JPS62148882A - 時間計測装置 - Google Patents
時間計測装置Info
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- JPS62148882A JPS62148882A JP29011985A JP29011985A JPS62148882A JP S62148882 A JPS62148882 A JP S62148882A JP 29011985 A JP29011985 A JP 29011985A JP 29011985 A JP29011985 A JP 29011985A JP S62148882 A JPS62148882 A JP S62148882A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、「発明の目的」
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スタート端数時間パルスとストップ端数時間
パルスとを時間電圧変換器に加えてパルス幅を電圧値に
変換し、プロセッサにてこの電圧値に基づく信号に演算
を加えることで端数時間を算出し、被測定時間を計測す
る装置に関する。更に、詳述すると、この時間電圧変換
器の非直線性を補正する手段に改良を加えた装置に関す
るものである。
パルスとを時間電圧変換器に加えてパルス幅を電圧値に
変換し、プロセッサにてこの電圧値に基づく信号に演算
を加えることで端数時間を算出し、被測定時間を計測す
る装置に関する。更に、詳述すると、この時間電圧変換
器の非直線性を補正する手段に改良を加えた装置に関す
るものである。
(従来の技術)
一般に、時間幅を高精度で測定するには、次のような原
理が採用されている。被測定時間幅Tχで開放となるよ
うなゲートに、周期Toのクロック信号を通し、そのク
ロックの通過個数Nをカウントする。そして、NToを
時間幅とするものである。
理が採用されている。被測定時間幅Tχで開放となるよ
うなゲートに、周期Toのクロック信号を通し、そのク
ロックの通過個数Nをカウントする。そして、NToを
時間幅とするものである。
この方法は、!!?に言うと、TX−NToとはならず
、Tχ〜NToである。これは、通常、TXがTOで割
切れず、小さい端数の時間が存在するからである。これ
を第5図に示す。第5図において、ΔT1はTχの立上
がりエツジから、その直後に発生するクロックCoまで
の端数の時間であり、ΔT2はT xの立下りエツジか
ら、その直後に発生するクロックCTLまでの端数の時
間である。そして、クロック信号COとCTLの間の期
間ゲートを聞11i[第5図の(ニ)参照]して、通過
するクロックの数をカウントする。その期間にお()る
クロックの数をNとすると[第5図の(ホ)]時間幅T
χは(1)式で表わされる。
、Tχ〜NToである。これは、通常、TXがTOで割
切れず、小さい端数の時間が存在するからである。これ
を第5図に示す。第5図において、ΔT1はTχの立上
がりエツジから、その直後に発生するクロックCoまで
の端数の時間であり、ΔT2はT xの立下りエツジか
ら、その直後に発生するクロックCTLまでの端数の時
間である。そして、クロック信号COとCTLの間の期
間ゲートを聞11i[第5図の(ニ)参照]して、通過
するクロックの数をカウントする。その期間にお()る
クロックの数をNとすると[第5図の(ホ)]時間幅T
χは(1)式で表わされる。
T χ = N T o + Δ T+
−Δ T 2
(1ン従って、端数の時間ΔT1とΔT2を測
定すれば、クロックの周期To以上の分解能で時間幅T
xの測定が可能となることが(1)式から分る。
−Δ T 2
(1ン従って、端数の時間ΔT1とΔT2を測
定すれば、クロックの周期To以上の分解能で時間幅T
xの測定が可能となることが(1)式から分る。
従来この端数時間6丁を測定することができる手段とし
て、端数時間の間、定電流を積分器に加えて端数時間を
一旦電圧に変換し、更にこれをへ〇変換器を介してデジ
タル信号に変換し、プロセッサにて演算を施して端数時
間を求めることが行なわれている。例えば、端数時間Δ
T++ΔT2の期間、積分を行なって、これを電圧υ鵞
、υ2へ変換したとげると、電圧v1.υ2は、次式で
= c (I J a )ΔT++Δυo(3)iB
=バイアス電流 Δυ。:オフセット電圧 C:積分コンデンナ容量 I:積分定電流 υ2−−(JiB)ΔT2+Δ?J o (4)
〈ΔT言−ΔT2 )を得るため、(3)、(4ン式か
らvl−υ2を演算する。
て、端数時間の間、定電流を積分器に加えて端数時間を
一旦電圧に変換し、更にこれをへ〇変換器を介してデジ
タル信号に変換し、プロセッサにて演算を施して端数時
間を求めることが行なわれている。例えば、端数時間Δ
T++ΔT2の期間、積分を行なって、これを電圧υ鵞
、υ2へ変換したとげると、電圧v1.υ2は、次式で
= c (I J a )ΔT++Δυo(3)iB
=バイアス電流 Δυ。:オフセット電圧 C:積分コンデンナ容量 I:積分定電流 υ2−−(JiB)ΔT2+Δ?J o (4)
〈ΔT言−ΔT2 )を得るため、(3)、(4ン式か
らvl−υ2を演算する。
?J、−?J2−上値I 1B)(ΔTI Ar1
)上式から分るように(ΔT、−ΔT2 )はバイア
ス電流iBや積分コンデンサCにより影響を受けるので
、高精度に端数時間を測定するためには、これを除去す
る必要がある。
)上式から分るように(ΔT、−ΔT2 )はバイア
ス電流iBや積分コンデンサCにより影響を受けるので
、高精度に端数時間を測定するためには、これを除去す
る必要がある。
そこで、従来はパルス幅t0.2t0が正確に分かつて
いるパルスを時間電圧変換器に加えて、(5)式の電圧
υ1を得る。
いるパルスを時間電圧変換器に加えて、(5)式の電圧
υ1を得る。
一工(I ua)t。
c(5)
そして、(?J+ −υ2)/?Jyを演算し影響を除
去している。
去している。
(発明が解決しようとする問題点)
以上の手段は、時間電圧変換器における時間電圧変換特
性に直線性があると仮定したものである。
性に直線性があると仮定したものである。
しかし、微小な時間の領域においては、積分時間と出力
電圧との間に正確な直線性がないため誤差が生ずる。こ
れを第6図を用いて説明する。第6図は横軸に時間(パ
ルス幅)をとり、縦軸に時間電圧変換器の出力電圧をと
った図である。図から分るように、積分の開始初期にお
いて出力電圧の上昇速度が理論値より小さくなる。更に
、室温の変化あるいは経年変化などによって積分定数が
変化するので測定値に誤差が含まれる。
電圧との間に正確な直線性がないため誤差が生ずる。こ
れを第6図を用いて説明する。第6図は横軸に時間(パ
ルス幅)をとり、縦軸に時間電圧変換器の出力電圧をと
った図である。図から分るように、積分の開始初期にお
いて出力電圧の上昇速度が理論値より小さくなる。更に
、室温の変化あるいは経年変化などによって積分定数が
変化するので測定値に誤差が含まれる。
本発明は、以上の点に鑑みてなされたちのであり、その
目的は時間電圧変換器の非直線性を適切に補正すること
ができる時間計測装置を提供することである。
目的は時間電圧変換器の非直線性を適切に補正すること
ができる時間計測装置を提供することである。
口、「発明の構成」
(問題点を解決するための手段)
本発明は、上記問題点を解決するために、スタート端数
時間パルスとストップ端数時間パルスとを時間電圧変換
器に加えてパルス幅を電圧値に変換し、ブロセッ)すに
てこの電圧値に基づく信号に演算を加えることで端数時
間を算出し、被測定時間幅を計測する装置において、異
なるパルス幅の信号を出力することができる可変パルス
幅発生器と、 プロセッサでの演算結果を格納するメモリ手段とを備え
、可変パルス幅発生器で出力する種々のパルス幅に対す
る時間電圧変換器の出力電圧との関係データをメモリ手
段に格納し、このパルス幅:電圧のデータを利用して、
時間電圧変換器の非直線性を補正演算するようにしたち
のである。
時間パルスとストップ端数時間パルスとを時間電圧変換
器に加えてパルス幅を電圧値に変換し、ブロセッ)すに
てこの電圧値に基づく信号に演算を加えることで端数時
間を算出し、被測定時間幅を計測する装置において、異
なるパルス幅の信号を出力することができる可変パルス
幅発生器と、 プロセッサでの演算結果を格納するメモリ手段とを備え
、可変パルス幅発生器で出力する種々のパルス幅に対す
る時間電圧変換器の出力電圧との関係データをメモリ手
段に格納し、このパルス幅:電圧のデータを利用して、
時間電圧変換器の非直線性を補正演算するようにしたち
のである。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の要部である端数時間測定回路周辺の
構成例を示した図である。また、第2図は本発明に係る
時間計測装置のブロック図を示したものであり、第3図
は可変パルス幅発生器の具体的構成例を示した図であり
、第4図はタイムチャーl−である。
構成例を示した図である。また、第2図は本発明に係る
時間計測装置のブロック図を示したものであり、第3図
は可変パルス幅発生器の具体的構成例を示した図であり
、第4図はタイムチャーl−である。
まず、第2図を用いて本発明に係る時間4測装置の全体
を説明する。同図において、10は入力アンプであり、
入力端子p1から導入した被測定の時間幅を持つ信号を
波形整形して、第4図(1)に示すような矩形波に整形
する。20は制御回路であり、被測定の時間幅Tχを持
つ入力アンプ10からの信号S1とクロック信号S2と
を導入し、端数時間に相当するパルス幅の端数時間パル
ス信号S3と、ゲーティングクロック信号S4とを出力
することができる。30はカウンタであり、制御回路2
0から導入したゲーティングクロック信号S4が成るレ
ベルをよぎる回数を計測する。40はクロック発生器で
あり、周期1.の時間暴準となるクロック信号s2を発
生する。、50は端数時間測定回路であり、Itlti
l@間パルス信号全パルス信号数時間を゛電圧11t1
に変換した信号を出力する)j!能を有したものである
。Goはプロセッサ(例えばマイクロプロセッサ)でお
り、カウンタ30と端数時間測定回路50から信号を導
入し、被測定の時間幅Txを算出するための演算を行な
うものである。特に本発明においては、AD変換器を介
して導入した信号の補正演算を行なうとともに、後述す
る可変パルス幅発生器に対してパルス幅の指定も行なう
。61はプロセッサ60で演算した結果を格納しておく
メモリである。
を説明する。同図において、10は入力アンプであり、
入力端子p1から導入した被測定の時間幅を持つ信号を
波形整形して、第4図(1)に示すような矩形波に整形
する。20は制御回路であり、被測定の時間幅Tχを持
つ入力アンプ10からの信号S1とクロック信号S2と
を導入し、端数時間に相当するパルス幅の端数時間パル
ス信号S3と、ゲーティングクロック信号S4とを出力
することができる。30はカウンタであり、制御回路2
0から導入したゲーティングクロック信号S4が成るレ
ベルをよぎる回数を計測する。40はクロック発生器で
あり、周期1.の時間暴準となるクロック信号s2を発
生する。、50は端数時間測定回路であり、Itlti
l@間パルス信号全パルス信号数時間を゛電圧11t1
に変換した信号を出力する)j!能を有したものである
。Goはプロセッサ(例えばマイクロプロセッサ)でお
り、カウンタ30と端数時間測定回路50から信号を導
入し、被測定の時間幅Txを算出するための演算を行な
うものである。特に本発明においては、AD変換器を介
して導入した信号の補正演算を行なうとともに、後述す
る可変パルス幅発生器に対してパルス幅の指定も行なう
。61はプロセッサ60で演算した結果を格納しておく
メモリである。
第1図において、1は時間電圧変換器であり、導入した
信号S3のパルス幅に相当して電圧が変化する信号を出
力するものである。具体的には、例えば、ミラー積分器
と定電流源とコンデンサ(図示せず)のようなもので構
成され、印加されたパルス幅信号の期間、コンデンサを
定電流で充電あるいは放電させて、パルス幅(時間)に
比例した電圧信号を出力できるものである。
信号S3のパルス幅に相当して電圧が変化する信号を出
力するものである。具体的には、例えば、ミラー積分器
と定電流源とコンデンサ(図示せず)のようなもので構
成され、印加されたパルス幅信号の期間、コンデンサを
定電流で充電あるいは放電させて、パルス幅(時間)に
比例した電圧信号を出力できるものである。
3は時間電圧変換器1の出力電圧を次段に伝えるバッフ
ァ回路である。
ァ回路である。
5はバッファ3を介して導入した時間電圧変換器1の出
力をデジタル信号に変換するAD変換器である。このA
D変換器5は本発明に係る分野においては、高速性が要
求されるので、通常、フラッシュ形(全並列形)AD変
換器が用いられる。
力をデジタル信号に変換するAD変換器である。このA
D変換器5は本発明に係る分野においては、高速性が要
求されるので、通常、フラッシュ形(全並列形)AD変
換器が用いられる。
AD変換器5の出力は、プロセッサ60に加えられる。
7は可変パルス幅発生器であり、プロセッサG。
からの信号により指定されたパルス幅のパルスを発生さ
せるものである。
せるものである。
8は被測定の端数時間パルス信号と可変パルス幅発生器
の出力信号とを選択するスイッチである。
の出力信号とを選択するスイッチである。
以、ヒのように構成された第1図、第2図の回路の動作
を説明する。
を説明する。
第2図の入力端子p1に印加された被測定の時間幅を有
する信号は、入力アンプ10で波形整形され、第4図の
(1)のような信号となって、制御回路20に導入され
る。制御回路20では、第4図(1)の15号の立上が
りエツジと立下りエツジとで、それぞれ第4図(ilQ
に示すようにスタート端数時間パルス(パルス幅ΔT+
)とストップ端数時間パルス(パルス幅ΔT2 )を出
力する。なお、第4図で示した△T+、ΔT2は、第5
図で示した△1゛v、ΔT2と比較して、1クロック分
、パルス幅が広い。
する信号は、入力アンプ10で波形整形され、第4図の
(1)のような信号となって、制御回路20に導入され
る。制御回路20では、第4図(1)の15号の立上が
りエツジと立下りエツジとで、それぞれ第4図(ilQ
に示すようにスタート端数時間パルス(パルス幅ΔT+
)とストップ端数時間パルス(パルス幅ΔT2 )を出
力する。なお、第4図で示した△T+、ΔT2は、第5
図で示した△1゛v、ΔT2と比較して、1クロック分
、パルス幅が広い。
これは、スイッヂング素子などの特性による影響を防止
するための公知技術である。しかし第4図と第5図とは
、本明細書で論じている点に関しては何等異なることは
ない。その理由は、(ΔT。
するための公知技術である。しかし第4図と第5図とは
、本明細書で論じている点に関しては何等異なることは
ない。その理由は、(ΔT。
−△T2)の演算をすれば、1クロック分はギャンセル
されるからである。また、制憤り回路20では、クロッ
ク発生器40からクロック信号S2を導入し、第5図で
説明したように、被測定信号(第5図(イ))の立上が
りエツジと立下りエツジの後に生ずるクロック信号Co
とCTLの期間、開放どなるゲート回路(図示せず)を
有しており、このゲート回路を通過するゲーティングク
ロック信号s4をカウンタ30に出力する。
されるからである。また、制憤り回路20では、クロッ
ク発生器40からクロック信号S2を導入し、第5図で
説明したように、被測定信号(第5図(イ))の立上が
りエツジと立下りエツジの後に生ずるクロック信号Co
とCTLの期間、開放どなるゲート回路(図示せず)を
有しており、このゲート回路を通過するゲーティングク
ロック信号s4をカウンタ30に出力する。
このゲーティングクロック信号s4はカウンタ30で計
@(力Cクント数N)され、その(裔プロセッサ60に
て、(1)式で示すNToの演算が施される。
@(力Cクント数N)され、その(裔プロセッサ60に
て、(1)式で示すNToの演算が施される。
一方、第1図で示した端数時間測定回路とその周辺回路
では、時間電圧変換器の非直線性を補正するために、次
のような動作を端数時間の測定前に行なう。この場合、
スイッチ8は端子す側に接続されている。
では、時間電圧変換器の非直線性を補正するために、次
のような動作を端数時間の測定前に行なう。この場合、
スイッチ8は端子す側に接続されている。
プロセッサ60から可変パルス幅発生器7へ信号を送り
、種々のパルス幅の信号を発生させる。可変パルス幅発
生器7は、例えば、第3図のように構成することができ
る。即ち、導入した基準パルスS8の位相を各タップ(
jp+〜jllu >ごとに段階的に遅延することがで
きる遅延線71を備えている。
、種々のパルス幅の信号を発生させる。可変パルス幅発
生器7は、例えば、第3図のように構成することができ
る。即ち、導入した基準パルスS8の位相を各タップ(
jp+〜jllu >ごとに段階的に遅延することがで
きる遅延線71を備えている。
遅延線71の入力端子pOに加えた信号に対して、タッ
プjp+からは遅延量の少ない信号が取出され、タップ
jl)nからは遅延量の大きな信号が取出される。そし
て、遅延線11の各タップの信号を任意に選択して取出
すことができるようにマルチプレクサ72を接続する。
プjp+からは遅延量の少ない信号が取出され、タップ
jl)nからは遅延量の大きな信号が取出される。そし
て、遅延線11の各タップの信号を任意に選択して取出
すことができるようにマルチプレクサ72を接続する。
従って、プロセッサ60からこのマルチプレフナ72を
制gI]する信号S7を送信すると、マルチプレクサ7
2からは、遅延線11に入力した基準パルスS8に対し
て、指定された位相遅れのパルス信号を次段のオアゲー
ト73に出力することができる。オアゲート73では、
プロセッサ60からの制御に従って位相が遅れたこのマ
ルチプレフナ72の出力信号と、14 壁パルスとの論
理和をとっているので、その出力として、位相が遅延さ
れた分に引当するパルス幅の信号を出力することができ
る。
制gI]する信号S7を送信すると、マルチプレクサ7
2からは、遅延線11に入力した基準パルスS8に対し
て、指定された位相遅れのパルス信号を次段のオアゲー
ト73に出力することができる。オアゲート73では、
プロセッサ60からの制御に従って位相が遅れたこのマ
ルチプレフナ72の出力信号と、14 壁パルスとの論
理和をとっているので、その出力として、位相が遅延さ
れた分に引当するパルス幅の信号を出力することができ
る。
このように、プロセッサ60の制御により、パルス幅の
異なる信号が次々に可変パルス幅発生器7から出力され
、スイッチ8の接点すを介して時間電圧変換器1に加え
られる。時間電圧変換器1では、その変換特性に従って
、第6図に示す如く、パルス幅t1の時はvl、パルス
幅t2の時は■2のように電圧信号を出力する。これを
AD変換器5でデジタル信号に変換して、プロセッサ6
0は、t、・・・■I+j2・・・v2のように対応し
てメモリ61へ格納する。
異なる信号が次々に可変パルス幅発生器7から出力され
、スイッチ8の接点すを介して時間電圧変換器1に加え
られる。時間電圧変換器1では、その変換特性に従って
、第6図に示す如く、パルス幅t1の時はvl、パルス
幅t2の時は■2のように電圧信号を出力する。これを
AD変換器5でデジタル信号に変換して、プロセッサ6
0は、t、・・・■I+j2・・・v2のように対応し
てメモリ61へ格納する。
以上のように、時間電圧変換器1における時間(パルス
幅):電圧の関係データをメモリ61に格納した後、ス
イッチ8を端子a側に接続する。
幅):電圧の関係データをメモリ61に格納した後、ス
イッチ8を端子a側に接続する。
時間電圧変換器1は第4図(めに示すような動作曲線で
、端数時間パルス(ΔTI+ΔT2 )を電圧に変換す
る。例えば、八T1の時は電圧v、であり、ΔT2の時
は電圧v2である。
、端数時間パルス(ΔTI+ΔT2 )を電圧に変換す
る。例えば、八T1の時は電圧v、であり、ΔT2の時
は電圧v2である。
ここで、バイアス電流iBと積分コンデンサ容量Cの影
響を除去するため、前記(5)式で示した、既知の時間
(パルス幅)に対する電圧のデータを求めなければなら
ないが、本発明では、メモリ61に格納されているデー
タを利用する。例えば、υ1−υ2=υPの電圧が第6
図のように■2とV3の間であると仮定する。この場合
、点1’V2と点tV3の間を直線近似し、電圧υPに
対応する時間として1pを1qる。このようにして、F
7られた既知の時間:電圧のデータ、即ち、tP:υP
を用いて、(6)式の演算を行なえば、時間電圧変換器
1の非直線性を補正した時間(Δ丁、−ΔT2)が19
られる。なぜなら、tp:υPの値は、今、問題として
いる時間電圧変換器の特性により得られたデータだから
でおる。
響を除去するため、前記(5)式で示した、既知の時間
(パルス幅)に対する電圧のデータを求めなければなら
ないが、本発明では、メモリ61に格納されているデー
タを利用する。例えば、υ1−υ2=υPの電圧が第6
図のように■2とV3の間であると仮定する。この場合
、点1’V2と点tV3の間を直線近似し、電圧υPに
対応する時間として1pを1qる。このようにして、F
7られた既知の時間:電圧のデータ、即ち、tP:υP
を用いて、(6)式の演算を行なえば、時間電圧変換器
1の非直線性を補正した時間(Δ丁、−ΔT2)が19
られる。なぜなら、tp:υPの値は、今、問題として
いる時間電圧変換器の特性により得られたデータだから
でおる。
この結果、本発明においては、時間電圧変換器1として
線形の特性を有する必要性はなくなり、例えば、抵抗と
コンデンサのみからなる単純な回路でも良いことになる
。
線形の特性を有する必要性はなくなり、例えば、抵抗と
コンデンサのみからなる単純な回路でも良いことになる
。
なお、以上では(ΔT1−ΔT2 )を変換した電圧υ
Pに対応する時間を痺出するに当たり、点tv2とtV
3との間を直線近似により求めるとして説明したが、本
発明をこの説明に限定するものではない。例えば、電圧
υpに近い方のデータ電圧(例えばV3)と時間(t3
)のデータを採用して、(6)式の演算を施しても、
時間電圧変換器の非直線性をかなり的確に補正すること
ができる。
Pに対応する時間を痺出するに当たり、点tv2とtV
3との間を直線近似により求めるとして説明したが、本
発明をこの説明に限定するものではない。例えば、電圧
υpに近い方のデータ電圧(例えばV3)と時間(t3
)のデータを採用して、(6)式の演算を施しても、
時間電圧変換器の非直線性をかなり的確に補正すること
ができる。
また、以上に説明した、時間電圧変換器の直線性測定(
スイッチ8を接点すに接続)は、端数時間を測定するご
とに行なう必要はない。例えば、1日に1回、本発明の
装置を使用する開始時に行なう程度で良い。
スイッチ8を接点すに接続)は、端数時間を測定するご
とに行なう必要はない。例えば、1日に1回、本発明の
装置を使用する開始時に行なう程度で良い。
ハ2 「本発明の効果」
以上述べたように、本発明によれば次の効果が得られる
。
。
本発明は、可変パルス幅発生器を備え、この出力を時間
電圧変換器に加えることにより時間電圧変換器の特性を
予め測定している。そして、このデータで補正演算をし
ているので、時間電圧変換器は、線形である必要がなく
、例えば、抵抗とコンデンナのように(Φ簡単な回路で
も時間電圧変換器として使用することができる。また、
温度や経年変化によりその時間−電圧変換特性が変って
も適切に補正することができる。
電圧変換器に加えることにより時間電圧変換器の特性を
予め測定している。そして、このデータで補正演算をし
ているので、時間電圧変換器は、線形である必要がなく
、例えば、抵抗とコンデンナのように(Φ簡単な回路で
も時間電圧変換器として使用することができる。また、
温度や経年変化によりその時間−電圧変換特性が変って
も適切に補正することができる。
第1図は本発明の要部である端数時間測定回路とその周
辺の構成例を示した図、第2図は本発明に係る時間計測
装置のブロック図、第3図は可変パルス幅発生器の構成
例を示した図、第4図はタイムチャート、第5図は一般
的な時間幅のfft測原理を示す図、第6図は時間電圧
変換器にお(ブる時間:電圧の特性例を示した図である
。 1・・・時間電圧変換器、5・・・AD変換器、7・・
・可変パルス幅発生器、8・・・スイッチ、60・・・
プロセッサ、61・・・メモリ。 宕/図 箔2図 l 第3図 箔4図 h−fQ −1 Or)70ックイ言号
1
−(m)塙数吟開
−、i−・ ノずルス !:I 下く【i−°丁 1 1.、、、咽−扛 11/11第 5 図 $乙図
辺の構成例を示した図、第2図は本発明に係る時間計測
装置のブロック図、第3図は可変パルス幅発生器の構成
例を示した図、第4図はタイムチャート、第5図は一般
的な時間幅のfft測原理を示す図、第6図は時間電圧
変換器にお(ブる時間:電圧の特性例を示した図である
。 1・・・時間電圧変換器、5・・・AD変換器、7・・
・可変パルス幅発生器、8・・・スイッチ、60・・・
プロセッサ、61・・・メモリ。 宕/図 箔2図 l 第3図 箔4図 h−fQ −1 Or)70ックイ言号
1
−(m)塙数吟開
−、i−・ ノずルス !:I 下く【i−°丁 1 1.、、、咽−扛 11/11第 5 図 $乙図
Claims (1)
- (1)スタート端数時間パルスとストップ端数時間パル
スとを時間電圧変換器に加えてパルス幅を電圧値に変換
し、プロセッサにてこの電圧値に基づく信号に演算を加
えることで端数時間を算出し、被測定時間を計測する装
置において、 異なるパルス幅の信号を出力することができる可変パル
ス幅発生器と、 プロセッサでの演算結果を格納するメモリ手段とを備え
、可変パルス幅発生器で出力する種々のパルス幅に対す
る時間電圧変換器の出力電圧との関係データをメモリ手
段に格納し、このパルス幅:電圧のデータを利用して、
時間電圧変換器の非直線性を補正演算するようにしたこ
とを特徴とする時間計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29011985A JPS62148882A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 時間計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29011985A JPS62148882A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 時間計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62148882A true JPS62148882A (ja) | 1987-07-02 |
Family
ID=17752047
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29011985A Pending JPS62148882A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 時間計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62148882A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008047683A1 (fr) * | 2006-10-17 | 2008-04-24 | Advantest Corporation | Dispositif et procede d'etalonnage et equipement d'essai |
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JP2009541760A (ja) * | 2006-07-04 | 2009-11-26 | ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 移動時間原理による光電式非接触距離測定の方法および装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50131576A (ja) * | 1974-04-03 | 1975-10-17 | ||
JPS5630830A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-28 | Katashi Aoki | Extensive blow molding of bottole of synthetic resin with base cup |
JPS5744122A (en) * | 1980-08-28 | 1982-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | Liquid-crystal injection device |
-
1985
- 1985-12-23 JP JP29011985A patent/JPS62148882A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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JPWO2008047682A1 (ja) * | 2006-10-17 | 2010-02-25 | 株式会社アドバンテスト | キャリブレーション装置、キャリブレーション方法、及び試験装置 |
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US7684944B2 (en) | 2006-10-17 | 2010-03-23 | Advantest Corporation | Calibration apparatus, calibration method, and testing apparatus |
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