値をとる座
標で分割するようにしたがミ最小値をとる座標で分割す
るようにしても良い。又、上述した実施例においては、
分割によって生じた部分信号のうち、外側信号を選択し
て処理を行なうようにしたが、場合によっては内側信号
を選択して処理を行なう方が好ましい場合があるため、
内側信号を選択するようにしても良い。Furthermore, in the embodiment described above, the coordinates H1°1'2
Although the signal corresponding to the area sandwiched by , etc. is divided at the coordinates where the maximum value is taken, it may be divided at the coordinates where the minimum value is taken. Moreover, in the above-mentioned embodiment,
Of the partial signals generated by the division, the outer signal is selected for processing, but in some cases it may be preferable to select the inner signal for processing.
An inside signal may be selected.
又、上述した実施例においては、部分信号の選択に際し
て、内側及び外側という観点によって選択を行なうよう
にしたが、例えば右側、左側等の観点により選択するよ
うにしても良い。Further, in the above-described embodiment, when selecting a partial signal, the selection is made from the viewpoint of the inside and the outside, but the selection may be made from the viewpoint of the right side, the left side, etc., for example.
又、上述した実施例においては、最大値又は最小値によ
って領域を分割した場合、分割によって生じた部分領域
信号の各々にその傾斜が最大になる点が存在するが、こ
のような最大傾斜点のうち、特定の部分領域信号に含ま
れる最大傾斜点を選択する場合にも本発明は同様に通用
できる。Furthermore, in the above-described embodiment, when a region is divided according to the maximum value or the minimum value, each of the partial region signals generated by the division has a point at which its slope is maximum. Of these, the present invention can be similarly applied to the case where the maximum slope point included in a specific partial area signal is selected.
又、上述した実施例においては、位置水平ライン上にあ
る2個の線分に対応する領域の信号をラインメモリにサ
ンプリングするようにしたが、ラインでなく帯状の領域
に含まれる複数本のライン信号の平均値に基づいて測長
を行なう場合にも本発明は同様に適用できる。又、ライ
ンの方向も水平方向に限定されず、任意の方向を向いた
もので良い。Furthermore, in the above-described embodiment, the signals in the area corresponding to two line segments on the horizontal position line are sampled in the line memory, but the signals in the area corresponding to the two line segments on the horizontal position line are sampled in the line memory. The present invention is similarly applicable to the case where length measurement is performed based on the average value of the signal. Further, the direction of the line is not limited to the horizontal direction, and may be oriented in any direction.
更に又、測長位置を指示するためのマーカーは実施例に
限定されず、例えば第7図に示すような位置が可変であ
る枠状のマーカーUl 、lJ2を用いても良い。Furthermore, the markers for indicating the length measurement position are not limited to those in the embodiment, and for example, frame-shaped markers Ul and lJ2 whose positions are variable as shown in FIG. 7 may be used.
r発明の効果]
P述した説明から明らかなように、本発明によれば指示
した領域に対応する信号をサンプリングし、この信号を
処理して被測長対象の端部に対応する座標を求める際に
、この信号の最大値又は最小値を与える座標を境界とし
てこの信号を2個の部分信号に分割し、この分割した部
分信号のうちの特定の部分信号のみを選択して処理する
ようにしているため、被測長対象の移動や、照射する荷
電粒子線の加速電圧の変更にかかわらず、再現性の良い
測長を行なうことができる。[Effects of the Invention] P As is clear from the above description, according to the present invention, a signal corresponding to the designated area is sampled, and this signal is processed to obtain the coordinates corresponding to the end of the object to be measured. In this case, the signal is divided into two partial signals using the coordinates giving the maximum or minimum value of the signal as a boundary, and only a specific partial signal from among the divided partial signals is selected and processed. Therefore, length measurement can be performed with good reproducibility regardless of movement of the object to be measured or changes in the accelerating voltage of the irradiated charged particle beam.
第1図は本発明の一実施例を示すための図、第2図はラ
インメモリを説明するための図、第3図はカーソルメモ
リを説明するための図、第4図は操作車を説明するため
の図、第5図は第1図に示した装置の動作を説明するた
めの信号波形図、第6図は本発明の詳細な説明するため
の流れ図、第7図は本発明の他の一実施例を説明するた
めの図、第8図は陰極線管による被測長対象の表示例と
測長部分のカーソルによる指示を説明するための図、第
9図は従来装置の欠点を声明するための信号波形図であ
る。
1:電子銃 EB:電子線
2:集束レンズ 3:&i向ココイル4:試料
5:検出器
6:デジタル走査信号発生回路
7.8:走査回路 9:陰極線管
10:AD変換器 11ニラインメモリ12.15
:メモリコントローラ
14:カーソルメモリ
16:ブライトアップ回路
17:CPU 18:操作卓19:データ信
号発生回路
20:合成回路 M:マスク
SL、S2 :クロスマーカー
Cxl、 〜、 Cx4. GV :カーソル入 ≦尉
1) fNり
第2図
第7図
第9図Figure 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, Figure 2 is a diagram explaining a line memory, Figure 3 is a diagram explaining a cursor memory, and Figure 4 is a diagram explaining an operating wheel. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the device shown in FIG. 1, FIG. 6 is a flowchart for explaining the present invention in detail, and FIG. A diagram for explaining one embodiment. Figure 8 is a diagram for explaining an example of the display of the object to be measured using a cathode ray tube and instructions using a cursor for the length measurement part. Figure 9 is a diagram for explaining the shortcomings of the conventional device. FIG. 3 is a signal waveform diagram for 1: Electron gun EB: Electron beam 2: Focusing lens 3: & i-directed cocoil 4: Sample
5: Detector 6: Digital scanning signal generation circuit 7.8: Scanning circuit 9: Cathode ray tube 10: AD converter 11 Line memory 12.15
:Memory controller 14:Cursor memory 16:Bright-up circuit 17:CPU 18:Operation console 19:Data signal generation circuit 20:Synthesis circuit M:Mask SL, S2:Cross marker Cxl, ~, Cx4. GV: Cursor input ≦G1) fNri Figure 2 Figure 7 Figure 9
Claims (1)
出信号に基づいて表示装置に試料像を表示する手段と、
該試料像にマーカーを表示することによって該表示像の
特定の領域を選択するための手段であつて、該領域は任
意の線状又は帯状領域上にあり任意の幅を有する領域で
ある手段と、該選択指定された領域に対応する映像信号
に基づいていずれか一方が最大値で他方が最小値である
第1、第2の値を求める手段と、該一対の値の間を所定
の比で内分する点の該線状又は帯状領域上における走査
位置を求める手段と、互いに異なつた該領域の各々につ
いて求められたこのような2点の走査位置データに基づ
いて該試料像中の注目する部分の測長を行なうようにし
た装置において、第1の値を与える走査位置に基づいて
分割された2個の部分領域のうち特定の部分領域を選択
し、該第1の値と該部分領域内に存在する第2の値に基
づいて該部分領域信号内の前記内分点を求める手段を備
えることを特徴とする荷電粒子線を用いた測長装置。means for scanning a sample with a charged particle beam and displaying a sample image on a display device based on a detection signal obtained with the scanning;
means for selecting a specific region of the displayed image by displaying a marker on the sample image, the region being on an arbitrary linear or band-like region and having an arbitrary width; , means for determining first and second values, one of which is a maximum value and the other a minimum value, based on the video signal corresponding to the selected and designated area; and a means for determining a predetermined ratio between the pair of values. means for determining the scanning position on the linear or band-shaped area of points internally divided by , and a means for determining the scanning position of points internally divided by In this apparatus, a specific partial area is selected from two divided partial areas based on a scanning position that gives a first value, and the first value and the part are measured. A length measuring device using a charged particle beam, comprising means for determining the internal division point within the partial region signal based on a second value existing within the region.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21415385A JPS6273105A (en) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | Length measurement device using charged particle beam |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21415385A JPS6273105A (en) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | Length measurement device using charged particle beam |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6273105A true JPS6273105A (en) | 1987-04-03 |
Family
ID=16651099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21415385A Pending JPS6273105A (en) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | Length measurement device using charged particle beam |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6273105A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0498113A (en) * | 1990-08-14 | 1992-03-30 | Jeol Ltd | Electron beam length-measuring method |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58117404A (en) * | 1982-01-05 | 1983-07-13 | Jeol Ltd | Pattern measurement method |
-
1985
- 1985-09-26 JP JP21415385A patent/JPS6273105A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58117404A (en) * | 1982-01-05 | 1983-07-13 | Jeol Ltd | Pattern measurement method |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0498113A (en) * | 1990-08-14 | 1992-03-30 | Jeol Ltd | Electron beam length-measuring method |
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