JPS6234261A - メモリのアクセス状況監視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、テストの対象となるメモリのアクセス状況
を監視するための監視装置に関する。

〔従来の技術〕

−Ｃに、マイクロコンピュータを用いた電子制御装置で
は、その機能がプログラムメモリ、データメモリの働き
によって決定される。か＼るプログラムメモリとしては
、データの読み出しだけが可能なＲＯＭ　（リードオン
リメモリ）やプログラマブルなＲＯＭ　（ＦＲＯＭ）が
用いられ、また制御装置が判断を行なうためのデータは
、読み出しおよび書き込みが可能なＲＡＭ　（ランダム
アクセスメモリ）に格納される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで、このような電子制御装置は、安価なマイクロ
コンピュータを用いることによって、複雑な機能をもた
せるｑとが可能であるが、そのプログラムの正しさを検
証することは必ずしも容易ではなく、数百項目にわたる
テストが必要になることも珍らしくない。このように、
テスト項目が複雑になるとその準備作業も困難になるば
かりでなく、テスト項目の脱落等のおそれもある。また
、このような電子制御装置ではその動作機能が目視でき
ないことから、どこまでテストすれば良いのか、または
どれだけテストされたかを表わす管理データを集めるこ
とが必要となる。

これらの問題の解決方法として、大形計算機ではプログ
ラムの動作経過を記憶しておき、その記憶結果からプロ
グラム分岐部分のテスト割合や、通常のプログラム部分
のテスト割合を表示し、これによってプログラムテスト
の品質を評価するようにしている。また、大形計算機で
マイクロコンピュータのプログラム動作を行なった場合
も、大形計算機のプログラムの場合と全（同様の方法に
よってプログラムのテスト状況を記憶してお（ことによ
り、テストの品質向上を図ることができる。

しかし、１チツプマイクロコンピユータなどの小形のマ
イクロコンピュータでは、その多くが電子機器内に組み
込まれ、種々のセンサからの情報やキー人力情報に応じ
て、これをリアルタイムで処理することを要求される場
合が多い。このようなプログラムの動作テストでは、大
形計算機にリアルタイムでセンサ情報やキー人力情報を
与えることは困難であり、このため大形計算機ではテス
トプログラムの入力データとして、上記センサやキーの
情報をインプットしてシミュレーションするが、これら
のテストプログラムを作る作業は煩雑で手間の掛かる作
業であることから、実際にはこのようなリアルタイムの
テストプログラムを大形計算機やミニコンピユータで実
行することは困難である。

また、多くの電子装置は独自のプログラム開発用支援装
置を用いているので、これらのプログラム監視用共通装
置を作り出すことも容易ではない。

つまり、１チツプマイクロコンピユータは各メーカ毎に
内部の構成原理が異なり、同じメーカのものでも品種毎
に機能が異なっているので、その各々に監視用装置を準
備することは経済的な負担が増大する。また、これらの
開発支援装置もコストを優先させるため、機能的に不充
分であることが多い。

このような事情から、マイクロコンピュータシステムに
おいては、その多くのものが実動作のテストケースを出
来るだけ多く準備して異常のないことを確認することに
より、プログラムの監視を行なうようにしているのが実
情である。ところが、このような監視方法では、実施し
たテストケースについては正しいことが検証されても、
別のケースに遭遇すると正しい動作をするか否かの保証
はなく、このため厳重な監視をしようとするとぼう大な
量のケースについてテストを実施しなければならないと
いう問題がある。

したがって、この発明は上述の如きマイクロコンピュー
タシステムにおけるプログラムのテストレベル（テスト
状況）を目視可能な如くすることにより、プログラムの
品質管理を数量化するとともに、如何なるタイプのマイ
クロコンピュータにも使用可能で、しかも安価なメモリ
のアクセス状況監視装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

記憶装置（監視メモリ）およびデータ処理装置からなる
監視装置を設ける。

〔作用〕

上記監視装置をテスト対象となる記憶装置（被テストメ
モリ）のアドレス線およびメモリ選択線（必要に応じて
リード／ライト信号線、制御信号線が使用される。）に
接続し、被テストメモリがアクセスされる毎にそのアド
レスと対応する監視装置内メモリ　（監視メモリ）のア
ドレスに所定のコード信号を書き込み、このコード信号
をテスト終了後に読み出すことにより、被テストメモリ
のアクセス状況を目視によって識別し得るようにする。

〔実施例〕

実施例について説明する前に、まず一般的なマイクロコ
ンピュータシステムのメモリ構成について説明する。

第３図はか＼る構成を説明するための概要図である。同
図において、１５は中央処理部（ＣＰ　Ｕ）、１６はア
ドレスデコーダ、２１はす＝ドオンリメモリ　（ＲＯＭ
）　、２２はランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）　、２
３はデータバス、２４はアドレスバス、２５．２６はメ
モリセレクト線である。

ＲＯＭ２１にはプログラム、またＲＡＭ２２にはデータ
がそれぞれ格納されるのが普通であるが、プログラムの
変更を容易にする目的等のために、ＲＡＭ２２内にプロ
グラムの一部を格納することもある。いずれにしても、
これらのメモリは図示の如＜、データバス２３とアドレ
スバス２４に共通に接続され、その選択はメモリセレク
ト線２５゜２６によって行なわれる。また、同図ではＲ
ＯＭおよびＲＡＭがそれぞれ１つずつ設けられているが
、プログラム量やデータ量に応じてこれらは複数個ずつ
設けられ、そのいずれを選択するかはアドレスデコーダ
１６でどのメモリセレクト線を選ぶかによって決定され
る。この他、ＲＡＭおよびＲＯＭとも、出力の状態を指
定するアウトプットイネーブル端子が、またＲＡＭには
書き込み、読み出しを指示するり一ド／ライト端子がそ
れぞれ設けられ、これらによって動作の指示が行なわれ
る・したがって、通常はＲＯＭに記憶されてＩ、ｚるプ
ログラムに従って所定の動作が行なわれるが、このとき
に必要なデータがＲＡＭから読み出されたり、ＲＡＭへ
書き込まれたりすることになる。

こ＼で、ＲＯＭまたはＲＡＭに格納されているプログラ
ムまたはデータをテストする場合は、そのテスト用プロ
グラムに応じてＲＯＭまたはＲＡＭのアクセスが行なわ
れることになるので、このアクセス状況を検知すること
により、テストがどの程度行なわれたかの度合を監視し
ようとするのが、この発明による監視装置である。

第１図はこの発明の実施例を示す構成図である。

同図において、■は監視装置用メモリ、２はマイクロコ
ンピュータの如き処理装置、３は出力装置、４はスイッ
チ素子、５はキースイッチ、６は監視装置用アドレスバ
ス、７は監視装置用データバス、８．９はバッファであ
り、これらによって監視装置が形成される。２０はＲＯ
ＭまたはＲＡＭからなる被テスト用メモリであり、この
メモリのアドレスバス２４およびメモリセレクト線２７
を介してこの発明による監視装置が接続される。被テス
ト用メモリ２０と監視装置との接続は、こ＼ではコネク
タ１０．１１によって行なわれる。この場合、被テスト
用メモリ２０にも最近では１６Ｋ。

６４Ｋまたは１２８にビットなどの種々のタイプのもの
が存在するので、これらメモリのピン配置に合うコネク
タを準備しておき、例えばプリント板に実装されたメモ
リの上部からこのコネクタでビンを直接はさんで接続す
るようにしておけば、如何なるタイプのものでも自由に
テストすることができて便利である。

監視装置用メモリｌはマイクロコンピュータ２のデータ
メモリとして用いられ、テスト時にはアドレスバス２４
およびバッファ９を介してアドレス信号を、またメモリ
セレクト線（チップセレクト線）２７およびバッファ８
を介して選択信号をそれぞれ受けるとともに、監視装置
用データバス７を介してマイクロコンピュータ２より所
定のコード信号（マーク信号）が書き込まれるようにな
っている。このとき、メモリ１が１ビットＲＡＭならば
、例えば“ハイ　（Ｈ）　　”の信号を、また８ビ・ノ
ドのＲＡＭならば、例えば“ＯＦ″のコード信号をそれ
ぞれ書き込むようにする。したがって、被テスト用メモ
リ２０がアドレス信号およびセレクト信号によりアクセ
スされると、これによってメモリｌも同様に動作し、メ
モリ２０のアドレスと対応する所定アドレスにマーク信
号が書き込まれることになる。そして、一連のテストの
終了後（または必要時）に監視装置を被テスト用メモリ
２０から切り離し、マイクロコンピュータ２から監視装
置用アドレスバス６を介してメモリ１の内容を読み出す
ことにより、被テスト用メモリ２０のアクセス状況を知
ることができる。なお、メモリ１の内容を読み出すに当
たっては、マイクロコンピュータ２に所定の指示を与え
ることが必要であるが、こ＼ではキースイッチ５によっ
てその指示を与えるようにしている。また、メモリｌに
はアドレスバス６およびデータバス７が接続される他に
、ライト／リード端子やチップセレクト端子が設けられ
、これがマイクロコンピュータ２によって制御されるこ
とは云う迄もない。なお、メモリ１から読み出された内
容は、外部の表示装置やプリンタ等の出力装置３に出力
される。また、この方式では、同一アドレスを何回アク
セスしても同じコード信号が記ｊｌされるだけであるが
、必要に応じて高速の制御回路によりそのアクセス回数
を計数することも可能である。

第２図はプリンタによる出力例を示す参照図である。

第２図（イ）は、アドレス毎にコード信号の有／無を「
×」印にて出力した例である。例えば、縦×横を６４Ｘ
６４にしてマトリックス状に示せば４０９６バイト、す
なわち４にハイドのメモリ空間のアクセス状況を表わす
ことができる。このようにすれば、メモリ内の一部だけ
が使用される場合でも、どの部分がアクセスされたが否
かを一目瞭然に知ることができ、その用途も広い。また
、このような形式で出力する背景には、被テスト用メモ
リにはどの程度のプログラムやデータが入っているかを
、オペレータが他の装置等により前もって承知している
と云うことが前提となっており、市販のプログラム開発
装置の殆んどにおいてこのようなことが可能である。

一方、第２図（ロ）は、コード信号の数を数値として出
力できるようにした例であり、実際にアクセスされた数
Ａとアクセスされなかった数Ｂとをカウントし、アクセ
ス率（テストカバー率）Ｃを％表示するものである。な
お、この場合はどのアドレスがアクセスされなかった（
未アクセス）かは判らないが、テストが充分ならばこの
数値は一般に高くなる筈であるから、大体の目安として
用いることができる。かかる出力を行なうためには、マ
イクロコンピュータにて所定の演算処理が行なわれるこ
とは云う迄もない。

また、監視装置側に被テスト用メモリの本来アクセスさ
れるべき領域を知らせておき、テストの終了後に、この
領域データと監視装置用メモリから読み出したデータと
の関係を調べることにより積極的に未アクセス領域を検
出し、これに特定のマークを付すことも可能であり、さ
らにアクセスしてはならない領域がアクセスされた場合
には、別のマークを付すことも可能である。例えば、第
２図（伺の如く、ｒＯＪ印にて未アクセス領域を、また
「△」にてアクセス禁止領域のアクセスが行なわれたこ
とを表わすことができる。

また、以上の如きテストは、必ずしも一日で終了すると
は限らないので、第１図のマイクロコンピュータ２をハ
ソテリ駆動にしておくが、またはメモリ１をバフテリに
よりサポートしておくことが望ましい。このようにすれ
ば、たとえ数日にわたるテストであっても、そのアクセ
ス状況を正しく把握することができる。また、１日毎の
データを所定のメモリに退避しておき、動作テスト前に
再セットしたり、その集計を行なうことが可能である。

以上の如く、特に１チンブマイクロコンピユータには何
十種類ものクイズがあってその機能も多様である。この
ため、各マイクロコンピュータ毎に開発支援装置を準備
するのは大変であるが、メモリの場合は略統−された機
能を持っており、その差は主として容量だけと考えるこ
とができるので、メモリ容量に応じた数のコネクタを′
＄備しておくことにより、如何なるマイクロコンピュー
タシステムに対しても適用可能となり、したがって経済
的な監視装置を提供することができる。

〔発明の効果〕

この発明によれば、テスト対象となるメモリのアドレス
線およびセレクト線に監視装置を接続し、実際にアクセ
スされたアドレス毎に所定のコード信号を監視装置内の
メモリにセントし、テスト終了後にこのコード信号を読
み出すことにより、被テストメモリのアクセス状況を出
力することができるので、メモリのアクセス状況すなわ
ちテストレベルを数値的に目視することが可能となる利
点がもたらされる。また、被テスト用メモリに対するア
ドレスおよびセレクト信号からそのアクセス状況を知る
ことができるので、如何なるマイクロコンピュータに対
しても共通に用いることができ、したがって、筒車かっ
安価な監視装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示す構成図、第２図はプリ
ントアウト例を示す参照図、第３図は一般的なマイクロ
コンピュータのメモリ構成を説明するための概要図であ
る。 符号説明 ■・・・監視装置用メモリ、２・・・マイクロコンピュ
ータ、３・・・出力装置、４・・・スイッチ素子、５・
・・キースイッチ、６・・・監視装置用アドレスバス、
７・・・監視装置用データバス、８．９・・・バッファ
、１０゜１１・・・コネクタ、１５・・・中央処理部（
ＣＰ　Ｕ）、１６・・・アドレスデコーダ、２ｏ・・・
被テスト用メモリ、２１・・・ＲＯＭ、２２・・・ＲＡ
Ｍ、２３・・・データバス、２４・・・アドレスバス、
２５，２６．２７・・・メモリセレクト線。 代理人　弁理士　並　木　昭　夫 代理人　弁理士　松　崎　　　清 １−ｖ社製ｌ　第！図 第　３　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）少なくとも記憶装置（監視メモリ）およびデータ処
   理装置からなりテスト対象となる記憶装置（被テストメ
   モリ）のアドレス線およびセレクト線に接続されて該被
   テストメモリのアクセス状況を監視する監視装置であっ
   て、該被テストメモリのテスト時にはこれがアクセスさ
   れる毎にそのアドレスと対応する前記監視メモリのアド
   レスに前記データ処理装置から所定のコード信号を書き
   込み、被テストメモリのテスト終了時には該データ処理
   装置によりこのコード信号を直接または所定の処理をし
   て出力することを特徴とするメモリのアクセス状況監視
   装置。 ２）特許請求の範囲第１項に記載の監視装置において、
   前記被テストメモリとの接続を所定のコネクタを介して
   行なうことを特徴とするメモリのアクセス状況監視装置
   。