JPS61275632A - 圧力測定装置 - Google Patents
圧力測定装置Info
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- JPS61275632A JPS61275632A JP11679485A JP11679485A JPS61275632A JP S61275632 A JPS61275632 A JP S61275632A JP 11679485 A JP11679485 A JP 11679485A JP 11679485 A JP11679485 A JP 11679485A JP S61275632 A JPS61275632 A JP S61275632A
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- optical fiber
- pressure
- light source
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明は、大電流、高電圧に伴なう電磁誘導等に強い
圧力測定装置に関する。
圧力測定装置に関する。
[発明の技術的背景とその問題点]
従来の歪み式圧力計においては、信号を伝達するために
電気的な接続線が必要となり、工業ブラント内の電力機
器、動力機械の大電流、高電圧化に伴なう電磁誘導に影
響を受は易く、出力に誤差が起き易い。この電磁誘導の
影響に強いものとして、例えば特開昭60−29626
号公報に記載されたような光フアイバ応用の圧力測定装
置がある。この圧力測定装置は第5図に示すように、圧
力Pを受けるダイヤフラム鏡101に光源103の光線
を光源用光ファイバ105で投光し、その反射光を再び
受光用光ファイバ107で感光素子109に投光して電
気信号に変換し、ダイヤフラム![101の歪みによる
反射光の変化から圧力を測定するものである。
電気的な接続線が必要となり、工業ブラント内の電力機
器、動力機械の大電流、高電圧化に伴なう電磁誘導に影
響を受は易く、出力に誤差が起き易い。この電磁誘導の
影響に強いものとして、例えば特開昭60−29626
号公報に記載されたような光フアイバ応用の圧力測定装
置がある。この圧力測定装置は第5図に示すように、圧
力Pを受けるダイヤフラム鏡101に光源103の光線
を光源用光ファイバ105で投光し、その反射光を再び
受光用光ファイバ107で感光素子109に投光して電
気信号に変換し、ダイヤフラム![101の歪みによる
反射光の変化から圧力を測定するものである。
しかしながら、このような従来の装置では、一般の光源
を使用するために光量が変動するとともに、外力による
光ファイバの振動により光量が変動し、この光量変動が
みかけの圧力変動として現われるという問題点がある。
を使用するために光量が変動するとともに、外力による
光ファイバの振動により光量が変動し、この光量変動が
みかけの圧力変動として現われるという問題点がある。
また、ダイヤフラム鏡101の取付部に防塵対策が施さ
れていないのでダイヤフラム鏡101に塵埃等の付着に
よる汚れが生じ、この汚れによって反射光量が低下し、
この反射光量の低下がみがけの圧力低下として現われる
という問題点があった。特に、光源用光ファイバと受光
用ファイバとは共にダイヤフラム鎖の反射面に法線に対
し角度を有していないため、受光用光ファイバに受光さ
れる反射光の量が少なく、上記反射光量の低下に影響を
受は易かった。
れていないのでダイヤフラム鏡101に塵埃等の付着に
よる汚れが生じ、この汚れによって反射光量が低下し、
この反射光量の低下がみがけの圧力低下として現われる
という問題点があった。特に、光源用光ファイバと受光
用ファイバとは共にダイヤフラム鎖の反射面に法線に対
し角度を有していないため、受光用光ファイバに受光さ
れる反射光の量が少なく、上記反射光量の低下に影響を
受は易かった。
さらに、受光光量が少ないために、敏感な測定を行わせ
ることに限界があった。
ることに限界があった。
[発明の目的]
この発明は上記の問題点に鑑み創案されたもので、大電
流、高電圧に伴なう電磁誘導に強く、しかもより正確で
敏感な圧力測定を可能にした圧力測定装置の提供を目的
とする。
流、高電圧に伴なう電磁誘導に強く、しかもより正確で
敏感な圧力測定を可能にした圧力測定装置の提供を目的
とする。
[発明の概要]
上記目的を達成するために、第1の発明は、光源と、光
源よりの光線を運ぶ光源用光ファイバと、この光源用光
ファイバによって運ばれた光線を反射する反射面を備え
ると共に測定すべき圧力に応じて歪む受圧ダイヤスラム
と、この受圧ダイヤフラムよりの反射光を運ぶ受光用光
ファイバと、前記光源用光ファイバと受光用ファイバと
に略並列に配置され、光源から光源用光ファイバ及び受
光用光ファイバに沿って往復させるように光線を運ぶ参
照用光ファイバと、前記受光用光ファイバで運ばれた反
射光を電気信号に変換する第1感光素子と、前記参照用
光ファイバで運ばれた光線を電気信号に変換する第2感
光素子と、前記第1感光−素子と第2感光素子との出力
から外乱による光量変化を除く演算手段と゛、この演算
手段の出力信号と受圧力との直線関係を作る出力調整手
段とを備える構成とした。
源よりの光線を運ぶ光源用光ファイバと、この光源用光
ファイバによって運ばれた光線を反射する反射面を備え
ると共に測定すべき圧力に応じて歪む受圧ダイヤスラム
と、この受圧ダイヤフラムよりの反射光を運ぶ受光用光
ファイバと、前記光源用光ファイバと受光用ファイバと
に略並列に配置され、光源から光源用光ファイバ及び受
光用光ファイバに沿って往復させるように光線を運ぶ参
照用光ファイバと、前記受光用光ファイバで運ばれた反
射光を電気信号に変換する第1感光素子と、前記参照用
光ファイバで運ばれた光線を電気信号に変換する第2感
光素子と、前記第1感光−素子と第2感光素子との出力
から外乱による光量変化を除く演算手段と゛、この演算
手段の出力信号と受圧力との直線関係を作る出力調整手
段とを備える構成とした。
また第2の発明は光源と、光源よりの光線を運ぶ光源用
光ファイバと、この光源用光ファイバによって運ばれた
光線を反射する反射面を備えると共に測定すべき圧力に
応じて歪む受圧ダイヤフラムと、受圧ダイヤフラムより
の反射光を運ぶ受光用光ファイバと、この受光用光ファ
イバで運ばれた反射光を電気信号に変換する感光素子と
、この感光素子の出力信号と受圧力との直線関係を作る
出力調整手段とを備えた圧力測定装置であって、前記光
源用光ファイバと受光用光ファイバとの少なくともいず
れか一方を他方へ向けるように前記反射面の法線に対し
角度を設定する構成とした。
光ファイバと、この光源用光ファイバによって運ばれた
光線を反射する反射面を備えると共に測定すべき圧力に
応じて歪む受圧ダイヤフラムと、受圧ダイヤフラムより
の反射光を運ぶ受光用光ファイバと、この受光用光ファ
イバで運ばれた反射光を電気信号に変換する感光素子と
、この感光素子の出力信号と受圧力との直線関係を作る
出力調整手段とを備えた圧力測定装置であって、前記光
源用光ファイバと受光用光ファイバとの少なくともいず
れか一方を他方へ向けるように前記反射面の法線に対し
角度を設定する構成とした。
[発明の効果]
第1の発明の構成によれば、信号伝達に光ファイバを用
いるから、大電流、高電圧に伴なう電磁誘導ノイズに強
く、正確な圧力測定ができる。しかも、受圧ダイヤフラ
ムの反射面よりの反射光を電気信号に変換した反射信号
出力を、光源から光源用光ファイバと受光用光ファイバ
とに沿って往復させた光線を電気信号に変換した参照信
号出力により、例えば除算することによって光源の光量
変動、外力による光ファイバの振動によって生じる光量
変動等を除去することができる。従って、光量変動に基
づくみかけの圧力変動が防止でき、より正確な圧力測定
ができる。
いるから、大電流、高電圧に伴なう電磁誘導ノイズに強
く、正確な圧力測定ができる。しかも、受圧ダイヤフラ
ムの反射面よりの反射光を電気信号に変換した反射信号
出力を、光源から光源用光ファイバと受光用光ファイバ
とに沿って往復させた光線を電気信号に変換した参照信
号出力により、例えば除算することによって光源の光量
変動、外力による光ファイバの振動によって生じる光量
変動等を除去することができる。従って、光量変動に基
づくみかけの圧力変動が防止でき、より正確な圧力測定
ができる。
また、第2の発明では光源用光ファイバと受光用光ファ
イバとの少なくともいずれが一方を、他方へ向けるよう
に反射面の法線に対して角度を設定したため、受光用光
ファイバが受光する反射光の量が増加し、例えば反射面
の汚れ等による光■低下の影響を受けにくく、より正確
な圧力測定ができる。また、光量が増大したためより敏
感な測定ができる。
イバとの少なくともいずれが一方を、他方へ向けるよう
に反射面の法線に対して角度を設定したため、受光用光
ファイバが受光する反射光の量が増加し、例えば反射面
の汚れ等による光■低下の影響を受けにくく、より正確
な圧力測定ができる。また、光量が増大したためより敏
感な測定ができる。
[発明の実施例]
以下、この発明の第1実施例を第1図に基づいて説明す
る。
る。
第1図は圧力測定装置の概略構IR図を示し、圧力Pを
受ける受圧ダイヤフラム1と、光源3と、光源3よりの
光線を受圧ダイヤフラム1の反射面1aに運ぶ光源用光
ファイバ5と、反射面1aよりの反射光を運ぶ受光用光
ファイバ7と、反射光を電気信号に変換する第1感光素
子9aとを備えている。また光源3より光線を運んでセ
ンサーヘッド11まで往復させる参照用光ファイバ13
と、参照用光線を電気信号に変換する第21%光素子9
bとを備えている。さらに第1感光素子9aから出力さ
れる反射信号出力を第2感光素子9bから出力される参
照信号出力で除算演算する演算手段15と、演算手段1
5よりの出力信号と受圧力の直線関係を作る出力WRM
手JR17とを備えている。
受ける受圧ダイヤフラム1と、光源3と、光源3よりの
光線を受圧ダイヤフラム1の反射面1aに運ぶ光源用光
ファイバ5と、反射面1aよりの反射光を運ぶ受光用光
ファイバ7と、反射光を電気信号に変換する第1感光素
子9aとを備えている。また光源3より光線を運んでセ
ンサーヘッド11まで往復させる参照用光ファイバ13
と、参照用光線を電気信号に変換する第21%光素子9
bとを備えている。さらに第1感光素子9aから出力さ
れる反射信号出力を第2感光素子9bから出力される参
照信号出力で除算演算する演算手段15と、演算手段1
5よりの出力信号と受圧力の直線関係を作る出力WRM
手JR17とを備えている。
前記受圧ダイヤフラム1は取付部19に取付けられ、測
定すべき圧力Pを受けると比例的に歪み、反射面1aで
の反射光の方向が変化するように構成されている。反射
面1aは例えばパフ研摩等で処理されているものである
。
定すべき圧力Pを受けると比例的に歪み、反射面1aで
の反射光の方向が変化するように構成されている。反射
面1aは例えばパフ研摩等で処理されているものである
。
前記光源用光ファイバ5及び受光用光ファイバ7は、セ
ンサーヘッド11内において、一方が他方へ向くように
反射面1aの法線に対し所定の角度をもって配設されて
いる。両ファイバ5はいずれか一方のみ上記角度をもっ
て構成することもできる。
ンサーヘッド11内において、一方が他方へ向くように
反射面1aの法線に対し所定の角度をもって配設されて
いる。両ファイバ5はいずれか一方のみ上記角度をもっ
て構成することもできる。
前記受圧ダイヤフラム1の取付部材19とセンサーヘッ
ド11とはEB熔爆接エレクトロンビーム爆接)等によ
るシール部21を介して連結され、反射面1aとセンサ
ーヘッド11との間に形成された空間部23を密閉して
いる。この空間部23には真空引き用配管25が接続さ
れている。この真空引き用配管25は空間部23の真空
引きを行った後msされ、絶対圧型の圧力測定装置を構
成する。例えば真空引きの際、真空引き用配管25には
図示しないバルブが取付けられ、このパルプを介してバ
キューム装置に連通接続される。そして、バキューム装
置を働かせ、空間部23の真空引きを行った後、バルブ
とセンサーヘッド11との間で真空引き用配管25を絞
って閉栓し、閉栓したまま配管25を開栓位置よりもパ
ルプ寄りの位置で切断除去すると共に切断部を溶接する
ものである。
ド11とはEB熔爆接エレクトロンビーム爆接)等によ
るシール部21を介して連結され、反射面1aとセンサ
ーヘッド11との間に形成された空間部23を密閉して
いる。この空間部23には真空引き用配管25が接続さ
れている。この真空引き用配管25は空間部23の真空
引きを行った後msされ、絶対圧型の圧力測定装置を構
成する。例えば真空引きの際、真空引き用配管25には
図示しないバルブが取付けられ、このパルプを介してバ
キューム装置に連通接続される。そして、バキューム装
置を働かせ、空間部23の真空引きを行った後、バルブ
とセンサーヘッド11との間で真空引き用配管25を絞
って閉栓し、閉栓したまま配管25を開栓位置よりもパ
ルプ寄りの位置で切断除去すると共に切断部を溶接する
ものである。
前記参照用光ファイバ13は、光源用光ファイバ5及び
受光用光ファイバ7に略並列に配置されている。具体的
には、参照用光ファイバ13は、光源3゛から光源用光
ファイバ5に沿って延設され、センサーヘッド11に至
っている。センサーヘッド11内に至った参照用光ファ
イバ13はセンサーヘッド11内で折返され、受光用光
ファイバ7に沿って延設され、第2感光素子9bに至っ
ているものである。
受光用光ファイバ7に略並列に配置されている。具体的
には、参照用光ファイバ13は、光源3゛から光源用光
ファイバ5に沿って延設され、センサーヘッド11に至
っている。センサーヘッド11内に至った参照用光ファ
イバ13はセンサーヘッド11内で折返され、受光用光
ファイバ7に沿って延設され、第2感光素子9bに至っ
ているものである。
前記第1感光素子9aと第2感光素子’9 bとは同様
に構成されており、光線を電気信号に変換するもので、
受光用光ファイバ7、参照用光ファイバ13からそれぞ
れ光を受け、受けた光量に応じて変換した電気信号を演
算手段15へ出力するように構成されている。
に構成されており、光線を電気信号に変換するもので、
受光用光ファイバ7、参照用光ファイバ13からそれぞ
れ光を受け、受けた光量に応じて変換した電気信号を演
算手段15へ出力するように構成されている。
つぎに、上記第1実施例の作用について述べる。
光源3よりの光線は、光源用光ファイバ5によって反射
面1aに照射される。この反射面1aよりの反射光は、
受光用光ファイバ7によって第1感光素子9aに導かれ
、この第1感光素子9aによって電気信号としての反射
信号出力に変換される。このとき前記受圧ダイヤフラム
1は、測定すべき圧力Pを受けると比例的に歪み、反射
面1aより受光用光ファイバ7へ入射される反射光量が
変化する。
面1aに照射される。この反射面1aよりの反射光は、
受光用光ファイバ7によって第1感光素子9aに導かれ
、この第1感光素子9aによって電気信号としての反射
信号出力に変換される。このとき前記受圧ダイヤフラム
1は、測定すべき圧力Pを受けると比例的に歪み、反射
面1aより受光用光ファイバ7へ入射される反射光量が
変化する。
一方、光源3よりの光線は、参照用光ファイバを通り、
光源用光ファイバ5及び受光用光ファイバ7に略沿つて
往復し、第2感光素子9bに導がれる。そしてこの第2
感光素子9bによって電気信号としての参照信号出力に
変換される。
光源用光ファイバ5及び受光用光ファイバ7に略沿つて
往復し、第2感光素子9bに導がれる。そしてこの第2
感光素子9bによって電気信号としての参照信号出力に
変換される。
前記第1感光素子9a及び第2感光素子9bによってそ
れぞれ電気信号に変換された反射信号出力と参照信号出
力とは、演算手段15に入力され、この演算手段15に
おいて反射信号出力を参照信号出力で除する除算演算が
行われ、その結果を出力する。
れぞれ電気信号に変換された反射信号出力と参照信号出
力とは、演算手段15に入力され、この演算手段15に
おいて反射信号出力を参照信号出力で除する除算演算が
行われ、その結果を出力する。
そして、演算手段15よりの出力信号は出力調整手段1
7に入力され、この出力調整手段17において、演算手
段15よりの出力信号と受圧力との直線関係が作られる
。
7に入力され、この出力調整手段17において、演算手
段15よりの出力信号と受圧力との直線関係が作られる
。
ここで、光ファイバ5.7.13の外力による振動、光
源3の光量変動等がない場合、すなわち、外乱がないと
きの光源3よりの光線量を■とすれば、圧力Pを受けて
比例的に歪んだ受圧ダイヤフラム1の反射面1aより受
光用光ファイバ7に受光される反射光量は例えばαIと
なる。αは圧力Pに比例した受光反射光量の変化率であ
る。
源3の光量変動等がない場合、すなわち、外乱がないと
きの光源3よりの光線量を■とすれば、圧力Pを受けて
比例的に歪んだ受圧ダイヤフラム1の反射面1aより受
光用光ファイバ7に受光される反射光量は例えばαIと
なる。αは圧力Pに比例した受光反射光量の変化率であ
る。
そして、光ファイバ5,7.13に外力による振動等が
ある場合、すなわち、外乱があるとき、これに起因する
外乱係数をβとすると、圧力Pを受けて比例的に歪んだ
反射面1aよりの反射光量はβαIとなる。このときの
参照用光ファイバ13を通る参照用光線」はβ■となる
。
ある場合、すなわち、外乱があるとき、これに起因する
外乱係数をβとすると、圧力Pを受けて比例的に歪んだ
反射面1aよりの反射光量はβαIとなる。このときの
参照用光ファイバ13を通る参照用光線」はβ■となる
。
そして、第1感光素子9aは受光用光ファイバ7からβ
αIの光量を受けてこれを電気信号、例えばαEに変換
しく但し、E−β■)、演算手段15へ入力する。第2
感光素子9bは参照用光ファイバ13からβ■の光量を
受けてこれを同じく電気信号Eに変換し、演算手段15
へ入力する。
αIの光量を受けてこれを電気信号、例えばαEに変換
しく但し、E−β■)、演算手段15へ入力する。第2
感光素子9bは参照用光ファイバ13からβ■の光量を
受けてこれを同じく電気信号Eに変換し、演算手段15
へ入力する。
演算手段15では、これらの信号Eα、Eからっぎの除
算演算が行われる。
算演算が行われる。
Eα/E−α
上記演算手段15での除算演算結果αは上記のように受
圧ダイヤフラム1が受ける圧力Pに応じた光線ff1I
の変化率であるから、外乱による先口変化の要素は除去
されたこととなる。このαの値に基づき出力調整手段1
7において、受圧力Pとの直線関係が作られる。
圧ダイヤフラム1が受ける圧力Pに応じた光線ff1I
の変化率であるから、外乱による先口変化の要素は除去
されたこととなる。このαの値に基づき出力調整手段1
7において、受圧力Pとの直線関係が作られる。
従って、光源3の光量変動及び外力による光ファイバの
振動等によって生じる光量変動に基づくみかけの圧力変
動を除去することができ、より正確な圧力測定を行わせ
ることができる。
振動等によって生じる光量変動に基づくみかけの圧力変
動を除去することができ、より正確な圧力測定を行わせ
ることができる。
また、光源用光ファイバ5及び受光用光ファイバ7が、
センサーヘッド11内において、反射面1aの法線に対
し所定の角度をもって構成されているので、反射面1a
に対する角度を0度に構成した従来の圧力測定装置より
受光用光ファイバ7に受光される反射光量が増加する。
センサーヘッド11内において、反射面1aの法線に対
し所定の角度をもって構成されているので、反射面1a
に対する角度を0度に構成した従来の圧力測定装置より
受光用光ファイバ7に受光される反射光量が増加する。
従って万一反射面1aの汚れ等による反射光量低下があ
ったとしても、その低下最の全光口に対する割合が低く
なり、先口低下に対する影響を受けにくく、より正確な
圧力測定を行うことができる。また、光量が増加したた
め、より敏感な圧力測定ができる。
ったとしても、その低下最の全光口に対する割合が低く
なり、先口低下に対する影響を受けにくく、より正確な
圧力測定を行うことができる。また、光量が増加したた
め、より敏感な圧力測定ができる。
さらに、この実施例では反射面1aとセンサーヘッド1
1との間に形成された空1m23が真空状態に保持され
ているので反射面1aの汚れがなく、汚れに起因する反
射光量の低下を防止することができ、より正確な圧力測
定を行うことができる。
1との間に形成された空1m23が真空状態に保持され
ているので反射面1aの汚れがなく、汚れに起因する反
射光量の低下を防止することができ、より正確な圧力測
定を行うことができる。
この場合、空間部23が真空であるため、この圧力測定
装置は絶対圧型の圧力測定装置として機能する。
装置は絶対圧型の圧力測定装置として機能する。
第2図はこの発明の第2実施例に係り、この実施例では
、上記第1実施例に対し、参照用光ファイバ13をセン
サーヘッド11内で切り離し、センサーヘッド11内に
形成された壁面27よりの反射光を第2感光素子9bに
導くように構成したものである。壁面27にはアルミ蒸
着等で鏡面処理が施されている。従ってこの第2実施例
でも第1実施例と同様の効果が得られる他、組立てが容
易となっている。他の構成は上記第1実施例と略同−で
あるため同符号を以って示し説明を省略する。
、上記第1実施例に対し、参照用光ファイバ13をセン
サーヘッド11内で切り離し、センサーヘッド11内に
形成された壁面27よりの反射光を第2感光素子9bに
導くように構成したものである。壁面27にはアルミ蒸
着等で鏡面処理が施されている。従ってこの第2実施例
でも第1実施例と同様の効果が得られる他、組立てが容
易となっている。他の構成は上記第1実施例と略同−で
あるため同符号を以って示し説明を省略する。
第3図はこの発明の第3実施例に係り、さらに簡略化し
た例である。この実施例では、参照用光ファイバ13を
一本で構成し、センサーヘッド11内の壁27よりの反
射光を前記参照用光ファイバ13の途中に設けたカプラ
29によって分岐して第2感光素子9bに導くように構
成したものである。従って、この第3実施例でも第1実
施例と同様な効果が得られる他、組立てが容易であると
共に、コンパクト化が図れるという効果がある。
た例である。この実施例では、参照用光ファイバ13を
一本で構成し、センサーヘッド11内の壁27よりの反
射光を前記参照用光ファイバ13の途中に設けたカプラ
29によって分岐して第2感光素子9bに導くように構
成したものである。従って、この第3実施例でも第1実
施例と同様な効果が得られる他、組立てが容易であると
共に、コンパクト化が図れるという効果がある。
前記カブラ29はハーフミラ−で構成することもでき、
また、壁面27を鏡面処理することなく参照用光ファイ
バ13のセンサーヘッド内の端面13aをアルミ蒸着等
により鏡面処理することもでき、製造がより容易となる
。他の構成は第1実施例と略同−であるため、同符号を
もって示し説明を省略する。
また、壁面27を鏡面処理することなく参照用光ファイ
バ13のセンサーヘッド内の端面13aをアルミ蒸着等
により鏡面処理することもでき、製造がより容易となる
。他の構成は第1実施例と略同−であるため、同符号を
もって示し説明を省略する。
第4図はこの発明の第4実施例に係り、第3実施例をさ
らに簡略化した例である。この実施例では第3実施例に
対し光源用光ファイバ5の途中に2個のカブラ31.3
3を設け、一方のカブラ31から受光用光ファイバ7に
分岐させ、他方のカブラ33から第1感光素子9aに分
岐させて構成したものである。従ってこの第4実施例で
は第3実施例と略同様の効果が得られる他、さらに構造
をコンパクト化することができる。他の構、成は第3実
施例と略同−であるため、同符号を以って示し説明を省
略する。
らに簡略化した例である。この実施例では第3実施例に
対し光源用光ファイバ5の途中に2個のカブラ31.3
3を設け、一方のカブラ31から受光用光ファイバ7に
分岐させ、他方のカブラ33から第1感光素子9aに分
岐させて構成したものである。従ってこの第4実施例で
は第3実施例と略同様の効果が得られる他、さらに構造
をコンパクト化することができる。他の構、成は第3実
施例と略同−であるため、同符号を以って示し説明を省
略する。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではない
。例えば、光源用光ファイバ、受光用光ファイバ及び参
照用光ファイバをバンドルファイバによって構成するこ
ともできる。また、演算手段として、乗算演算手段、加
算演算手段、あるいは減算演算手段を使用することもで
きる。さらに、空間部23に不活性ガスを封入して反射
面1aの汚れを防止することもできる。この場合の圧力
測定装置は、差圧型の圧力測定装置として機能する。
。例えば、光源用光ファイバ、受光用光ファイバ及び参
照用光ファイバをバンドルファイバによって構成するこ
ともできる。また、演算手段として、乗算演算手段、加
算演算手段、あるいは減算演算手段を使用することもで
きる。さらに、空間部23に不活性ガスを封入して反射
面1aの汚れを防止することもできる。この場合の圧力
測定装置は、差圧型の圧力測定装置として機能する。
第1図はこの発明の第1実施例に係る圧力測定装置の概
略構成図、第2図は同第2実施例に係る圧力測定装置の
概略構成図、第3図は同第3実施例に係る圧力測定装置
の概略構成図、第4図は同第4実施例に係る圧力測定装
置の概略構成図、第5図は従来例による圧力測定装置の
概略構成図である。
略構成図、第2図は同第2実施例に係る圧力測定装置の
概略構成図、第3図は同第3実施例に係る圧力測定装置
の概略構成図、第4図は同第4実施例に係る圧力測定装
置の概略構成図、第5図は従来例による圧力測定装置の
概略構成図である。
Claims (2)
- (1)光源と、光源よりの光線を運ぶ光源用光ファイバ
と、この光源用光ファイバによって運ばれた光線を反射
する反射面を備えると共に測定すべき圧力に応じて歪む
受圧ダイヤフラムと、受圧ダイヤフラムよりの反射光を
運ぶ受光用光ファイバと、前記光源用光ファイバと受光
用光ファイバとに略並列に配置され、光源から光源用光
ファイバ及び受光用光ファイバに沿って往復させるよう
に光線を運ぶ参照用光ファイバと、前記受光用光ファイ
バで運ばれた反射光を電気信号に変換する第1感光素子
と、前記参照用光ファイバで運ばれた光線を電気信号に
変換する第2感光素子と、前記第1感光素子と第2感光
素子との出力から外乱による光量変化を除く演算手段と
、この演算手段の出力信号と受圧力との直線関係を作る
出力調整手段とを備えたことを特徴とする圧力測定装置
。 - (2)光源と、光源よりの光線を運ぶ光源用光ファイバ
と、この光源用光ファイバによって運ばれた光線を反射
する反射面を備えると共に測定すべき圧力に応じて歪む
受圧ダイヤフラムと、受圧ダイヤフラムよりの反射光を
運ぶ受光用光ファイバと、この受光用光ファイバで運ば
れた反射光を電気信号に変換する感光素子と、この感光
素子の出力信号と受圧力との直線関係を作る出力調整手
段とを備えた圧力測定装置であって、前記光源用光ファ
イバと受光用光ファイバとの少なくともいずれか一方を
他方へ向けるように前記反射面の法線に対し角度を設定
したことを特徴とする圧力測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11679485A JPS61275632A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 圧力測定装置 |
US06/790,501 US4687927A (en) | 1984-12-13 | 1985-10-23 | Pressure measuring system |
DE8585115062T DE3586238T2 (de) | 1984-12-13 | 1985-11-27 | Druckmesssystem. |
EP85115062A EP0184721B1 (en) | 1984-12-13 | 1985-11-27 | Pressure measuring system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11679485A JPS61275632A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 圧力測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61275632A true JPS61275632A (ja) | 1986-12-05 |
Family
ID=14695842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11679485A Pending JPS61275632A (ja) | 1984-12-13 | 1985-05-31 | 圧力測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61275632A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0249115A (ja) * | 1988-05-31 | 1990-02-19 | Toshiba Corp | 変位測定装置とそれを利用した圧力測定装置 |
JPH0581649U (ja) * | 1992-04-10 | 1993-11-05 | 株式会社小野測器 | 光ファイバセンサ |
US7615736B2 (en) | 2007-05-31 | 2009-11-10 | Fujikura Ltd. | Optical sensor |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS56103333A (en) * | 1980-01-23 | 1981-08-18 | Toshiba Corp | Temperature detector |
JPS57131032A (en) * | 1981-02-06 | 1982-08-13 | Shimadzu Corp | Light pulse output pressure sensor |
JPS58165028A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-30 | Shimadzu Corp | 光回折型圧力センサ |
JPS59162429A (ja) * | 1983-03-05 | 1984-09-13 | Canon Inc | 光学温度計 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11679485A patent/JPS61275632A/ja active Pending
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