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JPS62166558A - trimming circuit - Google Patents

trimming circuit

Info

Publication number
JPS62166558A
JPS62166558A JP61010414A JP1041486A JPS62166558A JP S62166558 A JPS62166558 A JP S62166558A JP 61010414 A JP61010414 A JP 61010414A JP 1041486 A JP1041486 A JP 1041486A JP S62166558 A JPS62166558 A JP S62166558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
fuse
trimming
resistor
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61010414A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Ogasawara
和夫 小笠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61010414A priority Critical patent/JPS62166558A/en
Publication of JPS62166558A publication Critical patent/JPS62166558A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent a fuse from being blown except a desire at power source energizing and interrupting time by connecting a resistor which does not cause a parasitic diode between a trimming terminal and an MOS transistor to prevent a semiconductor integrated circuit from latching up and to stably melt the fuse. CONSTITUTION:When the mean blowing voltage of a fuse 11 is 8V and 10V at the maximum, a voltage applied to a trimming terminal 8 normally becomes 10V. The positive power source terminal 3 of a semiconductor integrated circuit frequently becomes approx. 5V by improving integration. Since a parasitic diode 23 represented by a P-channel MOS transistor 7 is also connected with a P-channel MOS transistor 5 at this time, the voltage of 10V applied to the terminal 8 is applied through a resistor 14 and a parasitic diode of the transistor 5 to the terminal 3, and also applied simultaneously between the fuse 11 and a second ground terminal 2.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路のトリミング回路に関し、特に
ヒユーズを用いて調整するトリミング回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a trimming circuit for semiconductor integrated circuits, and more particularly to a trimming circuit adjusted using a fuse.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体集積回路において、基準電圧等をN度艮く実現す
るために、例えばM(JSトランジスタを定を流源動作
させた高抵抗素子とヒユーズとを複数組用意し、トリミ
ング端子よりx圧を印加して選択的にヒユーズを切断す
ることによシ、ヒユーズと高抵抗素子との接続点の電位
レベルを変えて。
In semiconductor integrated circuits, in order to achieve a reference voltage, etc. N times, multiple sets of high resistance elements and fuses, such as M (JS transistors) operated as a constant source, are prepared, and x pressure is applied from the trimming terminal. By selectively cutting the fuse, the potential level at the connection point between the fuse and the high-resistance element is changed.

基準電圧のトリミングを行う方法がある。第2図は、こ
のようなトリミングに用いられる回路の一例である。P
チャンネルM(JSトランジスタ7のソースを正電源端
子3に接続し、ゲート電陰を定電流源24とPチャンネ
ルMOSトランジスタ4のゲート電極およびドレイン電
極と接続し、ドレイン電極をヒユーズ13の第1端子お
よびトリミング端子1oVC接続し、ヒユーズの第2端
子を第2の接地潮干2に接続する。定電流源24とPチ
ャンネルMOSトランジスタ4とが基準電圧源を構成し
、この基準電圧源の電圧がゲート電極に印加されること
により、PチャンネルMOSトランジスタ7は高抵抗素
子として動作する。
There is a method of trimming the reference voltage. FIG. 2 is an example of a circuit used for such trimming. P
Channel M (The source of the JS transistor 7 is connected to the positive power supply terminal 3, the gate potential is connected to the constant current source 24 and the gate electrode and drain electrode of the P channel MOS transistor 4, and the drain electrode is connected to the first terminal of the fuse 13. and the trimming terminal 1oVC are connected, and the second terminal of the fuse is connected to the second grounding terminal 2.The constant current source 24 and the P-channel MOS transistor 4 constitute a reference voltage source, and the voltage of this reference voltage source is By applying voltage to the electrode, P-channel MOS transistor 7 operates as a high resistance element.

このような構成とすることでヒユーズ13を切断する前
のPチャンネルMOSトランジスタ7のドレイン電極と
ヒユーズ13の第1端子との接続点は、ヒユーズの抵抗
値がPチャンネルMOSトランジスタ7の導通抵抗値と
比較して少さいため、低論理レベルと判断される。
With such a configuration, the connection point between the drain electrode of the P-channel MOS transistor 7 and the first terminal of the fuse 13 before the fuse 13 is cut is such that the resistance value of the fuse is equal to the conduction resistance value of the P-channel MOS transistor 7. Since it is small compared to , it is judged to be a low logic level.

一万、ヒユーズ13が切断された後はPチャンネルMO
8トランジスタフのドレイン電極とソース電極とを介し
て接続点は正電源端子3の電圧値まで引き上げられる。
10,000, after fuse 13 is cut, P channel MO
The connection point is pulled up to the voltage value of the positive power supply terminal 3 via the drain electrode and source electrode of the eight transistors.

このため接続点は高論理レベルと判断される。Therefore, the connection point is determined to be at a high logic level.

このようなトリミング回路音用いて、半導体集積回路の
ウェハー検査時に選択的にヒユーズを切断して所要の値
にトリミングすることが一般的である。
It is common to use such a trimming circuit sound to selectively cut fuses and trim to a desired value during wafer inspection of semiconductor integrated circuits.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来のトリミング回路は、トリミング端子に直
接接続されているPチャネルMOSトランジスタのドレ
イン電極と基板との間には寄生ダイオードが存在し、こ
れはPチャネルMO8トランジスタのドレイン電極と正
電源端子との間に存在するものである。
In the conventional trimming circuit described above, a parasitic diode exists between the drain electrode of the P-channel MOS transistor and the substrate, which are directly connected to the trimming terminal, and this is caused by the presence of a parasitic diode between the drain electrode of the P-channel MO8 transistor and the positive power supply terminal. It exists between

この寄生ダイオードが存在するため、ヒユーズを切断す
るときにトリミング端子に印加することのできるトリミ
ング電圧は正電源端子の電圧値と寄生ダイオードの順万
同電圧との和に制限されるという欠点t−有していた0 さらに、この寄生ダイオードの存在は、単にトリミング
電圧が印加しにくくなる以外に、ヒユーズ切断時に基板
に電流が流れるため、ラッチアップのトリガー電流とな
る欠点tVしていた。
Due to the existence of this parasitic diode, the trimming voltage that can be applied to the trimming terminal when cutting the fuse is limited to the sum of the voltage value of the positive power supply terminal and the uniform voltage of the parasitic diode. In addition, the presence of this parasitic diode not only makes it difficult to apply a trimming voltage, but also causes a drawback tV, which causes a current to flow into the substrate when the fuse is cut, resulting in a latch-up trigger current.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明のトリミング回路は、M2Sトランジスタのソー
ス電極t−第1の電極に接続し、ゲート電極を基準電圧
源に接続し、ドレイン電極を抵抗の第1端子に接続し、
抵抗の第2端子をヒユーズの第1の端子およびトリミン
グ端子に接続し、ヒユーズの第2端子を第2の電源へ接
続したことを特徴としている。
The trimming circuit of the present invention connects the source electrode of the M2S transistor to the first electrode, connects the gate electrode to a reference voltage source, and connects the drain electrode to the first terminal of the resistor.
The second terminal of the resistor is connected to the first terminal and the trimming terminal of the fuse, and the second terminal of the fuse is connected to a second power source.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、本発明の第1の実施例のトリミング回路の等
価回路説明図である。WJlの実施例はトリミング回路
として3ビヴト相当の等価回路説明図で示しであるが、
トリミング回路自身の動作は1ビツトで説明する。
FIG. 1 is an explanatory diagram of an equivalent circuit of a trimming circuit according to a first embodiment of the present invention. The example of WJl is shown as an equivalent circuit diagram equivalent to 3V as a trimming circuit.
The operation of the trimming circuit itself will be explained using one bit.

正電源端子3に接続されたPチャネルMO8トランジス
タ4および5はカレントミラー回路を構成しておシ、P
チャネルMOSトランジスタ5のゲート電極の基準電圧
は正電源端子3と第1の接地端子1との間のゲート電極
とドレイン電極を接続したPチャネルM(J8トランジ
スタ4および電流源24により構成された基準電圧源に
よシ供給される。PチャネルMOSトランジスタ5のド
レイン電極は抵抗14を介してトリミング端子8および
インバータ17の入力およびヒユーズ11の第1端子に
接続される。
P-channel MO8 transistors 4 and 5 connected to the positive power supply terminal 3 form a current mirror circuit.
The reference voltage of the gate electrode of the channel MOS transistor 5 is a reference voltage of a P channel M (consisting of a J8 transistor 4 and a current source 24) whose gate electrode and drain electrode are connected between the positive power supply terminal 3 and the first ground terminal 1. The drain electrode of P-channel MOS transistor 5 is connected to trimming terminal 8 and the input of inverter 17 and the first terminal of fuse 11 via resistor 14 .

ヒユーズ11の第2端子は第2の接地端子2に接続され
る。第1の接地端子lおよび第2の接地端子2は通常同
一接地とするが、半導体集積回路の電源投入時にヒユー
ズ11が切断されないようにするため第1の接地端子l
と第2の接地端子2との間に抵抗t”接続し、第1の接
地端子1を半導体集積回路の接地端子として使用するの
が好適である。
A second terminal of fuse 11 is connected to second ground terminal 2 . The first grounding terminal l and the second grounding terminal 2 are normally connected to the same ground, but in order to prevent the fuse 11 from being disconnected when the semiconductor integrated circuit is powered on, the first grounding terminal l and the second grounding terminal 2 are connected to the same ground.
It is preferable to connect a resistor t'' between the first ground terminal 1 and the second ground terminal 2, and to use the first ground terminal 1 as the ground terminal of the semiconductor integrated circuit.

第1図においてヒユーズ11ft切断することを考える
。いま、ヒユーズ11の切断電圧が平均8V。
In FIG. 1, consider cutting 11 feet of fuse. Currently, the cutting voltage of fuse 11 is 8V on average.

最大10Vとするとトリミング端子8に印加する電圧は
通常10Vとなる。一方、半導体集積回路の正電源端子
3は集積度の同上に伴ない5■位になることが多い。
If the maximum voltage is 10V, the voltage applied to the trimming terminal 8 will normally be 10V. On the other hand, as the degree of integration increases, the positive power supply terminal 3 of a semiconductor integrated circuit is often around 5.

このとき第1図において%PチャネルMO8トランジス
タフに代表して示した寄生ダイオード23がPチャネル
MO8トランジスタ5にも接続されているため、トリミ
ング端子8に印加された10vの電圧は、抵抗14およ
びPチャンネルMO8トランジスタ5の寄生ダイオード
(図示せず)を介して正電源端子3との間に印加される
のと同時に、ヒユーズ11−と第2の接地端子2との間
に印加されることになる。ここで、抵抗14はP膨拡散
層を用いて形成したものでは抵抗に寄生ダイオードが生
じてしまうため、多結晶シリコンの抵抗が一番好適であ
る。抵抗14の抵抗値は抵抗14と寄生ダイオード(図
示せず)で正電源端子3に流れ込む電流の制限によシ定
める必要がある。例えば1mAcD1it流を許続でき
るとした場合、抵抗14の抵抗値は5にΩ程度とするこ
とで設計できる。
At this time, since the parasitic diode 23 shown as a representative of the P-channel MO8 transistor in FIG. It is applied between the positive power supply terminal 3 through the parasitic diode (not shown) of the P-channel MO8 transistor 5, and at the same time, it is applied between the fuse 11- and the second ground terminal 2. Become. Here, if the resistor 14 is formed using a P-swelled diffusion layer, a parasitic diode will occur in the resistor, so a resistor made of polycrystalline silicon is most suitable. The resistance value of the resistor 14 must be determined by limiting the current flowing into the positive power supply terminal 3 through the resistor 14 and a parasitic diode (not shown). For example, if a current of 1 mAcD1it can be tolerated, the resistance value of the resistor 14 can be designed to be about 5Ω.

インバータ17は第1の接地端子1および第2の接地端
子との間に抵抗を接続したときに、トリミング端子80
レベルがヒユーズ11の未切断時に接地電位よシ上昇す
るの1に調整するために設けられている。トリミング結
果はインバータ17の出力20に出力される。
When the inverter 17 connects a resistor between the first ground terminal 1 and the second ground terminal, the trimming terminal 80
It is provided to adjust the level to 1, which is higher than the ground potential when the fuse 11 is not cut. The trimming result is output to the output 20 of the inverter 17.

第1図は3ビツトの実施例であシ、トリミング端子8,
9および10にトリミング電圧を印加し、ヒユーズ11
.12および13のいずれかを切断し、インバータ17
.18および19の出力20゜’21および22よりト
リミング結果を出力することになる。
Figure 1 shows a 3-bit embodiment, with trimming terminals 8,
Apply trimming voltage to fuses 9 and 10,
.. 12 and 13, and inverter 17.
.. The outputs 20° of 18 and 19 will output the trimming results from 21 and 22.

第3図は本発明の第2の実施例のトリミング回路の等価
回路説明図である。なお第1図と同じ個所には同じ番号
を用いている。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an equivalent circuit of a trimming circuit according to a second embodiment of the present invention. Note that the same numbers are used for the same parts as in FIG.

第2の実施例はトリミング回路を1ビ、ソトで示したも
のであシ、具体的応用としてはトリミング回路のヒユー
ズ部分を数ビツト用意するものであるが、1ピツトでも
動作説明できるために省略した。
In the second embodiment, the trimming circuit is shown in 1 bit and 1 bit, and as a concrete application, several bits are prepared for the fuse part of the trimming circuit, but since the operation can be explained even with 1 bit, it is omitted. did.

第2の実施例は、第1の実施例のトリミング端子10か
らインバータ19への接続経路に人力保護回路31t−
挿入したものである。この入力保護回路としては抵抗、
抵抗とダイオードを接続したものなど、様々なものが考
えられるがどれを用いてもよい。ただし、トリミング端
子10からトリミング電圧全印加した時に、入力保護回
路31が低インピーダンスとならないような回路を用い
るのが好ましい。
In the second embodiment, a human power protection circuit 31t-
This is what was inserted. This input protection circuit consists of a resistor,
Various types are possible, such as one in which a resistor and a diode are connected, but any of them may be used. However, it is preferable to use a circuit that prevents the input protection circuit 31 from becoming low impedance when the full trimming voltage is applied from the trimming terminal 10.

このような入力保護回路31全挿入することにより、半
導体集積回路のウェハー検査時に試験機械から発生する
雑音等によりインバータ19の入力が破壊されることを
防止することが出来る。
By fully inserting such input protection circuit 31, it is possible to prevent the input of inverter 19 from being destroyed by noise generated from a test machine during wafer inspection of semiconductor integrated circuits.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、半導体集積回路のトリミ
ング回路として、トリミング端子と、MOSトランジス
タとの間に、寄生ダイオードの生じない抵抗全接続する
ことによシ、半導体集積回路をラッチアンプさせず、な
おかつヒユーズを安定に切断できるとともに電源投入お
よび切断時に所望以外のヒユーズが切断はれないという
効果がある。
As explained above, the present invention, as a trimming circuit for a semiconductor integrated circuit, connects all the resistors between the trimming terminal and the MOS transistor so that no parasitic diode occurs, thereby preventing the semiconductor integrated circuit from becoming a latch amplifier. Moreover, there is an effect that fuses can be cut stably and that fuses other than desired are not cut when power is turned on and off.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例の等価回路説明図、第2
図は従来のトリミング回路の等価回路説明図、第3図は
本発明の第2の実施例の等価回路説明図をそれぞれ示す
。 1・・・・・・第1の接地端子、2・・・・・・第2の
接地端子、3・・・・・正電跡端子、8,9.10・・
・・・・トリミング端子、4,5,6.7・・・・・・
P形MOSトランジスタ、11,12.13・・・・・
・ヒユーズ、14,15゜16・・・・・・多結晶シリ
コン抵抗、17 、18 、19・・・・・・インバー
タ、20,21.22・・・・・トリミング出力、23
・・・・・・寄生ダイオード、24・・印・′成流源、
31・・・・・・人力保護回路。 代理人 弁理士  内 原   t  −”’ −゛・
L′− キ1 図 第3 目
Fig. 1 is an explanatory diagram of an equivalent circuit of the first embodiment of the present invention;
The figure shows an explanatory diagram of an equivalent circuit of a conventional trimming circuit, and FIG. 3 shows an explanatory diagram of an equivalent circuit of a second embodiment of the present invention. 1...First grounding terminal, 2...Second grounding terminal, 3...Positive trace terminal, 8,9.10...
...Trimming terminal, 4, 5, 6.7...
P-type MOS transistor, 11, 12, 13...
・Fuse, 14, 15° 16...Polycrystalline silicon resistor, 17, 18, 19...Inverter, 20, 21.22...Trimming output, 23
... Parasitic diode, 24...mark,' current source,
31...Manpower protection circuit. Agent Patent Attorney Uchihara t −”'−゛・
L'- Ki 1 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] MOSトランジスタのソース電極を第1の電源に接続し
、ゲート電極を基準電圧源に接続し、ドレイン電極を抵
抗の第1端子に接続し、抵抗の第2端子をヒューズの第
1端子およびトリミング端子に接続し、ヒューズの第2
端子を第2の電源に接続したことを特徴とするトリミン
グ回路。
The source electrode of the MOS transistor is connected to a first power supply, the gate electrode is connected to a reference voltage source, the drain electrode is connected to a first terminal of a resistor, and the second terminal of the resistor is connected to a first terminal of a fuse and a trimming terminal. and the second fuse
A trimming circuit characterized in that a terminal is connected to a second power source.
JP61010414A 1986-01-20 1986-01-20 trimming circuit Pending JPS62166558A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6002261A (en) * 1996-10-09 1999-12-14 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Trimming circuit
ITMI20110844A1 (en) * 2011-05-13 2012-11-14 St Microelectronics Srl ELECTRONIC TRIMMING CIRCUIT

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