JPS62263437A

JPS62263437A - Ｍｔｆ測定装置

Info

Publication number: JPS62263437A
Application number: JP10817186A
Authority: JP
Inventors: Takashi Hamaoka; 浜岡　隆; Fukashi Ogawa; 小川　深志
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1986-05-12
Filing date: 1986-05-12
Publication date: 1987-11-16

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は光学式情報記録再生装置の光ディスク等に対し
情報を記録再生するための光ピックアップの評価装置に
使用される？ＪＴＦ測定装置に関するものである。

〔従来の技術〕

光学式情報記録再生装置において、ＭＴＦとは、光ディ
スクから光ピックアップにより再生された［ＥＦＭ変調
方式によるＥＦＭ信号（ＲＦ倍信号のアイパターンにお
ける３Ｔ振幅値と１１Ｔ振幅値との比、即ちＭＴＦ　＝
　３Ｔ／１１Ｔを云う。従来、かかるＭＴＦはＲＦ倍信
号あるＥＦＭ信号をオシロスコープでモニタし、そのア
イパターンの３Ｔ〜１１Ｔ信号成分のうちの３Ｔ成分の
振幅値と１１Ｔ成分の振幅値とを視覚により測定し、こ
れらの値を計算により算出していた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

かように従来のオシロスコープによるＭＴＦの測定装置
においては、ＥＦＭ信号のアイパターンを直接視覚によ
り読取るため能率が悪く、しかも誤差が必ず発生する欠
点がある。特にこの誤差は比較的大きく、しかも個人に
よる差が著しい欠点がある。

本発明は上述した欠点を除去し、ＭＴＦの値を視覚によ
らないで電気的に且つ自動的に測定するＭＴＦ測定装置
を提供することを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明ＭＴＦ
測定装置は、光ピックアップにより再生されたＥ　Ｆ　
Ｍ信号をピーク・ボトムホールドしてＥＦＭ信号の正及
び負のエンベロープを検出する手段と、ＥＦＭ信号をデ
ィジタル信号に変換する波形整形手段と、ＥＦＭ信号の
１７２周期毎に前記ピーク・ボトムホールド手段をリセ
ットするパルスを発生する手段と、該リセットパルス及
び前記波形整形手段のディジタル出力を受けてＥＦＭ信
号の３Ｔ及び１１Ｔ信号成分を抽出し、これら信号成分
あサンプルホールドクロックパルスを夫々発生する手段
と、該クロックパルスにより前記ピーク・ボトムホール
ド手段の出力電圧をサンプルホールドして３Ｔ及び１１
Ｔ信号成分のピーク・サンプルホールド電圧並びに３Ｔ
及び１１Ｔ信号成分のボトムサンプルホールド電圧を夫
々発生する手段と、該３Ｔ信号成分のピーク・サンプル
ホールド電圧及びボトムサンプルホールド電圧の絶対値
の和の信号並びに前記１１Ｔ信号成分のピーク・サンプ
ルホールド電圧及びボトムサンプルホールド電圧を絶対
値の和の信号を３Ｔ及び１１Ｔ信号成分の振幅値として
夫々発生する演算手段と、該３Ｔ及び１１１信号成分の
振幅値を除算してＭＴＦの値を測定する手段とを備える
ことを特徴とする。

又、本発明ＭＴＦ測定装置の他の例では前記波形整形手
段はヒステリシス特性を有し、且つ前記演算手段の後段
にその出力電圧をピークホールドする手段を設け、これ
によりラジアルサーボをかけない場合にもＭＴＦの値を
確実に測定し得るようにしたことを特徴とする。

図面につき本発明を説明する。

、本発明ＭＴＦ測定回路の構成及び作動を第１及び２図
につき以下説明する。

第１図に示す本発明ＭＴＦ測定回路では光ピックアップ
により光ディスクから４分割素子を経て再生されたＥＦ
Ｍ変調方式によるＥＦＭ信号（ＲＦ倍信号を、増幅回路
を含むバッファアンプ１０に供給し、その出力信号（第
２図（ａ））をピーク・ボトムホールド回路１１に供給
すると共に波形整形回路１２にも供給する。このＥＦＭ
信号はラジアルサーボを行った場合に得られた信号とす
る。ピーク・ボトムホールド回路１１ではＢＦＭ信号即
ちＲＦ倍信号第２図（ａ））の＋側及び−側のエンベロ
ープ（第２図（ｅ）　、　、（ｆ）　）を検出する。即
ちこのピーク・ボトムホールド回路１１はピークホール
ド回路１１ａ及びボトムホールド回路１１ｂにより構成
し、ピークホールド回路１１ａではＢＦＭ信号の＋側の
エンベロープ（第２図（ｅ））を検出し、ボトムホール
ド回路１１ｂではＥＦＭ信号の一側のエンベロープ（第
２図げ））を検出する。

波形整形回路１２ではＲＦ信号貴第２図（ａ））を２値
化したディジタル信号ＤＲＦ　　（第２図ら））に変換
する。

かかる回路としてはＡ／Ｄ変換器である。この波形整形
回路１２は、これにヒステリシス特性を持たせてラジア
ルサーボを行わない場合に再生したＥ　Ｆ　！、！信号
でも確実に動作するように構成する。波形整形回路１２
の出力信号であるディジタル信号ＤＲＦをリセットパル
ス発生回路１３に供給し、ここでＥＦＭ信号（ＲＦ倍信
号の１／２周期毎にピーク・ボトムホールド回路１１を
リセットするためのパルス（第２図（Ｃ）　、　（ｄ）
　）を形成する。この場合リセットパルス発生回路１３
の一方の出力パルス（第２図（Ｃ））をピークホールド
回路１１ａに供給し、他方の出力パルス（第２図（ｄ）
）をボトムホールド回路ｕｂに供給する。又、波形整形
口ｖ４１２のディジクル信号ＤＲＦ（第２図（社））は
ＩＥＦＭ信号の３Ｔ周期の信号成分（第２図（（至）、
（Ｊ））だけを抽出する３Ｔ信号検出回路１４及びＥＦ
Ｍ信号の１１Ｔ周期の信号成分（第２図（ホ）、　（Ｑ
））だけを抽出する１１Ｔ信号検出回路１５にも供給す
る。

３Ｔ信号検出回路１４により抽出した３Ｔ信号（第２図
（ｇ）、（ｊ））を３Ｔ信号用のサンプルホールドクロ
ツタ発生回路１６に供給して抽出３Ｔ信号に同期したク
ロックパルス（第２図（ｉ）、　（１））を発生する。

又１１Ｔ信号検出回路１５により抽出した１１Ｔ信号（
第２図（ホ）、　（ｑ））　ヲ１１Ｔ信号用のサンプル
ホールドクロック発生回路１７に供給して抽出Ｌ１Ｔ信
号に同期したクロックパルス（第２図（ロ）、（１））
を発生する。

又、前述したピーク・ボトムホールド回路１１の出力信
号であるＲＦ倍信号エンベロープ信号（第２図（ｅ）　
、　（ｆ）　）はサンプルホールド回路１８に供給する
。

このサンプルホールド回路１８にはサンプルホールドク
ロック発生回路１６．１７の出力パルス（第２図（ｉ）
　、　’（１）、　（ｐ）　、　（ｔ）　）　）をも供
給する。サンプルホールド回路１８は４個のサンプルホ
ールド素子、即ち１１Ｔ信号のピーク・サンプルホール
ド素子１８ａ、３Ｔ信号のピーク・サンプルホールド素
子１８ｂ、１１Ｔ信号のボトムサンプルホールド素子１
８Ｃ及び３Ｔ信号のボトムサンプルホールド素子１８ｄ
により構成する。この場合ピークホールド回路１１ａの
出力信号であるεＦ？Ｊ信号の＋側エンベロープ信号（
第２図（ｅ））はピークホールド素子１８ａ及び１８ｂ
に供給し、ボトムホールド回路１１ｂの出力信号である
ＥＦＭ信号の一側エンベロープ信号（第２図〔ｆ〕）は
ボトムホールド素子１８Ｃ及び１８ｄに供給する。又３
Ｔ信号用のサンプルホールドクロツタ発生回路１６のピ
ーククロツタパルス（第２図（１））は３Ｔ信号用ピー
クサンプルホールド素子１８ｂに供給し、サンプルホー
ルドクロツタ発生回路１６のボトムクロツクパルス（第
２図（１））は３Ｔ信号用ボトムサンプルホールド素子
１８ｄに供給し、１１Ｔ信号用のサンプルホールドクロ
ツタ発生回路１７のピーククロックパルス（第２図（ｐ
））は１１Ｔ信号用ピークサンプルホールド素子１８ａ
に供給し、サンプルホールドクロツタ発生回路１７のボ
トムクロックパルス（第２図（ｔ））は１１Ｔ信号用の
ボトムサンプルホールド素子１８ｃに供給する。サンプ
ルホールド回路１８ではＥＦＭ信号即ちＲＦ倍信号３Ｔ
信号及び１１Ｔ信号に同期したクロックパルス（第２図
（ｉ）、　（１）、　（ｐ）、　（ｔ））によってＲＦ
倍信号エンベロープの３Ｔ信号及び１１Ｔ信号の＋側及
び−側の信号をサンプルホールドする。従ってこのサン
プルホールドされた出力信号（第２図（ｕ）、　（Ｖ）
、　（ｎ、　（Ｘ））はＲＦ倍信号３Ｔ信号及び１１Ｔ
信号が直流電圧に変換された信号となる。

サンプルホールド回路１８の出力信号を２個の減算器１
９ａ及び１９ｂに供給して直流電圧の形態の３Ｔ信号及
び１１Ｔ信号の振幅値を得るようにする。即ち１１Ｔ信
号のピークサンプルホールド素子１８ａの出力信号（第
２図（Ｕ））及び１１Ｔ信号のボトムサンプルホールド
素子１８Ｃの出力信号（第２図（Ｘ））を減算器１９ａ
に供給し、その出力信号を更にピークホールド回路２０
ａ及びローパスフィルタ回路２１ａを経て出力端子２２
ａに１１Ｔ信号の振幅値として取出し、且つ３Ｔ信号の
ピークサンプルホールド素子１８ｂの出力信号（第２図
（Ｖ））及び３Ｔ信号のボトムサンプルホールド素子１
８ｄの出力信号（第２図（ロ））を減算器１９ｂに供給
し、その出力信号を更にピークホールド回路２０ｂ及び
ローパスフィルタ２１ｂを経て出力端子２２ｂに３Ｔ信
号の振幅値として取出す。

ローパスフィルタ２１ａ及び２１ｂを用いた理由は光デ
ィスクの面ぶれ等の影響を除去するためである。

又ピークホールド回路２０ａの出力信号及びピークホー
ルド回路２０ｂの出力信号を割算器２３に供給し、ここ
で３Ｔ信号の振幅及び１１Ｔ信号の振幅の割算を行い、
その出力信号を更にローパスフィルタ２４により光ディ
スクの面ぶれ等の影響を除去して出力端子２５にＭＴＦ
信号として取出す。

上述したように本発明によれば電気回路を用いてＭＴＦ
の値を自動的に視覚にたよることなく精密に測定するこ
とができる。

又、本発明では減算器１９ａ、　１９ｂの後段にピーク
ホールド回路２０ａ、　２０ｂを用いることにより、光
ディスクに対しラジアルサーボを行わない場合でもＥＦ
Ｎ信号から３Ｔ信号成分及びＬ１Ｔ信号成分の振幅値、
従ってＭＴＦの値を自動的に測定することができる。

〔実施例〕

ＥＦＭ信号からその３Ｔ及び１１Ｔ信号成分のみを取出
す３Ｔ及び１１Ｔ信号検出回路１４及び１５を以下詳細
に説明する。

３Ｔ信号検出回路１４及びそのサンプルホールドクロッ
クパルス発生回路１６：２値化されたＥＦＭ信号（第２図（ｂ））の立上り、立
下りにより２．５Ｔ　（５７８，４ｍ５ｅｃ）幅のパル
スを％／テーブルマルチバイブレーク（以下ＭＭと称す
る）５．７で形成し、このパルスの立上りにより１Ｔ（
２３１，４ｍ５ｅｃ）幅のパルスをＭＭ６，８で形成す
る。

ＭＭ６．８で形成さるパルスは、２．５Ｔから３．５Ｔ
までの幅をもった時間窓に設定される。この時間窓に人
ってくる２値化されたＥＦＭ信号（第２図（社）の立上
り、立下りのパルスをＡＮＤ回路１．２で取り出し、こ
れらパルスを３Ｔの信号をサンプル・ホールドする回路
のサンプルクロック（第２図（ｉ）、（１））として用
い、ＥＦＭ信号中かｇ３Ｔの信号成分だけの抽出を行う
。。

１１Ｔ信号検出回路１５及びそのサンプルホールドクロ
ックパルス発生回路：１１Ｔ検出は、３Ｔ検出と同じように２値化されたＥＦ
Ｍ信号（第２図（ハ）の立上り、立下りにより１０，５
Ｔ　（２，４３ｐ　５ｅｅ）幅のパルスを？ＪＭ１，３
で形成し、このパルスの立上りにより１Ｔ（２３１，４
ｍ５ｅｃ）幅のパルスをＭＭ２．４で形成する。ＭＭ２
．４で形成されるパルスは、１０．５Ｔから１１．５Ｔ
までの幅をもった時間窓に設定される。しかし、ｌｌＴ
の場合、１１Ｔの間連続して、変化のない信号のみを検
出する必要がある。１１Ｔ以下の信号検出は、ｔｏ、　
５Ｔ（！ＪＭ　５　、６出力）幅のパルスのうちで１回
でも変化する信号（２値化されたＥＦＭ信号の立上り（
第２図（Ｃ））、立下り（第２図（ｄ））があった場合
にはＡＮＤ回路５゜６により強制的にＭＭＩ、３をリセ
ットし、かつ、ＦＦＩ、２をセットする。ＦＦＩ、２が
セットされたことによりＡＮＤ回路３．４の出力はＯＦ
Ｆ　となり１１Ｔのサンプルクロックは出力されなくな
る。そして、次の２値化されたＢＦＭ信号の立上り、立
下り信号から１１Ｔの検出を開始する。実際に１１Ｔの
信号の場合には、前記に設定された時間窓に入ってくる
２値化されたＥＦＭ信号の立上り、立下りのパルスをＡ
ＮＤ回路３．４で取り出し、これを１１Ｔの信号をサン
プルホールドする回路のサンプルクロック（第２図（ｐ
）、（ｔ））として用い、ＩＥＦＭ信号中から１１Ｔ信
号だけの抽出を行う。

本発明は上述した例にのみ限定されるものではなく種々
の変更を加えることができる。

例えば、ラジアルサーボをかけない場合のＭＴＦ測定を
行わない場合にはピークホールド回路２０ａ及び２０ｂ
は省略することができる。

又減算器１９ａ、１９ｂの代わりに、サンプルホールド
された信号の振幅の絶対値の和を得る回路を用いること
ができる。

更に本発明では第１図から明らかなように３Ｔ信号成分
及び１１Ｔ信号成分の振幅値を容易に取出すことができ
、従ってこれらの振幅値を他の種々の信号処理装置に簡
単に使用することができる。

〔発明の効果〕

上述したように本発明によれば従来のオシロスコープに
おける視覚による測定に較べて電気的に測定し得るため
ＭＴＦの測定精度を著しく向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明λｉＴＦ測定装置の１例を示すブロック
回路図、第２図は第１図の装置の種々の個所の信号のタイムチャ
ートを示す波形図である。１０・・・バッファアンプ１１・・・ピーク・ボトムホールド回路１１ａ・・・ピ
ーク・ホールド回路１１ｂ・・・ボトムホールド回路１２・・・波形整形回路１３・・・リセットパルス発生回路１４・・・３Ｔ信号検出回路１５・・・１１Ｔ信号検出
回路１６、１７・・・サンプルホールドクロック発生回
路１８・・・サンプルホールド回路ｉｓａ、　１８ｂ・・・ピークサンプルホールド素子１
８ｃ、　１８ｄ・・・ボトムサンプルホールド素子１９
ａ、１９ｂ　・・・減算器

Claims

【特許請求の範囲】１、光ピックアップにより再生されたＥＦＭ信号をピー
ク・ボトムホールドしてＥＦＭ信号の正及び負のエンベ
ロープを検出する手段と、ＢＦＭ信号をディジタル信号
に変換する波形整形手段と、ＥＦＭ信号の１／２周期毎
に前記ピーク・ボトムホールド手段をリセットするパル
スを発生する手段と、該リセットパルス及び前記波形整
形手段のディジタル出力を受けてＥＦＭ信号の３Ｔ及び
１１Ｔ信号成分を抽出し、これら信号成分のサンプルホ
ールドクロックパルスを夫々発生する手段と、該クロッ
クパルスにより前記ピーク・ボトムホールド手段の出力
電圧をサンプルホールドして３Ｔ及び１１Ｔ信号成分の
ピーク・サンプルホールド電圧並びに３Ｔ及び１１Ｔ信
号成分のボトムサンプルホールド電圧を夫々発生する手
段と、該３Ｔ信号成分のピーク・サンプルホールド電圧
及びボトムサンプルホールド電圧の絶対値の和の信号並
びに前記１１Ｔ信号成分のピーク・サンプルホールド電
圧及びボトムサンプルホールド電圧を絶対値の和の信号
を３Ｔ及び１１Ｔ信号成分の振幅値として夫々発生する
演算手段と、該３Ｔ及び１１Ｔ信号成分の振幅値を除算
してＭＴＦの値を測定する手段とを備えることを特徴と
するＭＴＦ測定装置。２、前記波形整形手段はヒステリシス特性を有し、且つ
前記演算手段の後段にその出力電圧をピークホールドす
る手段を設け、これによりラジアルサーボをかけない場
合にもＭＴＦの値を確実に測定し得るようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項に記載のＭＴＦ測定装
置。３、前記波形整形手段をＡ／Ｄ変換器としたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項又は第２項に記載のＭＴＦ
測定装置。４、前記ピーク・ボトムホールド手段はＥＦＭ信号の正
のエンベロープを検出するピークホールド回路と、ＥＭ
Ｆ信号の負のエンベロープを検出するボトムホールド回
路とを備え、前記サンプルホールド手段はＥＦＭ信号の
３Ｔ信号成分のピーク及びボトムをそのサンプルホール
ドクロックパルスによりサンプルホールドする回路と、
ＥＦＭ信号の１１Ｔ信号成分のピーク及びボトムをその
サンプルホールドクロックパルスによりサンプルホール
ドする回路とを備えることを特徴とする特許請求の範囲
第１項又は第２項に記載のＭＴＦ測定装置。５、前記３Ｔ信号成分検出及びサンプルホールドクロッ
クパルス発生手段は、２．５Ｔ信号成分を抽出する２個
のモノステーラグマルチバイブレータと、その出力及び
前記リセットパルス発生手段のリセットパルスを受けて
クロックパルスを発生する２個のＡＮＤ回路とを備える
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項に記
載のＭＴＦ測定装置。６、前記１１Ｔ信号成分検出及びサンプルホールドクロ
ックパルス発生手段は、１０．５Ｔ信号成分を抽出する
２個のモノステーブルマルチバイブレータと、１Ｔ信号
成分を抽出する２個のモノステーラグマルチバイブレー
タと、その出力及び前記リセットパルス発生手段の出力
を受けてクロックパルスを発生する２個のＡＮＤ回路と
、３Ｔ信号成分及び１１Ｔ信号成分間の信号成分により
セットされ、前記ＡＮＤ回路を禁止状態とする２個のフ
リップフロップと、３Ｔ信号成分及び１１Ｔ信号成分間
の信号成分を検出して前記１０．５Ｔ信号成分抽出用モ
ノステーブルマルチバイブレータをリセットする２個の
ＡＮＤ回路とを備えることを特徴とする特許請求の範囲
第１項又は第２項に記載のＭＴＦ測定装置。７、前記演算手段を減算器としたことを特徴とする特許
請求の範囲第１項又は第２項に記載のＭＴＦ測定装置。