JPS61284676A - 論理値比較判定回路 - Google Patents
論理値比較判定回路Info
- Publication number
- JPS61284676A JPS61284676A JP60126319A JP12631985A JPS61284676A JP S61284676 A JPS61284676 A JP S61284676A JP 60126319 A JP60126319 A JP 60126319A JP 12631985 A JP12631985 A JP 12631985A JP S61284676 A JPS61284676 A JP S61284676A
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- Japan
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- data
- circuit
- judgment
- clock
- output
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は論理回路に用いる論理値比較判定回路に係り、
特に、被試験論理回路からの出力と期待値を比較判定す
るための論理値比較判定回路に関する。
特に、被試験論理回路からの出力と期待値を比較判定す
るための論理値比較判定回路に関する。
従来のこの種の装置は、特開昭57−20674号に記
載(特にその第8図)の様に、複数個の比較判定回路を
備え、判定ストローブを1基本周期内に設定し複数個の
被試験論理回路を試験するものが知られている。しかし
、論理回路の試験装置にあっては1判定ストローブを2
基本周期以上にわたって設定することが必要な場合があ
り、従来装置においては、この点について全く配慮がな
されていなかった。
載(特にその第8図)の様に、複数個の比較判定回路を
備え、判定ストローブを1基本周期内に設定し複数個の
被試験論理回路を試験するものが知られている。しかし
、論理回路の試験装置にあっては1判定ストローブを2
基本周期以上にわたって設定することが必要な場合があ
り、従来装置においては、この点について全く配慮がな
されていなかった。
本発明の目的は、比較判定のタイミングを与える判定ス
トローブを複数の基本周期にわたって設定できるように
した論理値比較判定回路を提供することにある。
トローブを複数の基本周期にわたって設定できるように
した論理値比較判定回路を提供することにある。
本発明は、比較判定に用いる期待値データと制御データ
を判定ストローブの設定される時間範囲まで保持し、判
定ストローブの数に応じて時系列的に切り換えて出力す
ることにより1判定ストローブの時系列順序に対応した
期待値データ及び制御データを使用して比較判定を行な
うようにしたものである。
を判定ストローブの設定される時間範囲まで保持し、判
定ストローブの数に応じて時系列的に切り換えて出力す
ることにより1判定ストローブの時系列順序に対応した
期待値データ及び制御データを使用して比較判定を行な
うようにしたものである。
以下、本発明の一実施例を第1図のブロック図、第2図
のタイムチャートを用いて説明する。第1図は、本実施
例のブロック図であり、クロック制御回路lot、デー
タ保持回路102、データ選択出力回路103、比較判
定部104より構成される。以下、説明の便宜上、2周
期にわたって判定ストローブが設定される場合について
説明する。
のタイムチャートを用いて説明する。第1図は、本実施
例のブロック図であり、クロック制御回路lot、デー
タ保持回路102、データ選択出力回路103、比較判
定部104より構成される。以下、説明の便宜上、2周
期にわたって判定ストローブが設定される場合について
説明する。
クロック制御回路101は、第2図Aに示す基本周期ク
ロック120、初期値設定信号121が入力され。
ロック120、初期値設定信号121が入力され。
例えば、1ビツトのカウンタ105.デコーダ106及
びオアゲート107〜110により構成される。カウン
タ105は、初期値設定信号121によりカウント開始
時に初期値設定され、基本周期クロック120によりカ
ウントアツプする。この時カウンタ101の並列出力1
22は、第2図Cに示す様に基本周期毎に2つの異なる
論理値(論理“1″と論理“0″)を出力し、この並列
出力をデコーダ106によりデコードして、デコーダ出
力123及び124により、基本周期クロック120(
第2図A)を、ゲート108,110を通過させるか、
或いはゲート107.109を通過させるか制御する。
びオアゲート107〜110により構成される。カウン
タ105は、初期値設定信号121によりカウント開始
時に初期値設定され、基本周期クロック120によりカ
ウントアツプする。この時カウンタ101の並列出力1
22は、第2図Cに示す様に基本周期毎に2つの異なる
論理値(論理“1″と論理“0″)を出力し、この並列
出力をデコーダ106によりデコードして、デコーダ出
力123及び124により、基本周期クロック120(
第2図A)を、ゲート108,110を通過させるか、
或いはゲート107.109を通過させるか制御する。
従って、クロック制御回路101の出力125からは、
第2図Gに示す基本周期クロック120の2周期分を周
期とするデータ保持クロックが出力され、出力126か
らは、第2図Fに示す様な上記データ保持クロックより
1基本周期だけ位相の異なるクロックが出力される。尚
、出力127及び128より出力されるクロックは、各
々、出力125及び126より出力されるデータ保持ク
ロックと同相である。
第2図Gに示す基本周期クロック120の2周期分を周
期とするデータ保持クロックが出力され、出力126か
らは、第2図Fに示す様な上記データ保持クロックより
1基本周期だけ位相の異なるクロックが出力される。尚
、出力127及び128より出力されるクロックは、各
々、出力125及び126より出力されるデータ保持ク
ロックと同相である。
データ保持回路102は、例えば、4つのD型フリップ
プロップ(t)−FF) 111〜114により構成さ
れ、被試験論理回路よりの応答と比較判定するための期
待値データ129、数ビットの制御データ130、及び
上記期待値データ129を保持するための上記データ保
持クロック125〜128が入力される。
プロップ(t)−FF) 111〜114により構成さ
れ、被試験論理回路よりの応答と比較判定するための期
待値データ129、数ビットの制御データ130、及び
上記期待値データ129を保持するための上記データ保
持クロック125〜128が入力される。
期待値データ、制御データは、第2図Bに示す様に、基
本周期毎に供給されるものでありデータ保持回路102
では、データ保持クロック125〜128により、第2
図H1iに示す様に上記期待値データ129、制御デー
タ130を2基本周期にわたり保持し。
本周期毎に供給されるものでありデータ保持回路102
では、データ保持クロック125〜128により、第2
図H1iに示す様に上記期待値データ129、制御デー
タ130を2基本周期にわたり保持し。
出力131〜134を通じてデータ選択出力回路103
へ供給する。
へ供給する。
データ選択出力回路103は、例えば2人力1出力のマ
ルチプレクサ115,116.1ビツトカウンタ119
、及びデコーダ118より構成される。上記カウンタ1
19は、第2図Jに示す様な判定ストローブが端子13
5より入力される。判定ストローブ(第2図J)におい
て、第N番目及び第N+1番目の判定ストローブは、夫
々、第N周期内及び第N+1周期内に設定されているが
、第N+2番目及び第N+3番目の判定ストローブは、
夫々、第N+3周期内及び第N+4周期内に設定され、
その設定範囲が2基本周期にわたっている。上記カウン
タ119は、上記判定ストローブをカウントし、第2図
Kに示す様にその並列出力137にカウント数に対応し
た論理値を出力する。尚、カウンタが1ビツトの場合に
限り、(従ってストローブ設定範囲が2基本周期内の場
合に限り)デコーダ118は不要であり、並列出力信号
137及びマルチプレクサ選択信号138は一致するが
、説明の便宜上、第1図にはデコーダ118を設けた。
ルチプレクサ115,116.1ビツトカウンタ119
、及びデコーダ118より構成される。上記カウンタ1
19は、第2図Jに示す様な判定ストローブが端子13
5より入力される。判定ストローブ(第2図J)におい
て、第N番目及び第N+1番目の判定ストローブは、夫
々、第N周期内及び第N+1周期内に設定されているが
、第N+2番目及び第N+3番目の判定ストローブは、
夫々、第N+3周期内及び第N+4周期内に設定され、
その設定範囲が2基本周期にわたっている。上記カウン
タ119は、上記判定ストローブをカウントし、第2図
Kに示す様にその並列出力137にカウント数に対応し
た論理値を出力する。尚、カウンタが1ビツトの場合に
限り、(従ってストローブ設定範囲が2基本周期内の場
合に限り)デコーダ118は不要であり、並列出力信号
137及びマルチプレクサ選択信号138は一致するが
、説明の便宜上、第1図にはデコーダ118を設けた。
マルチプレクサ115゜116は、上記マルチプレクサ
選択信号138(第2図K)により、データ保持回路1
02より供給される期待値データ131.132及び制
御データ133,134(第2図H,i)を、第2図り
に示す様に出力端子139,140を通じて、選択的に
出力し比較判定部104へ供給する。比較判定部104
は判定ストローブを遅延回路117により、遅延させた
第2図Mに示すストローブが供給され、上記期待値デー
タ139(第2図L)と被試験論理回路からの出力14
1より供給される出力値との比較判定を行ない、その結
果を比較判定出力142を通じて出力する。ここで、遅
延回路117の遅延時間To(第2図)は、ストローブ
J(第2図)がデータ選択出力回路103に入力され、
ストローブJに対応した期待値データLが出力されるま
での時間T(第2図)より長ければよい。
選択信号138(第2図K)により、データ保持回路1
02より供給される期待値データ131.132及び制
御データ133,134(第2図H,i)を、第2図り
に示す様に出力端子139,140を通じて、選択的に
出力し比較判定部104へ供給する。比較判定部104
は判定ストローブを遅延回路117により、遅延させた
第2図Mに示すストローブが供給され、上記期待値デー
タ139(第2図L)と被試験論理回路からの出力14
1より供給される出力値との比較判定を行ない、その結
果を比較判定出力142を通じて出力する。ここで、遅
延回路117の遅延時間To(第2図)は、ストローブ
J(第2図)がデータ選択出力回路103に入力され、
ストローブJに対応した期待値データLが出力されるま
での時間T(第2図)より長ければよい。
以上の構成において、基本周期クロックは、クロック制
御回路101によって基本周期の任意の整数倍の周期を
持つクロックに変換されてオアゲート107〜110の
各々より出力される。これらクロックはデータ保持回路
102のD−FFIII〜114へ入力され、制御デー
タ130及び期待値データ129を保持するために用い
られる。ここで1期待値データ129及び制御データ1
30は2基本周期の間保持されたのち、期待値データ1
29の入力順に時間差をおいてD−FFIII〜114
より順番かつ交互にマルチプレクサ115または116
へ出力される。データ選択出力回路103は、N+k
(但し、に=2.3.4・・・)を2基本周期に亘って
設定し、マルチプレクサ115.116より基本周期ク
ロック120の入力番号に一致する番号のデータを出力
すると共に、判定ストローブ信号が与えられた時点では
、指定された番号のデータを出力する。これらの信号を
受けた比較判定部104は、遅延させたストローブ信号
143に基づいてデータ139及び140と被試験論理
回路よりの出力値141とを比較判定する。
御回路101によって基本周期の任意の整数倍の周期を
持つクロックに変換されてオアゲート107〜110の
各々より出力される。これらクロックはデータ保持回路
102のD−FFIII〜114へ入力され、制御デー
タ130及び期待値データ129を保持するために用い
られる。ここで1期待値データ129及び制御データ1
30は2基本周期の間保持されたのち、期待値データ1
29の入力順に時間差をおいてD−FFIII〜114
より順番かつ交互にマルチプレクサ115または116
へ出力される。データ選択出力回路103は、N+k
(但し、に=2.3.4・・・)を2基本周期に亘って
設定し、マルチプレクサ115.116より基本周期ク
ロック120の入力番号に一致する番号のデータを出力
すると共に、判定ストローブ信号が与えられた時点では
、指定された番号のデータを出力する。これらの信号を
受けた比較判定部104は、遅延させたストローブ信号
143に基づいてデータ139及び140と被試験論理
回路よりの出力値141とを比較判定する。
以上の説明より明らかなように、本実施例によれば、第
N+2番目の判定ストローブの様に、2基本周期にわた
ってストローブが設定される場合にも、第N+2番目の
ストローブに対応した第N+2周期の期待値データ、制
御データを供給でき。
N+2番目の判定ストローブの様に、2基本周期にわた
ってストローブが設定される場合にも、第N+2番目の
ストローブに対応した第N+2周期の期待値データ、制
御データを供給でき。
2基本周期にわたる比較判定が可能である。
以上の説明では、判定ストローブが2基本周期内に設定
される場合であるが、m基本周期内(m≧2の整数)で
ストローブ設定を行なう場合には、カウンタのビット数
K (Kはに≧QOg、mを満たす整数)を適切な値に
設定し、データ保持回数lO2内のD−FFを、クロッ
ク制御回路101から出力されるクロック信号数に応じ
て追加すればよい。
される場合であるが、m基本周期内(m≧2の整数)で
ストローブ設定を行なう場合には、カウンタのビット数
K (Kはに≧QOg、mを満たす整数)を適切な値に
設定し、データ保持回数lO2内のD−FFを、クロッ
ク制御回路101から出力されるクロック信号数に応じ
て追加すればよい。
以上より明らかなように、本発明によれば、基本周期毎
に供給され、比較判定の際に使用する期待値データ及び
制御データを、複数の基本周期にわたり保持することが
可能で、前記保持データを判定ストローブの時系列順序
に応じて出力することができるので、判定ストローブの
設定を1基本周期内だけでなく、任意の複数基本周期内
に行なうことが可能である。
に供給され、比較判定の際に使用する期待値データ及び
制御データを、複数の基本周期にわたり保持することが
可能で、前記保持データを判定ストローブの時系列順序
に応じて出力することができるので、判定ストローブの
設定を1基本周期内だけでなく、任意の複数基本周期内
に行なうことが可能である。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例の各部のタイムチャートである。 101・・・クロック制御回路、102・・・データ保
持回路、103・・・データ選択出力回路、 104・
・・比較判定部、105.119・・・カウンタ、10
6,118・・・デコーダ、107゜108.109,
110・・・オアゲー゛ト、111〜114・・・D型
フリップフロップ、115,116・・・マルチプレク
サ、117・・・遅延回路6
第1図の実施例の各部のタイムチャートである。 101・・・クロック制御回路、102・・・データ保
持回路、103・・・データ選択出力回路、 104・
・・比較判定部、105.119・・・カウンタ、10
6,118・・・デコーダ、107゜108.109,
110・・・オアゲー゛ト、111〜114・・・D型
フリップフロップ、115,116・・・マルチプレク
サ、117・・・遅延回路6
Claims (1)
- 被試験論理回路の出力値と期待値データを比較判定する
論理値比較判定回路において、一定周期の基本クロック
をその周期の整数倍の周期を有するクロックに変換する
クロック制御回路と、該回路より出力されるクロックに
基づいて入力論理データを前記基本クロックの整数倍の
時間を保持して出力するデータ保持回路と、該回路より
出力されるデータを設定されたストローブ信号の時間的
な順序に対応して選択的に出力するデータ選択出力回路
と、該回路より出力されるデータと被試験論理回路より
の出力値との比較判定を前記ストローブ信号に基づいて
行なう比較判定部を具備することを特徴とする論理値比
較判定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60126319A JPS61284676A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 論理値比較判定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60126319A JPS61284676A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 論理値比較判定回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61284676A true JPS61284676A (ja) | 1986-12-15 |
Family
ID=14932243
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60126319A Pending JPS61284676A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 論理値比較判定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61284676A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01138477A (ja) * | 1987-11-24 | 1989-05-31 | Advantest Corp | 回路試験装置 |
-
1985
- 1985-06-12 JP JP60126319A patent/JPS61284676A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01138477A (ja) * | 1987-11-24 | 1989-05-31 | Advantest Corp | 回路試験装置 |
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