JPS6159860A - 半導体集積回路装置の製造方法 - Google Patents
半導体集積回路装置の製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路装置の製造方法、詳しくは両面
にデバイスが形成された半導体チップをパンケージに封
入する方法に関する。
にデバイスが形成された半導体チップをパンケージに封
入する方法に関する。
集積回路(IC)が形成された半導体チップ(以下単に
チップという)が封入された半導体集8ti路装置はI
Cパッケージとも呼称され多用されている。しかし、か
かるチップはその片面上にのみ集積回路が形成されたも
のである。それに対して、本発明は両面にデバイスが形
成されたチップをパッケージに封入する技術に関する。
チップという)が封入された半導体集8ti路装置はI
Cパッケージとも呼称され多用されている。しかし、か
かるチップはその片面上にのみ集積回路が形成されたも
のである。それに対して、本発明は両面にデバイスが形
成されたチップをパッケージに封入する技術に関する。
半導体部品をパッケージに封入する技術は、半導体部品
の運搬、取り扱い、チップの保護、配線板への実装の容
易化のために開発されたもの÷あり、従来のパ、:、ケ
ージにはDIP (dual 1nlinepacka
fie )とフラット形パッケージとが知られている。
の運搬、取り扱い、チップの保護、配線板への実装の容
易化のために開発されたもの÷あり、従来のパ、:、ケ
ージにはDIP (dual 1nlinepacka
fie )とフラット形パッケージとが知られている。
DIPはICのパッケージとして最もよく知られた構造
゛のものであり、チップが封入されたパッケージの両側
に2列にビン(外リード)が配置されたものであり、フ
ラット形パッケージにおいては平坦なパ・イケージ上に
チップを搭載したもので、パンケージが小形になり端子
間隔も小に設定されている。
゛のものであり、チップが封入されたパッケージの両側
に2列にビン(外リード)が配置されたものであり、フ
ラット形パッケージにおいては平坦なパ・イケージ上に
チップを搭載したもので、パンケージが小形になり端子
間隔も小に設定されている。
上記したパッケージはすべて片面にのみデバイスが形成
されたチップをパッケージのキャビティまたはフラット
なパッケージ上に接着したくチップボンディング)もの
である。ところで、チップに形成される集積回路をより
高□密度化する目的で、チップの両面にデバイスを形成
する技術、例えばチップの一方面にはメモリ回路を形成
し、他方面にはロジック回路を形成するなどの技術が研
究されている。にもかかわらず、従来のパッケージは片
面にのみデバイスが形成されたチップを封入するもので
あって、前記の両面にデバイスが形成されたチ・ンブを
パフケージに封入する満足すべき方法は未だ発表されて
いない。
されたチップをパッケージのキャビティまたはフラット
なパッケージ上に接着したくチップボンディング)もの
である。ところで、チップに形成される集積回路をより
高□密度化する目的で、チップの両面にデバイスを形成
する技術、例えばチップの一方面にはメモリ回路を形成
し、他方面にはロジック回路を形成するなどの技術が研
究されている。にもかかわらず、従来のパッケージは片
面にのみデバイスが形成されたチップを封入するもので
あって、前記の両面にデバイスが形成されたチ・ンブを
パフケージに封入する満足すべき方法は未だ発表されて
いない。
C問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点を解消した両面にデバイスが形成
されたチップを封入する方法を提供するもので、その手
段は、両面にデバイスが形成された半導体チップをパッ
ケージに封入する方法にして、中央部分が切欠され内部
部分の両面に複数の段部が設けられたモジュールの前記
段MISノ11[11ニ半導体チップを接着し、モジュ
ールの他の段部に設けたモジュール内部の配線層に接続
された電極と半導体チップの両面の電極とをそれぞれ接
続し、半導体チップが接着されたモジュールをパッケー
ジに接着してモジュールの配線層とパッケージの配線層
とを接続し、キャップをパッケージに接着することを特
徴とする半導体集積回路装置の製造方法によって達成さ
れる。
されたチップを封入する方法を提供するもので、その手
段は、両面にデバイスが形成された半導体チップをパッ
ケージに封入する方法にして、中央部分が切欠され内部
部分の両面に複数の段部が設けられたモジュールの前記
段MISノ11[11ニ半導体チップを接着し、モジュ
ールの他の段部に設けたモジュール内部の配線層に接続
された電極と半導体チップの両面の電極とをそれぞれ接
続し、半導体チップが接着されたモジュールをパッケー
ジに接着してモジュールの配線層とパッケージの配線層
とを接続し、キャップをパッケージに接着することを特
徴とする半導体集積回路装置の製造方法によって達成さ
れる。
上記方法においては、パンケージとは別に1つのモジュ
ールを形成しておき、このモジュールにチップを接着し
くチップボンディング)、次いでモジュールの電極とチ
ップの両面に形成された電極とをそれぞれワイヤで接続
しくパッドボンディング)、シかる後にモジュールをパ
ンケージに装着L/ 、 モ’;ニールの電極とパンケ
ージのピンを接続するものである。
ールを形成しておき、このモジュールにチップを接着し
くチップボンディング)、次いでモジュールの電極とチ
ップの両面に形成された電極とをそれぞれワイヤで接続
しくパッドボンディング)、シかる後にモジュールをパ
ンケージに装着L/ 、 モ’;ニールの電極とパンケ
ージのピンを接続するものである。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
本発明の方法においては、第1図(alと(b)の正面
断面図と平面図に示されるモジュール牽使用するもので
あり、同図において、1は長方形の中心部が切欠された
枠状のモビューノー乙伜の内部部分の両面には段部が設
けられた構造体、2は両面にデバイスが形成された半導
体チップ(チップ)、3aと3bはそれぞれチップ2の
片面と反対面(図に見て上面と下面、以下A面とB面と
いう)に形成された電極、4aと4bはそれぞれモジュ
ール1の片面と反対面(図に見て上面と下面、以7FA
面とB面という)に設けた電+TiA、、5aと5bは
それぞれ電極3aと48および3bと5bを接続するワ
イヤを示す。モジュール1は例えばセラミックで作り、
@極が形成される段部とチップが接着される段部とが設
けられ、またモジュールの内部には電極4a、 4bの
それぞれの接続をとるためのメタライズ層(配線層)が
形成されている。図示の例では段部は2つ設けられ、チ
ップが接着される段部の反対面上に電極が設けられてい
るが、必要とあれば他に段部を形成してもよい。メタラ
イズ層は図示されないが従来セラミックパッケージを作
る場合のメタライズ層と同様に形成可能である。なお、
第1図(b)において中央の点線を付した部分はモジュ
ールの切欠部分を示す。図示の例でこの切欠部分は長方
形の形状であるが、切欠部分の形状はこの形状に限定さ
れるものではない。 第2図にはパッケージに組み合わ
された第1図のモジュール1が正面断面図で示され、同
図において、6はパッケージ、7はキャップ、8はピン
を示す。パッケージ6は通常の技術で作られた例えばセ
ラミックパッケージで、このパンケージ6内には、前記
したモジュール1の内部の配線層に接続される配線層(
図示せず)が形成されていて、この配線層がピン8のそ
れぞれに接続されている。従って、チップ2のいずれか
の面に形成されたデバイスは、電極3a(3b)−ワイ
ヤ5−電極4a(4b)−モジュール1の配線層−パッ
ケージ6の配線層−ピン8の順に接続されている。キャ
ップ7は従来のパンケージのキャップと同じものであり
、また、パッケージ6の配線層とリード8の接続は従来
のパ・νケージにおけると同様になされる。なお、第2
図において6aはパッケージのキャビティを示し、従来
はここにチップが接着されたものである。本発明実施例
では、チップはキャビティに接続されることなく、キャ
ビティの空間はワイヤ5bのための十分な空間を提供す
る。
断面図と平面図に示されるモジュール牽使用するもので
あり、同図において、1は長方形の中心部が切欠された
枠状のモビューノー乙伜の内部部分の両面には段部が設
けられた構造体、2は両面にデバイスが形成された半導
体チップ(チップ)、3aと3bはそれぞれチップ2の
片面と反対面(図に見て上面と下面、以下A面とB面と
いう)に形成された電極、4aと4bはそれぞれモジュ
ール1の片面と反対面(図に見て上面と下面、以7FA
面とB面という)に設けた電+TiA、、5aと5bは
それぞれ電極3aと48および3bと5bを接続するワ
イヤを示す。モジュール1は例えばセラミックで作り、
@極が形成される段部とチップが接着される段部とが設
けられ、またモジュールの内部には電極4a、 4bの
それぞれの接続をとるためのメタライズ層(配線層)が
形成されている。図示の例では段部は2つ設けられ、チ
ップが接着される段部の反対面上に電極が設けられてい
るが、必要とあれば他に段部を形成してもよい。メタラ
イズ層は図示されないが従来セラミックパッケージを作
る場合のメタライズ層と同様に形成可能である。なお、
第1図(b)において中央の点線を付した部分はモジュ
ールの切欠部分を示す。図示の例でこの切欠部分は長方
形の形状であるが、切欠部分の形状はこの形状に限定さ
れるものではない。 第2図にはパッケージに組み合わ
された第1図のモジュール1が正面断面図で示され、同
図において、6はパッケージ、7はキャップ、8はピン
を示す。パッケージ6は通常の技術で作られた例えばセ
ラミックパッケージで、このパンケージ6内には、前記
したモジュール1の内部の配線層に接続される配線層(
図示せず)が形成されていて、この配線層がピン8のそ
れぞれに接続されている。従って、チップ2のいずれか
の面に形成されたデバイスは、電極3a(3b)−ワイ
ヤ5−電極4a(4b)−モジュール1の配線層−パッ
ケージ6の配線層−ピン8の順に接続されている。キャ
ップ7は従来のパンケージのキャップと同じものであり
、また、パッケージ6の配線層とリード8の接続は従来
のパ・νケージにおけると同様になされる。なお、第2
図において6aはパッケージのキャビティを示し、従来
はここにチップが接着されたものである。本発明実施例
では、チップはキャビティに接続されることなく、キャ
ビティの空間はワイヤ5bのための十分な空間を提供す
る。
次に、第2図の装置を形成する工程を第3図を参照して
説明する。
説明する。
第1図の場合の如く、第3図(alに見てモジュールの
上面をA面、反対面をB面ということにして、モジュー
ルlのA面とB面に電極4aと4bを形成する。これら
の電極は従来のパッケージの電極と同様に形成され、そ
れはメタライズ層そのものであっても、またはメタライ
ズ層に¥1極片を接着して形成したものでもよい。
上面をA面、反対面をB面ということにして、モジュー
ルlのA面とB面に電極4aと4bを形成する。これら
の電極は従来のパッケージの電極と同様に形成され、そ
れはメタライズ層そのものであっても、またはメタライ
ズ層に¥1極片を接着して形成したものでもよい。
次に、第3図fb)に示される如くモジュール1のA面
にチップ2を接着する(チップポンディング)。この接
着は、従来チップをパッケージのキャビティに接着する
場合と同様に例えば銀ろうを用いてなす。
にチップ2を接着する(チップポンディング)。この接
着は、従来チップをパッケージのキャビティに接着する
場合と同様に例えば銀ろうを用いてなす。
次に、第3図(C1に示される如くA面について電極3
aと48のそれぞれをワイヤ5aで接続する。この接続
は、通常のワイヤボンディング技術でなしうる。引続き
、第3図(d)に示される如く、B面について電極3b
と4bのそれぞれをワイヤ5bで接続する。
aと48のそれぞれをワイヤ5aで接続する。この接続
は、通常のワイヤボンディング技術でなしうる。引続き
、第3図(d)に示される如く、B面について電極3b
と4bのそれぞれをワイヤ5bで接続する。
次いで、第3図1e)に示される如く、モジュール1を
パッケージ6に接着する(パッケージング)。
パッケージ6に接着する(パッケージング)。
この接着において、モジュール1の配線層とパッケージ
6の配線層の接続は例えば半田を用いてなす。パッケー
ジ6は図の簡略化のためピンを省略して示す。
6の配線層の接続は例えば半田を用いてなす。パッケー
ジ6は図の簡略化のためピンを省略して示す。
最後に、キャンプ7をパッケージ6に例えば低融点ガラ
スを用いて接着すると第2図に示される半導体集積回路
装置が得られる。
スを用いて接着すると第2図に示される半導体集積回路
装置が得られる。
以上説明したように本発明によれば、両面の段部に電極
が形成された中空枠状のモジュールに、両面にデバイス
が形成されたチップを接着し、かかるモジュールをパッ
ケージに接着することにより両面にデバイスが形成され
たチップがパッケージに封入されるので、半導体集積回
路装置の集積度が従来のものの2倍に増大される効果が
ある。
が形成された中空枠状のモジュールに、両面にデバイス
が形成されたチップを接着し、かかるモジュールをパッ
ケージに接着することにより両面にデバイスが形成され
たチップがパッケージに封入されるので、半導体集積回
路装置の集積度が従来のものの2倍に増大される効果が
ある。
第1図(alと(blは本発明にかかるモジュールの正
面断面図と平面図、第2図はパ・7ケージに封入された
第1図のモジュールの正面断面図、第3図(a)ないし
くe)は本発明の装置の製造工程を示す正面断面図であ
る。 図中、1はモジュール、2はチップ、3a+ 3b。 4a、 4bは電極、5a、 5bはワイヤ、6はパッ
ケージ、6aはキャビティ、7はキャップ、8はピン、
をそれぞれ示す。 特 許 出願人 富士通株式会妊、七代理人 弁理士
松 岡 宏四部二、−δ;2゛第1rM 第2図 ’pt)jb j。
面断面図と平面図、第2図はパ・7ケージに封入された
第1図のモジュールの正面断面図、第3図(a)ないし
くe)は本発明の装置の製造工程を示す正面断面図であ
る。 図中、1はモジュール、2はチップ、3a+ 3b。 4a、 4bは電極、5a、 5bはワイヤ、6はパッ
ケージ、6aはキャビティ、7はキャップ、8はピン、
をそれぞれ示す。 特 許 出願人 富士通株式会妊、七代理人 弁理士
松 岡 宏四部二、−δ;2゛第1rM 第2図 ’pt)jb j。
Claims (1)
- 両面に素子が形成された半導体チップをパッケージに
封入するに際して、中央部分が切欠され内部部分の両面
に複数の段部が設けられたモジュールの前記段部の1個
に半導体チップを接着し、モジュールの他の段部に設け
たモジュール内部の配線層に接続された電極と半導体チ
ップの両面の電極とをそれぞれ接続し、半導体チップが
接着されたモジュールをパッケージに接着してモジュー
ルの配線層とパッケージの配線層とを接続し、キャップ
をパッケージに接着することを特徴とする半導体集積回
路装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59181908A JPS6159860A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59181908A JPS6159860A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6159860A true JPS6159860A (ja) | 1986-03-27 |
JPH0221139B2 JPH0221139B2 (ja) | 1990-05-11 |
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Cited By (9)
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-
1984
- 1984-08-31 JP JP59181908A patent/JPS6159860A/ja active Granted
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JPH0221139B2 (ja) | 1990-05-11 |
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