JPS62299755A - ガラス繊維中の導電性物質の検出方法及び検出装置 - Google Patents
ガラス繊維中の導電性物質の検出方法及び検出装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
［産業上の利用分野］
本発明は、ガラス繊維中に偏在状態で含まれる導電性物
質を検出する方法及びその検出装置に関し、特にガラス
繊維の製造工程においてガラス繊維を走行させた状態の
ままでその中に含まれる可能性がある微細な導電性物質
の有無を命中に■つ精度良く検出することができる検出
方法及び検出装置に関するものである。
質を検出する方法及びその検出装置に関し、特にガラス
繊維の製造工程においてガラス繊維を走行させた状態の
ままでその中に含まれる可能性がある微細な導電性物質
の有無を命中に■つ精度良く検出することができる検出
方法及び検出装置に関するものである。
〔従来の技術］
ロービング又はガラスクロスを構成するガラスフィラメ
ント、ガラスヤーン、ストランド等には、すなわちガラ
ス繊維には、極く微量に導電性物質が偏在して含まれる
ことがある。これはバッチ原料或いは耐火レンガ等が原
因となり、金属がガラスの中に含まれることから生じる
。ガラス１１維中のこれらの導電性物質は、例えばこの
ガラスｌ１組をＩＣ基板等に応用するときなどに電気絶
縁性等において問題を生じ、従ってガラス繊維の導電性
物質を含む部分はその製造工程において除去される必要
がある。
ント、ガラスヤーン、ストランド等には、すなわちガラ
ス繊維には、極く微量に導電性物質が偏在して含まれる
ことがある。これはバッチ原料或いは耐火レンガ等が原
因となり、金属がガラスの中に含まれることから生じる
。ガラス１１維中のこれらの導電性物質は、例えばこの
ガラスｌ１組をＩＣ基板等に応用するときなどに電気絶
縁性等において問題を生じ、従ってガラス繊維の導電性
物質を含む部分はその製造工程において除去される必要
がある。
従来ガラス繊維内に極く機部に含まれた導電性物質を検
知する方法としては、誘電率の変化を利用した方法、マ
イクロ波の位相差を利用した方法、放電を利用した方法
が知られている。誘電率の変化による方法ではガラス繊
維の誘電率を直接に測定しなければならない。マイクロ
波の位相子による方法は、マイクロ波の送信波形と受信
波形との位相差からガラス１１維中の導電性物質或いは
欠陥を検出するものである（特開昭６０−２０１３８号
）。放電による方法は、含有される導電性物質に高周波
放電を起こさせることによりガラス４Ｊ＆ｍ中の導電性
物質を検知するものである（特開昭５９−２）４７４８
号）。
知する方法としては、誘電率の変化を利用した方法、マ
イクロ波の位相差を利用した方法、放電を利用した方法
が知られている。誘電率の変化による方法ではガラス繊
維の誘電率を直接に測定しなければならない。マイクロ
波の位相子による方法は、マイクロ波の送信波形と受信
波形との位相差からガラス１１維中の導電性物質或いは
欠陥を検出するものである（特開昭６０−２０１３８号
）。放電による方法は、含有される導電性物質に高周波
放電を起こさせることによりガラス４Ｊ＆ｍ中の導電性
物質を検知するものである（特開昭５９−２）４７４８
号）。
［発明が解決しようとする問題点Ｊ
前記誘電率の変化による検出方法によれば、含まれる導
電性物質が極＜′ｌｊ！細である場合には測定すべき誘
電率の値が小さくなるので、計測器の誘電率測定のため
の数値の桁が足りず、測定できないという問題が生じる
。また一般にガラスｌ１組が静止状態でないと誘電率を
測定できむいので、ガラス繊維が動いている場合にはこ
の検出方法を適用できず、そのためガラス繊維の生産管
理に全く利用ηることができないという問題を有する。
電性物質が極＜′ｌｊ！細である場合には測定すべき誘
電率の値が小さくなるので、計測器の誘電率測定のため
の数値の桁が足りず、測定できないという問題が生じる
。また一般にガラスｌ１組が静止状態でないと誘電率を
測定できむいので、ガラス繊維が動いている場合にはこ
の検出方法を適用できず、そのためガラス繊維の生産管
理に全く利用ηることができないという問題を有する。
またマイクロ波の位相差による検出方法及び放電による
検出方法では、ガラスｌ１ｆｌの表面に゛付着した水分
、集束剤、ゴミ等の隠蔽作用の影響によってガラスｍ相
中に含まれる導電性物質を検出する能力が非常に低下り
るという不具合を有する。また仮にこれらによる隠蔽作
用がなかったとしても、現実の問題としてガラス繊維中
に存在するｉ？１性物質のもののうち繊維軸方向の長さ
が２Ｉｌｌｌ１１未満のものは検出することができなか
った。
検出方法では、ガラスｌ１ｆｌの表面に゛付着した水分
、集束剤、ゴミ等の隠蔽作用の影響によってガラスｍ相
中に含まれる導電性物質を検出する能力が非常に低下り
るという不具合を有する。また仮にこれらによる隠蔽作
用がなかったとしても、現実の問題としてガラス繊維中
に存在するｉ？１性物質のもののうち繊維軸方向の長さ
が２Ｉｌｌｌ１１未満のものは検出することができなか
った。
本発明は前記諸問題を有効に解決すべくなされたもので
あり、その目的は、ガラス繊維の製造工程においてガラ
ス繊維が移動中であっても検出することができ、またガ
ラスミｌ雑の表面に付着する水分、集束剤、ゴミ等の影
響を受けることなくガラス繊維中に偏在する導電性物質
のみを検出することができ、更にそのｕ！紺軸方向の長
さが２Ｍ未満の微Ｉな導電性物質であってもこれを検出
することができるガラス繊維中の導電性物質の検出方法
及び検出装置を提供することにある。
あり、その目的は、ガラス繊維の製造工程においてガラ
ス繊維が移動中であっても検出することができ、またガ
ラスミｌ雑の表面に付着する水分、集束剤、ゴミ等の影
響を受けることなくガラス繊維中に偏在する導電性物質
のみを検出することができ、更にそのｕ！紺軸方向の長
さが２Ｍ未満の微Ｉな導電性物質であってもこれを検出
することができるガラス繊維中の導電性物質の検出方法
及び検出装置を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、しＣ発据器を利用して発振状態を予め生ぜし
め、ガラス繊維中の導電性物質がＬＣ発振器の回路要素
を成すリアクタンス素子に作用しそのリアクタンス変化
させることにより生じる上記発振状態の変化に基づいて
、ガラス繊維中に偏在する導電性物質の有無を検出する
ようにしたガラス繊維中の導電性物質の検出方法を提供
することを目的とする。
め、ガラス繊維中の導電性物質がＬＣ発振器の回路要素
を成すリアクタンス素子に作用しそのリアクタンス変化
させることにより生じる上記発振状態の変化に基づいて
、ガラス繊維中に偏在する導電性物質の有無を検出する
ようにしたガラス繊維中の導電性物質の検出方法を提供
することを目的とする。
また本発明は、上記方法を実現でる検出装置であって、
製造工程内のガラス繊維の移仙路近傍に配冒され、ガラ
ス繊維中の導電性物質によってそのリアクタンスが変化
するリアクタンス素子と、このリアクタンス素子を回路
要素として含み所定の発振状態が保持されるＬＣ発撮器
と、このＬＣ発撮器の出力をＡＭ検波する検波器及びＦ
Ｍ検波する検波器と、これらの各検波器によって青られ
るＡＭ検波信月とＦ Ｍ検波信号を合成する合成波生成
器と、この合成波生成器に括づいて得られる信号と予め
設定された基準レベル値とを比較して導電性物質を検出
する信号を出力する比較器とから成るガラス繊維中の導
電性物質の検出装置を提供することを目的とする。
製造工程内のガラス繊維の移仙路近傍に配冒され、ガラ
ス繊維中の導電性物質によってそのリアクタンスが変化
するリアクタンス素子と、このリアクタンス素子を回路
要素として含み所定の発振状態が保持されるＬＣ発撮器
と、このＬＣ発撮器の出力をＡＭ検波する検波器及びＦ
Ｍ検波する検波器と、これらの各検波器によって青られ
るＡＭ検波信月とＦ Ｍ検波信号を合成する合成波生成
器と、この合成波生成器に括づいて得られる信号と予め
設定された基準レベル値とを比較して導電性物質を検出
する信号を出力する比較器とから成るガラス繊維中の導
電性物質の検出装置を提供することを目的とする。
［実施例］
以下に本発明の実施例を図面に従って説明する。
第１図は本発明に係るガラスｖａ雑巾に偏在する導電付
物質の検出装置の構成を示すブロック図である。第１図
において、１はリアクタンス素子である発振：１イルを
示すａ発振コイル１は、疎に結合された１０発振器２に
接続され、この１０発振器２の発振状態を決定する回路
要素となっている。
物質の検出装置の構成を示すブロック図である。第１図
において、１はリアクタンス素子である発振：１イルを
示すａ発振コイル１は、疎に結合された１０発振器２に
接続され、この１０発振器２の発振状態を決定する回路
要素となっている。
Ｌ Ｃ発振器２は既知のものが使用される。１０発振器
２の発振周波数は、一般にノイズが少ない１０〜５０Ｍ
Ｈｚの範囲に設定され、好ましくは３０ＭＨｚの周波数
が使用される。また発振コイル１は、第２図に示される
ように、ガラスＩ！雑製品の製造工程にＪ３いて集東罵
の直後の位置に、又は捲返しにおけるクーキ３とボビン
４の間の位置（図中い）の位置）若しくはワインダとス
１−ランドガイドの間の位置に配設（＼れる。寸法的に
発振Ｔ１イル１は、直径３〜１０ｍｍ、長さ３〜１０１
Ｍの小ヤのものが使用される。第２図中、５は製造工程
中のガラス繊維で、ガラス繊維５は発振コイル１の中又
はその近傍の空間を通過するように設けられている。こ
のような構成において、極く微細な導電性物質が偏在し
て含まれるガラスｍ維５の部分が発振コイル１の近傍の
空間を通過すると、発振コイル１のリアクタンス（イン
ダクタンス）が変化し、その結果ＬＣ発振器２の発振状
態を変化させる。
２の発振周波数は、一般にノイズが少ない１０〜５０Ｍ
Ｈｚの範囲に設定され、好ましくは３０ＭＨｚの周波数
が使用される。また発振コイル１は、第２図に示される
ように、ガラスＩ！雑製品の製造工程にＪ３いて集東罵
の直後の位置に、又は捲返しにおけるクーキ３とボビン
４の間の位置（図中い）の位置）若しくはワインダとス
１−ランドガイドの間の位置に配設（＼れる。寸法的に
発振Ｔ１イル１は、直径３〜１０ｍｍ、長さ３〜１０１
Ｍの小ヤのものが使用される。第２図中、５は製造工程
中のガラス繊維で、ガラス繊維５は発振コイル１の中又
はその近傍の空間を通過するように設けられている。こ
のような構成において、極く微細な導電性物質が偏在し
て含まれるガラスｍ維５の部分が発振コイル１の近傍の
空間を通過すると、発振コイル１のリアクタンス（イン
ダクタンス）が変化し、その結果ＬＣ発振器２の発振状
態を変化させる。
１０発振器２の出力である振動電流は、ｌ−Ｃ発振器の
出力側において並設されたＡＭ検波眉６とＦ Ｍ検波器
７のそれぞれに供給される。ＡＭ検波器６で取出される
ＡＭ検波信号Ｓ１とＦＭ検波）μ７で取出されるＦＭ検
波信＠Ｓ２は合成波生成：Ｓ８へ与えられ、これら２つ
の信号Ｓ 、Ｓ の各振幅は側口される。こうして得ら
れた合成信号８３は次段の交流増幅器って増幅され、信
号Ｓ４として更に比較器１０の一方の入力端子に加えら
れる。比較器１０の他方の入力端子には電圧設定器１１
によって基準電圧■。が与えられており、この基準電圧
Ｖ。に対して悟りＳ４の大小比較が行われる。これによ
ってガラス繊維５の中に目的とする導電性物質が含まれ
ているか否かを検出することができる。電圧設定器１１
のＦＡ準電汁Ｖ。
出力側において並設されたＡＭ検波眉６とＦ Ｍ検波器
７のそれぞれに供給される。ＡＭ検波器６で取出される
ＡＭ検波信号Ｓ１とＦＭ検波）μ７で取出されるＦＭ検
波信＠Ｓ２は合成波生成：Ｓ８へ与えられ、これら２つ
の信号Ｓ 、Ｓ の各振幅は側口される。こうして得ら
れた合成信号８３は次段の交流増幅器って増幅され、信
号Ｓ４として更に比較器１０の一方の入力端子に加えら
れる。比較器１０の他方の入力端子には電圧設定器１１
によって基準電圧■。が与えられており、この基準電圧
Ｖ。に対して悟りＳ４の大小比較が行われる。これによ
ってガラス繊維５の中に目的とする導電性物質が含まれ
ているか否かを検出することができる。電圧設定器１１
のＦＡ準電汁Ｖ。
はその値を任意に変化させることができるので、所要の
値Ｖ。をしきい値として設定すれば適当な径、長さの導
電性物１１を検出することができる。
値Ｖ。をしきい値として設定すれば適当な径、長さの導
電性物１１を検出することができる。
このようにして信号Ｓ４が基準電圧Ｖ。よりｂ大となれ
ば比較器１０の出力に検出信号Ｓ５が発生し、導電性物
質の検出が可能になる。
ば比較器１０の出力に検出信号Ｓ５が発生し、導電性物
質の検出が可能になる。
次に上記の構成において、検出のための作用を詳）ホす
る。
る。
第３図は１０発振器２の出力である振動電流の波形を示
す。この波形図において、通常状態の波形２０と変化状
態の波形２）が示されている。通常状態の波形２０は、
検出用発振コイル１の中若しくは近傍をガラス繊維５が
通過していない場合又は通過していたとしてもガラスｍ
１（ｔ５の中に導電性物質が含まれていない場合に生じ
る波形である。すなわら、発振コイル１のインダクタン
スが初期の値のままで変化Ｖず、１０発振器２が予め設
定された状態で発振を維持している状態の波形である。
す。この波形図において、通常状態の波形２０と変化状
態の波形２）が示されている。通常状態の波形２０は、
検出用発振コイル１の中若しくは近傍をガラス繊維５が
通過していない場合又は通過していたとしてもガラスｍ
１（ｔ５の中に導電性物質が含まれていない場合に生じ
る波形である。すなわら、発振コイル１のインダクタン
スが初期の値のままで変化Ｖず、１０発振器２が予め設
定された状態で発振を維持している状態の波形である。
この場合には、一般にガラス繊維表面に何名した水分及
び集束剤を検出している。一方、変化状態の波形２）は
、導電性物質を含むガラスｊＪ＆随が発振コイル１の近
傍を通過する場合に生じる波形である。すなわら、発振
」イル１のインダクタンスが導電性物質の存在によって
変化し、１０発振器２の発振状態が変化したときの波形
である。しかしながら、ガラス繊維中に含まれる導電性
物質が極く微量であるときには振！Ｔ！７１電流の波形
は変化するが、変化が小さいので通常状態の振動電流の
波形と区別することが難しくなる。このように発振コイ
ル１のインダクタンスはガラス繊ｌｆｆ１５中の導電性
物質の有無に応じて変化し、このため１０発振器２の出
力信号が波形２０．２）のいずれかになる。波形２０と
２）は振幅及び周波数について相違している。
び集束剤を検出している。一方、変化状態の波形２）は
、導電性物質を含むガラスｊＪ＆随が発振コイル１の近
傍を通過する場合に生じる波形である。すなわら、発振
」イル１のインダクタンスが導電性物質の存在によって
変化し、１０発振器２の発振状態が変化したときの波形
である。しかしながら、ガラス繊維中に含まれる導電性
物質が極く微量であるときには振！Ｔ！７１電流の波形
は変化するが、変化が小さいので通常状態の振動電流の
波形と区別することが難しくなる。このように発振コイ
ル１のインダクタンスはガラス繊ｌｆｆ１５中の導電性
物質の有無に応じて変化し、このため１０発振器２の出
力信号が波形２０．２）のいずれかになる。波形２０と
２）は振幅及び周波数について相違している。
１０発振器２の出力信号は分岐されＡＭ検波器６とＦＭ
検波器７に供給される。ＡＭ検波器６ではｎｆｆ１信号
をＡＭ検波し、ＦＭ検波器７では発振信号をＦＭ検波す
る。ＡＭ検波信号Ｓ１の電圧波形及びＦＭ検波信号Ｓ２
の電圧波形を示すと、それぞれ第４図（ハ）、第４図■
のようになる。ＡＭ検波信号８１及びＦＭ検波信号８２
の各波形においては、次のような変化の特徴を右するこ
とが紅験的に知られている。つまり、ガラスＪＩｔ４５
中に導電性物質が含まれる部分が発振コイル１の近傍を
通過すると、発振コイル１のインダクタンスが変化する
結果信号Ｓ、Ｓ２の各波形はプラス側へ変化する（図中
２２と２３）。反対に、ガラス繊ＩＲ，５の表面に水分
、集束剤が付着している部分のみが発振コイル１を通過
する場合には、発振コイル１のインダクタンスが再び変
化して、その結果信号Ｓ１の波形はマイナス側に、信号
Ｓ２の波形はプラス側に変化する（図中２４と２５）。
検波器７に供給される。ＡＭ検波器６ではｎｆｆ１信号
をＡＭ検波し、ＦＭ検波器７では発振信号をＦＭ検波す
る。ＡＭ検波信号Ｓ１の電圧波形及びＦＭ検波信号Ｓ２
の電圧波形を示すと、それぞれ第４図（ハ）、第４図■
のようになる。ＡＭ検波信号８１及びＦＭ検波信号８２
の各波形においては、次のような変化の特徴を右するこ
とが紅験的に知られている。つまり、ガラスＪＩｔ４５
中に導電性物質が含まれる部分が発振コイル１の近傍を
通過すると、発振コイル１のインダクタンスが変化する
結果信号Ｓ、Ｓ２の各波形はプラス側へ変化する（図中
２２と２３）。反対に、ガラス繊ＩＲ，５の表面に水分
、集束剤が付着している部分のみが発振コイル１を通過
する場合には、発振コイル１のインダクタンスが再び変
化して、その結果信号Ｓ１の波形はマイナス側に、信号
Ｓ２の波形はプラス側に変化する（図中２４と２５）。
なおこの場合、ＡＭ検波信号Ｓ１とＦＭ検波信号Ｓ２と
はその振幅の大きさが一致するように回路的に予め調整
されている。このようにＦＭ検波信号Ｓ２によれば、Ｉ
Ｉ性物質と水分及び集束剤とを同様な信号状態で検出す
るので、両者を区別することができない。これに対して
ＡＭ検波信号Ｓ１では、導電性物質と水分等との間では
一般的には波形が反転するので、両者を識別することが
できる。しかし、厳密に云えばＡＭ検波信号Ｓ２の波形
であっても、ガラス繊維中イドに付着した水分の１１に
よるハンチング現象によって水分等の場合にプラス側に
変化することがあるので、ＡＭ検波信号のみでは３９雷
性物質と水分等とを厳密に識別することはできない。
はその振幅の大きさが一致するように回路的に予め調整
されている。このようにＦＭ検波信号Ｓ２によれば、Ｉ
Ｉ性物質と水分及び集束剤とを同様な信号状態で検出す
るので、両者を区別することができない。これに対して
ＡＭ検波信号Ｓ１では、導電性物質と水分等との間では
一般的には波形が反転するので、両者を識別することが
できる。しかし、厳密に云えばＡＭ検波信号Ｓ２の波形
であっても、ガラス繊維中イドに付着した水分の１１に
よるハンチング現象によって水分等の場合にプラス側に
変化することがあるので、ＡＭ検波信号のみでは３９雷
性物質と水分等とを厳密に識別することはできない。
そこで、次段の合成波生成器８では各信号Ｓ１゜Ｓ２を
入力し、両信号の波形の変化時点で同期をとって両信号
を合成する。このようにすれば、合成波生成器８の出力
信号Ｓ３において、第４図（Ｑで示すように、信号Ｓ
、Ｓ において位相が同相（２２と２３）である導電性
物質の検出時には加算された波形２６が生じ、反対に位
相が１８０°反転（２４と２５）している水分等の検出
時には両信号は打消し合って何らの波形も生じない。
入力し、両信号の波形の変化時点で同期をとって両信号
を合成する。このようにすれば、合成波生成器８の出力
信号Ｓ３において、第４図（Ｑで示すように、信号Ｓ
、Ｓ において位相が同相（２２と２３）である導電性
物質の検出時には加算された波形２６が生じ、反対に位
相が１８０°反転（２４と２５）している水分等の検出
時には両信号は打消し合って何らの波形も生じない。
また、後者の場合若干の波形が生じたとしても、前音の
波形２６とは十分に区別することができるものである。
波形２６とは十分に区別することができるものである。
以上のようにして、発振コイル１は導電性物質の検出及
び水分等のみの検出のいずれの検出のときにもそのイン
ダクタンスが変化するのであるが、本実施例の検出装置
では、ＡＭ検波信号とＦＭ検波信号とを合成波生成器８
で合成するという構成によって、ＰＪＩ性物質の検出の
みを、誤認することなく、厳密に行うことができる。
び水分等のみの検出のいずれの検出のときにもそのイン
ダクタンスが変化するのであるが、本実施例の検出装置
では、ＡＭ検波信号とＦＭ検波信号とを合成波生成器８
で合成するという構成によって、ＰＪＩ性物質の検出の
みを、誤認することなく、厳密に行うことができる。
上記のようにして得られた信号Ｓ３は交流増幅器９によ
って所要レベルまで増幅され、信号Ｓ４として比較器１
０に入力され、ここで基準電圧ｖｏと比較され、ｖｏよ
りも大であるとぎには導電性物質検出信号Ｓ５を出力す
る。信号Ｓ５は腎報装賀１２に提供され、作業者に事態
を知らせる。
って所要レベルまで増幅され、信号Ｓ４として比較器１
０に入力され、ここで基準電圧ｖｏと比較され、ｖｏよ
りも大であるとぎには導電性物質検出信号Ｓ５を出力す
る。信号Ｓ５は腎報装賀１２に提供され、作業者に事態
を知らせる。
同時に信号Ｓ５は自動除去装置１３に送給され、この自
動除去装置１３によって、導電性物質を含むガラス繊維
の部分をカッターで切断し除去する処理が行われる。そ
の後作業台は切断されたガラス繊維中を再び接続する。
動除去装置１３によって、導電性物質を含むガラス繊維
の部分をカッターで切断し除去する処理が行われる。そ
の後作業台は切断されたガラス繊維中を再び接続する。
またこれらの作業は信号８５を用いてすべて０妨化する
ことも可能である。
ことも可能である。
前記実施例では、リアクタンス素子としてコイルを使用
したが、コイルの形態は任意に変形することができ、ま
たコイルの代わりに所定の形態を有するコンデンサを使
用することもできる。更に本発明によれば、ガラス繊維
中に混入した導電性物質に関し、最小太さ０．５μ、長
さ０．５＃＋ｍのものまで検出することができる。
したが、コイルの形態は任意に変形することができ、ま
たコイルの代わりに所定の形態を有するコンデンサを使
用することもできる。更に本発明によれば、ガラス繊維
中に混入した導電性物質に関し、最小太さ０．５μ、長
さ０．５＃＋ｍのものまで検出することができる。
特に本発明では、製造工程における各ガラス繊維のすべ
ての部分について導電性物質の有無を検出することがで
きるので有効な検出を行うことができる。
ての部分について導電性物質の有無を検出することがで
きるので有効な検出を行うことができる。
次に実際に本発明を適用した例について説明する。
第２図に示すように、捲返機のケーキ３とスピンドル１
４との間に、長さ７ ｔｕｒ 、内径５ｍの円筒形の発
振コイル１を設置し、この発振コイル１中にガラス繊維
５を走行させる。発振コイル１は、ガラス繊維５中の導
電性物質（主に、硫化鉄、硫化ニッケル、クロム、鉄、
ニラクル、銅、金等）に対応したインダクタンスの変化
を電圧信号Ｓ４の変化として取出すため、第１図に示さ
れるように構成されている。ガラスｌ Ｍ、 ５は一例
として１００ｍ／分で走行している。このガラス！ｌＨ
において長さＫ ［ａａｌの導電性物質が含まれている
とぎ、電圧値し［ｍＶ］の信号Ｓ３が発生ずるものとす
る。この合成波信号Ｓ３を交流増幅器９において９４ｄ
ｂで増幅し、比較器１０に送る。比較器１０では、長さ
０．５網の導電性物質が検出できるようにＩｔＬ！を圧
Ｖ。がセットされており、比較器１０にこの電圧値以上
の値の信号Ｓ４が入力されたときに信号Ｓ５が比較器１
０から出力される。
４との間に、長さ７ ｔｕｒ 、内径５ｍの円筒形の発
振コイル１を設置し、この発振コイル１中にガラス繊維
５を走行させる。発振コイル１は、ガラス繊維５中の導
電性物質（主に、硫化鉄、硫化ニッケル、クロム、鉄、
ニラクル、銅、金等）に対応したインダクタンスの変化
を電圧信号Ｓ４の変化として取出すため、第１図に示さ
れるように構成されている。ガラスｌ Ｍ、 ５は一例
として１００ｍ／分で走行している。このガラス！ｌＨ
において長さＫ ［ａａｌの導電性物質が含まれている
とぎ、電圧値し［ｍＶ］の信号Ｓ３が発生ずるものとす
る。この合成波信号Ｓ３を交流増幅器９において９４ｄ
ｂで増幅し、比較器１０に送る。比較器１０では、長さ
０．５網の導電性物質が検出できるようにＩｔＬ！を圧
Ｖ。がセットされており、比較器１０にこの電圧値以上
の値の信号Ｓ４が入力されたときに信号Ｓ５が比較器１
０から出力される。
自動除去装ＶＩ１１１３の動作により、導電性物質が含
まれるガラス繊維の部分は切断除去され、その後作業者
はスピンドル１４を止めてガラス！！紺の接続等のその
後の処理を行う。この場合、リレーを介して導電性物質
が検出された時刻、切断等の作業時開等を記録するプリ
ンタ等を動作させるＪ、うに構成することもできる。プ
リンタに記録されたデータは運転効率の研究のために利
用される。なおＬＣ発振器２において使用した周波数は
３０Ｍ）−１ｚである。下記の表に結宋を示ず。
まれるガラス繊維の部分は切断除去され、その後作業者
はスピンドル１４を止めてガラス！！紺の接続等のその
後の処理を行う。この場合、リレーを介して導電性物質
が検出された時刻、切断等の作業時開等を記録するプリ
ンタ等を動作させるＪ、うに構成することもできる。プ
リンタに記録されたデータは運転効率の研究のために利
用される。なおＬＣ発振器２において使用した周波数は
３０Ｍ）−１ｚである。下記の表に結宋を示ず。
［発明の効果］
以上の説明で明らかなように、一定の発振状態にセット
された発振器の溝成要索を成すリアクタンス素子をガラ
ス繊維の製造工程中に配設し、ガラスＩｌｌ中の導電性
物質とリアクタンス本子の相互作用による発振器の発振
状態の変化に基づき導電性物質を検出するように構成し
たため、ガラス繊維を走行させたままで、ガラス繊維に
付着する水分等の影響を排除して、ガラスｌ！維中に偏
在する導電性物質のみをＩｙ！甲に且つ精度よく検出す
ることができ、更に極めて微細な導電性物質まで検出す
ることができる。またすべてのガラス繊維について検査
する全数検査を行うことができるので不良なガラス繊維
の部分をすべて除去できるという効果を発揮する。
された発振器の溝成要索を成すリアクタンス素子をガラ
ス繊維の製造工程中に配設し、ガラスＩｌｌ中の導電性
物質とリアクタンス本子の相互作用による発振器の発振
状態の変化に基づき導電性物質を検出するように構成し
たため、ガラス繊維を走行させたままで、ガラス繊維に
付着する水分等の影響を排除して、ガラスｌ！維中に偏
在する導電性物質のみをＩｙ！甲に且つ精度よく検出す
ることができ、更に極めて微細な導電性物質まで検出す
ることができる。またすべてのガラス繊維について検査
する全数検査を行うことができるので不良なガラス繊維
の部分をすべて除去できるという効果を発揮する。
第１図は木梵明に係る検出装置の構成を示すブロック図
、 第２図は製造工程における検出コイルの前段位置を示１
′簡略構成図、 第３図はｌ−ｃ発振器の２つの発振器状態を示す出力信
号の波形図、 第１図は信号Ｓ 、Ｓ２、Ｓ３の状態及び関係を示す波
形図である。 ［符号の説明］ １・・・発振」イル ２・・・１０発振器 ３・・・ケーキ ４・・・ボビン ５・・・ガラス繊維 ６・・・ＡＭ検波器 ７・・・ＦＭ検波器 ８・・・合成波生成器 ９・・・交流増幅器 １０・・・比較器
、 第２図は製造工程における検出コイルの前段位置を示１
′簡略構成図、 第３図はｌ−ｃ発振器の２つの発振器状態を示す出力信
号の波形図、 第１図は信号Ｓ 、Ｓ２、Ｓ３の状態及び関係を示す波
形図である。 ［符号の説明］ １・・・発振」イル ２・・・１０発振器 ３・・・ケーキ ４・・・ボビン ５・・・ガラス繊維 ６・・・ＡＭ検波器 ７・・・ＦＭ検波器 ８・・・合成波生成器 ９・・・交流増幅器 １０・・・比較器
Claims (5)
- （１）発振器で発振状態を発生させ、この発振状態を決
定するリアクタンス素子に対しガラス繊維中の導電性物
質が作用することによつて生じる前記発振状態の変化を
検知して導電性物質の存在を検出するガラス繊維中の導
電性物質の検出方法。 - （２）特許請求の範囲第１項の記載において、前記リア
クタンス素子のリアクタンスの変化によつて生じた発振
状態の変化を、ＡＭ検波とＦＭ検波とによつてそれぞれ
取出し、これらのＡＭ検波信号とＦＭ検波信号を合成す
ることによつて導電性物質の検出のみを行うようにした
ことを特徴とするガラス繊維中の導電性物質の検出方法
。 - （３）製造工程内のガラス繊維の移動路近傍に配置され
、ガラス繊維中の導電性物質によつてそのリアクタンス
が変化するリアクタンス素子と、前記リアクタンス素子
を回路要素として含み所定の発振状態が保持されるＬＣ
発振器と、 前記ＬＣ発振器の出力をＡＭ検波する検波器と、前記Ｌ
Ｃ発振器の出力をＦＭ検波する検波器と、前記各検波器
によつて得られるＡＭ検波信号とＦＭ検波信号を合成す
る合成波生成器と、 前記合成波生成器に基づき得られる信号と基準レベル値
を比較して導電性物質検出信号を出力する比較器とから
成ることを特徴とするガラス繊維中の導電性物質の検出
装置。 - （４）特許請求の範囲第３項の記載において、リアクタ
ンス素子はコイルであることを特徴とするガラス繊維中
の導電性物質の検出装置。 - （５）特許請求の範囲第３項、第４項のいずれかに記載
において、前記基準レベル値は任意の値に調整すること
ができることを特徴とするガラス繊維中の導電性物質の
検出装置。（６）特許請求の範囲第４項の記載において
、前記ガラス繊維は前記コイルの中を通過するようにし
たことを特徴とするガラス繊維中の導電性物質の検出装
置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61142729A JPS62299755A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | ガラス繊維中の導電性物質の検出方法及び検出装置 |
| US07/063,266 US4825158A (en) | 1986-06-20 | 1987-06-17 | Method of detecting conductive material contained in glass fiber by detecting changes in amplitude and frequency of an oscillator and detecting apparatus therefor |
| EP87108788A EP0249980B1 (en) | 1986-06-20 | 1987-06-19 | Method of detecting conductive material contained in glass fiber and detecting apparatus therefor |
| DE8787108788T DE3777460D1 (de) | 1986-06-20 | 1987-06-19 | Verfahren zur bestimmung von leitendem material in glasfasern und geraet dazu. |
| KR1019870006292A KR960009760B1 (ko) | 1986-06-20 | 1987-06-20 | 유리 섬유중에 함유된 도전성 물질의 검출 방법 및 그 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61142729A JPS62299755A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | ガラス繊維中の導電性物質の検出方法及び検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62299755A true JPS62299755A (ja) | 1987-12-26 |
| JPH0471459B2 JPH0471459B2 (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=15322225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61142729A Granted JPS62299755A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | ガラス繊維中の導電性物質の検出方法及び検出装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4825158A (ja) |
| EP (1) | EP0249980B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62299755A (ja) |
| KR (1) | KR960009760B1 (ja) |
| DE (1) | DE3777460D1 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5025227A (en) * | 1988-10-11 | 1991-06-18 | William Young | Metal detection circuit |
| US5142228A (en) * | 1989-04-24 | 1992-08-25 | Corning Incorporated | Method for statically or dynamically monitoring the thickness of electrically-conductive coatings on optical fibers |
| FR2657696B1 (fr) * | 1990-02-01 | 1992-07-24 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif de detection de corps metalliques, en particulier de fines particules. |
| DE4015440C1 (ja) * | 1990-05-15 | 1991-11-07 | Ruetgerswerke Ag, 6000 Frankfurt, De | |
| US5352258A (en) * | 1993-03-31 | 1994-10-04 | Ppg Industries, Inc. | Production of glass fibers from scrap glass fibers |
| US6199778B1 (en) | 1996-11-06 | 2001-03-13 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and processes for recycling glass fiber waste material into glass fiber product |
| US5772126A (en) * | 1996-11-06 | 1998-06-30 | Ppg Industries, Inc. | System and process for recycling waste material produced by a glass fiberizing process |
| WO2006104300A1 (en) | 2005-03-29 | 2006-10-05 | U-Mi Tech Co., Ltd. | Air-injection type tool for scrubbing off the dirt on a body |
| US7403118B2 (en) * | 2005-11-29 | 2008-07-22 | Checkpoint Systems, Inc. | Security device with perimeter alarm |
| EP2541240A1 (fr) * | 2011-06-29 | 2013-01-02 | FRO - Air Liquide Welding Italia S.P.A. | Procédé et dispositif de contrôle de la conformité de fabrication d'un fil de soudage |
| JP6069162B2 (ja) * | 2013-10-11 | 2017-02-01 | 株式会社Ihi | 導電性複合材料の繊維蛇行検出方法及び繊維蛇行検出装置 |
| US10162038B2 (en) * | 2014-07-09 | 2018-12-25 | Stmicroelectronics S.R.L. | Method of interfacing a LC sensor and related system |
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| CN111678976B (zh) * | 2020-06-22 | 2021-01-26 | 胡舟逸 | 一种电磁无损质量检测方法及其检测电路和系统 |
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| JPS5862502A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-14 | Kuraray Co Ltd | 静電容量式繊維束斑検知装置 |
| JPS59214748A (ja) * | 1983-05-04 | 1984-12-04 | Nitto Boseki Co Ltd | 繊維状ガラス中の導電性物質の検出方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3600676A (en) * | 1969-03-21 | 1971-08-17 | Horst Nauditt Roland Sirenenba | Moisture meter utilizing amplitude and bandwidth signals |
| US3737764A (en) * | 1971-09-27 | 1973-06-05 | Commissariat Energie Atomique | Eddy-current test apparatus for detection of flaws in a metal seal placed within an electrically conductive tube |
| US3745451A (en) * | 1972-03-06 | 1973-07-10 | Northern Electric Co | System for detecting faults in twisted wires by sensing variations in my |
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| US4580132A (en) * | 1983-05-04 | 1986-04-01 | Nitto Boseki Co., Ltd. | Method of and apparatus for detecting electrically conductive material in glass fibers or articles made of glass fibers |
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| GB8510732D0 (en) * | 1985-04-26 | 1985-06-05 | Univ Edinburgh | Oil debris monitor |
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1986
- 1986-06-20 JP JP61142729A patent/JPS62299755A/ja active Granted
-
1987
- 1987-06-17 US US07/063,266 patent/US4825158A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-19 EP EP87108788A patent/EP0249980B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-19 DE DE8787108788T patent/DE3777460D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-20 KR KR1019870006292A patent/KR960009760B1/ko not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
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| JPS5862502A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-14 | Kuraray Co Ltd | 静電容量式繊維束斑検知装置 |
| JPS59214748A (ja) * | 1983-05-04 | 1984-12-04 | Nitto Boseki Co Ltd | 繊維状ガラス中の導電性物質の検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0471459B2 (ja) | 1992-11-13 |
| US4825158A (en) | 1989-04-25 |
| EP0249980A3 (en) | 1989-07-19 |
| KR880000789A (ko) | 1988-03-29 |
| EP0249980B1 (en) | 1992-03-18 |
| KR960009760B1 (ko) | 1996-07-24 |
| EP0249980A2 (en) | 1987-12-23 |
| DE3777460D1 (de) | 1992-04-23 |
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