JPS6214628A - プレビユ−機構を有するカメラ - Google Patents
プレビユ−機構を有するカメラInfo
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- JPS6214628A JPS6214628A JP15444385A JP15444385A JPS6214628A JP S6214628 A JPS6214628 A JP S6214628A JP 15444385 A JP15444385 A JP 15444385A JP 15444385 A JP15444385 A JP 15444385A JP S6214628 A JPS6214628 A JP S6214628A
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- lock
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- Cameras In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
11=へ札lた1
本発明は、−眼し7レツクスカメラなどTTL測光を行
うカメラに関し、とくに撮影レンズの絞りを所定の絞り
値まで絞り込むプレビュー1fl溝を有するカメラに閃
する。
うカメラに関し、とくに撮影レンズの絞りを所定の絞り
値まで絞り込むプレビュー1fl溝を有するカメラに閃
する。
従遂!口支術−
従来、上述のごときプレビュー機構を有するカメラは知
られている。更に、測光値を手動操作に応じた時点で記
憶するいわゆるAEロック機構を有するカメラも知られ
ている。
られている。更に、測光値を手動操作に応じた時点で記
憶するいわゆるAEロック機構を有するカメラも知られ
ている。
明が しよ゛とする 、
上述のようなプレビュー機構とAEロック機構とを併せ
持つカメラにおいては、従来、AEロックがなされてい
る場合にプレビュー機構の作動を禁止している。しかし
ながら、AEロック機構の作動中もプレビュー機構を作
動させることも必要であり、その場合にも正確な測光値
がAEロック機構によって記憶されるべきである。
持つカメラにおいては、従来、AEロックがなされてい
る場合にプレビュー機構の作動を禁止している。しかし
ながら、AEロック機構の作動中もプレビュー機構を作
動させることも必要であり、その場合にも正確な測光値
がAEロック機構によって記憶されるべきである。
そこで、本発明は、このようなプレビュー機構とAEロ
ック機構とを併せ持つカメラにおいて、AEロック機構
の作動中もプレビュー8!構の作動を許可するとともに
、その場合にも正確な測光値が記憶されるカメラを提供
することを目的とする。
ック機構とを併せ持つカメラにおいて、AEロック機構
の作動中もプレビュー8!構の作動を許可するとともに
、その場合にも正確な測光値が記憶されるカメラを提供
することを目的とする。
貞を (するための−二
上記目的を達成するために、本発明は、撮影レンズの絞
りを所定の絞り値まで絞り込むプレビュー機構を有する
カメラにおいて、プレビュー機構を作動させるために手
動操作されるプレビュー手段と、該プレビュー機構が作
動させられているか否かを判別するプレビュー判別手段
と、撮影レンズを透過した被写体光を測光し、それに応
じた測光値を出力する測光手段と、手動操作に応じた時
点の測光手段の測光値を記憶するAEロック手段と、A
Eロック手段が作動させられてたいるか否かを1’JJ
別するAEロック判別手段と、AEロック判別手段によ
ってAEロック手段の作動中が判別されている状態で、
プレビュー判別手段によってプレビュー手段の繰作が判
別されるとプレビューRMを作動させるとともに、プレ
ビュー機構作動中の測光値をAEe+ツク手段によって
記憶させる制御手段とを有することを特徴とするもので
ある。
りを所定の絞り値まで絞り込むプレビュー機構を有する
カメラにおいて、プレビュー機構を作動させるために手
動操作されるプレビュー手段と、該プレビュー機構が作
動させられているか否かを判別するプレビュー判別手段
と、撮影レンズを透過した被写体光を測光し、それに応
じた測光値を出力する測光手段と、手動操作に応じた時
点の測光手段の測光値を記憶するAEロック手段と、A
Eロック手段が作動させられてたいるか否かを1’JJ
別するAEロック判別手段と、AEロック判別手段によ
ってAEロック手段の作動中が判別されている状態で、
プレビュー判別手段によってプレビュー手段の繰作が判
別されるとプレビューRMを作動させるとともに、プレ
ビュー機構作動中の測光値をAEe+ツク手段によって
記憶させる制御手段とを有することを特徴とするもので
ある。
1−乱
従って、本発明によれば、AEロック手段の作動中にプ
レビュー手段が操作されても、プレビュー機構を作動さ
せて絞りを絞り込むことができ、また、絞り込み後の測
光値がAEロック手段によって記憶されるので、絞り込
み状態の正確な測光値をAEロックすることができる。
レビュー手段が操作されても、プレビュー機構を作動さ
せて絞りを絞り込むことができ、また、絞り込み後の測
光値がAEロック手段によって記憶されるので、絞り込
み状態の正確な測光値をAEロックすることができる。
(以下余白)
実1目生
以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
まず、第12図において、(A)は予め用意された基準
レンズを装着した時の絞り値(F値)と測光セルの出力
(P a)との関係を表わすグラフである。
レンズを装着した時の絞り値(F値)と測光セルの出力
(P a)との関係を表わすグラフである。
自動露出制御のための調整がなされていれば、縦軸は自
動設定されるシャッタ速度(S、S、)にも相当する。
動設定されるシャッタ速度(S、S、)にも相当する。
一方、(B)は開放測光状態において測光セルの出力(
P a)と絞り値(F値)とが線形の関係となるように
調整した場合の適正のラインであり、基準レンズ装着時
のシャッタ速度にも相当する。この(A)と(B)とを
比べてみると、両者は絞り開放状態では一致しているが
、絞りを絞り込んだ場合は差をもつ。すなわち、これは
、開放以外のある絞り値を設定した場合、開放測光結果
により自動設定されるシャッタ速度値と、プレビュー時
の測光結果により自動設定されるシャフタ速度値とは異
なることを意味している3 そこで、本発明の実施例では、プレビュー機構作動時の
測光セルの出力(実際にはこれに基づいて算出された露
出値Ev)がら、ある一定値ΔPvをプレビュー補正量
として滅ヰし、上記プレビュー機構作動中の表示・露出
制御の誤差を極力小さくするように構成されている。本
実施例によるこの補正の結果を曲線(C)として第12
図に示す。
P a)と絞り値(F値)とが線形の関係となるように
調整した場合の適正のラインであり、基準レンズ装着時
のシャッタ速度にも相当する。この(A)と(B)とを
比べてみると、両者は絞り開放状態では一致しているが
、絞りを絞り込んだ場合は差をもつ。すなわち、これは
、開放以外のある絞り値を設定した場合、開放測光結果
により自動設定されるシャッタ速度値と、プレビュー時
の測光結果により自動設定されるシャフタ速度値とは異
なることを意味している3 そこで、本発明の実施例では、プレビュー機構作動時の
測光セルの出力(実際にはこれに基づいて算出された露
出値Ev)がら、ある一定値ΔPvをプレビュー補正量
として滅ヰし、上記プレビュー機構作動中の表示・露出
制御の誤差を極力小さくするように構成されている。本
実施例によるこの補正の結果を曲線(C)として第12
図に示す。
更に、第12図の(D)は、開放F値2.8の交換レン
ズを装着した時の、絞り値(F値)と測光セルの出力(
P a)との関係を表わしている。通常、交換レンズを
装着した場合の開放測光におけるセル出力(Pa)は、
上述した基準レンズを装着した場合と比べると、開放測
光誤差W v iだけ両者は異なっている。従って、交
換レンズ装着時には、上記開放測光誤差W v iを補
正しないと正確な露出制御はできない。そこで、本実施
例ではこれを補正して開放測光での自動露出調整を行な
っており、その補正された結果を第12図に(E)とし
て示す。
ズを装着した時の、絞り値(F値)と測光セルの出力(
P a)との関係を表わしている。通常、交換レンズを
装着した場合の開放測光におけるセル出力(Pa)は、
上述した基準レンズを装着した場合と比べると、開放測
光誤差W v iだけ両者は異なっている。従って、交
換レンズ装着時には、上記開放測光誤差W v iを補
正しないと正確な露出制御はできない。そこで、本実施
例ではこれを補正して開放測光での自動露出調整を行な
っており、その補正された結果を第12図に(E)とし
て示す。
ところが、この開放測光誤差W v iは、絞りが開放
状態のときには装着に現われるが、絞り込んでいくと少
なくなる。すなわち、絞り込めばレンズ交換によるセル
出力のばらつきは、少なくなる。そこで、本実施例では
、開放測光のときには開放測光誤差W v iの補正を
行うが、プレビュー機構作動中は、プレビュー補正量Δ
Pvの補正は行なうけれども上記開放測光誤差Wviの
補正は行わないように構成されている。
状態のときには装着に現われるが、絞り込んでいくと少
なくなる。すなわち、絞り込めばレンズ交換によるセル
出力のばらつきは、少なくなる。そこで、本実施例では
、開放測光のときには開放測光誤差W v iの補正を
行うが、プレビュー機構作動中は、プレビュー補正量Δ
Pvの補正は行なうけれども上記開放測光誤差Wviの
補正は行わないように構成されている。
第12図において、(F)は、上述のように(D)の絞
り込み連動特性を有するF値2.8の交換レンズを用い
て、上述のプレビュー補正量ΔPvの補正を行った結果
を示している。これを見ると、絞りrR放状態では開放
測光誤差Wviが存在するためその補正を行い、プレビ
ュー補正量ΔPvの補正は行わないのがよいと考えられ
る。
り込み連動特性を有するF値2.8の交換レンズを用い
て、上述のプレビュー補正量ΔPvの補正を行った結果
を示している。これを見ると、絞りrR放状態では開放
測光誤差Wviが存在するためその補正を行い、プレビ
ュー補正量ΔPvの補正は行わないのがよいと考えられ
る。
マタ、プレビュー機構を作動させた時の絞り値をメモリ
に記憶しているカメラにおいて、電池がはずされるとそ
のメモリの内容が消えてしまうため、次に電池を装着し
ても正しい絞り値が表示できない。更に、プレビュー作
動状態のままレンズを交換すると、新しく装着されたレ
ンズの開放F値が取り外されたレンズと異なる場合は、
絞りプリセットレバーの位置は不変でも絞り径が異なる
ことになり、メモリされている絞り値は役に立たないこ
とになる。また、プレビュー機構を作動させると、カメ
ラボディ側の絞りプリセットレバーが走行して所定の絞
り段数に達した位置で停止させられるのであるが、レン
ズ交換を行うと開放F値が変化する場合が多いので、交
換されて装着されたレンズを絞り開放状態から取り外さ
れたレンズと同じ段数だけ絞り込んでいても、絞り値は
取り外されたレンズのプレビュー絞り値とは異なること
がある。
に記憶しているカメラにおいて、電池がはずされるとそ
のメモリの内容が消えてしまうため、次に電池を装着し
ても正しい絞り値が表示できない。更に、プレビュー作
動状態のままレンズを交換すると、新しく装着されたレ
ンズの開放F値が取り外されたレンズと異なる場合は、
絞りプリセットレバーの位置は不変でも絞り径が異なる
ことになり、メモリされている絞り値は役に立たないこ
とになる。また、プレビュー機構を作動させると、カメ
ラボディ側の絞りプリセットレバーが走行して所定の絞
り段数に達した位置で停止させられるのであるが、レン
ズ交換を行うと開放F値が変化する場合が多いので、交
換されて装着されたレンズを絞り開放状態から取り外さ
れたレンズと同じ段数だけ絞り込んでいても、絞り値は
取り外されたレンズのプレビュー絞り値とは異なること
がある。
そこで、本実施例においては、電池やレンズの取りはず
しを1回でも行った場合は、レンズが装着されていない
場合の表示を行って、カメうの使用者に警告をうながす
ように構成されている。
しを1回でも行った場合は、レンズが装着されていない
場合の表示を行って、カメうの使用者に警告をうながす
ように構成されている。
更に、ズーミングに応じて開放F値の変化するに一ムレ
ンXを装着した時、プレビュー機構を作動させたままズ
ーミングを行うとズーミングに応じてF値が変化するた
め、絞り値の表示も変化する方が望ましい、そこで、本
実施例においては、プレビュー機構を作動させたときの
ズーミングにより変化する紋りfi(以下、ズームFN
o偏差という)をDAvz、プレビュー機構を作動させ
たときのF値をAVpv(以下、プレビューF値という
)とすると、 AVpv DAvz=PAv @ # @ (1
)なる演算を行ってこのPAvをプレビュー絞り保存量
としてメモリに記憶し、プレビュー1fl構作動中に表
示される絞り値Avは、 PAv十DAvz=Av ・ ・ ・(2)な
る演算を行い、この値Avに応じたF値を表示すること
で、ズーミングによってズームFNo偏差DAvzが変
化した分だけプレビュー機構作動時に表示される絞り値
Avも変化させることができるように構成されている。
ンXを装着した時、プレビュー機構を作動させたままズ
ーミングを行うとズーミングに応じてF値が変化するた
め、絞り値の表示も変化する方が望ましい、そこで、本
実施例においては、プレビュー機構を作動させたときの
ズーミングにより変化する紋りfi(以下、ズームFN
o偏差という)をDAvz、プレビュー機構を作動させ
たときのF値をAVpv(以下、プレビューF値という
)とすると、 AVpv DAvz=PAv @ # @ (1
)なる演算を行ってこのPAvをプレビュー絞り保存量
としてメモリに記憶し、プレビュー1fl構作動中に表
示される絞り値Avは、 PAv十DAvz=Av ・ ・ ・(2)な
る演算を行い、この値Avに応じたF値を表示すること
で、ズーミングによってズームFNo偏差DAvzが変
化した分だけプレビュー機構作動時に表示される絞り値
Avも変化させることができるように構成されている。
また、装填されているフィルムの感度のアペックス値を
Sv、測光セルの出力に応じた被写体輝度のアペックス
値をBy、演算されるシャッタ速度のアペックス値をT
vとすると、プレビュー機構作動中の露出演算は絞り込
み演算となるので、測光セルの出力に応じた被写体輝度
をBvOとしたときに演算により決定されるシャッタ速
度Tνは、Bvo+5v=Tv e 66 (3
)1こよって求められるため、ズーミングによってF値
の変化した分だけ被写体輝度値Bvoも変化し、これが
、演算により決定されるシャッタ速度値Tvを変化させ
る。
Sv、測光セルの出力に応じた被写体輝度のアペックス
値をBy、演算されるシャッタ速度のアペックス値をT
vとすると、プレビュー機構作動中の露出演算は絞り込
み演算となるので、測光セルの出力に応じた被写体輝度
をBvOとしたときに演算により決定されるシャッタ速
度Tνは、Bvo+5v=Tv e 66 (3
)1こよって求められるため、ズーミングによってF値
の変化した分だけ被写体輝度値Bvoも変化し、これが
、演算により決定されるシャッタ速度値Tvを変化させ
る。
ところが、プレビュー機構作動中にAEロックをすると
、AEロック機構を作動させた瞬間の被写体輝度をTT
L測光して記憶するため、その後にズーミングを行って
F値が変化してフィルム面での光量が変化しても、演算
に用いられる被写体輝度値Bvoは変化しないことにな
る。そのため、ズーミングを行っても演算により決定さ
れるシャッタ速度値Tvは変化しないので、適正な露出
制御は行なわれないことになる。そこで、°本実施例で
は、プレビューIf!1構作動中にAEロックされた場
合は、AEロックされた瞬間のズームFNo偏差DAv
zをAEC7ツク偏差DAvzlとして記憶し、ズーミ
ング完了後の該偏差DAvzとの差を用11で演算され
るシャッタ速度値Tvを補正することで、ズーミングに
よってF値が変化した分だけシャッタ速度値Tvを補正
して、露出制御を適正に保っている。これを式で表わす
と、 Bvo+Sv+(DAvz、 DAvz)=Tv・・
・(4) となり、(4)式によって求められるシャッタ速度値T
vを用いて表示および露出制御を行うように構成されて
いる。
、AEロック機構を作動させた瞬間の被写体輝度をTT
L測光して記憶するため、その後にズーミングを行って
F値が変化してフィルム面での光量が変化しても、演算
に用いられる被写体輝度値Bvoは変化しないことにな
る。そのため、ズーミングを行っても演算により決定さ
れるシャッタ速度値Tvは変化しないので、適正な露出
制御は行なわれないことになる。そこで、°本実施例で
は、プレビューIf!1構作動中にAEロックされた場
合は、AEロックされた瞬間のズームFNo偏差DAv
zをAEC7ツク偏差DAvzlとして記憶し、ズーミ
ング完了後の該偏差DAvzとの差を用11で演算され
るシャッタ速度値Tvを補正することで、ズーミングに
よってF値が変化した分だけシャッタ速度値Tvを補正
して、露出制御を適正に保っている。これを式で表わす
と、 Bvo+Sv+(DAvz、 DAvz)=Tv・・
・(4) となり、(4)式によって求められるシャッタ速度値T
vを用いて表示および露出制御を行うように構成されて
いる。
更に、装着されているレンズの開放F値をA vozと
したとき、開放測光状態においてAE117ツクを行う
と、 Bvo+Avoz+5v=Ev=Tv+Av・・・(5
) にて示されるB vo+A vozlすなわち絞り込み
測光状態のTTL測光値Bvを記憶することになる。
したとき、開放測光状態においてAE117ツクを行う
と、 Bvo+Avoz+5v=Ev=Tv+Av・・・(5
) にて示されるB vo+A vozlすなわち絞り込み
測光状態のTTL測光値Bvを記憶することになる。
(B v= B vo十A voz)
ところが、プレビュー機構を作動させると、Bvo+5
v=Tv ・・・(6)のように絞り込み演算
が行われるため、開放測光状態でBvoすなわち開放状
態の絞りを通したセル出力が記憶されていると、(5)
式と(6)式とを比べると明らかなように、プレビュー
機構作動中の絞り値Avと開放F(aAvozとの差に
応じた量だけ、シャッタ速度値に誤差を生じる。
v=Tv ・・・(6)のように絞り込み演算
が行われるため、開放測光状態でBvoすなわち開放状
態の絞りを通したセル出力が記憶されていると、(5)
式と(6)式とを比べると明らかなように、プレビュー
機構作動中の絞り値Avと開放F(aAvozとの差に
応じた量だけ、シャッタ速度値に誤差を生じる。
そこで、本実施例では、AEロック作動中はプレビュー
lft構の作動を禁止して、開放測光値をプレビュー機
構作動中の紋り込み演算に持ち込まないように構成され
ている。但し、上記以外に、AEクロック中プレビュー
機構を作動させる場合は、絞り込み後に再測光してその
値を記憶するように構成してもよい。
lft構の作動を禁止して、開放測光値をプレビュー機
構作動中の紋り込み演算に持ち込まないように構成され
ている。但し、上記以外に、AEクロック中プレビュー
機構を作動させる場合は、絞り込み後に再測光してその
値を記憶するように構成してもよい。
また、プレビュー機構作動中にAEロックを行うと、紋
り込んだ絞りを通しでのセル出力を記憶することになり
、この値をプレビュー解除後の開放測光演算に用いると
誤差を生じる。そこで、本実施例では、絞り込み測光値
を開放測光演算に持ち込まないために、AEロックした
ままプレビュー?jl構の作動を解除する場合は、プレ
ビュー解除後に再1/IJII放測光を行いその結果を
記憶するように構成されている。
り込んだ絞りを通しでのセル出力を記憶することになり
、この値をプレビュー解除後の開放測光演算に用いると
誤差を生じる。そこで、本実施例では、絞り込み測光値
を開放測光演算に持ち込まないために、AEロックした
ままプレビュー?jl構の作動を解除する場合は、プレ
ビュー解除後に再1/IJII放測光を行いその結果を
記憶するように構成されている。
まず、第1図は本発明実施例のカメラボディの上面図で
あり、第2図はその正面図である0本実施例のカメラは
絞り優先式シャッタ速度自動制御モード・シャッタ速度
優先式絞り自m制御モード・プログラム自動露出制御モ
ードおよび手動露出制御モードの各モードを有するもの
であり、設定される絞り値あるいはシャッタ速度は、設
定レバー (A S )をPIS2図に(X)で示す方
向に移動させることによって、アップもしくはダウンさ
せることができる。そして、設定された絞り値およびシ
ャッタ速度は、液晶表示装置(L CD )に表示され
る。
あり、第2図はその正面図である0本実施例のカメラは
絞り優先式シャッタ速度自動制御モード・シャッタ速度
優先式絞り自m制御モード・プログラム自動露出制御モ
ードおよび手動露出制御モードの各モードを有するもの
であり、設定される絞り値あるいはシャッタ速度は、設
定レバー (A S )をPIS2図に(X)で示す方
向に移動させることによって、アップもしくはダウンさ
せることができる。そして、設定された絞り値およびシ
ャッタ速度は、液晶表示装置(L CD )に表示され
る。
(AFL)は手動操作可能なAEロックボタンで、この
AEロックボタン(AFL)が押圧されると、その時息
のTTL@光値がカメラボディ内のメモリに記憶され、
いわゆるAEQツクがなされる。
AEロックボタン(AFL)が押圧されると、その時息
のTTL@光値がカメラボディ内のメモリに記憶され、
いわゆるAEQツクがなされる。
(RB)は、シャツタレリーズボタンである。(PB)
は図示の位置に復帰するように付勢されたブレビ1−ボ
タンで、このプレビューボタン(PB)がいったん!#
2図の矢印(Y)方向に押圧されると、プレビュー磯稍
が作動させられて設定された紋り値まで絞りが絞り込ま
れ、そのプレビュー作動状態で該プレビューボタン(P
B)の押圧が開放されると、プレビュー機構の作動が解
除されて絞りは開放状態に復帰させられる。
は図示の位置に復帰するように付勢されたブレビ1−ボ
タンで、このプレビューボタン(PB)がいったん!#
2図の矢印(Y)方向に押圧されると、プレビュー磯稍
が作動させられて設定された紋り値まで絞りが絞り込ま
れ、そのプレビュー作動状態で該プレビューボタン(P
B)の押圧が開放されると、プレビュー機構の作動が解
除されて絞りは開放状態に復帰させられる。
第3図(A )(B )(C)(D )は、それぞれ本
実施例の液晶表示装置t(LCD)の絞り優先式シャッ
タ速度自動制御モードにおいての表示態様を示す図であ
り、第3図(A)は測光が行なわれていないときの表示
態様を示し、第3図(B)はプレビュー機構が作動させ
られていない通常の開放測光状態の表示態様を示し、こ
のときには、図示のように、設定あるいは演算された絞
り値およびシャッタ速度値がそれぞれ表示される。13
図(C)はプレビュー機構が作動させられているときの
絞り込み測光時の表示態様を示しており、第3図(B)
と同様に設定された絞り値および演算されたシャッタ速
度値がそれぞれ表示されるとともに、絞り値を示す′″
F″′のマークが一定周期で点滅させられる。第3UI
I(D)は、プレビュー機構を作動させたままレンズも
しくは電池を1度で6取り外した場合の表示態様を示し
ており、絞り値もシャッタ速度値も表示されずに、”F
″のマークのみが点滅させられる。
実施例の液晶表示装置t(LCD)の絞り優先式シャッ
タ速度自動制御モードにおいての表示態様を示す図であ
り、第3図(A)は測光が行なわれていないときの表示
態様を示し、第3図(B)はプレビュー機構が作動させ
られていない通常の開放測光状態の表示態様を示し、こ
のときには、図示のように、設定あるいは演算された絞
り値およびシャッタ速度値がそれぞれ表示される。13
図(C)はプレビュー機構が作動させられているときの
絞り込み測光時の表示態様を示しており、第3図(B)
と同様に設定された絞り値および演算されたシャッタ速
度値がそれぞれ表示されるとともに、絞り値を示す′″
F″′のマークが一定周期で点滅させられる。第3UI
I(D)は、プレビュー機構を作動させたままレンズも
しくは電池を1度で6取り外した場合の表示態様を示し
ており、絞り値もシャッタ速度値も表示されずに、”F
″のマークのみが点滅させられる。
このような構成からなる本実施例のカメラの電気回路を
ft54図に示す。尚、以下説明を簡単にするために絞
り優先式シャッタ速度自動制御モードもしくは手動露出
制御モードの動作についてのみ説明する。同図において
、(μC)は、カメラの露出制御に関する全てのシーケ
ンスを制御する制御マイフンであり、(I P、)−(
I P、)は全てその入力ポートである。(CL R)
は制御マイコン(μC)のリセット端子であり、この端
子(CLR)の立上りによって制御マイコン(μC)は
、所定のプログラムを初めから実行する。抵抗(RO)
はコンデンサ(Co)と共にパワーアップクリア回路を
構成し、制御マイコン(μC)に電源が装着されると、
端子(CL R)を−瞬″L″とする。抵抗(Ro)以
外の抵抗は全てプルアップ抵抗である。
ft54図に示す。尚、以下説明を簡単にするために絞
り優先式シャッタ速度自動制御モードもしくは手動露出
制御モードの動作についてのみ説明する。同図において
、(μC)は、カメラの露出制御に関する全てのシーケ
ンスを制御する制御マイフンであり、(I P、)−(
I P、)は全てその入力ポートである。(CL R)
は制御マイコン(μC)のリセット端子であり、この端
子(CLR)の立上りによって制御マイコン(μC)は
、所定のプログラムを初めから実行する。抵抗(RO)
はコンデンサ(Co)と共にパワーアップクリア回路を
構成し、制御マイコン(μC)に電源が装着されると、
端子(CL R)を−瞬″L″とする。抵抗(Ro)以
外の抵抗は全てプルアップ抵抗である。
(LM)は測光部であり、撮影レンズを透過した被写体
光を測光した値を制御マイコン(μC)へ伝達する。(
LR)は、撮影レンズに内蔵されたROM(Read
0nly Memory)であり、後述するレンズ
の情報を制御マイコン(μC)に伝達する。
光を測光した値を制御マイコン(μC)へ伝達する。(
LR)は、撮影レンズに内蔵されたROM(Read
0nly Memory)であり、後述するレンズ
の情報を制御マイコン(μC)に伝達する。
(FR)はDXコード読み取り部であり、装填されたフ
ィルムのパトローネ上に電気的に記載されたフィルム感
度情報を読み取り、制御マイコン(μC)へ伝達する。
ィルムのパトローネ上に電気的に記載されたフィルム感
度情報を読み取り、制御マイコン(μC)へ伝達する。
(μA)は撮影レンズの自動焦点調節用のAFマイフン
であり、測距およびレンズwAvJ制御を行う。
であり、測距およびレンズwAvJ制御を行う。
(LD)はレンズ駆動部であり、AFマイコン(μA)
の制御のもとに撮影レンズを駆動する。
の制御のもとに撮影レンズを駆動する。
(AC)は絞り制御部であり、シャツタレリーズあるい
はプレビュー時の絞りの絞り込み制御を行う。(Spν
2)は絞り込み検知スイッチであり、絞りが駆動された
場合に閉成され、プレビューレバー(PB)の押圧開放
によるプレビューの解除、あるいはレリーズ後の巻上げ
による絞りプリセット系のチャーノ完了によって開放さ
れるように構成されている。
はプレビュー時の絞りの絞り込み制御を行う。(Spν
2)は絞り込み検知スイッチであり、絞りが駆動された
場合に閉成され、プレビューレバー(PB)の押圧開放
によるプレビューの解除、あるいはレリーズ後の巻上げ
による絞りプリセット系のチャーノ完了によって開放さ
れるように構成されている。
(MC)はミラーシャッター制御部であり、シャツタレ
リーズ時のミラーのアップ・ダウン及び7オーカルブレ
ーンシヤツタの第1幕および第2幕の制御を行う、(S
4)は巻上げ完了検知スイッチであり、フィルムの巻上
げ完了で開放され、シャッタの第2幕の走行完了で閉成
されるように構成されている。(DS)は表示部であり
、予め設定された紋り値、および測光結果に応じて演算
されたシャ・?り速度値を第1図図示の液晶表示装置(
LCD)を用いて表示する。
リーズ時のミラーのアップ・ダウン及び7オーカルブレ
ーンシヤツタの第1幕および第2幕の制御を行う、(S
4)は巻上げ完了検知スイッチであり、フィルムの巻上
げ完了で開放され、シャッタの第2幕の走行完了で閉成
されるように構成されている。(DS)は表示部であり
、予め設定された紋り値、および測光結果に応じて演算
されたシャ・?り速度値を第1図図示の液晶表示装置(
LCD)を用いて表示する。
(Spv+)はプレビューレバー(PB)の押圧で閉成
されるプレビュー起動スイッチ、(SAEL)はAEロ
ックボタン(AFL)の抑圧によって閉成されるAEロ
ックスイッチ、(S、)はAFマイコン(μA)による
自動焦点調節動作を開始させるためにシャツタレリーズ
ボタン(RB)の押圧によって閉成されるAPI51!
始スイッチ、(S2)はシャツタレリーズボタン(RB
)の押圧によって閉成されるレリーズスイッチである。
されるプレビュー起動スイッチ、(SAEL)はAEロ
ックボタン(AFL)の抑圧によって閉成されるAEロ
ックスイッチ、(S、)はAFマイコン(μA)による
自動焦点調節動作を開始させるためにシャツタレリーズ
ボタン(RB)の押圧によって閉成されるAPI51!
始スイッチ、(S2)はシャツタレリーズボタン(RB
)の押圧によって閉成されるレリーズスイッチである。
以上4つのスイッチ(S pvl)(S AEL)(S
、)(S 2)I+ fr / 47F’l i
ff を闇661 1−4 Lj fp −f 佼n
八 NDデー)(AN)の入力に接続されて−す
る。ANDデー)(AN)の出力を測光開始信号(sw
ON)と呼」こと、上記4つのスイッチのうち1つでも
閉成されれば、測光開始信号(SWON)は”L”とな
る。
、)(S 2)I+ fr / 47F’l i
ff を闇661 1−4 Lj fp −f 佼n
八 NDデー)(AN)の入力に接続されて−す
る。ANDデー)(AN)の出力を測光開始信号(sw
ON)と呼」こと、上記4つのスイッチのうち1つでも
閉成されれば、測光開始信号(SWON)は”L”とな
る。
(OR)はORゲートであり、一方の入力はプレビュー
起動スイッチ(Spv+)に、他方の入力はAEロック
スイッチ(S IIV2)からインバータデー)(IN
)を介して接続されている。これは、AEロックスイッ
チ(39V2)がrIi成されている場合、すなわち絞
りが絞り込まれている場合かシャツタレリーズ後でフィ
ルム巻上げが未完了の場合は、プレビューffl構を作
動させないために、プレビュー起動スイッチ(SpVl
)を制御マイコン(μC)に接続しないためである。(
S au)(S ad)は、それぞれ、設定レバー(A
S)に連動して開田され、絞り設定値のアップ・ダウン
を行うためのスイッチであり、閉成されることによって
絞りの設定値を変更することがで外る。
起動スイッチ(Spv+)に、他方の入力はAEロック
スイッチ(S IIV2)からインバータデー)(IN
)を介して接続されている。これは、AEロックスイッ
チ(39V2)がrIi成されている場合、すなわち絞
りが絞り込まれている場合かシャツタレリーズ後でフィ
ルム巻上げが未完了の場合は、プレビューffl構を作
動させないために、プレビュー起動スイッチ(SpVl
)を制御マイコン(μC)に接続しないためである。(
S au)(S ad)は、それぞれ、設定レバー(A
S)に連動して開田され、絞り設定値のアップ・ダウン
を行うためのスイッチであり、閉成されることによって
絞りの設定値を変更することがで外る。
カメラに電源が装着されると、制御マイコン(μC)は
、プログラムの初めから実行してゆく、第5図は、本実
施例のシーケンスの概略を表わす70−チャートであり
、以下これに沿って本実施例の動作を説明する。
、プログラムの初めから実行してゆく、第5図は、本実
施例のシーケンスの概略を表わす70−チャートであり
、以下これに沿って本実施例の動作を説明する。
まず、電池の装着によって、ステップ#1で、制御マイ
コン(μC)は総てのポートおよびRAMのイニシャラ
イズを行う。このとき、絞り値の表示としてレンズが装
着されていないことを示す表示を行うため、プレビュー
絞り保存fiPAνを”0”とする。そして、プレビュ
ー機構が作動させられる時は、絞り込み制御しようとす
る絞り値Avからその時のズームFNo偏差DAvzを
減算した値を、プレビュー絞り保存量PAvとして記憶
する。そして、表示をする際には、このプレビュー絞り
保存量PAνと現在のズームFNo偏差DAvzとを加
算した値を絞り値Avとして表示する。これにより、プ
レビュー機構作動中で絞りが固定されていても絞り値の
表示をズーミングによって変化させることができる。ま
た、このときプレビュー絞り保存量PAVを”0″とし
ておけば、後述するように表示される絞り値Avが”0
”となり絞り値の表示は第3図(D)にしめされるよう
になる。
コン(μC)は総てのポートおよびRAMのイニシャラ
イズを行う。このとき、絞り値の表示としてレンズが装
着されていないことを示す表示を行うため、プレビュー
絞り保存fiPAνを”0”とする。そして、プレビュ
ー機構が作動させられる時は、絞り込み制御しようとす
る絞り値Avからその時のズームFNo偏差DAvzを
減算した値を、プレビュー絞り保存量PAvとして記憶
する。そして、表示をする際には、このプレビュー絞り
保存量PAνと現在のズームFNo偏差DAvzとを加
算した値を絞り値Avとして表示する。これにより、プ
レビュー機構作動中で絞りが固定されていても絞り値の
表示をズーミングによって変化させることができる。ま
た、このときプレビュー絞り保存量PAVを”0″とし
ておけば、後述するように表示される絞り値Avが”0
”となり絞り値の表示は第3図(D)にしめされるよう
になる。
電池が装着された時には、プレビュー絞り保存fl P
A vのメモリが失われているので、このプレビュー
絞り保存量PAvは”O”として初期設定され、プレビ
ュー機構作動状態のときはfj43図(D)の表示がな
される。次にステップ#2で測光開始信号(SWON)
をモニターし、4つの測光開始スイッチのいずれかが1
つでも”○N″しているかどうかをtq別する。このと
き曲述の4つの測光開始スイッチが全てOFF”であh
ば#3へ進んで表示を全部消灯させてから#2に戻り、
測光開始信号(SWON)が“ON″になるのを待つ。
A vのメモリが失われているので、このプレビュー
絞り保存量PAvは”O”として初期設定され、プレビ
ュー機構作動状態のときはfj43図(D)の表示がな
される。次にステップ#2で測光開始信号(SWON)
をモニターし、4つの測光開始スイッチのいずれかが1
つでも”○N″しているかどうかをtq別する。このと
き曲述の4つの測光開始スイッチが全てOFF”であh
ば#3へ進んで表示を全部消灯させてから#2に戻り、
測光開始信号(SWON)が“ON″になるのを待つ。
一方、ステップ#2で測光開始信号(SWON)がON
″であれば、ステップ#4へ進み測光をスタートさせる
。そして、ステップ#5でプレビュー機構作動中である
がどうかの判定を行い、ステンプ#6rDX=r−ド読
“取9部(FR)+″読A取 iられたフィ
ルム感度に関するDXコードを入力し、DXコードの信
号が有ればこれをフィルム感度のアペックス値Svに変
換し、DXコードの信号がなければl5O=100をS
v値として記憶する。
″であれば、ステップ#4へ進み測光をスタートさせる
。そして、ステップ#5でプレビュー機構作動中である
がどうかの判定を行い、ステンプ#6rDX=r−ド読
“取9部(FR)+″読A取 iられたフィ
ルム感度に関するDXコードを入力し、DXコードの信
号が有ればこれをフィルム感度のアペックス値Svに変
換し、DXコードの信号がなければl5O=100をS
v値として記憶する。
次に、ステップ#7で、装着されたレンズのROM(L
R)からそのレンズの開放F@Avoz等の情報を入力
し、ステップ井8で自動焦点調節動作を行う。
R)からそのレンズの開放F@Avoz等の情報を入力
し、ステップ井8で自動焦点調節動作を行う。
そして、ステップ#9ではアップ・ダウンスイッチ(S
au)(S ad)の設定状態を判定して、絞り設定
値A vSETを決定する 次に、マイコン(μC)は、ステップ#10で、以上の
情報と測光部(LM)より入力された測光値Bvとに基
づいて露出演算を行って、制御用のシャッタ速度値Tv
および絞り値Avを決定し、ステップ#11でこれを表
示部(DS)の液晶表示装置(LD)を用いて表示する
。その後、ステップ#12お上り#13で、スイッチ(
S 、)(S 2)の状態を判別し、フィルムの巻上げ
が完了していてスイッチ(S2)がON″であれば、ス
テップ#14でAFマイコン(μA)による自動焦点調
節動作をストップさせ、ステップ#15で決定されたシ
ャッタ速度値および絞り値によって露出制御を行う。
au)(S ad)の設定状態を判定して、絞り設定
値A vSETを決定する 次に、マイコン(μC)は、ステップ#10で、以上の
情報と測光部(LM)より入力された測光値Bvとに基
づいて露出演算を行って、制御用のシャッタ速度値Tv
および絞り値Avを決定し、ステップ#11でこれを表
示部(DS)の液晶表示装置(LD)を用いて表示する
。その後、ステップ#12お上り#13で、スイッチ(
S 、)(S 2)の状態を判別し、フィルムの巻上げ
が完了していてスイッチ(S2)がON″であれば、ス
テップ#14でAFマイコン(μA)による自動焦点調
節動作をストップさせ、ステップ#15で決定されたシ
ャッタ速度値および絞り値によって露出制御を行う。
次に、ステップ#16でスイッチ(SAEL、)の設定
状態を判定し、AEロックボタン(AEL)が孫作され
てスイッチ(SAEL)がON”であれば、ステップ#
18でAEロック中であることを示すAEロフクフラグ
(AELF)をセットして、ステップ#19にすすむ。
状態を判定し、AEロックボタン(AEL)が孫作され
てスイッチ(SAEL)がON”であれば、ステップ#
18でAEロック中であることを示すAEロフクフラグ
(AELF)をセットして、ステップ#19にすすむ。
ステップ#16でスイッチ(SAEL)が”OFF″で
あれば、ステップ#17でAEロックフラグ(AELF
)をリセットし、ステップ#19でプレビューボタン(
r’B)が押圧されると閉成されるスイッチ(Spv+
)の状態の判定を行う。このように構成することによっ
て、プレビュー機構の作動中もAEロックを行うことが
できる。
あれば、ステップ#17でAEロックフラグ(AELF
)をリセットし、ステップ#19でプレビューボタン(
r’B)が押圧されると閉成されるスイッチ(Spv+
)の状態の判定を行う。このように構成することによっ
て、プレビュー機構の作動中もAEロックを行うことが
できる。
ステップ#19でスイッチ(S l]V+ )がON”
であれば、ステップ#20で自動焦点調節動作をストッ
プさせ、ステップ#21にすすんでプレビュー機構の絞
り込み制御を行い、続いてステップ#100で後述する
リセットフラグ(RESETF)をリセットする。この
とき、本実施例において、ステップ#21では、プレビ
ューしようとする絞り値AVから、現在のズームFNo
偏差DAvzを滅算してプレビュー絞り保存量PAvと
する。なお、本実施例では、プレビュー8!構はシャツ
タレリーズのときの絞り込みとまったく同じfi摺を使
うため、フィルムの巻上げが未完了で絞りプリセット系
がチャージされていないときは、プレビュー機構を作動
させることができない。この場合は、前述したようにス
イッチ(S pv2)が”ON”しているため、ORデ
ートによってスイッチ(Spν1)は制御マイコン(μ
C)への接続を断たれているので、スイッチ<Spv+
)の設定状態を判定しても無駄なプレビュー制御に入る
ことはない。
であれば、ステップ#20で自動焦点調節動作をストッ
プさせ、ステップ#21にすすんでプレビュー機構の絞
り込み制御を行い、続いてステップ#100で後述する
リセットフラグ(RESETF)をリセットする。この
とき、本実施例において、ステップ#21では、プレビ
ューしようとする絞り値AVから、現在のズームFNo
偏差DAvzを滅算してプレビュー絞り保存量PAvと
する。なお、本実施例では、プレビュー8!構はシャツ
タレリーズのときの絞り込みとまったく同じfi摺を使
うため、フィルムの巻上げが未完了で絞りプリセット系
がチャージされていないときは、プレビュー機構を作動
させることができない。この場合は、前述したようにス
イッチ(S pv2)が”ON”しているため、ORデ
ートによってスイッチ(Spν1)は制御マイコン(μ
C)への接続を断たれているので、スイッチ<Spv+
)の設定状態を判定しても無駄なプレビュー制御に入る
ことはない。
次lこ、マイコン(μC)は、ステップ#22″C測光
開始信号(SWON)を判別して、4つの測光開始スイ
ッチのうちどれかが”ON″していれば、ステップ#2
3で10秒タイマーをリセットしてスタートさせる。こ
のタイマーは、4つの測光開始スイッチを開放しても1
0秒間は測光状態を維持するように設けられたものであ
る。
開始信号(SWON)を判別して、4つの測光開始スイ
ッチのうちどれかが”ON″していれば、ステップ#2
3で10秒タイマーをリセットしてスタートさせる。こ
のタイマーは、4つの測光開始スイッチを開放しても1
0秒間は測光状態を維持するように設けられたものであ
る。
そして、ステップ#24ではこのタイマーのカウント状
態を判定し、10秒のカウントが未完了であればステッ
プ#5へ戻って測光を続け、10秒のカウントが終了し
ていれば、ステップ#25で測光をス) yブさせ、ス
テップ#2へ戻って、ステップ#3で表示を全部消灯さ
せて、次に4つの測光開始スイッチのいずれかが”ON
”されるのを待つ。
態を判定し、10秒のカウントが未完了であればステッ
プ#5へ戻って測光を続け、10秒のカウントが終了し
ていれば、ステップ#25で測光をス) yブさせ、ス
テップ#2へ戻って、ステップ#3で表示を全部消灯さ
せて、次に4つの測光開始スイッチのいずれかが”ON
”されるのを待つ。
第6図は、第5図ステップ#5のプレビュー判定の詳細
なフローチャートである。このプレビュー判定フローに
ついて説明すると、まず、ステップ#26でスイッチ(
S4)の設定状態をf1別し、フィルムの巻き上げが未
完了でスイッチ(S、)が”ON”であれば、次のDX
コード入力の70−にすすむ。ステップ#26でスイッ
チ(S、)が”OFF″のときは、ステップ#27でス
イッチ(Spv2)の設定状態を判別し、スイッチ(S
pv2)がON″であれば絞り込み状態であるために、
まずステップ#101にすすんでAEロックフラグ(A
ELF)の状態を判定し、AEロックフラグ(AELF
)がリセットされていれば、ステップ#104にすすん
でリセットフラグ(1’?EsETF)をセットし、続
いてステップ#28でプレビューフラグ(P V F
)をセットして、次のDXコード入力の70−にすすむ
。ステップ#27でスイッチ(SIIV2)がOFF”
であれば、ステップ#29にすすんでスイッチ(Spv
+)の設定状態を判別する。
なフローチャートである。このプレビュー判定フローに
ついて説明すると、まず、ステップ#26でスイッチ(
S4)の設定状態をf1別し、フィルムの巻き上げが未
完了でスイッチ(S、)が”ON”であれば、次のDX
コード入力の70−にすすむ。ステップ#26でスイッ
チ(S、)が”OFF″のときは、ステップ#27でス
イッチ(Spv2)の設定状態を判別し、スイッチ(S
pv2)がON″であれば絞り込み状態であるために、
まずステップ#101にすすんでAEロックフラグ(A
ELF)の状態を判定し、AEロックフラグ(AELF
)がリセットされていれば、ステップ#104にすすん
でリセットフラグ(1’?EsETF)をセットし、続
いてステップ#28でプレビューフラグ(P V F
)をセットして、次のDXコード入力の70−にすすむ
。ステップ#27でスイッチ(SIIV2)がOFF”
であれば、ステップ#29にすすんでスイッチ(Spv
+)の設定状態を判別する。
ここで、ステップ#27でスイッチ(St)V2)が”
OFF″であり、かつステップ#29でスイッチ(Sp
v+)がON″であれば、プレビュー8!構の始動のた
めにプレビューレバー(PB)を少し押し下げたか、あ
るいは、プレビュー解除のためにプレビューレバー(P
B)を深く押し下げてプリセット系を再チャージした後
に(これでスイッチ(Spν2)は”OFF″になる)
、プレビューレバー(r’B)が上方へ復帰する途中で
あるかのどちらかであるため、ステップ#29からは第
5図のステップ#6にすすみ何もしない。ステップ#2
9でスイッチ(SpV+)が”OFF″であれば、次に
ステップ#30でプレビューフラグ(PVF)のセット
状態を判別する。
OFF″であり、かつステップ#29でスイッチ(Sp
v+)がON″であれば、プレビュー8!構の始動のた
めにプレビューレバー(PB)を少し押し下げたか、あ
るいは、プレビュー解除のためにプレビューレバー(P
B)を深く押し下げてプリセット系を再チャージした後
に(これでスイッチ(Spν2)は”OFF″になる)
、プレビューレバー(r’B)が上方へ復帰する途中で
あるかのどちらかであるため、ステップ#29からは第
5図のステップ#6にすすみ何もしない。ステップ#2
9でスイッチ(SpV+)が”OFF″であれば、次に
ステップ#30でプレビューフラグ(PVF)のセット
状態を判別する。
されていれば、ステップ#26〜#29から、スイッチ
(S4)が”OF F″、スイッチ(S 1lV2)が
OFF″′、スイッチ(Spv+)がOFF″の状態で
あり、すなわち、フィルムの巻上げが完了しでいて、プ
レビューに関しては全く何ら動作していない状態である
。このときは何もしないで次へ進む。
(S4)が”OF F″、スイッチ(S 1lV2)が
OFF″′、スイッチ(Spv+)がOFF″の状態で
あり、すなわち、フィルムの巻上げが完了しでいて、プ
レビューに関しては全く何ら動作していない状態である
。このときは何もしないで次へ進む。
次に、ステップ#30でプレビュー7ラグ(r’VF)
がセットされでいるときは、スイッチ(S 4)(S
pv2)(Spyl)が全て’OF F’″しているこ
とを考え合わせると、プレビュー8!構の作動が解除さ
れた後に初めてこのプレビュー判定のルーチンを通る場
合である。このときは、プレビュー機構作動中にAEロ
ックされているときのために、ステップ#31でAEロ
ックフラグ(A E L F )をリセットして再測光
の準備を行い、その後にステップ#32でプレビューフ
ラグ(PVF)をリセットする。
がセットされでいるときは、スイッチ(S 4)(S
pv2)(Spyl)が全て’OF F’″しているこ
とを考え合わせると、プレビュー8!構の作動が解除さ
れた後に初めてこのプレビュー判定のルーチンを通る場
合である。このときは、プレビュー機構作動中にAEロ
ックされているときのために、ステップ#31でAEロ
ックフラグ(A E L F )をリセットして再測光
の準備を行い、その後にステップ#32でプレビューフ
ラグ(PVF)をリセットする。
一方、ステップ拌101でAEロックフラグ(AELF
)がセットされていれば、ステップ$1102にすすん
でリセットフラグ(RESETF)の状態を判定する。
)がセットされていれば、ステップ$1102にすすん
でリセットフラグ(RESETF)の状態を判定する。
ここで、このリセットフラグ(RESETF)は、AE
フロクがなされた後にプレビュー1filを作動させる
場合に、一度AEロックフラグ(AELF)をリセット
してプレビュー機構作動状態での測光値を記憶するため
のものである。
フロクがなされた後にプレビュー1filを作動させる
場合に、一度AEロックフラグ(AELF)をリセット
してプレビュー機構作動状態での測光値を記憶するため
のものである。
ステップ102でリセットフラグ(RESETF)のリ
セット状態が判別されると、ステップ#103にすすん
でAEフロクフラグ(AELF)をリセットし、さらに
ステップ#104でリセットフラグ(RESETF)を
セットしてステップ#28にすすむ。一方、ステップ#
102でリセットフラグ(RESETF)がセットされ
ていることが判別されると、プレビューPIi構の作動
およびAEフロクが行なわれた状態としで、次のDXコ
ード入力の70−にすすむ。このように構成すれば、A
Eクロック中プレビュー機構を作動させる二とができる
。
セット状態が判別されると、ステップ#103にすすん
でAEフロクフラグ(AELF)をリセットし、さらに
ステップ#104でリセットフラグ(RESETF)を
セットしてステップ#28にすすむ。一方、ステップ#
102でリセットフラグ(RESETF)がセットされ
ていることが判別されると、プレビューPIi構の作動
およびAEフロクが行なわれた状態としで、次のDXコ
ード入力の70−にすすむ。このように構成すれば、A
Eクロック中プレビュー機構を作動させる二とができる
。
第7図は、fjS5図ステップ#6のDXコード入カス
テップの詳細な動作を示すフローチャートである。まず
、このフローでは、ステップ#33でフィルム感度値S
vをl5O=100相当にセットし、ステップ#34で
DXコード読み取り部(FR)からフィルム感度に関す
るDXコードの読み取りを行い、次にステップ#35で
DXフードの有無を判別する。このときDXコードがな
ければそのままこのルーチンを抜は出し、従ってフィル
ム感度あSvはl5O=100+!7)ままとなる。
テップの詳細な動作を示すフローチャートである。まず
、このフローでは、ステップ#33でフィルム感度値S
vをl5O=100相当にセットし、ステップ#34で
DXコード読み取り部(FR)からフィルム感度に関す
るDXコードの読み取りを行い、次にステップ#35で
DXフードの有無を判別する。このときDXコードがな
ければそのままこのルーチンを抜は出し、従ってフィル
ム感度あSvはl5O=100+!7)ままとなる。
ステップ#35でDXコードが有ればステップ#36で
これをデフードし、フィルム感度値Svを書き変える6 1@8図は、第5図ステップ#7のレンズ情報入力ステ
ップの詳細な動作を示す70−チヤーFである。このフ
ローでは、まず、ステップ#37で撮影レンズがカメラ
ボディに装着されているか否か判別し、レンズが装着さ
れていればステップ#38にすすんで、レンズのROM
(LR)より開放F(*Avo、最小F (a A v
max、ズームFNo偏差DAvz、およりrr11放
測光誤差W v iを入力する。 1次に
、ステップ#40でレンズから伝達された開放F値Av
oとズームFNo偏差DAvzとを加算し、これを現在
のズーミング位置での開放F値を示す演算開放F値Av
ozとするとともに、最小F値A vmaxとズームF
No偏差DAvzとを加算し、これを現在のズーミング
位置での最小F値を示す演抹最小F値^vmaxzとす
る。そして、ステップ#41でAEフロクフラグ(AE
LF)の設定状態を判別し、AEフロクフラグ(AEL
F)がリセットされている場合、すなわちAEクロック
中ない場合は、ステップ#42で、現在の演算開放F値
^vozおよびズームFNo偏差DAvzをそれぞれA
VOZI、DAvz、としてそれぞれ保存する。よって
Avoz、、およびDAvz、はAEフロクされると更
新されなくなり、AEロックボタン(AFL)が押圧さ
れた時の演算開放F値A v o Z %およC/ズー
ムFNo偏差DAvzがそれぞれ記憶されることになる
。
これをデフードし、フィルム感度値Svを書き変える6 1@8図は、第5図ステップ#7のレンズ情報入力ステ
ップの詳細な動作を示す70−チヤーFである。このフ
ローでは、まず、ステップ#37で撮影レンズがカメラ
ボディに装着されているか否か判別し、レンズが装着さ
れていればステップ#38にすすんで、レンズのROM
(LR)より開放F(*Avo、最小F (a A v
max、ズームFNo偏差DAvz、およりrr11放
測光誤差W v iを入力する。 1次に
、ステップ#40でレンズから伝達された開放F値Av
oとズームFNo偏差DAvzとを加算し、これを現在
のズーミング位置での開放F値を示す演算開放F値Av
ozとするとともに、最小F値A vmaxとズームF
No偏差DAvzとを加算し、これを現在のズーミング
位置での最小F値を示す演抹最小F値^vmaxzとす
る。そして、ステップ#41でAEフロクフラグ(AE
LF)の設定状態を判別し、AEフロクフラグ(AEL
F)がリセットされている場合、すなわちAEクロック
中ない場合は、ステップ#42で、現在の演算開放F値
^vozおよびズームFNo偏差DAvzをそれぞれA
VOZI、DAvz、としてそれぞれ保存する。よって
Avoz、、およびDAvz、はAEフロクされると更
新されなくなり、AEロックボタン(AFL)が押圧さ
れた時の演算開放F値A v o Z %およC/ズー
ムFNo偏差DAvzがそれぞれ記憶されることになる
。
ここで、AEフロクがなされることによって演算開放F
値A vozを記憶するのは、開放測光時の被写体輝度
Bvoと演算開放F値A vozとを加えたものが被写
体輝度Bvであるため、開放測光時にズーミングによっ
て開放F値が変化することを考÷ 7. シ A
’r:’ n −ヵ 々 l−) −−rM
#iM41−uMhh”Wjk輝度Bvoを記憶するだ
けでは露出制御B量が変化しうるためである。また、A
EフロクによってズームFNo偏差DAvzを記憶する
のは、前述したように、プレビュー機構作動状態のAE
クロック中ズーミングされた場合に、露出制御量が変化
しないようにするためである。
値A vozを記憶するのは、開放測光時の被写体輝度
Bvoと演算開放F値A vozとを加えたものが被写
体輝度Bvであるため、開放測光時にズーミングによっ
て開放F値が変化することを考÷ 7. シ A
’r:’ n −ヵ 々 l−) −−rM
#iM41−uMhh”Wjk輝度Bvoを記憶するだ
けでは露出制御B量が変化しうるためである。また、A
EフロクによってズームFNo偏差DAvzを記憶する
のは、前述したように、プレビュー機構作動状態のAE
クロック中ズーミングされた場合に、露出制御量が変化
しないようにするためである。
次にステップ#43では、プレビューフラグ(PVF)
のセット状態を判別し、セットされている場合はステッ
プ#44にすすんで、前述したようにプレビュー機構作
動中は開放測光誤差Wviの補正をしないためにWvi
をθ″とし、また、絞り込み演算を行うために、演算開
放F値A voz、 A VOZ+、および演算用最小
F値A vmaxzをそれぞれ′0″とする。
のセット状態を判別し、セットされている場合はステッ
プ#44にすすんで、前述したようにプレビュー機構作
動中は開放測光誤差Wviの補正をしないためにWvi
をθ″とし、また、絞り込み演算を行うために、演算開
放F値A voz、 A VOZ+、および演算用最小
F値A vmaxzをそれぞれ′0″とする。
また、ステップ#37でレンズが装着されていないと判
定された場合は、ステップ#39にすすんで、前述した
ようにプレビュー機構作動中にレンズカ′r1度でらは
ずされた場合には絞り値の表示を第3図(D)に示され
るようにするため、プレビュー絞り保存量PAvを”O
”とし、また絞り込み演算をするためにズームFNo偏
差DAvz、 DAvz。
定された場合は、ステップ#39にすすんで、前述した
ようにプレビュー機構作動中にレンズカ′r1度でらは
ずされた場合には絞り値の表示を第3図(D)に示され
るようにするため、プレビュー絞り保存量PAvを”O
”とし、また絞り込み演算をするためにズームFNo偏
差DAvz、 DAvz。
をそれぞれ”0”として、前述のステップ#44の処理
を行う。
を行う。
第9図は、第5図ステップ#8の自動焦点調節ステップ
の詳細な動作を示すフローチャートである。まずこのフ
ローでは、ステップ#45でプレビューフラグ(P V
F )のセット状態を判別し、リセット状態すなわち
プレビュー機構作動中でない場合はステップ#46にす
すんでスイッチ(Sl)の設定状態を判別し、スイッチ
(S、)がON″であればステップ#47で自動焦点調
節+111の動作をスタートさせ、スイッチ(Sl)が
”OFF”であればステップ#48にすすんで自動焦点
調節動作をストップさせる。
の詳細な動作を示すフローチャートである。まずこのフ
ローでは、ステップ#45でプレビューフラグ(P V
F )のセット状態を判別し、リセット状態すなわち
プレビュー機構作動中でない場合はステップ#46にす
すんでスイッチ(Sl)の設定状態を判別し、スイッチ
(S、)がON″であればステップ#47で自動焦点調
節+111の動作をスタートさせ、スイッチ(Sl)が
”OFF”であればステップ#48にすすんで自動焦点
調節動作をストップさせる。
また、ステップ#45でプレビュー7ラグ(PV[’)
がセット状態にあり、すなわちプレビュー機構作動中で
あれば、自動焦点調節動作は何も行なわない。これは、
プレビュー機構の始動時にすでに自動焦点調節動作はス
トップされているため、プレビュー機構作動中はスイッ
チ(Sl)を”ON”しても自動焦点調節動作をしない
ことを意味している。
がセット状態にあり、すなわちプレビュー機構作動中で
あれば、自動焦点調節動作は何も行なわない。これは、
プレビュー機構の始動時にすでに自動焦点調節動作はス
トップされているため、プレビュー機構作動中はスイッ
チ(Sl)を”ON”しても自動焦点調節動作をしない
ことを意味している。
@io図は、第5図ステップ#10の測光値入力・演算
ステップの詳細な動作を示すフローチャートである。こ
のフローでは、まず、ステップ#49でAEフロク7ラ
グ(AELF>のセット状態を判別し、このフラグがリ
セット状態にありすなわちAEクロック中なければ、ス
テップ#50で開放測光値Bvoを入力する。
ステップの詳細な動作を示すフローチャートである。こ
のフローでは、まず、ステップ#49でAEフロク7ラ
グ(AELF>のセット状態を判別し、このフラグがリ
セット状態にありすなわちAEクロック中なければ、ス
テップ#50で開放測光値Bvoを入力する。
次に、ステップ#51でB vo、 A voz、、S
v、およびWviを全て加算して露出値Evを求める。
v、およびWviを全て加算して露出値Evを求める。
そしてステップ#52でプレビューフラグ(PvF)の
セット状態を判別し、このフラグがセット状態にありす
なわちプレビュー機構作動中であれば、ステップ#53
で上記Eνに、DAvz、とDAvzとの差を加算し、
補正lΔPvを減算して、露出値Evの補正を行う、こ
こで、DAvz、とDAvzとの差を加算するのは、前
述したようにプレビュー機構作動中にAEフロクしたま
まズーミングされても露出制御量が変化しないようにす
るためであり、一方、プレビュー補正量ΔPvを減算す
るのは、TTL測光セル出カの絞り込み連動特性が悪い
ため、roll放測光時と絞り込み測光時とで露出制御
量が変化しないように補正するためである。
セット状態を判別し、このフラグがセット状態にありす
なわちプレビュー機構作動中であれば、ステップ#53
で上記Eνに、DAvz、とDAvzとの差を加算し、
補正lΔPvを減算して、露出値Evの補正を行う、こ
こで、DAvz、とDAvzとの差を加算するのは、前
述したようにプレビュー機構作動中にAEフロクしたま
まズーミングされても露出制御量が変化しないようにす
るためであり、一方、プレビュー補正量ΔPvを減算す
るのは、TTL測光セル出カの絞り込み連動特性が悪い
ため、roll放測光時と絞り込み測光時とで露出制御
量が変化しないように補正するためである。
ここで、本実施例ではプレビュー補正量ΔPVを一定値
にしているけれども、これに限定されるものではなく、
プレビュー補正量ΔPvを可変量としてもよい。たとえ
ば、 1、第14図に示すように、プレビュー補正量ΔPvを
一定値とすると、絞り+m放状態付近のプレビュー状態
では補正しすぎとなるため、プレビュー絞り値によりプ
レビュー補正量ΔPvを増減する。
にしているけれども、これに限定されるものではなく、
プレビュー補正量ΔPvを可変量としてもよい。たとえ
ば、 1、第14図に示すように、プレビュー補正量ΔPvを
一定値とすると、絞り+m放状態付近のプレビュー状態
では補正しすぎとなるため、プレビュー絞り値によりプ
レビュー補正量ΔPvを増減する。
2、測光セルの出力の絞り込み連動特性は撮影レンズの
種類により微妙に違うため、撮影レンズ個々のROMに
予めプレビュー補正量ΔPvを予め格納しでおき、レン
ズごとに異るプレビュー補正量ΔPvを用いる。
種類により微妙に違うため、撮影レンズ個々のROMに
予めプレビュー補正量ΔPvを予め格納しでおき、レン
ズごとに異るプレビュー補正量ΔPvを用いる。
3、上記1.2を組み合わせる。
4、プレビューによる開放絞り値からの絞り込み段数が
、所定段数以内(たとえば0.5Eν以内)ならプレビ
ュー補正量ΔPvの補正をしな−1゜ という構成をとってもよい。
、所定段数以内(たとえば0.5Eν以内)ならプレビ
ュー補正量ΔPvの補正をしな−1゜ という構成をとってもよい。
たとえば、上記4の場合、次式に示されるXを用いて、
X=(PAv+DAv−Avo) ・・・(7)第1
0図のステップ#52とステップ#53との開に、Xが
0.5未満の場合はプレビュー絞り補正量ΔPvを0″
とし、Xが0.5以上の場合のみステップ#53にすす
むステ・ノブを設ければ良い。
0図のステップ#52とステップ#53との開に、Xが
0.5未満の場合はプレビュー絞り補正量ΔPvを0″
とし、Xが0.5以上の場合のみステップ#53にすす
むステ・ノブを設ければ良い。
更に、第14図のCF)から明らかなように、絞り開放
状態のプレビュー機構作動時には、開放測光誤差Wvi
が存在しているので、この場合にはこの開放測光誤差W
viの補正のみを行い、プレビュー補正量ΔPvの補正
は行わない方がより露出演算誤差を少なくすることがで
きる。このように構成するためには、まず次式で示され
る値Yを求め、Y:PAv−AvO・ ・ ・(8) 第10図のステップ#52とステップ#53との間に、
このYが”0”であればプレビュー補正量ΔPvをfI
Qllとし、Yが”0”以外の場合はそのままステップ
#53にすすむステップを追加すればよい。
状態のプレビュー機構作動時には、開放測光誤差Wvi
が存在しているので、この場合にはこの開放測光誤差W
viの補正のみを行い、プレビュー補正量ΔPvの補正
は行わない方がより露出演算誤差を少なくすることがで
きる。このように構成するためには、まず次式で示され
る値Yを求め、Y:PAv−AvO・ ・ ・(8) 第10図のステップ#52とステップ#53との間に、
このYが”0”であればプレビュー補正量ΔPvをfI
Qllとし、Yが”0”以外の場合はそのままステップ
#53にすすむステップを追加すればよい。
ステップ#54では、カメラボディに撮影レンズが装着
されているが否かをf’q別し、#55ではプレビュー
フラグ(PVF)のセット状態を判別し、レンズが装着
されていないが、プレビュー機構作動中のときは、ステ
ップ#57にすすんでアキュムレータ(Ace)の内容
を0”とし、レンズが装着されていてプレビュー機構作
動中でない(プレビューフラグ(P V F )がリセ
ット状態)ときは、ステップ#56で設定された絞り値
A vSETをアキエムレータ(Acc)に代入する。
されているが否かをf’q別し、#55ではプレビュー
フラグ(PVF)のセット状態を判別し、レンズが装着
されていないが、プレビュー機構作動中のときは、ステ
ップ#57にすすんでアキュムレータ(Ace)の内容
を0”とし、レンズが装着されていてプレビュー機構作
動中でない(プレビューフラグ(P V F )がリセ
ット状態)ときは、ステップ#56で設定された絞り値
A vSETをアキエムレータ(Acc)に代入する。
そして、ステップ#58で7キユムレータ(Ac。
C)の値をAvとし、算出されたEvから7キユムレー
タ(Ace)の値を減算してシャッタ速度値Tvを求め
る。次に、ステップ#59でプレビュー7ラグ(PVF
)のセット状態をf1別し、プレビュー機構作動中であ
れば、ステップ#60でプレビュー絞り値PAvに現在
のズームFNo偏差DAvzを加算して演算紋り値Av
とする。これは前述したように、プレビュー81構作動
中に表示されている絞り値をズーミングに合わせて変化
させて表示するためである。ここで求められた絞り値A
vおよびシャッタ速度値Tvにより、露出表示およV露
出制御が行なわれる。
タ(Ace)の値を減算してシャッタ速度値Tvを求め
る。次に、ステップ#59でプレビュー7ラグ(PVF
)のセット状態をf1別し、プレビュー機構作動中であ
れば、ステップ#60でプレビュー絞り値PAvに現在
のズームFNo偏差DAvzを加算して演算紋り値Av
とする。これは前述したように、プレビュー81構作動
中に表示されている絞り値をズーミングに合わせて変化
させて表示するためである。ここで求められた絞り値A
vおよびシャッタ速度値Tvにより、露出表示およV露
出制御が行なわれる。
第11図は、第5図ステップ#11の表示ステップの詳
細な動作を示すフローチャートである。まずこの70−
では、ステップ#61で、第10図図示の演算ルーチン
で求められた絞り値Avお上びシャッタ速度値Tvを、
表示用データとして表示ffl!(DS)へ伝達するレ
ジスタにセットする。次に、ステップ#62でプレビュ
ーフラグ(P V F )のセット状態を判別し、この
フラグがリセット状 i態にありすなわち
プレビュー8!構が解除されている場合は、ステップ#
63にすすんで、”F″マーク点滅をさせないためのデ
ータを表示部(D S )へ伝達するレジスタにセット
する。
細な動作を示すフローチャートである。まずこの70−
では、ステップ#61で、第10図図示の演算ルーチン
で求められた絞り値Avお上びシャッタ速度値Tvを、
表示用データとして表示ffl!(DS)へ伝達するレ
ジスタにセットする。次に、ステップ#62でプレビュ
ーフラグ(P V F )のセット状態を判別し、この
フラグがリセット状 i態にありすなわち
プレビュー8!構が解除されている場合は、ステップ#
63にすすんで、”F″マーク点滅をさせないためのデ
ータを表示部(D S )へ伝達するレジスタにセット
する。
また、ステップ#62でプレビューフラグ(PvF)が
セット状態にあり、すなわちプレビュー機構が作動して
いる状態にある場合は、ステップ#64で″F″マーク
を点滅させるだめのデータを表示部(D S )へ伝達
するレジスタにセットする。そして、ステップ#65で
プレビュー絞り保存量PAvを判別し、プレビュー絞り
保存量PAvが0”であれば、ステップ#66にすすん
で表示部(D S ’)へ伝達する絞り値のデータを”
0”とする。
セット状態にあり、すなわちプレビュー機構が作動して
いる状態にある場合は、ステップ#64で″F″マーク
を点滅させるだめのデータを表示部(D S )へ伝達
するレジスタにセットする。そして、ステップ#65で
プレビュー絞り保存量PAvを判別し、プレビュー絞り
保存量PAvが0”であれば、ステップ#66にすすん
で表示部(D S ’)へ伝達する絞り値のデータを”
0”とする。
]t1.t、プレビュー8!横作動中でかつプレビュー
絞り保存fi P A vが”0”ということは、プレ
ビュー機構を作動させて紋りを絞り込んだまま、レンズ
を1度はずしたがもしくは電池をはずしたがということ
なので、前述のように絞り表示を第3図(D)のように
するためである。紋り値Avが0″というデータを表示
部(D S )へ伝達するとその絞り表示は第3図(D
>のようになる。この状態の絞り表示は、使用されてい
る絞り値以外、例えば”00”や”99”を表示すると
か、表示されている絞り値を点滅させるとか、絞り値を
全く表示しないとかでもよい。その後、ステップ#67
にすすんで、以上のようにセットされた表示用のデータ
をマイコン(μC)から表示部(DS)へ伝達する。
絞り保存fi P A vが”0”ということは、プレ
ビュー機構を作動させて紋りを絞り込んだまま、レンズ
を1度はずしたがもしくは電池をはずしたがということ
なので、前述のように絞り表示を第3図(D)のように
するためである。紋り値Avが0″というデータを表示
部(D S )へ伝達するとその絞り表示は第3図(D
>のようになる。この状態の絞り表示は、使用されてい
る絞り値以外、例えば”00”や”99”を表示すると
か、表示されている絞り値を点滅させるとか、絞り値を
全く表示しないとかでもよい。その後、ステップ#67
にすすんで、以上のようにセットされた表示用のデータ
をマイコン(μC)から表示部(DS)へ伝達する。
これにより、表示部(OS)は紋り値Avおよびシャッ
タ速度値Tvの表示、及び“F″マーク点滅あるいは点
灯を行う。
タ速度値Tvの表示、及び“F″マーク点滅あるいは点
灯を行う。
更に、本実施例では、上記プレビュー補正量ΔPvのデ
ータはレンズのROMに記憶させられていたが、本発明
はこれに限定されるものではなく、カメラボディ内に多
数のΔPvのデータを収納しておいて、レンズの種類の
信号によってそのうちの対応するデータが選択されるよ
うに構成しても良い。
ータはレンズのROMに記憶させられていたが、本発明
はこれに限定されるものではなく、カメラボディ内に多
数のΔPvのデータを収納しておいて、レンズの種類の
信号によってそのうちの対応するデータが選択されるよ
うに構成しても良い。
以上、絞り優先式シャッタ速度自動制御モードもしくは
手動露出制御モードの動作について説明したが、シャッ
タ速度優先式絞り自動制御モードおよびプログラム自動
露出II+御モードの場合にも、それぞれ所定の演算を
行って紋り値を求め、その絞り値に基づいてプレビュー
機構を作動させたり、露出演算もしくは露出制御を行え
ば良い。
手動露出制御モードの動作について説明したが、シャッ
タ速度優先式絞り自動制御モードおよびプログラム自動
露出II+御モードの場合にも、それぞれ所定の演算を
行って紋り値を求め、その絞り値に基づいてプレビュー
機構を作動させたり、露出演算もしくは露出制御を行え
ば良い。
(以下余白)
介訓しへ1先
以上詳述したように、本発明は、撮影レンズの紋りを所
定の絞り値まで絞り込むプレビュー8!構を有するカメ
ラにおいて、プレビュー8!構を作動させるために手動
操作されるプレビュー手段と、該プレビュー機構が作動
させられているが否かを判別するプレビュー判別手段と
、撮影レンズを透過した被写体光を測光し、それに応じ
た測光値を出力する測光手段と、手動操作に応じた時点
の測光手段の測光値を記憶するAEロック手段と、AE
ロック手段が作動させられてたいるが否かを判別するA
Eフロク判別手段と、AEフロク判別手段によってAE
Oツク手段の作動中が判別されている状態で、プレビュ
ー判別手段によってプレビュー手段の操作が判別される
とプレビュー機構を作動させるとともに、プレビュー1
f1vt作動中の測光値をAEロック手段によって記憶
させる制御手段とを有することを特徴とするものであり
、このように構成することによって、AEロック手段の
作動中にプレビュー手段が繰作されても、プレビュー機
構を作動させて絞りを絞り込むことができ、また、絞り
込み後の測光値がAEロック手段によって記憶されるの
で、絞り込み状態の正確な測光値をAEフロクすること
ができる。
定の絞り値まで絞り込むプレビュー8!構を有するカメ
ラにおいて、プレビュー8!構を作動させるために手動
操作されるプレビュー手段と、該プレビュー機構が作動
させられているが否かを判別するプレビュー判別手段と
、撮影レンズを透過した被写体光を測光し、それに応じ
た測光値を出力する測光手段と、手動操作に応じた時点
の測光手段の測光値を記憶するAEロック手段と、AE
ロック手段が作動させられてたいるが否かを判別するA
Eフロク判別手段と、AEフロク判別手段によってAE
Oツク手段の作動中が判別されている状態で、プレビュ
ー判別手段によってプレビュー手段の操作が判別される
とプレビュー機構を作動させるとともに、プレビュー1
f1vt作動中の測光値をAEロック手段によって記憶
させる制御手段とを有することを特徴とするものであり
、このように構成することによって、AEロック手段の
作動中にプレビュー手段が繰作されても、プレビュー機
構を作動させて絞りを絞り込むことができ、また、絞り
込み後の測光値がAEロック手段によって記憶されるの
で、絞り込み状態の正確な測光値をAEフロクすること
ができる。
第1図は本発明実施例のカメラボディを示す上面図、第
2図はその正面図、第3図は本実施例の表示態様を示す
図、第4図はその電気回路図、第5図はその動作の概略
を示す70−チャード、第6図〜第11図はその各動作
の詳細を示すフローチャート、第12図は絞り値とTT
L測光値との138係を示すグラフである。 (PB);プレビュー手段、 (P V F );プレビュー判別手段(AELF);
AEフロク判別手段、 (μC);AEロック手段、制御手段。 以 上 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1I図
2図はその正面図、第3図は本実施例の表示態様を示す
図、第4図はその電気回路図、第5図はその動作の概略
を示す70−チャード、第6図〜第11図はその各動作
の詳細を示すフローチャート、第12図は絞り値とTT
L測光値との138係を示すグラフである。 (PB);プレビュー手段、 (P V F );プレビュー判別手段(AELF);
AEフロク判別手段、 (μC);AEロック手段、制御手段。 以 上 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1I図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 撮影レンズの絞りを所定の絞り値まで絞り込むプレビュ
ー機構を有するカメラにおいて、 プレビュー機構を作動させるために手動操作されるプレ
ビュー手段と、 該プレビュー機構が作動させられているか否かを判別す
るプレビュー判別手段と、 撮影レンズを透過した被写体光を測光し、それに応じた
測光値を出力する測光手段と、 手動操作に応じた時点の測光手段の測光値を記憶するA
Eロック手段と、 AEロック手段が作動させられてたいるか否かを判別す
るAEロック判別手段と、 AEロック判別手段によってAEロック手段の作動中が
判別されている状態で、プレビュー判別手段によってプ
レビュー手段の操作が判別されるとプレビュー機構を作
動させるとともに、プレビュー機構作動中の測光値をA
Eロック手段によって記憶させる制御手段と、 を有することを特徴とするプレビュー機構を有するカメ
ラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15444385A JPS6214628A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | プレビユ−機構を有するカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15444385A JPS6214628A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | プレビユ−機構を有するカメラ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6214628A true JPS6214628A (ja) | 1987-01-23 |
Family
ID=15584314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15444385A Pending JPS6214628A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | プレビユ−機構を有するカメラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6214628A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259143A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-16 | Nippon Steel Corp | 鋳造過程或いはその後の熱間圧延過程で割れを起こし難いCr−Ni系ステンレス鋼 |
JPH05247598A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-09-24 | Inco Alloys Internatl Inc | ヒーターシース合金 |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP15444385A patent/JPS6214628A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259143A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-16 | Nippon Steel Corp | 鋳造過程或いはその後の熱間圧延過程で割れを起こし難いCr−Ni系ステンレス鋼 |
JPH05247598A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-09-24 | Inco Alloys Internatl Inc | ヒーターシース合金 |
JPH07103450B2 (ja) * | 1992-01-17 | 1995-11-08 | インコ、アロイス、インターナショナル インコーポレーテッド | ヒーターシース合金 |
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