JPS61269037A - 光ファイバの分散特性測定装置 - Google Patents
光ファイバの分散特性測定装置Info
- Publication number
- JPS61269037A JPS61269037A JP11017685A JP11017685A JPS61269037A JP S61269037 A JPS61269037 A JP S61269037A JP 11017685 A JP11017685 A JP 11017685A JP 11017685 A JP11017685 A JP 11017685A JP S61269037 A JPS61269037 A JP S61269037A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- light
- mode
- modes
- delay time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/332—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は光ファイバの分散特性を測定する装置に関する
ものである。
ものである。
(従来技術とその問題点)
光フアイバ通信に使用する光の波長や中継伝送する際の
中継距離は、光ファイバの伝送損失と分散特性とによっ
て決定される。特に、光ファイバのもつ分散特性は、波
形歪を生起させ、ディジタ iル伝送する際
の伝送速度に制限を与える。従って、 □1
iti *ゝ7 y 4 i#c’#J°゛T<>’l
t、7y4i<0)@j i分散特性によって
中継距離が制限されることもあり、光ファイバの分散特
性の測定は、伝送損失の測定と同様非常に重要なことで
ある。
中継距離は、光ファイバの伝送損失と分散特性とによっ
て決定される。特に、光ファイバのもつ分散特性は、波
形歪を生起させ、ディジタ iル伝送する際
の伝送速度に制限を与える。従って、 □1
iti *ゝ7 y 4 i#c’#J°゛T<>’l
t、7y4i<0)@j i分散特性によって
中継距離が制限されることもあり、光ファイバの分散特
性の測定は、伝送損失の測定と同様非常に重要なことで
ある。
光ファイバにおける分散とは、光フアイバ内を伝搬する
光の速度が波長によって異なる現象であり・′″″′”
!(DN:ZtiCf!II−’tu:ICtLt?I
z゛、、。
光の速度が波長によって異なる現象であり・′″″′”
!(DN:ZtiCf!II−’tu:ICtLt?I
z゛、、。
くつかの方法が提案されている。従来のこの種の
□。
□。
11゜
測定装置の代表例を第1図及び第2図に示した。
;□第1図において、半導体レーザ等の光源1
−1からパルス幅数百ピコ秒の光パルスを光ファイバ1
−2に入射させると、光ファイバー−2内でラマン効果
により第1ストークス光、第2ストークス光−・・−・
第nストークス光が発生する。この波長の異なる各スト
ークス光のうち1つのストークス光、例えば、第1スト
ークス光を波長選択回路1−5により抽出し、抽出され
た第1ストークス光は分光器1−7により分岐され、一
方は被測定光ファイバ1−3を伝搬した後、受光器14
によって電気パルスに変換され、オシロスコープ1−6
に入力される。分光器1−7によって分岐された他方の
第1ストークス光は受光器l−4′で電気パルスに変換
され、基準信号となるように遅延回路1−8で一定の遅
延が与えられ、オシロスコープ1−6に入力される。オ
シロスコープ1−6では、基準信号の基準電気パルスと
被測定光ファイバを伝搬した後に電気信号に変換された
被測定用電気パルスとの両パルス位置から相対遅延時間
差を求めることができる。
;□第1図において、半導体レーザ等の光源1
−1からパルス幅数百ピコ秒の光パルスを光ファイバ1
−2に入射させると、光ファイバー−2内でラマン効果
により第1ストークス光、第2ストークス光−・・−・
第nストークス光が発生する。この波長の異なる各スト
ークス光のうち1つのストークス光、例えば、第1スト
ークス光を波長選択回路1−5により抽出し、抽出され
た第1ストークス光は分光器1−7により分岐され、一
方は被測定光ファイバ1−3を伝搬した後、受光器14
によって電気パルスに変換され、オシロスコープ1−6
に入力される。分光器1−7によって分岐された他方の
第1ストークス光は受光器l−4′で電気パルスに変換
され、基準信号となるように遅延回路1−8で一定の遅
延が与えられ、オシロスコープ1−6に入力される。オ
シロスコープ1−6では、基準信号の基準電気パルスと
被測定光ファイバを伝搬した後に電気信号に変換された
被測定用電気パルスとの両パルス位置から相対遅延時間
差を求めることができる。
次に、波長選択回路1−5で波長の異なる第2ストーク
ス光を選択し同様の作業を行い、基準信号との相対遅延
時間差を求める。この作業を第nストークス光まで繰り
返すことにより、光ファイバ1−3を伝搬する光の各波
長に対する相対遅延時間の関係が測定され、光ファイバ
130分散特性が求められる(L、G、 Cohen
et al、 Appl、oct。
ス光を選択し同様の作業を行い、基準信号との相対遅延
時間差を求める。この作業を第nストークス光まで繰り
返すことにより、光ファイバ1−3を伝搬する光の各波
長に対する相対遅延時間の関係が測定され、光ファイバ
130分散特性が求められる(L、G、 Cohen
et al、 Appl、oct。
Vol 16. p 3136.1977)。
なお、光源1−1としては、YAGレーザ等のような高
出力レーザを用い、光フアイバl−2内で誘導ラマン現
象が発生するようにしている。
出力レーザを用い、光フアイバl−2内で誘導ラマン現
象が発生するようにしている。
次に、第2図に示す分散測定装置について説明する。い
くつかの波長の異なる半導体レーザ(LD)2−1の出
射光は、シンセサイザ2−6によって周波数fで正弦波
状に変調される。この変調された半導体レーザ2−1の
うちの一つが光スイッチ2−2によって選択され、その
出力が光ファイバ2−3に入射される。光ファイバ2−
3の出射光は受光器2−4によって電気信号2−7に変
換され、基準となる電気信号2−8との位相差が位相差
器2−5によって求められる。同様にして、いくつかの
波長に対する変調信号の位相変化が求められ、この結果
から、光ファイバ2−3の分散特性が求められる( K
、 Tatekura eL at、 Sympos
ius on optical fibe? s+e
asure+wents、 Boulder。
くつかの波長の異なる半導体レーザ(LD)2−1の出
射光は、シンセサイザ2−6によって周波数fで正弦波
状に変調される。この変調された半導体レーザ2−1の
うちの一つが光スイッチ2−2によって選択され、その
出力が光ファイバ2−3に入射される。光ファイバ2−
3の出射光は受光器2−4によって電気信号2−7に変
換され、基準となる電気信号2−8との位相差が位相差
器2−5によって求められる。同様にして、いくつかの
波長に対する変調信号の位相変化が求められ、この結果
から、光ファイバ2−3の分散特性が求められる( K
、 Tatekura eL at、 Sympos
ius on optical fibe? s+e
asure+wents、 Boulder。
U、S、A 、1984 ”)。
以上説明したように、従来の光フアイバ分散測定装置は
1つ1つの波長に対して、別々に光フアイバ内での光遅
延又は光遅延差を測定していた。
1つ1つの波長に対して、別々に光フアイバ内での光遅
延又は光遅延差を測定していた。
この測定方法では、■測定に時間がかかり、測定中の温
度変化による光ファイバの長さ変動が測定結果に誤差と
なって現れること、■光源側と受光側とが別々の場所に
位置しているような場合の測定、すなわち遠端測定が困
難であること、■また、波長の異なる光源を必要とする
ことから、光源が複雑化すること等の欠点があった。
度変化による光ファイバの長さ変動が測定結果に誤差と
なって現れること、■光源側と受光側とが別々の場所に
位置しているような場合の測定、すなわち遠端測定が困
難であること、■また、波長の異なる光源を必要とする
ことから、光源が複雑化すること等の欠点があった。
(発明の目的)
本発明は、上述した従来技術の欠点に鑑みなされたもの
で、高精度でかつ、多波長の相対遅延時間差を瞬時に測
定でき、遠端測定も可能な光ファイバの分散特性測定方
式を提供することを目的とする。
で、高精度でかつ、多波長の相対遅延時間差を瞬時に測
定でき、遠端測定も可能な光ファイバの分散特性測定方
式を提供することを目的とする。
(発明の構成と作用)
本発明による光ファイバの分散特性測定方式は、測定光
としてパルス幅の狭い縦多モードの光パルスを発生させ
て被測定用の光ファイバに入射させるための光入射手段
と、前記光ファイバからの出射光を集光する集光手段と
、該集光手段の出力を各モードに分離するモード分離手
段と、該モード分離手段により分離された各モードの遅
延時間差を求めて前記光ファイバの分散特性として同一
表示面上に同時に可視表示する表示手段とを備えている
。
としてパルス幅の狭い縦多モードの光パルスを発生させ
て被測定用の光ファイバに入射させるための光入射手段
と、前記光ファイバからの出射光を集光する集光手段と
、該集光手段の出力を各モードに分離するモード分離手
段と、該モード分離手段により分離された各モードの遅
延時間差を求めて前記光ファイバの分散特性として同一
表示面上に同時に可視表示する表示手段とを備えている
。
以下に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
(実施例)
第3図は本発明による分散測定装置の実施例である。こ
の実施例において、縦多モード発振している半導体レー
ザ3−1を周波数fの正弦波を発生するシンセサイザ3
−6とパルス波形を発生させるためのコムジェネレータ
あるいはパルス発生器3−11とを用いて駆動すると、
パルス幅数十ピコ秒で繰り返し周波数fHzの縦多モー
ドを有する光パルスが発生する。この発振している光パ
ルスはレンズ3−2Aを用いて効率良く被測定媒体であ
る光ファイバ3−3に入射される。光ファイバ3−3の
出力側ではレンズ3−2Bで光ファイバ3−3の出射光
を集光し、各波長ごとに分離するためのモノクロメータ
3−4に導かれる。このモノクロメータ3−4は、グレ
ーティングを内蔵しており、入射光を波長ごとの各モー
ドに空間的に分離するものであり、モノクロメータ3−
4の出力端にあるスリットを完全に開放しておくと、各
モード全てが空間的に分離され、出射される。なお、各
モードを空間的に分離する手段として、プリズムを用い
ても良い。次に空間的に分離された各モードは、更に時
間的に分離するためにストリークカメラ3−5及びSI
Tカメラ3−7に導かれる。
の実施例において、縦多モード発振している半導体レー
ザ3−1を周波数fの正弦波を発生するシンセサイザ3
−6とパルス波形を発生させるためのコムジェネレータ
あるいはパルス発生器3−11とを用いて駆動すると、
パルス幅数十ピコ秒で繰り返し周波数fHzの縦多モー
ドを有する光パルスが発生する。この発振している光パ
ルスはレンズ3−2Aを用いて効率良く被測定媒体であ
る光ファイバ3−3に入射される。光ファイバ3−3の
出力側ではレンズ3−2Bで光ファイバ3−3の出射光
を集光し、各波長ごとに分離するためのモノクロメータ
3−4に導かれる。このモノクロメータ3−4は、グレ
ーティングを内蔵しており、入射光を波長ごとの各モー
ドに空間的に分離するものであり、モノクロメータ3−
4の出力端にあるスリットを完全に開放しておくと、各
モード全てが空間的に分離され、出射される。なお、各
モードを空間的に分離する手段として、プリズムを用い
ても良い。次に空間的に分離された各モードは、更に時
間的に分離するためにストリークカメラ3−5及びSI
Tカメラ3−7に導かれる。
この両カメラ3−5及び3−7は、被測定媒体である光
ファイバ3−3によって各波長ごとに異なった遅延時間
を例えば縦軸に、各波長を横軸に電気信号で一次画面上
に表示させるための装置である。また、この両カメラ3
−5及び3−7は、数本 ピコ秒の精度で時間的に各モードを分離することが可能
である。−次画面上にプロットされた各モードの信号は
、アナライザ3−9で読み出され、画像解析能力をもっ
たテレビモニタ3−IOに与えられる。
ファイバ3−3によって各波長ごとに異なった遅延時間
を例えば縦軸に、各波長を横軸に電気信号で一次画面上
に表示させるための装置である。また、この両カメラ3
−5及び3−7は、数本 ピコ秒の精度で時間的に各モードを分離することが可能
である。−次画面上にプロットされた各モードの信号は
、アナライザ3−9で読み出され、画像解析能力をもっ
たテレビモニタ3−IOに与えられる。
なお、シンセサイザ3−6の出射光は分岐され、一方は
数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを発生させるためのパ
ルス発生器またはコムゼネレータ3−11へ、他方は、
遅延回路3−8によって、一定の遅延時間が与えられて
基準信号となる。この基準信号は、ストリークカメラ3
−5のトリガパルスとして用いられる。すなわち、波長
の異なる各モードの遅延時間差は、アナライザ3−9の
出力信号を上述の遅延回路3−8によって作り出された
基準信号をトリガとしてテレビモニター3−10に可視
表示され、可視表示された遅延時間差から各モードごと
の光ファイバ3−3による分散特性を求めることができ
る。
数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを発生させるためのパ
ルス発生器またはコムゼネレータ3−11へ、他方は、
遅延回路3−8によって、一定の遅延時間が与えられて
基準信号となる。この基準信号は、ストリークカメラ3
−5のトリガパルスとして用いられる。すなわち、波長
の異なる各モードの遅延時間差は、アナライザ3−9の
出力信号を上述の遅延回路3−8によって作り出された
基準信号をトリガとしてテレビモニター3−10に可視
表示され、可視表示された遅延時間差から各モードごと
の光ファイバ3−3による分散特性を求めることができ
る。
第4図(al及び(b)は上述した本発明の測定装置を
用いて、分散特性を測定した測定例を示す特性図である
。
用いて、分散特性を測定した測定例を示す特性図である
。
1mIg(a)1″゛3+゛″”(7)′<′v″゛″
?m#−E−F 。
?m#−E−F 。
発振している半導体レーザからの出射光を、被測定媒体
である光ファイバ3−3を通さずに、直接モノクロメー
タ3−4に入射させた時の、テレビモニタ3−IOによ
ってとらえたストリーク像である。光ファイバ3−3を
通さない時は、波長の異なる縦多モード発振している1
00ps以下の光パルスが横軸に一列になっており、波
長が異なっても遅延時間がないことがわかる。なお、同
図で輝度は光強度に相当している。
である光ファイバ3−3を通さずに、直接モノクロメー
タ3−4に入射させた時の、テレビモニタ3−IOによ
ってとらえたストリーク像である。光ファイバ3−3を
通さない時は、波長の異なる縦多モード発振している1
00ps以下の光パルスが横軸に一列になっており、波
長が異なっても遅延時間がないことがわかる。なお、同
図で輝度は光強度に相当している。
次に、第4図(b)は長さ4.5 (km)光ファイバ
3−3を伝搬した上述の光パルスをテレビモニタ3−1
0で測定したストリーク像である。同図から各モードの
ストリーク像が斜めに傾斜していることが分かる。これ
は各波長(各モード)によって光ファイバ3−3の伝搬
時間が異なることを意味し、各波長に対して伝搬時間が
異なる性質、すなわち、各波長の相対遅延時間差が求め
ようとする光ファイバ3−3の分散特性である。例えば
、同図から波長1.29μmにおける分散値りは、次式
の通りである。
3−3を伝搬した上述の光パルスをテレビモニタ3−1
0で測定したストリーク像である。同図から各モードの
ストリーク像が斜めに傾斜していることが分かる。これ
は各波長(各モード)によって光ファイバ3−3の伝搬
時間が異なることを意味し、各波長に対して伝搬時間が
異なる性質、すなわち、各波長の相対遅延時間差が求め
ようとする光ファイバ3−3の分散特性である。例えば
、同図から波長1.29μmにおける分散値りは、次式
の通りである。
但し、T1は1.28616μ輪(1,29−△−/2
)における遅延時間(ps) T、は1.29384μa+(1,29+△讐/2)に
おける遅延時間(ps) ΔWはT2の波長−T1の波長(μm)l は光ファイ
バの長さ (km) である。
)における遅延時間(ps) T、は1.29384μa+(1,29+△讐/2)に
おける遅延時間(ps) ΔWはT2の波長−T1の波長(μm)l は光ファイ
バの長さ (km) である。
尚、第4図(b)は横軸と縦軸の単位が極めて不明確に
なっているが、実際のテレビモニタ3−10では、横軸
が1 (nm) 、縦軸が1.63 (ps)まで解読
できるようになっている。
なっているが、実際のテレビモニタ3−10では、横軸
が1 (nm) 、縦軸が1.63 (ps)まで解読
できるようになっている。
また、通常は上式により測定者による計算処理によって
分散値りを求めるのではなく、図示されていないが、テ
レビモニタ3−10に内蔵されているマイコン等により
計算され、求めようとする分散値りがディジタル表示あ
るいは印字されるような構造となっている。
分散値りを求めるのではなく、図示されていないが、テ
レビモニタ3−10に内蔵されているマイコン等により
計算され、求めようとする分散値りがディジタル表示あ
るいは印字されるような構造となっている。
(実施例2)
実施例1では、送信側と受信側とが同一地点にある場合
、例えば光フアイバ製造の工場内等において測定する近
端測定の分散特性測定装置について説明した。しかし、
通常は測定しようとする光ファイバの長さが数十キロメ
ータと長いため、送信側と受信側とが互いに離れた地点
で測定するのが通例である。この遠端測定を行う場合、
基準信号をどのように取り出すか、あるいは、受信側で
送信側に同期した基準信号を作り出すかが問題となり、
従来は分散特性の遠端測定が可能な測定方式については
何ら開示されていない。
、例えば光フアイバ製造の工場内等において測定する近
端測定の分散特性測定装置について説明した。しかし、
通常は測定しようとする光ファイバの長さが数十キロメ
ータと長いため、送信側と受信側とが互いに離れた地点
で測定するのが通例である。この遠端測定を行う場合、
基準信号をどのように取り出すか、あるいは、受信側で
送信側に同期した基準信号を作り出すかが問題となり、
従来は分散特性の遠端測定が可能な測定方式については
何ら開示されていない。
第5図は本発明の他の実施例であり、分散特性を遠端測
定により測定する場合の構成図である。
定により測定する場合の構成図である。
(1) 送信器
まず送信器の構成について説明する。
送信器としては、縦多モード発振する1個の光源3−1
と、その光源から出射光が少なくとも数十ピコ秒のパル
ス幅を有する光パルスとなるような変調手段があれば良
い。同図では、変調手段として、シンセサイザ3−6と
パルス発生器3−11とを組合わせたものを用いている
が、シンセサイザ3−6とコムジェネレータとの組合わ
せでも良い。また、光源3−1からの出力光を効率良く
光ファイバ3−3に入射させるために凸レンズ3−2A
を用いればさらに効果的である。
と、その光源から出射光が少なくとも数十ピコ秒のパル
ス幅を有する光パルスとなるような変調手段があれば良
い。同図では、変調手段として、シンセサイザ3−6と
パルス発生器3−11とを組合わせたものを用いている
が、シンセサイザ3−6とコムジェネレータとの組合わ
せでも良い。また、光源3−1からの出力光を効率良く
光ファイバ3−3に入射させるために凸レンズ3−2A
を用いればさらに効果的である。
(2) 受信器
光ファイバ3−3からの出射光を集光させるレンズ3−
2Bから遅延時間差を可視表示させるテレビモニタ3−
10までは、第3図と全(同一である。
2Bから遅延時間差を可視表示させるテレビモニタ3−
10までは、第3図と全(同一である。
第3図と異なる点は、新たに基準信号を作り出す手段を
有している点である。すなわち、受信器にシンセサイザ
3−6′ と可変遅延器3−12とを設け、送信器のシ
ンセサイザ3−6と同期をとるようにしている。ところ
で可変遅延器3−12の遅延量りとしては で与えられる。但し、Cは真空中における光速、lは光
ファイバ3−3の長さ、nは光ファイバ3−3の屈折率
である。または、遅延量りとして、テレビモニタ3−1
0を見ながらストリーク像がテレビ画面の中央に写し出
されるように調整しても良い。
有している点である。すなわち、受信器にシンセサイザ
3−6′ と可変遅延器3−12とを設け、送信器のシ
ンセサイザ3−6と同期をとるようにしている。ところ
で可変遅延器3−12の遅延量りとしては で与えられる。但し、Cは真空中における光速、lは光
ファイバ3−3の長さ、nは光ファイバ3−3の屈折率
である。または、遅延量りとして、テレビモニタ3−1
0を見ながらストリーク像がテレビ画面の中央に写し出
されるように調整しても良い。
なお、シンセサイザ3−6′の周波数fについては、予
め送受信側で決めておく必要がある。
め送受信側で決めておく必要がある。
以上のように送信器と同期のとれた基準信号を作り出し
、第3図と同様にストリークカメラ3−5にトリガとし
て与えれば良い。
、第3図と同様にストリークカメラ3−5にトリガとし
て与えれば良い。
(実施例3)
第6図は本発明による他の実施例であり、遠端測定に用
いる受信器の構成図である。本実施例では基準信号を送
信側の変調周波数fを取り出して用いることに特徴があ
り、集光レンズ3−2Bの後に光を分岐するための分光
器3−13を挿入し、一方は第5図と同様の測定系に行
き、他方は基準信号を作るための受光素子3−14に入
力される。受光素子3−14はAPD等の半導体受光素
子を用いれば良り、数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを
受光した時のみ電気信号に変換されるように構成してお
く。このような構成にすれば、受信側で送信側と同期の
取れた基準信号を簡単に作り出すことができる。なお、
図示していないが被測定媒体である光ファイバ3−3が
長い場合には、半導体受光素子3−14の後に増幅器を
挿入すれば良い。
いる受信器の構成図である。本実施例では基準信号を送
信側の変調周波数fを取り出して用いることに特徴があ
り、集光レンズ3−2Bの後に光を分岐するための分光
器3−13を挿入し、一方は第5図と同様の測定系に行
き、他方は基準信号を作るための受光素子3−14に入
力される。受光素子3−14はAPD等の半導体受光素
子を用いれば良り、数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを
受光した時のみ電気信号に変換されるように構成してお
く。このような構成にすれば、受信側で送信側と同期の
取れた基準信号を簡単に作り出すことができる。なお、
図示していないが被測定媒体である光ファイバ3−3が
長い場合には、半導体受光素子3−14の後に増幅器を
挿入すれば良い。
(発明の効果)
以上のように、本発明の測定方式を用いれば、各波長に
対する光ファイバの分散特性が同時に可視表示が出来る
とともに瞬時に測定が可能であり、周囲の環境温度によ
る測定誤差もなくすことができる。また、lps以下の
時間分解能が期待できるので、高精度の分散特性を求め
ることができる。
対する光ファイバの分散特性が同時に可視表示が出来る
とともに瞬時に測定が可能であり、周囲の環境温度によ
る測定誤差もなくすことができる。また、lps以下の
時間分解能が期待できるので、高精度の分散特性を求め
ることができる。
更に、従来の技術では困難であった遠端測定も可能とな
りその効果は極めて大である。
りその効果は極めて大である。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来の分散測定装置の構成図、第3
図は本発明の一実施例を示す構成図、第4図(a)及び
(blは本発明による分散測定装置を用いて測定した特
性側図、第5図及び第6図は本発明により遠端測定を行
うための実施例の構成図である。 if・・・光源、 1−2・・・光ファイバ、1−3
・・・光ファイバ(被測定用)、1−4・・・受光器、
1−4′・・・受光器、1−5・・・波長選択回路
、1−6・・・オシロスコープ、 1−7・・・分光
器、1−8・・・遅延回路、2−1・・・半導体レーザ
、 2−2・・・光スィッチ、2−3・・・光ファイ
バ、 2−4・・・受光器、2−5・・・位相差器、
2−6・・・シンセサイザ、2−7・・・受信電気
信号、2−8・・・基準電気信号、3−1・・・光源、
3−2A・・・レンズ、 3−2B・・・レンズ
、 3−3・・・光ファイバ、 3−4・・・モノ
クロメータ、 3−5・・・ストリークカメラ、3−
6・・・シンセサイザ、 3−7・・・SITカメラ
、) 3−8°°°遅延回路・ 3−9°
°°アナラ9ザ・3−10・・・テレビモニタ、3−1
1・・・パルス発生器、 3−12・・・可変遅延回
路、 3−13・・・分光器、 3−14・・・受
光素子。 第1[X] ツリI幻
図は本発明の一実施例を示す構成図、第4図(a)及び
(blは本発明による分散測定装置を用いて測定した特
性側図、第5図及び第6図は本発明により遠端測定を行
うための実施例の構成図である。 if・・・光源、 1−2・・・光ファイバ、1−3
・・・光ファイバ(被測定用)、1−4・・・受光器、
1−4′・・・受光器、1−5・・・波長選択回路
、1−6・・・オシロスコープ、 1−7・・・分光
器、1−8・・・遅延回路、2−1・・・半導体レーザ
、 2−2・・・光スィッチ、2−3・・・光ファイ
バ、 2−4・・・受光器、2−5・・・位相差器、
2−6・・・シンセサイザ、2−7・・・受信電気
信号、2−8・・・基準電気信号、3−1・・・光源、
3−2A・・・レンズ、 3−2B・・・レンズ
、 3−3・・・光ファイバ、 3−4・・・モノ
クロメータ、 3−5・・・ストリークカメラ、3−
6・・・シンセサイザ、 3−7・・・SITカメラ
、) 3−8°°°遅延回路・ 3−9°
°°アナラ9ザ・3−10・・・テレビモニタ、3−1
1・・・パルス発生器、 3−12・・・可変遅延回
路、 3−13・・・分光器、 3−14・・・受
光素子。 第1[X] ツリI幻
Claims (1)
- 測定光としてパルス幅の狭い縦多モードの光パルスを発
生させて、被測定用の光ファイバに入射させるための光
入射手段と、前記光ファイバからの出射光を集光する集
光手段と、該集光手段の出力を各モードに分離するモー
ド分離手段と、該モード分離手段により分離された各モ
ードの遅延時間差を求めて前記光ファイバの分散特性と
して同一表示面上に同時に可視表示する表示手段とを備
えた光ファイバの分散特性測定方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11017685A JPS61269037A (ja) | 1985-05-24 | 1985-05-24 | 光ファイバの分散特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11017685A JPS61269037A (ja) | 1985-05-24 | 1985-05-24 | 光ファイバの分散特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61269037A true JPS61269037A (ja) | 1986-11-28 |
JPH0528338B2 JPH0528338B2 (ja) | 1993-04-26 |
Family
ID=14528973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11017685A Granted JPS61269037A (ja) | 1985-05-24 | 1985-05-24 | 光ファイバの分散特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61269037A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01176920A (ja) * | 1987-12-31 | 1989-07-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光計測装置 |
WO2002011321A2 (en) * | 2000-08-01 | 2002-02-07 | Wavecrest Corporation | Multichannel system analyzer |
WO2002010705A3 (en) * | 2000-08-01 | 2002-08-15 | Wavecrest Corp | Electromagnetic and optical analyzer |
JP2014013191A (ja) * | 2012-07-04 | 2014-01-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光デバイスの周波数測定装置 |
JP2017049167A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | Kddi株式会社 | 伝搬遅延差の測定装置 |
-
1985
- 1985-05-24 JP JP11017685A patent/JPS61269037A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01176920A (ja) * | 1987-12-31 | 1989-07-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光計測装置 |
WO2002011321A2 (en) * | 2000-08-01 | 2002-02-07 | Wavecrest Corporation | Multichannel system analyzer |
WO2002010705A3 (en) * | 2000-08-01 | 2002-08-15 | Wavecrest Corp | Electromagnetic and optical analyzer |
WO2002011321A3 (en) * | 2000-08-01 | 2003-02-13 | Wavecrest Corp | Multichannel system analyzer |
JP2014013191A (ja) * | 2012-07-04 | 2014-01-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光デバイスの周波数測定装置 |
JP2017049167A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | Kddi株式会社 | 伝搬遅延差の測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0528338B2 (ja) | 1993-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3394902B2 (ja) | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 | |
JPH079386B2 (ja) | 光ファイバ分散特性測定方式 | |
JP3631025B2 (ja) | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 | |
JP2009523248A (ja) | 光信号計測システム | |
US7088495B2 (en) | Method and apparatus for time-division multiplexing to improve the performance of multi-channel non-linear optical systems | |
US5144374A (en) | Optical spectroscopy system | |
US4767207A (en) | Apparatus for measuring transmission characteristics of an optical fiber | |
US5003268A (en) | Optical signal sampling apparatus | |
JPS61269037A (ja) | 光ファイバの分散特性測定装置 | |
JP2011179918A (ja) | 波長分散測定装置及びそれを用いた波長分散測定方法 | |
JP4463828B2 (ja) | 光導波路の波長分散の測定方法、測定装置及び測定プログラム | |
US7079231B2 (en) | Optical network analyzer | |
US4790655A (en) | System for measuring laser spectrum | |
JPH0354292B2 (ja) | ||
JPH05248996A (ja) | 光ファイバの波長分散測定装置 | |
GB2205155A (en) | Object movement measuring apparatus | |
JPS63196829A (ja) | 光導波路障害点探索方法および装置 | |
US4176954A (en) | Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies | |
JPH06123661A (ja) | 光ファイバ式分布形温度センサおよび2波長光発生装置 | |
Mochizuki et al. | Optical fiber dispersion measurement technique using a streak camera | |
JPH0658293B2 (ja) | 光フアイバの波長分散測定方法および装置 | |
JPH04177141A (ja) | 光ファイバの波長分散測定方法 | |
JPH0882555A (ja) | 高速光周波数切替光評価装置 | |
EP0297556A2 (en) | Emission spectral width measuring apparatus for light source | |
JPH0574013B2 (ja) |