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JPS6147537B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6147537B2
JPS6147537B2 JP54151461A JP15146179A JPS6147537B2 JP S6147537 B2 JPS6147537 B2 JP S6147537B2 JP 54151461 A JP54151461 A JP 54151461A JP 15146179 A JP15146179 A JP 15146179A JP S6147537 B2 JPS6147537 B2 JP S6147537B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
tomographic image
projection type
image reconstruction
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54151461A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5675143A (en
Inventor
Shoichiro Yamaguchi
Fujio Kobayashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
Original Assignee
TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO filed Critical TOKYO KOGYO DAIGAKUCHO
Priority to JP15146179A priority Critical patent/JPS5675143A/en
Priority to US06/205,909 priority patent/US4422146A/en
Priority to DE19803043982 priority patent/DE3043982A1/en
Publication of JPS5675143A publication Critical patent/JPS5675143A/en
Publication of JPS6147537B2 publication Critical patent/JPS6147537B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は、X線断層像を再構成するための装置
に関し、特に所望の演算処理を施すことによりX
線断層像を再構成できるようにした装置に関す
る。 一般に、工業および医療界において、製品や人
体の内部構造を知るために、X線による検査が広
く行なわれているが、このように製品や人体の内
部構造を知ることのできる装置として従来からX
線コンピユータ断層撮影装置(これを略して
「CT」という。)の開発が盛んである。 ところで、この種の従来のX線コンピユータ断
層撮影装置では、まず第1図に実線で示すごと
く、X線発生装置aからX線被検査体bへ向けて
X線ビーム束を照射することにより、X線検出器
cにてそのX線射影分布を計測し、ついで第1図
に鎖線で示すごとく、X線発生装置aおよびX線
検出器cを所定の角度α(例えば1゜)だけ回転
移動させてこの位置から再度X線ビーム束をX線
被検査体bへ向けて照射することにより、角度α
だけ移動させた場合のX線射影分布を計測し、以
下同様の操作を合計60ないし360回行なつたのち
に、これら多数のX線射影分布から得られたデー
タを、フーリエ変換法や重畳積分布を用いて演算
処理し、その後この処理結果に基づきX線被検査
体bの断層像を再構成することが行なわれてい
る。 しかしながら、このような従来のX線コンピユ
ータ断層撮影装置では、被検査体bの断層像を再
構成するために、多数のX線射影分布を必要と
し、これにより次のような問題点がある。 (1) データ採取に多大の時間を必要とする(数秒
から数分)ため、動く被検査体bについては、
その断層像を再構成することができない。 (2) X線被曝量が多くなるため、被検査体bが人
体のごとき生体の場合には、この生体に悪影響
を与えるおそれがある。 本発明は、これらの問題点を解決しようとする
もので、被検査体の断層像を再構成するためのデ
ータとして2つのX線射影分布を使用するだけ
で、精度のよい再生像を得ることができるように
した複数X線射影式断層像再構成装置を提供する
ことを目的とする。 このため、本発明の複数X線射影式断層像再構
成装置は、X線被検査体Bの断層面を含み且つ縦
にm個横にn個の画素をそなえてなる仮想断層平
面Sについて、複数の方向から単位X線ビームを
照射して複数のX線射影分布を得る複数X線射影
分布を得る複数X線射影式断層像再構成装置であ
つて、第1の単位X線ビームが上記画素のコーナ
ー部を少なくとも1個所は通過するように上記X
線被検査体Bへ向けて所定方向から複数の第1の
単位X線ビームを照射されるとともに、第2の単
位X線ビームが上記画素のコーナー部を少なくと
も1個所は通過するように上記X線被検査体Bへ
向けて他の所定方向から複数の第2の単位X線ビ
ームを照射されるものであり、上記X線被検査体
Bへ向けて上記の第1および第2の単位X線ビー
ムを照射することにより得られた第1のX線射影
分布D1および第2のX線射影分布D2についてそ
れぞれの一端から他端へ向けて複数個のX線濃度
を計測するX線濃度計測装置をそなえ、同X線濃
度計測装置からのX線濃度情報に基づき、上記仮
想断層平面Sを複数の画素よりなる少なくとも2
つの仮想断層平面部分S1,S2に区分し、各仮想断
層平面部分S1,S2を構成する各画素のX線吸収係
数μを演算すべく、第1基本画素1だけを通過す
る第1の単位X線ビームにより得られるX線濃度
を該第1基本画素1のX線吸収係数μとしk番
目(kはmよりも小さく2以上の自然数)までの
画素についてX線濃度dkkからX線濃度dk-1
減算することにより該k番目までの画素のX線吸
収係数μkを順次求める手段と、第2基本画素m
だけを通過する第2の単位X線ビームにより得ら
れるX線濃度を該第2基本画素mのX線吸収係数
μnとしm−k番目までの画素についたX線濃度
n-k+1からX線濃度dn-kを減算することにより
該m−k番目までの画素のX線吸収係数μrn-k
順次求める手段とからなる演算装置を有する射影
変換装置Fが設けられるとともに、同射影変換装
置Fからの信号を受けて上記仮想断層平面Sを構
成する上記N個の各画素1〜mnの位置に上記X
線吸収係数μ〜μnoをあてはめて上記X線被検
査体Bの断層像を再構成する再構成装置Hと、同
再構成装置Hからの出力に基づいて上記X線被検
査体Bの断層像を表示する表示装置Jとが設けら
れたことを特徴としている。 したがつて、本発明の少数X線射影式断層像再
構成装置によれば、データ採取時間を大幅に短縮
できるため、心臓のごとき動くX線被検査体につ
いても鮮明な断層像を再構成できるほか、X線被
曝量が非常に少ないため、X線被検査体が生体の
場合でも、これに悪影響を与えることがない。 以下、図面により本発明の一実施例としての少
数X線射影式断層像再構成装置について説明する
と、第2図はそのX線射影分布の計測手段を示す
模式図、第3図はそのシステム構成図、第4,5
図はいずれもその作用を説明するための模式図で
ある。 第3図(特許請求の範囲に対応する図)に示す
ごとく、X線発生装置AとX線発生検出器Cとの
間に、X線被検査体Bが位置するようになつてい
て、これにより第2図の実線および鎖線で示すご
とくこのX線被検査体Bへ所定の2方向からX線
を照射することができ、その結果X線被検査体B
を透過してきたX線によつて、第1および第2の
X線射影分布D1,D2(第4,5図参照)を得る
ことができるようになつている。 なお、このX線発生装置Aは、第5図に示すご
とく、x軸およびこのx軸に対し同一平面内にお
いて直交するy軸をもつx−y平面内で縦(y軸
方向)にm個横(x軸方向)にn個の画素をそな
えて成る仮想断層平面SについてX線被検査体B
へ向けてx軸に対しθ(=tan-1m/2)の方向か らN/2(=mn/2)本の第1の単位X線ビームを照
射 するとともにx軸に対しθ(=−tan-1m/2)の 方向からN/2本の第2の単位X線ビームを照射する もので、検査の対象となるX線被検査体Bに適合
する線質(透過力)と線量とを有するX線を発生
できるようになつており、この装置Aには、これ
がX線被検査体Bのまわりを所定角度だけ回動で
きるように駆動機構が設けられている。 なお、第1の単位X線ビームおよび第2の単位
X線ビームは画素のコーナー部を少なくとも1個
所は通過するように照射される。 また、発生X線の波長は印加される電圧に比例
し、そのX線の線質はその波長によつて決まるよ
うになつたいて、その印加電圧は、適用用途によ
つて異なり、医学診断に用いるときは5万ボルト
から12万ボルトの範囲で、非破壊検査に用いると
きは10万ボルトから30万ボルトの範囲でそれぞれ
使用される。 X線被検査体Bとは、X線の照射を受け、その
透過線量分布(X線射影分布)を測定されること
によつて、所望の断層面における像を再構成され
るべきものをいい、例えば医学診断の場合は人体
(一般には生体)であり、非破壊検査の場合はい
わゆる工業製品である。 さらに、X線検出器Cとしては、X線フイル
ム、シンチレーシヨン検出器、半導体検出器やキ
セノンガス検出器等が用いられ、このX線検出器
CにもこれがX線被検査体Bのまわりを所定角度
だけ回動できるように駆動機構が設けられてい
る。 ところで、X線検出器Cで得られた第1のX線
射影分布データD1は、X線射影分布測定手段
(X線濃度計測装置)Eにより、上記第1のX線
射影分布D1の一端から他端へ至るまで、相互に
等しい間隔wをあけたmn/2(=N/2)個の位置に
お ける各値dk(1)が計測されるようになつており、
X線発生装置AおよびX線検出器Cを上記状態か
ら移動させることによつて、このX線検出器Cで
得られた第2のX線射影分布データD2は、同じ
くX線射影分布測定手段Eにより、上記第2のX
線射影分布D2の一端から他方へ至るまで、相互
に等しい間隔wをあけたmn/2(=N/2)個の位置
に おける各値dk(2)が計測されるようになつている
(第5図参照)。 このX線射影分布測定手段Eとしては、X線検
出器CがX線フイルムの場合は、このフイルム上
に黒化度の濃淡として得られたX線濃度分布(い
わゆるレントゲン写真)上の複数個の値を計測し
うるマイクロデンシトメータが用いられる。な
お、本発明の場合、X線濃度分布が2つ必要であ
ることから、X線フイルムは2枚必要である。 このように第1および第2のX線射影分布
D1,D2の一端から他端へ至るまで、相互に等し
い間隔wをあけた複数位置における各値dk(1),
k(2)を計測する手段として、上述の例の他に、
X線検出器CがX線被検査体Bを透過してくるX
線を受けてX線濃度に対応する信号を出力するシ
ンチレーシヨン検出器の場合は、1台のシンチレ
ーシヨン検出器とこれを上記第1および第2のX
線射影分布D1,D2の一端から他端へ至るまでそ
れぞれ移動させうる機構とを組合わせたり、多数
のシンチレーシヨン検出器をX線射影分布の全幅
に亘つて配置したりすることが行なわれる。 またX線検出器Cが、同じくX線被検査体Bを
透過してくるX線を受けてX線濃度に対応する信
号を出力する半導体検出器の場合は、上記手段と
して上述のシンチレーシヨン検出器の場合と同様
に、1台の半導体検出器とこれを移動させうる機
構とを組合わせたり、多数の半導体検出器を配設
したりすることが行なわれる。 さらにX線検出器Cがキセノンガス検出器の場
合は、上記手段として上述のシンチレーシヨン検
出器や半導体検出器の場合と同様に、1台のキセ
ノンガス検出器とこれを移動させうる機構とを組
合せたり、多数のキセノンガス検出器を配設した
りすることが行なわれる。 なお、X線検出器Cが1台のシンチレーシヨン
検出器、1台の半導体検出器や1台のキセノンガ
ス検出器と移動機構とを組合わせたものである場
合は、各検出器を2回走査することが行なわれ、
多数のシンチレーシヨン検出器、多数の半導体検
出器や多数のキセノンガス検出器を配設したもの
である場合は、これら多数の検出器にて2回計測
することが行なわれる。 このようにしてマイクロデシントメータ、シン
チレーシヨン検出器や半導体検出器により得られ
た信号は、アナログ信号であるので、これをデイ
ジタルコンピユータへ入力するためにこの信号を
アナログ―デイジタル変換器E′(以下、「A/D
変換器」という。)にてデイジタル信号に変換し
て、その後デイスク等に記憶させることが行なわ
れる。 つぎに、このA/D変換器からのデータ出力d
k(1),dk(2)(デイジタル信号)は、それぞれ射影
変換装置Fへ入力されるようになつている。 この射影変換装置Fは、X線濃度計測装置から
のX線濃度情報に基づき、上記仮想断層平面Sを
複数の画素よりなる少なくとも2つの仮想断層平
面部分S1,S2に区分し、各仮想断層平面部分S1
S2を構成する各画素のX線吸収係数μを演算すべ
く、第1基本画素1だけを通過する第1の単位X
線ビームにより得られるX線濃度を該第1基本画
素1のX線吸収係数μとしk番目(kはmより
小さく2以上の自然数)までの画素についてX線
濃度dkからX線濃度dk-1を減算することにより
該k番目までの画素のX線吸収係数μkを順次求
める手段と、第2基本画素mだけを通過する第2
の単位X線ビームにより得られるX線濃度を該第
2基本画素mのX線吸収係数μnとしn-k番目まで
の画素についてX線濃度dn-k+1からX線濃度dn
−kを減算することにより該m−k番目までの画素
のX線吸収係数μn-kを順次求める手段とからな
る演算装置を有するものである。 なお、その具体例としては、所望のプログラム
を内蔵したデイジタルコンピユータが挙げられ
る。 ここで、第1のX線射影分布D1上にmn/2個の計 測値dk(1)(1次元データ)および第2のX線射
影分布D2上のmn/2個の計測値dk(2)(1次元デー タ)に基づいて、X線被検査体Bの断層面を含ん
だ仮想断層平面Sの構成要素としてのmn個の画
素の各X線吸収係数μk(2次元データ)を求め
る手法について説明する。 第5図に示すごとく、x軸に関して、上半分の
平面を一方の仮想断層平面半部S1とし、下半分の
平面を他方の仮想断層平面半部S2として、x軸に
対し所定の方向θ(=tan-1m/2)から照射され る第1の単位X線ビームがmn/2本あり、同じくx 軸に対し他の所定方向θ(=−tan-1m/2)から 照射される第2の単位X線ビームがmn/2本あると 仮定する。 さらに、仮想断層平面Sを構成すべきmn個の
画素に、第5図に示すような番号を1から順に
mnまで付して、θ方向から照射されるmn/2本の 第1の単位X線ビームが、それぞれmn/2個の画素 1〜m/2,m+1〜3/2m,・・・,(n−1)・
m+1 〜mn−m/2の左下の角を通つてX線検出器Cへ到 達するように上記各画素の位置を決めることによ
つて、一方の仮想断層平面半部S1を決定するとと
もに、θ方向から照射されるmn/2本の第2の単 位X線ビームが、それぞれmn/2個の画素m〜m/2
+ 1,2m〜3/2m+1,・・,mn〜(n−1)・m+ m/2+1の左上の角を通つてX線検出器Cへ到達す るように上記各画素の位置を決めることによつ
て、他方の仮想断層平面半部S2を決定する。 このように各仮想断層平面半部S1,S2が決まる
ことによつて仮想断層平面Sも決まる。 なお、この場合、第1および第2の単位X線ビ
ームの相互間隔(標本点間隔)wが等しくなるよ
うに各単位X線ビームを想定している。 ところで、第1番目の第1の単位X線ビームβ
は画素1(この画素1を第1基本画素という)
だけを通過するため、この第1番目の第1の単位
X線ビームβによつて得られるX線濃度d1(1)と
画素1のX線吸収係数μとの関係がわかつてい
れば、このX線吸収係数μを一義的に求めるこ
とができる。 さらに、第2番目の第1の単位X線ビームβ
は画素1,2だけを通過するため、この第2番目
の第1の単位X線ビームβによつて得られるX
線濃度d2(1)は画素1,2の各X線吸収係数μ
μの両情報を有しているが、上述のごとく、画
素1におけるX線吸収係数μは既にわかつてい
るので、画素2におけるX線吸収係数μもわか
るのである。 以下、ほぼ同様の操作を繰り返してゆくことに
より、順次下へ画素m/2におけるX線吸収係数μ〓 まで求めてゆくことが行なわれる。 また第1番目の第2の単位X線ビームβは画
素m(この画素mを第2基本画素という)だけを
通過するため、この第1番目の第2の単位X線ビ
ームβ1′によつて得られるX線濃度d1(2)と画素m
のX線吸収係数μnとの関係がわかつていれば、
このX線吸収係数μnを一義的に求めることがで
きる。 さらに、第2番目の第2の単位X線ビームβ
2′は画素m,m−1だけを通過するため、この第
2番目の第2の単位X線ビームβ2′によつて得ら
れるX線濃度d2(2)は画素m,m−1の各X線吸収
係数μn,μn-1の両情報を有しているが、上述の
ごとく、画素mにおけるX線吸収係数μnは既に
わかつているので、画素m−1におけるX線吸収
係数μn-1もわかるのである。 以下、ほぼ同様の操作を繰り返えしてゆくこと
により、順次上へ画素m/2+1におけるX線吸収係 数μ〓+1まで求めてゆくことが行なわれる。 このようにして仮想断層平面Sの最左列を構成
する画素1〜mにおけるX線吸収係数μ〜μn
が求まるが、次に第2列を構成する画素m+1〜
2mにおけるX線吸収係数μn+1〜μ2nを求めるに
は、既に求めたX線吸収係数μ〜μnを基にし
て、第m/2+1番目から第3/22番目の第1の単位
X 線ビームβ〓+1〜β〓nから第2列の上半分を構
成する画素m+1〜3/2mにおけるX線吸収係数μn +1 〜μ〓nを前述の第1列上半分の場合とほぼ同
様にして順次求めてゆき、更に第m/2+1番目から 第3/2m番目の第2の単位X線ビームβ′〓+1〜β〓n から第2列下半分を構成する画素2m〜3/2m+1 におけるX線吸収係数μ2n〜μ〓n+1を前述の第
1列下半分の場合とほぼ同様にして順次求めてゆ
くことが行なわれる。 以下、第3列から最右端n列までを構成する画
素のX線吸収係数も、既に求めたX線吸収係数を
基にして、列の上半分を求め更に下半分を求め、
次に右隣りの列の上半分、下半分といつた具合に
順次交互に求めてゆくことが行なわれる。 そして、このようにしてmn個の画素のX線吸
収係数の値がわかれば、X線被検査体Bの断層像
を直ちに再構成できるのである。 このようにしてX線被検査体Bの断層像を再構
成することができるが、上述の射影変換について
の定性的な説明に加えて、数式等を用い定量的に
この射影変換手法について詳述すると、次のよう
になる。 まず、X線被検査体Bの断層像再構成面として
の仮想断層平面S(この仮想断層平面Sは仮想断
層平面半部S1,S2から成る。)を、第5図に示す
ごとく、小さく区分されたmn個の画素からなる
と考え、また平面Sの中心をx―y座標の原点に
とる。 なお、説明の都合上、m,nは偶数とし、1画
素の大きさは△×△の正方形とする。 また、仮想平面Sを通過するX線ビームはθ
=tan-1m/2およびθ=−tan-1m/2を満足する2
方 向から平行に照射するものとし、各単位X線ビー
ムの径は各画素に比べ、十分小さいものとする。 いま、第5図のような順序に従つて各画素に番
号をつけ、その吸収係数をμkで表わし、θ
向から照射し、x−y座標の点(xj,yi)を通
る第1の単位X線ビームによつて得られる射影濃
度をdk(1)とする。 ここで、xj=(−2/2+j−1)・△, yi=m/2−i)・△, (i=1,2,・・,m/2;j=1,2,・・, n),iは行をjは列をそれぞれ表わしている。 また、θ方向の第2の単位X線ビームによつ
て得られる射影濃度dk(2)とすれば、次式が得ら
れる。 ただし、θ方向のX線ビームは 点xj=(−n/2+j−1)・△, yi=(−m/2+i)・△, k=(j−1)・m+i, (i=1,2,・・,m/2;j=1,2,・・,n) を通るものとする。 Lμ=D…(1) μ=(μ,μ,μ,・・・,μnoT D=(d1(1),d2(1),・・・,d〓(1), d1(2),d2(2),・・・,d〓(2))T/α
であり、Lはmn×mnの正方行列である。 また、αはθ,θ方向のX線ビームが1画
素を透過する長さで、 α=△√1+2 =△√1+2 であり、記号Tは転置を表わしている。 いま、前述の如く、mn=Nとおく。 式(1)を解くとX線被検査体Bの断層2次元デー
タμkがX線濃度情報と、画素を透過する単位X
線ビームの長さ情報とに基づき、射影変換装置F
にて算出される。しかし、一般には測定誤差が含
まれる。 そこで、数理計画法を用いるために非負の補正
値γ,γ,γ,・・・γNを導入する。 また、物体を透過するX線ビームの吸収係数は
一般には、非負でかつ物理的に定まる正の上限値
Uを超えないので、それらの制約条件を付加して
式(1)を次のように表わす。
The present invention relates to an apparatus for reconstructing an X-ray tomographic image, and in particular to an apparatus for reconstructing an X-ray tomographic image by performing desired arithmetic processing.
The present invention relates to a device capable of reconstructing line tomographic images. In general, in the industrial and medical world, X-ray inspections are widely used to determine the internal structure of products and the human body.
Linear computerized tomography equipment (abbreviated as "CT") is being actively developed. By the way, in this type of conventional X-ray computerized tomography apparatus, first, as shown by the solid line in FIG. The X-ray projection distribution is measured by the X-ray detector c, and then, as shown by the chain line in FIG. 1, the X-ray generator a and the X-ray detector c are rotated by a predetermined angle α (for example, 1°). By irradiating the X-ray beam toward the X-ray inspection object b again from this position, the angle α is
After measuring the X-ray projection distribution when the distribution is moved by Arithmetic processing is performed using cloth, and then a tomographic image of the X-ray subject b is reconstructed based on the processing results. However, such a conventional X-ray computer tomography apparatus requires a large number of X-ray projection distributions in order to reconstruct a tomographic image of the subject b, which causes the following problems. (1) Since it takes a long time to collect data (several seconds to several minutes), for moving object b,
The tomographic image cannot be reconstructed. (2) Since the amount of X-ray exposure increases, if the subject b is a living body such as a human body, there is a risk of adverse effects on the living body. The present invention aims to solve these problems, and it is possible to obtain a highly accurate reconstructed image by simply using two X-ray projection distributions as data for reconstructing a tomographic image of a subject. An object of the present invention is to provide a multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device that can perform the following. For this reason, the multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus of the present invention has a virtual tomographic plane S that includes the tomographic plane of the X-ray subject B and has m pixels vertically and n pixels horizontally. A multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device that obtains multiple X-ray projection distributions by irradiating unit X-ray beams from multiple directions, wherein the first unit X-ray beam is The above X should pass through at least one corner of the pixel.
A plurality of first unit X-ray beams are irradiated toward the object B to be inspected from a predetermined direction, and the X-ray The object B to be inspected is irradiated with a plurality of second unit X-ray beams from another predetermined direction, and the first and second units X are directed toward the object B to be inspected. X-rays for measuring a plurality of X-ray densities from one end to the other end of each of the first X-ray projection distribution D 1 and the second X-ray projection distribution D 2 obtained by irradiating a ray beam. A density measuring device is provided, and based on the X-ray density information from the X-ray density measuring device, the virtual tomographic plane S is divided into at least two
In order to calculate the X-ray absorption coefficient μ of each pixel constituting each virtual tomographic plane portion S 1 , S 2 , the first basic pixel 1 passes through only the first basic pixel 1. If the X-ray density obtained by one unit X-ray beam is the X-ray absorption coefficient μ of the first basic pixel 1 , then the X-ray density dkk for the pixels up to the kth (k is a natural number smaller than m and 2 or more) means for sequentially obtaining the X-ray absorption coefficient μ k of the k-th pixel by subtracting the X-ray density d k -1 from the second basic pixel m;
Let the X-ray density obtained by the second unit X-ray beam passing only through the second basic pixel m be the X-ray absorption coefficient μ n of the second basic pixel m, and the X-ray density of the pixels up to the m-kth pixel d n-k+1 A projective transformation device F is provided which has an arithmetic unit consisting of means for sequentially obtaining the X-ray absorption coefficient μ rn-k of the m-kth pixel by subtracting the X-ray density d nk from the projection transformation device F. In response to the signal from the conversion device F, the X
a reconstruction device H that reconstructs the tomographic image of the X-ray subject B by applying linear absorption coefficients μ 1 to μ no ; and a reconstruction device H that reconstructs the tomographic image of the X-ray subject B based on the output from the reconstruction device It is characterized by being provided with a display device J that displays tomographic images. Therefore, according to the small number of X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus of the present invention, the data acquisition time can be significantly shortened, so that a clear tomographic image can be reconstructed even for a moving X-ray object such as a heart. In addition, since the amount of X-ray exposure is very small, even if the subject to be examined by X-rays is a living body, there will be no adverse effect on it. Below, a small number of X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus as an embodiment of the present invention will be explained with reference to the drawings. FIG. 2 is a schematic diagram showing the measuring means of the X-ray projection distribution, and FIG. 3 is the system configuration. Figure, 4th and 5th
All figures are schematic diagrams for explaining the effects. As shown in FIG. 3 (a diagram corresponding to the claims), an X-ray inspection object B is positioned between an X-ray generation device A and an X-ray generation detector C. As shown by solid lines and chain lines in FIG. 2, X-rays can be irradiated from two predetermined directions to the
The first and second X-ray projection distributions D 1 and D 2 (see FIGS. 4 and 5) can be obtained by the X-rays that have passed through the X-rays. As shown in Fig. 5, this X-ray generator A has m units vertically (in the y-axis direction) within the x-y plane, which has an x-axis and a y-axis perpendicular to the x-axis within the same plane. X-ray inspection object B about a virtual tomographic plane S having n pixels horizontally (x-axis direction)
N/2 ( = mn/2) first unit X-ray beams are irradiated from the direction of θ 1 (=tan -1 m/2) with respect to the x-axis toward It irradiates N/2 second unit X-ray beams from the direction of = -tan -1 m/2), and the radiation quality (penetration power) is suitable for the X-ray inspection object B to be inspected. This apparatus A is equipped with a drive mechanism so that it can rotate around the X-ray subject B by a predetermined angle. Note that the first unit X-ray beam and the second unit X-ray beam are irradiated so as to pass through at least one corner of the pixel. In addition, the wavelength of the generated X-rays is proportional to the applied voltage, and the quality of the X-rays has come to be determined by the wavelength. When used, it is used in the range of 50,000 volts to 120,000 volts, and when used for non-destructive testing, it is used in the range of 100,000 volts to 300,000 volts. X-ray inspection object B refers to an object that is irradiated with X-rays and whose transmitted dose distribution (X-ray projection distribution) is measured to reconstruct an image in a desired tomographic plane. For example, in the case of medical diagnosis, it is a human body (generally a living body), and in the case of non-destructive testing, it is a so-called industrial product. Furthermore, as the X-ray detector C, an X-ray film, a scintillation detector, a semiconductor detector, a xenon gas detector, etc. are used. A drive mechanism is provided to allow rotation by a predetermined angle. By the way, the first X-ray projection distribution data D1 obtained by the X-ray detector C is determined by the X-ray projection distribution measuring means (X-ray density measuring device) E. From one end to the other, each value d k (1) at mn/2 (=N/2) positions spaced at equal intervals w is measured,
By moving the X-ray generator A and the X-ray detector C from the above state, the second X-ray projection distribution data D 2 obtained by this X-ray detector C can be obtained from the same X-ray projection distribution measurement. By means E, the second X
From one end of the line projection distribution D 2 to the other, each value d k (2) at mn/2 (=N/2) positions spaced at equal intervals w is measured. (See Figure 5). When the X-ray detector C is an X-ray film, the X-ray projection distribution measuring means E may be used to measure a plurality of X-ray density distributions (so-called X-ray photographs) obtained as darkening degrees on this film. A microdensitometer is used that can measure the value of . In the case of the present invention, since two X-ray density distributions are required, two X-ray films are required. In this way, the first and second X-ray projection distribution
From one end of D 1 and D 2 to the other, each value d k (1) at a plurality of positions spaced at equal intervals w,
In addition to the above example, as a means of measuring d k (2),
X-ray detector C transmits X-rays passing through X-ray inspection object B
In the case of a scintillation detector that receives radiation and outputs a signal corresponding to the X-ray concentration, one scintillation detector is connected to the first and second X-ray detectors.
It is possible to combine a mechanism that can move each of the ray projection distributions D 1 and D 2 from one end to the other, or to arrange a large number of scintillation detectors over the entire width of the X-ray projection distribution. It can be done. Furthermore, in the case where the X-ray detector C is a semiconductor detector that receives X-rays transmitted through the X-ray inspection object B and outputs a signal corresponding to the X-ray concentration, the above-mentioned scintillation detection can be used as the above-mentioned means. As in the case of detectors, one semiconductor detector and a mechanism for moving it may be combined, or a large number of semiconductor detectors may be arranged. Furthermore, when the X-ray detector C is a xenon gas detector, the above means includes one xenon gas detector and a mechanism for moving it, as in the case of the scintillation detector or semiconductor detector described above. Combinations and the arrangement of multiple xenon gas detectors may be used. In addition, if X-ray detector C is a combination of one scintillation detector, one semiconductor detector, or one xenon gas detector and a moving mechanism, each detector should be operated twice. scanning is performed,
If a large number of scintillation detectors, a large number of semiconductor detectors, or a large number of xenon gas detectors are provided, measurements are performed twice using these multiple detectors. The signals obtained in this way by the microdecintometer, scintillation detector, and semiconductor detector are analog signals, so in order to input them to a digital computer, this signal is converted to an analog-to-digital converter E' ( Below, “A/D
called a converter. ) is converted into a digital signal and then stored on a disk or the like. Next, data output d from this A/D converter
k (1) and d k (2) (digital signals) are respectively input to the projective transformation device F. This projective transformation device F divides the virtual tomographic plane S into at least two virtual tomographic plane parts S 1 and S 2 each consisting of a plurality of pixels based on the X-ray density information from the X-ray density measuring device, and Fault plane part S 1 ,
In order to calculate the X-ray absorption coefficient μ of each pixel constituting S 2 , the first unit X that passes only through the first basic pixel 1
Assuming that the X-ray density obtained by the ray beam is the X-ray absorption coefficient μ of the first basic pixel 1, the X-ray density d k to the means for sequentially obtaining the X-ray absorption coefficient μ k of the pixel up to the k-th pixel by subtracting k-1 ;
Let the X-ray density obtained by the unit X-ray beam be the X-ray absorption coefficient μ n of the second basic pixel m, and the X-ray density d n-k+1 to the X-ray density d n for the pixels up to the nkth pixel.
-k to sequentially obtain the X-ray absorption coefficient μ nk of the m-k pixels. Note that a specific example thereof is a digital computer containing a desired program. Here, mn/2 measured values d k ( 1 ) (one-dimensional data) on the first X-ray projection distribution D 1 and mn/2 measured values on the second X-ray projection distribution D 2 d k (2) (one-dimensional data), each X-ray absorption coefficient μ k (two-dimensional We will explain the method for obtaining data). As shown in FIG. 5, with respect to the x-axis, the upper half plane is defined as one virtual tomographic plane half part S 1 , and the lower half plane is defined as the other virtual tomographic plane half part S 2 , in a predetermined direction relative to the x-axis. There are mn/2 first unit X-ray beams irradiated from θ 1 (=tan -1 m/2), and also in another predetermined direction θ 2 (=-tan -1 m/2) with respect to the x axis. Assume that there are mn/2 second unit X-ray beams irradiated from. Furthermore, the mn pixels that should constitute the virtual tomographic plane S are numbered sequentially starting from 1 as shown in Figure 5.
mn/2 first unit X-ray beams irradiated from θ 1 direction, mn/2 pixels 1 to m/2, m+1 to 3/2 m, . . . (n-1)・
By determining the position of each of the above pixels so that they reach the X-ray detector C through the lower left corner of m+1 to mn-m/2, one virtual tomographic plane half S1 is determined, and θ The mn/2 second unit X-ray beams irradiated from two directions are applied to mn/2 pixels m to m/2, respectively.
The position of each pixel is determined so that it reaches the X-ray detector C through the upper left corner of +1,2m~3/2m+1,...,mn~(n-1)・m+m/2+1. Therefore, the other virtual tomographic plane half S2 is determined. By determining each of the virtual tomographic plane halves S 1 and S 2 in this way, the virtual tomographic plane S is also determined. In this case, each unit X-ray beam is assumed to have the same mutual interval (sample point interval) w between the first and second unit X-ray beams. By the way, the first unit X-ray beam β
1 is pixel 1 (this pixel 1 is called the first basic pixel)
Understand the relationship between the X-ray density d 1 (1) obtained by this first unit X-ray beam β 1 and the X-ray absorption coefficient μ 1 of pixel 1. For example, this X-ray absorption coefficient μ 1 can be uniquely determined. Furthermore, the second first unit X-ray beam β 2
passes only through pixels 1 and 2, so the X obtained by this second first unit X-ray beam β2
The linear density d 2 (1) is the X-ray absorption coefficient μ 1 of pixels 1 and 2,
As mentioned above , since the X-ray absorption coefficient μ 1 at pixel 1 is already known, the X-ray absorption coefficient μ 2 at pixel 2 is also known. Thereafter, by repeating almost the same operations, the X-ray absorption coefficient μ〓 at the pixel m/2 is successively determined downward. In addition, since the first second unit X-ray beam β 1 passes only through the pixel m (this pixel m is called the second basic pixel), the first second unit X-ray beam β 1 ' The resulting X-ray density d 1 (2) and pixel m
If we know the relationship between the X-ray absorption coefficient μ n and
This X-ray absorption coefficient μ n can be uniquely determined. Furthermore, a second second unit X-ray beam β
2 ' passes only through pixels m, m-1, so the X-ray density d 2 (2) obtained by this second second unit X-ray beam β 2 ' passes through pixels m, m-1 However, as mentioned above, since the X - ray absorption coefficient μ n at pixel m is already known, the X-ray absorption coefficient at pixel m-1 is The absorption coefficient μ n-1 can also be determined. Thereafter, by repeating almost the same operations, the X-ray absorption coefficient μ〓 +1 at the pixel m/2+1 is successively determined. In this way, the X-ray absorption coefficients μ 1 to μ n in pixels 1 to m constituting the leftmost column of the virtual tomographic plane S
is found, and then the pixels m+1 to composing the second column are determined.
To obtain the X-ray absorption coefficients μ n+1 to μ 2n at 2 m, based on the already determined X-ray absorption coefficients μ 1 to μ n , calculate the first From the unit X-ray beam β〓 +1 ~ β〓 n, the X-ray absorption coefficient μ n +1 ~ μ〓 n in the pixels m+1 ~ 3/2 m constituting the upper half of the second row is calculated from the above-mentioned upper half of the first row. The second unit X-ray beams from the m /2 + 1th to the 3/2mth unit The X-ray absorption coefficients μ 2n to μ〓 n+1 in 2 m to 3/2 m+1 are sequentially determined in substantially the same manner as in the case of the lower half of the first row described above. Hereinafter, for the X-ray absorption coefficients of the pixels composing the third column to the rightmost n columns, the upper half of the columns is determined, and the lower half is determined, based on the already determined X-ray absorption coefficients.
Next, the upper half and lower half of the column on the right are alternately calculated. If the values of the X-ray absorption coefficients of the mn pixels are known in this way, the tomographic image of the X-ray subject B can be immediately reconstructed. In this way, the tomographic image of the X-ray subject B can be reconstructed, but in addition to the qualitative explanation of the projective transformation described above, this projective transformation method will be described in detail quantitatively using mathematical formulas, etc. Then, it becomes as follows. First, as shown in FIG. 5, a virtual tomographic plane S (this virtual tomographic plane S consists of virtual tomographic plane halves S 1 and S 2 ) as a tomographic image reconstruction plane of the X-ray subject B is It is assumed that it consists of mn pixels divided into small sections, and the center of the plane S is taken as the origin of the xy coordinates. For convenience of explanation, m and n are assumed to be even numbers, and the size of one pixel is assumed to be a square of △×△. Also, the X-ray beam passing through the virtual plane S is θ 1
2 that satisfies = tan -1 m/2 and θ 2 = -tan -1 m/2
It is assumed that the beams are irradiated in parallel from all directions, and the diameter of each unit X-ray beam is sufficiently smaller than that of each pixel. Now, number each pixel in the order shown in Figure 5, express its absorption coefficient by μ k , and irradiate it from one direction θ, passing through the x-y coordinate point (x j , y i ). Let d k (1) be the projected density obtained by the first unit X-ray beam. Here, x j =(-2/2+j-1)・△, y i =m/2-i)・△, (i=1,2,...,m/2; j=1,2,・, n), i represents the row and j represents the column, respectively. Further, if the projected density obtained by the second unit X-ray beam in the θ2 direction is d k (2), then the following equation is obtained. However, the X-ray beam in the two directions of θ is at the point x j = (-n/2+j-1)・△, y i =(-m/2+i)・△, k=(j-1)・m+i, (i= 1, 2,..., m/2; j=1, 2,..., n). Lμ=D…(1) μ = (μ 1 , μ 2 , μ 3 , ..., μ no ) T D = (d 1 (1), d 2 (1), ..., d〓(1), d 1 (2) ,d 2 (2),...,d〓(2)) T
, and L is an mn×mn square matrix. Further, α is the length through which the X-ray beam in the θ 1 and θ 2 directions passes through one pixel, α=Δ√1+ 2 1 =Δ√1+ 2 2 , and the symbol T represents transposition. Now, as mentioned above, let mn=N. Solving equation (1), the tomographic two-dimensional data μ k of the X-ray inspected object B becomes the X-ray concentration information and the unit X that passes through the pixel.
Based on the length information of the line beam, the projective transformation device F
Calculated by However, measurement errors are generally included. Therefore, in order to use mathematical programming, non-negative correction values γ 1 , γ 2 , γ 3 , . . . γ N are introduced. In addition, since the absorption coefficient of an X-ray beam transmitted through an object is generally non-negative and does not exceed a physically determined positive upper limit U, equation (1) can be modified as follows by adding these constraints. represent

【表】
P =d(2)/α、P =d(2)/α、
+1 +2
………、p=d(2)/αである。

式(3)の制約条件式のもとに目的関数 を最小とする解を数理計画法によつて求めると、
有限回の計算後には最適な2次元データμkが算
出されるのである。 上例では、制約条件式における補正値の絶対値
の総和を最小にする目的関数のもとに断層像の2
次元データμkを算出したが、それに対して次の
式(5)の制約条件式のもとに式(6)の目的関数を最小
とする方法もある。
[ Table ] -2-2
P N = d 1 (2)/α, P N = d 2 (2)/α,
- 2 +1 - 2 +2
......, p N =d N (2)/α.
-2 _
The objective function is calculated based on the constraint formula of equation (3). Using mathematical programming, we find a solution that minimizes
After a finite number of calculations, the optimal two-dimensional data μ k is calculated. In the above example, the two tomographic images are calculated based on the objective function that minimizes the sum of the absolute values of the correction values in the constraint expression.
Although the dimensional data μ k has been calculated, there is also a method of minimizing the objective function of Equation (6) based on the constraint expression of Equation (5) below.

【表】 上式を解けば、制約条件式における絶対値の最
大補正値が最小となる条件のもとに、X線被検査
体Bの断層2次元データμkが算出されるのであ
る。 さらに、式(3)の制約条件式のもとに目的関数 を最小とする方法、あるいは、式(5)の制約条件式
のもとに目的関数 F=γ…(8) を最小とする方法によつて実施することも可能で
ある。 ところで、第4図に示すごとく、X線被検査体
Bを含む仮想断層平面Sを考え、θ(=
tan-1m)方向から照射されるmn本の単位X線ビ
ームが、この平面Sを構成する各画素の左下の角
が通つてX線検出器Cへ到達するようにすると、
単一のX線射影分布D(第4図破線)から上述の
理論式を用いて2次元データとしての各画素のX
線吸収係数を求めることができるが、このような
単一のX線射影分布Dに基づく手段では標本点間
隔w′が本発明のごとく2つのX線射影分布D1
D2(第4図実線)に基づく手段での標本間隔w
より狭くなる。 したがつて、仮想平面を構成する画素の数が多
くなつてくると、単一のX線射影分布Dに基づく
手段では、標本間隔w′が非常に小さくなり、1
次元データを計測する上での分解能の問題が起き
てくる。 これに対して、本発明の装置によれば、標本間
隔wが前記標本間隔w′に比べて広くなつている
ので、1次元データを計測する上での分解能が大
幅に向上し、ひいては再構成像の再生精度も向上
するものである。 このようにして得られた2次元データμkは、
それぞれ第3図に示す3次元内部構造記憶装置G
に転送される。 この3次元内部構造記憶装置Gとは、射影変換
装置Fから転送されてくる断層像構成用2次元デ
ータμkを時系列的に記憶し、さらにX線被検査
体Bの3次元内部構造データを算出するメモリを
いう。 ところで、射影変換装置Fから初めて送られて
くる2次元データμkは、X線被検査体Bのある
断面についてのものであるが、X線射影分布測定
手段Eで測定個所を変えることによつて他のX線
射影分布D1′,D2′を得、これにより他の断面につ
いての2次元データμk′が容易に得られるから、
異なつたいくつかの断面について2次元データμ
k,μk′,μk″・・・を集積することによつてX
線被検査体Bの3次元的な内部構造を記憶させる
ことが可能になるが、完全な3次元内部構造を構
成するためには、各断面データ間の補間等が必要
になるので、そのための算出機能を保有したメモ
リ装置として本メモリGが使用される。 このメモリGには、任意断層像構成装置Hが接
続されており、この任意断層像構成装置Hは、メ
モリGに記憶されているX線被検査体Bの3次元
内部構造データからこのX線被検査体Bの指定さ
れた任意断面についての2次元データを選択抽出
して断層像を構成する装置である。 なお、ここでいう任意断面とは、X線被検査体
Bの水平、垂直あるいは斜め方向等の断面を指す
ものである。 このようにしてこの任意断層像構成装置(再構
成装置)Hによつて得られる任意断層像の2次元
データは、X線射影分布測定手段Eで求めたX線
射影分布をもとにして一貫して数学的に矛盾なく
算出されてきたものであるから、これを適宜のデ
イジタル―アナログ変換器F′(以下「D/A変
換器」という。)を介し任意断層像表示装置Jへ
送つて仮想断層平面Sを構成するN個の各画素1
〜mnの位置にX線吸収係数μ〜μnoをあては
めて表示すれば、各2次元データからX線被検査
体Bの断層像を表示することが可能となるが、こ
の像では雑音やボケ等の画質劣下の要素も含まれ
ているので、好適な画像が得られるという保証は
ない。 したがつて、この任意断層像構成装置Hからの
データを修正するため、このデータは任意断層像
画質改善装置Iへ送られる。 この任意断層像画質改善装置Iは、任意の断層
像構成装置Hから送られてきた任意断層像データ
についての雑音の除去、平滑化および尖鋭度の強
調等を施して画像の質を向上させるもので、雑音
の除去用としてはデイジタルフイルタが用いら
れ、平滑化用としては平滑化回路が用いられ、尖
鋭度の強調用としては微分回路が用いられる。 このようにして画質を改善された信号はD/A
変換器F′を介して上記任意断層像表示装置Jへ
送られる。 この任意断層像表示装置Jは、任意断層像画質
改善装置Iから送られてくる信号を受けてカラー
または黒白の陰極線管(ブラウン管)モニタ上に
X線被検査体Bの任意断層像を可視像として表示
する装置をいい、一般的には上述のごとくブラウ
ン管が使用される。 上述の構成により、X線被検査体Bの断層像を
再構成するには、まずX線発生装置AよりX線被
検査体Bへ所定方向θからX線を照射すること
によりX線検出器Cで得られた第1のX線射影分
布D1について、X線射影分布測定手段Eを用い
て、上記第1のX線射影分布D1の一端から等し
い相互間隔wをあけたmn/2個の位置での各値dk(1) を上記第1のX線射影分布D1の他端へ至るまで
計測することにより、第1の1次元データdk(1)
が求められるとともに、X線発生装置AよりX線
被検査体Bへ他の所定方向θからX線を照射す
ることによりX線検出器Cで得られた第2のX線
射影分布D2について、X線射影分布測定手段E
を用いて、上記第2のX線射影分布D2の一端か
ら等しい相互間隔wをあけたmn/2個の位置での各 値dk(2)を上記第2のX線射影分布D2の他端へ至
るまで計測することにより、第2の1次元データ
k(2)が求められる。 ついで、これらの1次元データdk(1),dk(2)は
適宜アナログ―デイジタル変換されてから、射影
変換装置Fにて、前述の手法を用いて、一方およ
び他方の仮想断層平面半部S1,S2からなる仮想断
層平面Sにおけるmn個の画素の各X線吸収係数
μk(2次元データ)が求められる。 その後、これらの2次元データμkは、メモリ
G、任意断層像構成装置H、任意断層像画質改善
装置IおよびD/A変換器F′を経由して、任意
断層像表示装置Jで、X線被検査体Bの断層像と
して再構成表示されるのである。 第6図は本発明の他の実施例としての複数X線
射影式断層像再構成装置の作用を説明するための
模式図であり、第6図中、第2〜5図と同じ符号
はほぼ同様の部分を示している。 この他の実施例の場合も、X線被検査体Bの断
層像再構成面としての仮想断層平面Sを、第6図
に示すごとく、小さく区分されたmn個の画素1
〜mnからなると考え、また平面Sの中心をx−
y座標の原点にとり、説明の都合上m,nは偶数
とし、1画素の大きさは△×△の正方形とする。 また、仮想平面Sを通過するX線ビームは、前
述の実施例の場合とは異なり、θ=tan-1mお
よびθ=−tan-1mを満足する2方向から平行
にmn/2本づつ照射するものとする。 そして、これらの2方向(θ,θ)からの
X線ビームはX線発生装置Aから照射される。 なお、各単位X線ビームの径は各画素に比べ、
十分小さいものとする。 このように、X線を照射する所定の2方向をθ
,θのような方向にとると、前述の(1)式は次
式のようになる。 L′μ=γD′…(9) μ=(μ,μ,μ・・・,μnoT D′=(d1(3),d2(3),・・・,d〓(3), d1(4),d2(4),・・・,d〓(4))T/α′ である。 なお、dk(3)はθ方向からX線を照射するこ
とにより得られた計測値、dk(4)はθ方向から
X線を照射することにより得られた計測値をそれ
ぞれ表わしている。 また、α′はθ、,θ方向のX線ビームが
1画素を透過する長さで、 α′=△√1+2 =△√1−2 であり、記号Tは転置を表わしている。 この式(9)を解くと、前述の実施例の場合とほぼ
同様にしてX線被検査体Bの断層2次元データμ
hを算出することができるが、しかし一般には測
定誤差が含まれているので、前述の実施例の場合
と同様に数理計画法を用いて再構成時の誤差を最
小にすることが行なわれる。 このようにして得られた2次元データとしての
X線吸収係数μkに対応した信号は、メモリG、
任意断層像構成装置H、任意断層像画質改善装置
IおよびD/A変換器F′を経由して、任意断層
像表示装置JでX線被検査体Bの断層像として再
構成表示されるのである。 ところで、第4図に示すごとく、X線被検査体
Bを含む仮層断層平面Sを考え、θ(=
tan-1m)方向から照射されるmn本の単位X線ビ
ームが、この平面Sを構成する各画素の左下の角
を通つてX線検出器Cへ到達するようにすると、
単一のX線射影分布D(第4図破線)から2次元
データとしての各画素のX線吸収係数を求めるこ
とができるのは、前述のとおりであるが、このよ
うな単一のX線射影分布Dに基づく手段では、標
本点間隔w′が、この他の実施例のごとく2つの
X線射影分布D3,D4(第6図参照)に基づく手
段での標本間隔w″の半分になる。 なぜなら、この他の実施例の手段では、第6図
に実線で示すX線ビームが、単一のX線射影分布
Dに基づく手段でのX線ビームの照射方向と一致
しており、しかも単位X線ビームの間隔が単一の
X線射影分布Dに基づく手段での単位X線ビーム
の間隔の2倍になつているからである。なお、第
6図に破線で示すX線ビームは、その照射方向θ
が−θで、その照射間隔が同図に実線で示すX
線ビームの照射間隔と同じであるから、この第6
図に破線で示すX線ビームについても上述のこと
と同様のことがいえるのである。 したがつて、この他の実施例の場合も、前述の
実施例の場合と同様に、1次元データを計測する
上での分解能が大幅に向上し、ひいては再生像の
再生精度も向上するのである。 以上詳述したように、本発明の複数X線射影式
断層像再構成装置によれば、所定の2方向からX
線を照射することにより得られた2つのX線射影
分布D1,D2;D3,D4からX線被検査体Bの断層
像を再構成することができるので、次のような効
果ないし利点が得られる。 (1) データ採取の時間が非常に短くてすむため、
動くX線被検査体B(例えば心臓)について
も、十分な精度でその断層像を鮮明に再構成す
ることができる。 (2) X線被曝量が非常に少ない(従来の手段に比
べ数十分の1ないし数百分の1)ため、X線被
検査体Bが生体の場合でも、悪影響を与えるこ
とがない。
[Table] By solving the above equation, the tomographic two-dimensional data μ k of the X-ray inspected object B can be calculated under the condition that the maximum correction value of the absolute value in the constraint condition equation is the minimum. Furthermore, the objective function is It is also possible to carry out the method by minimizing the objective function F=γ 2 (8) based on the constraint expression (5). By the way, as shown in FIG. 4, considering a virtual tomographic plane S including the X-ray subject B, θ(=
If mn unit X-ray beams irradiated from the tan -1 m) direction reach the X-ray detector C through the lower left corner of each pixel constituting this plane S, then
From a single X-ray projection distribution D (dashed line in Figure 4), the X of each pixel as two-dimensional data is calculated using the above theoretical formula.
Linear absorption coefficients can be determined, but in such a method based on a single X-ray projection distribution D, the sample point interval w' is determined by two X-ray projection distributions D 1 ,
Sample interval w using means based on D 2 (solid line in Figure 4)
becomes narrower. Therefore, as the number of pixels constituting a virtual plane increases, with a method based on a single X-ray projection distribution D, the sample interval w' becomes extremely small, and 1
The problem of resolution arises when measuring dimensional data. On the other hand, according to the apparatus of the present invention, since the sample interval w is wider than the sample interval w', the resolution in measuring one-dimensional data is greatly improved, and as a result, the reconstruction Image reproduction accuracy is also improved. The two-dimensional data μ k obtained in this way is
Three-dimensional internal structure storage device G shown in FIG.
will be forwarded to. This three-dimensional internal structure storage device G stores in time series the two-dimensional data μ k for tomographic image construction transferred from the projective transformation device F, and also stores the three-dimensional internal structure data of the X-ray inspection object B. This refers to the memory that calculates . By the way, the two-dimensional data μ k sent for the first time from the projective transformation device F is about a certain cross section of the X-ray inspected object B, but it can be changed by changing the measurement location with the X-ray projection distribution measuring means E. Then, other X-ray projection distributions D 1 ′ and D 2 ′ are obtained, and from this, two-dimensional data μ k ′ for other cross sections can be easily obtained.
Two-dimensional data μ for several different cross sections
By integrating k , μ k ′, μ k ″...
Although it is possible to memorize the three-dimensional internal structure of the line-inspected object B, in order to construct a complete three-dimensional internal structure, interpolation between each cross-sectional data is required. This memory G is used as a memory device having a calculation function. An arbitrary tomographic image constructing device H is connected to this memory G, and this arbitrary tomographic image constructing device H uses the three-dimensional internal structure data of the X-ray inspected object B stored in the memory This is an apparatus that selectively extracts two-dimensional data regarding a specified arbitrary cross section of the object B to be inspected to construct a tomographic image. Note that the arbitrary cross section here refers to a cross section of the X-ray inspected object B in a horizontal, vertical, or diagonal direction. In this way, the two-dimensional data of any tomographic image obtained by this arbitrary tomographic image constructing device (reconstruction device) H is consistent based on the X-ray projection distribution obtained by the X-ray projection distribution measuring means E. Since it has been calculated mathematically without contradiction, it is sent to an arbitrary tomographic image display device J via an appropriate digital-to-analog converter F' (hereinafter referred to as "D/A converter"). Each of N pixels 1 constituting the virtual tomographic plane S
By applying and displaying the X-ray absorption coefficients μ 1 to μ no to the positions of ~mn, it is possible to display a tomographic image of the X-ray subject B from each two-dimensional data, but this image is free from noise and noise. Since it includes elements that degrade image quality such as blur, there is no guarantee that a suitable image will be obtained. Therefore, in order to correct the data from this optional tomographic image construction device H, this data is sent to the optional tomographic image quality improvement device I. This arbitrary tomographic image quality improvement device I improves image quality by removing noise, smoothing, and emphasizing sharpness of arbitrary tomographic image data sent from an arbitrary tomographic image construction device H. A digital filter is used for removing noise, a smoothing circuit is used for smoothing, and a differential circuit is used for emphasizing sharpness. The signal whose image quality has been improved in this way is D/A
It is sent to the arbitrary tomographic image display device J via the converter F'. This arbitrary tomographic image display device J receives a signal sent from the arbitrary tomographic image quality improvement device I and displays an arbitrary tomographic image of the X-ray subject B on a color or black and white cathode ray tube (braun tube) monitor. A device that displays images, and as mentioned above, cathode ray tubes are generally used. With the above configuration, in order to reconstruct a tomographic image of the X-ray inspection object B, first, X-ray detection is performed by irradiating X-rays from the X-ray generator A to the X-ray inspection object B from a predetermined direction θ 1 . Regarding the first X-ray projection distribution D 1 obtained with instrument C, using the X-ray projection distribution measuring means E, mn/ By measuring each value d k (1) at two positions until reaching the other end of the first X-ray projection distribution D 1 , the first one-dimensional data d k (1)
is obtained, and a second X-ray projection distribution D 2 obtained by the X-ray detector C by irradiating X-rays from the X-ray generator A to the X-ray inspection object B from another predetermined direction θ 2 Regarding, X-ray projection distribution measuring means E
Using , each value d k (2) at mn/2 positions spaced at equal mutual intervals w from one end of the second X-ray projection distribution D 2 is expressed as the second X-ray projection distribution D 2 . By measuring until the other end is reached, second one-dimensional data d k (2) is obtained. Next, these one-dimensional data d k (1), d k (2) are appropriately analog-digital converted, and then converted into one and the other virtual tomographic plane halves using the above-mentioned method in the projective conversion device F. Each X-ray absorption coefficient μ k (two-dimensional data) of mn pixels in the virtual tomographic plane S consisting of parts S 1 and S 2 is determined. Thereafter, these two-dimensional data μ k are transmitted to an arbitrary tomographic image display device J via a memory G, an arbitrary tomographic image construction device H, an arbitrary tomographic image quality improvement device I, and a D/A converter F′. The line is reconstructed and displayed as a tomographic image of the object B to be inspected. FIG. 6 is a schematic diagram for explaining the operation of a multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus as another embodiment of the present invention, and in FIG. 6, the same symbols as in FIGS. Similar parts are shown. In the case of other embodiments as well, a virtual tomographic plane S as a tomographic image reconstruction plane of the X-ray subject B is divided into mn pixels 1 divided into small sections as shown in FIG.
〜mn, and the center of the plane S is x−
The origin of the y coordinate is assumed, and for convenience of explanation, m and n are assumed to be even numbers, and the size of one pixel is assumed to be a square of △×△. Moreover, unlike the case of the above-mentioned embodiment, the X-ray beam passing through the virtual plane S is parallel to mn/2 from two directions satisfying θ 3 =tan −1 m and θ 4 =−tan −1 m. One book at a time shall be irradiated. Then, X-ray beams from these two directions (θ 3 , θ 4 ) are irradiated from the X-ray generator A. Note that the diameter of each unit X-ray beam is smaller than that of each pixel.
It shall be sufficiently small. In this way, the two predetermined directions in which X-rays are irradiated are set to θ
3 and θ 4 , the above equation (1) becomes the following equation. L′μ=γD′…(9) μ=(μ 1 , μ 2 , μ 3 ..., μ no ) T D′=(d 1 (3), d 2 (3),..., d〓(3), d 1 (4) , d 2 (4), ..., d〓(4)) T / α'. Note that d k (3) represents the measured value obtained by irradiating X-rays from θ 3 directions, and d k (4) represents the measured value obtained by irradiating X-rays from θ 4 directions. ing. Also, α' is the length for the X-ray beam in the θ, 3 , and θ4 directions to pass through one pixel, α'=△√1+ 2 3 = △√1− 2 4 , and the symbol T represents transposition. ing. When this equation (9) is solved, the tomographic two-dimensional data μ
h can be calculated, but since measurement errors are generally included, mathematical programming is used to minimize errors during reconstruction, as in the previous embodiment. The signal corresponding to the X-ray absorption coefficient μ k as two-dimensional data obtained in this way is stored in the memory G,
It is reconstructed and displayed as a tomogram of the X-ray subject B on the arbitrary tomographic image display device J via the arbitrary tomographic image construction device H, the arbitrary tomographic image quality improvement device I, and the D/A converter F'. be. By the way, as shown in FIG.
If mn unit X-ray beams irradiated from the tan -1 m) direction reach the X-ray detector C through the lower left corner of each pixel constituting this plane S, then
As mentioned above, it is possible to obtain the X-ray absorption coefficient of each pixel as two-dimensional data from a single X-ray projection distribution D (dashed line in Figure 4). In the method based on the projection distribution D, the sample point interval w' is half of the sample interval w'' in the method based on the two X-ray projection distributions D 3 and D 4 (see FIG. 6) as in other embodiments. This is because, in the means of this other embodiment, the X-ray beam indicated by the solid line in FIG. Moreover, this is because the interval between unit X-ray beams is twice the interval between unit X-ray beams in a method based on a single X-ray projection distribution D. The beam direction is θ
4 is -θ, and the irradiation interval is X shown by the solid line in the same figure.
Since it is the same as the irradiation interval of the line beam, this sixth
The same thing can be said about the X-ray beam indicated by the broken line in the figure. Therefore, in the case of this other embodiment, as in the case of the above-mentioned embodiment, the resolution in measuring one-dimensional data is greatly improved, and the reproduction accuracy of the reconstructed image is also improved. . As described in detail above, according to the multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus of the present invention,
Since the tomographic image of the X-ray object B can be reconstructed from the two X-ray projection distributions D 1 , D 2 ; D 3 , D 4 obtained by irradiating the X-ray, the following effects can be achieved. or gain benefits. (1) Data collection time is very short;
Even for a moving X-ray subject B (for example, a heart), the tomographic image thereof can be clearly reconstructed with sufficient accuracy. (2) Since the amount of X-ray exposure is very small (several tenths to several hundredths of that of conventional means), there will be no adverse effects even if the X-ray subject B is a living body.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のX線断層像の再構成手段を説明
するための模式図であり、第2〜5図は本発明の
一実施例としての複数X線射影式断層像再構成装
置を示すもので、第2図はそのX線射影分布の計
測手段を示す模式図、第3図はそのシステム構成
図、第4,5図はいずれもその作用を説明するた
めの模式図であり、第6図は本発明の他の実施例
としての複数X線射影式断層像再構成装置の作用
を説明するための模式図である。 A…X線発生装置、B…X線被検査体、C…X
線検出器、D1〜D4…X線射影分布、E…X線射
影分布測定手段(X線濃度計測装置)、E′…A/
D変換器、F…射影変換装置、F′…D/A変換
器、G…メモリとして3次元内部構造記憶装置、
H…任意断層像構成装置(再構成装置)、I…任
意断層像画質改善装置、J…任意断層像表示装
置、S…仮想断層平面、S1…一方の仮想断層平面
半部、S2…他方の仮想断層平面半部。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining a conventional X-ray tomographic image reconstruction means, and FIGS. 2 to 5 show a multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device as an embodiment of the present invention. Fig. 2 is a schematic diagram showing the means for measuring the X-ray projection distribution, Fig. 3 is a system configuration diagram, and Figs. 4 and 5 are schematic diagrams for explaining its operation. FIG. 6 is a schematic diagram for explaining the operation of a multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus as another embodiment of the present invention. A...X-ray generator, B...X-ray inspection object, C...X
ray detector, D1 to D4 ...X-ray projection distribution, E...X-ray projection distribution measuring means (X-ray density measuring device), E'...A/
D converter, F... projective conversion device, F'... D/A converter, G... three-dimensional internal structure storage device as memory,
H...Arbitrary tomographic image construction device (reconstruction device), I...Arbitrary tomographic image quality improvement device, J...Arbitrary tomographic image display device, S...Virtual tomographic plane, S1 ...One half of virtual tomographic plane, S2 ... The other half of the virtual fault plane.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 X線被検査体Bの断層面を含み且つ縦にm個
横にn個の画素をそなえてなる仮想断層平面Sに
ついて、複数の方向から単位X線ビームを照射し
て複数のX線射影部分布を得る複数X線射影式断
層像再構成装置であつて、第1の単位X線ビーム
が上記画素のコーナ部を少なくとも1個所は通過
するように上記X線被検査体Bへ向けて所定方向
から複数の第1の単位X線ビームを照射されると
ともに、第2の単位X線ビームが上記画素のコー
ナー部を少なくとも1個所は通過するように上記
X線被検査体Bへ向けて他の所定方向から複数の
第2の単位X線ビームを照射されるものであり、
上記X線被検査体Bへ向けて上記の第1および第
2の単位X線ビームを照射することにより得られ
た第1のX線射影分布D1および第2のX線射影
分布D2についてそれぞれその一端から他端へ向
けて複数個のX線濃度を計測するX線濃度計測装
置をそなえ、同X線濃度計測装置からのX線濃度
情報に基づき、上記仮想断層平面Sを複数の画素
よりなる少なくとも2つの仮想断層平面部分S1
に区分し、各仮想断層平面部分S1,S2を構成す
る各画素のX線吸収係数μを演算すべく、第1基
本画素1だけを通過する第1の単位X線ビームに
より得られるX線濃度を該第1基本画素1のX線
吸収係数μとしk番目(kはmよりも小さく2
以上の自然数)までの画素についてX線濃度dk
からX線濃度dk-1を減算することにより該k番
目までの画素のX線吸収係数μkを順次求める手
段と、第2基本画素mだけを通過する第2の単位
X線ビームにより得られるX線濃度を該第2基本
画素mのX線吸収係数μnとしm−k番目までの
画素についてX線濃度dn-k+1からX線濃度dn-k
を減算することにより該n-k番目までの画素のX
線吸収係数μn-kを順次求める手段とからなる演
算装置を有する射影変換装置Fが設けられるとと
もに、同射影変換装置Fからの信号を受けて上記
仮想断層平面Sを構成する上記N個の各画素1〜
mnの位置に上記X線吸収係数μ〜μnoをあて
はめて上記X線被検査体Bの断層像を再構成する
再構成装置Hと、同再構成装置Hからの出力に基
づいて上記X線被検査体Bの断層像を表示する表
示装置Jとが設けられたことを特徴とする。複数
X線射影式断層像再構成装置。 2 上記X線濃度計測装置Eが、X線フイルム上
に得られたX線濃度分布上の複数個のX線濃度の
値を計測しうるマイクロデンシトメータと、この
マイクロデンシトメータからのアナログ信号をデ
イジタル信号に変換しうるアナログ―デイジタル
変換器とで構成された特許請求の範囲第1項に記
載の複数X線射影式断層像再構成装置。 3 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過してくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する移動機構付きシンチレーシヨ
ン検出器と、同シンチレーシヨン検出器からのア
ナログ信号をデイジタル信号に変換しうるアナロ
グ―デイジタル変換器とで構成された特許請求の
範囲第1項に記載の複数X線射影式断層像再構成
装置。 4 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過してくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する多数のシンチレーシヨン検出
器と、これらのシンチレーシヨン検出器からのア
ナログ信号をデイジタル信号に変換しうるアナロ
グ―デイジタル変換器とで構成された特許請求の
範囲第1項に記載の複数X線射影式断層像再構成
装置。 5 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過してくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する移動機構付き半導体検出器
と、同半導体検出器からのアナログ信号をデイジ
タル信号に変換しうるアナログ―デイジタル変換
器とで構成された特許請求の範囲第1項に記載の
複数X線射影式断層像再構成装置。 6 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過したくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する多数の半導体検出器と、これ
らの半導体検出器からのアナログ信号をデイジタ
ル信号に変換しうるアナログ―デイジタル変換器
とで構成された特許請求の範囲第1項に記載の複
数X線射影式断層像再構成装置。 7 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過してくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する移動機構付きキセノンガス検
出器と、同キセノンガス検出器からのアナログ信
号をデイジタル信号に変換しうるアナログ―デイ
ジタル変換器とで構成された特許請求の範囲第1
項に記載の複数X線射影式断層像再構成装置。 8 上記X線濃度計測装置Eが、上記X線被検査
体Bを透過してくるX線を受けてX線濃度に対応
する信号を出力する多数のキセノンガス検出器
と、これらのキセノンガス検出器からのアナログ
信号をデイジタル信号に変換しうるアナログ―デ
イジタル変換器とで構成された特許請求の範囲第
1項に記載の複数X線射影式断層像再構成装置。 9 上記射影変換装置Fが、上記データ出力に基
づき、上記各画素のX線吸収係数に対応するデイ
ジタル信号を演算して出力するデイジタルコンピ
ユータを含んで構成された特許請求の範囲第1項
ないし第8項のいずれかに記載の複数X線射影式
断層像再構成装置。 10 上記の射影変換装置Fと再構成装置Hとの
間に、上記X線被検査体Bにおける複数の断層像
情報を記憶して上記表示装置Jで任意の断層像を
表示すべく、上記射影変換装置Fからの信号を記
憶しうるメモリが介装された特許請求の範囲第1
項ないし第9項のいずれかに記載の複数X線射影
式断層像再構成装置。 11 上記の再構成装置Hと表示装置Jとの間
に、上記表示装置Jで表示される画像の質を向上
させるべく、デイジタルフイルタが介装された特
許請求の範囲第1項ないし第10項のいずれかに
記載の複数X線射影式断層像構成装置。 12 上記の再構成装置Hと表示装置Jとの間
に、上記表示装置Jで表示される画像の質を向上
させるべく、平滑化回路が介装された特許請求の
範囲第1項ないし第10項のいずれかに記載の複
数X線射影式断層像再構成装置。 13 上記の再構成装置Hと表示装置Jとの間
に、上記表示装置Jで表示される画像の質を向上
させるべく、微分回路が介装された特許請求の範
囲第1項ないし第10項のいずれかに記載の複数
X線射影式断層像再構成装置。 14 上記第1の単位X線ビームの照射方向が
tan-1(m/2)で、上記第2の単位X線ビーム
の照射方向が−tan-1(m/2)である、特許請
求の範囲第1項に記載の複数X線射影式断層像再
構成装置。 15 上記第1の単位X線ビームの照射方向が
tan-1mで、上記第2の単位X線ビームの照射方
向が−tan-1mである、特許請求の範囲第1項に
記載の複数X線射影式断層像再構成装置。
[Scope of Claims] 1 A unit X-ray beam is irradiated from a plurality of directions on a virtual tomographic plane S that includes the tomographic plane of the X-ray inspected object B and has m pixels vertically and n pixels horizontally. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus obtains a plurality of X-ray projection partial distributions by The X-ray beam is irradiated with a plurality of first unit X-ray beams from a predetermined direction toward the inspection object B, and the second unit X-ray beam passes through at least one corner of the pixel. A plurality of second unit X-ray beams are irradiated toward the inspection object B from another predetermined direction,
Regarding the first X-ray projection distribution D 1 and the second X-ray projection distribution D 2 obtained by irradiating the first and second unit X-ray beams toward the X-ray inspection object B Each is equipped with an X-ray concentration measuring device that measures a plurality of X-ray concentrations from one end to the other, and based on the X-ray concentration information from the X-ray concentration measuring device, the virtual tomographic plane S is divided into a plurality of pixels. At least two virtual tomographic plane portions S 1 consisting of
In order to calculate the X-ray absorption coefficient μ of each pixel constituting each virtual tomographic plane portion S 1 , S 2 Let the X-ray density be the X-ray absorption coefficient μ of the first basic pixel 1 and the kth (k is smaller than m and 2
X-ray density dk for pixels up to
means for sequentially obtaining the X-ray absorption coefficient μ k of the pixel up to the k-th pixel by subtracting the X-ray concentration d k- 1 from Let the X-ray density be the X-ray absorption coefficient μ n of the second basic pixel m, and the X-ray density d n-k+1 to the X-ray density d nk for the m-k pixels.
By subtracting X of the pixels up to the nkth
A projective transformation device F having an arithmetic unit consisting of means for sequentially determining a linear absorption coefficient μ nk is provided, and each of the N pixels constituting the virtual tomographic plane S receives a signal from the projective transformation device F. 1~
a reconstruction device H that reconstructs the tomographic image of the X-ray inspection object B by applying the X-ray absorption coefficients μ 1 to μ no to the positions of mn; A display device J for displaying a tomographic image of the object B to be inspected is provided. Multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device. 2. The X-ray concentration measuring device E includes a microdensitometer capable of measuring multiple X-ray concentration values on the X-ray concentration distribution obtained on the X-ray film, and an analogue from this microdensitometer. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting signals into digital signals. 3. The X-ray concentration measuring device E includes a scintillation detector with a moving mechanism that receives X-rays passing through the X-ray inspection object B and outputs a signal corresponding to the X-ray concentration, and scintillation detection of the same. 2. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal from a device into a digital signal. 4 The X-ray concentration measuring device E includes a number of scintillation detectors that receive X-rays transmitted through the X-ray inspection object B and output signals corresponding to the X-ray concentration, and these scintillation detectors. 2. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal from a device into a digital signal. 5 The X-ray concentration measuring device E includes a semiconductor detector with a moving mechanism that receives X-rays passing through the X-ray inspection object B and outputs a signal corresponding to the X-ray concentration, and a semiconductor detector from the semiconductor detector. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal into a digital signal. 6 The X-ray concentration measuring device E includes a number of semiconductor detectors that receive incoming X-rays transmitted through the X-ray inspection object B and output signals corresponding to the X-ray concentration, and a plurality of semiconductor detectors that output signals corresponding to the X-ray concentration. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal into a digital signal. 7 The X-ray concentration measuring device E includes a xenon gas detector with a moving mechanism that receives X-rays passing through the X-ray inspection object B and outputs a signal corresponding to the X-ray concentration, and a xenon gas detector. Claim 1 comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal from a device into a digital signal.
2. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device according to 2. 8 The X-ray concentration measuring device E includes a large number of xenon gas detectors that receive X-rays passing through the X-ray inspection object B and output signals corresponding to the X-ray concentration, and these xenon gas detectors. 2. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, comprising an analog-to-digital converter capable of converting an analog signal from a device into a digital signal. 9. Claims 1 to 9, wherein the projective transformation device F includes a digital computer that calculates and outputs a digital signal corresponding to the X-ray absorption coefficient of each pixel based on the data output. 9. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device according to any one of Item 8. 10 Between the projection conversion device F and the reconstruction device H, the projection conversion device Claim 1 in which a memory capable of storing the signal from the converting device F is interposed
The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device according to any one of Items 1 to 9. 11 Claims 1 to 10, wherein a digital filter is interposed between the reconstruction device H and the display device J in order to improve the quality of the image displayed on the display device J. The multiple X-ray projection type tomographic image construction device according to any one of the above. 12 Claims 1 to 10, wherein a smoothing circuit is interposed between the reconstruction device H and the display device J in order to improve the quality of the image displayed on the display device J. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device according to any one of the items. 13 Claims 1 to 10, wherein a differentiation circuit is interposed between the reconstruction device H and the display device J in order to improve the quality of the image displayed on the display device J. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction device according to any one of the above. 14 The irradiation direction of the first unit X-ray beam is
multiple X-ray projection type cross section according to claim 1, wherein tan -1 (m/2) and the irradiation direction of the second unit X-ray beam is -tan -1 (m/2). Image reconstruction device. 15 The irradiation direction of the first unit X-ray beam is
2. The multiple X-ray projection type tomographic image reconstruction apparatus according to claim 1, wherein tan -1 m and the irradiation direction of the second unit X-ray beam is -tan -1 m.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS521274A (en) * 1975-06-24 1977-01-07 Ito Kikai Seisakusho:Kk Stroke device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS521274A (en) * 1975-06-24 1977-01-07 Ito Kikai Seisakusho:Kk Stroke device

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