JPS62102654A - デイジタル交換機の加入者回線試験システム - Google Patents
デイジタル交換機の加入者回線試験システムInfo
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- JPS62102654A JPS62102654A JP24198885A JP24198885A JPS62102654A JP S62102654 A JPS62102654 A JP S62102654A JP 24198885 A JP24198885 A JP 24198885A JP 24198885 A JP24198885 A JP 24198885A JP S62102654 A JPS62102654 A JP S62102654A
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- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的
卒業上の利用分野
本発明は、ディジタル電子交換機の加入者回線の試験シ
ステムに関し、特に上位局側からの指令に基づき各下位
局の加入者回線を集中的に試験する遠隔試験システムに
関するものである。
ステムに関し、特に上位局側からの指令に基づき各下位
局の加入者回線を集中的に試験する遠隔試験システムに
関するものである。
従来の技術
ディジタル電子交換機が設置される電気通信システムで
は、常に良質のサービスが提供されるよう、障害発生に
即応して、あるいは定期的に保守試験が行われるが、加
入者回線の試験も重要な試験項百の一つとなっている。
は、常に良質のサービスが提供されるよう、障害発生に
即応して、あるいは定期的に保守試験が行われるが、加
入者回線の試験も重要な試験項百の一つとなっている。
このような加入者回線の試験システムとしては、個々の
加入者交換機や遠隔集線装置などの下位局で個別に行う
もののほかに、中継交換局や親局などの上位局から集中
的に行う遠隔試験システムがある。
加入者交換機や遠隔集線装置などの下位局で個別に行う
もののほかに、中継交換局や親局などの上位局から集中
的に行う遠隔試験システムがある。
従来、この種の遠隔試験システムは、第2図に示すよう
に構成されている。
に構成されている。
第2図(A)に示すように、加入者交換局(TDESS
)内の時分割ネットワーク(T D NW)に収容され
るアナログ加入者回線(ASL>や、ディジタル加入者
回線(DSL)の試験を行なう場合、アナログ加入者回
線に接続される加入者回線インタフェース(SLIC)
や、ディジタル加入者回線に接続される局内回線終端回
路(OCU)から被試験加入者回線が試験スイッチ(T
ESTSW)に引込まれる。
)内の時分割ネットワーク(T D NW)に収容され
るアナログ加入者回線(ASL>や、ディジタル加入者
回線(DSL)の試験を行なう場合、アナログ加入者回
線に接続される加入者回線インタフェース(SLIC)
や、ディジタル加入者回線に接続される局内回線終端回
路(OCU)から被試験加入者回線が試験スイッチ(T
ESTSW)に引込まれる。
被試験アナログ加入者回線は、試験スイッチ(T E
S T S W)のスイッチ損失を補償する回線試験ア
ダプタユニット(LTAU)と、試験装置(置)内の空
間スイッチ(SDSW)を介して回線試験装置(LTE
)に接続され、この回線試験送信(LTE)によりアナ
ログ試験が実行される。
S T S W)のスイッチ損失を補償する回線試験ア
ダプタユニット(LTAU)と、試験装置(置)内の空
間スイッチ(SDSW)を介して回線試験装置(LTE
)に接続され、この回線試験送信(LTE)によりアナ
ログ試験が実行される。
被試験ディジタル加入者回線は、試験スイ・ンチ(TE
STSW)から、試験用ディジタル回線終端送信(TD
SU)、保守スイッチ(M S W)及び時分割ネット
ワーク(TDNW)を経て試験装置(置)の時分割スイ
ッチ(TDSWI)に接続される。被試験ディジタル加
入者回線の符号誤り率の測定は、試験装置(TEI)の
ディジタルバス試験装置(MESD)により行なわれる
。
STSW)から、試験用ディジタル回線終端送信(TD
SU)、保守スイッチ(M S W)及び時分割ネット
ワーク(TDNW)を経て試験装置(置)の時分割スイ
ッチ(TDSWI)に接続される。被試験ディジタル加
入者回線の符号誤り率の測定は、試験装置(TEI)の
ディジタルバス試験装置(MESD)により行なわれる
。
一方、ディジタル宅内機器の発信接続試験用のディジタ
ル宅内機器擬似装置(DTIS)と、ディジタル加入者
回線の信号試験用の試験用送受信装置(TSTSIG)
とは、第2図(B)に示すように、中継交換局(TS)
側に設置された試験装置(TE2)内に設置されている
。これらの試験を行うため、加入者交換局側の試験装置
(TEl)と中継交換局側の試験装置(TE2)は、そ
れぞれの側の時分割スイッチ(TDSWI、TDSW2
)と中継回″!ta (TL)を介して接続される。
ル宅内機器擬似装置(DTIS)と、ディジタル加入者
回線の信号試験用の試験用送受信装置(TSTSIG)
とは、第2図(B)に示すように、中継交換局(TS)
側に設置された試験装置(TE2)内に設置されている
。これらの試験を行うため、加入者交換局側の試験装置
(TEl)と中継交換局側の試験装置(TE2)は、そ
れぞれの側の時分割スイッチ(TDSWI、TDSW2
)と中継回″!ta (TL)を介して接続される。
中継交換局側の試験装置(TE2)は、アナログディジ
タル変換回路(A/D) 、入トランク(ICT)、中
継交換機の出トランク (OCT)、スイッチ回路(S
W)、中央処理装置(CC)を経由して監視試験台(S
TD)に接続される。また、時分割交換機(TDESS
)、試験装置(TEl)、試験装置(TE2)と監視試
験台(STD)間の制御情報は、専用の制御リンク(C
LI。
タル変換回路(A/D) 、入トランク(ICT)、中
継交換機の出トランク (OCT)、スイッチ回路(S
W)、中央処理装置(CC)を経由して監視試験台(S
TD)に接続される。また、時分割交換機(TDESS
)、試験装置(TEl)、試験装置(TE2)と監視試
験台(STD)間の制御情報は、専用の制御リンク(C
LI。
Cl3)を介して送受される。
発明が解決しようとする問題点
上記従来の遠隔試験システムでは、2種類の試験装置を
加入者交換局側と中継交換局側に分離して設置している
ため、ディジタル宅内機器擬似装置(DTIS)と試験
用送受信装置(TSTSIG)の設置台数を節約できる
という利点かあものの、次のような数々の問題がある。
加入者交換局側と中継交換局側に分離して設置している
ため、ディジタル宅内機器擬似装置(DTIS)と試験
用送受信装置(TSTSIG)の設置台数を節約できる
という利点かあものの、次のような数々の問題がある。
(1)2種類の試験装置を設置するため装置間インタフ
ェースが複雑となり、この結果、試験手順も複雑となる
。
ェースが複雑となり、この結果、試験手順も複雑となる
。
(2)同様な理由から、時分割スイッチ(TDSWl、
2)やインタフェースのためのハードウェア量が増大し
、特に、傘下の加入者交換局、従って試験装置(置)が
少数の場合には、集約の利点が失われる。
2)やインタフェースのためのハードウェア量が増大し
、特に、傘下の加入者交換局、従って試験装置(置)が
少数の場合には、集約の利点が失われる。
(3)監視試験台、2種類の試験装置及び時分割交換機
間を接続するために、局間の通話用中継線のほかに専用
の制御リンクも設置しているので、局間回線の使用効率
が悪い。
間を接続するために、局間の通話用中継線のほかに専用
の制御リンクも設置しているので、局間回線の使用効率
が悪い。
(4)交換機の増設、撤去に際して、専用の制御リンク
も増設、撤去しなければならず、試験装置と交換網の親
和性に欠ける。
も増設、撤去しなければならず、試験装置と交換網の親
和性に欠ける。
発明の構成
問題点を解決するための手段
上記従来技術の問題点を解決する本発明の加入者回VA
試験システムは、下位局側の試験スイッチと時分割スイ
ッチングネットワークの出側端子に接続されるディジタ
ル加入者回線試験装置と、下位局側の中央処理装置に接
続され、ディジタル加入者回線試験装置を制御する試験
用プロセッサと、上位局側の中央処理装置に接続され、
上位局側の共通線信号装置1局間回線及び下位局側の共
通線信号装置を経由して下位局側の中央処理装置及び試
験用プロセッサに試験の指令を与え、逆順の経路で試験
結果を受け取る試験台とを備えている。
試験システムは、下位局側の試験スイッチと時分割スイ
ッチングネットワークの出側端子に接続されるディジタ
ル加入者回線試験装置と、下位局側の中央処理装置に接
続され、ディジタル加入者回線試験装置を制御する試験
用プロセッサと、上位局側の中央処理装置に接続され、
上位局側の共通線信号装置1局間回線及び下位局側の共
通線信号装置を経由して下位局側の中央処理装置及び試
験用プロセッサに試験の指令を与え、逆順の経路で試験
結果を受け取る試験台とを備えている。
すなわち、発明の加入者回線試験システムは、(1)試
験装置を1種類とし、これを下位局側だけに設置するこ
とにより試験手順を簡易化し、(n)同じく、時分割ス
イッチや試験装置相互間のインタフェースのハードウェ
ア量の低減によって、システムを低廉化し、 (I[[)監視試験台、試験装置および時分割電子交換
機間の制御リンクを一般通話用の共通線信号路と共用す
ることにより、試験専用の制御リンクを廃止してハード
ウェア量の低減に伴う低廉化化を実現し、 (TV)試験装置の制御リンクとして共通線信号装置を
共用することにより、交換網との親和性を改善している
。
験装置を1種類とし、これを下位局側だけに設置するこ
とにより試験手順を簡易化し、(n)同じく、時分割ス
イッチや試験装置相互間のインタフェースのハードウェ
ア量の低減によって、システムを低廉化し、 (I[[)監視試験台、試験装置および時分割電子交換
機間の制御リンクを一般通話用の共通線信号路と共用す
ることにより、試験専用の制御リンクを廃止してハード
ウェア量の低減に伴う低廉化化を実現し、 (TV)試験装置の制御リンクとして共通線信号装置を
共用することにより、交換網との親和性を改善している
。
以下、本発明の作用を実施例と共に詳細に説明する。
実施例
第1図は、本発明の一実施例にかかわる加入者回線の試
験システムを、関連のディジタル交換システムと共に示
す構成ブロック図である。
験システムを、関連のディジタル交換システムと共に示
す構成ブロック図である。
第1図(A)に示すように、ディジタル加入者交換局(
TDESS)側においては、アナログ加入者回線(AS
L)と接続される加入者回線インタフェース回路(S
L I C)と、ディジタル加入者口!(DSL)と接
続される局内回線終端装置(OCU)が、集線装置架(
LCF)を介して時分割ネットワーク(TDNW)に接
続されている。
TDESS)側においては、アナログ加入者回線(AS
L)と接続される加入者回線インタフェース回路(S
L I C)と、ディジタル加入者口!(DSL)と接
続される局内回線終端装置(OCU)が、集線装置架(
LCF)を介して時分割ネットワーク(TDNW)に接
続されている。
アナログ、ディジタルの各加入者回線は、それぞれ加入
者回線インタフェース回路(S L I C)と局内回
線終端装置(OCU)から、試験スイッチ(TEST
SW)に引き込まれ、試験に際し、中央処理装置(M
CP)の制御のもとに回路試験用アダプタユニット(L
TAU)と試験用回線終端それぞれ(TDSU)に接続
される。中継交換局に連なる中継回線TLと中央処理装
置(MCP)の間には、共通線信号装置(C3,El)
が設置されている。
者回線インタフェース回路(S L I C)と局内回
線終端装置(OCU)から、試験スイッチ(TEST
SW)に引き込まれ、試験に際し、中央処理装置(M
CP)の制御のもとに回路試験用アダプタユニット(L
TAU)と試験用回線終端それぞれ(TDSU)に接続
される。中継交換局に連なる中継回線TLと中央処理装
置(MCP)の間には、共通線信号装置(C3,El)
が設置されている。
中央処理装置(MCP)には、試験装置(TSTE)が
接続されている。この試験装置(TSTE)は、回線試
験装置(LTE)、ディジタル宅内機器擬似装置(DT
IS)、セレクタ(SEL)、ディジタルバス試験装置
(MESD)、試験用送受信装置(TSTSIG)及び
これら各装置を制御する試験用プロセッサ(TCC)を
備えている。
接続されている。この試験装置(TSTE)は、回線試
験装置(LTE)、ディジタル宅内機器擬似装置(DT
IS)、セレクタ(SEL)、ディジタルバス試験装置
(MESD)、試験用送受信装置(TSTSIG)及び
これら各装置を制御する試験用プロセッサ(TCC)を
備えている。
一方、第1図(B)に示すように、中継交換局(TS)
側にはディジタル加入者回線用のディジタルバス試験装
置(MESD)、試験用送受信装置(TSTSIG)な
どの試験装置は一切設置されていない。監視試験台(S
TD)は、中央処理装置(CC)、共通線信号装置(C
3E2)、局間の中継回線TL及びディジタル加入者交
換局(TDESS)側の共通線信号装置(C3EI)を
経由して加入者交換局側の中央処理装置(MCP)及び
試験装置(TSTE)内の試験用プロセッサ(TCC)
に試験の指令を与え、逆順の経路で試験結果を受け取る
ように構成されている。
側にはディジタル加入者回線用のディジタルバス試験装
置(MESD)、試験用送受信装置(TSTSIG)な
どの試験装置は一切設置されていない。監視試験台(S
TD)は、中央処理装置(CC)、共通線信号装置(C
3E2)、局間の中継回線TL及びディジタル加入者交
換局(TDESS)側の共通線信号装置(C3EI)を
経由して加入者交換局側の中央処理装置(MCP)及び
試験装置(TSTE)内の試験用プロセッサ(TCC)
に試験の指令を与え、逆順の経路で試験結果を受け取る
ように構成されている。
すなわち、中継交換局(TS)側の監視試験台(STD
)から保守者が発した試験の指令は、中央処理装置f!
ff1(CC)に読取られ、この指令は共通線信号装置
(C3E2)、中継回線(TL)、ディジタル加入者交
換局(TDESS)内の共通線信号装置(C3EI)か
ら中央処理装置(MCP)まで転送されて分析され、こ
こから試験装置(TSTE)内の試験プロセッサ(TC
C)に通知される。
)から保守者が発した試験の指令は、中央処理装置f!
ff1(CC)に読取られ、この指令は共通線信号装置
(C3E2)、中継回線(TL)、ディジタル加入者交
換局(TDESS)内の共通線信号装置(C3EI)か
ら中央処理装置(MCP)まで転送されて分析され、こ
こから試験装置(TSTE)内の試験プロセッサ(TC
C)に通知される。
中央処理装置(MCP)は、ディジタル加入者交換局(
TDESS)内の時分割ネットワーク(TDNW)や試
験スイッチ(T E S T S W)などの装置を
一括制御する。一方、処理プロセッサ(TCC)は、試
験装置(TSTE)内の各装置を一括制御する。
TDESS)内の時分割ネットワーク(TDNW)や試
験スイッチ(T E S T S W)などの装置を
一括制御する。一方、処理プロセッサ(TCC)は、試
験装置(TSTE)内の各装置を一括制御する。
すなわち、中継交換局(TS)側からの指令に従ってア
ナログ加入者回線の試験を行う場合は、中央処理装置(
MCP)の制御により、被試験アナログ加入者回線が、
対応の加入者回線インタフェース回路(S L I C
)から試験スイッチ(TEST SW)と回線試験ア
ダプタユニソ) (LTAU)を経て回線試験装置(L
TE)まで接続される。この接続が終了すると、試験用
プロセッサ(T CC)の制御のもとに、回線試験装置
(LTE)において被試験アナログ加入者回線の回線抵
抗、容量、絶縁性などが試験される。この試験結果は試
験用プロセッサ(T CC)で編集されたのち、中央処
理装置(MCP)、共通線信号装置(C8E1)、中継
回線(TL)、共通線信号装置(C3E2)、中央処理
装置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に表示され
る。
ナログ加入者回線の試験を行う場合は、中央処理装置(
MCP)の制御により、被試験アナログ加入者回線が、
対応の加入者回線インタフェース回路(S L I C
)から試験スイッチ(TEST SW)と回線試験ア
ダプタユニソ) (LTAU)を経て回線試験装置(L
TE)まで接続される。この接続が終了すると、試験用
プロセッサ(T CC)の制御のもとに、回線試験装置
(LTE)において被試験アナログ加入者回線の回線抵
抗、容量、絶縁性などが試験される。この試験結果は試
験用プロセッサ(T CC)で編集されたのち、中央処
理装置(MCP)、共通線信号装置(C8E1)、中継
回線(TL)、共通線信号装置(C3E2)、中央処理
装置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に表示され
る。
ディジタル宅内機器擬似装置(DT I S)による発
信接続試験もほぼ同様にして行われる。この試験結果も
、試験用プロセッサ(T CC)で編集されたのち、中
央処理装置(MCP) 、共通線信号装置(C3EI)
、中継回線、共通線信号装置(C3E2)、中央処理装
置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に表示される
。
信接続試験もほぼ同様にして行われる。この試験結果も
、試験用プロセッサ(T CC)で編集されたのち、中
央処理装置(MCP) 、共通線信号装置(C3EI)
、中継回線、共通線信号装置(C3E2)、中央処理装
置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に表示される
。
符号誤り率を測定するディジタルバス試験や、ディジタ
ル加入者回線の信号試験に際しては、被試験ディジタル
回線が、対応の局内回線終端装置(OCU)、時分割ネ
ットワーク(T D NW)、試験装置(TSTE)内
のセレクタ(S E L)経由でディジタルパス試験装
置(MESD)や試験用送受信装置(TSTSIG)に
接続され、試験用プロセッサ(TCC)の制御下で対応
の試験が行われる。
ル加入者回線の信号試験に際しては、被試験ディジタル
回線が、対応の局内回線終端装置(OCU)、時分割ネ
ットワーク(T D NW)、試験装置(TSTE)内
のセレクタ(S E L)経由でディジタルパス試験装
置(MESD)や試験用送受信装置(TSTSIG)に
接続され、試験用プロセッサ(TCC)の制御下で対応
の試験が行われる。
この試験結果も、試験用プロセッサ(TCC)で編集さ
れたのち、中央処理装置(MCP)、共通線信号装置(
C8E1)、中継回線、共通線信号装置(C3E2)、
中央処理装置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に
表示される。
れたのち、中央処理装置(MCP)、共通線信号装置(
C8E1)、中継回線、共通線信号装置(C3E2)、
中央処理装置(CC)を経て監視試験台(TSTD)に
表示される。
なお、上述の各種試験の項目や内容そのものについては
、日本電信電話公社 武蔵野電気通信研究所発行の「電
気通信研究所 研究実用化報告VOL、32 (198
3)No、11 PART2」に掲載された、“ディ
ジタル加入者系システムの保守試験方式”と題する島形
成らの論文を参照されたい。
、日本電信電話公社 武蔵野電気通信研究所発行の「電
気通信研究所 研究実用化報告VOL、32 (198
3)No、11 PART2」に掲載された、“ディ
ジタル加入者系システムの保守試験方式”と題する島形
成らの論文を参照されたい。
以上、下位局としてディジタル加入者交換局、上位局と
して中継交換局の場合を例示したが、これらの関係に代
えて、遠隔集線装置とその親局の関係についても本発明
のシステムが適用できる。
して中継交換局の場合を例示したが、これらの関係に代
えて、遠隔集線装置とその親局の関係についても本発明
のシステムが適用できる。
また、アナログ加入者回線が混在している場合を例示し
たが、ディジタル加入者回線のみが存在する場合にも本
発明が適用できる。
たが、ディジタル加入者回線のみが存在する場合にも本
発明が適用できる。
発明の効果
以上詳細に説明したように、本発明に係わるディジタル
交換機の加入者回線試験システムによれば、次のような
効果が奏される。
交換機の加入者回線試験システムによれば、次のような
効果が奏される。
(I)試験装置が1種類であり、しかもこれが下位局側
だけに設置されているので試験手順が簡略化される。
だけに設置されているので試験手順が簡略化される。
(n)同様の理由により、時分割スイッチや試験装置相
互間のインタフェースのハードウェア量が減少し、この
試験システムが安価になる。
互間のインタフェースのハードウェア量が減少し、この
試験システムが安価になる。
(III)上位局側の監視試験台と、下位局側の試験装
置および時分割電子交換機との試験用の制御リンクを一
般通話用の共通線信号路と共用するため、試験専用の制
御リンクが不要となり、システム全体が安価になる。
置および時分割電子交換機との試験用の制御リンクを一
般通話用の共通線信号路と共用するため、試験専用の制
御リンクが不要となり、システム全体が安価になる。
(IV)試験用の制御リンクを共通線信号リンクと共用
するため、交換網との親和性が改善される。
するため、交換網との親和性が改善される。
第1図(A)、 (B)は本発明の一実施例の試験シ
ステムの構成を関連のディジタル交換システムと共に示
すブロック図、第2図(A)、 (B)は、従来の試
験システムの構成を関連のディジタル交換システムと共
に示すブロック図である。 TDESS・・・加入者交換局、5LIC・・・加入者
回線インタフェース回路、OCU・・・局内終端装置、
″、”゛−L CF・・・集線装置架、
TDNW・・・時分割ネットワーク、TESTSW・・
・試験スイッチ、TDSU・・・試験用回線終端装置、
LTAU・・・回線試験アダプタユニット、TSTE・
・・試験装置、SEL・・・セレクタ、LTE・・・回
線試験装置、DTIS・・・ディジタル宅内機器擬似装
置、MESD・・・ディジタルパス試験装置、TCC・
・・試験用プロセッサ、MCP・・・中央処理装置、C
3EI、C3E2・・・共通線信号装置、TSTE・・
・試験装置、TS・・・中継交換局、CC−・・中央処
理装置、SW・・・スイッチ、STD・・・監視試験、
ASL・・・アナログ加入者回線、DSL・・・ディジ
タル加入者回線、TL・・・中継回線。 特許出願人 日本電気株式会社(外1名)代 理 人
弁理士 櫻井俊彦 第 1 図(A) 第 1 図 (B) TS 第 2 図 (B)
ステムの構成を関連のディジタル交換システムと共に示
すブロック図、第2図(A)、 (B)は、従来の試
験システムの構成を関連のディジタル交換システムと共
に示すブロック図である。 TDESS・・・加入者交換局、5LIC・・・加入者
回線インタフェース回路、OCU・・・局内終端装置、
″、”゛−L CF・・・集線装置架、
TDNW・・・時分割ネットワーク、TESTSW・・
・試験スイッチ、TDSU・・・試験用回線終端装置、
LTAU・・・回線試験アダプタユニット、TSTE・
・・試験装置、SEL・・・セレクタ、LTE・・・回
線試験装置、DTIS・・・ディジタル宅内機器擬似装
置、MESD・・・ディジタルパス試験装置、TCC・
・・試験用プロセッサ、MCP・・・中央処理装置、C
3EI、C3E2・・・共通線信号装置、TSTE・・
・試験装置、TS・・・中継交換局、CC−・・中央処
理装置、SW・・・スイッチ、STD・・・監視試験、
ASL・・・アナログ加入者回線、DSL・・・ディジ
タル加入者回線、TL・・・中継回線。 特許出願人 日本電気株式会社(外1名)代 理 人
弁理士 櫻井俊彦 第 1 図(A) 第 1 図 (B) TS 第 2 図 (B)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 時分割ネットワークと、この時分割ネットワーク及びデ
ィジタル加入者回線間に設置される局内回線終端装置と
、この局内回線終端装置からディジタル加入者回線を引
込むための試験スイッチと、上位局に連なる中継線に接
続される共通線信号装置と、上記各装置の動作を制御す
る中央処理装置とを備えた下位局側のディジタル交換機
の加入者回線を上位局側からの指令に基づき試験する試
験システムにおいて、 下位局側の試験スイッチと時分割ネットワークの出側端
子に接続されるディジタル加入者回線試験装置と、 下位局側の中央処理装置に接続され、前記ディジタル加
入者回線試験装置を制御する試験用プロセッサと、 上位局側の中央処理装置に接続され、上位局側の共通線
信号装置、局間回線及び下位局側の共通線信号装置を経
由して下位局側の中央処理装置及び試験用プロセッサに
試験の指令を与え、逆順の経路で試験結果を受け取る試
験台とを備えたことを特徴とするディジタル交換機の加
入者回線試験システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24198885A JPS62102654A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | デイジタル交換機の加入者回線試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24198885A JPS62102654A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | デイジタル交換機の加入者回線試験システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62102654A true JPS62102654A (ja) | 1987-05-13 |
Family
ID=17082576
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24198885A Pending JPS62102654A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | デイジタル交換機の加入者回線試験システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62102654A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111708345A (zh) * | 2020-05-14 | 2020-09-25 | 北京西南交大盛阳科技股份有限公司 | 信号设备仿真测试系统、测试方法以及测试装置 |
-
1985
- 1985-10-29 JP JP24198885A patent/JPS62102654A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111708345A (zh) * | 2020-05-14 | 2020-09-25 | 北京西南交大盛阳科技股份有限公司 | 信号设备仿真测试系统、测试方法以及测试装置 |
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