JPS62247319A

JPS62247319A - 光学活性を示す物質の像形成方法及び装置

Info

Publication number: JPS62247319A
Application number: JP7538086A
Authority: JP
Inventors: Dee Aren Robaato; ロバート・デー・アレン
Original assignee: Hamamatsu Photonics KK
Current assignee: Hamamatsu Photonics KK
Priority date: 1986-04-01
Filing date: 1986-04-01
Publication date: 1987-10-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、試料の偏光、屈折等の光学的特性を利用して
試料の像を形成する光学活性を示す物質の像形成方法及
び装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、試料の種々の特性および性質を検査するために顕
微鏡とビデオカメラ等を組み合わせ、顕微鏡により得ら
れた光学像をビデオカメラ等で電気的像に変換してビデ
オモニタで観察すると共に、映像を記録するようにして
おくことが行われており、この場合顕微鏡としては、例
えば各種の組織繊維や骨格等の試料の研究、或いは染色
体等の複屈折性の観察による細胞分裂機構の分析等には
偏光顕微鏡が使用されている。

この偏光顕微鏡を使用するにあたっては、その感度を向
上させるためには、レンズの光の通過する領域の違いに
よる光学的特性の相違の結果化ずる十字パターンを除く
ことが必要であり、そのため対物レンズと集光レンズに
対してそれぞれ１個の偏光調整器を設けることが極く希
れではあるが行われている。

また偏光調整器を用いずに、解像度、コントラスト、像
の忠実度等を上げるために、アイリス絞り及び補償器を
有する偏光顕微鏡と、ゲイン制御回路及び直流再生回路
を有するビデオカメラとを用いることも行われており、
この場合、先ずビデオカメラのゲインと、直流再生回路
のクランプレベルとを最低値に設定し、次に偏光顕微鏡
のアイリス絞りを部分的に閉じ、補償器を試料と同じバ
イアスレターデージ四ンにほぼ等しい分だけ正又は負の
方向に設定し、更に、絞りを顕微鏡対物レンズの最大作
動開口に開き、補償器を、光源輝度に従って約λ／９〜
λ／４のバイアスレターデーシランに設定し、直流再生
回路のゲインとクランプレベルを大きくして、ビデオモ
ニタ上に表示される像のコントラストを最適に調整する
ようにしている。ここで補償器のバイアスレターデージ
四ンを、λ／９〜λ／４に設定しているのは、この範囲
の設定値によれば、背景と試料の明るさとの差が増加す
ることが見出されたからである。このような高バイアス
レターデーションで検査された試料を観察した場合には
、背景の輝度レベルが大きいために、見ることができな
いこともあるが、ビデオカメラのゲインと、直流再生回
路のクランプレベルを上げれば、極めて微少なコントラ
ストの像をビデオモニタに表示できる。

また、レンズの処置不可能な汚れや欠陥のために、高利
得下で生ずるまだら模様を除くために、ビデオフレーム
メモリ内に種々のまだらパターンを記憶しておき、この
パターンを減算して鮮明な像を作ることが行われている
。

さらに、吸収、散乱、及び屈折等に起因し、偏光物体が
ないのに生ずる傷内のコントラスト、所謂、明視野コン
トラストを除くために、例えば、補償器を＋２０＠に手
動設定し、このとき得られた像を、逆符号の設定値−２
０°に手動設定して得られた像から減算するためのビデ
オフレームメモリを用いることが提案されている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、偏光顕微鏡の感度を上げるための偏光調
整器は、製造が極めて困難で、そのため高価になってし
まい、アイリス絞り及び補償器を存する偏光顕微鏡と、
ゲイン制御回路及び直流再生回路を有するビデオカメラ
とを用いる方法は、調整が極めて面倒である。また、ビ
デオフレームメモリ内に種々のまだらパターンを記憶し
ておき、このパターンを減算する方法は、現実に生ずる
種々のまだら模様に必ずしも十分には対応できず、完全
なものとは言えない、また補償器を逆符号に設定して明
視野コントラストを除く方法は、補償器の設定を手動で
行わなければならず、調整に時間がかかり、被検物体に
短時間に発生する変化を観察することはできない。

本発明は上記問題点を解決するためのもので、傷内のま
だら模様を完全に除去すると共に、手動調整を行わずに
明視野コントラストを除去し、短時間内における物体の
偏光特性の変化も観察することのできる光学活性を示す
物質の像形成方法及び装置を提供することを目的とする
。

〔問題点を解決するための手段〕

そのために本発明の光学活性を示す物質の像形成方法及
び装置は、交流駆動電気光学式変調装置により偏光ビー
ムの偏光状態を、第１の状態と第２の状態に繰り返し連
続的に変化させ、各偏光状態において生成される像を電
気信号に変換し、得られた像信号を演算処理して像形成
を行うこと、及び電気光学式光変調装置を有する偏光顕
微鏡と、電気光学式光変調装置を交流駆動し、偏光顕微
鏡を通過する光の偏光の状態を、第１の状態と第２の状
態に繰り返し連続的に変化させる交流電源と、光学像を
電気的信号に変換して電子像を得る電子像形成手段と、
電子像形成手段の出力が入力され、第１の偏光状態にお
ける第１の像信号と第２の偏光状態における第２の像信
号をそれぞれ記憶する第１及び第２フレームメモリ部、
第１１第２の像信号を演算処理して第３の像信号を生成
する第３フレームメモリ部からなるビデオフレームメモ
リ部と、ビデオフレームメモリ部の動作を制御する制御
装置と、交流電源をビデオフレームメモリ部の動作に同
期させる同期手段と、ビデオフレームメモリ部の出力を
表示するモニタ装置とからなることを特徴とする。

〔作用〕

本発明の光学活性を示す物質の像形成方法及び装置は、
交流駆動電気光学式変調装置により偏光ビームの偏光状
態を、第１の状態と第２の状態に繰り返し連続的に変化
させ、各偏光状態において生成される像を電気信号に変
換し、得られた像信号を演算処理して像形成を行うこと
により、まだらパターンと明視野コントラストを最終像
から同時に除去する。像信号の演算処理は、第１又は第
２の偏光状態の像を、第２又は第１の偏光状態の像から
減算すること、２個の像の比計算又は夫々の積算、及び
差分計算を含み、使用される偏光顕微鏡は、複屈折、旋
光、直線偏光性、円偏光性、光路差、光路長勾配、又は
螢光偏光モード等で動作させる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。

第１図は本発明による光学活性を示す物質の像形成の全
体構成を示すブロック図である０図中、１１は像形成装
置、１３は偏光顕微鏡、１５はビデオカメラ、１７はビ
デオフレームメモリ装置、１９は電子計算機、２１は記
録装置、２３は電気光学式光変調装置、２５は交流電源
、２７はＡ／Ｄ変換器、２９は分配装置、３１は第１フ
レームメモリ、３３は第２フレームメモリ、３５は第３
フレームメモリ、３７は制ｍ装置、３９は同期回路、４
１はＤ／Ａ変換器、４３はモニタである。

次に作用を説明すると、交流電源２５からは矩形波信号
が出力され、この矩形波出力により偏光Ｕ徽鏡内の偏光
状態のＷＷに使用される電気光学式光変調装置２３が駆
動される。従って、半サイクルに偏光顕微鏡１３内の試
料を照射する偏光はある偏光状態をとり、他の半サイク
ルに試料を照射する偏光は他の偏光状態をとる。この２
つの偏光状態と、各偏光状態における偏光面の角度差は
、電気光学式光変調装置内の材料の種類と、駆動信号の
振幅とに依存し、各偏光状態における偏光面の角度差は
、検査対象の特定な光学的性質に応じて選択する０例え
ば、複屈折、旋光、干渉、及び螢光偏光モードでは、電
気光学式光変調器２３はレターデーションとして±λ／
９を生ずるように駆動され、直線偏光性と円偏光性モー
ドでは、電気光学式光変調装置２３は±λ／４のレター
デーションを生ずるように駆動される。

偏光顕微鏡１３で得られた像は、ビデオカメラ１５によ
り電気信号に変換され、Ａ／Ｄ変換器２７によりディジ
タル信号に変換される。このビデオカメラに代えて、光
電子倍増ピンクアップを持つ２軸レーザー走査装置、−
次元センサーアレイと組み合わせた一次元レーザー走査
装置、二次元ＣＣＤ又はＣＩＤカメラ等でもよい、Ａ／
Ｄ変換されたディジタル信号は、分配装置２９に加えら
れ、分配装置２９は、電気光学式光変調器２３がある偏
光状態のとき、フレームのデータ信号を第１フレームメ
モリ部３１に送り、電気光学式光変調器２３が他の偏光
状態のとき該フレームの信号を第２フレームメモリ部３
３に送出する。第３フレームメモリ部３５では、各メモ
リ部３１及び３３からの出力の差、比、又は夫々の積算
と差分を計算処理する。この処理は被検査試料の光学的
性質およびその研究目的に応じて選択実行される。

このような第３フレームメモリ部における演算処理の結
果、まだら模様と明視野コントラストが共に除去される
。この詳細は後述する。

制御装置３７はビデオフレームメモリ装置１７の動作全
体を制御し、同期回路３９は交流電源２５と分配装置２
９を同期させ、ある偏光状態中の偏光顕微鏡１３の出力
像を第１フレームメモリ部３１に送り、他の偏光状態で
は第２フレームメモリ部３３に送るように制御している
。

第３フレームメモリ部３５の出力は、Ｄ／Ａ変換器４１
によりアナログ信号に変換されてモニタ４３上に表示さ
れる。第３フレームメモリ部３５の出力は保存のため電
子計算機１９に送出されてもよく、モニタ４３上に表示
された像も記憶装置２１に記憶される。

本実施例で示した装置は、最終像のコントラストが複屈
折、旋光、直線偏光性、円偏光性、光路差、光路長勾配
、又は螢光偏光等、偏光に起因する場合の試料像の形成
に使用できる。

第２図は複屈折の場合の偏光顕微鏡１３の光学系を示す
図、第３図は波動ベクトル図で、同図（Ａ）は電気光学
式光変調装置における波動ベクトル図、同図（Ｂ）は４
分の１波長板における波動ベクトル図、同図（Ｃ）は試
料が無い状態における４分の１波長板を通過した光の波
動ベクトル図である０図中、５１は水銀アーク灯、又は
レーザ等の光源、５３は垂直に方向づけられた偏光子、
１３−１は偏光顕微鏡、５５は集光レンズ、５７は対物
レンズ、５９は角度０°に固定された４分の１波長板、
６１は検光子、Ｓは試料である。

次に作用を説明すると、偏光子５３は、第３図（Ａ）の
ｙ方向に偏光面を持つているので、光源５１からの光が
偏光子５３を通ると、ｙ方向成分のみの例えばａ　ｓｉ
ｎωｔ　　（ａは振幅、ωは角速度、ｔは時間）となる
、この光が、偏光入射面に対して４５°傾けられた光学
軸を持つ電気光学式光変調装置２３に入射すると、同図
（Ａ）のＸ軸方向の成分はレタデーシッンを受け、Ｙ軸
方向の成分は、入射光と同相となる。この電気光学式光
変調装置２３は、Ｐｏｃｋｅｌｓ効果を有するＰＬＺＴ
セラミンク、ニオブ酸リチウム結晶、ＫＤＰ結晶、電歪
変調器、又は他のレターデーションを生するものでよく
、更に、偏光面に角回転を与えるファラデセルと、この
後に０°方向にした４分の１波長板が設けられたもので
も良い、ここで、話を一般化するために電気光学式光変
調装置２３によるレタデーシッンの値をΔとすると、となる、今、試料が無い状態を考えると、Ｘ軸方向成分
、Ｙ軸方向成分は変化を受けずに０′″に方向付けた４
分の１波長板５９に入射する。４分の１波長板５９にお
けるＸ軸方向成分、ｙ軸方向成分を考えると、Ｘ成分：　−（ｓｉｎ（ωｔ±Δ）　　ｓｉｎωｔ〕Δ
　　　　　　　　　Δ π ＋５ｉｎ（ωｔ　＋　　−））となる、これをベクトル図で表すと第３図（Ｃ）のよう
になり、ｙ軸を対称に交互にΔ／２だけ偏光面が回転す
る。Δがλ／９、即ち４０°の場合、電気光学式光変調
装置２３による変調に応じて、±２０°偏光面偏光転す
ることとなる。これを、偏光子５３に対して９０°の偏
光角を有する検光子６１に通すと、第３図（Ｃ）のベク
トルのＸ成分だけが得られ、試料が無い状態では両者の
差は零となる。即ち偏光に起因しないバックグラウンド
はすべてキャンセルされて出力側には現れない。

一方、偏光物体としての試料が存在する場合には、対称
性がくずれて差出力が得られる。

こうして、サイクルの正の半分の間の信号を第１フレー
ムメモリ部３１に送り、負の半サイクル中の信号を第２
フレームメモリ部３３に送出し、フレームメモリ部３１
及び３３の出力同士を減算する。第２フレームメモリ部
３３の出力を第１フレームメモリ部３１の出力から減算
すると、第３フレームメモリ部３５から得られる出力は
あるコントラストを有する像を生成することになる。こ
れに対し、第１フレームメモリ部３３の出力から減算す
ると、第３フレームメモリ部３５から得られる像出力は
逆のコントラストを有する像を生成する０両方の場合に
おいて、複屈折によるコントラストは２倍になり、まだ
らパターン、明視野コントラスト、及び、他の光学的性
質によるコントラストは除去される。

第４図は旋光の場合の偏光顕微鏡１３の光学系を示す図
である０図中、１３−２は偏光顕微鏡である。偏光顕微
鏡１３−２は、４分の１波長板５９が、対物レンズ５７
の後方でなく、電気光学式光変調器２３と集光レンズ５
５の間にある点て第１図の偏光ｌｕ徽鏡１３−１と相違
している。

第４図の場合は、第２図、第３図で試料の無い状態とし
て説明したように、電気光学式光変調装置２３で±λ／
９のレターデーシランを与えると、±２０°の旋光が生
じる。これは、角度０＠の４分の１波長板が位相変化を
偏光面の回転に変換するからである。ビデオフレームメ
モリ装置１７内で行われる処理は、第２図のものと同様
であるが、最終像は旋光によるコントラストを有する。

なお、ファラディセルは、後部に４分の１波長板を持つ
電気光学式光変調装置２３が生成する旋光に同等な旋光
を生ずるので、第４図の構成の電気光学式光変調器２３
と４分の１波長板５９の代わりにファラディセルを用い
てもよい。

第５図は直線二色性の場合の偏光顕微鏡１３の光学系を
示す図、第６図は第５図の光学系配置における波動ベク
トルを示す図である０図中、１３−３は偏光顕微鏡であ
る。偏光顕微鏡１３−３は、４分の１波長板５９が、電
気光学式光変調器２３の後方にθ°の方向付けで置かれ
る代りに、電気光学式変調器２３の前方に４５°の方向
付けで設置される点で第４図の偏光顕微鏡１３−２と相
違している。

次に作用を説明すると、Ｏｏに方向付けられた偏光子５
３からの偏光光が、４５＠の方向付けで設置された４分
の１波長板５９と±λ／４のレタデーシッンを与える電
気光学式光変調器２３を通ると、４５°方向の成分は、
λへ±λへ−Ｑｏｒλ／２の偏光を受ける。従って、第
６図に示すように、−λ／４のレタデーシッンのときは
偏光子５３からの偏光光は偏光を受けずにｙ軸方向ベク
トルａとなり、＋λ／４のレタデーシッンのときはＸ軸
方向成分とＹ軸方向成分を合成すると、Ｘ軸方向ベクト
ルｂとなる。！ｊち両偏光状態で互いに直角なベクトル
ａとベクトルｂが交互に得られ、これが試料Ｓに照射さ
れることとなる。こうして得られた試料Ｓの像信号は、
第１、第２フレームメモリ部３１．３３にそれぞれ送ら
れる。フレームメモリ部３１と３３の出力像はフレーム
メモリ部３５内でｍＸ又は割算を実行されて偏光特性の
差又は比のコントラストの像がフレームメモリ部３５内
に得られる。

第７図は円偏光性の場合の偏光顕微鏡１３の光学系を示
す図である０図中、１３−４は偏光顕微鏡を示す、偏光
顕微鏡１３−４は、４分の１波長板５９が除かれている
点で第５図の偏光ＷＪｉ徽鏡１３−３と相違している。

第７図の場合は、４５°配置の電気光学式光変調器２３
で、４５′″方向の成分に±λ／４のレタデーシッンを
与えることにより右廻り偏光と、左廻り偏光を作ってや
り、これを試Ｓに照射して両偏光状態における像比較を
行う、比較は両偏光状態における差でも比でもよく、第
７図の場合と同様である。

第８図は屈折による光路差を求める場合の光学系を示す
図、第９図はビーム分割器と４分の１波長板の作用を示
す図である０図中、１３−５は偏光顕微鏡、６３．６５
は複屈折ビーム分割器を示す、偏光顕微鏡１３−５は、
１対の複屈折ビーム分割器６３及び６５を、各々レンズ
５５及び５７の出力面と入力面上に有することと、４分
の１波長板６７をビーム分割器６３の出力面上に持つ点
である。

次に作用を説明すると、偏光子５３からの偏光光は、第
９図に示すように、ビーム分割器６３で、例えば互いに
直交するビームＣとｄとに分ける。

ビームＣとｄは互いに直交しているので、４分の１波長
板６７を通ると、一方を右廻り偏光とすると、他方は左
廻り偏光となる。そしてビームＣを試料Ｓに通し、ビー
ムｄを参照光としてビーム分割器６５で合成する。Ｂ折
率差による光路差をもたらす試料Ｓが無ければ、合成さ
れたものは、最初の直線偏光光となり、変調器２３にお
ける±λ／９のレタデーシッンを与えたときの両出力光
の差は０である。試料Ｓが存在すると、その屈折率、厚
みにより決まる光路差が生じて、ビームＣとｄの干渉が
起こる０合成されたものは、一般的には楕円偏光となり
、検光子６１を通して比較することにより光路差のみに
依存した像を得ることができる。

第１０図は光路長勾配によるコントラストの像を求める
場合の光学系を示す図である０図中、１３〜６は偏光顕
微鏡、６９．７１はプリズムである。偏光顕微鏡１３−
６は一対の−ｏ１１ａｓｔｏｎプリズム６９と７１を有
し、レンズ５５の前方と、レンズ５７の後方に各プリズ
ムを配置していることである。

次に作用を説明すると、±λ／９のレタデーシッンを与
えられた光をプリズム６９で微妙に分割する０分割した
一方の光を試料Ｓに通し、他方を参照光としてプリズム
７１で合成すると、試料Ｓにより生じた微小な光路差、
即ち光路長勾配に起因する像が得られる。

第１１図は螢光偏光を検査するための偏光顕微鏡１３の
光学系を示す図である０図中、１３−７は偏光顕微鏡、
７３は励起波長フィルター、７５はダイクロイックビー
ムスプリッタ−１７７はロングパスフィルター、７９は
レンズである。

図において、光源５１からの光は、レンズ５５、励起波
長フィルター７３、偏光子５３．４分の１波長板５９、
電気光学式光変調器２３を通過し、ダイクロイックビー
ムスプリッタ−７５で偏向を受け、対物レンズ５７を介
して試料に当たり、これによって試料Ｓが螢光を発する
。螢光の長波長光はダイクロイックビームスプリッタ−
７５を透過し、次にロングパスフィルター７７、レンズ
７９を通り、ビデオカメラ１５により像が表示される。

電気光学式光変調器２３は、第５図の直線偏光性動作モ
ードと同様に、水平方向と垂直方向との間で偏光方向を
変える。ビデオフレームメモリ装置１７は、水平方向と
垂直方向の偏光光により得られた強度信号ｘｐとｌｘを
各々記憶し、ｒｐ−１ｘ／Ｉｐ＋Ｉｘで表される出力像
を生成する。

これによって、励起された分子の旋光状態を定量的に知
ることができる。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、電気
光学式変調器を交流信号により駆動することにより、傷
内のまだら模様を完全に除去すると共に、手動調整を行
わずに明視野コントラストを除去し、短時間内における
物体の偏光特性の変化も観察することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光学活性を示す物質の像形成の全
体構成を示すブロック図、第２図は複屈折の場合の偏光
顕微鏡１３の光学系を示す図、第３図は波動ベクトル図
で、同図（Ａ）は電気光学式光変調装置における波動ベ
クトル図、同図（Ｂ）は４分の１波長板における波動ベ
クトル図、同図（Ｃ）は試料が無い状態における４分の
１波長板を遭遇した光の波動ベクトル図、第４図は旋光
の場合の偏光顕微鏡の光学系を示す図、第５図は直線二
色性の場合の偏光Ｕ徽鏡の光学系を示す図、第６図は第
５図の光学系配置における波動ベクトルを示す図、第７
図は円偏光性の場合の偏光顕微鏡の光学系を示す図、第
８図は屈折による光路差を求める場合の光学系を示す図
、第９図はビーム分割器と４分の１波長板の作用を示す
図、第１０図は光路長勾配によるコントラストの像を求
める場合の光学系を示す図、第１１図は螢光偏光を検査
するための偏光顕微鏡の光学系を示す図である。　　１
１・・・像形成装置、１３．１３−１〜１３−７・・・
偏光顕微鏡、１５・・・ビデオカメラ、１７・・・ビデ
オフレームメモリ装置、１９・・・電子計算機、２１・
・・記録装置、２３・・・電気光学式光度！ｊｉ装置、
２５・・・交流電源、２７・・・Ａ／Ｄ変換器、２９・
・・分配装置、３１・・・第１フレームメモリ、３３・
・・第２フレームメモリ、３５・・・第３フレームメモ
リ、３７・・・制御装置、３９・・・同期回路、４１・
・・Ｄ／Ａ変換器、４３・・・モニタ、５１・・・光源
、５３・・・偏光子、５５・・・集光レンズ、５７・・
・対物レンズ、５９・・・４分の１波長板、６１・・・
検光子、Ｓ・・・試料、６３．６５・・・複屈折ビーム
分割器、６９．７１・・・プリズム、７３・・・励起波
長フィルター、７５・・・グイクロインクビームスプリ
ンター、７７・・・ロングパスフィルター、７９・・・
レンズ出　願　人　　浜松ホトニクス株式会社代理人弁理士　
蛭　　川　　昌　　信（Ｃ）第４図第５図第６図第７図第８図第１１図手続主甫正書（方式）昭和６１年　７月　４日１、事件の表示　昭和６１年特許願第７５３８０号３、
補正をする者事件との関係　　特許出願人代表取締役　査　馬　輝　夫４、代理人昭和６１年　６月　４日（発送日　昭和６０年　６月２４日）６、補正により増加する発明の数　　　な　し８、補正
の内容（１）願書を別紙の通り補正する。（２）図面第３図（Ｃ）、第４図及び第５図を別紙の通
り補正する。９、添付書類の目録（１）理由書　　　　　　１通第３図（’Ｃ）第４図第５図手続ネ甫正：Ｓ：（自発）昭和６２年　３月１７日１、事件の表示　昭和６１年特許願第７５３８０号２、
発明の名称　光学活性を示す物質の像成形方法及び装置
３、補正をする者事件との関係　　特許出願人住　　所　静岡県浜松市市野町１１２６番地の１名　　
称　浜松ホトニクス株式会社代表取締役　長　馬　輝　夫４、代理人５、補正により増加する発明の数　　　な　し第１０図第１１図手続ネ甫正書１発）手続補正口昭和６２年　５月ノ５日１、事件の表示　昭和６１年特許願第０７５３８０号２
、発明の名称　光学活性を示す物質の像形成方法及び装
置３、補正をする者事件との関係　　特許出願人住　　所　静岡県浜松市市野町１１２６番地の１名　　
称　浜松ホトニクス株式会社代表取締役　書　馬　耀　夫４、代理人住　　所　東京都台東区上野３丁目１７番９号タイムビ
ル２（６階）梓特許事務所氏　　名　（９２４９）　　弁理士　蛭　川　昌　信５
、補正により増加する発明の数　　　な　し６、補正の
対象　昭和６２年３月１７日付提出の手続補正口の発明
の名称の欄特許庁長官　黒　１）明　雄　殿１、事件の表示　昭和６１年特許願第０７５３８０号２
、発明の名称　光学活性を示す物質の像形成方法及び装
置３、補正をする者事件との関係　　特許出願人住　　所　静岡県浜松市市野町１１２６番地の１名　　
称　浜松ホトニクス株式会社代表取締役　１　馬　輝　夫４、代理人

Claims

【特許請求の範囲】

（１）交流駆動電気光学式変調装置により、偏光ビーム
の偏光状態を、第１の状態と第２の状態に繰り返し連続
的に変化させ、各偏光状態において生成される像を電気
信号に変換し、得られた像信号を演算処理して像形成を
行うことを特徴とする光学活性を示す物質の像形成方法
。
（２）電気光学式光変調装置を有する偏光顕微鏡と、電
気光学式光変調装置を交流駆動し、偏光顕微鏡を通過す
る光の偏光の状態を、第１の状態と第２の状態に繰り返
し連続的に変化させる交流電源と、光学像を電気的信号
に変換して電子像を得る電子像形成手段と、電子像形成
手段の出力が入力され、第１の偏光状態における第１の
像信号と第２の偏光状態における第２の像信号をそれぞ
れ記憶する第１及び第２フレームメモリ部、第１、第２
の像信号を演算処理して第３の像信号を生成する第３フ
レームメモリ部からなるビデオフレームメモリ部と、ビ
デオフレームメモリ部の動作を制御する制御装置と、交
流電源をビデオフレームメモリ部の動作に同期させる同
期手段と、ビデオフレームメモリ部の出力を表示するモ
ニタ装置とからなる光学活性を示す物質の像形成装置。
（３）前記偏向顕微鏡は、電気光学式光変調装置の前方
に垂直方向に方向付けられた偏光子と、前記光変調装置
の後方に設けられた集光レンズ及び対物レンズとを備え
たことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の光学活
性を示す物質の像形成装置。
（４）前記電気光学式光変調装置は、複屈折によるコン
トラストを持つ像を生成するために配列されていること
を特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学活性を示
す物質の像形成装置。
（５）前記電気光学式光変調装置は、直線偏光性による
コントラストを持つ像を生成するために配列されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学活性
を示す物質の像形成装置。
（６）前記電気光学式光変調装置は、円偏光性によるコ
ントラストを持つ像を生成するために配列されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学活性を
示す物質の像形成装置。
（７）前記電気光学式光変調装置は、光路差によるコン
トラストを持つ像を生成するために配列されていること
を特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学活性を示
す物質の像形成装置。
（８）前記電気光学式光変調装置は、光路長勾配による
コントラストを持つ像を生成するために配列されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第第３項記載の光学活
性を示す物質の像形成装置。
（９）前記電気光学式光変調装置は、螢光偏光によるコ
ントラストを持つ像を生成するために配列されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光学活性を
示す物質の像形成装置。