JPS62108382A - Approximating system for polygonal line graphic - Google Patents
Approximating system for polygonal line graphicInfo
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- JPS62108382A JPS62108382A JP24932185A JP24932185A JPS62108382A JP S62108382 A JPS62108382 A JP S62108382A JP 24932185 A JP24932185 A JP 24932185A JP 24932185 A JP24932185 A JP 24932185A JP S62108382 A JPS62108382 A JP S62108382A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
線図形の2値画像データに対して、細線化を行った後、
該細線化画像データの端点・分岐点を抽出して、その座
標をスタックメモリに格納しておき、該スタックメモリ
から1つの連結した点列(画素列)を選び、1つの点A
を出発点として点列Bを追跡し、弦長dと弧長βとを求
め、その差Δ=l−dがある閾値(D0)より大きくな
った時、次の点Cを選択して弧Ω間で弦πとの距離が閾
値Hより越える点P′を求め、この点P゛迄を1つの折
線AP’ とみなし、以後、該点P゛を出発点として
、同じ処理を繰り返すことにより、細線化画像を折線で
近似するようにしたものである。[Detailed Description of the Invention] [Summary] After thinning the binary image data of a line figure,
Extract the end points/branch points of the thinned image data, store their coordinates in a stack memory, select one connected point sequence (pixel sequence) from the stack memory, and select one point A.
Using point C as a starting point, trace the point sequence B, find the chord length d and arc length β, and when the difference Δ=l−d becomes larger than a certain threshold (D0), select the next point C and start the arc. Find a point P' between Ω and where the distance from the chord π exceeds the threshold H, consider the area up to this point P' as one broken line AP', and repeat the same process using this point P' as the starting point. , the thinned image is approximated by broken lines.
本発明は、図形処理方式に係り、特に線図形の2値画像
データに対して、細線化手法と1点列の直線化近似手法
を用いて、高速性と、パターンの高品質性を実現する線
図形折線近似方式に関する。The present invention relates to a graphic processing method, and in particular, uses a line thinning method and a one-point sequence linearization approximation method to achieve high speed and high quality patterns for binary image data of line shapes. Concerning line figure broken line approximation method.
最近の計算機システムの高度化に伴い、地図。With the recent advancement of computer systems, maps.
設計図面を、例えば、光電読み取り装置で読み取り、画
像処理するシステムが多くなってきた。There are now many systems in which design drawings are read using, for example, a photoelectric reader and image processing is performed.
この場合、線図形を2値化したデータの侭、画像処理を
行うことは、データ量が増加すること。In this case, performing image processing on the data obtained by converting line figures into binary data increases the amount of data.
及び一般に、該2値化画像はランダムな幅を持った画像
データである為、該2値化データの中心線の画素列(点
列)を求める細線化を行うと云う、該2値化画像データ
の圧縮を行った後、該線画像を折線で近似する手法がよ
く採られる。Generally, since the binarized image is image data with a random width, the binarized image is thinned to obtain a pixel string (dot string) of the center line of the binarized data. After compressing data, a method is often adopted in which the line image is approximated by a broken line.
この線図形に対する折線近似を行う際、処理時間を短く
して、且つ正確な中心線を抽出できる効果的な折線近似
法が要求される。When performing broken line approximation for this line figure, an effective broken line approximation method that can shorten the processing time and extract an accurate center line is required.
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来の
折線近似手法の代表的なものとして、「細線化−折線近
似」法がある。[Prior Art and Problems to be Solved by the Invention] A typical example of the conventional broken line approximation method is the "thinning-broken line approximation" method.
例えば、ラマー著「平面曲線の多角形近似に対する繰り
返し処理」“コンピュータグラフィクスとイメージ処理
”1972年、第1巻、246頁〜256頁(Rame
r: rAn +nteractive Proce
dure for the Approximat
ion of Plane Curve J ”Co
mputer Graphics and Imag
e Processing” VOL l+1972+
P244〜P256 )である。For example, Ramer, "Iterative Processing for Polygonal Approximation of Planar Curves," Computer Graphics and Image Processing, 1972, Volume 1, pp. 246-256 (Rame
r: rAn +interactive Proce
dure for the approximat
ion of Plane Curve J”Co
Mputer Graphics and Imag
eProcessing” VOL l+1972+
P244 to P256).
第4図は、上記の文献で示されている従来の折線近似法
を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating the conventional broken line approximation method shown in the above-mentioned literature.
先ず、細線化画像の一部A−Bを折線近似する場合、上
記従来手法では、点列A−Bの座標を全て記録し、弦晶
に対して弧愈の最大距離となる点Pを求め、その距離h
maxを算出する。First, when a part of the thinned image A-B is approximated by a broken line, in the conventional method described above, all the coordinates of the point sequence A-B are recorded, and the point P that is the maximum distance of the arc radius with respect to the chordal crystal is found. , the distance h
Calculate max.
この距離h maxは、上記弦iを一次直線で表した時
、点P(X、Y)からの、該−次直線に対する法線を求
める手法により算出することができる。This distance h max can be calculated by a method of determining the normal line from the point P (X, Y) to the -dimensional straight line when the chord i is represented by a linear straight line.
ここで求められた距離h maxが、ある定まった値(
閾値)Hよりも小さい場合、弦晶を弧Ωの近似として採
用し、該閾値Hよりも大きい場合には弧Ωを弧Ωと弧Ω
に分割し、それぞれの弧に対して、上記と同じ処理を繰
り返す
つまり、弧r−が変曲点を多く含む場合には、A〜Bの
点列に対して、最大距離h maxを求める計算を何度
も反復しなければならない。The distance h max found here is a certain fixed value (
If it is smaller than the threshold (H), the chordal crystal is adopted as an approximation of the arc Ω, and if it is larger than the threshold H, the arc Ω is replaced by the arc Ω and the arc Ω.
, and repeat the same process as above for each arc. In other words, if arc r- includes many inflection points, calculate the maximum distance h max for the sequence of points A to B. must be repeated many times.
その度に、各点列の座標を再度記録し、同じ計算を繰り
返す必要があり、実験的には、各点列について、平均5
回の距離りを算出する必要があり、処理時間が多くかか
ると云う問題と、該折線近似したパターンに歪が多いと
云う問題があった。Each time, it is necessary to record the coordinates of each point sequence again and repeat the same calculation, and experimentally, for each point sequence, the average
There are problems in that it is necessary to calculate the distance between the lines, which takes a lot of processing time, and that there is a lot of distortion in the pattern approximated by the broken line.
本発明は上記従来の欠点に鑑み、細線化画像に対して、
余分な距離計算をしないで、歪が少な(。In view of the above-mentioned conventional drawbacks, the present invention provides a method for thinning images.
Less distortion without extra distance calculation (.
且つ処理時間の短い折線近似方式を提供することを目的
とするものである。Moreover, it is an object of the present invention to provide a polygonal line approximation method that requires short processing time.
第1図は本発明による折線近似法の概念を説明する図で
ある。FIG. 1 is a diagram explaining the concept of the broken line approximation method according to the present invention.
■ 本図の(イ)において、点Aから出発して点Bの方
向へ点列を追跡していく。■ In (A) of the figure, starting from point A, trace the point sequence in the direction of point B.
該点列を追跡する際、点列の長さと1点Aからその点迄
の直線距離を逐次計算し、距離値メモリに記憶しておく
。When tracking the point sequence, the length of the point sequence and the straight-line distance from one point A to that point are successively calculated and stored in a distance value memory.
こうして、点Cに到ったとき、該点列の長さl(= I
X 4 +、/’ix 3)1弦Mの長さd (=
5 、i) を求める。In this way, when point C is reached, the length of the point sequence is l (= I
X 4 +, /'ix 3) Length d of 1st string M (=
5, i) Find.
この黒列長lと、直線距離dとの差Δ=β−dを求め(
本例では、Δ=4−2.i)、該Δがある値D0よりも
大きくなったとき、次の処理に移る。Find the difference Δ=β−d between this black line length l and the straight line distance d (
In this example, Δ=4-2. i) When the Δ becomes larger than a certain value D0, move to the next process.
このときの点をCとする。Let the point at this time be C.
■ 弧Ω間の点に対して、弦晶との距離りを求め、始め
て閾値Hを越える点をP゛とする。この点P゛迄を1つ
の折線とみなし、■・をつくる。■ Find the distance to the chordal crystal for the points between the arcs Ω, and define the point that first exceeds the threshold H as P'. The line up to this point P' is regarded as one broken line, and ■. is created.
次に、弧pcの間で、弦7cとの距Nhが、上記の閾値
11より、始めて大きくなる点を探索する。Next, a search is made for a point between the arcs pc where the distance Nh to the chord 7c becomes greater than the threshold value 11 described above for the first time.
若し、そのような点がなければ、数点P゛を最初の点A
と同様の出発点とみなして、P゛〜C−8の点列を追跡
し、前述のβ、dを求め、Δ−1!−dを算出する。If there is no such point, move several points P゛ to the first point A.
Using the same starting point as , trace the point sequence from P゛ to C-8, find the aforementioned β and d, and find Δ-1! - Calculate d.
このとき、該P゛〜C間の点列については、上記の処理
で、既に距離計算を行っているので、再び計算し直す必
要はない。At this time, since the distance has already been calculated in the above process for the point sequence between P' and C, there is no need to calculate it again.
以上の手法によれば、折線近似の際の距離計算は、1つ
の点について、始点との直線距離lの計算と、距離りの
計算の2回で済む。According to the above method, the distance calculation during the polygonal line approximation only needs to be performed twice for one point: the calculation of the straight-line distance l from the starting point and the calculation of the distance.
以上を反復すると、本図(ロ)のようになり、得られた
点pHP21P31−が求める折線の端点となる。If the above steps are repeated, the result will be as shown in this figure (b), and the obtained point pHP21P31- will be the end point of the sought broken line.
即ち、本発明によれば、
線図形の2値画像データに対して、細線化を行った後、
該細線化画像データの端点・分岐点を抽出して、その座
標をスタックメモリに格納しておき、該スタックメモリ
から1つの連結した点列(画素列)を選び、1つの点A
を出発点として点列Bを追跡し、弦長dと弧長βとを求
め、その差Δ=β−dがある閾値(D0)より大きくな
った時、次の点Cを選択して弧Ω間で弦πとの距離が閾
値Hより越える点P″を求め、この点P°迄を1つの折
線AP’ とみなし、以後、鎖点P°を出発点として、
同じ処理を繰り返すことにより、細線化画像を折線で近
似するようにしたものであるので、距離計算を減らすこ
とができ、処理時間の短縮と、歪の少ない折線パターン
を生成することができる効果がある。That is, according to the present invention, after thinning the binary image data of a line figure,
Extract the end points/branch points of the thinned image data, store their coordinates in a stack memory, select one connected point sequence (pixel sequence) from the stack memory, and select one point A.
Using point C as a starting point, trace the point sequence B, find the chord length d and arc length β, and when the difference Δ = β − d becomes larger than a certain threshold (D0), select the next point C and start the arc. Find the point P'' between Ω and the distance from the chord π that exceeds the threshold H, and consider the line up to this point P° as one broken line AP'. From now on, using the chain point P° as the starting point,
By repeating the same process, the thinned image is approximated by a broken line, so distance calculations can be reduced, processing time can be shortened, and a broken line pattern with less distortion can be generated. be.
以下本発明の実施例を図面によって詳述する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第2図は本発明の一実施例をブロック図で示した図であ
り、端点・分岐点スタックメモリ(Ms) 9゜距離値
メモリ(M!1Md) 10.折線近似処理部(PT、
PC)7が本発明を実施するのに必要な機能ブロックで
ある。第3図はh(at)≧Hとならない場合の動作を
示す図である。尚、全図を通して、同じ符号は同じ対象
物を示している。FIG. 2 is a block diagram illustrating an embodiment of the present invention. End point/branch point stack memory (Ms) 9° distance value memory (M!1Md) 10. Broken line approximation processing unit (PT,
PC) 7 is a functional block necessary to implement the present invention. FIG. 3 is a diagram showing the operation when h(at)≧H does not hold. Note that the same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.
ステップ1:光電変換装置lで読み取った画像データを
2値化装置2で2値化データとして、画像メモリ8に格
納し、細線化処理部(PT) 3で1画素単位の画素列
とする細線化を行う。Step 1: The image data read by the photoelectric conversion device 1 is converted into binary data by the binarization device 2 and stored in the image memory 8, and the thin line is converted into a pixel column in units of 1 pixel by the thinning processing section (PT) 3. make a change.
ステップ2:上記細線化処理部(Pア)3で得られた線
画データから端点・分岐点を抽出し、その座標を端点・
分岐点スタックメモリ(Ms) 9に記憶する。Step 2: Extract end points and branch points from the line drawing data obtained by the thinning processing unit (Pa) 3, and set the coordinates of the end points and branch points.
Stored in branch point stack memory (Ms) 9.
上記、ステップ1.2で実行する細線化処理、@点・分
岐点抽出処理は、例えば、本願出願者が先願している特
願昭59−202830に開示されている「線画像折線
近似処理方式」に従って行っても良いし、その他の方法
で行っても良い。The line thinning process and @point/branch point extraction process executed in step 1.2 above are, for example, the "line image broken line approximation process" disclosed in Japanese Patent Application No. 59-202830 filed earlier by the applicant of the present application. The process may be carried out according to the ``method'' or may be carried out by other methods.
ステップ3:
fl) 上記端点・分岐点スタックメモリ(MS)
9から1つの連結した点列(画素列)を取り出し、その
1つの点を出発点として選択し、その点をaoとする。Step 3: fl) The above end point/branch point stack memory (MS)
One connected point sequence (pixel sequence) is extracted from 9, that one point is selected as a starting point, and that point is designated as ao.
(2)点a0から連結した点を追跡処理部(PTR)
5で追跡していく。(2) Tracking processing unit (PTR) for points connected from point a0
I'll follow up with 5.
このとき、弦長d(a0)=0.弧長1 (a0)=O
とする。At this time, chord length d(a0)=0. Arc length 1 (a0)=O
shall be.
(3)点a1から点a1..へ進むとき:・斜め45度
方向のとき: l (a、 ++) −jl’ (ai
) + 、n・水平、垂直方向のときニア!(む、+)
= 1 (ai)+1なる距離計算を距離計算処理部
(PD) 71で行う。(3) From point a1 to point a1. .. When moving toward: ・When moving diagonally to 45 degrees: l (a, ++) −jl' (ai
) +, n・Near when horizontal and vertical directions! (Mmm, +)
The distance calculation processing unit (PD) 71 performs a distance calculation of = 1 (ai) + 1.
又、弦長d(at)は点a0と点28間の直線距離とし
て算出する。即ち、
点a0と点a、の座標を(xa+y0)+ (Xt、V
i)で表すとき、
d(ai)= ((xt−x0)2+(yt−y0)”
l ”2として求める。Further, the chord length d(at) is calculated as the straight-line distance between the point a0 and the point 28. That is, the coordinates of point a0 and point a are (xa+y0)+(Xt, V
i), d(ai)=((xt-x0)2+(yt-y0)"
Find it as l ”2.
(4)上記の計算結果に基づいて、
Δ= 1(a;) −d(ai) <、或いは≧0.
(閾値)の判定を判定部(Pc) 72で実行する。(4) Based on the above calculation results, Δ=1(a;) −d(ai) < or ≧0.
(Threshold value) is determined by the determination unit (Pc) 72.
(5) Δ−It (at) −d(a;) <[1
゜の場合:次の点a、。2を選択し、(3)の処理に戻
る。(5) Δ−It (at) −d(a;) <[1
In the case of ゜: Next point a. Select 2 and return to the process of (3).
(6) Δ= 1! (a、) d(ai)≧00
の場合:弧aΩ1間の点列について、弦am、に対する
距離(高さ) h(a、)、h(ax)、h(a:+)
、−−−一−を、上記距離計算処理部(PT) 71で
計算する。(6) Δ= 1! (a,) d(ai)≧00
In the case of: For the sequence of points between the arcs aΩ1, the distance (height) to the chord am h(a,), h(ax), h(a:+)
, ---1- are calculated by the distance calculation processing section (PT) 71.
若し、点a、において、始めてh(at)≧Hであると
、当該点a1を折線の端点とみなし、鎖点ajを折線デ
ータメモリ(ML) 11に記録し、次は弧a’3Hに
ついて、同じ判定を繰り返す。If h(at)≧H holds for the first time at point a, the point a1 is regarded as the end point of the broken line, the chain point aj is recorded in the broken line data memory (ML) 11, and the next arc a'3H Repeat the same judgment for
上記折線の端点ajから点aiに至っても、h(a、)
≧Hとならない場合には、上記の折線端点(即ち、この
直前のaJ)を出発点a0とみなし、(2)の処理に戻
る。このときのa、をallとおく。Even from the end point aj of the above broken line to the point ai, h(a,)
If ≧H does not hold, the end point of the broken line (that is, aJ just before this point) is regarded as the starting point a0, and the process returns to step (2). Let a at this time be all.
但し、ak −aiO点列については、弧長ii ’
(at+)=。However, for the ak -aiO point sequence, the arc length ii '
(at+)=.
1 ’ (aJ)・j! (aJ)−11(aJ(j=
に+1.−+i)
と置き直す。又、
弦長d(aJ)・l ’ (a;) (判定対象とし
ない)と置き直す。1' (aJ)・j! (aJ)-11(aJ(j=
+1. −+i) Replace with Also, replace the string length with d(aJ)·l'(a;) (not subject to determination).
従って、実際に(4)の判定対象となるのはa、以降の
点である。(第3図参照)
上記の処理において、80〜a、に至ってもh(a、)
≧Hとならなかった場合には、a0〜ajを1つの折線
とみなして、a、を、量!!端点とし、(2)に戻る。Therefore, the points a and subsequent points are actually subject to the determination in (4). (See Figure 3) In the above process, even if it reaches 80~a, h(a,)
If ≧H is not satisfied, consider a0 to aj as one broken line, and let a be the amount! ! Set it as the end point and return to (2).
(7)上記の処理において、点列の追跡が端点。(7) In the above process, the tracking of the point sequence is the end point.
若しくは分岐点に至ったときは、前述のスタックメモリ
(MS) 9から、次の出発点を選択し、(2)の処理
に戻る。そして、該スタックメモリ(MS) 9が°空
゛になったとき、本折線近似処理を終了する。Alternatively, when a branch point is reached, the next starting point is selected from the stack memory (MS) 9, and the process returns to step (2). Then, when the stack memory (MS) 9 becomes empty, the main fold line approximation process ends.
〔発明の効果〕 “
以上、詳細に説明したように、本発明の線図形折線近似
方式は、
線図形の2値画像データに対して、細線化を行った後、
該細線化画像データの端点・分岐点を抽出して、その座
標をスタックメモリに格納しておき、該スタックメモリ
から1つの連結した点列(画素列)を選び、1つの点A
を出発点として点列Bを追跡し、弦長dと弧長lとを求
め、その差Δ=/−dがある閾値(D0)より大きくな
った時、次の点Cを選択して弧Ω間で弦πとの距離が閾
値Hより越える点P゛を求め、この点P”迄を1つの折
線AP’ とみなし、以後、数点P゛を出発点として、
同じ処理を繰り返すことにより、細線化画像を折線で近
似するようにしたものであるので、距離計算を減らすこ
とができ、処理時間の短縮と、歪の少ない折線パターン
を生成することができる効果がある。[Effects of the Invention] “As explained above in detail, the line figure broken line approximation method of the present invention thins the binary image data of the line figure, and then
Extract the end points/branch points of the thinned image data, store their coordinates in a stack memory, select one connected point sequence (pixel sequence) from the stack memory, and select one point A.
Using point C as a starting point, trace the point sequence B, find the chord length d and arc length l, and when the difference Δ=/-d becomes larger than a certain threshold (D0), select the next point C and start the arc. Find the point P' between Ω and the distance from the chord π that exceeds the threshold H, and consider the line up to this point P' as one broken line AP'.From now on, using several points P' as the starting point,
By repeating the same process, the thinned image is approximated by a broken line, so distance calculations can be reduced, processing time can be shortened, and a broken line pattern with less distortion can be generated. be.
第1図は本発明の詳細な説明する図。
第2図は本発明の一実施例をブロック図で示した図。
第3図はh(a;)≧Hとならない場合の動作を説明す
る図。
第4図は従来の折線近似方式を説明する図。
である。
図面において、
lは光電変換装置1 2は2値化装置。
3は細線化処理部(PT)。
4は端点・分岐点処理部(PT)。
5は追跡処理部(Pr、I)。
7は折線近似処理部(Po、Pc)。
71は距離計算処理部(P0)。
72は判定部(PC)、 8は画像メモリ。
9は端点・分岐点スタックメモリ(MS)。
lOは距離値メモリ(MLMd)。
11は折線データメモリ(ML) 。
八、 B、 C,Pは点列(画素列)。
P++Pz+P:++ ’−・−・−・は折線の端点。
をそれぞれ示す。
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代理人 弁理士 井桁貞−゛)
<A)
C口ノ
ンL、孕5日月σつ&荊ぐ“E、賽屯9月1ろ国学 f
図
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○○○
(4)/)づiす象
h (θε)≧H1と一一ノ5ηJeI壜イ’fF)”
Φノ1ヂT1とL号へ二f図第 3 図
乙更jζ(刈炸肩状近く犬乞也穴を月Iろ図第4 図FIG. 1 is a diagram explaining the present invention in detail. FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram for explaining the operation when h(a;)≧H does not hold. FIG. 4 is a diagram explaining the conventional broken line approximation method. It is. In the drawings, l is a photoelectric conversion device 1 and 2 is a binarization device. 3 is a thinning processing unit (PT). 4 is an end point/branch point processing unit (PT). 5 is a tracking processing unit (Pr, I). 7 is a broken line approximation processing unit (Po, Pc). 71 is a distance calculation processing unit (P0). 72 is a determination unit (PC), and 8 is an image memory. 9 is an end point/branch point stack memory (MS). lO is a distance value memory (MLMd). 11 is a broken line data memory (ML). 8. B, C, and P are point sequences (pixel sequences). P++Pz+P:++ '-・-・-・ are the end points of the broken line. are shown respectively. 12'')i Agent Patent attorney Igeta Sadao-゛) <A) C non-L, pregnant 5th month σtsu & 荊gu ``E, Saitun September 1st Rokugaku f
Figure t ○○○ (4) /) Zuisu elephant h (θε)≧H1 and 11 no 5ηJeI bottle i'fF)”
Φノ1も T1 and L to No. 2F Figure 3 Figure Otsusara jζ (The dog hole near the shoulder shape of the stubble is the moon Iro Figure 4
Claims (1)
幅を1画素の線画像に細線化する細線化処理部(P_T
)(3)と、 上記細線化画像の中から端点・分岐点を抽出する特徴点
抽出部(P_S)(4)と、 該端点、又は分岐点から連結した点列(画素列)を追跡
していく点列処理部(P_T_R)(5)と、上記で得
られた点列(画素列)について、逐次的に弧長と弦長と
を計算し、その差(△)が一定の閾値(D_0)を越え
た時点で、各点と弦との距離(h)を閾値(H)と比較
することによって、折線の端点を設定する折線近似処理
部(P_D、P_C)(7)と、を備えることによって
、線画を折線で近似するようにしたことを特徴とする線
図形折線近似方式。[Claims] For binary image data of a line figure, a line thinning processing unit (P_T
) (3), a feature point extraction unit (P_S) (4) that extracts end points and branch points from the thinned image, and a point sequence (pixel sequence) connected from the end points or branch points. The point sequence processing unit (P_T_R) (5) sequentially calculates the arc length and chord length for the point sequence (pixel sequence) obtained above, and the difference (△) is set to a certain threshold ( D_0), a broken line approximation processing unit (P_D, P_C) (7) sets the end point of the broken line by comparing the distance (h) between each point and the chord with a threshold (H); A line figure broken line approximation method characterized in that a line drawing is approximated by broken lines.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24932185A JPS62108382A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Approximating system for polygonal line graphic |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24932185A JPS62108382A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Approximating system for polygonal line graphic |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62108382A true JPS62108382A (en) | 1987-05-19 |
JPH0338623B2 JPH0338623B2 (en) | 1991-06-11 |
Family
ID=17191259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24932185A Granted JPS62108382A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Approximating system for polygonal line graphic |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62108382A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01307878A (en) * | 1988-06-06 | 1989-12-12 | Hitachi Software Eng Co Ltd | Pattern recognizing device |
JPH0293772A (en) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | Contour approximating system |
-
1985
- 1985-11-07 JP JP24932185A patent/JPS62108382A/en active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01307878A (en) * | 1988-06-06 | 1989-12-12 | Hitachi Software Eng Co Ltd | Pattern recognizing device |
JPH0293772A (en) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | Contour approximating system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0338623B2 (en) | 1991-06-11 |
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