JPS62235214A - Production of semiconductive srtio3 particle and high-dielectric constant ceramic - Google Patents
Production of semiconductive srtio3 particle and high-dielectric constant ceramicInfo
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- JPS62235214A JPS62235214A JP61258649A JP25864986A JPS62235214A JP S62235214 A JPS62235214 A JP S62235214A JP 61258649 A JP61258649 A JP 61258649A JP 25864986 A JP25864986 A JP 25864986A JP S62235214 A JPS62235214 A JP S62235214A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、高容量2層(BL)コンデンサあるいは高容
量積層(ML)コンデンサを作るのに適した半導電性S
rTiO3粒子の製法、およびその粒子を使用した高誘
電率セラミックの製法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Field of Industrial Application" The present invention provides a semiconducting S
The present invention relates to a method for producing rTiO3 particles and a method for producing high dielectric constant ceramics using the particles.
「従来の技術」
積層コンデンサはプラスとマイナスの対の電極を連続さ
せて積みあげ、一方の電極と他方の電極をそれぞれ両端
で連結させ、各組の面積を加えたもの、すなわちその成
分合計がコンデンサの有効面となるようにしているので
、容量を増し物理的大きさを減少させる方法である。``Prior art'' In a multilayer capacitor, pairs of positive and negative electrodes are stacked in series, one electrode and the other electrode are connected at both ends, and the sum of the areas of each pair, that is, the sum of the components, is This is a method of increasing the capacitance and decreasing the physical size since it is made to be the effective surface of the capacitor.
小型大容量コンデンサの製法に粒界バリヤー層セラミッ
クを使用することは、相当前から公知である。早くも、
19130年、英国出願849938号は、水素ガス中
1450℃で高純度BaTi03を焼結して、平均粒径
1ト■多孔性で半導電性のBaTi03を作ることを開
示している。この物質は、その後大気中、650〜10
00℃で酸化され、約Ions厚さの絶縁酸化内部粒界
バリヤー層となる。そのような誘電体セラミックから形
成するコンデンサの特性は、有効誘電率k(もしくはε
)は約100000、損失tanδは5 KHz 、
5 Vrmsで約0.03(Q=約30)である。The use of grain boundary barrier layer ceramics in the manufacture of small, high capacity capacitors has been known for some time. As early as,
In 19130, British Application No. 849938 disclosed the sintering of high purity BaTi03 at 1450° C. in hydrogen gas to produce porous, semiconducting BaTi03 with an average particle size of 1 t. This substance is then released into the atmosphere at 650-10
Oxidized at 0.000 C to result in an insulating oxidized internal grain boundary barrier layer approximately Ions thick. The characteristics of a capacitor formed from such a dielectric ceramic are the effective permittivity k (or ε
) is about 100000, loss tan δ is 5 KHz,
It is about 0.03 (Q=about 30) at 5 Vrms.
上記物質は、過剰の気孔を有し、温度上、不安定で、操
作電圧が低いので、技術上実質的に捨てられ、代りにラ
ンタン、ニオブ、タングステンのような遷移金属でドー
プした半導電性チタン酸ストロンチウムを使用し、ジル
コニア、タングステン酸ビスマス、ゲルマニウム酸鉛や
その他(例えば日本出願52−10598号参照)のよ
うな液相バリヤー粒界物質と混合して、あるいはそのま
ま焼結している。液相なしで焼結する場合、ドープした
SrTiO1スラブに金属酸化物をコーティングした後
、酸化雰囲気中で焼成すると、粒界物質は表面から拡散
して生じた(日本出願50−27996号参照)。Due to their excessive porosity, thermal instability, and low operating voltage, these materials have been essentially abandoned in technology and replaced with semiconducting materials doped with transition metals such as lanthanum, niobium, and tungsten. Strontium titanate has been used and sintered as is or mixed with liquid phase barrier grain boundary materials such as zirconia, bismuth tungstate, lead germanate and others (see, for example, Japanese Application No. 52-10598). In the case of sintering without a liquid phase, when doped SrTiO1 slabs were coated with metal oxides and then fired in an oxidizing atmosphere, grain boundary materials were generated by diffusion from the surface (see Japanese Application No. 50-27996).
の調整法を開示しており、それはSrTiOz 、 N
b2O5とGeO2からなるスラリーと有機バインダー
とでディスクに形成し、水素を含む雰囲気中で1350
〜1480℃で焼成している。絶縁粒界層は、Bi2O
3でディスク表面をコーティングし、 1300℃で焼
成することにより形成され、この焼成により溶融酸化物
の拡散をセラミック中に生じさせる。誘電率的3〜5X
104.係数Q約100が得られた。discloses a method for preparing SrTiOz, N
A slurry consisting of b2O5 and GeO2 and an organic binder is formed into a disk, and heated to 1350°C in an atmosphere containing hydrogen.
It is fired at ~1480°C. The insulating grain boundary layer is Bi2O
3 on the disk surface and firing at 1300°C, which causes diffusion of molten oxide into the ceramic. Dielectric constant 3~5X
104. A coefficient Q of approximately 100 was obtained.
日本出願51−848は、SrTiO3とNb2O5と
C。Japanese application No. 51-848 discloses SrTiO3, Nb2O5 and C.
02との混合物を1450℃N 27 H2雰囲気中で
焼結することを開示している0粒界層は、5i02、B
203 、GeO2,P205.Al2O3、MgO1
ZnO1Bi203 とTiO2から選択されるガラス
酸化物を使用して、1100℃で液体拡散することによ
り得られる。The grain boundary layer of 5i02, B
203, GeO2, P205. Al2O3, MgO1
Obtained by liquid diffusion at 1100° C. using glass oxides selected from ZnO1Bi203 and TiO2.
日本出願58−97820は、SrTiO3 、 WO
x 、 Ge20、Al2O3と5i02の混合物を加
圧形成したものを1350〜1450℃、l/99水素
/窒素雰囲気中で焼結することにより半導電性セラミッ
クを作るこJ−f;−[ul 云I、fイス−Pj’1
.fzsg、 PbO,I’l 90t とBi20z
の混合物は、セラミック中に1150〜1300°Cで
溶融拡散されて絶縁層リヤ一層が形成される。誘電率(
ε)約100,000 、 Q係数2QOとなる好まし
い特性は、Si/ A1203の1量比が約1.5〜5
.0で得られた。平均粒径は60〜120gmであり、
粒界層の抵抗率は約2X109Ω・C11であった。Japanese application No. 58-97820 describes SrTiO3, WO
A semiconductive ceramic is made by pressurizing a mixture of x, Ge20, Al2O3 and 5i02 and sintering it at 1350-1450°C in a 1/99 hydrogen/nitrogen atmosphere. I, f chair-Pj'1
.. fzsg, PbO, I'l 90t and Bi20z
The mixture is melted and diffused into the ceramic at 1150-1300°C to form a single insulating layer. Dielectric constant (
ε) about 100,000 and a Q coefficient of 2QO is preferable when the Si/A1203 ratio is about 1.5 to 5.
.. Obtained at 0. The average particle size is 60-120gm,
The resistivity of the grain boundary layer was approximately 2×10 9 Ω·C11.
日本出願52−10598は、Nb205 、Ta20
]、W O3もしくはTiO2のような酸化物と混合
し、還元雰囲気中、約1400℃で焼成したドーピング
SrTiO3を開示している。ドープが約1重量%であ
れば、10Ω・cmよりよい抵抗率が得られる。この出
願は、粒子を成長させる焼結添加剤としてSiO2を使
用し、粒径約10濤瓢のものを複層(BL)コンデンサ
に適用することを開示している。またこの出願は、Zr
O2をSrTiOxに添加して焼結することによりQ係
数と抵抗率を改善できることを教えている。境界層は、
PbO,B203とBi20)の混合物を液体拡散させ
ることにより得られる。Japanese application 52-10598 is Nb205, Ta20
], doped SrTiO3 mixed with oxides such as WO3 or TiO2 and calcined at about 1400° C. in a reducing atmosphere. If the dope is about 1% by weight, a resistivity of better than 10 Ω·cm is obtained. This application discloses the use of SiO2 as a sintering additive to grow particles with a particle size of approximately 10 tons for application in multilayer (BL) capacitors. This application also applies to Zr.
It is taught that the Q factor and resistivity can be improved by adding O2 to SrTiOx and sintering it. The boundary layer is
It is obtained by liquid diffusion of a mixture of PbO, B203 and Bi20).
典型特性はt = 30,000でQ ’> 200で
ある。Typical properties are Q'>200 at t = 30,000.
上記高誘電率セラミックの準備をするとき、内部粒子層
として使用するニオブドープした粒子は、ドープ金属組
成でSrTiO3をドープし、例えばニオブ酸化物と混
合して次にその混合物を焼成することにより生成する。When preparing the high dielectric constant ceramic described above, the niobium-doped particles used as the inner particle layer are produced by doping SrTiO3 with a doped metal composition, mixing with e.g. niobium oxide and then firing the mixture. .
なお、焼成は、例えば1450〜1500℃、H2/N
2のような還元雰囲気でする。またこの場合、炭酸スト
ロンチウム、TiO2、とNb2O5との混合物を焼成
してもよい。Note that the firing is performed at, for example, 1450 to 1500°C, H2/N
It is a reducing atmosphere like 2. Further, in this case, a mixture of strontium carbonate, TiO2, and Nb2O5 may be fired.
この技術は一般にBLコンデンサを製造するのに適した
実質的大きさく約10gm又はそれ以上)の粒子を形成
する場合に適している。しかし、積層コンデンサに適し
た大きさくすなわち10体m以下又はもっと小)の粒子
を作る場合にはあまり適していない。This technique is generally suitable for forming particles of substantial size (about 10 gm or more) suitable for making BL capacitors. However, it is not very suitable for producing particles of a size suitable for multilayer capacitors, that is, 10 m or less, or even smaller.
実際、半導体粒子の粒界に絶縁層を有するバリヤー層セ
ラミックの有効誘電:J(または有効絶縁定数)は、粒
径と絶縁層の厚さに対応する。この関係は、例えばTi
O2セラミックの超高誘′rL率キャパシタンス: M
、F 、 YAN and W 、 W 、 RHO
DES 。In fact, the effective dielectric: J (or effective insulation constant) of a barrier layer ceramic with an insulating layer at the grain boundaries of the semiconductor grains corresponds to the grain size and the thickness of the insulating layer. This relationship is, for example, Ti
Ultra-high di'rL capacitance of O2 ceramic: M
, F., YAN and W., W., RHO.
DES.
Be1l Laboratories、 Murra7
Hill、 N 、 J 、 0794;Adv
、 Gera 、 (1983) 、 Additio
n 、 InterfacesElectr、 Cer
ata 、 (7)、 22B−238に見られる。Be1l Laboratories, Murra7
Hill, N.J., 0794;Adv.
, Gera, (1983), Additio
n, Interfaces Electr, Cer
ata, (7), 22B-238.
C= Kgbφ D/d X S/eここでSとe
は、それぞれ焼結体ディスクの面積と厚さくcm)を表
わし、D 、 Kgb、 dはそれぞれ粒径、粒界絶縁
層(バリヤー層)の真の固*誘電定数、粒界絶縁層の厚
さを表わす、このようにして、粒径的10〜50gm、
粒界層102〜10’ nm。C= Kgbφ D/d X S/e where S and e
are the area and thickness (cm) of the sintered disk, respectively, and D, Kgb, and d are the grain size, the true dielectric constant of the grain boundary insulating layer (barrier layer), and the thickness of the grain boundary insulating layer, respectively. In this way, 10 to 50 gm in particle size,
Grain boundary layer 102-10' nm.
(0,1〜1仄m)のもので、有効誘電率104〜10
5が得られた。(0.1 to 1 m), with an effective dielectric constant of 104 to 10
5 was obtained.
しかし、粒径が約5〜10弘層となるとこの誘電体は、
積層コンデンサに不適切となる。その粒径は、30 p
−m程度が、誘電体として良好であり、このため、粒径
とバリヤー層厚さを付随させて減少させる努力がなされ
た。ゲルマニュム鉛とホウ酸塩とを焼結した液相(参照
: Cbaratrization ofIntern
al Boundary 1ayer Capact
ons: by H,D、PARK and D、A
、 PAYNE、 AdvanceSin Ceram
ics。However, when the particle size becomes about 5 to 10 layers, this dielectric material becomes
Not suitable for multilayer capacitors. Its particle size is 30p
-m is good as a dielectric, and efforts have therefore been made to concomitantly reduce the grain size and barrier layer thickness. Liquid phase obtained by sintering lead germanium and borate (see: Cbaratrization ofIntern
al Boundary 1 ayer Capact
ons: by H, D, PARK and D, A
, PAYNE, Advance Sin Ceram
ics.
Vol、1ページ242〜253.1982)では1粒
径0.5〜2、m、バリヤー層厚さ100 mm(0,
1#Lm )となっtanδ約1O−2)、小温度依存
(5〜1oz)である(参照米国特許4158219
、米国特許4237084)。tanδは損失係数、δ
は交流をコンデンサに流したときの位相角θと90°
との差であり、理想的には、コンデンサの出力損失がな
く、θをπ/2、δをOとすべきである。Qはtanδ
の逆数、例えばQ= 17tan δである。Vol, 1 page 242-253.1982), particle size 0.5-2, m, barrier layer thickness 100 mm (0,
1#Lm) and tan δ is about 1O-2), with small temperature dependence (5-1oz) (reference US Pat. No. 4,158,219).
, U.S. Pat. No. 4,237,084). tanδ is the loss coefficient, δ
is the phase angle θ and 90° when alternating current flows through the capacitor
Ideally, θ should be π/2 and δ should be O so that there is no output loss in the capacitor. Q is tanδ
For example, Q=17tan δ.
「発明が解決しようとする問題点」
従来、積層コンデンサの誘電率を大にし、損失を小にす
るためセラミック材料としての半導電体粒子、あるいは
粒子径やバリヤー層厚さを各種検討し、粒子径が小であ
るのが望ましいと考えられている。しかし従来の製法で
は、高誘電率で小損失の積層コンデンサを作るのに十分
小径の半導電体粒子を製造することができなかった。``Problems to be Solved by the Invention'' Conventionally, in order to increase the dielectric constant and reduce the loss of multilayer capacitors, various studies have been conducted on semiconductor particles as ceramic materials, particle diameters, and barrier layer thicknesses. It is considered desirable that the diameter be small. However, conventional manufacturing methods have not been able to produce semiconductor particles small enough to produce multilayer capacitors with high dielectric constant and low loss.
「問題点を解決するための手段」
従来技術の改良が望まれており、そして念入りで複雑な
粉砕処理をすることなく小さな同種のドープ粒子を得る
ためのドープ技術を発明した。そnδ)とを犠牲にする
ことなく高誘電率のセラミックが得られる0本発明の特
許請求の範囲(1)に記載した方法は、前進の第1歩で
ある。``Means for Solving the Problems'' An improvement over the prior art is desired and a doping technique has been invented to obtain small homogeneous dope particles without elaborate and complicated grinding processes. The method described in claim (1) of the present invention, in which a high dielectric constant ceramic can be obtained without sacrificing the dielectric constant nδ), is a first step forward.
よって、発明の定義による金属ドープSrTiO3を準
備するために使用する技術は、例えば保護雰囲気中(例
えば純粋窒素又はアルゴン) SrTiO3粉末をドー
プ金属アルコキシドのゾルゲル溶液に含浸又は混合する
ことである。エタノール、プロパツール、ブタノールア
セチルアセトンのような溶剤が適切であり、溶液中の金
属化合物の濃度は、約5〜20%である。ただしこの制
限は厳重ではなく、超過可能である。溶液は通常、少量
の水とゲル状触媒とを含む、この触媒は、粒子との混合
でゲル状層となる例えばHCI又は他の酸(あるいはN
H40Hのような塩基も可)であり、そのゲル状層はそ
の後乾燥され、加熱されて析出金属の酸化物中に移る。Thus, the technique used to prepare metal-doped SrTiO3 according to the definition of the invention is to impregnate or mix SrTiO3 powder into a sol-gel solution of the doped metal alkoxide, for example in a protective atmosphere (eg pure nitrogen or argon). Solvents such as ethanol, propatool, butanol acetylacetone are suitable, and the concentration of metal compound in solution is about 5-20%. However, this limit is not strict and can be exceeded. The solution usually contains a small amount of water and a gelled catalyst, such as HCI or other acids (or N
The gel-like layer is then dried and heated to transfer into the precipitated metal oxide.
適切な加熱処理は、空気中、400〜1000℃で1〜
2時間である。このように、ドープしていないSrTi
O3粉は、ニオビウムアルコキシド有機溶剤溶液に浸せ
きし、排水して90℃で乾燥し、低加熱速度(4℃/s
inが適切)で600℃まで空中加熱する。その後、燃
焼還元する。例えば2時間、還元雰囲気で1450〜1
500℃で加熱する、この還元雰囲気は、例えば1〜I
OX H2−Ar又はH2−N2ブラン’y−y )又
はCO/ C02(V/V)ブランケットが使用される
。適切な粒径のドープ粉を得るために、その後、還元物
質を破砕し、ボールミルで粉砕して、望ましい粒径、例
えば0.5〜5ルmにする。Appropriate heat treatment is in air at 400-1000℃ for 1~
It is 2 hours. In this way, undoped SrTi
The O3 powder was immersed in a niobium alkoxide organic solvent solution, drained and dried at 90°C, and heated at a low heating rate (4°C/s).
(appropriately) to 600°C in the air. Then, it is reduced by combustion. For example, 1450 to 1 in a reducing atmosphere for 2 hours.
This reducing atmosphere heated at 500°C is, for example, 1 to I
OX H2-Ar or H2-N2 blanket'y-y) or CO/CO2 (V/V) blankets are used. In order to obtain a dope powder of suitable particle size, the reducing material is then crushed and ground in a ball mill to the desired particle size, e.g. 0.5-5 lm.
ある場合に、上記ゾルゲルドーピング処理をTiO2と
ニオブとに適用し、ドープし還元したTiO2をその後
、炭酸ストロンチウムと混合し、その混合物をその後同
様の条件のもとに1300〜1500℃で還元して、適
切な粒径に粉砕する。In some cases, the above sol-gel doping process was applied to TiO2 and niobium, the doped and reduced TiO2 was then mixed with strontium carbonate, and the mixture was then reduced at 1300-1500 °C under similar conditions. , grind to appropriate particle size.
さらに、溶液中のTiとNbアルコキシドにアンモニア
を反応させてゲルし、そのゲルを分離して乾燥し、Nb
ドープしたTiO2の純粋粉末にする。なお、前記のT
iO2は、後にS rcOzと混合し、水素又はcoを
含む雰囲気中で焼成して還元する。Furthermore, Ti and Nb alkoxide in the solution are reacted with ammonia to form a gel, and the gel is separated and dried.
A pure powder of doped TiO2 is prepared. In addition, the above T
The iO2 is later mixed with SrcOz and reduced by firing in an atmosphere containing hydrogen or co.
本実施例は処理中、粒子に連続的な成長をさせないよう
、おだやかな処理条件を必要とするが、本実施例の異な
ることといえば、TiとNbアルコキシドのゲル状溶液
を噴霧しく噴霧ピストルで)、噴霧粒子を速く撹拌した
アンモニア溶液(水に対しNH4OHが1〜10wt%
)に当て、これにより非常に小さな粒子をほとんどゲル
状に近いものにすることである。小さな粒子をろ過又は
その他により溶液から分離し、空気中、徐々に温度をあ
げて(1〜b
)にする。冷却後、乾燥した粒子にストロンチウム(S
rCOzの状B)の求める量を混合し、その混合物を再
び空気中、ゆっくり1000℃まで加熱し、実質的にこ
の温度を越えないようにする。空気中でのこの熱の前処
理の結果、最終還元状態で要求される温度を実質的に下
げることになる。効果的にするには、還元は、その後、
還元雰囲気中、1000℃を越えない温度で加熱するこ
とによりなされる。なおこの還元雰囲気は、水素又は一
酸化炭素と、窒素、二酸化炭素、アルゴン、ヘリウム又
、通常H2と他のガスとの割合が1/99〜10/90
である。前記実施例よりいくぶん低い温度で処理を続け
ると、粒子の成長を低減でき、物質を微細な粒子にする
ための粉砕処理中に、粒子の凝集を減少できる0例えば
、粉砕時間は、約10〜20時間を約1〜2時間又はさ
らに少なく低減でき、平均粒径の望ましいものは1 g
m又はそれ以下となる。This example requires gentle treatment conditions to prevent continuous growth of particles during treatment, but the difference in this example is that a gel solution of Ti and Nb alkoxide is sprayed using a spray pistol. ), ammonia solution with rapidly stirred spray particles (1 to 10 wt% NH4OH in water)
), thereby making the very small particles almost gel-like. Small particles are separated from the solution by filtration or otherwise and gradually raised to temperature (1-b) in air. After cooling, the dried particles are injected with strontium (S).
The desired amount of rCOz form B) is mixed and the mixture is heated slowly again in air to 1000° C., without substantially exceeding this temperature. This thermal pretreatment in air results in a substantial reduction in the temperature required at the final reduction state. To be effective, the reduction must then be
This is done by heating in a reducing atmosphere at a temperature not exceeding 1000°C. Note that this reducing atmosphere has a ratio of hydrogen or carbon monoxide to nitrogen, carbon dioxide, argon, helium, or usually H2 to other gases of 1/99 to 10/90.
It is. Continuing the process at a somewhat lower temperature than in the previous example can reduce particle growth and reduce particle agglomeration during the grinding process to reduce the material to fine particles. 20 hours can be reduced to about 1-2 hours or even less, with a desirable average particle size of 1 g.
m or less.
すなわち、平均粒径より大きいか小さいものの割合はず
っと減少し、この状態は、高誘電率セラミックの実質的
な製造において同一性と再生産性をよくする。That is, the proportion of grains larger or smaller than the average grain size is much reduced, and this condition improves uniformity and reproducibility in the practical manufacture of high dielectric constant ceramics.
本発明の製法により得られるゾルゲル金属をドープした
チタン酸ストロンチ′ウムは、焼結により高誘電率絶縁
セラミックを作る場合に使用すると有益である。圧力に
よる金型成形が適切になされたとしても、焼結あるいは
最終的に(全体としであるいは一部として)求める内部
粒界層物質を生成するときに粒子の大きさを小さくさせ
るために、焼結助剤を使用することが望ましい、このこ
と4 帖2九爪七/七J−) フ松/ (’l u m
V l÷+num以下、望ましくはその間)必要のあ
る積層コンデンサを形成する場合に特に望ましい。The sol-gel metal doped strontium titanate obtained by the process of the present invention is advantageous for use in making high dielectric constant insulating ceramics by sintering. Even if pressure molding is done properly, sintering or sintering may be necessary to reduce grain size during sintering or ultimately (in whole or in part) to produce the desired internal grain boundary layer material. It is desirable to use a cohesive agent.
This is particularly desirable when forming a multilayer capacitor that requires V l ÷ + num or less, preferably within that range.
焼結助剤の液相は、内部粒界層によるコンデンサを作る
ときに一般に使用する金属酸化物から選択される。焼結
助剤は、粉末状で添加され、ドープSrTiO3 と機
械的に混合する。またそれらは、ゾルゲル技術で添加さ
れ、このことは大発明を行なう場合の新規事項である。The liquid phase of the sintering aid is selected from metal oxides commonly used in making capacitors with internal grain boundary layers. The sintering aid is added in powder form and mechanically mixed with the doped SrTiO3. They are also added using sol-gel technology, which is new when making a major invention.
この主な利点は次の事実に基づく9時間の移り変りで絶
縁バリヤー層を生じさせるため、導電性(又は半導電性
)粉末の粒子を金属化合物の溶液と接触させておくこと
により、バリヤー層厚さの改良制御がなされる。The main advantage of this is that by keeping the particles of conductive (or semi-conducting) powder in contact with the solution of the metal compound, the barrier layer thickness is Improved control of the
すなわち// l、めり/I状態で析出するコート物質
の量は最終的に得られるセラミックの電気特性に生じる
変化に応じて、処理条件を調整して変えられる。このよ
うにして、この層での内部粒界バリヤー層の効果的厚さ
は0.8〜1.5 n+s4mと小さくなり、もちろん
望ましいコーティング回数と同様浸漬操作の接触時間(
また当然浸漬工程がくりかえされた場合の回数)、温度
、溶液パラメータ(5度、溶剤、ゲル割合上のPH等)
を変えることにより、より厚くできる。この効果的厚さ
は、同一の浸水条件で処理したガラス板と光学的に測定
されるコーティング(後に乾燥させた)と比較I7て計
算された。一般に、有利な結果は、発明方法が導電粒子
に10−’〜10−2の乾燥重量増加(例えば10−2
〜1%の重量増加)をさせたときに得られる0発明の他
の利点は、焼結温度を下げて、焼結中の粒子成長効果を
連続的に縮小できることである。That is, the amount of the coating material deposited in the //I state can be changed by adjusting the processing conditions depending on the change that occurs in the electrical properties of the ceramic finally obtained. In this way, the effective thickness of the internal grain boundary barrier layer in this layer is as small as 0.8-1.5 n+s4 m, and of course the contact time of the dipping operation (
Also, of course, the number of times the dipping process is repeated), temperature, solution parameters (5 degrees, solvent, PH on gel ratio, etc.)
By changing the thickness, it can be made thicker. This effective thickness was calculated by comparing I7 the optically measured coating (later dried) with a glass plate treated under the same water immersion conditions. Generally, advantageous results indicate that the inventive method provides conductive particles with a dry weight gain of 10-' to 10-2 (e.g. 10-2
Another advantage of the present invention is that the sintering temperature can be lowered to continuously reduce grain growth effects during sintering.
一般に5rTix (7)ドープ粉末の含浸は、SrT
iO3粒子をドーピングするために使用する技術に似た
方法で行なわれる。すなわち粉末(約0.8〜5ル履粒
径の)を保護雰囲気(例えば窒素、アルゴン)中、へリ
ヤ一層として析出させる材料の有機溶液と混合すること
によりなされる。エタノール、プロパツール、ブタノー
ル、アセチルアセトン、のような溶剤が適切であり、溶
液中の金属材料の割合は約5〜20%であり、これら条
件は厳重ではなく超過してもよい、一般に、その溶液は
少量の水とゲル化触媒、例えばHCI又は他の#(ある
いはNH4OHのような塩基も可)を含む、この酸は、
粒子表面にゲル層を増加するものであり、このゲル層は
、実質的に乾燥され、加熱されてゲルが絶縁金属材料又
は析出金属材料の酸化物に変換される。Rを濃厚にし、
残った宥機材料を十分に酸化させるための適切な熱処理
は、500〜600℃、大気中、1〜2時間加熱するこ
とである。Generally, the impregnation of 5rTix (7) doped powder is performed using SrT
It is carried out in a manner similar to the technique used to dope iO3 particles. That is, by mixing the powder (approximately 0.8 to 5 microns particle size) in a protective atmosphere (e.g., nitrogen, argon) with an organic solution of the material to be deposited as a layer. Solvents such as ethanol, propatool, butanol, acetylacetone, etc. are suitable, the proportion of metal material in the solution is about 5-20%, these conditions are not strict and may be exceeded, generally the solution This acid contains a small amount of water and a gelling catalyst, such as HCI or other # (or even a base like NH4OH).
A gel layer is added to the surface of the particles, which gel layer is substantially dried and heated to convert the gel into an oxide of the insulating or precipitated metal material. Make R richer,
A suitable heat treatment to fully oxidize the remaining pacifier material is heating at 500-600° C. in air for 1-2 hours.
アルコキシド溶液を作るのに適した金属材料は多くあり
、焼結助剤を生成するための技術に通常使用する金属が
該当する0例えば、鉛ヘキネートとゲルマニウムアルコ
キシド、又はホウ素アルコキシド、ビスマスアルコキシ
ド、又はシリコンアルコキシドとアルミニウムアルコキ
シドを含む溶液が使用される。前記溶剤での含浸は、上
記の乾燥後、それぞれゲルマニウム酸鉛、ビスマスホウ
素酸鉛、ケイ酸アルミニウムの各層になる0組合せた多
層のものは、時には利点があり、例えばケイ酸アルミニ
ウムの1又は多層は、ゲルマニウム1%i鉛の1又は多
層により補足される。興味あるこラム層は、焼結中粒子
の成長を著しく妨げる。このことは、全く有益であり、
逆効果を報告する従来技術の観点からは想像できない。There are many metallic materials suitable for making alkoxide solutions, including those commonly used in the technology for producing sintering aids, for example lead hequinates and germanium alkoxides, or boron alkoxides, bismuth alkoxides, or silicon. Solutions containing alkoxides and aluminum alkoxides are used. Impregnation with said solvent results, after said drying, in each layer of lead germanate, lead bismuth borate, aluminum silicate, respectively. Combining multilayers is sometimes advantageous, e.g. one or multiple layers of aluminum silicate. is supplemented by one or more layers of germanium 1% i lead. The interesting column layer significantly impedes particle growth during sintering. This is totally beneficial and
It is unimaginable from the perspective of the prior art to report an adverse effect.
本方法の焼結過程を成しとげる場合、上記技術で生じる
液相に粉末状の焼結助剤を補足することが時には望まし
い。これをなすため、コートしたSrTiO:lに、乾
燥した粉末状焼結助剤を添加して混合し、この混合物を
その後、分解バインダ(ポリビニルアルコール又はポリ
ビニルブチルのような揮発性又は燃焼性ポリマーがよい
)を加えて加圧成形する。液相焼結助剤として添加使用
した粉末状の化合物は、例えばPbO、GeO2、Bi
2 0x、 H3BO3、P205 、5rTiQ 1
から選択する。半導電性ドープSrTiO3の焼結に液
相焼結成分としてSrTiO3を使用することは新規で
あり、内部粒界相の安定、誘電率とQ係数にとって重要
な改良となる。焼結助剤の成分として次のものを提案す
る(重量成分で)。When accomplishing the sintering step of the present method, it is sometimes desirable to supplement the liquid phase produced by the techniques described above with a powdered sintering aid. To do this, the coated SrTiO:l is mixed with the addition of a dry powdered sintering aid, and this mixture is then mixed with a cracked binder (a volatile or combustible polymer such as polyvinyl alcohol or polyvinyl butyl). ) and pressure mold. Powdered compounds added and used as liquid phase sintering aids include, for example, PbO, GeO2, Bi
20x, H3BO3, P205, 5rTiQ1
Choose from. The use of SrTiO3 as a liquid phase sintering component in the sintering of semiconducting doped SrTiO3 is novel and represents an important improvement in internal grain boundary phase stability, dielectric constant and Q-factor. The following components of the sintering aid are proposed (by weight):
Pb078$ −GeOz 222 (PGO);
Pb0451 B203 20%−Biz 03 2
0%−GeO25% −Ba010SP20520%(
ZPhBa)、 SrTiO3を焼結助剤として使用
するとき、上記提案組成の1つに5〜15%の重量割合
で添加するのが好ましい。Pb078$ -GeOz 222 (PGO);
Pb0451 B203 20%-Biz 03 2
0%-GeO25%-Ba010SP20520% (
When using ZPhBa), SrTiO3 as a sintering aid, it is preferably added in a weight proportion of 5 to 15% to one of the above proposed compositions.
ゾルゲル又はその他によって得られる液相と混合した半
導体SrTiO3粒子を高誘電率内部粒界層セラミック
に変換する焼結条件は、初め粒子にバインダーを添加し
て圧力をかけて成形体(ディスク又は板)とし、次に通
常使用する温度1000〜1300℃で、窒素又は希ガ
スのような不活性ガス雰囲気中、又はN2とN2の混合
ガスのような弱還元雰囲気中、焼結することである。そ
れ故10Gという高い誘電率が得られるが、Q係数は小
さい、空気中アニールのようなその後の熱処理で、誘電
率をいくぶん犠牲にするが、Q係数とディスクの機械的
強度とが増す。The sintering conditions for converting semiconducting SrTiO3 particles mixed with a liquid phase obtained by sol-gel or otherwise into a high dielectric constant internal grain boundary layer ceramic are as follows: First, a binder is added to the particles and pressure is applied to form a compact (disk or plate). and then sintering at a commonly used temperature of 1000 to 1300° C. in an inert gas atmosphere such as nitrogen or a rare gas, or in a weakly reducing atmosphere such as a mixed gas of N2 and N2. A high dielectric constant of 10 G is therefore obtained, but the Q-factor is low; subsequent heat treatments such as air annealing increase the Q-factor and the mechanical strength of the disk at the expense of some dielectric constant.
一般にコート粉末を1〜3zのポリビニルブチラールバ
インダー(約1〜2g粉末)と混合し、ピストン加圧(
2〜5 トン/C11” ) して直径約10〜20m
m厚さ1〜3■のディスクとし、ディスクに電極を設け
て電気特性を測定(通常の方法で容量、損失係数、Q係
数を測定)した、使用した式で、C(ピコファラッド=
10@2F ) = 0.0885 S e /eに
関しては、ε又はK(誘電率)の計算中、Sを平方cv
、 e icmとした。電極は、通常のスパッタ装置で
Cu、 Ag、 Pt、 Auのどれかをスパッタした
か、あるいは150℃で硬化されるか、成形体とともに
焼成される塗料又はペーストのように銀をスクリーン印
刷したものである。Generally, the coated powder is mixed with 1-3z polyvinyl butyral binder (approximately 1-2g powder), and piston pressurized (
2 to 5 tons/C11”) and approximately 10 to 20 m in diameter
A disk with a thickness of 1 to 3 mm was used, and an electrode was provided on the disk to measure the electrical characteristics (capacitance, loss factor, and Q factor were measured using the usual method).
10@2F ) = 0.0885 S e /e, while calculating ε or K (permittivity), S is squared cv
, e icm. The electrodes are either sputtered with Cu, Ag, Pt, or Au using a regular sputtering device, or screen-printed with silver as a paint or paste that is cured at 150°C or fired with the molded body. It is.
焼結セラミックの電気特性は、従来技術で示されるもの
と同様の後処理である拡散をして改善できる0例えば、
バインダーとスラリー状にした酸化物を形成する各種ガ
ラスの混合物を、セラミックディスクの両面に塗布し、
溶融拡散してセラミックとなるように900−1000
”Oに加熱する。ある場合には、液体拡散物は、電極形
成と組合わされる。すなわちガラス供給酸化化合物を銀
ペイント化合物とともにペースト状とし、このペースト
をセラミックに塗布してその後、拡散のため加熱する。The electrical properties of sintered ceramics can be improved by diffusion, a post-treatment similar to that shown in the prior art, e.g.
A mixture of various glasses forming a binder and a slurry of oxides is applied to both sides of the ceramic disc.
900-1000 to melt and diffuse to become ceramic
In some cases, the liquid diffuser is combined with electrode formation; i.e., the glass-supplied oxide compound is made into a paste with a silver paint compound, and this paste is applied to the ceramic and then heated for diffusion. Heat.
拡散中、粒界バリヤー絶縁物質はセラミックに浸透し、
銀はその表面に析出して求める電極となる。During diffusion, the grain boundary barrier insulating material penetrates the ceramic,
Silver is deposited on the surface and becomes the desired electrode.
前記結果を得るために選択した組成物を以下に重量%で
記載する。The compositions selected to achieve the above results are listed below in weight percent.
その他の方法としては、選択された融解酸化物の蒸気を
利用することにより、同様の拡散を行なった。この場合
、酸化物をルツボ(pt)で融解し、ディスクをルツボ
の入口に適当なワイヤーフックで融解物の上部(約1〜
3cm)に保持した。この方法のためのよい組成は、上
記800℃で溶融したちの(h)と、900℃で溶融し
た40/80 B 20 z/PbOの組成(BP)と
である。Similar diffusion was otherwise achieved by utilizing vapors of selected molten oxides. In this case, the oxide is melted in a crucible (PT) and the disk is placed at the entrance of the crucible with a suitable wire hook at the top of the melt (approximately
3 cm). Good compositions for this method are the above-mentioned composition (h) melted at 800°C and the composition (BP) of 40/80 B 20 z/PbO melted at 900°C.
以下の実施例で本発明の詳細な説明する。The following examples provide a detailed explanation of the invention.
「実施例1」
ニオブエトキシド溶液(S2)は、10gのアセチルア
セトン;ニオブエトキシド4.78gとn−ブタノール
24.02.とHCI(0,INエタノール溶液)1゜
2g、と混合することにより用意した。"Example 1" Niobium ethoxide solution (S2) was composed of 10 g of acetylacetone; 4.78 g of niobium ethoxide and 24.02 g of n-butanol. and 1.2 g of HCI (0, IN ethanol solution).
純粋のチタン酸ストロンチウム粉末約15gを上記溶液
中に5〜B分、室温で浸せきした。それから排水して2
時間、800℃(加熱速度2℃/分)で加熱した。この
操作は、さらに1回くりかえして行い、ソノ後、粉末を
2時間、1480℃、10% Hz/Ar(加熱速度7
℃/win)で還元処理した。このようにして得た半導
電性粉末(STK−1)を、9mmwc/coポールと
、粉砕液として石油エーテル−第3ブタノールの3:1
混合液を使用してプラスチックミルで粉砕した。粉砕後
、その粉末の排水をし、乾燥した。その抵抗率を規定の
手段で測定したところ、 1.49オームであった。Approximately 15 g of pure strontium titanate powder was soaked in the above solution for 5-B minutes at room temperature. Then drain it 2
The mixture was heated at 800° C. (heating rate 2° C./min) for an hour. This operation was repeated once more, and after sowing, the powder was heated at 1480°C for 2 hours at 10% Hz/Ar (heating rate 7
℃/win). The semiconductive powder (STK-1) thus obtained was mixed with a 9 mm wc/co pole and a 3:1 mixture of petroleum ether and tert-butanol as a grinding liquid.
The mixture was used to grind in a plastic mill. After grinding, the powder was drained and dried. Its resistivity was measured by standard means and found to be 1.49 ohm.
粉末粒子のコーティングは、12gの7セチルアセトン
、1.08gのGe(OEt) 4 、2.74gのp
b(n)−2−エチルへキサン、23.32gのnブタ
ノールと0゜98gのHGI(0,I Nエタノール溶
液PG2 )を含む溶液に浸せきして生成した。よく含
浸した後、粉末を排水、乾燥して空気中、2時間、55
0℃に加熱(加熱速度5〜7℃/win) L/た。こ
のコーティング操作は、試料C4Wでは2回くりかえし
、試料C4L−Vでは4回くりかえした。The coating of the powder particles consisted of 12 g of 7cetylacetone, 1.08 g of Ge(OEt) 4 , 2.74 g of p
b(n)-2-Ethylhexane was prepared by soaking it in a solution containing 23.32 g of n-butanol and 0.98 g of HGI (0,IN ethanol solution PG2). After thorough impregnation, the powder was drained and dried in the air for 2 hours at 55°C.
Heated to 0°C (heating rate 5-7°C/win) L/t. This coating operation was repeated twice for sample C4W and four times for sample C4L-V.
それから粉末を前記のように2.57cm”で加圧して
ディスク(直径15mm、厚さ1 in)とし、そのデ
ィスクを表1に示したように焼結した。また表1に焼結
ディスクの電気特性を示した。The powder was then pressed into a disk (15 mm diameter, 1 inch thick) as described above at 2.57 cm, and the disk was sintered as shown in Table 1. The characteristics were shown.
「実施例1aJ
半導電性チタン酸ストロンチウムの粉末(STKI)は
、実施例1のようにして準備したが、ドープ(dopa
nt)を生じさせるため、アセチルアセトン5g、ニオ
ブエトキシド2.39g 、エタノール12.18とH
C:+(0,I Nエタノール溶液)0.8gとを含む
溶液を使用した。浸透は、実施例1のようにし、還元は
1483℃、10% H2/ Ar10X中でした。粉
末の抵抗は、上記STK −1[の粉末の抵抗と実質上
同一であった。“Example 1aJ Semiconducting strontium titanate powder (STKI) was prepared as in Example 1 but doped (dopa).
nt), 5 g of acetylacetone, 2.39 g of niobium ethoxide, 12.18 g of ethanol and H
A solution containing 0.8 g of C:+ (0, IN ethanol solution) was used. Infiltration was as in Example 1 and reduction was at 1483°C in 10% H2/Ar10X. The resistance of the powder was substantially the same as that of the STK-1 powder described above.
粒界バリヤー層は、ドープしたSrTiO3粉末と、1
9.9LP、P、Wのpboと5.49P、P、W )
GeO2とを混合した粉末CPGO)とともに粉砕する
ことにより、従来と同様に生成した。この場合、PGO
粉末の重量は、SrTiO3に対し、5zであった。酸
化物は空気中900℃で溶かされ、その後ガラスは粉々
にくだかれ、生じた粉末は、前記のように、WCポール
と3:1の比の石油エーテルとtブタノールを使用した
プラスチックボールミルで粉砕し、粒径を約0.5〜2
pmとした。試験用ディスクへの焼結は、表1に示し
たように行ない、その表に電気特性を比較して示した0
表1の7!フラツシユ〃は、急に加熱温度にしたことを
意味する。The grain boundary barrier layer consists of doped SrTiO3 powder and 1
9.9LP, P, W pbo and 5.49P, P, W)
It was produced in the same manner as before by pulverizing it with powder CPGO mixed with GeO2. In this case, P.G.O.
The weight of the powder was 5z relative to SrTiO3. The oxide was melted in air at 900°C, the glass was then broken into pieces, and the resulting powder was ground in a plastic ball mill using WC pole and a 3:1 ratio of petroleum ether and t-butanol as described above. and the particle size is about 0.5~2
It was set as pm. Sintering into test disks was carried out as shown in Table 1, and the electrical properties were compared and shown in Table 1.
7 in Table 1! "Flat" means that the heating temperature was suddenly raised.
しJ−>l N2 l ’/
112101 1201 72161
2.4この結果は、ゾルゲルコートした試料の方が、液
相を規定通り混合したものより電気特性(εとQ)がよ
いことを示しており、また境界層形成物質を3層設けた
ものが5M設けたものよりよいことを示している。し J->l N2 l'/
112101 1201 72161
2.4 This result shows that the electrical properties (ε and Q) of the sol-gel coated sample are better than those with a specified mixture of liquid phases, and the sample with three layers of boundary layer forming material This shows that it is better than the one with 5M.
「実施例2」
最初の溶液(A)は、Ti(0Et) 4を28.55
gとアルコールを100gとWb(0Et) 5を0.
56gとを混合し、それから室温で8281となるまで
アルコールを加えることにより′?s備した。これに加
えたのは、溶液(B)であり、それは13.51gの0
.5NNH40H水溶液とアルコールとを6261にな
るまで含む。"Example 2" The first solution (A) contains 28.55 Ti(0Et)4
g and 100 g of alcohol and Wb (0 Et) 5 to 0.
56g and then adding alcohol at room temperature until 8281'? I prepared it. Added to this was solution (B), which was 13.51 g of 0
.. Contain 5N NH40H aqueous solution and alcohol until it reaches 6261.
AへのBの添加により生じる混合液は、0.1Mのチタ
ンと0.59Mの水であり、それはさらに0.054モ
ルのNH4OHを含む、その混合物から沈澱を生じさせ
、1時間かきまぜ、830+slの水を加え、 15分
つづけてかきまぜた。それから16時間放置した後、上
に浮いた液体をサイホンで排出して、して取出し、1リ
ツターのアルコール中に1時間、環流させて分散した。The mixture resulting from the addition of B to A is 0.1 M titanium and 0.59 M water, which also contains 0.054 mol NH4OH, from which a precipitate is formed, stirred for 1 hour, and 830+sl Add water and stir continuously for 15 minutes. After it was left to stand for 16 hours, the liquid that floated to the top was siphoned off, taken out, and dispersed in 1 liter of alcohol by refluxing for 1 hour.
それから粒子を再びろ過し、80℃で1晩乾燥した。乾
燥した固まりをきれいな粉末にし、その粉末を空気中5
50℃(1℃/win)で加熱し、1時間そのまま保持
した。The particles were then filtered again and dried at 80°C overnight. The dry mass is made into a clean powder, and the powder is blown into the air for 5 minutes.
It was heated at 50°C (1°C/win) and kept there for 1 hour.
NbドープTi O2(8,83g)をSrCO1(1
5,59g)と混合し、1300℃で3時間、空気中、
加熱した。Nb-doped TiO2 (8.83g) was mixed with SrCO1 (1
5,59g) and heated at 1300°C for 3 hours in air.
Heated.
その結果、チタン酸ストロンチウムは、ニオブを0.7
モル2含んでいた。それから還元して半導電体とし、そ
れは通常のように1480℃で4時間、10Z H2/
Ar雰囲気で加熱した。最後に粉末を、他の実施例に
記載したようにプラスチックボールミル中でタングステ
ンカーバイドボール50ケを用い、触媒として3:l
石油エーテル/lブタノール有機層を使用して粉砕した
。空気中、90℃で4時間乾燥した後、粉末を最後に(
4℃/5in)で加熱し、550℃で空気中1時間保っ
た。その抵抗は、実施例1の対応粉末Iとほぼ同一であ
った。As a result, strontium titanate contains niobium by 0.7
It contained 2 moles. It is then reduced to a semiconductor, which is conventionally heated at 1480°C for 4 hours in 10Z H2/
It was heated in an Ar atmosphere. Finally, the powder was milled in a plastic ball mill using 50 tungsten carbide balls as catalyst in 3:1 as described in other examples.
Triturated using petroleum ether/l butanol organic layer. After drying in air at 90°C for 4 hours, the powder was finally (
4° C./5 in) and held at 550° C. in air for 1 hour. Its resistance was almost the same as the corresponding powder I of Example 1.
その後、絶縁粒界バリヤー相を生ずるためのコ照実施例
3)と記載した溶液を使用して行なった。4つの連続層
は、90℃で4時間乾燥することにより設け、さらに5
50℃で1時間、空気中(4℃/IQin加熱速度)加
熱してコート粉末(V)を得た。This was then carried out using the solution described in Reference Example 3) for producing an insulating grain boundary barrier phase. Four successive layers were applied by drying at 90°C for 4 hours, followed by 5
A coated powder (V) was obtained by heating at 50°C for 1 hour in air (4°C/IQin heating rate).
この粉末を前記のようにディスクに加圧し、その成形体
を表■の条件で焼結し、電極を通常のように設け、電気
特性を他の実施例のように測定して、下表に示した。This powder was pressed into a disk as described above, the compact was sintered under the conditions shown in Table 1, electrodes were provided as usual, and the electrical properties were measured as in other examples. Indicated.
表■
※試料V−Bは、初め1200℃で100分加熱しそれ
から1350℃で1時間加熱した。Table ■ *Sample V-B was first heated at 1200°C for 100 minutes and then heated at 1350°C for 1 hour.
実施例1〜5のセラミックは、小型で高容量の積層コン
デンサを作るのに適している。The ceramics of Examples 1 to 5 are suitable for making small-sized, high-capacity multilayer capacitors.
選択的に、ニオブドープした半導電性SrTiO3粉末
は、次のようにして得られる。すなわち、初めTiO2
をドープし1次にニオブアルコキシド溶液で浸せきし、
さらにSrTiO3のゾルゲルドーピング(参照実施例
1)の場合のように処理することにより得られる。それ
から、TiO2を処理したニオブは、ストロンチウム塩
1通常SrCO3の適量と混合され、その混合物を、1
300〜1500”Cで多量の水素雰囲気中、還元した
。Optionally, niobium-doped semiconducting SrTiO3 powder is obtained as follows. That is, initially TiO2
doped with niobium alkoxide solution,
Further, it is obtained by processing as in the case of sol-gel doping of SrTiO3 (Reference Example 1). Then, the TiO2 treated niobium is mixed with an appropriate amount of strontium salt 1 usually SrCO3, and the mixture is
Reduction was carried out at 300-1500''C in a large amount of hydrogen atmosphere.
「実施例3」
炭酸ストロンチウム(923,78g、6.26モル)
とTiO2(500g、 8.28モル)を窒素中、1
4gのNb(OEt) s (0,044% ル) (
7)溶液240gノアセチルアセトン溶液と、100g
のn−ブタノールと、4mgのH(:I(0,INエタ
ノール溶液として添加)とでスラリーにした。3時間、
室温で保持し、そのスラリーの排水をして液体と分離し
、それから、ジルコニアミルで1 kgのZrO2ポー
ルで粉砕した。粉砕液は水である。粉砕物のかたまりを
空気中乾燥し、それから空気中、アルミニウムルツボで
2時間1100℃で加熱シタ(加熱速度400 ”C/
hr) 、 ’a合物を、一定時間(2〜4時間)14
50〜1480”0 テt。"Example 3" Strontium carbonate (923.78 g, 6.26 mol)
and TiO2 (500 g, 8.28 mol) in nitrogen at 1
4g of Nb(OEt) s (0,044% Le) (
7) 240g of solution and 100g of noacetylacetone solution
of n-butanol and 4 mg of H(:I (added as a 0,IN ethanol solution) for 3 hours.
The slurry was kept at room temperature, drained and separated from the liquid, and then ground in a zirconia mill with 1 kg ZrO2 poles. The grinding liquid is water. The crushed mass was dried in the air and then heated in the air in an aluminum crucible at 1100°C for 2 hours (heating rate 400"C/
hr), 'a compound for a certain period of time (2 to 4 hours) 14
50~1480”0 tet.
/90H2/N2ガス流のもとで加熱し、還元した、温
度の上昇速度は、約300〜420℃/hrとした。そ
れから、還元製品をwc/coポールを有するポリエチ
レンミルで0.5〜5ILmになるまで粉砕した。粉砕
液は、75/25石油エーテル/l・ブタノールの混合
液とした。Heated and reduced under /90H2/N2 gas flow, the rate of temperature rise was about 300-420C/hr. The reduced product was then milled in a polyethylene mill with wc/co pole to 0.5-5 ILm. The grinding liquid was a mixture of 75/25 petroleum ether/l.butanol.
ドープした粉砕チタン酸ストロンチウムをアセトンで洗
い、グローブボックス内で30分、選択したゾルゲル溶
液と接触させた。The doped, ground strontium titanate was washed with acetone and contacted with the selected sol-gel solution for 30 minutes in a glove box.
その2つの溶液として、HM9SIAとPGIとを使用
した。HM9SIA and PGI were used as the two solutions.
HM9SIA(略してHM)
4.18gのSi (OEt) 4 、30gのnブタ
ノール、7.8gのアルミニウムトリブトキシドと1.
84g MCI(0,1Nアルコール溶液として)とを
混合し、?0”0テロ0分加熱シタ、冷却後、3.3g
の820と182g+7)EtOHを添加した。溶液は
50℃に30分加熱して冷却した。HM9SIA (HM for short) 4.18 g Si (OEt) 4 , 30 g n-butanol, 7.8 g aluminum tributoxide and 1.
Mix 84g MCI (as a 0.1N alcohol solution) and ? 0"0 terror 0 minute heating, after cooling, 3.3g
820 and 182g+7) of EtOH were added. The solution was heated to 50° C. for 30 minutes and cooled.
PGI
ラムテトラエトキシドと5.48HのPb 2−エチル
へキサンと、 25.5g ノnブタンと1.78g
t7) HC1(0,INエタノール溶液として)とを
混合し、そしてその溶液を2時間環流し、その後、使用
前に冷却した。PGI ram tetraethoxide and 5.48H Pb 2-ethylhexane and 25.5g non-butane and 1.78g
t7) HC1 (as a 0,IN ethanol solution) was mixed and the solution was refluxed for 2 hours, then cooled before use.
粉砕した還元SrTiO3をN2雰囲気中、要求時間、
アルコキシド溶液と接触した後、そのスラリーを還元雰
囲気中、ガラスフィルタで排水し、それから空気中、9
0℃で16時間乾燥した。その後、乾燥粉末を濃縮のた
め空気中で550 ”0(lh)に加熱した。このとき
の温度上昇は、6oから240 ”C!ハrとした。濃
縮過程中、残りの成分を取除いた。必要なら、酸化速度
を上げるため、酸素中、処理することもできる。それか
ら濃縮した粉末を成形し、そのまま又は粉状補足液相と
混合した後、焼結した。Pulverized reduced SrTiO3 in N2 atmosphere for the required time,
After contacting the alkoxide solution, the slurry was drained through a glass filter in a reducing atmosphere and then exposed to air for 90 minutes.
It was dried at 0°C for 16 hours. The dry powder was then heated in air to 550"0 (lh) for concentration. The temperature increase was from 6o to 240"C! I felt angry. During the concentration process, the remaining components were removed. If necessary, treatment in oxygen can be performed to increase the rate of oxidation. The concentrated powder was then shaped and sintered either as such or after mixing with a powdered complementary liquid phase.
加圧ディスクを形成するため、チタニア粉末を約1.5
重量%の割合いでポリビニルブチル(PVB)と混合し
た。チタニアの必要量を、20gのpv液とでスラリー
にし、30分の撹拌後、蒸発処理した。それからPvP
コート粉をフルイ(300ILmメツシュのフルイ)に
かけ、そしてステンレススチールの金型で2〜5ton
/cm ”で加圧してディスクを形成した。それから、
バインダを除去するため成形体を空気中550℃で1時
間加熱(0,5〜b)し、その後焼結した。Approximately 1.5 titania powder was added to form the pressurized disk.
It was mixed with polyvinyl butyl (PVB) in a proportion of % by weight. The required amount of titania was slurried with 20 g of PV liquid, stirred for 30 minutes, and then evaporated. Then PvP
Pour the coated powder through a sieve (300ILm mesh sieve) and use a stainless steel mold to weigh 2 to 5 tons.
/cm” to form a disk. Then,
To remove the binder, the molded body was heated in air at 550° C. for 1 hour (0.5-b) and then sintered.
焼結は、導入ガスの複数の導入管と連結したAl2O3
管状路内で行ない、複数の導入ガスとして純粋窒素ト1
0/[1(V/V ) H2/ N 2混合ガストをそ
れぞれ使用した。各ガスの流れ制御は、回転羽根とそれ
ぞれの流量計とでした。制御を適正に設定することによ
り、炉内のH2とN2の真の割合を約0.01$と5z
の間で調節でき、0.1%と1zの間の割合が望ましい
。焼結温度は900℃と1500℃の間で変え、焼結時
間は1〜数時間の間で変えた。Sintering is performed using Al2O3 connected to multiple introduction gas introduction pipes.
carried out in a tubular channel, with pure nitrogen gas as the plurality of inlet gases.
0/[1 (V/V) H2/N2 mixed gusts were used, respectively. Flow control for each gas was with rotating vanes and respective flow meters. By properly setting the controls, the true ratio of H2 and N2 in the furnace can be reduced to approximately 0.01$ and 5z
The ratio can be adjusted between 0.1% and 1z, preferably between 0.1% and 1z. The sintering temperature was varied between 900°C and 1500°C, and the sintering time was varied between 1 and several hours.
いくつかのデ・イスクの両側の電極は、金属ペイント又
は、ペースト、例えばPt、Ag又はCuペーストをし
た後に焼結して形成した0次の表■に処理データと結果
を記載した。いくつかの例で、後処理(焼結後の冷却中
に空気を導入する)をしたことに注意すべきである。こ
のことは、表■に記載した。The electrodes on both sides of some discs were formed by applying metal paint or paste, such as Pt, Ag or Cu paste, and then sintering.The processing data and results are listed in Table 1 below. It should be noted that in some cases there was post-treatment (introducing air during cooling after sintering). This is described in Table ■.
表■
ケイ酸アルミニウムの第1層を適用した場合、焼結中、
粒子の成長を妨げ、εとQ係数の組合せをいくぶんよく
するという効果がある。空気冷却は、Q係数を大きくシ
、誘電率に悪影響を与えない。Table■ When applying the first layer of aluminum silicate, during sintering,
It has the effect of hindering particle growth and improving the combination of ε and Q factor to some extent. Air cooling increases the Q factor and does not adversely affect the dielectric constant.
「実施例4」
実施例3の物質と、それに近似の処理操作パラメータを
再び使用した。焼結前に、還元コートしたSrTiOz
のドープ粉末を粉末状の補足液相と混合し、これを次の
ように処理した。 78wt%のPb0− と22%
のGeO2との混合物(PGOと記す)を、Al2O3
ルツボ内、約1000℃(ガラス溶融温度)で溶融し、
溶融状態で所定時間保持後(1〜4時間)、ステンレス
金型で鋳造した。ガラスを、実施例3に記した処理によ
り(ポリエチレンミルWe/GOポール)、1〜5ルm
に粉砕した。Example 4 The material of Example 3 and similar process operating parameters were again used. SrTiOz coated with reduction before sintering
The doped powder was mixed with powdered supplementary liquid phase and processed as follows. 78 wt% Pb0− and 22%
A mixture of Al2O3 and GeO2 (denoted as PGO) is
Melts at approximately 1000℃ (glass melting temperature) in the crucible,
After maintaining the molten state for a predetermined time (1 to 4 hours), it was cast in a stainless steel mold. The glass was prepared by the treatment described in Example 3 (polyethylene mill We/GO pole) from 1 to 5 lm.
It was crushed.
それから、コートしたSrTiO3と、所定の粉砕PG
Oとの組成を、PVBを有する(前もって溶かされる)
20/80 V/Vアセトン/イソプロパツール溶液
内でスラリーにした。スラリーは、固形物(PVBvJ
o 、 5g)30gノ溶液100 ccテあった。そ
の後、スラリーを乾燥し、実施例3のように処理、焼結
した。Then, coated SrTiO3 and predetermined crushed PG
Composition with O, having PVB (pre-melted)
Slurried in 20/80 V/V acetone/isopropanol solution. The slurry is a solid material (PVBvJ
There was 100 cc of 30 g solution. The slurry was then dried, processed and sintered as in Example 3.
焼結ディスクコンデンサの結果を下の表Vに示した。表
Iのパラメータと同一であり、さらに補足液相の量(重
量)、焼結後の後処理空気の状態を加えである。ある場
合には、アニール処理(A)を、空気中(C)で単純冷
却する代りにある温度で行なった。The results for the sintered disk capacitors are shown in Table V below. The parameters are the same as those in Table I, with the addition of the amount (weight) of supplementary liquid phase and the condition of the aftertreatment air after sintering. In some cases, annealing (A) was performed at a temperature instead of simply cooling in air (C).
表V
「実施例5」
この実施例は、溶融ガラス組成を焼結セラミックに拡散
処理する適用を説明する。還元ドープしたチタン酸スト
ロンチウムは、実施例3.4と同様であり、焼結してデ
ィスクにする処理条件も同一である。Table V Example 5 This example describes the application of diffusion processing a molten glass composition into a sintered ceramic. The reduction-doped strontium titanate is the same as in Example 3.4, and the processing conditions for sintering it into a disk are also the same.
焼結ディスクに約0.1gのペーストを塗布した。この
ペーストは、この適用の記述の最後部にペーストは、約
3gの固形物を20gのPVBと120g n−ブタノ
ール(溶液の約0.1g)との少量溶液と混合したもの
である。ディスクを乾燥し、拡散温度に所定時間加熱し
た。データの最初のものは、以下の表VAに示した。こ
の場合半導電性ドープSrTiO3粒子は、SrCO:
I 100gとTi02541gとNb2O512,8
9gとの混合物とをか焼して(1100℃、2時間)形
成し、その後、前記のように1480℃(4時間)、H
2/N2ガス中、還元した。この物質を、前記粉砕後、
HM9SIA(参照実施例3)溶液で浸透し、通常の処
理後、5XPGO(参照実施例4)と混合し、表VAに
記したように焼結した、次に、得られたコンデンサの各
種特性結果を記載した表のように、拡散相を適用した。Approximately 0.1 g of paste was applied to the sintered disk. This paste is prepared at the end of this application description by mixing approximately 3 g of solid with a small solution of 20 g of PVB and 120 g of n-butanol (approximately 0.1 g of solution). The disks were dried and heated to the diffusion temperature for a specified period of time. The first set of data is shown in Table VA below. In this case the semiconducting doped SrTiO3 particles are SrCO:
I 100g and Ti02541g and Nb2O512,8
9 g of H
Reduction was performed in 2/N2 gas. After crushing this material,
HM9SIA (Reference Example 3) infiltrated with solution, after normal processing, mixed with 5XPGO (Reference Example 4) and sintered as noted in Table VA, then various characteristic results of the resulting capacitors. The diffused phase was applied as shown in the table.
その後、スパッタリングにより電極を析出した。Thereafter, an electrode was deposited by sputtering.
表VA
さらに他の実験として、最初のドープSrTiOzに、
前記HM温溶液有するゾルゲル処理によりケイ酸アルミ
ニウムの2重コーティングをした。この場合、焼結助剤
(P G O)の補足添加は全くしなかった。窒素流れ
の中で焼結する間、 0.4 %以下の水素を使用した
。拡散処理パラメータ、拡散組成と結果を次の表VBに
示した。Table VA As a further experiment, in the first doped SrTiOz,
A double coating of aluminum silicate was applied by the sol-gel process with the above-mentioned HM hot solution. In this case, no supplementary addition of sintering aid (PGO) was made. Less than 0.4% hydrogen was used during sintering in a nitrogen flow. The diffusion processing parameters, diffusion composition and results are shown in Table VB below.
表VB
3番目の実験は、2番目の実験のように行ない、8Mゾ
ルゲル処理をしたが、焼結助剤を添加しなかった。焼結
雰囲気は窒素と0.4%以下のH2を加えたものとした
。データは表VCに示した。Table VB The third experiment was conducted as the second experiment, with 8M sol-gel treatment, but no sintering aid was added. The sintering atmosphere was nitrogen and 0.4% or less of H2 added. Data are shown in Table VC.
表VC 「発明の効果」Table VC "Effect of the invention"
Claims (23)
との混合物を高温処理し、ドープ金属組成の還元をその
元素構造にもたらすことにより、Nb、La、W、Co
のような金属でドープした粉状SrTiO_3を生成す
る工程を含むものであって、高容量コンデンサに適した
内部粒界バリヤー層セラミックで高誘電率絶縁体を作る
場合に使用する半導電性SrTiO_3粒子の製法にお
いて、 BrとTiとドープ金属の化合物を組合せ、この化合物
の小くなくとも1つは有機アルコキシド化合物とし、こ
のアルコキシドを、非アルコキシド化合物と混合した状
態でゾルゲル技術によりゲルに変え、乾燥した後、その
混合物を水素又は一酸化炭素雰囲気又は不活性ガス中、
焼成し、最後に粉状還元体を望みの粒子の大きさに粉砕
することを特徴とする半導電性SrTiO_3粒子の製
法。(1) Nb, La, W, Co
semiconducting SrTiO_3 particles for use in making high dielectric constant insulators with internal grain boundary barrier layer ceramics suitable for high capacitance capacitors. In the manufacturing method, compounds of Br, Ti, and doped metals are combined, at least one of these compounds is an organic alkoxide compound, this alkoxide is converted into a gel by sol-gel technology in a state mixed with a non-alkoxide compound, and then dried. After that, the mixture is heated in a hydrogen or carbon monoxide atmosphere or in an inert gas.
A method for producing semiconductive SrTiO_3 particles, which is characterized by firing and finally pulverizing the powdered reduced product to a desired particle size.
状溶液で含浸し、しめり粉末から液体バルクを排水し、
空気中乾燥して水素又は一酸化炭素雰囲気中、1300
〜1500℃で焼成する特許請求の範囲第1項に記載の
半導電性SrTiO_3粒子の製法。(2) impregnating powdered SrTiO_3 with a gel-like solution of niobium alkoxide and draining the liquid bulk from the shimeri powder;
Dry in air and in hydrogen or carbon monoxide atmosphere, 1300
A method for producing semiconductive SrTiO_3 particles according to claim 1, wherein the semiconductive SrTiO_3 particles are fired at a temperature of ~1500°C.
に含浸し、しめり粉末の排水をして空気中乾燥し、同量
の粉状SrCO_3と混合し、水素又は一酸化炭素雰囲
気中1300〜1500℃で焼成する特許請求の範囲第
1項に記載の半導電性SrTiO_3粒子の製法。(3) Powdered TiO_2 is impregnated with a gelled niobium alkoxide solution, the powder is drained and dried in air, mixed with the same amount of powdered SrCO_3, and heated at 1300 to 1500°C in a hydrogen or carbon monoxide atmosphere. A method for producing semiconductive SrTiO_3 particles according to claim 1, which involves firing.
わせながら、チタンとニオブのアルコキシドのゲル状溶
液をアンモニア水に加え、その粒子を分離乾燥し、同量
のSrCO_3を混合し、水素又は一酸化炭素雰囲気中
で焼成する特許請求の範囲第1項に記載の半導電性Sr
TiO_3粒子の製法。(4) Add a gel solution of titanium and niobium alkoxide to ammonia water while stirring and colliding the microparticles of gel material and the solution, separate and dry the particles, mix with the same amount of SrCO_3, and add hydrogen or The semiconductive Sr according to claim 1, which is fired in a carbon monoxide atmosphere.
Manufacturing method of TiO_3 particles.
ンモニア溶液に噴霧し、溶液を約400℃にゆっくり加
熱して粒子を分離した後に空気中で乾燥する工程を含み
、SrCo_3と混合してその混合を空気中約1000
℃でそれを越さない温度にゆっくり加熱し、この処理で
ストロンチウム−チタン−ニオブの混合酸化物を非常に
小さな粒子に成長させ、さらに水素又は一酸化炭素と窒
素、二酸化炭素又は希ガスのような不活性ガスとの混合
ガス中で、1000℃を越えない温度で還元焼成処理を
し、加熱中、実質的還元粒子を成長させ、かつその後に
約1μm又はそれ以上の粒子に容易に粉砕できるように
した特許請求の範囲第4項に記載の半導電性SrTiO
_3粒子の製法。(5) Spraying a solution of titanium and niobium alkoxide into a stirred ammonia solution, slowly heating the solution to about 400°C to separate the particles, and then drying in air, and mixing with SrCo_3 to remove the mixture. Approximately 1000 in the air
The process grows the mixed oxides of strontium-titanium-niobium into very small particles, and also contains hydrogen or carbon monoxide and nitrogen, carbon dioxide or noble gases such as hydrogen or carbon monoxide. Reduction firing treatment is carried out in a mixed gas with an inert gas at a temperature not exceeding 1000°C, and during heating, substantially reduced particles grow, and after that, they can be easily crushed into particles of about 1 μm or more. The semiconductive SrTiO according to claim 4, which is
_3 Production method of particles.
一酸化炭素と、窒素、希ガス又は、二酸化炭素のような
不活性ガスとの混合ガスであり、焼成温度が950〜1
310℃である特許請求の範囲第1項に記載の半導電性
SrTiO_3粒子の製法。(6) The reducing atmosphere used in the subsequent firing process is a mixed gas of hydrogen or carbon monoxide and an inert gas such as nitrogen, rare gas, or carbon dioxide, and the firing temperature is 950-1
A method for producing semiconductive SrTiO_3 particles according to claim 1, wherein the temperature is 310°C.
化合物の小くなくとも1つは有機アルコキシド化合物と
し、このアルコキシドを、非アルコキシド化合物と混合
した状態でゾルゲル技術によりゲルに変え、乾燥した後
その混合物を水素又は一酸化炭素雰囲気又は不活性ガス
中、焼成し、最後に粉状還元体を望みの粒子の大きさに
粉砕することにより半導電性SrTiO_3粒子を生成
し、この半導電性SrTiO_3粒子を使用して高誘電
率絶縁内部粒界層セラミックの焼結体を製造する方法に
おいて、(a)焼結の助けとなるすなわち、焼結温度を
下げ絶縁バリヤー層を生じさせやすい金属化合物の液相
をドープした(Nb)SrTiO_3の粒子と混合し、
(b)前記混合ストロンチウムを加圧してコンデンサの
絶縁体形状に成形し、 (c)前記成形体を1000〜1300℃、窒素、H_
2/N_2又はCo/CO_2混合ガス中、焼結する、
を特徴とする高誘電率セラミックの製法。(7) A compound of Sr, Ti, and a doped metal is combined, at least one of the compounds is an organic alkoxide compound, and this alkoxide is mixed with a non-alkoxide compound and turned into a gel by sol-gel technology, and then dried. The mixture is then calcined in a hydrogen or carbon monoxide atmosphere or an inert gas, and finally the powdered reduced product is crushed to the desired particle size to produce semiconductive SrTiO_3 particles, and this semiconductive In a method for producing a sintered body of a high dielectric constant insulating internal grain boundary layer ceramic using SrTiO_3 particles, (a) a metal compound that helps sintering, that is, lowers the sintering temperature and facilitates the formation of an insulating barrier layer; the liquid phase of is mixed with doped (Nb)SrTiO_3 particles,
(b) The mixed strontium is pressurized and molded into the shape of an insulator of a capacitor, (c) The molded body is heated at 1000 to 1300°C, nitrogen, and H_
Sintering in 2/N_2 or Co/CO_2 mixed gas,
A manufacturing method for high dielectric constant ceramics.
状鉱物組成物の焼結助剤と機械的に混合し、その鉱物組
成物を、Pb、Ge、Bi、P、Baから選択したもの
の酸化物とした特許請求の範囲第7項に記載の高誘電率
セラミックの製法。(8) Step (a) is to mechanically mix doped SrTiO_3 particles with a sintering aid of a powdered mineral composition, and the mineral composition is selected from Pb, Ge, Bi, P, and Ba. A method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 7, in which the ceramic is an oxide.
末の粒子を金属アルコキシド溶液で含浸し、そのアルコ
キシドをゲル状にし、このようにして粒子状に(met
aloxane)金属層をコーティングし、そのコーテ
ィング粉末を乾燥して、コーティングを複合金属酸化物
からなる焼結助剤の固相に変換することにより工程(a
)がなされる特許請求の範囲第7項に記載の高誘電率セ
ラミックの製法。(9) Sol-gel technology, i.e. impregnating particles of doped SrTiO_3 powder with metal alkoxide solution, gelling the alkoxide and thus converting it into particles (met
step (a
) A method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 7.
キシドから選択され、複合金属酸化相がそれぞれゲルマ
ニウム酸鉛とボロンビスマス酸鉛からなる特許請求の範
囲第9項に記載の高誘電率セラミックの製法。(10) The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 9, wherein the alkoxide is selected from alkoxides of Pb, Ge, Bi, and B, and the composite metal oxidation phase is comprised of lead germanate and lead boron bismuthate, respectively. .
ケイ酸アルミニウム層で補足コーティングし、その補足
にはアルミニウムアルコキシドとシリコンアルコキシド
のゲル状溶液を使用するようにした特許請求の範囲第9
項に記載の高誘電率セラミックの製法。(11) In step (a), the doped SrTiO_3 is first supplementally coated with an aluminum silicate layer, and a gel-like solution of aluminum alkoxide and silicon alkoxide is used for the supplement.
The manufacturing method of the high dielectric constant ceramic described in Section.
9)又は(11)のような金属酸化物の第1コーティン
グを含むようにした特許請求の範囲第8項に記載の高誘
電率セラミックの製法。(12) Doped SrTiO_3 includes the claims (
A method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 8, comprising a first coating of a metal oxide such as (9) or (11).
求の範囲第7項に記載の高誘電率セラミックの製法。(13) The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 7, wherein the sintered body is heat-treated in air after sintering.
ムに沿って冷却させる特許請求の範囲第13項に記載の
高誘電率セラミックの製法。(14) The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 13, wherein the heat treatment involves cooling the still hot molded body according to a set cooling program.
、空気中で焼きなまし処理した特許請求の範囲第13項
に記載の高誘電率セラミックの製法。(15) The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 13, wherein the heat treatment is performed by cooling the sintered body in an inert gas and then annealing it in air.
250℃/hrの速度で冷却した特許請求の範囲第14
項に記載の高誘電率セラミックの製法。(16) Place the sintered body in the air from the sintering temperature to room temperature for 50~
Claim 14 cooled at a rate of 250°C/hr
The manufacturing method of the high dielectric constant ceramic described in Section.
定温度まで冷却し、その後、空気中、50〜250℃/
hrの速度で冷却した特許請求の範囲第14項に記載の
高誘電率セラミックの製法。(17) Cool the sintered body from the sintering temperature to the set temperature in the sintering atmosphere, and then cool it in the air at 50-250℃/
A method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 14, wherein the ceramic is cooled at a rate of hr.
を150〜200℃/hrとした特許請求の範囲第17
項に記載のセラミック焼結体の製造方法。(18) Claim 17, in which the set temperature is 800 to 1100°C and the cooling rate is 150 to 200°C/hr.
A method for producing a ceramic sintered body as described in 2.
〜1200℃で0.5〜5時間再加熱した特許請求の範
囲第15項に記載の高誘電率セラミックの製法。(19) After the first cooling, the sintered body was placed in air or oxygen for 800 hrs.
The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 15, which is reheated at ~1200°C for 0.5 to 5 hours.
布し、その組成物を焼きなまし温度で溶融してセラミッ
ク中に拡散させ、バリヤー境界絶縁相を強化した特許請
求の範囲第19項に記載の高誘電率セラミックの製法。(20) A glass-forming composition is applied to the sintered body prior to reheating, and the composition is melted and diffused into the ceramic at an annealing temperature to strengthen the barrier boundary insulating phase. The manufacturing method of the high dielectric constant ceramic described in Section.
粉状鉱物組成物のスラリーである特許請求の範囲第20
項に記載の高誘電率セラミックの製法。(21) The glass-forming composition is a slurry of a powdered mineral composition doped on the surface of the sintered body.
The manufacturing method of the high dielectric constant ceramic described in Section.
2、B_2O_3、Bi_2O_3、PbF_2、Cu
O、SrTiO_3のうち少なくとも1からなる特許請
求の範囲第21項に記載の高誘電率セラミックの製法。(22) The glass-forming composition comprises the compounds PbO, GeO_
2, B_2O_3, Bi_2O_3, PbF_2, Cu
22. The method for producing a high dielectric constant ceramic according to claim 21, which comprises at least one of O, SrTiO_3.
散処理中、焼結体の表面で金属フィルムとなり、その後
コンデンサ電極として使用される特許請求の範囲第21
項に記載の高誘電率セラミックの製法。(23) The slurry contains a powdered metal, and the metal becomes a metal film on the surface of the sintered body during the diffusion treatment, and is then used as a capacitor electrode.
The manufacturing method of the high dielectric constant ceramic described in Section.
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