JPS62193129A - 処理装置 - Google Patents
処理装置Info
- Publication number
- JPS62193129A JPS62193129A JP3294486A JP3294486A JPS62193129A JP S62193129 A JPS62193129 A JP S62193129A JP 3294486 A JP3294486 A JP 3294486A JP 3294486 A JP3294486 A JP 3294486A JP S62193129 A JPS62193129 A JP S62193129A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- wafer
- center
- head
- processing
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、処理技術、特に、処理ガスを用いて被処理物
に所望の処理を施す処理技術に関し、例えば、半導体装
置の製造工程において、ウェハに酸化膜を形成するのに
利用して有すノな技術に関する。
に所望の処理を施す処理技術に関し、例えば、半導体装
置の製造工程において、ウェハに酸化膜を形成するのに
利用して有すノな技術に関する。
半導体装置の製造工程において、ウェハに酸化膜を形成
する場合、常圧CVD装五が使用されることがあり、こ
の常圧CVD装置として、細長いガス吹出口を複数条備
えているヘッドと、ガスを吹出口の周辺方向に吸引する
ように排気する手段とを備えており、ウェハを吹出口の
近傍において短手方向に連続的に移送してウェハ上にC
VD膜を被着させて行くように構成されているものがあ
る。
する場合、常圧CVD装五が使用されることがあり、こ
の常圧CVD装置として、細長いガス吹出口を複数条備
えているヘッドと、ガスを吹出口の周辺方向に吸引する
ように排気する手段とを備えており、ウェハを吹出口の
近傍において短手方向に連続的に移送してウェハ上にC
VD膜を被着させて行くように構成されているものがあ
る。
なお、酸化膜形成技術を述べである例としては、株式会
社工業調査会発行「電子材料1983年11月号別冊」
昭和58年11月15日発行 P57〜P62、がある
。
社工業調査会発行「電子材料1983年11月号別冊」
昭和58年11月15日発行 P57〜P62、がある
。
しかし、このような連続式常圧CVD装置においては、
吹出口から吹き出されたガスの流口がウェハ上の中央部
と周辺部とで太き(異なるため、ウェハ上におけるデポ
ジションレートが異なり、膜厚が周辺部で厚く中央部で
薄くなり不均一になるという問題点があることが、本発
明者によって明らかにされた。
吹出口から吹き出されたガスの流口がウェハ上の中央部
と周辺部とで太き(異なるため、ウェハ上におけるデポ
ジションレートが異なり、膜厚が周辺部で厚く中央部で
薄くなり不均一になるという問題点があることが、本発
明者によって明らかにされた。
本発明の目的は、処理を均一化することができる処理技
術を提供することにある。
術を提供することにある。
本発明の他の目的は、成膜処理において良好なステ、プ
カバレージを得ることができる処理技術を提供すること
にある。
カバレージを得ることができる処理技術を提供すること
にある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
を説明すれば、次の通りである。
すなわち、ガスを吸引する排気手段をヘッドの周辺部に
限らず、中央部にも設けたものである。
限らず、中央部にも設けたものである。
前記した手段によれば、ヘッドから吹き出されたガスが
周辺方向ばかりでなく、中央方向にも吸引されることに
より、被処理物ステージにおけるガス流量が中央部と周
辺部とで均一化されるため、ガスによる処理が全体にわ
たって均一化されることになる。
周辺方向ばかりでなく、中央方向にも吸引されることに
より、被処理物ステージにおけるガス流量が中央部と周
辺部とで均一化されるため、ガスによる処理が全体にわ
たって均一化されることになる。
第1図は本発明の一実施例である常圧CVD装置を示す
縦断面図、第2図はヘッドを示す斜視図、第3図および
第4図はその作用を説明するための各膜厚分布図である
。
縦断面図、第2図はヘッドを示す斜視図、第3図および
第4図はその作用を説明するための各膜厚分布図である
。
本実施例において、酸化膜の形成処理を行う処理装置と
しての常圧CVD装置は処理室1を備えており、処理室
1の互いに対向する側壁(以下、左右壁とする。)には
扉を有する搬入口2および搬出口3が、被処理物として
のウェハ4が複数枚宛収容されているカセット5から1
枚のウェハ4を搬入搬出し得るようにそれぞれ開設され
ている。
しての常圧CVD装置は処理室1を備えており、処理室
1の互いに対向する側壁(以下、左右壁とする。)には
扉を有する搬入口2および搬出口3が、被処理物として
のウェハ4が複数枚宛収容されているカセット5から1
枚のウェハ4を搬入搬出し得るようにそれぞれ開設され
ている。
処理室1内の下部には被処理物ステージとしてのターン
テーブル6がウェハ4を一枚宛載置状態に保持し得るよ
うに配設されており、ターンテーブル6の両端部にはハ
ンドラ(図示せず)がカセット5とターンテーブル6と
の間でウェハ4の受は渡しを行えるようにそれぞれ設備
されている。ターンテーブル6はウェハ4を保持した状
態でモータ等のような適当な駆動手段により回転される
ように構成されており、ターンテーブル6の下にはヒー
タ13がウェハ4を加熱し得るように配設されている。
テーブル6がウェハ4を一枚宛載置状態に保持し得るよ
うに配設されており、ターンテーブル6の両端部にはハ
ンドラ(図示せず)がカセット5とターンテーブル6と
の間でウェハ4の受は渡しを行えるようにそれぞれ設備
されている。ターンテーブル6はウェハ4を保持した状
態でモータ等のような適当な駆動手段により回転される
ように構成されており、ターンテーブル6の下にはヒー
タ13がウェハ4を加熱し得るように配設されている。
処理室1内には排気フード7がターンテーブル6のの真
上に配されて吊持されており、排気フード7には真空ポ
ンプ等のような排気装置(図示せず)に接続される排気
口8が開設されている。排気フード7内には4側面に凹
所11aを形成されている略立方体形状のヘッド11が
嵌挿されて支持されており、各凹所11aは排気口8に
連通されることによりフード7との間でガスを吸引する
ための排気手段としての周辺部排気路9をそれぞれ形成
するようになっている。また、ヘットIIの中央部には
中央部排気路IOが排気口8とヘッド11下面空間とを
連通させるように上下に貫通されて開設されており、こ
の排気路IOはターンテーブル6の中心に略対向するよ
うになっている。
上に配されて吊持されており、排気フード7には真空ポ
ンプ等のような排気装置(図示せず)に接続される排気
口8が開設されている。排気フード7内には4側面に凹
所11aを形成されている略立方体形状のヘッド11が
嵌挿されて支持されており、各凹所11aは排気口8に
連通されることによりフード7との間でガスを吸引する
ための排気手段としての周辺部排気路9をそれぞれ形成
するようになっている。また、ヘットIIの中央部には
中央部排気路IOが排気口8とヘッド11下面空間とを
連通させるように上下に貫通されて開設されており、こ
の排気路IOはターンテーブル6の中心に略対向するよ
うになっている。
ヘッド11の下面には細長いスリット状の吹出口12が
複数条、ガスをターンテーブル6に向けて吹き出せるよ
うに開設されており、各吹出口12は互いに平行で両端
を揃えられて配設されている。ヘッドIIの内部にはガ
ス通路14が各吹出口12のそれぞれに対応して、吹出
口12を縦方向に連続させてなる中空形状に形成されて
おり、各ガス通路14のそれぞれは互いに、および各排
気路9、lOとの連通を遮断されている。また、ヘッド
11の内部には2系統のガス供給路15a、15bがそ
れぞれ形成されており、両供給路15a、15bには互
いに隣り合うガス通路14a、14bがそれぞれ交互に
接続されている。
複数条、ガスをターンテーブル6に向けて吹き出せるよ
うに開設されており、各吹出口12は互いに平行で両端
を揃えられて配設されている。ヘッドIIの内部にはガ
ス通路14が各吹出口12のそれぞれに対応して、吹出
口12を縦方向に連続させてなる中空形状に形成されて
おり、各ガス通路14のそれぞれは互いに、および各排
気路9、lOとの連通を遮断されている。また、ヘッド
11の内部には2系統のガス供給路15a、15bがそ
れぞれ形成されており、両供給路15a、15bには互
いに隣り合うガス通路14a、14bがそれぞれ交互に
接続されている。
次に作用を説明する。
処理すべきウェハ4は複数枚宛収容された状態のカセッ
ト5から1枚のウェハ4のみが搬入口2から処理室l内
へ適時1般入される。この実カセット5内のウェハ4は
ハンドラによりターンテーブルG上に1枚宛移載され、
ターンテーブル6により回転される。
ト5から1枚のウェハ4のみが搬入口2から処理室l内
へ適時1般入される。この実カセット5内のウェハ4は
ハンドラによりターンテーブルG上に1枚宛移載され、
ターンテーブル6により回転される。
一方、ガス供給路15a、15bには所望の処理を行う
ための処理ガスがそれぞれ送り込まれる。
ための処理ガスがそれぞれ送り込まれる。
例えば、ウェハ上にシリコン酸化膜を被着させる場合に
は、モノシランおよび酸素がそれぞれ送り込まれる。同
時に、排気口8を通じて各排気路9およびioが排気さ
れる。
は、モノシランおよび酸素がそれぞれ送り込まれる。同
時に、排気口8を通じて各排気路9およびioが排気さ
れる。
両供給路15a、15bにそれぞれ送り込まれたガスは
これらに接続されている通路14a、14b群にそれぞ
れ供給され、それらの吹出口12からターンテーブル6
上のウェハ4に向けてそれぞれ吹き出される。このとき
、ヘッド11の外側および中央部にそれぞれ配された排
気路9.10が排気を行っているため、吹出口12から
吹き出したガスは周辺部および中央部方向に吸引される
ように流れることになる。
これらに接続されている通路14a、14b群にそれぞ
れ供給され、それらの吹出口12からターンテーブル6
上のウェハ4に向けてそれぞれ吹き出される。このとき
、ヘッド11の外側および中央部にそれぞれ配された排
気路9.10が排気を行っているため、吹出口12から
吹き出したガスは周辺部および中央部方向に吸引される
ように流れることになる。
そして、吹き出されたガスはCVD反応を起こすことに
より、ヘッド11の真下でターンテーブル6によって回
転されているウェハ4上にCVD膜を形成する。
より、ヘッド11の真下でターンテーブル6によって回
転されているウェハ4上にCVD膜を形成する。
ガスにより処理されたウェハ4はターンテーブル6から
ハンドラにより空力セット5に順次収容される。カセッ
ト5が満杯になると、処理済みウェハはカセットに収容
されたまま、搬出口3から外部へ適時1般出される。
ハンドラにより空力セット5に順次収容される。カセッ
ト5が満杯になると、処理済みウェハはカセットに収容
されたまま、搬出口3から外部へ適時1般出される。
ところで、第3図に示されているように、ヘッドの中央
部に排気路が開設されていない場合、ガス吹出口から吹
き出されたガスはウェハの周辺方向にのみ流れるため、
ウェハ上のガス流量は周辺部に集中することにより、中
央部で希薄になり、その結果、ウェハ上の膜厚分布は同
図に示されているように、周辺部で厚く、中央部で薄く
なってしまう。
部に排気路が開設されていない場合、ガス吹出口から吹
き出されたガスはウェハの周辺方向にのみ流れるため、
ウェハ上のガス流量は周辺部に集中することにより、中
央部で希薄になり、その結果、ウェハ上の膜厚分布は同
図に示されているように、周辺部で厚く、中央部で薄く
なってしまう。
しかし、本実施例においては、ヘッド11の中央部にも
排気路10が開設されているため、ガス吹出口12から
吹き出されたガスはウェハ上4の周辺方向と中央方向と
に流れることより、ウェハ4上のガス流量は周辺から中
央にわたって均一になる。その結果、ガスによるデポジ
ションレートが均等になるため、第4図に示されている
ように、ウェハ4上の膜厚分布は周辺から中央にわたっ
て均一になる。
排気路10が開設されているため、ガス吹出口12から
吹き出されたガスはウェハ上4の周辺方向と中央方向と
に流れることより、ウェハ4上のガス流量は周辺から中
央にわたって均一になる。その結果、ガスによるデポジ
ションレートが均等になるため、第4図に示されている
ように、ウェハ4上の膜厚分布は周辺から中央にわたっ
て均一になる。
また、本実施例においては、成膜処理中、ウェハ4はタ
ーンテーブル6により回転されているため、ウェハ4の
パターンにおける段差部に対するステップカバレージは
きわめて良好になる。すなわち、段差部は回転に伴って
ガス流に対する向きを全方位について略均等に向けるこ
とになるためである。しかも、前述のように膜厚分布が
全体的に均一化されるため、ステージカバレージも全体
的に略均等になる。
ーンテーブル6により回転されているため、ウェハ4の
パターンにおける段差部に対するステップカバレージは
きわめて良好になる。すなわち、段差部は回転に伴って
ガス流に対する向きを全方位について略均等に向けるこ
とになるためである。しかも、前述のように膜厚分布が
全体的に均一化されるため、ステージカバレージも全体
的に略均等になる。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
(1) ヘッドの中央部にも排気手段を設けることに
より、ガス吹出口から吹き出されたガスは周辺方向と中
央部とに流れることになるため、ガス流量を周辺から中
央にわたって均一化させることができ、その結果、ガス
による成膜処理レートを全体にわたって均等化すること
ができ、膜厚分布を均一化することができる。
より、ガス吹出口から吹き出されたガスは周辺方向と中
央部とに流れることになるため、ガス流量を周辺から中
央にわたって均一化させることができ、その結果、ガス
による成膜処理レートを全体にわたって均等化すること
ができ、膜厚分布を均一化することができる。
(2)成膜処理中、被処理物を回転させることができる
ように構成することにより、各部におけるガス流に対す
る向きを全方位に向けさせることができるため、成膜の
ステップカバレージをきわめて良化させることができる
。
ように構成することにより、各部におけるガス流に対す
る向きを全方位に向けさせることができるため、成膜の
ステップカバレージをきわめて良化させることができる
。
(3)前記(2)、(3)により、被処理物における処
理状態を全体にわたって均一化することができるため、
製品を均質化することができるとともに、製品歩留りを
高めることができる。
理状態を全体にわたって均一化することができるため、
製品を均質化することができるとともに、製品歩留りを
高めることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、被処理物ステーションとしては、被処理物を回
転させるように構成されているターンテーブルを使用す
るに限らず、被処理物を一方向に連続的または断続的に
1般送するように構成されているコンベア等を使用して
もよい。
転させるように構成されているターンテーブルを使用す
るに限らず、被処理物を一方向に連続的または断続的に
1般送するように構成されているコンベア等を使用して
もよい。
吹出口の幅、長さ、条数等に限定はないし、吹出口に連
通ずる通路、ヘッドや排気手段の形状、構造等にも限定
はない。
通ずる通路、ヘッドや排気手段の形状、構造等にも限定
はない。
吹き出させるガスの種類は2種類に限らず、1種類でも
3種類以上であってもよいし、隣り合う吹出口が互いに
異なる種類のガスを吹き出すように構成するに限らず、
複数置きに異なる種類のガスを吹き出すように構成して
もよい。
3種類以上であってもよいし、隣り合う吹出口が互いに
異なる種類のガスを吹き出すように構成するに限らず、
複数置きに異なる種類のガスを吹き出すように構成して
もよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である常圧CVD装置に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、その他のCVD装置、酸化膜形成装置、拡散
装置等に通用することができる。本発明は少なくとも処
理ガスを使用する処理装置全般に適用することができる
。
をその背景となった利用分野である常圧CVD装置に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、その他のCVD装置、酸化膜形成装置、拡散
装置等に通用することができる。本発明は少なくとも処
理ガスを使用する処理装置全般に適用することができる
。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
ヘッドの中央部にも排気手段を設けることにより、ガス
吹出口から吹き出されたガスは周辺方向と中央方向とに
流れることになるため、ガス流量を周辺から中央にわた
って均一化させることができ、ガスによる処理レートの
均一化により処理を均一化することができる。
吹出口から吹き出されたガスは周辺方向と中央方向とに
流れることになるため、ガス流量を周辺から中央にわた
って均一化させることができ、ガスによる処理レートの
均一化により処理を均一化することができる。
第1図は本発明の一実施例である常圧CVD装置を示す
縦断面図、 第2図はへ/ドを示す斜視図、 第3図および第4図はその作用を説明するための各膜厚
分布図である。 1・・・処理室、2・・・搬入口、3・・・搬出口、4
・・・ウェハ(被処理物)、5・・・カセット、6・・
・ターンテーブル(被処理物ステージ)、7・・・排気
フード、8・・・排気口、9・・・周辺部排気路(排気
手段)、10・・・中央部排気路(排気手段)、11・
・・ヘッド、12・・・吹出口、13・・・ヒータ、1
4・・・ガス通路、15a、15b・・・ガス供給路。 \、 フ 代理人 弁理士 小川勝馬 ノ 第 2 図 第 3 図 腓!分叶 第 4 図 輝4分子
縦断面図、 第2図はへ/ドを示す斜視図、 第3図および第4図はその作用を説明するための各膜厚
分布図である。 1・・・処理室、2・・・搬入口、3・・・搬出口、4
・・・ウェハ(被処理物)、5・・・カセット、6・・
・ターンテーブル(被処理物ステージ)、7・・・排気
フード、8・・・排気口、9・・・周辺部排気路(排気
手段)、10・・・中央部排気路(排気手段)、11・
・・ヘッド、12・・・吹出口、13・・・ヒータ、1
4・・・ガス通路、15a、15b・・・ガス供給路。 \、 フ 代理人 弁理士 小川勝馬 ノ 第 2 図 第 3 図 腓!分叶 第 4 図 輝4分子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、細長いガス吹出口を複数条備えているヘッドが被処
理物ステージに対向されており、このヘッドにはガスを
吸引する排気手段が周辺部および中央部にそれぞれ設け
られていることを特徴とする処理装置。 2、被処理物ステージが、回転するように構成されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の処理装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3294486A JPS62193129A (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3294486A JPS62193129A (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62193129A true JPS62193129A (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=12373060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3294486A Pending JPS62193129A (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62193129A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6376334A (ja) * | 1986-09-18 | 1988-04-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Cvd薄膜形成装置 |
JPS63289926A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-28 | Canon Inc | 堆積膜形成装置及びプラズマ処理装置 |
JPH02184022A (ja) * | 1989-01-11 | 1990-07-18 | Koujiyundo Kagaku Kenkyusho:Kk | Cvd電極 |
JPH04346669A (ja) * | 1991-05-21 | 1992-12-02 | Nec Yamagata Ltd | 常圧cvd装置 |
-
1986
- 1986-02-19 JP JP3294486A patent/JPS62193129A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6376334A (ja) * | 1986-09-18 | 1988-04-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Cvd薄膜形成装置 |
JPS63289926A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-28 | Canon Inc | 堆積膜形成装置及びプラズマ処理装置 |
JPH02184022A (ja) * | 1989-01-11 | 1990-07-18 | Koujiyundo Kagaku Kenkyusho:Kk | Cvd電極 |
JPH04346669A (ja) * | 1991-05-21 | 1992-12-02 | Nec Yamagata Ltd | 常圧cvd装置 |
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