JPS6243819A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPS6243819A JPS6243819A JP60183022A JP18302285A JPS6243819A JP S6243819 A JPS6243819 A JP S6243819A JP 60183022 A JP60183022 A JP 60183022A JP 18302285 A JP18302285 A JP 18302285A JP S6243819 A JPS6243819 A JP S6243819A
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- Japan
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- magnetic
- glass substrate
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- recording medium
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/739—Magnetic recording media substrates
- G11B5/73911—Inorganic substrates
- G11B5/73921—Glass or ceramic substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は磁気記録媒体に関し、特に磁気ディスク装置で
使用される表面性の良好な磁気記録媒体に関するもので
ある。
使用される表面性の良好な磁気記録媒体に関するもので
ある。
従来技術
磁気ディスク記憶装置の大容量化に伴って、磁気特性、
記録密度の点で塗布型磁気ディスクより有利なスパッタ
型4ii14Aデイスクが注目されている。
記録密度の点で塗布型磁気ディスクより有利なスパッタ
型4ii14Aデイスクが注目されている。
塗布型磁気ディスクでは磁性層厚が1〜2μm程度と比
較的厚いため、ディスク媒体の表面性は基板の表面性に
着しく影響されるということはない。
較的厚いため、ディスク媒体の表面性は基板の表面性に
着しく影響されるということはない。
これに対して、スパッタ型磁気ディスクでは磁性層厚が
α5μm以下と薄いため、基板の表面性がアイx p
*K(1)□*cst、 < t*□。、オ、ヶ
!つて・表面積度0優れた基板を用いることゝより・
:薄膜型磁気ディスク媒体の表面性を向上させる
こ □とができる。その結果、磁気ヘッドの浮
上量を減少させることかでき、記録密度の向」−が可能
となる。
α5μm以下と薄いため、基板の表面性がアイx p
*K(1)□*cst、 < t*□。、オ、ヶ
!つて・表面積度0優れた基板を用いることゝより・
:薄膜型磁気ディスク媒体の表面性を向上させる
こ □とができる。その結果、磁気ヘッドの浮
上量を減少させることかでき、記録密度の向」−が可能
となる。
スパッタ型磁気ディスクにおいては、アルミ合金上に5
Qp?n程度のN1−Pめつき層を形成し、この表向を
研磨したもの、あるいは、アルミ合金表向を陽極酸化し
て厚さ2μm程度のアルマイト硬化層を形成し、さらに
アルマ44表面を研磨したものを基板としている。これ
らの基板では表向粗さくRmax)がα15μm程度の
表向が得られる。
Qp?n程度のN1−Pめつき層を形成し、この表向を
研磨したもの、あるいは、アルミ合金表向を陽極酸化し
て厚さ2μm程度のアルマイト硬化層を形成し、さらに
アルマ44表面を研磨したものを基板としている。これ
らの基板では表向粗さくRmax)がα15μm程度の
表向が得られる。
これらの基板上に磁性#膜を形成する場合、例えばCo
−N1を主成分とする磁性#脚を形成する場合には、基
板上にCrを5000λ程度スパッタ成膜し、この上に
Co−Niを主成分とする磁性薄膜を1000λ程度ス
パッタし、更にC等の保an滑膜を200A程度形成す
る。このようにして得られた媒体の表向は、基板の表向
性が反映されて、表向粗さくRmax)がα15μm程
度である。#化鉄を主成分とする磁性#膜を形成する場
合には、Feを主成分とするターゲットをA r 十〇
*雰囲気中でスパッタし、α−Fe2O3を主成分と
するスパッタ膜を基板−1−[2000AeJ度成膜す
る。これを還元性雰囲気中で600°C程度に加熱し、
α−Fe2O3を1:成分とする膜をFe、04を主成
分とする膜とし、史に峻化性雰囲気中で600°C程度
に加熱して、γ−F・、0.を主成分とする膜とする。
−N1を主成分とする磁性#脚を形成する場合には、基
板上にCrを5000λ程度スパッタ成膜し、この上に
Co−Niを主成分とする磁性薄膜を1000λ程度ス
パッタし、更にC等の保an滑膜を200A程度形成す
る。このようにして得られた媒体の表向は、基板の表向
性が反映されて、表向粗さくRmax)がα15μm程
度である。#化鉄を主成分とする磁性#膜を形成する場
合には、Feを主成分とするターゲットをA r 十〇
*雰囲気中でスパッタし、α−Fe2O3を主成分と
するスパッタ膜を基板−1−[2000AeJ度成膜す
る。これを還元性雰囲気中で600°C程度に加熱し、
α−Fe2O3を1:成分とする膜をFe、04を主成
分とする膜とし、史に峻化性雰囲気中で600°C程度
に加熱して、γ−F・、0.を主成分とする膜とする。
このL4.:更に保膿潤滑膜を形成しW体とし°Cいる
。このようにして得られた媒体の表面も、基板の表面性
が反映されて、表向粗さくRmax)が015μm程度
であZ)。
。このようにして得られた媒体の表面も、基板の表面性
が反映されて、表向粗さくRmax)が015μm程度
であZ)。
従来技術の欠点
アルミ合金上にN1−Pめつき層を形成し、この表面を
研磨した基板においてif、N1−Pめつきを行なう前
にアルミ合金表面f−活性化処理する必要があり、基板
形成の工程が握雑となる。また、活性化処理以降の下幅
が基板価格の50%以上を古め、基板が割高になる。史
にN1−Pめつき層は150°C以上に加熱すると結晶
化して磁性を持つようになるため、磁性酸化鉄膜を形成
する時のように加熱工程が必要な場合はこの基板を使用
することができない。
研磨した基板においてif、N1−Pめつきを行なう前
にアルミ合金表面f−活性化処理する必要があり、基板
形成の工程が握雑となる。また、活性化処理以降の下幅
が基板価格の50%以上を古め、基板が割高になる。史
にN1−Pめつき層は150°C以上に加熱すると結晶
化して磁性を持つようになるため、磁性酸化鉄膜を形成
する時のように加熱工程が必要な場合はこの基板を使用
することができない。
アルミ合金上にアルマイト皮膜を形成した基板は、熱処
理を行なった場合、アルミ合金とアルマイト皮膜との熱
膨張係数の差により発生する応力のためにアルマイト皮
膜にクラックが生じやすいという欠点がある。そのため
磁性酸化鉄膜を形成する際の加熱温度は300°C程度
以下に限定されてしまう、更に、アルマイト皮膜には多
数の通電孔が存在し、多孔質構造となっている。そのた
めこの基体上に薄膜磁性層を形成した場合には通電孔の
部分に磁気的欠陥が生じやすく、また表面精度もRrn
axが(11571?N程度と充分なものではない。
理を行なった場合、アルミ合金とアルマイト皮膜との熱
膨張係数の差により発生する応力のためにアルマイト皮
膜にクラックが生じやすいという欠点がある。そのため
磁性酸化鉄膜を形成する際の加熱温度は300°C程度
以下に限定されてしまう、更に、アルマイト皮膜には多
数の通電孔が存在し、多孔質構造となっている。そのた
めこの基体上に薄膜磁性層を形成した場合には通電孔の
部分に磁気的欠陥が生じやすく、また表面精度もRrn
axが(11571?N程度と充分なものではない。
発明の目的
本発明の目的は、表向M度の高い磁気記録媒体を提供す
ることにある。
ることにある。
発明の概要
本発明の目的は、表面粗さくRmax)が100Å以下
となるように超精密表面加工される等したガラス基板上
に磁気記録用磁性薄膜を形成することにより達成される
。
となるように超精密表面加工される等したガラス基板上
に磁気記録用磁性薄膜を形成することにより達成される
。
磁気記録媒体の一層の改良は、表面の少なくとも一部分
を強化し、又は表面粗さくRrnax)が100大以下
(望ましくは50λ以下)となるように超精密表面加工
されたガラス基板上に磁気記録用磁性fdI膜を形成す
ることにより達成される。
を強化し、又は表面粗さくRrnax)が100大以下
(望ましくは50λ以下)となるように超精密表面加工
されたガラス基板上に磁気記録用磁性fdI膜を形成す
ることにより達成される。
ガラス基板または表面の少なくとも一部が強化されたガ
ラス基板を用いた上に定義した磁気記録媒体は、磁気デ
ィスク等の高精度記録に好適に用いることができる。特
に高速で用いる場合には強化型ガラスを用いれば良い、
ガラス基板はその所望の表面仕上げが単に研磨により達
成できるので製造が容易である。ガラス基板は磁性薄膜
を形成するに当って下地膜を形成する必要がなく、直接
酸化物系磁性層を形成することができ、その際に基板が
加熱されてもアルマイド等に見られた亀裂などの問題が
生じないなど、極めてすぐれた作用効果を生じる。
ラス基板を用いた上に定義した磁気記録媒体は、磁気デ
ィスク等の高精度記録に好適に用いることができる。特
に高速で用いる場合には強化型ガラスを用いれば良い、
ガラス基板はその所望の表面仕上げが単に研磨により達
成できるので製造が容易である。ガラス基板は磁性薄膜
を形成するに当って下地膜を形成する必要がなく、直接
酸化物系磁性層を形成することができ、その際に基板が
加熱されてもアルマイド等に見られた亀裂などの問題が
生じないなど、極めてすぐれた作用効果を生じる。
発明の構成
本発明の表面粗さが100人、好ましくは50λ以下の
超精密表面加工され又は表面の少なくとも一部分が強化
されたガラス基板は、磁気ディスク等の動的記録体に用
いられたことがない、これは機械的な衝撃に対する不安
のためか、或いは超精密研磨の適当な手段がなかったた
めか分らないが、とにかく、従来技袷では取上げられな
かった。
超精密表面加工され又は表面の少なくとも一部分が強化
されたガラス基板は、磁気ディスク等の動的記録体に用
いられたことがない、これは機械的な衝撃に対する不安
のためか、或いは超精密研磨の適当な手段がなかったた
めか分らないが、とにかく、従来技袷では取上げられな
かった。
本発明者らは表面粗さく Rmax )が100λ以下
となるように超精密表面加工する方法を櫨々検討した結
果、ガラス基板をメカノケミカルボリジングすることに
より達成されることが明らかとなり本発明をなすに至っ
たものである。すなわち、コ四イダルシリ力を含む研磨
液の機械的研磨作用とガラス基板との化学的反応性を利
用し九研磨作用の両方の作用でガラス基板を研磨するも
のである。
となるように超精密表面加工する方法を櫨々検討した結
果、ガラス基板をメカノケミカルボリジングすることに
より達成されることが明らかとなり本発明をなすに至っ
たものである。すなわち、コ四イダルシリ力を含む研磨
液の機械的研磨作用とガラス基板との化学的反応性を利
用し九研磨作用の両方の作用でガラス基板を研磨するも
のである。
このようにして研磨を行なうことにより表面粗さくRm
ax)が100Å以下となるように超精密表面加工され
九ガフス基板を容易に得ることができる。
ax)が100Å以下となるように超精密表面加工され
九ガフス基板を容易に得ることができる。
この上に磁性薄膜を形成した場合、ガラス基板の表面性
が反訣されて媒体表面は超精密表面となる。
が反訣されて媒体表面は超精密表面となる。
磁気ディスクにおいて、記録密度を向上させるにはak
Kヘッドの浮上量を減少させることが有効である。しか
し、表面性の良くない磁気ディスクを使用してヘッド浮
上量を減少させると媒体表面の突起に磁気ヘッドが接触
して磁性薄膜が削りとられたり、磁気ヘッドがTi&壊
されてしまっ九すする。すなわち媒体の超精密表面性は
、磁気ヘッドを安定に浮上させ、この浮上lをどの程度
まで小さくできるかを決める重要なポイントとなる。
Kヘッドの浮上量を減少させることが有効である。しか
し、表面性の良くない磁気ディスクを使用してヘッド浮
上量を減少させると媒体表面の突起に磁気ヘッドが接触
して磁性薄膜が削りとられたり、磁気ヘッドがTi&壊
されてしまっ九すする。すなわち媒体の超精密表面性は
、磁気ヘッドを安定に浮上させ、この浮上lをどの程度
まで小さくできるかを決める重要なポイントとなる。
本発明における磁気記録媒体は、表面粗さくRmax)
が100Å以下となるように超精密表面加工されたガラ
ス基板上に磁気記録用磁性薄膜を形成し丸ものである丸
め、超精密表面を持ちα1〜α2μ属の低浮上量で安定
にヘッドを浮上させることが可能となる。更に、表面粗
さく Rmax )が50λ以下となるように超精密表
面加工され九ガラス基板上に磁気記録用磁性薄膜を形成
した場合には浮上量をα1μ票以下とすることが可能と
なり更に望ましい。
が100Å以下となるように超精密表面加工されたガラ
ス基板上に磁気記録用磁性薄膜を形成し丸ものである丸
め、超精密表面を持ちα1〜α2μ属の低浮上量で安定
にヘッドを浮上させることが可能となる。更に、表面粗
さく Rmax )が50λ以下となるように超精密表
面加工され九ガラス基板上に磁気記録用磁性薄膜を形成
した場合には浮上量をα1μ票以下とすることが可能と
なり更に望ましい。
本発明で使用されるガラス基板の材料は、硼珪酸ガラス
、アルミノ珪酸ガラス、石英ガラス、チタン珪酸ガラス
等はとんどのガラスが使用可能である。ただし結晶質成
分を含まないガラスが望ましい、これは、結晶粒界の強
度が比較的弱いためメカノケミカルボリジングを行なっ
た場合結晶粒界が早く研磨されて超精密表面が達成でき
ないためである。
、アルミノ珪酸ガラス、石英ガラス、チタン珪酸ガラス
等はとんどのガラスが使用可能である。ただし結晶質成
分を含まないガラスが望ましい、これは、結晶粒界の強
度が比較的弱いためメカノケミカルボリジングを行なっ
た場合結晶粒界が早く研磨されて超精密表面が達成でき
ないためである。
アルミ合金上にN1−P めつき層を設けた基板あるい
はアルマイト層を設けた基板では加熱温度に制約がある
が、本発明に係わるガラス基板では400℃程度までは
充分に使用可能な丸め磁性酸化鉄膜を形成する場合のよ
うに加熱工程が必要な場合は特に有効に使用することが
できる。
はアルマイト層を設けた基板では加熱温度に制約がある
が、本発明に係わるガラス基板では400℃程度までは
充分に使用可能な丸め磁性酸化鉄膜を形成する場合のよ
うに加熱工程が必要な場合は特に有効に使用することが
できる。
磁気ディスタ装置においては磁気ディスクが54 tJ
(l rpm程度の高速回転される丸め、磁気ディス
タがそれに耐えるに充分な強度が要求される。
(l rpm程度の高速回転される丸め、磁気ディス
タがそれに耐えるに充分な強度が要求される。
このような用途に対してはガラス基板を使用するため強
度の点で心配されるが、本発明者らが鋭意検討し九結果
ガラス基板表面の少なくとも一部分を強化することによ
り磁気ディスクとして充分な強度を持九せることができ
ることが明らかとなった。
度の点で心配されるが、本発明者らが鋭意検討し九結果
ガラス基板表面の少なくとも一部分を強化することによ
り磁気ディスクとして充分な強度を持九せることができ
ることが明らかとなった。
表面強化は一般的にガラス表面のイオンをガラス転移点
以下の温度でより大きなイオンに置換することにより行
なわれる。イオン置換方法としては450’C程度に加
熱した硝酸カリウム溶液塩中にガラスを浸しておくこと
により行なわれる。こ □1、・ の健換″1第゛図1示′−7J″5に・表面1急峻
1゜な分布を持つ圧縮応力層が形成されガラス基板表
:1・ 面の強化がなされる。この応力層の厚みはイオン; 置換時の温度、時間を制御することにより150〜′°
°″“ゝta、 、。
以下の温度でより大きなイオンに置換することにより行
なわれる。イオン置換方法としては450’C程度に加
熱した硝酸カリウム溶液塩中にガラスを浸しておくこと
により行なわれる。こ □1、・ の健換″1第゛図1示′−7J″5に・表面1急峻
1゜な分布を持つ圧縮応力層が形成されガラス基板表
:1・ 面の強化がなされる。この応力層の厚みはイオン; 置換時の温度、時間を制御することにより150〜′°
°″“ゝta、 、。
表面強化する部分としては、磁気ディスクで考 (
。
。
えると、内径縁部、内径縁部周辺、外径縁部、外
1゜1: 逆縁部周辺、これらの適当な組合せ、全面などが考えら
れる。
1゜1: 逆縁部周辺、これらの適当な組合せ、全面などが考えら
れる。
以下・*[)l*m41jDa6G、−1alE!HQ
:1する。1゜ 「 〔実開1〕 ガラス基板材料としてアルミノ珪酸ガラスを使用した。
:1する。1゜ 「 〔実開1〕 ガラス基板材料としてアルミノ珪酸ガラスを使用した。
形状は、外径130 my+、内径41111111゜
1ヴさ19膜肌 の円板状である。このガラス基板をコ
ロイダルシリカを含む研磨液を使用してメカノケミカル
ボリジングを10分間行なった。表面粗す(Rtnax
)は90人であった。この基板トに鉄をターゲラFと
しAr+01雰囲気(混合比50%、真空度5 X 1
0−’ Torr )で スバッ★することによりtX
−Fe、03膜を2000人形成した。次に水素気流
中で360℃、2時間、還元してFe2O2膜とし、史
に空気中′510℃1時間酸化してr−FalO@膜と
して磁気ディスクを完成させた。この磁気ディスクの炎
面粗さくRmax)はioo人であった。
1ヴさ19膜肌 の円板状である。このガラス基板をコ
ロイダルシリカを含む研磨液を使用してメカノケミカル
ボリジングを10分間行なった。表面粗す(Rtnax
)は90人であった。この基板トに鉄をターゲラFと
しAr+01雰囲気(混合比50%、真空度5 X 1
0−’ Torr )で スバッ★することによりtX
−Fe、03膜を2000人形成した。次に水素気流
中で360℃、2時間、還元してFe2O2膜とし、史
に空気中′510℃1時間酸化してr−FalO@膜と
して磁気ディスクを完成させた。この磁気ディスクの炎
面粗さくRmax)はioo人であった。
この磁気ディスクをディスク装置に設置し、磁気ヘッド
の浮上安定性を調べた。磁気ディスクの[速を減少させ
ることにより磁気ヘッド浮上量を減少させたところ、浮
上量をl:L15μ票まで減少させても安定に浮上する
ことがオ〕かった。
の浮上安定性を調べた。磁気ディスクの[速を減少させ
ることにより磁気ヘッド浮上量を減少させたところ、浮
上量をl:L15μ票まで減少させても安定に浮上する
ことがオ〕かった。
〔実施例2〕
実施例1と同様のガラス基板を20分間メカノケミカル
ボリジングを行ない基板t1′形成した。表向粗さくR
max)は40人であった。この基板に実施例1と同様
にしてr−F@@O@膜を形成し磁気ディスクを完成さ
せた。この磁気ディスクの表面粗さく Rmax )は
45大でま、つた。
ボリジングを行ない基板t1′形成した。表向粗さくR
max)は40人であった。この基板に実施例1と同様
にしてr−F@@O@膜を形成し磁気ディスクを完成さ
せた。この磁気ディスクの表面粗さく Rmax )は
45大でま、つた。
この磁気ディスクで実施例1と同様に磁気ヘッドの浮上
安定性を調べたところ、0.08411の浮上量まで安
定に浮上することがわかった。
安定性を調べたところ、0.08411の浮上量まで安
定に浮上することがわかった。
〔実施例6〕
ガラス基板材料としてアルミノ珪酸ガラスを使用した。
形状は外径30511111、内径40m!It、厚さ
tym鳳 の円板状である。このガラス基板を第2図(
&)〜(f)に示したように表面強化した。強化しない
部分にはマスクを施し、硝酸カリウム溶融塩を450℃
にし、その中に10時間浸すことにより行なった0強化
層厚は160μ凰である。これらの基板および比較のた
めの未仙化基板をコロイダルシリカを含む研磨液を使用
してメカノケミカルボリジングを10分間行なった。各
基板の表面粗さく Runz )はほば1司−で90人
であった。
tym鳳 の円板状である。このガラス基板を第2図(
&)〜(f)に示したように表面強化した。強化しない
部分にはマスクを施し、硝酸カリウム溶融塩を450℃
にし、その中に10時間浸すことにより行なった0強化
層厚は160μ凰である。これらの基板および比較のた
めの未仙化基板をコロイダルシリカを含む研磨液を使用
してメカノケミカルボリジングを10分間行なった。各
基板の表面粗さく Runz )はほば1司−で90人
であった。
これらの基板についてまず回転破壊試験を行なった。基
板を高速で回転させ、基板が破壊する時の回転数で計画
するものであり、最大回転数20.0OOrpni
まで行なった。各基板について20個づつ試験を行なっ
た。結果を表1に示す。
板を高速で回転させ、基板が破壊する時の回転数で計画
するものであり、最大回転数20.0OOrpni
まで行なった。各基板について20個づつ試験を行なっ
た。結果を表1に示す。
表から明らかなように、本発明に係わる強化品(a)〜
(、)のように基板のごく一部を表面強化しただけで強
度は宋強化品の15倍以上になり、実除に使用する56
00rprm 程度では強度的心配は無くなることが
わかる。これに対し未強化品はsoo。
(、)のように基板のごく一部を表面強化しただけで強
度は宋強化品の15倍以上になり、実除に使用する56
00rprm 程度では強度的心配は無くなることが
わかる。これに対し未強化品はsoo。
rpot合で破壊されるものがあり、実用上心配である
。また本発明に係わる強化品(d)〜(f)は試験最大
回転数2QOOOrpm でも破壊されず、強度的問
題は無い。
。また本発明に係わる強化品(d)〜(f)は試験最大
回転数2QOOOrpm でも破壊されず、強度的問
題は無い。
本発明に係オ)る基板(&)〜(f)上に鉄をターゲッ
トとし、Ar+01雰囲気(混合比5(1%、真空度5
X 10−”Torr ) でスパッタすることによ
りα−F・10番膜を2000人形成した。次に水素気
流中で560℃、2時間還元しF・804膜とし、更に
空気中S10℃、1時間酸化して?−−F’・、0゜膜
として磁気ディスクを完成させた。これらの磁気ディス
クの表面粗さく Rmax )はほぼ同一で100人で
あった。
トとし、Ar+01雰囲気(混合比5(1%、真空度5
X 10−”Torr ) でスパッタすることによ
りα−F・10番膜を2000人形成した。次に水素気
流中で560℃、2時間還元しF・804膜とし、更に
空気中S10℃、1時間酸化して?−−F’・、0゜膜
として磁気ディスクを完成させた。これらの磁気ディス
クの表面粗さく Rmax )はほぼ同一で100人で
あった。
これらの磁気ディスタをディスク装置に設置し、磁気ヘ
ッドの浮上安定性を調べた。磁気ディスタの周速を減少
させることにより磁気ヘッド浮上量を髪少させたところ
、浮上量をα15#観まで減少させても安定に浮上する
ことがわかった。
ッドの浮上安定性を調べた。磁気ディスタの周速を減少
させることにより磁気ヘッド浮上量を髪少させたところ
、浮上量をα15#観まで減少させても安定に浮上する
ことがわかった。
銅(+t−強什り奔ガラス某析の断面を示す、斜線部〔
実施例4〕 実施例5と同様に表面強化したガラス基板(a)〜(f
)を20分間メカノケミカルボリジングを行ない基板を
形成した。各基板の表拘粗さくRmax)はほぼ同一で
40人であった。
実施例4〕 実施例5と同様に表面強化したガラス基板(a)〜(f
)を20分間メカノケミカルボリジングを行ない基板を
形成した。各基板の表拘粗さくRmax)はほぼ同一で
40人であった。
これらの基板上に実施例1と同様にしてγ−F軸06膜
を形成し磁気ディスクを完成させた。これらの磁気ディ
スクの表面粗さく Rmax )はほぼ同一で45人で
あった。
を形成し磁気ディスクを完成させた。これらの磁気ディ
スクの表面粗さく Rmax )はほぼ同一で45人で
あった。
これらの磁気ディスクで実施例1と同様に磁気ヘッドの
浮上安定性を調べたところ、α08μ諷の浮上量まで安
定に浮上することがわかり九。
浮上安定性を調べたところ、α08μ諷の浮上量まで安
定に浮上することがわかり九。
以上の説明より明らかなように、本発明に係わる磁気記
録媒体は、超精密表面を持つため磁気ディスク装置にお
ける磁気ヘッド浮上置を減少させることが可能となる。
録媒体は、超精密表面を持つため磁気ディスク装置にお
ける磁気ヘッド浮上置を減少させることが可能となる。
第1図は表面強化した時の応力分布を示す。
第2図は本発明に係わる、表面の少なくとも一第1図
島・力
へ−−−一一−−−−〜−□〜□ □−−−丁、続補
正書 昭和60年1aJ[yr−1 特j庁長官宇賀道部殿 ・It (’lの表小 昭和40年特 願第18302
2 号発明の名Vj、 磁気記録媒体 捕j1をすると
正書 昭和60年1aJ[yr−1 特j庁長官宇賀道部殿 ・It (’lの表小 昭和40年特 願第18302
2 号発明の名Vj、 磁気記録媒体 捕j1をすると
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、表面粗さ(Rmax)が100Å以下のガラス基板
上に磁気記録用磁性薄膜を形成したことを特徴とする磁
気記録媒体。 2、表面粗さ(Rmax)が50Å以下であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 3、磁性薄膜が酸化鉄を主成分とする特許請求の範囲第
1項または第2項記載の磁気記録媒体。 4、表面の少なくとも部分が強化されたガラス基板上に
磁気記録用磁性薄膜を形成したことを特徴とする磁気記
録媒体。 5、表面粗さ(Rmax)が100Å以下であることを
特徴とする特許請求の範囲第4項記載の磁気記録媒体。 6、磁性薄膜が酸化鉄を主成分とする特許請求の範囲第
4項または第5項記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60183022A JPS6243819A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 磁気記録媒体 |
GB8619797A GB2179486B (en) | 1985-08-22 | 1986-08-14 | Magnetic recording medium |
DE19863628225 DE3628225A1 (de) | 1985-08-22 | 1986-08-20 | Magnetischer aufzeichnungstraeger und verfahren zu seiner herstellung |
FR8611996A FR2586496A1 (fr) | 1985-08-22 | 1986-08-22 | Support d'enregistrement magnetique |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60183022A JPS6243819A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6243819A true JPS6243819A (ja) | 1987-02-25 |
Family
ID=16128367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60183022A Pending JPS6243819A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 磁気記録媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6243819A (ja) |
DE (1) | DE3628225A1 (ja) |
FR (1) | FR2586496A1 (ja) |
GB (1) | GB2179486B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6455703A (en) * | 1987-08-27 | 1989-03-02 | Tdk Corp | Magnetic recording and reproducing device |
US5094896A (en) * | 1989-11-08 | 1992-03-10 | Tdk Corporation | Magnetic recording medium comprising a glass substrate having a magnetic thin film of γ Fe2 O3 which layer has a resistivity of from 0.03 to 3 Ω-cm |
US6801396B1 (en) | 1994-01-21 | 2004-10-05 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.B. | Substrate independent superpolishing process and slurry |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0256278A1 (de) * | 1986-07-16 | 1988-02-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Magnetplatte und Verfahren zu ihrer Herstellung |
DE3789932T2 (de) * | 1986-10-09 | 1995-02-09 | Asahi Glass Co Ltd | Glassubstrat für eine Magnetplatte und Verfahren zu seiner Herstellung. |
US4833556A (en) * | 1987-12-22 | 1989-05-23 | Eastman Kodak Company | Low drag stabilizer device for stabilizing the interface between a transducer and a moving medium |
US5268799A (en) * | 1989-02-27 | 1993-12-07 | Tdk Corporation | Magnetic recording and reproducing apparatus |
JPH03245322A (ja) * | 1989-03-29 | 1991-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 |
JP3989988B2 (ja) * | 1996-09-04 | 2007-10-10 | Hoya株式会社 | 情報記録媒体用基板及び磁気ディスク、並びにその製造方法 |
US6120922A (en) * | 1997-04-28 | 2000-09-19 | Goto; Naoyuki | Glass-ceramic substrate for a magnetic information storage medium |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4254189A (en) * | 1979-07-05 | 1981-03-03 | Memorex Corporation | Disc having substrate, intermediate layer and magnetically sensitive layer wherein intermediate layer has melting point less than annealing temperature of substrate but higher than processing temperature of magnetically sensitive layer |
JPS6035333A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-23 | Kao Corp | 磁気ディスク用基板 |
GB2167448B (en) * | 1984-11-02 | 1988-10-19 | Hitachi Ltd | Perpendicular magnetic recording medium |
-
1985
- 1985-08-22 JP JP60183022A patent/JPS6243819A/ja active Pending
-
1986
- 1986-08-14 GB GB8619797A patent/GB2179486B/en not_active Expired
- 1986-08-20 DE DE19863628225 patent/DE3628225A1/de not_active Withdrawn
- 1986-08-22 FR FR8611996A patent/FR2586496A1/fr not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS6455703A (en) * | 1987-08-27 | 1989-03-02 | Tdk Corp | Magnetic recording and reproducing device |
JPH0695363B2 (ja) * | 1987-08-27 | 1994-11-24 | ティーディーケイ株式会社 | 磁気記録再生装置 |
US5094896A (en) * | 1989-11-08 | 1992-03-10 | Tdk Corporation | Magnetic recording medium comprising a glass substrate having a magnetic thin film of γ Fe2 O3 which layer has a resistivity of from 0.03 to 3 Ω-cm |
US6801396B1 (en) | 1994-01-21 | 2004-10-05 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.B. | Substrate independent superpolishing process and slurry |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB8619797D0 (en) | 1986-09-24 |
GB2179486B (en) | 1989-11-15 |
DE3628225A1 (de) | 1987-02-26 |
FR2586496A1 (fr) | 1987-02-27 |
GB2179486A (en) | 1987-03-04 |
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