JPS62207863A - 高速スパツタリング装置 - Google Patents
高速スパツタリング装置Info
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- JPS62207863A JPS62207863A JP4888486A JP4888486A JPS62207863A JP S62207863 A JPS62207863 A JP S62207863A JP 4888486 A JP4888486 A JP 4888486A JP 4888486 A JP4888486 A JP 4888486A JP S62207863 A JPS62207863 A JP S62207863A
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Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は1allを形成するための高速スパッタリング
装置に関するものである。
装置に関するものである。
従来の技術
従来の高速スパッタリング装置では、高速の成膜速度を
得るために、第5図に示すように、カソード31の内部
に、ターゲット32の中央部と周辺部で磁極が逆向きに
なるように永久磁石33が設置されており、ターゲット
32上の放電空間の一部ではターゲット32面と平行な
ill!1が形成されている。
得るために、第5図に示すように、カソード31の内部
に、ターゲット32の中央部と周辺部で磁極が逆向きに
なるように永久磁石33が設置されており、ターゲット
32上の放電空間の一部ではターゲット32面と平行な
ill!1が形成されている。
この磁場と7ノードからカソード31への電場とによっ
て、電子が放電空間内をトロコイダル運動をしながらタ
ーゲット32近傍に閉じ込められる。このためプラズマ
の密度が高くなり、通常のダイオードスパッタリング装
置に比較して成膜速度が大きくなっていた。
て、電子が放電空間内をトロコイダル運動をしながらタ
ーゲット32近傍に閉じ込められる。このためプラズマ
の密度が高くなり、通常のダイオードスパッタリング装
置に比較して成膜速度が大きくなっていた。
発明が解決しようとする問題点
このような従来のスパッタリングatでは、プラズマ密
度の高い部分が狭い部分に限定されていたため、ターゲ
ットのスパッタリングされる部分が狭く利tn効率が著
しく悪かった。また、スパッタリングされる部分のみが
加熱され、大きな電力を投入すると、ターゲットがセラ
ミックスの場合は割れたり、ターゲットがメタルの場合
は溶けたりするため、十分に電力が投入できず、成膜速
度が限られていた。
度の高い部分が狭い部分に限定されていたため、ターゲ
ットのスパッタリングされる部分が狭く利tn効率が著
しく悪かった。また、スパッタリングされる部分のみが
加熱され、大きな電力を投入すると、ターゲットがセラ
ミックスの場合は割れたり、ターゲットがメタルの場合
は溶けたりするため、十分に電力が投入できず、成膜速
度が限られていた。
本発明はかかる問題点を解決するもので、ターゲットの
広い部分をスパッタリングし、ターゲットの利用効率と
成膜速度を高くすることができるスパッタリング装置を
、提供することを目的としている。
広い部分をスパッタリングし、ターゲットの利用効率と
成膜速度を高くすることができるスパッタリング装置を
、提供することを目的としている。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明は、カソード内部に
ターゲットに対向し1て一方の磁極のみが前記ターゲッ
トに面するように磁石を配置し、前記ターゲット中央の
放電空間でカソード内部の磁石が形成する磁場と逆向き
の磁場を形成する磁石をカソード外部に配置した構成に
したものである。
ターゲットに対向し1て一方の磁極のみが前記ターゲッ
トに面するように磁石を配置し、前記ターゲット中央の
放電空間でカソード内部の磁石が形成する磁場と逆向き
の磁場を形成する磁石をカソード外部に配置した構成に
したものである。
作用
上記構成により、2つの磁石によりターゲット上の放電
空間の広い部分において、ターゲツト面と平行な磁場が
形成され、それに応じてプラズマ密度の高い部分が広が
るため、ターゲットの広い部分をスパッタリングできる
。
空間の広い部分において、ターゲツト面と平行な磁場が
形成され、それに応じてプラズマ密度の高い部分が広が
るため、ターゲットの広い部分をスパッタリングできる
。
実施例
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は第1の実施例を示す。第1図において、カソード1
内部に、円板状の200φのターゲット2に対向して円
柱状の永久磁石3が配置されており、表板4をへだでて
永久磁石3のNMがターゲット2に而している。この永
久磁石310独で形成されるIJWはターゲット2直上
の空間ではターゲツト面に対してぽぼ垂直で、その強さ
はターゲット2の中心部分では約2500 eである。
図は第1の実施例を示す。第1図において、カソード1
内部に、円板状の200φのターゲット2に対向して円
柱状の永久磁石3が配置されており、表板4をへだでて
永久磁石3のNMがターゲット2に而している。この永
久磁石310独で形成されるIJWはターゲット2直上
の空間ではターゲツト面に対してぽぼ垂直で、その強さ
はターゲット2の中心部分では約2500 eである。
また、カソード1の周囲にはコイル5が配置されており
、このコイル5には永久磁石3の作る磁場と逆向きの磁
場がターゲット直上の空間で形成されるように電流を流
す。そうすると永久磁石3とコイル5で形成される11
場どうしが反発し合い、ターゲット2の直上の広い範囲
でターゲツト面と平行な磁場が作られる。この第1の実
施例では、ターゲット2はpbとTiの扇形の板2aと
2bを第2図のように放射状に並べたものである。pb
とT1の面積比は約1:2にしである。
、このコイル5には永久磁石3の作る磁場と逆向きの磁
場がターゲット直上の空間で形成されるように電流を流
す。そうすると永久磁石3とコイル5で形成される11
場どうしが反発し合い、ターゲット2の直上の広い範囲
でターゲツト面と平行な磁場が作られる。この第1の実
施例では、ターゲット2はpbとTiの扇形の板2aと
2bを第2図のように放射状に並べたものである。pb
とT1の面積比は約1:2にしである。
第1図で基板6は加熱治具7に保持されている。
チャンバー内を排気した後、A「と02を3:1の割合
で導入し、DCスパッタリングを行なった。
で導入し、DCスパッタリングを行なった。
コイル5には永久磁石3のない場合にターゲット2直上
で約150Q eの磁場ができるように電流を流した。
で約150Q eの磁場ができるように電流を流した。
この時プラズマの強い領域がターゲツト面を広く菫って
放電した。基板6としてpt薄膜付きのガラス板を用い
、基板温度を600℃に保フた。放電電力としては3.
2に−までがPb板が溶けずに投入することができた。
放電した。基板6としてpt薄膜付きのガラス板を用い
、基板温度を600℃に保フた。放電電力としては3.
2に−までがPb板が溶けずに投入することができた。
比較のため第5図に示ず従来の高速スパッタリング装置
を用いて同様の実験を行なうと、放電電力が1.8に一
以上ではpb板がとけてスパッタリングが続けられなか
フた。スパッタリング俊ターゲット2のエロシーヨン域
は、第2図で2本の破線で囲まれたリング状の領域へが
第1図に示す高速スパッタリング装置によるもので、第
2図の2本の一点鎖線に囲まれたドーナツ状の領域Bが
従来の高速スパッタリング装置によるものであプ7S:
a第1図のi置を用いた方が大きな放電電力を投入でき
た理由は、第2図に示すよう゛に広い範囲にわたりスパ
ッタリングされたことによると考えられる。また、得ら
れた薄膜の特性は、第1図の装置によるものと従来の8
22によるものとでかわりはなかった。
を用いて同様の実験を行なうと、放電電力が1.8に一
以上ではpb板がとけてスパッタリングが続けられなか
フた。スパッタリング俊ターゲット2のエロシーヨン域
は、第2図で2本の破線で囲まれたリング状の領域へが
第1図に示す高速スパッタリング装置によるもので、第
2図の2本の一点鎖線に囲まれたドーナツ状の領域Bが
従来の高速スパッタリング装置によるものであプ7S:
a第1図のi置を用いた方が大きな放電電力を投入でき
た理由は、第2図に示すよう゛に広い範囲にわたりスパ
ッタリングされたことによると考えられる。また、得ら
れた薄膜の特性は、第1図の装置によるものと従来の8
22によるものとでかわりはなかった。
次に第3図に第2の実施例を示す。第3図において、カ
ソード11内部の永久磁石13により作られる磁場と逆
向きの磁場を作るために、永久磁石15をターゲット1
2の上方に設置した。永久磁石15の作るm場強度は永
久磁石13とはば同一である。ターゲット12には20
0φのAl20x円板を用いた。
ソード11内部の永久磁石13により作られる磁場と逆
向きの磁場を作るために、永久磁石15をターゲット1
2の上方に設置した。永久磁石15の作るm場強度は永
久磁石13とはば同一である。ターゲット12には20
0φのAl20x円板を用いた。
基板16は永久磁石15の下に取り付ける。チャンバー
内を排気した後、A「と02を4:1の割合で導入し、
RFスパッタリングを行った。放電電力は4.0K14
まで投入したが、Al2O3ターゲット12に変化はな
く、安定したスパッタリングができた。一方、第5図の
従来の高速スパッタリング装置を用いた場合。放電電力
を2.3に−まで上げると、A120xターゲツトには
熱膨張のためにクラックが入った。成膜後膜厚分布を測
定したところ、第3図の装置では±10%の膜厚範囲が
140φの領域で得られたが、従来の装置では110φ
の領域に限られていた。基板上の各点での成膜速度その
ものは大きな差はなかったが、50程度の小さな基板に
成膜する場合、第3図の装置の方が2倍近い数を一度に
成膜でき、生産性は高い。
内を排気した後、A「と02を4:1の割合で導入し、
RFスパッタリングを行った。放電電力は4.0K14
まで投入したが、Al2O3ターゲット12に変化はな
く、安定したスパッタリングができた。一方、第5図の
従来の高速スパッタリング装置を用いた場合。放電電力
を2.3に−まで上げると、A120xターゲツトには
熱膨張のためにクラックが入った。成膜後膜厚分布を測
定したところ、第3図の装置では±10%の膜厚範囲が
140φの領域で得られたが、従来の装置では110φ
の領域に限られていた。基板上の各点での成膜速度その
ものは大きな差はなかったが、50程度の小さな基板に
成膜する場合、第3図の装置の方が2倍近い数を一度に
成膜でき、生産性は高い。
次に第4図に第3の実施例を示す。第4図はインライン
型のスパッタリング装置に適用したもので、その見取図
を示す。ターゲット22は5“X15″!ナイズのBa
Ta 20sのセラミックスを用いている。ターゲッ
ト22の周囲にはコイル25が配置されている。ターゲ
ット25の下方のカソード21内部には永久磁石23が
配置されている。磁場強度は第1の実施例の約1.5倍
である。チャンバー排気襖、A「と02ガスを導入して
RFスパッタリングを行なった。第5図に示すようなカ
ソード内部で磁極の向きが逆な磁石を配置している従来
の装置と比較して約2倍の6.5Kkの放電電力を投入
することができた。基板を移動しながら成膜する装置で
あるから、投入電力に応じて従来の2倍の成膜速度が得
られた。
型のスパッタリング装置に適用したもので、その見取図
を示す。ターゲット22は5“X15″!ナイズのBa
Ta 20sのセラミックスを用いている。ターゲッ
ト22の周囲にはコイル25が配置されている。ターゲ
ット25の下方のカソード21内部には永久磁石23が
配置されている。磁場強度は第1の実施例の約1.5倍
である。チャンバー排気襖、A「と02ガスを導入して
RFスパッタリングを行なった。第5図に示すようなカ
ソード内部で磁極の向きが逆な磁石を配置している従来
の装置と比較して約2倍の6.5Kkの放電電力を投入
することができた。基板を移動しながら成膜する装置で
あるから、投入電力に応じて従来の2倍の成膜速度が得
られた。
このように、本発明はターゲット上の空間でのプラズマ
密度の高い領域を広げて、ターゲットのエロージョン領
域を大きくしようとするものであり、カソード内の磁石
はターゲットの下方の一部だけでは不十分で、カソード
内の空間が許す範囲で大きくする必要がある。磁石が小
さいと、従来の高速スパッタリング装置と同様にプラズ
マ密度の高い領域を広くできない。また、カソード而と
平行な磁場を形成するため、カソード内の磁石とともに
実施例で示したようにコイルや永久磁石が必要であるが
、コイルと永久磁石の両方をカソード外に配置すればさ
らに良好な磁場が得られる。
密度の高い領域を広げて、ターゲットのエロージョン領
域を大きくしようとするものであり、カソード内の磁石
はターゲットの下方の一部だけでは不十分で、カソード
内の空間が許す範囲で大きくする必要がある。磁石が小
さいと、従来の高速スパッタリング装置と同様にプラズ
マ密度の高い領域を広くできない。また、カソード而と
平行な磁場を形成するため、カソード内の磁石とともに
実施例で示したようにコイルや永久磁石が必要であるが
、コイルと永久磁石の両方をカソード外に配置すればさ
らに良好な磁場が得られる。
カソード内の磁石はカソードに高電圧を印加するために
電磁石より永久磁石を用いた方゛が構成がより1lfi
1t1になり好ましい。
電磁石より永久磁石を用いた方゛が構成がより1lfi
1t1になり好ましい。
発明の効果
以上のように、この発明の高速スパッタリング装置によ
れば、ターゲットの広い領域を平均してスパッタリング
することができ、ターゲットの利用率が高い。同時にセ
ラミックスターゲットの割れやメタルターゲットの融解
を起こさずに十分な放電電力を投入でき、従って成WA
速度を大きくできるという効果を有する。
れば、ターゲットの広い領域を平均してスパッタリング
することができ、ターゲットの利用率が高い。同時にセ
ラミックスターゲットの割れやメタルターゲットの融解
を起こさずに十分な放電電力を投入でき、従って成WA
速度を大きくできるという効果を有する。
第11!lは本発明の第1の実施例における高速スパッ
タリング装置を模式的に示す断面図、第2図はターゲッ
ト材料の配置およびスパッタリングによるエロージョン
領域を表わした図、第3図は本発明の第2の実施例にお
ける高速スパッタリング装置を模式的に示す断面図、第
4図は本発明の第3の実施例における高速スパッタリン
グ装置を示す見取図、第5図は従来例を模式的に示す断
面図である。 1、11.21・・・カソード、2.12.22・・・
ターゲット、3 、13.15.23・・・磁石、5.
25・・・コイル代理人 森 本 義 弘 第1図 /−一一カノード 2−−−y−ゲ)ト 3−一違后 5−−−コイ1し 6−−−茎扱 第3図 ff−一一カブード f2−−−7−ゲプト 13、計穏諏 16−1鰍 第4図 21−m−カソード 2’2−−−、r−%) 23−一一石痙后 25−m−コイ1し
タリング装置を模式的に示す断面図、第2図はターゲッ
ト材料の配置およびスパッタリングによるエロージョン
領域を表わした図、第3図は本発明の第2の実施例にお
ける高速スパッタリング装置を模式的に示す断面図、第
4図は本発明の第3の実施例における高速スパッタリン
グ装置を示す見取図、第5図は従来例を模式的に示す断
面図である。 1、11.21・・・カソード、2.12.22・・・
ターゲット、3 、13.15.23・・・磁石、5.
25・・・コイル代理人 森 本 義 弘 第1図 /−一一カノード 2−−−y−ゲ)ト 3−一違后 5−−−コイ1し 6−−−茎扱 第3図 ff−一一カブード f2−−−7−ゲプト 13、計穏諏 16−1鰍 第4図 21−m−カソード 2’2−−−、r−%) 23−一一石痙后 25−m−コイ1し
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、カソード内部にターゲットに対向して一方の磁極の
みが前記ターゲットに面するように配置された磁石と、
前記ターゲット中央の放電空間でカソード内部の磁石が
形成する磁場と逆向きの磁場を形成するように配置され
た磁石とを有する高速スパッタリング装置。 2、逆向きの磁場を形成する磁石がターゲット周辺を取
り巻くコイルよりなる電磁石であることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の高速スパッタリング装置。 3、逆向きの磁場を形成する磁石が一方の磁極のみがタ
ーゲットに面するようにカソード外に配置された永久磁
石であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
高速スパッタリング装置。 4、カソード内部の磁石が永久磁石であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の高速スパッタリング装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4888486A JPS62207863A (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 高速スパツタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4888486A JPS62207863A (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 高速スパツタリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62207863A true JPS62207863A (ja) | 1987-09-12 |
Family
ID=12815708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4888486A Pending JPS62207863A (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 高速スパツタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62207863A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07138753A (ja) * | 1993-03-18 | 1995-05-30 | Toshiba Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
JP2004523658A (ja) * | 2001-03-27 | 2004-08-05 | フンダシオン テクニケル | 大きい表面領域を有するターゲットのための強力な磁気ガイドを伴うアーク蒸着装置 |
WO2011161903A1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 株式会社神戸製鋼所 | 成膜速度が速いアーク式蒸発源、このアーク式蒸発源を用いた皮膜の製造方法及び成膜装置 |
JP2013100605A (ja) * | 2013-01-08 | 2013-05-23 | Fundacion Tekniker | 大きい表面領域を有するターゲットのための強力な磁気ガイドを伴うアーク蒸着装置 |
JP2017193770A (ja) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | 国立大学法人茨城大学 | Ru成膜方法、Ru成膜装置、金属成膜装置、Ruバリアメタル層、配線構造 |
-
1986
- 1986-03-06 JP JP4888486A patent/JPS62207863A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07138753A (ja) * | 1993-03-18 | 1995-05-30 | Toshiba Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
JP2004523658A (ja) * | 2001-03-27 | 2004-08-05 | フンダシオン テクニケル | 大きい表面領域を有するターゲットのための強力な磁気ガイドを伴うアーク蒸着装置 |
WO2011161903A1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 株式会社神戸製鋼所 | 成膜速度が速いアーク式蒸発源、このアーク式蒸発源を用いた皮膜の製造方法及び成膜装置 |
JP2012026026A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-02-09 | Kobe Steel Ltd | 成膜速度が速いアーク式蒸発源、このアーク式蒸発源を用いた皮膜の製造方法及び成膜装置 |
US9266180B2 (en) | 2010-06-23 | 2016-02-23 | Kobe Steel, Ltd. | Arc evaporation source having fast film-forming speed, coating film manufacturing method and film formation apparatus using the arc evaporation source |
JP2013100605A (ja) * | 2013-01-08 | 2013-05-23 | Fundacion Tekniker | 大きい表面領域を有するターゲットのための強力な磁気ガイドを伴うアーク蒸着装置 |
JP2017193770A (ja) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | 国立大学法人茨城大学 | Ru成膜方法、Ru成膜装置、金属成膜装置、Ruバリアメタル層、配線構造 |
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