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JPS62110612A - 薄膜磁気ヘツド - Google Patents

薄膜磁気ヘツド

Info

Publication number
JPS62110612A
JPS62110612A JP25141685A JP25141685A JPS62110612A JP S62110612 A JPS62110612 A JP S62110612A JP 25141685 A JP25141685 A JP 25141685A JP 25141685 A JP25141685 A JP 25141685A JP S62110612 A JPS62110612 A JP S62110612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
thin film
layer
insulating layer
tip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25141685A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahisa Aoi
青井 孝久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP25141685A priority Critical patent/JPS62110612A/ja
Publication of JPS62110612A publication Critical patent/JPS62110612A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3109Details
    • G11B5/313Disposition of layers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は磁気記録媒体として、磁気テープ、磁気ディス
クを使用した磁気記録再生装置において、高記録密度化
、高信頼性化に対応した薄膜磁気ヘッドに関するもので
ある。
従来の技術 最近磁気記録再生装置において、記録線密度及びトラッ
ク密度の著しい向上に伴ない記録再生ヘッドに薄膜磁気
ヘッドが広く使用されつつある。
特に従来のコンパクトカセットテープレコーダの高音質
、高品質化を目的として、或いはコンピュータ用磁気テ
ープ装置、磁気ディスク装置での高信頼性を維持しつつ
大記憶容量化をめざして、従来のバルクヘッドに代わっ
て薄膜磁気ヘッドによるディジタル記録・再生が進んで
いる。薄膜磁気ヘッドは従来のバルクヘッドに比べて記
録時では記録磁界分布が急峻であること、再生時におい
ては再生出力波形のピークシフトが小さいこと、またマ
ルチトラック化が容易なことなど優れた利点を数多く有
している。一方薄膜磁気ヘッドの製造に関しては半導体
IC製造技術を駆使して、薄膜微細加工法にも著しい進
展が見られ、狭トラック化、狭磁気ギャップ化、マルチ
トラック化など高密度磁気記録の社会的要請に応えられ
るようになってきている。
薄膜磁気ヘッドの構造に関しては数多くのものが提案さ
れている。最も代表的な従来の構造例として2層マルチ
ターンコイル構造の薄膜磁気ヘッドを第4図に示す。以
下、図面を参照しながら従来の薄膜磁気ヘッドについて
説明を行なう。
第4図は従来の薄膜磁気ヘッドの断面図である。
第4図において、1はMn−Zn単結晶フェライトなど
の高透磁性を有する強磁性基板、2は強磁性基板1上に
スパッタ法、プラズマC”/D法などによって形成され
たSiO□Si3N4などの第1の絶縁層である。第1
の絶縁層2上には第1の薄膜コイル3を有し、第4図で
は4ターンを構成している。薄膜コイル3は銅7アルミ
ニウム、金などがら成膜、スパッタ法、蒸着法、電気メ
ツキ法などで成膜された後、フオI−IJングラフィ技
術によって所望の形状にパターニングされる。4は第1
の薄膜コイル3を絶縁するための第2の絶縁層である。
第2の絶縁層4は第1の絶縁層2と同一の材料を用いて
所望の形状にパターニングするか又は耐熱性ホトレジス
トを用いることもでき、この場合パターニング後熱硬化
してコイル絶縁材とするものである。第2の絶縁層4の
表面は適切な手法によって平坦化された後、第2層目の
第2の薄膜コイル5が形成される。第1層目の第1の薄
膜コイル3と上記第2の薄膜コイル6は結合導体6で連
結され、その結果薄膜コイル構成としては、バックギャ
ップ部を形成するスルーホール8部を中心として渦巻き
状に巻回される。第2の薄膜コイル6は第1の薄膜コイ
ル3と同一材質、同一プロセスにて形成される。アは第
2の薄膜コイル5を絶縁する。第3の絶縁層で、第2の
絶縁層4と同一材質、同一プロセスで形成され、かつ表
面が平坦化される。前述したスルーホール8は各絶縁層
のパターニング段階で形成していく手法では寸法精度、
工程数などに問題がある。そこで第1の絶縁層2のパタ
ーニング工程時と、第3の絶縁層7が成膜されかつ平坦
化された時点で、第2.第3の絶縁層4,7を一括して
所望の形状にパターニングする工程で完成する方法が好
ましい。スルーホール8には磁気ボール10の形成に先
立ってバック磁気ボール9が形成され、強磁性基板1と
連結している。10は磁気ボールで高透磁率を有すルパ
ーマロイ、センダスト或いはアモルファス合金から成る
軟磁性薄膜である。製法としてはスパッタ法、電子ビー
ム蒸着法、電気メツキ法などが使われる。ホトリソグラ
フィ技術によってパターニングされる。11は磁気ボー
ル1oを保護する保護層で、SxO) 3102  +
 Aj?203などの絶縁膜を蒸着法やスパッタ法を用
いて積層される。その後接着材12を介してセラミック
、ガラス材などから成るバルク状の保護基板13が接着
され、磁気記録媒体16との安定走行と磁気ギャップデ
プス作成を目的としてヘッド先端加工と鏡面研摩される
以上のように構成された薄膜磁気ヘッドについて動作説
明する。薄膜磁気ヘッドとしての磁気ギャップ14は第
1の絶縁層2の膜厚で形成される。
記録動作時では、薄膜コイル3.5に記録電流が印加さ
れ、磁気ポール10→磁気ギヤツプ14→磁気記録媒体
15→強磁性基板1→バックギャップ磁気ポール、9→
磁気ポール1oの経路を流れる誘導磁束が発生し、磁気
記録媒体16に信号が記録される。再生動作時において
は、情報が記録された磁気記録媒体16からの信号磁束
が前記の磁気回路内を流れ、薄膜コイル3,6と鎖交す
ることにより薄膜コイル3,6の両端子間に再生出力を
得る。
また薄膜磁気ヘッドとして別の構造を有するものが特開
昭60−119613号公報で提案されている。その断
面図を第5図に示す。
以下第6図を参照にしながら最近の薄膜磁気ヘッドにつ
いて説明する。第5図においてアルミナなどから成る非
磁性基板20上にスパッタリング法で付着されたセンダ
スト膜が下部磁性層21として構成される。この下部磁
性層21上のヘッド先端側は磁気ギャップ長に相当する
膜厚で成る5102 などのギャップ層22を挾んで先
端磁気ポールピース23及びバックギャップ部にはバッ
ク磁気ポールピース24がパターニング形成される。さ
らに上記先端磁気ポールピース23とパ・ツク磁気ポー
ルピース24の間で、かつ下部磁性層21上には第1の
絶縁層26を介して薄膜コイル26とコイル絶縁層27
が充填される。この時点でコイル絶縁層27、先端磁気
ポールピース23、バック磁気ポールピース24のそれ
ぞれの上面が同一平面内にある様に調整される。この平
坦化された平面上に先端磁気ポールピース23、バック
磁気ポールピース24を連結するスパッタリング法で付
着されるパーマロイ膜で成る上部磁性層28が形成され
る。この後5i02膜などから成る保護層29が形成さ
れ、非磁性保護基板31が接着剤3oによって接合され
る。
動作に関しては第4図に示した構成のものと同じである
が、第6図に示す構成での磁気回路は先端磁気ポールピ
ース23、上部磁性層28、バック磁気ポールピース2
4、下部磁性層21で形成されている。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記の様な構造では次の如き理由でいくつ
かの問題点を有していた。
(1)第4図に示されるヘッド構成上、薄膜コイル3.
5及びコイル絶縁膜(第4図においては第2、第3の絶
縁層4,7)のそれぞれの膜厚が2μm程度必要とされ
る。この結果磁気ボール10に大きな段差部a、b又は
凹部Cを生じる。
スパッタ法等によって成膜される磁気ポールでは、段差
部a、b部の膜厚が他の平坦部に比べて薄くなり、磁束
の流れる断面積が小さくなり、磁気飽和を発生しやすい
。また第4図の如く2層薄膜コイル構造の様にコイルの
多層化が進むにつれて段差部a、bの段差値が大きくな
る。
これは段差部における磁気ポール1oの透磁率に大きな
劣化を招く。以上の現象は薄膜磁気ヘッドにおける記録
効率、再生効率低下の主要原因となっている。
磁気飽和を防ぐためには磁気ポール10の段差部の磁性
膜を厚く成膜することであるが、厚くなる程、下地材料
との熱膨張係数の相異、長時間スパッタなどの原因で磁
気ポール10又は基板の亀裂、はく離などの弊害が生じ
る。この問題解決の一手法、す−なわち磁性膜の段差を
除去する構造として第6図に示されるものが提案された
。しかし次項で述べる問題点が第4図。
第6図に示される従来の構造には依然として残される。
(2)磁気ポール10又は上部磁性層28上の保護層1
1.29の表面が平坦化された状態においても、磁気記
録媒体と摺動するヘッド先端部に露出する保護層11又
は29や接着層3oの膜厚が最小でも磁気ポール10の
段差量又は上部磁性層28の厚み段差だけ出現する。こ
の結果ヘッド先端部に露出する異質薄膜材料が交互に出
現する。第4図の場合では5i02などから成る第1の
絶縁層2と保護層11と磁気ポール1゜となり、第6図
の場合ではセンダスト膜の上。
下部磁性層21・23とSiO□膜保護層29及び接着
剤3o等であり磁気記録媒体との接触摺動に伴なうヘッ
ド先端部の偏摩耗が生じ易くなる。この偏摩耗量は磁気
ポール1o及び保護層11又は29さらには接着層30
の膜厚が増えるにつれて増大するものである。特に第4
図の構造では薄膜コイルの積層数が増えるにつれて段差
量は大きくなり、当然磁気ポール1o上の保護層11に
要求される膜厚は厚くしなければならない。一般に第4
図、第5図の保護層11゜29はSiO□ 、ムl!2
03  などの材料で構成されるが、強磁性基板1、非
磁性基板2oや磁気回路を構成する磁性薄膜との熱膨張
係数の大きな相異から、保護層の成膜中又は成膜後に生
じる基板の亀裂、ひび割れや下地薄膜層のはく離など保
護層11.29に起因する製造中のトラブルが多発する
(3)第5図の構造においては、センダスト膜にて先端
磁気ポールピース23、バック磁気ポールピース24が
薄膜コイル26の形成に先立って構成される。このため
薄膜コイル26導体が凹部に成膜される結果、コイルパ
ターン出し精度に限界が生じ、微細なコイルパターニン
グがむずかしい。さらに先端磁気ポールピース23と上
部磁性層28が一部重なるような形で両者が連結されて
いる。これは記録再生感度向上のための手段としてギャ
ップデプスを短かくするとき、重複部の長さ及び面積を
減少せしめる必要が生じ、磁気飽和の大きな原因となる
本発明は上記問題点に鑑み、薄膜磁気ヘッドの記録・再
生効率の向上を図る中で、特に高密度ディジタル記録再
生可能な高保磁力を有する磁気記録媒体の適用を可能と
し、さらに偏摩耗特性の改善と製造工程の簡易化、生産
歩留りの向上を図ることのできる薄膜磁気ヘッドを提供
するものである。
問題点を解決するための手段 上記目的を達成するための本発明の薄膜磁気ヘッドは磁
性薄膜の段差と段差のために生じる厚膜の保護層を除去
することである。薄膜コイル絶縁層のパターニング後、
強磁性基板上に発生するコイル絶縁層の段差又は凹部に
上記強磁性基板と接合する形で高透磁率磁性膜を充填し
、その上表面が薄膜コイルの最上位絶縁層の上表面と同
一平面となるよう最適な製造プロセスに従って調整加工
する。この平坦化された面上に所定の寸法で磁気ギャッ
プ層を形成する。この後上部磁性体として高透磁率のバ
ルク状強磁性基板或いは磁性膜で実現し、ヘッド先端に
露出する構成とする。
作用 単層又は多層から成る薄膜コイルの絶縁層の最上位置面
が形成された後、コイル絶縁層は一括でパターンエツチ
ングされる。この時コイル絶縁層には段差又は凹部が発
生している。この段差又は凹部に高透磁率磁性膜を充填
し、強磁性基板に接合された先端磁気ポールとバック磁
気ポールを形成する。先端磁気ポールとバック磁気ポー
ルの上表面はコイル絶縁層の最上位面と同一平面となる
よう平坦加工されており、この時点で磁性膜の段差は取
り除かれる。上記同一平面上に磁気ギャップ長相当の絶
縁層を付着後、高透磁率強磁性基板又は磁性膜から成る
上部磁性体で、先端磁気ポールとバック磁気ポールとが
磁気的に連結され、磁気ヘッドとしての磁路が完成され
る。上部磁性体には平坦な磁気ギャップ層をはさんでバ
ルク状の強磁性基板又は平坦な磁性膜で構成されること
から、磁束伝搬経路内に段差が生じず、さらにヘッド先
端に露出する厚膜の保護層と厚膜接着層が不要となる。
実施例 以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。第1図は本発明の一実施例の2層4ターンコイル
構造の薄膜磁気ヘッドの断面図を示している。
第1図において、40は高透磁率を有するMn −Zn
単結晶フェライト、Ni−Znフェライト等から成る強
磁性基板であり、その表面は鏡面研摩されている。強磁
性基板4o上には、SiO□、S工、N4゜人1203
  の池に耐熱性ホトレジストなどの有機材料から成る
第1の絶縁層41が付着される。薄膜形成手段としては
高周波スパッタ法、プラズマCVD法などが一般的であ
る。42は第1層目となる第1の薄膜コイルで第1図の
例では4ターン巻きであり、(u heなどの導電性金
属体がスパッタ法、蒸着法、電気メツキ法等で成膜され
た後、エツチング手法によりコイル形状にパターニング
される。薄膜コイル42上には薄膜コイルの絶縁を目的
とした第2の絶縁層43が付けられる。この第2の絶縁
層43は第1の絶縁層41と同一材料、製法で形成され
た後、表面は平坦化される。
46は第2層目の第2の薄膜コイルで、第1の薄膜コイ
ル42とは第2の絶縁層43に形成されたスルーホール
44で連結している。第2の薄膜コイル46上には第1
.第2の絶縁層41.43と同一の製法で第3の絶縁層
46が形成される。この第3の絶縁層46も第2の絶縁
層43と同様に適切な手段で平坦化が施される。この後
磁気ヘッドの磁路形成のため、上記第1.第2.第3の
絶縁層41,43.46が所定の形状に一括エッチング
される。エツチング手法としてはイオンビームエツチン
グ、リアクティブプラズマエツチングなどのドライ方式
やフッ酸によるウエットエッチング方式などが採られる
。この時点で強磁性基板上にコイル絶縁層の段差による
凹部47,48を発生する。エツチング段差は第1図に
示す如くhである。この後センダスト、アモルファス合
金などの高透磁率を有する強磁性膜をスパッタ法などで
凹部47.48を充填する如く段差り以上の膜厚で付着
する。この強磁性膜は適切な手段(第3図を使って後述
する)を用いて薄膜コイルの最上位絶縁層(第1図の場
合、第3の絶縁層46)の上表面と同一平面となるよう
に平坦加工される。
この加工により強磁性膜は先端磁気ポール49とバック
磁気ポール6oが完成される。強磁性基板4oからの高
さhで調整加工された先端磁気ポール49、バック磁気
ポール6o、及び第3の絶縁層46上に、先端磁気ギャ
ップ61を形成するだめの5in2. Si3N4. 
AI!203などから成るギャップ層52が付着される
。最後にMn−Zn単結晶フェライト、Ni −Zn 
フェライトなどのバルク状の高透磁率保護基板63が上
部磁性体として配置される。接着方法は保護基板63に
スペーサとして予め付着された比較的高い融点をもつガ
ラス膜や5in2膜(図示せず)などを溶融接着するこ
とで実現できるが、この場合ギャップ長はギャップ層5
2の厚さと保護基板53上の接着層の厚さの和となる。
第2図は第2の実施例で上部磁性体が薄膜磁性層で構成
される薄膜磁気ヘッド断面図を示す。第1図と同一部材
には同一番号を付しである。第2図においてギャップ層
62上には上部磁性層54が形成される。上部磁性層6
4はセンダスト・アモルファス合金などの高透磁率磁性
膜で実現され、所定の形状にパターニング後、少なくと
もその表面をカバーするだけの薄い保護層55が被覆さ
れる。最後に非磁性保護基板57が接着剤66によって
配置される。接着法としてはガラスボンディング法、有
機樹脂接着法などの他に@1図において述べた方法と同
様、非磁性保護基板57に予め付着されたガラス膜、S
iO2膜を溶融接着することもできる。
第3図人〜Eは上述した第1図、第2図における実施例
の中で、第1.第2.第3の絶縁層41゜43.46が
一括パターンエツチングによって段差りの凹部4γ、4
8が形成された以後の主要な製造プロセスについて示し
たものである。第1図及び第2図と同一部材には同一番
号を付している。
第3図Aiセンダスト、アモルファス合金など高透磁率
磁性膜58が厚さh’(h′〉h )で付着される。こ
の磁性膜58の表面は下地の形状を反映して段差が生じ
ており、ホトレジスト59をコーティングして、その表
面を平坦にする。平坦化された後イオンビーム60照射
によりエツチングを行なう。イオンビーム60の入射角
度θはホトレジスト59と磁性膜59のエツチング速度
が等しくなる様に調節される。エツチング深度は所定の
深さく点線ライン)まで実施される。同図Bは強磁性基
板4oからの高さhで平坦化加工を完了した時点で先端
磁気ポール49とバック磁気ポール60が形成される。
同図Cでは磁気ギャップ長を考慮した膜厚のS10□な
どから成るギャップ層52が付着される。Dは第1図に
対応した構成のものでバルク状の高透磁率強磁性基板6
3が上部磁性体として配置された時点を示し、Zは第2
図に対応したもので、上部磁性体として薄膜の上部磁性
層54が付着され、パターニング後薄い保護層65が形
成されたところを示している。
以上のように構成された薄膜磁気ヘッドについて以下そ
の動作について説明する。
本発明の特徴は高透磁率磁性膜で構成される磁束伝搬経
路に急激な磁路段差を除去して磁気効率を高めると同時
に、薄膜部材が平坦化積層される結果、ヘッド先端に露
出する薄膜複合層に起因する偏摩耗特性を向上すること
にある。第1図、第2図に従って詳しく説明する。
第2の薄膜コイル45上の第3の絶縁層46が平坦に形
成された後1.コイル絶縁層が一括で所望の形状にパタ
ーンエツチングされる結果、強磁性基板40上には深さ
hなる凹部が発生するが、ここに高透磁率磁性膜が充填
される。この後第3図に従ったプロセスで高透磁率性を
維持して先端磁気ボール49とバック磁気ポール50が
形成されるが、前者はヘッド機能上重要な磁気ギャップ
デプスの長さを決め、後者は強磁性基板40との間に生
じるバックギャップ磁気抵抗を低減せしめ、磁気回路効
率を上げている。ギャップ層52は所望の先端磁気ギャ
ップ長を画定し、その上に配置されるヘッド先端まで伸
びる強磁性保護基板63又は上部磁性層54は先端磁気
ポール49とバック磁気ポール6oとを連結し強磁性基
板4oを含めた閉磁路を構成するとともに、ヘッド先端
に近い先端磁気ポール49との接合部での磁気飽和を防
いでいる。本発明の構造によるとギャップデプス長を任
意に設定できる。
記録時・再生時とも磁束伝搬に供する部材は先端磁気ポ
ール49、強磁性基板40、バック磁気ポール60及び
強磁性保護基板63(第1図の場合)或いは上部磁性層
54(第2図の場合)で構成される。磁路構成部材とし
て使用される磁性膜にアモルファス合金又はセンダスト
が適している。
これらの磁性膜は高透磁率を得るためにアニール処理を
施す必要がるる。特にアモルファス合金膜は回転磁場中
アニール処理を必要とする。アニール処理のタイミング
は強磁性保護基板63が接合された(第1図に示す構造
の場合)後か第2図に示す構造では上部磁性層54上の
薄い保護膜55が形成された後か、或いは非磁性保護基
板57の接着とを兼ねて同時に行なうこともできる。
以上のように本実施例によれば、最適な製造プロセスに
従いコイル絶縁層の段差又は凹部に高透磁率磁性膜を付
着後、エツチングにより表面がコイル絶縁層の最上位面
と同一平面内にある平坦な先端磁気ポール49とバック
磁気ポール5oを形成した後、上記平面上にギャップ層
52を形成し、さらに高透磁率でヘッド先端まで伸びる
上部磁性体を配置する構成により (1)磁束伝達経路上における磁性膜の段差が除去され
、磁性膜の透磁率を劣化させることがなく、磁束伝搬効
率の高い磁気回路が実現できる。
(2)先端磁気ポール49と上部磁性体(強磁性保護基
板53又は上部磁性層54)の両者がギャップ層52を
挾んで平行に対向して先端磁気ギャップ51とギャップ
デプスを形成するため、ヘッド先端部での磁気飽和を起
こすことなくギャップデプスを任意に設定できる。特に
浅いギャップデプスとしてヘッド効率を上げるときなど
特に威力を発揮する。
(3)従来構造にみられる磁気ポール段差又は上部磁性
層の厚み段差量以上の厚みを有する保護層を介在させる
必要がなく、磁気記録媒体と摺動するヘッド先端に露出
する異種の薄膜複合層やその厚さに起因する偏摩耗特性
を大幅に低減できる。さらに高保磁力媒体(保磁力は約
10006e〜15006e)に対応した記録ヘッドで
は従来の磁気ポール段差又は上部磁性層の厚み段差は6
〜10μmにも達し、薄膜保護層の厚みは平坦化処理前
では約20μmの厚さの成膜を必要とする。この保護層
は5i02  、11203などで構成されることが多
いが、一般的に強磁性基板又は磁性膜との熱膨張係数の
大きな相異から保護層の成膜中又は成膜後に基板の亀裂
、ひび割れ、下地薄膜層のひび割れ、はく離などが多発
する。膜厚の厚い保護層を除去することは生産歩留りや
品質の向上に大いに役立つ。
(4)製造プロセス上薄膜コイルは磁性膜付着に先立っ
て形成されるため、薄膜コイルの微細パターン化が容易
である。
((へ)第1図に示した実施例の構成によると、強磁性
保護基板63自身は磁気回路の一部としても動作してお
り、従来構造にみられる非磁性体から成る保護基板を別
途使用する必要がない。さらに強磁性基板53の接着を
、ギャップ層52形成用の5in2膜で行なうことがで
き、製法が簡素化できる。
なお実施例では芝屑コイル構造のシングルトラックで説
明してきたが、単層コイル構造においても、又マルチト
ラック構造でも同様の効果があることは自明である。
発明の効果 本発明はドライエツチング手法により表面が平坦な先端
磁気ポールとバック磁気ポールを形成し、その上部にギ
ャップ層を挾んでヘッド先端まで伸びる表面が平坦な上
部磁性体を配置することにより、磁性膜の段差を除去し
、磁気飽和、透磁性劣化のない磁路を構築することがで
き、記録再生効率の向上に寄与できる。またヘッド先端
に露出する厚膜の保護層も除去できることから、異種薄
膜複合層とその総合厚みに起因する偏摩耗特性の向上、
生産性の向上、品質の安定化など数々の優れた効果を得
ることのできる薄膜磁気ヘッドを実現できるものである
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における薄膜磁気ヘッドの断
面図、第2図は本発明の池の実施例における薄膜磁気ヘ
ッドの断面図、第3図は本発明の製造プロセスの一例を
示す工程図、第4図、第5図は従来の薄膜磁気ヘッドの
断面図である。 40・・・・・・強磁性基板、41.43.46・・・
・・・第1、第2.第3の絶縁層、42 、45・・・
・・・第11第2の薄膜コイル、47 、48・川・・
凹!、49゜50・・・・・・先端磁気ポール、バック
磁気ポール、51・・・・・・先端磁気ギャップ、52
・・・・・・ギャップ層、63・・−・・・強磁性保護
基板、54・・・・・上部磁性層、55・・・・・・保
護層、56・・・・・・接着剤、57・・・・・・非磁
性保護基板、58・・・・磁性膜、59・・・・・レジ
スト、60・・・・・・イオンビーム。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名−;
み母占零千τちち汐3

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 高透磁率強磁性基板上に第1の絶縁層を形成し、上記絶
    縁層上に薄膜コイルと上記薄膜コイル絶縁層を順次積層
    し、かつ上記薄膜コイル絶縁層の最上位面と同一平面と
    なるよう上表面の高さ調整加工された上記強磁性基板上
    の先端磁気ポールとバック磁気ポールと、上記平面上に
    形成される磁気ギャップ層と、上記磁気ギャップ層を挾
    持して接合されヘッド先端まで伸びる高透磁率上部磁性
    体の順で構築される主要部材と、上記強磁性基板とで構
    成される磁気回路を有し、上記薄膜コイルは上記磁気ギ
    ャップ層で形成される先端磁気ギャップに磁界を発生し
    、かつ磁気記録媒体上の信号を読み取るように巻回され
    た構造の薄膜磁気ヘッド。
JP25141685A 1985-11-08 1985-11-08 薄膜磁気ヘツド Pending JPS62110612A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02148408A (ja) * 1988-11-29 1990-06-07 Nec Corp 薄膜磁気ヘッドとその製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58212616A (ja) * 1982-06-03 1983-12-10 Sanyo Electric Co Ltd 磁気ヘツド

Patent Citations (1)

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