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JPS6243145A - Manufacture apparatus of semiconductor element - Google Patents

Manufacture apparatus of semiconductor element

Info

Publication number
JPS6243145A
JPS6243145A JP18440985A JP18440985A JPS6243145A JP S6243145 A JPS6243145 A JP S6243145A JP 18440985 A JP18440985 A JP 18440985A JP 18440985 A JP18440985 A JP 18440985A JP S6243145 A JPS6243145 A JP S6243145A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
turntable
drive mechanism
machined
fluid
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18440985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiko Nemoto
義彦 根本
Kazuhito To
塘 一仁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP18440985A priority Critical patent/JPS6243145A/en
Publication of JPS6243145A publication Critical patent/JPS6243145A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PURPOSE:To form a uniform film and pattern on a material to be machined, by mounting a first turntable, which fixes the material to be machined, and a first driving mechanism, which drives said turntable, on a second turntable so that the second turntable is deviated from the rotary shaft of the first turntable. CONSTITUTION:Fluid is dropped on a material to be machined on a first turntable 1. Thereafter, the first turntable 11 and a second turntable 14 are rotated so that the ratio between the rotating periods of the turntables does not become an integer ratio. Thus, forces in the different directions are always applied to the fluid on the material to be machined, which is fixed to the first turntable 11. Therefore, the fluid is uniformly distributed. Thus the uniform film and pattern can be formed on the material to be machined.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、膜塗布あるいはエツチング等に用いる半導
体素子製造装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a semiconductor device manufacturing apparatus used for film coating, etching, etc.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図は従来の半導体素子製造装置の一例を示す概要図
で、1は被加工物を真空吸着により固定したのち回転さ
せるターンテーブル、2は前記ター/テーズル10回転
軸、3は前記ターンテーブル1を回転軸2を介して回転
させる駆動機構であるO 次に、この半導体素子製造装置の動作について説明する
。ターンテーブル1に固定された被加工物上に、ディス
ペンスもしくはその他の方法を用いて流体7滴下したの
ち、ターンテーブル1!!:回転させることKよって、
この流体を被加工物全面にゆきわたらせる。これによっ
て、膜形成、現像あるいはエツチングなどのパターン形
成を行う。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a conventional semiconductor device manufacturing apparatus, in which 1 is a turntable that rotates the workpiece after fixing it by vacuum suction, 2 is the rotary shaft of the tar/tasle 10, and 3 is the turntable. 1 is a drive mechanism that rotates O through a rotating shaft 2.Next, the operation of this semiconductor device manufacturing apparatus will be explained. After seven drops of fluid are placed on the workpiece fixed on turntable 1 using a dispenser or other method, turntable 1! ! :By rotating K,
This fluid is spread over the entire surface of the workpiece. With this, pattern formation such as film formation, development, or etching is performed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記のような従来の半導体素子製造装置では、滴下され
た流体の受ける遠心力がターンテーブル1の中心付近と
周辺付近では異なるため、形成された膜あるいはパター
ンが中心付近と周辺付近では異なり、この傾向は被加工
物の大きさが大きくなるKつれ顕著になるという問題点
があった。
In the conventional semiconductor device manufacturing apparatus as described above, the centrifugal force exerted on the dropped fluid is different between the center and the periphery of the turntable 1, so the formed film or pattern is different between the center and the periphery. There was a problem in that the tendency became more pronounced as the size of the workpiece became larger.

この発明は、かかる問題点ケ解決するため罠なされたも
ので、被加工物上に均一な膜およびパターンを形成する
ことができる半導体素子製造装置を得ることを目的とす
る。
The present invention has been made to solve these problems, and an object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing apparatus that can form a uniform film and pattern on a workpiece.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る半導体素子製造装置は、被加工物を固定
する第1のターンテーブルと、この第1のターンテーブ
ルを回転させる第1の駆動機構と!を第2のターンテー
ブル上にその回転軸からずらして搭載し、このWJ2の
ターンテーブルを第2の駆動機構によって回転させるよ
うに構成したものである。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention includes a first turntable for fixing a workpiece, and a first drive mechanism for rotating the first turntable! is mounted on a second turntable offset from its rotation axis, and the turntable of this WJ2 is rotated by a second drive mechanism.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、被加工物上の流体が第1のターン
テーブルによる遠心力以外K、第2のターンテーブルに
よる遠心力も受ける。
In this invention, the fluid on the workpiece is subjected to not only the centrifugal force exerted by the first turntable but also the centrifugal force exerted by the second turntable.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明の半導体素子製造装置の一実施例を示
す概要図で、11は被加工物を固定する第1のターンテ
ーブル、12は第1の回転軸、13は前記第1のターン
テーブル11を第1の回転軸12を介して回転させる第
1の駆動機構、14は前記第1の駆動機構13.第1の
回転軸12および第1のターンテーブル111fをその
回転軸からすらして搭載した第2のターンテーブル、1
5は第2の回転軸、16はN記第2の回転軸15馨介し
てWIJ2のターンテーブル14を回転させる第2の駆
動機構である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the semiconductor device manufacturing apparatus of the present invention, in which 11 is a first turntable for fixing a workpiece, 12 is a first rotating shaft, and 13 is the first turntable. A first drive mechanism 14 rotates the table 11 via a first rotation shaft 12, and the first drive mechanism 13. A second turntable on which the first rotation shaft 12 and the first turntable 111f are mounted evenly from the rotation shaft, 1
5 is a second rotating shaft, and 16 is a second drive mechanism that rotates the turntable 14 of the WIJ 2 via the N second rotating shaft 15.

この発明の半導体素子製造装置においては、第1のター
ンテーブル11上の図示しない被加工物上に流体を滴下
したのち、第1のターンテーブル11および第2のター
ンテーブル14Yそれぞれの回転周期の比が整数比とな
らないように回転させる。すると、第1のターンテーブ
ル11に固定された被加工物上の流体には常に異なる方
向の力が加わり、流体は均一に分布するようになる。
In the semiconductor device manufacturing apparatus of the present invention, after dropping the fluid onto the workpiece (not shown) on the first turntable 11, the ratio of the rotation periods of the first turntable 11 and the second turntable 14Y is determined. Rotate so that they are not integer ratios. Then, forces in different directions are always applied to the fluid on the workpiece fixed to the first turntable 11, and the fluid becomes uniformly distributed.

なお、この発明の半導体素子製造装置の構成は、フォト
マスクなどのパターン形成装置や、その他プV−す技術
を用いたパターン形成装置に応用してもよい。さらに、
2つの回転軸12.15がそれぞれ独立に逆回転も可能
な機構を有すれば、より均一性を増すことが可能である
The configuration of the semiconductor device manufacturing apparatus of the present invention may be applied to a pattern forming apparatus such as a photomask, or a pattern forming apparatus using other press technology. moreover,
If the two rotating shafts 12, 15 each have a mechanism that can independently rotate in reverse, it is possible to further increase the uniformity.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明は以上説明したとおり、被加工物を固定する第
1のターンテーブルと、この第1のターンテーブルを回
転させる第1の駆動機構とを第2のターンテーブル上に
その回転軸からずらして搭載し、この第2のターンテー
ブルを第2の駆動機構によって回転させるように構成し
たので、被加工物上に均一な膜およびパターンを形成す
ることができるという効果がある。
As explained above, the present invention includes a first turntable for fixing a workpiece and a first drive mechanism for rotating the first turntable on a second turntable offset from its rotation axis. Since the second turntable is mounted and configured to be rotated by the second drive mechanism, it is possible to form a uniform film and pattern on the workpiece.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の半導体素子製造装置の一実施例を示
す概要図、第2図は従来の半導体素子製造装置の一例を
示す概要図である。 図において、11は第1のターンテーブル、12は第1
の回転軸、13は@1の駆動機構、14は第2のターン
テーブル、15は第2の回転軸、16は第2の駆動機構
である。 代理人 大岩 増雄 (外2名) 第1図 第2図 手続補正書(自発) 特許庁長官殿                111
・事件の表示   特願昭60−184409号2・発
明の名称   半導体素子製造装置3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
 称  (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号5
、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
欄 6、補正の内容 (1)明細書の特許請求の範囲を別紙のように補正する
。 (2)明細書第3頁2〜8行の「被加工物を・・・・・
・構成したものである。」を下記のように補正する。 「被加工物を固定するターンテーブルと、このターンテ
ーブルに自転を与える第1の駆動機構と、ターンテーブ
ルに公転を享える第2の駆動機構とを有するものである
。」 (3)同じく第3頁10〜12行の「第1のターンテー
ブル・・・・・・受ける。」を下記のように補正する。 「ターンテーブルの自転による遠心力以外に、公転によ
る遠心力も受ける。」 (4)同じく第5頁1〜5行の「第1のターンテーブル
と、・・・・・・構成したので、」を下記のように補正
する。 「ターンテーブルと、このターンテーブルに自転を′j
える第1の駆動機構と、ターンテーブルに公転を学える
第2の駆動機構とを備えたので」以上 2、特許請求の範囲 被加工物を固定す且−ンテーブルと、こLl−ンテーブ
ル区1藍土立入る第1の駆動機構と工飢↓ターンテーブ
ルに公転を与える第2の駆動機構とを有することを特徴
とする半導体素子製造装置。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a conventional semiconductor device manufacturing device. In the figure, 11 is the first turntable, 12 is the first turntable, and 12 is the first turntable.
13 is a drive mechanism @1, 14 is a second turntable, 15 is a second rotation shaft, and 16 is a second drive mechanism. Agent Masuo Oiwa (2 others) Figure 1 Figure 2 Procedural amendment (voluntary) Commissioner of the Japan Patent Office 111
・Indication of the case: Japanese Patent Application No. 184409/1984 2・Name of the invention: Semiconductor device manufacturing equipment 3, Person making the amendment Relationship to the case Patent applicant address: 2-2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Name (601) ) Mitsubishi Electric Corporation Representative Moriya Shiki 4, Agent Address 2-2-3-5 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo
, Claims column and Detailed Description of the Invention column 6 of the specification to be amended, Contents of the amendment (1) The claims of the specification are amended as shown in the attached sheet. (2) On page 3 of the specification, lines 2 to 8, “The workpiece...
・It is configured. ” is corrected as follows. "It has a turntable that fixes the workpiece, a first drive mechanism that causes the turntable to rotate, and a second drive mechanism that allows the turntable to revolve." (3) Similarly, No. "Receive the first turntable" in lines 10 to 12 of page 3 is corrected as follows. "In addition to the centrifugal force due to the turntable's rotation, it also receives centrifugal force due to its revolution." (4) Similarly, on page 5, lines 1 to 5, "Since the turntable is configured with the first turntable," Correct as shown below. ``The turntable and the rotation of this turntable''
and a second drive mechanism that allows the turntable to learn the revolution. 1. A semiconductor device manufacturing apparatus comprising a first drive mechanism that rotates a turntable and a second drive mechanism that causes a turntable to revolve.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被加工物を固定する第1のターンテーブルと、この第1
のターンテーブルを回転させる第1の駆動機構と、この
第1の駆動機構および前記第1のターンテーブルをその
回転軸からずらして搭載する第2のターンテーブルと、
この第2のターンテーブルを回転させる第2の駆動機構
とを有することを特徴とする半導体素子製造装置。
a first turntable for fixing a workpiece;
a first drive mechanism for rotating a turntable; a second turntable on which the first drive mechanism and the first turntable are mounted offset from the rotation axis;
A semiconductor device manufacturing apparatus comprising: a second drive mechanism that rotates the second turntable.
JP18440985A 1985-08-20 1985-08-20 Manufacture apparatus of semiconductor element Pending JPS6243145A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18440985A JPS6243145A (en) 1985-08-20 1985-08-20 Manufacture apparatus of semiconductor element

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JP18440985A JPS6243145A (en) 1985-08-20 1985-08-20 Manufacture apparatus of semiconductor element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6243145A true JPS6243145A (en) 1987-02-25

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ID=16152660

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18440985A Pending JPS6243145A (en) 1985-08-20 1985-08-20 Manufacture apparatus of semiconductor element

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JP (1) JPS6243145A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001027977A1 (en) * 1999-10-08 2001-04-19 Etec Systems, Inc. Epicyclic stage

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001027977A1 (en) * 1999-10-08 2001-04-19 Etec Systems, Inc. Epicyclic stage
US6279490B1 (en) 1999-10-08 2001-08-28 Etec Systems, Inc. Epicyclic stage

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