JPS62116273A - 電子デバイス駆動回路 - Google Patents
電子デバイス駆動回路Info
- Publication number
- JPS62116273A JPS62116273A JP60256263A JP25626385A JPS62116273A JP S62116273 A JPS62116273 A JP S62116273A JP 60256263 A JP60256263 A JP 60256263A JP 25626385 A JP25626385 A JP 25626385A JP S62116273 A JPS62116273 A JP S62116273A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- voltage
- electronic device
- output
- power source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 8
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
この発明は、終端の必要なピンを有する電子デバイスの
駆動回路に関する。
駆動回路に関する。
[従来の技術]
このような電子デバイス駆動回路の従来例として、IC
などの電子デバイスの検査システムに用いられている電
子デバイス駆動回路を第2図によって説明する。
などの電子デバイスの検査システムに用いられている電
子デバイス駆動回路を第2図によって説明する。
この図において、100はスリーステートのドライバで
あり、駆動制御L=i %ノ、が入力されるとともに、
直流電圧VIH,VILを印加されるようになっている
。このドライバ100の出力は、信号伝送路104を介
して被検査電子デバイスのピンが接続されるピン接続端
子10Bと接続されている。ドライバ100の出力イン
ピーダンスと信号伝送路104の特性インピーダンスと
の整合のために、抵抗102(例えば50Ω)が挿入さ
れている。
あり、駆動制御L=i %ノ、が入力されるとともに、
直流電圧VIH,VILを印加されるようになっている
。このドライバ100の出力は、信号伝送路104を介
して被検査電子デバイスのピンが接続されるピン接続端
子10Bと接続されている。ドライバ100の出力イン
ピーダンスと信号伝送路104の特性インピーダンスと
の整合のために、抵抗102(例えば50Ω)が挿入さ
れている。
出力モード(ピン駆動モード)時に、ドライバlOOは
アクティブ状態となり、駆動制御信号によって指定され
た−・方の直流電圧VIHまたはVILを駆動電圧とし
て出力し、それはピン接続端子106に印加される。入
力モード時には、ドライバ100は高インピーダンス状
態となる。この入力モードにおいて、電子デバイスのピ
ンに出力される信号が図示しないコンパレータなどによ
ってチェックされる。
アクティブ状態となり、駆動制御信号によって指定され
た−・方の直流電圧VIHまたはVILを駆動電圧とし
て出力し、それはピン接続端子106に印加される。入
力モード時には、ドライバ100は高インピーダンス状
態となる。この入力モードにおいて、電子デバイスのピ
ンに出力される信号が図示しないコンパレータなどによ
ってチェックされる。
さて、電子デバイスにはピンの終端が必要なものがある
(例えばECLデバイス、MOSデバイス)。このよう
な終端を必要とする電子デバイスを駆動する必要がある
場合、従来は第2図に示すように、ピン接続端子106
に、リードリレー108を介して終端抵抗110(例え
ば50Ω)と終端電源112が接続されるようになって
いる。
(例えばECLデバイス、MOSデバイス)。このよう
な終端を必要とする電子デバイスを駆動する必要がある
場合、従来は第2図に示すように、ピン接続端子106
に、リードリレー108を介して終端抵抗110(例え
ば50Ω)と終端電源112が接続されるようになって
いる。
なお、図示のような電rデバイス駆動回路は、電子デバ
イスと1接的にインターフェイスする部分であるテスト
ヘッドと叶ばれる部分に一般に設けられるものであり、
電子デバイスのピン対応に多数存在する。
イスと1接的にインターフェイスする部分であるテスト
ヘッドと叶ばれる部分に一般に設けられるものであり、
電子デバイスのピン対応に多数存在する。
[解決しようとする問題点]
さて、リードリレー108はモードと関係なく、閉また
は開状態に設定される。このような構成であっても、E
CLデバイスなどの出力ピンに関しては格別問題はない
。
は開状態に設定される。このような構成であっても、E
CLデバイスなどの出力ピンに関しては格別問題はない
。
しかし、ECLデバイスなどの終端の必要な入出力ピン
については、リードリレー108を常時閉成した場合、
出力モード時(駆動モード時)にその人出力ピンの印加
電圧(駆動電圧)が終端電源および終端抵抗の接続によ
り影響を受けてしまう。そのような訳で、従来、ECL
デバイスなどの入出力ピンを終端せずに検査を11ゎざ
るを得ないという問題があった。
については、リードリレー108を常時閉成した場合、
出力モード時(駆動モード時)にその人出力ピンの印加
電圧(駆動電圧)が終端電源および終端抵抗の接続によ
り影響を受けてしまう。そのような訳で、従来、ECL
デバイスなどの入出力ピンを終端せずに検査を11ゎざ
るを得ないという問題があった。
この問題を解決するために、モードに応じてリードリレ
ー108を開閉させることが考えられる。
ー108を開閉させることが考えられる。
しかし、−・般にリードリレーの応答速度は、ECLデ
バイスなどの高速電子デバイスの動作速度に比較して相
当に遅い。一方、ECLデバイスなとの高速電子デバイ
スの検査においては、モードを高速に切り替える必要が
ある。
バイスなどの高速電子デバイスの動作速度に比較して相
当に遅い。一方、ECLデバイスなとの高速電子デバイ
スの検査においては、モードを高速に切り替える必要が
ある。
そのため、ECLデバイスなどを扱う場合、リードリレ
ー108を入出力モードの切り替えと追従させて開閉さ
せることは不可能であり、リードリレー108を常時閉
じておくか開いておかざるを得す、依然として前記問題
点は解消できない。
ー108を入出力モードの切り替えと追従させて開閉さ
せることは不可能であり、リードリレー108を常時閉
じておくか開いておかざるを得す、依然として前記問題
点は解消できない。
また別の問題として、ピン接続端子106に終端用回路
が並列接続されるために、ピン接続端子106から見た
静電容量が増加し、ピン駆動電圧波形およびピン出力電
圧波形の歪みが大きいという問題があった。
が並列接続されるために、ピン接続端子106から見た
静電容量が増加し、ピン駆動電圧波形およびピン出力電
圧波形の歪みが大きいという問題があった。
[発明の目的コ
したがって、この発明の目的は、高速ECLデバイスの
入出力ピンなどについても、その駆動に支障を来すこと
なく適切に終端を行うことができるとともに、ピン接続
端子がら見た静電界11tの削減を図った電rデバイス
駆動回路を提供することにある。
入出力ピンなどについても、その駆動に支障を来すこと
なく適切に終端を行うことができるとともに、ピン接続
端子がら見た静電界11tの削減を図った電rデバイス
駆動回路を提供することにある。
[問題点を解決するためのY段]
この1−1的を達成するために、この発明によれば電子
デバイス駆動回路は、第1および第2の電圧印加端子を
イ丁し、出力モード時に第1または第2の電圧印加端子
の印加電圧に対応した電圧を出力し、また入力モード時
に第2の電圧印加端子の印加電圧に対応した電圧を出方
するドライバと、第1の電圧印加端子に接続される第1
の駆動用電源と、第2の駆動用電源および終端用電源と
第2の電圧印加端子との間に介在し、出方モード時に第
2の駆動用電源を第2の電圧印加端子に接続し、入力モ
ード時に終端用電源を第2の電圧印加端子に接続する電
子スイッチと、ドライバの出力端子と電子デバイスのピ
ンが接続されるピン接続端子との間に挿入されたインピ
ーダンス整合用および終端用の抵抗とを備えてなる構成
とされる。
デバイス駆動回路は、第1および第2の電圧印加端子を
イ丁し、出力モード時に第1または第2の電圧印加端子
の印加電圧に対応した電圧を出力し、また入力モード時
に第2の電圧印加端子の印加電圧に対応した電圧を出方
するドライバと、第1の電圧印加端子に接続される第1
の駆動用電源と、第2の駆動用電源および終端用電源と
第2の電圧印加端子との間に介在し、出方モード時に第
2の駆動用電源を第2の電圧印加端子に接続し、入力モ
ード時に終端用電源を第2の電圧印加端子に接続する電
子スイッチと、ドライバの出力端子と電子デバイスのピ
ンが接続されるピン接続端子との間に挿入されたインピ
ーダンス整合用および終端用の抵抗とを備えてなる構成
とされる。
[作用コ
出力モード時には駆動用電源によって電圧印加端子に印
加された電圧に対応した駆動電圧がピン接続端子に供給
され、終端用電源は切り離されるため、終端用電源に影
響されない駆動重用を電子デバイスのピンに印加するこ
とができる。
加された電圧に対応した駆動電圧がピン接続端子に供給
され、終端用電源は切り離されるため、終端用電源に影
響されない駆動重用を電子デバイスのピンに印加するこ
とができる。
入力モード時には、終端用電源が実質的にドライバの出
力に接続されることになるから、電子デバイスのピンを
終端することができる。
力に接続されることになるから、電子デバイスのピンを
終端することができる。
終端用電源の接続、切り離しは電子スイッチおよびドラ
イバの内部回路によってなされるが、電子スイッチは十
分高速のものを容易に得られ、またドライバの内部回路
自体は本質的に十分高速動作が可能なものであるから、
終端用電源の接続、切り離しを高速に行うことが可能で
ある。
イバの内部回路によってなされるが、電子スイッチは十
分高速のものを容易に得られ、またドライバの内部回路
自体は本質的に十分高速動作が可能なものであるから、
終端用電源の接続、切り離しを高速に行うことが可能で
ある。
したがって、この発明によれば、ECLデバイスのよう
な高速の電子デバイスの人出力ピンについても、出力モ
ード時のピン駆動に支障を来すことなく、入力モード時
に終端することができる。
な高速の電子デバイスの人出力ピンについても、出力モ
ード時のピン駆動に支障を来すことなく、入力モード時
に終端することができる。
また、終端用電源、終端用抵抗およびリードリレーなど
からなる終端用回路がピン接続端子に並列接続される構
成ではないため、ピン接続端子から見た静電界I11が
従来より絨少し、ピン駆動電圧波形およびピン出力化−
ノ波形の企みが減る。
からなる終端用回路がピン接続端子に並列接続される構
成ではないため、ピン接続端子から見た静電界I11が
従来より絨少し、ピン駆動電圧波形およびピン出力化−
ノ波形の企みが減る。
[実施例]
以ド、図面をt +l(I L 、この発明の一実施例
について説明する。
について説明する。
第1図は、この発明による電子デバイス駆動回路の一実
施例を示す回路図である。なお、ここでは、電子デバイ
ス検査システムに用いられた電子デバイス駆動回路とし
て説明する。
施例を示す回路図である。なお、ここでは、電子デバイ
ス検査システムに用いられた電子デバイス駆動回路とし
て説明する。
第1図において、10はドライバであり、電子スイッチ
としてのダイオード・ブリッジ12,14、その制御の
ためのPNP型バイポーラトランジスタ16.18およ
びNPN型バイポーラトランジスタ20,22、定電流
源24.26からなる。ダイオード・ブリッジ12.1
4の−・対のノードは図示のようにバイポーラI・ラン
ジスタ16〜22を介して定電流源24.28にそれぞ
れ接続されている。
としてのダイオード・ブリッジ12,14、その制御の
ためのPNP型バイポーラトランジスタ16.18およ
びNPN型バイポーラトランジスタ20,22、定電流
源24.26からなる。ダイオード・ブリッジ12.1
4の−・対のノードは図示のようにバイポーラI・ラン
ジスタ16〜22を介して定電流源24.28にそれぞ
れ接続されている。
28と29は駆動用電源であり、30は終端用電源であ
る。一方の駆動用電源29は、ドライバlOの第1の電
圧印加端子T1.(ダイオード・ブリッジ12の一つの
ノード)に直接接続されている。
る。一方の駆動用電源29は、ドライバlOの第1の電
圧印加端子T1.(ダイオード・ブリッジ12の一つの
ノード)に直接接続されている。
他方の駆動用電源28と終端用電源30は、電子スイッ
チ31を介してドライバ10の第2の電圧印加端子T2
(ダイオード・ブリッジ14の一つのノード)に、モー
ドに応じて選択的に接続される。この電子スイッチ31
は高速動作の可能なもので、ここでは電界効果トランジ
スタ31A。
チ31を介してドライバ10の第2の電圧印加端子T2
(ダイオード・ブリッジ14の一つのノード)に、モー
ドに応じて選択的に接続される。この電子スイッチ31
は高速動作の可能なもので、ここでは電界効果トランジ
スタ31A。
31Bから構成されている。
PH,PH*、PL、PL*は当該電子デバイス駆動回
路に供給される駆動制御信号の一部信号であり、図示の
ようにバイポーラトランジスタ16〜22の対応するも
ののベースにそれぞれ印加される。これらの信号によっ
て、出力モード時にバイポーラトランジスタ18.20
またはバイポーラトランジスタ18.22がオンせしめ
られ、入力モード時にバイポーラトランジスタ18,2
2がオンせしめられる。
路に供給される駆動制御信号の一部信号であり、図示の
ようにバイポーラトランジスタ16〜22の対応するも
ののベースにそれぞれ印加される。これらの信号によっ
て、出力モード時にバイポーラトランジスタ18.20
またはバイポーラトランジスタ18.22がオンせしめ
られ、入力モード時にバイポーラトランジスタ18,2
2がオンせしめられる。
IloとIlo木も駆動制御信号の一部信号である。こ
の信号によって、出力モード時には電界効果トランジス
タ31Bがオンせしめられ、駆動用電源28が選択され
て電ハ印加端f’T2に接続される。大力モー1!時に
は電界効果トランジスタ31Aがオンせしめられ、終端
用電源30が選択されて電圧印加端子T2に接続される
。
の信号によって、出力モード時には電界効果トランジス
タ31Bがオンせしめられ、駆動用電源28が選択され
て電ハ印加端f’T2に接続される。大力モー1!時に
は電界効果トランジスタ31Aがオンせしめられ、終端
用電源30が選択されて電圧印加端子T2に接続される
。
ドライバlOの出力端子T3(ダイオード・ブリッジ1
2および14の相II:に結合されたノード)は、イン
ピーダンス整合用および終端用の抵抗(例えば50Ω)
32と信り伝送路34(例えば特性インピーダンスが5
0Ωのマイクロストリップ線路)を介してピン接続端子
36に接続されている。
2および14の相II:に結合されたノード)は、イン
ピーダンス整合用および終端用の抵抗(例えば50Ω)
32と信り伝送路34(例えば特性インピーダンスが5
0Ωのマイクロストリップ線路)を介してピン接続端子
36に接続されている。
次に、この電r・デバイス駆動回路の動作を説明する。
まず出力モード(駆動モード)時について説明すれば、
相補信シJ・であるPH(7号およびPH*信号、また
はPL信ぢおよびPL*信号が同時にオンする。
相補信シJ・であるPH(7号およびPH*信号、また
はPL信ぢおよびPL*信号が同時にオンする。
例えば、PH信号およびPH*信号がオンしたlO−
とすると、バイポーラトランジスタ18.22が同時に
オン状態となって定電流源24.26によりダイオード
拳ブリッジ14の各ダイオードが順方向にバイアスされ
る。したがって、電源印加端−J’ T 2がダイオー
ド・ブリッジ14を介して出力端子T3に接続される。
オン状態となって定電流源24.26によりダイオード
拳ブリッジ14の各ダイオードが順方向にバイアスされ
る。したがって、電源印加端−J’ T 2がダイオー
ド・ブリッジ14を介して出力端子T3に接続される。
この出力モード時には、I10信号によって電界効果ト
ランジスタ31Bがオンせしめられ、電圧印加端子T2
には電子スイッチ31によって駆動用電源28が接続さ
れているから、その出力電圧に対応した電圧が出力端’
j’T3に現れ、この電圧はピン駆動電圧としてピン接
続端子36に接続されている電子デバイスのピンに印加
される。
ランジスタ31Bがオンせしめられ、電圧印加端子T2
には電子スイッチ31によって駆動用電源28が接続さ
れているから、その出力電圧に対応した電圧が出力端’
j’T3に現れ、この電圧はピン駆動電圧としてピン接
続端子36に接続されている電子デバイスのピンに印加
される。
PL信号およびPL*信号がオンした場合は、バイポー
ラトランジスタ16.20がオンしてダイオード・ブリ
ッジ12の各ダイオードが順バイアスされ、電源印加端
子Tlの印加電圧、つまり駆動用電源29の出力電圧に
対応した駆動電圧が出力端YT3に出力され、この駆動
電圧がピン接続端子36に接続された電子デバイスピン
に印加される。
ラトランジスタ16.20がオンしてダイオード・ブリ
ッジ12の各ダイオードが順バイアスされ、電源印加端
子Tlの印加電圧、つまり駆動用電源29の出力電圧に
対応した駆動電圧が出力端YT3に出力され、この駆動
電圧がピン接続端子36に接続された電子デバイスピン
に印加される。
このように出力モード峙には、終端用電源30はドライ
バ10の出力からQ】り離されるから、終端用電源を常
1Ril&続した場合のような悪影響がピン駆動電J1
に及ばない。
バ10の出力からQ】り離されるから、終端用電源を常
1Ril&続した場合のような悪影響がピン駆動電J1
に及ばない。
入力モード時にはpH(、i弓とPH*信号がオンする
ため、ダイオード・ブリッジ14を介して電圧印加端子
−T2が出力端J’T3に接続される。また、I10*
信りによって電界効果トランジスタ31Aがオンせしめ
られ、終端用電源30が電圧印加端子T2に接続される
。したがって、ドライバ10の出力端子T3に終端用電
源30の出力電圧に対応した電1Fが出力され、ピン接
続端子36に接続された電子デバイスのピンは終端され
る。
ため、ダイオード・ブリッジ14を介して電圧印加端子
−T2が出力端J’T3に接続される。また、I10*
信りによって電界効果トランジスタ31Aがオンせしめ
られ、終端用電源30が電圧印加端子T2に接続される
。したがって、ドライバ10の出力端子T3に終端用電
源30の出力電圧に対応した電1Fが出力され、ピン接
続端子36に接続された電子デバイスのピンは終端され
る。
このようにして、そのピンの出力信号はコンパレータな
どによってチェックされることになる。
どによってチェックされることになる。
ECLデバイスのような高速型rデバイスを検査する場
合、前述のようなモードの切り替えが高速に行われる。
合、前述のようなモードの切り替えが高速に行われる。
従来は、そのような高速のモード切換と同期させて、終
端用回路の接続切断を行うことができなかったが、当該
電子デバイス駆動回路によれば、それが可能である。し
たがって、ECLデバイスのような高速電子デバイスの
人出力ピンについても、必姿な終端を行い、かつ正常な
駆動電圧波形を印加して駆動することができる。
端用回路の接続切断を行うことができなかったが、当該
電子デバイス駆動回路によれば、それが可能である。し
たがって、ECLデバイスのような高速電子デバイスの
人出力ピンについても、必姿な終端を行い、かつ正常な
駆動電圧波形を印加して駆動することができる。
また、ピン接続端子36に終端用回路が並列に接続され
ないため、ピン接続端子36から見た静電8晴が減少し
、その分だけ駆動電圧波形およびピン出力信号、波形の
なまりなどが減り、検査精度が向」−する。
ないため、ピン接続端子36から見た静電8晴が減少し
、その分だけ駆動電圧波形およびピン出力信号、波形の
なまりなどが減り、検査精度が向」−する。
以上、一実施例について説明したが、この発明はそれだ
けに限定されるものではなく、適宜変形して実施し得る
ものである。
けに限定されるものではなく、適宜変形して実施し得る
ものである。
また、この発明は電子デバイス検査システム以外の用途
に用いられる電子デバイス駆動回路にも同様に適用でき
ることは当然である。
に用いられる電子デバイス駆動回路にも同様に適用でき
ることは当然である。
[発明の効果]
以−1−詳細に説明したように、この発明によれば電子
デバイス駆動回路は、第1および第2の電圧印加端子を
何し、出力モード時に第1または第2の電圧印加端子の
印加電圧に対応した電圧を出力し、また入力モー12時
に第2の電圧印加端子の印加電圧に対応した電月を11
1力するドライバと、第1の電ロー印加端子に接続され
る第1の駆動用電源と、第2の駆動用電源および終端用
電源と第2の電圧印加端子との間に介在し、出力モード
時に第2の駆動用電源を第2の化11..印加端Iに接
続し、入力モード時に終端用電源を第2の電圧印加端子
に接続する電子スイッチと、ドライバの出力と電子デバ
イスのピンが接続されるピン接続端子との間に挿入され
たインピーダンス整合用および終端用の抵抗とを備えた
構成とされるため、モードの高速切換の必要なECLデ
バイスなどの電子デバイスの入出力ピンについて、必要
な終端を行い、かつ終端による影響のない正常な駆動電
圧を印加して駆動することができ、またピン接続端子か
ら見た静電8眼を従来より減らしてピン駆動電圧波形お
よびピン出力信号波形を改りできるなど、従来の問題点
を悉く解消した電子デバイス駆動回路を実現できるもの
である。
デバイス駆動回路は、第1および第2の電圧印加端子を
何し、出力モード時に第1または第2の電圧印加端子の
印加電圧に対応した電圧を出力し、また入力モー12時
に第2の電圧印加端子の印加電圧に対応した電月を11
1力するドライバと、第1の電ロー印加端子に接続され
る第1の駆動用電源と、第2の駆動用電源および終端用
電源と第2の電圧印加端子との間に介在し、出力モード
時に第2の駆動用電源を第2の化11..印加端Iに接
続し、入力モード時に終端用電源を第2の電圧印加端子
に接続する電子スイッチと、ドライバの出力と電子デバ
イスのピンが接続されるピン接続端子との間に挿入され
たインピーダンス整合用および終端用の抵抗とを備えた
構成とされるため、モードの高速切換の必要なECLデ
バイスなどの電子デバイスの入出力ピンについて、必要
な終端を行い、かつ終端による影響のない正常な駆動電
圧を印加して駆動することができ、またピン接続端子か
ら見た静電8眼を従来より減らしてピン駆動電圧波形お
よびピン出力信号波形を改りできるなど、従来の問題点
を悉く解消した電子デバイス駆動回路を実現できるもの
である。
第1図はこの発明による電子デバイス駆動回路の一実施
例を示す回路図、第2図は従来の電子デバイス駆動回路
を4(す概略回路図である。 10・・・ドライバ、12.14・・・ダイオード・ブ
リッジ、24.26・・・定電流源、28.29・・・
駆動用電源、30・・・終端用電源、31・・・電子ス
イッチ、32・・・インピーダンス整合用および終端用
抵抗、34・・・信号伝送路、36・・・ピン接続端子
。
例を示す回路図、第2図は従来の電子デバイス駆動回路
を4(す概略回路図である。 10・・・ドライバ、12.14・・・ダイオード・ブ
リッジ、24.26・・・定電流源、28.29・・・
駆動用電源、30・・・終端用電源、31・・・電子ス
イッチ、32・・・インピーダンス整合用および終端用
抵抗、34・・・信号伝送路、36・・・ピン接続端子
。
Claims (2)
- (1)終端の必要なピンを有する電子デバイスの駆動回
路であって、第1および第2の電圧印加端子を有し、出
力モード時に前記第1または第2の電圧印加端子の印加
電圧に対応した電圧を出力し、また入力モード時に前記
第2の電圧印加端子の印加電圧に対応した電圧を出力す
るドライバと、前記第1の電圧印加端子に接続される第
1の駆動用電源と、第2の駆動用電源および終端用電源
と前記第2の電圧印加端子との間に介在し、出力モード
時に前記第2の駆動用電源を前記第2の電圧印加端子に
接続し、入力モード時に前記終端用電源を前記第2の電
圧印加端子に接続する電子スイッチと、前記ドライバの
出力端にと電子デバイスのピンが接続されるピン接続端
子との間に挿入されたインピーダンス整合用および終端
用の抵抗とを備えてなることを特徴とする電子デバイス
駆動回路。 - (2)ドライバは、その出力端子と第1および第2の電
圧印加端子との間を電子スイッチによって選択的に接続
するようにしてなることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の電子デバイス駆動回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60256263A JPS62116273A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子デバイス駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60256263A JPS62116273A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子デバイス駆動回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62116273A true JPS62116273A (ja) | 1987-05-27 |
Family
ID=17290212
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60256263A Pending JPS62116273A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子デバイス駆動回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62116273A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003076958A1 (fr) * | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Advantest Corporation | Dispositif testeur a semi-conducteur |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP60256263A patent/JPS62116273A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003076958A1 (fr) * | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Advantest Corporation | Dispositif testeur a semi-conducteur |
US7193425B2 (en) | 2002-03-08 | 2007-03-20 | Advantest Corporation | Semiconductor test device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5103169A (en) | Relayless interconnections in high performance signal paths | |
EP0364925A1 (en) | Semiconductor integrated circuit having i/o terminals allowing independent connection test | |
JP4923048B2 (ja) | ピンエレクトロニクスドライバ | |
JPH0573290B2 (ja) | ||
US5463326A (en) | Output drivers in high frequency circuits | |
EP0961206A2 (en) | High voltage tolerant and compliant driver circuit | |
JPH0560840A (ja) | インサーキツトテスト装置用ピンドライバ | |
JPH02222216A (ja) | BiCMOSドライバ回路 | |
US6483758B1 (en) | Integrated circuit test systems that use direct current signals and impedance elements to improve test signal transmission speed and reduce test signal distortion | |
US4425517A (en) | Fail soft tri-state logic circuit | |
JPWO2004066499A1 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS62116273A (ja) | 電子デバイス駆動回路 | |
US5945822A (en) | Programmable load circuit | |
JPH0756502B2 (ja) | 電子デバイス駆動回路 | |
JPH05304212A (ja) | 半導体集積回路装置及びその動作機能試験方法 | |
JPH0568103B2 (ja) | ||
JPH1082837A (ja) | Lsi試験装置 | |
JP2000124783A (ja) | 半導体高周波切替回路 | |
US5475334A (en) | Output driver circuit with free-switchable output | |
US20040027165A1 (en) | Driver circuit | |
JPS5970316A (ja) | バツフア回路 | |
JP3207639B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS63131081A (ja) | 電子デバイス駆動回路 | |
JP3173207B2 (ja) | ゲーム装置用中継制御装置 | |
JPH0422313Y2 (ja) |