JPS62153111A - 高純度シリカの製造方法 - Google Patents
高純度シリカの製造方法Info
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- JPS62153111A JPS62153111A JP29533785A JP29533785A JPS62153111A JP S62153111 A JPS62153111 A JP S62153111A JP 29533785 A JP29533785 A JP 29533785A JP 29533785 A JP29533785 A JP 29533785A JP S62153111 A JPS62153111 A JP S62153111A
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Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はシリカ源として利用可能な化合物又は混合物か
ら、高純度シリカを製造する方法に関する。
ら、高純度シリカを製造する方法に関する。
[従来の技術]
シリカはゴム、樹脂などの補強用充填剤として、あるい
はまた農薬の希釈分散剤として従来から広く利用されて
来ているが、最近ではファインセラミックス、エレクト
ロニクス、新素材の分野での需要が高まっている。なか
でも、シリカ純度が少なくとも4ナイン以上である高純
度シリカは、エレクトロニクスの分野で、その需要が益
々増大する傾向にある。
はまた農薬の希釈分散剤として従来から広く利用されて
来ているが、最近ではファインセラミックス、エレクト
ロニクス、新素材の分野での需要が高まっている。なか
でも、シリカ純度が少なくとも4ナイン以上である高純
度シリカは、エレクトロニクスの分野で、その需要が益
々増大する傾向にある。
ところで、シリカの典型的な製造方法としては、珪酸ナ
トリウム水溶液をイオン交換1樹脂と接触させることで
ナトリウムイオンを除去して酸性シリカゾルとし、この
酸性シリカゾルからシリカを沈殿させて母液から回収し
、これを焼成する方法が知られている。この方法によれ
ば。
トリウム水溶液をイオン交換1樹脂と接触させることで
ナトリウムイオンを除去して酸性シリカゾルとし、この
酸性シリカゾルからシリカを沈殿させて母液から回収し
、これを焼成する方法が知られている。この方法によれ
ば。
ナトリウム、カルシウムなどを殆ど含まないシリカを得
ることができるものの、このシリカにはアルミニウム、
鉄、ウラン、トリウムなどの金属成分が夕景ながら含ま
れているため、エレクトロニクスの分野で使用できるほ
どの純度を備えていない。
ることができるものの、このシリカにはアルミニウム、
鉄、ウラン、トリウムなどの金属成分が夕景ながら含ま
れているため、エレクトロニクスの分野で使用できるほ
どの純度を備えていない。
また、シリカ製造の別法として、特開昭59−1414
3号公報には、ヘキサフルオロ珪酸溶液に少トよのアミ
ノポリカルボン酸又はその塩を添加し、次いで水酸化ア
ンモニウム溶液を加えてシリカを沈殿させ、これを濾過
、洗浄する方法が記載されている。この方法を利用する
と。
3号公報には、ヘキサフルオロ珪酸溶液に少トよのアミ
ノポリカルボン酸又はその塩を添加し、次いで水酸化ア
ンモニウム溶液を加えてシリカを沈殿させ、これを濾過
、洗浄する方法が記載されている。この方法を利用する
と。
比較的純度の高いシリカを製造することができるが、原
料として極めて高純度なヘキサフルオロ珪酸溶液を使用
しない限り、エレクトロニクスの分野で使用できるほど
高純度のシリカを得ることができない。事実、当該公報
の実施例で得られるシリカの純度は高々4ナイン程度に
過ぎない。
料として極めて高純度なヘキサフルオロ珪酸溶液を使用
しない限り、エレクトロニクスの分野で使用できるほど
高純度のシリカを得ることができない。事実、当該公報
の実施例で得られるシリカの純度は高々4ナイン程度に
過ぎない。
こうした事情から、4ナイン以上の高純度シリカを製造
せんとする場合には、四塩化珪素を酸水素炎中で分解す
る方法が、従来は専ら採用されている。
せんとする場合には、四塩化珪素を酸水素炎中で分解す
る方法が、従来は専ら採用されている。
[発明が解決しようとする問題点]
上記の通り、エレクトロニクスの分野でも充分使用でき
る高純度シリカは、一般に、四塩化珪素を酸水素炎中で
分解する方法で製造されているが、この方法は原料とし
て高純度な四塩化珪素を使用しなければならないために
、四塩化珪素そのものを充分に精製する必要があり、高
純度シリカの製造コストが嵩む不利を免れない。
る高純度シリカは、一般に、四塩化珪素を酸水素炎中で
分解する方法で製造されているが、この方法は原料とし
て高純度な四塩化珪素を使用しなければならないために
、四塩化珪素そのものを充分に精製する必要があり、高
純度シリカの製造コストが嵩む不利を免れない。
本発明は四塩化珪素以外にシリカ源を求め、純度の低い
シルカ含有化合物又は混合物を原料に用いて、少なくと
も4ナイン以上の純度を有し、エレクトロニクスの分野
にも充分使用可能な高純度シリカを製造する方法を提供
する。
シルカ含有化合物又は混合物を原料に用いて、少なくと
も4ナイン以上の純度を有し、エレクトロニクスの分野
にも充分使用可能な高純度シリカを製造する方法を提供
する。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係る高純度シリカの製造方法は、シリカ源とし
て利用可能な化合物又は混合物を、弗化水素酸と硫酸の
混合液に溶解させ、得られた溶液を蒸留して珪素の弗化
物と水からなる留分を回収し、これにアンモニア水を加
えてシリカゲルを生成させ、次いでこのシリカゲルを濾
別後、水洗、乾燥、焼成することからなる。
て利用可能な化合物又は混合物を、弗化水素酸と硫酸の
混合液に溶解させ、得られた溶液を蒸留して珪素の弗化
物と水からなる留分を回収し、これにアンモニア水を加
えてシリカゲルを生成させ、次いでこのシリカゲルを濾
別後、水洗、乾燥、焼成することからなる。
[作 用]
本発明の方法に於いて、シリカ源として利用可能な化合
物又は混合物としては、シリカを含有する化合物又は混
合物が使用可能であって、典型的には、ホワイトカーボ
ン、氷晶石合成時に副生されるシリカ(廃シリカ)、使
用済み流動接触分解触媒(廃触媒)、珪砂などが使用さ
れる。
物又は混合物としては、シリカを含有する化合物又は混
合物が使用可能であって、典型的には、ホワイトカーボ
ン、氷晶石合成時に副生されるシリカ(廃シリカ)、使
用済み流動接触分解触媒(廃触媒)、珪砂などが使用さ
れる。
本発明のシリカ源は、弗化水素酸と硫酸の混合液にまず
溶解される。この際の弗化水素酸の使用量は、原料に含
まれる珪素を弗化物に転化させるにたる量とするのが好
ましく、また硫酸の使用量は、原料に含まれる夾雑金属
を硫酸塩に転化させるに足る量とすることが好ましい。
溶解される。この際の弗化水素酸の使用量は、原料に含
まれる珪素を弗化物に転化させるにたる量とするのが好
ましく、また硫酸の使用量は、原料に含まれる夾雑金属
を硫酸塩に転化させるに足る量とすることが好ましい。
従って、シリカ源に用いる物質の量と、これに含まれて
いることが予想される珪素の量に応じて、弗化水素酸と
硫酸の使用量を決めることを可とする。そして弗化水素
酸としては、45%程度の濃度のものを、硫酸としては
、60%程度の濃度のものを使用するのが実用的である
。
いることが予想される珪素の量に応じて、弗化水素酸と
硫酸の使用量を決めることを可とする。そして弗化水素
酸としては、45%程度の濃度のものを、硫酸としては
、60%程度の濃度のものを使用するのが実用的である
。
弗化水素酸と硫酸の混合液と、シリカ源に使用した化合
物又は混合物とを混合すると、シリカ源中の珪素は弗化
物を形成して、また夾雑金属は硫酸塩を形成してそれぞ
れ液中に溶解する。
物又は混合物とを混合すると、シリカ源中の珪素は弗化
物を形成して、また夾雑金属は硫酸塩を形成してそれぞ
れ液中に溶解する。
この場合、加温は必ずしも必要としないが、加温によっ
て溶解を促進させることができる。
て溶解を促進させることができる。
こうして得られた溶液は、次いで蒸留に付されるが、こ
れによって液中に存在する珪素の弗化物(ヘキサフルオ
ロ珪酸であると思われる)は、水と共に系外に留出し、
一方、夾雑金属の硫酸塩は系内に蒸留残として留まるの
で、珪素の弗化物を極めて純度の高い状態で夾雑金属か
ら分離することができる。蒸留は120℃程度め温度で
行なうことが好ましい。
れによって液中に存在する珪素の弗化物(ヘキサフルオ
ロ珪酸であると思われる)は、水と共に系外に留出し、
一方、夾雑金属の硫酸塩は系内に蒸留残として留まるの
で、珪素の弗化物を極めて純度の高い状態で夾雑金属か
ら分離することができる。蒸留は120℃程度め温度で
行なうことが好ましい。
蒸留で得られた留分には、アンモニア水を加えてシリカ
ゲルを生成させるが、当該留分は強酸溶液であるので、
アンモニア水を添加した際の突沸を未然に防止する目的
で、アンモニア水の添加に先立ち、電気伝導度が0.8
μs/■以下の純度の高い水で当該留分を希釈しておく
ことが望ましい。しかし、希釈に用いる水の量が多すぎ
ると、含水量の高いシリカゲルが生成し、その濾過洗浄
が極めて困難になる。従って、希釈に用いる水の量は、
容量基準で、前記留分とほぼ同量とするのが適当である
。水で希釈された1盲記留分に加えられるアンモニア水
の量は、液中に存在する珪素の実質的すべてを、シリカ
ゲルに転化できる量とするのが通常である。この場合、
アンモニア水の濃度が低すぎると、上に述べた場合と同
様な不都合が生ずるので、アンモニア水の濃度は、25
%程度としておくのが好ましい。
ゲルを生成させるが、当該留分は強酸溶液であるので、
アンモニア水を添加した際の突沸を未然に防止する目的
で、アンモニア水の添加に先立ち、電気伝導度が0.8
μs/■以下の純度の高い水で当該留分を希釈しておく
ことが望ましい。しかし、希釈に用いる水の量が多すぎ
ると、含水量の高いシリカゲルが生成し、その濾過洗浄
が極めて困難になる。従って、希釈に用いる水の量は、
容量基準で、前記留分とほぼ同量とするのが適当である
。水で希釈された1盲記留分に加えられるアンモニア水
の量は、液中に存在する珪素の実質的すべてを、シリカ
ゲルに転化できる量とするのが通常である。この場合、
アンモニア水の濃度が低すぎると、上に述べた場合と同
様な不都合が生ずるので、アンモニア水の濃度は、25
%程度としておくのが好ましい。
アンモニア水の添加によって珪素の弗化物は、シリカゲ
ルと弗化アンモニウムに転化して沈殿する。従ってこの
沈殿を濾別し、得られたフィルターケーキを水洗して弗
化アンモニウムを除去することにより、高純度のシリカ
ゲルを得ることができる。フィルターケーキの洗浄に際
しては、洗浄水からの不純物の混入を避ける意味で、電
気伝導度が0.8μS/Ql以下の純度の高い水を使用
すべきである。水洗後はケーキを乾燥し、次いで焼成す
ることにより、目的とする高純度の、典型的には4ナイ
ン以上の純度を有するシリカを取得することができる。
ルと弗化アンモニウムに転化して沈殿する。従ってこの
沈殿を濾別し、得られたフィルターケーキを水洗して弗
化アンモニウムを除去することにより、高純度のシリカ
ゲルを得ることができる。フィルターケーキの洗浄に際
しては、洗浄水からの不純物の混入を避ける意味で、電
気伝導度が0.8μS/Ql以下の純度の高い水を使用
すべきである。水洗後はケーキを乾燥し、次いで焼成す
ることにより、目的とする高純度の、典型的には4ナイ
ン以上の純度を有するシリカを取得することができる。
尚、シリカゲルを濾別した際に得られる濾液や、ケーキ
を水洗した際に得られる洗浄水を回収してこれを加熱濃
縮し、この濃縮液に硫酸を加えて液中に含まれる弗化ア
ンモニウムを硫酸アンモミラムとした後、蒸留して弗化
水素酸を回収すれば、この回収弗化水素酸は、シリカ源
の溶解に循環再使用することができる。
を水洗した際に得られる洗浄水を回収してこれを加熱濃
縮し、この濃縮液に硫酸を加えて液中に含まれる弗化ア
ンモニウムを硫酸アンモミラムとした後、蒸留して弗化
水素酸を回収すれば、この回収弗化水素酸は、シリカ源
の溶解に循環再使用することができる。
[実 施 例]
実施例 1
シリカ源として、ホワイトカーボンを使用した。このホ
ワイトカーボンに含まれる不純物の分析結果は、次の通
りであった。
ワイトカーボンに含まれる不純物の分析結果は、次の通
りであった。
第1表
Sin、として500gのホワイトカーボンを、テフロ
ン製蒸発釜に取り、これに濃度46%の弗化水素酸32
57gを加えてゆっくり攪拌し、続いて濃度65%の硫
酸136gを添加した。しかる後、蒸留釜に蓋をしてリ
ービッヒ冷却管を接続し、リービッヒ冷却管の一方をポ
リエチレン製受器に接続した。蒸留釜を徐々に加熱し、
留出温度約120℃までの留分を採取した。
ン製蒸発釜に取り、これに濃度46%の弗化水素酸32
57gを加えてゆっくり攪拌し、続いて濃度65%の硫
酸136gを添加した。しかる後、蒸留釜に蓋をしてリ
ービッヒ冷却管を接続し、リービッヒ冷却管の一方をポ
リエチレン製受器に接続した。蒸留釜を徐々に加熱し、
留出温度約120℃までの留分を採取した。
得られた留分に等容量の純水を加えて攪拌し。
さらに濃度29%のアンモニア水5276gを添加して
シリカゲルを生成させた。この時、反応熱が発生するの
で、ポリエチレン製受器を冷却しながらアンモニア水を
徐々に加えた。アンモニア水の添加終了後、シリカゲル
をそのまま数時間放置熟成した。
シリカゲルを生成させた。この時、反応熱が発生するの
で、ポリエチレン製受器を冷却しながらアンモニア水を
徐々に加えた。アンモニア水の添加終了後、シリカゲル
をそのまま数時間放置熟成した。
次いで、濾布を敷いた平板濾過器で上記のゲルを減圧濾
過し、引き続きゲルの洗浄を行なった。ゲルの洗浄はケ
ーキ状のゲルを純水に分散させて充分攪拌し、これを減
圧濾過する操作を繰り返す方法で行なった。
過し、引き続きゲルの洗浄を行なった。ゲルの洗浄はケ
ーキ状のゲルを純水に分散させて充分攪拌し、これを減
圧濾過する操作を繰り返す方法で行なった。
充分洗浄されたゲルを石英製の蒸発皿に移し換え、11
0℃に調温した乾燥器でゲルが白くなるまで脱水乾燥し
た後、電気炉中600℃で2時間予備焼成し、さらに1
100℃で2時間焼成してシリカ粉末を得た。
0℃に調温した乾燥器でゲルが白くなるまで脱水乾燥し
た後、電気炉中600℃で2時間予備焼成し、さらに1
100℃で2時間焼成してシリカ粉末を得た。
このシリカに含まれる不純物の分析結果を第3表に示す
。
。
実施例 2
シリカ源として、流動接触分解触媒を使用した。この流
動接触分解触媒に含まれる不純物の分析結果は、次の通
りであった。
動接触分解触媒に含まれる不純物の分析結果は、次の通
りであった。
第2表
クロム i 60 ppmSiO□
として250gに相当する流動接触分解触媒をテフロン
製蒸発釜に入れ、触媒を湿らす程度の適当量の純水を加
えた。以下実施例1と同様に、濃度46%の弗化水素酸
1628gを加えてゆっくり攪拌し、続いて濃度65%
の硫酸878gを添加した後、蒸留して留出温度約12
0 ’Cまでの留分を採取した。
として250gに相当する流動接触分解触媒をテフロン
製蒸発釜に入れ、触媒を湿らす程度の適当量の純水を加
えた。以下実施例1と同様に、濃度46%の弗化水素酸
1628gを加えてゆっくり攪拌し、続いて濃度65%
の硫酸878gを添加した後、蒸留して留出温度約12
0 ’Cまでの留分を採取した。
得られた留分に純水を加えて希釈した後、濃度29%の
アンモニア水2638gを添加してシリカゲルを生成さ
せ、得られたシリカゲルを実施例1と同様に処理して高
純度シリカを得た。
アンモニア水2638gを添加してシリカゲルを生成さ
せ、得られたシリカゲルを実施例1と同様に処理して高
純度シリカを得た。
このシリカに含まれる不純物の分析結果を第3表に示す
。
。
実施例 3
実施例Yでシリカゲルを濾別した際に得られた母液と、
ゲルを洗浄した際に出る洗浄濾液を混合して鉛製の蒸留
釜で500m1まで濃縮した。この濃縮液をテフロン製
蒸留釜に移し、希硫酸を加えて蒸留し、留出温度約12
0℃で弗化水素酸を回収した。この弗化水素酸の濃度は
約20%で1回収率は約90%であった。
ゲルを洗浄した際に出る洗浄濾液を混合して鉛製の蒸留
釜で500m1まで濃縮した。この濃縮液をテフロン製
蒸留釜に移し、希硫酸を加えて蒸留し、留出温度約12
0℃で弗化水素酸を回収した。この弗化水素酸の濃度は
約20%で1回収率は約90%であった。
実施例1で使用した弗化水素酸に代えて上記の回収弗化
水素酸を用いた以外は実施例1と同一のシリカ源を、同
一の条件で処理して高純度シリカを得た。
水素酸を用いた以外は実施例1と同一のシリカ源を、同
一の条件で処理して高純度シリカを得た。
このシリカに含まれる不純物の分析結果を第3表に示す
。
。
比較例
硫酸を使用しなかった以外は実施例1と同一条件で、同
一のシリカ源を処理し、シリカ粉末を得た。このシリカ
に含まれる不純物の分析結果を第3表に示す。
一のシリカ源を処理し、シリカ粉末を得た。このシリカ
に含まれる不純物の分析結果を第3表に示す。
(以下余白)
第3表 シリカの分析結果
[発明の効果コ
本発明の方法によれば、純度の低いシリカ源を使用して
も、弗化水素酸と硫酸との併用によってシリカ源中の夾
雌金属を硫酸塩の形で固定できるので、5ナイン以上の
純度を有するシリカを表造することができる。また、シ
リカ源の溶解に使用した弗化水素酸は、これを回収して
再使用することができ、その再使用によって製品シリカ
の純度が低下することがない。
も、弗化水素酸と硫酸との併用によってシリカ源中の夾
雌金属を硫酸塩の形で固定できるので、5ナイン以上の
純度を有するシリカを表造することができる。また、シ
リカ源の溶解に使用した弗化水素酸は、これを回収して
再使用することができ、その再使用によって製品シリカ
の純度が低下することがない。
Claims (1)
- 1、シリカ源として利用可能な化合物又は混合物を、弗
化水素酸と硫酸の混合液に溶解させ、得られた溶液を蒸
留して珪素の弗化物と水からなる留分を回収し、これに
アンモニア水を加えてシリカゲルを生成させ、次いでこ
のシリカゲルを濾別後、水洗、乾燥、焼成することから
なる高純度シリカの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29533785A JPS62153111A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 高純度シリカの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29533785A JPS62153111A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 高純度シリカの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62153111A true JPS62153111A (ja) | 1987-07-08 |
Family
ID=17819305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29533785A Pending JPS62153111A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 高純度シリカの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62153111A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02578A (ja) * | 1987-12-26 | 1990-01-05 | Nissan Chem Ind Ltd | 感熱記録紙用充填剤及びその製造法 |
US5230953A (en) * | 1989-12-14 | 1993-07-27 | Nissan Chemical Industries Ltd. | Silica particles and process for producing the same |
US5266289A (en) * | 1989-11-16 | 1993-11-30 | Nissan Chemical Industries Ltd. | Process for producing high-purity silica by reacting crude silica with ammonium fluoride |
-
1985
- 1985-12-27 JP JP29533785A patent/JPS62153111A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02578A (ja) * | 1987-12-26 | 1990-01-05 | Nissan Chem Ind Ltd | 感熱記録紙用充填剤及びその製造法 |
US5266289A (en) * | 1989-11-16 | 1993-11-30 | Nissan Chemical Industries Ltd. | Process for producing high-purity silica by reacting crude silica with ammonium fluoride |
US5458864A (en) * | 1989-11-16 | 1995-10-17 | Nissan Chemical Industries Ltd. | Process for producing high-purity silica by reacting crude silica with ammonium fluoride |
US5230953A (en) * | 1989-12-14 | 1993-07-27 | Nissan Chemical Industries Ltd. | Silica particles and process for producing the same |
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