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JPS61269037A - 光ファイバの分散特性測定装置 - Google Patents

光ファイバの分散特性測定装置

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Publication number
JPS61269037A
JPS61269037A JP11017685A JP11017685A JPS61269037A JP S61269037 A JPS61269037 A JP S61269037A JP 11017685 A JP11017685 A JP 11017685A JP 11017685 A JP11017685 A JP 11017685A JP S61269037 A JPS61269037 A JP S61269037A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
mode
modes
delay time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11017685A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0528338B2 (ja
Inventor
Kiyobumi Mochizuki
望月 清文
Masayuki Fujise
雅行 藤瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KDDI Corp
Original Assignee
Kokusai Denshin Denwa KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Denshin Denwa KK filed Critical Kokusai Denshin Denwa KK
Priority to JP11017685A priority Critical patent/JPS61269037A/ja
Publication of JPS61269037A publication Critical patent/JPS61269037A/ja
Publication of JPH0528338B2 publication Critical patent/JPH0528338B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/332Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/335Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は光ファイバの分散特性を測定する装置に関する
ものである。
(従来技術とその問題点) 光フアイバ通信に使用する光の波長や中継伝送する際の
中継距離は、光ファイバの伝送損失と分散特性とによっ
て決定される。特に、光ファイバのもつ分散特性は、波
形歪を生起させ、ディジタ      iル伝送する際
の伝送速度に制限を与える。従って、      □1
iti *ゝ7 y 4 i#c’#J°゛T<>’l
t、7y4i<0)@j     i分散特性によって
中継距離が制限されることもあり、光ファイバの分散特
性の測定は、伝送損失の測定と同様非常に重要なことで
ある。
光ファイバにおける分散とは、光フアイバ内を伝搬する
光の速度が波長によって異なる現象であり・′″″′”
!(DN:ZtiCf!II−’tu:ICtLt?I
z゛、、。
くつかの方法が提案されている。従来のこの種の   
   □。
11゜ 測定装置の代表例を第1図及び第2図に示した。   
    ;□第1図において、半導体レーザ等の光源1
−1からパルス幅数百ピコ秒の光パルスを光ファイバ1
−2に入射させると、光ファイバー−2内でラマン効果
により第1ストークス光、第2ストークス光−・・−・
第nストークス光が発生する。この波長の異なる各スト
ークス光のうち1つのストークス光、例えば、第1スト
ークス光を波長選択回路1−5により抽出し、抽出され
た第1ストークス光は分光器1−7により分岐され、一
方は被測定光ファイバ1−3を伝搬した後、受光器14
によって電気パルスに変換され、オシロスコープ1−6
に入力される。分光器1−7によって分岐された他方の
第1ストークス光は受光器l−4′で電気パルスに変換
され、基準信号となるように遅延回路1−8で一定の遅
延が与えられ、オシロスコープ1−6に入力される。オ
シロスコープ1−6では、基準信号の基準電気パルスと
被測定光ファイバを伝搬した後に電気信号に変換された
被測定用電気パルスとの両パルス位置から相対遅延時間
差を求めることができる。
次に、波長選択回路1−5で波長の異なる第2ストーク
ス光を選択し同様の作業を行い、基準信号との相対遅延
時間差を求める。この作業を第nストークス光まで繰り
返すことにより、光ファイバ1−3を伝搬する光の各波
長に対する相対遅延時間の関係が測定され、光ファイバ
130分散特性が求められる(L、G、 Cohen 
et al、 Appl、oct。
Vol 16. p 3136.1977)。
なお、光源1−1としては、YAGレーザ等のような高
出力レーザを用い、光フアイバl−2内で誘導ラマン現
象が発生するようにしている。
次に、第2図に示す分散測定装置について説明する。い
くつかの波長の異なる半導体レーザ(LD)2−1の出
射光は、シンセサイザ2−6によって周波数fで正弦波
状に変調される。この変調された半導体レーザ2−1の
うちの一つが光スイッチ2−2によって選択され、その
出力が光ファイバ2−3に入射される。光ファイバ2−
3の出射光は受光器2−4によって電気信号2−7に変
換され、基準となる電気信号2−8との位相差が位相差
器2−5によって求められる。同様にして、いくつかの
波長に対する変調信号の位相変化が求められ、この結果
から、光ファイバ2−3の分散特性が求められる( K
、  Tatekura eL at、 Sympos
ius on optical fibe?  s+e
asure+wents、 Boulder。
U、S、A  、1984 ”)。
以上説明したように、従来の光フアイバ分散測定装置は
1つ1つの波長に対して、別々に光フアイバ内での光遅
延又は光遅延差を測定していた。
この測定方法では、■測定に時間がかかり、測定中の温
度変化による光ファイバの長さ変動が測定結果に誤差と
なって現れること、■光源側と受光側とが別々の場所に
位置しているような場合の測定、すなわち遠端測定が困
難であること、■また、波長の異なる光源を必要とする
ことから、光源が複雑化すること等の欠点があった。
(発明の目的) 本発明は、上述した従来技術の欠点に鑑みなされたもの
で、高精度でかつ、多波長の相対遅延時間差を瞬時に測
定でき、遠端測定も可能な光ファイバの分散特性測定方
式を提供することを目的とする。
(発明の構成と作用) 本発明による光ファイバの分散特性測定方式は、測定光
としてパルス幅の狭い縦多モードの光パルスを発生させ
て被測定用の光ファイバに入射させるための光入射手段
と、前記光ファイバからの出射光を集光する集光手段と
、該集光手段の出力を各モードに分離するモード分離手
段と、該モード分離手段により分離された各モードの遅
延時間差を求めて前記光ファイバの分散特性として同一
表示面上に同時に可視表示する表示手段とを備えている
以下に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
(実施例) 第3図は本発明による分散測定装置の実施例である。こ
の実施例において、縦多モード発振している半導体レー
ザ3−1を周波数fの正弦波を発生するシンセサイザ3
−6とパルス波形を発生させるためのコムジェネレータ
あるいはパルス発生器3−11とを用いて駆動すると、
パルス幅数十ピコ秒で繰り返し周波数fHzの縦多モー
ドを有する光パルスが発生する。この発振している光パ
ルスはレンズ3−2Aを用いて効率良く被測定媒体であ
る光ファイバ3−3に入射される。光ファイバ3−3の
出力側ではレンズ3−2Bで光ファイバ3−3の出射光
を集光し、各波長ごとに分離するためのモノクロメータ
3−4に導かれる。このモノクロメータ3−4は、グレ
ーティングを内蔵しており、入射光を波長ごとの各モー
ドに空間的に分離するものであり、モノクロメータ3−
4の出力端にあるスリットを完全に開放しておくと、各
モード全てが空間的に分離され、出射される。なお、各
モードを空間的に分離する手段として、プリズムを用い
ても良い。次に空間的に分離された各モードは、更に時
間的に分離するためにストリークカメラ3−5及びSI
Tカメラ3−7に導かれる。
この両カメラ3−5及び3−7は、被測定媒体である光
ファイバ3−3によって各波長ごとに異なった遅延時間
を例えば縦軸に、各波長を横軸に電気信号で一次画面上
に表示させるための装置である。また、この両カメラ3
−5及び3−7は、数本 ピコ秒の精度で時間的に各モードを分離することが可能
である。−次画面上にプロットされた各モードの信号は
、アナライザ3−9で読み出され、画像解析能力をもっ
たテレビモニタ3−IOに与えられる。
なお、シンセサイザ3−6の出射光は分岐され、一方は
数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを発生させるためのパ
ルス発生器またはコムゼネレータ3−11へ、他方は、
遅延回路3−8によって、一定の遅延時間が与えられて
基準信号となる。この基準信号は、ストリークカメラ3
−5のトリガパルスとして用いられる。すなわち、波長
の異なる各モードの遅延時間差は、アナライザ3−9の
出力信号を上述の遅延回路3−8によって作り出された
基準信号をトリガとしてテレビモニター3−10に可視
表示され、可視表示された遅延時間差から各モードごと
の光ファイバ3−3による分散特性を求めることができ
る。
第4図(al及び(b)は上述した本発明の測定装置を
用いて、分散特性を測定した測定例を示す特性図である
1mIg(a)1″゛3+゛″”(7)′<′v″゛″
?m#−E−F   。
発振している半導体レーザからの出射光を、被測定媒体
である光ファイバ3−3を通さずに、直接モノクロメー
タ3−4に入射させた時の、テレビモニタ3−IOによ
ってとらえたストリーク像である。光ファイバ3−3を
通さない時は、波長の異なる縦多モード発振している1
00ps以下の光パルスが横軸に一列になっており、波
長が異なっても遅延時間がないことがわかる。なお、同
図で輝度は光強度に相当している。
次に、第4図(b)は長さ4.5 (km)光ファイバ
3−3を伝搬した上述の光パルスをテレビモニタ3−1
0で測定したストリーク像である。同図から各モードの
ストリーク像が斜めに傾斜していることが分かる。これ
は各波長(各モード)によって光ファイバ3−3の伝搬
時間が異なることを意味し、各波長に対して伝搬時間が
異なる性質、すなわち、各波長の相対遅延時間差が求め
ようとする光ファイバ3−3の分散特性である。例えば
、同図から波長1.29μmにおける分散値りは、次式
の通りである。
但し、T1は1.28616μ輪(1,29−△−/2
)における遅延時間(ps) T、は1.29384μa+(1,29+△讐/2)に
おける遅延時間(ps) ΔWはT2の波長−T1の波長(μm)l は光ファイ
バの長さ (km) である。
尚、第4図(b)は横軸と縦軸の単位が極めて不明確に
なっているが、実際のテレビモニタ3−10では、横軸
が1 (nm) 、縦軸が1.63 (ps)まで解読
できるようになっている。
また、通常は上式により測定者による計算処理によって
分散値りを求めるのではなく、図示されていないが、テ
レビモニタ3−10に内蔵されているマイコン等により
計算され、求めようとする分散値りがディジタル表示あ
るいは印字されるような構造となっている。
(実施例2) 実施例1では、送信側と受信側とが同一地点にある場合
、例えば光フアイバ製造の工場内等において測定する近
端測定の分散特性測定装置について説明した。しかし、
通常は測定しようとする光ファイバの長さが数十キロメ
ータと長いため、送信側と受信側とが互いに離れた地点
で測定するのが通例である。この遠端測定を行う場合、
基準信号をどのように取り出すか、あるいは、受信側で
送信側に同期した基準信号を作り出すかが問題となり、
従来は分散特性の遠端測定が可能な測定方式については
何ら開示されていない。
第5図は本発明の他の実施例であり、分散特性を遠端測
定により測定する場合の構成図である。
(1)  送信器 まず送信器の構成について説明する。
送信器としては、縦多モード発振する1個の光源3−1
と、その光源から出射光が少なくとも数十ピコ秒のパル
ス幅を有する光パルスとなるような変調手段があれば良
い。同図では、変調手段として、シンセサイザ3−6と
パルス発生器3−11とを組合わせたものを用いている
が、シンセサイザ3−6とコムジェネレータとの組合わ
せでも良い。また、光源3−1からの出力光を効率良く
光ファイバ3−3に入射させるために凸レンズ3−2A
を用いればさらに効果的である。
(2)  受信器 光ファイバ3−3からの出射光を集光させるレンズ3−
2Bから遅延時間差を可視表示させるテレビモニタ3−
10までは、第3図と全(同一である。
第3図と異なる点は、新たに基準信号を作り出す手段を
有している点である。すなわち、受信器にシンセサイザ
3−6′ と可変遅延器3−12とを設け、送信器のシ
ンセサイザ3−6と同期をとるようにしている。ところ
で可変遅延器3−12の遅延量りとしては で与えられる。但し、Cは真空中における光速、lは光
ファイバ3−3の長さ、nは光ファイバ3−3の屈折率
である。または、遅延量りとして、テレビモニタ3−1
0を見ながらストリーク像がテレビ画面の中央に写し出
されるように調整しても良い。
なお、シンセサイザ3−6′の周波数fについては、予
め送受信側で決めておく必要がある。
以上のように送信器と同期のとれた基準信号を作り出し
、第3図と同様にストリークカメラ3−5にトリガとし
て与えれば良い。
(実施例3) 第6図は本発明による他の実施例であり、遠端測定に用
いる受信器の構成図である。本実施例では基準信号を送
信側の変調周波数fを取り出して用いることに特徴があ
り、集光レンズ3−2Bの後に光を分岐するための分光
器3−13を挿入し、一方は第5図と同様の測定系に行
き、他方は基準信号を作るための受光素子3−14に入
力される。受光素子3−14はAPD等の半導体受光素
子を用いれば良り、数十ピコ秒のパルス幅の光パルスを
受光した時のみ電気信号に変換されるように構成してお
く。このような構成にすれば、受信側で送信側と同期の
取れた基準信号を簡単に作り出すことができる。なお、
図示していないが被測定媒体である光ファイバ3−3が
長い場合には、半導体受光素子3−14の後に増幅器を
挿入すれば良い。
(発明の効果) 以上のように、本発明の測定方式を用いれば、各波長に
対する光ファイバの分散特性が同時に可視表示が出来る
とともに瞬時に測定が可能であり、周囲の環境温度によ
る測定誤差もなくすことができる。また、lps以下の
時間分解能が期待できるので、高精度の分散特性を求め
ることができる。
更に、従来の技術では困難であった遠端測定も可能とな
りその効果は極めて大である。
【図面の簡単な説明】 第1図及び第2図は従来の分散測定装置の構成図、第3
図は本発明の一実施例を示す構成図、第4図(a)及び
(blは本発明による分散測定装置を用いて測定した特
性側図、第5図及び第6図は本発明により遠端測定を行
うための実施例の構成図である。 if・・・光源、  1−2・・・光ファイバ、1−3
・・・光ファイバ(被測定用)、1−4・・・受光器、
  1−4′・・・受光器、1−5・・・波長選択回路
、1−6・・・オシロスコープ、  1−7・・・分光
器、1−8・・・遅延回路、2−1・・・半導体レーザ
、  2−2・・・光スィッチ、2−3・・・光ファイ
バ、  2−4・・・受光器、2−5・・・位相差器、
  2−6・・・シンセサイザ、2−7・・・受信電気
信号、2−8・・・基準電気信号、3−1・・・光源、
  3−2A・・・レンズ、  3−2B・・・レンズ
、  3−3・・・光ファイバ、  3−4・・・モノ
クロメータ、  3−5・・・ストリークカメラ、3−
6・・・シンセサイザ、  3−7・・・SITカメラ
、)      3−8°°°遅延回路・  3−9°
°°アナラ9ザ・3−10・・・テレビモニタ、3−1
1・・・パルス発生器、  3−12・・・可変遅延回
路、  3−13・・・分光器、  3−14・・・受
光素子。 第1[X] ツリI幻

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測定光としてパルス幅の狭い縦多モードの光パルスを発
    生させて、被測定用の光ファイバに入射させるための光
    入射手段と、前記光ファイバからの出射光を集光する集
    光手段と、該集光手段の出力を各モードに分離するモー
    ド分離手段と、該モード分離手段により分離された各モ
    ードの遅延時間差を求めて前記光ファイバの分散特性と
    して同一表示面上に同時に可視表示する表示手段とを備
    えた光ファイバの分散特性測定方式。
JP11017685A 1985-05-24 1985-05-24 光ファイバの分散特性測定装置 Granted JPS61269037A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11017685A JPS61269037A (ja) 1985-05-24 1985-05-24 光ファイバの分散特性測定装置

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JP11017685A JPS61269037A (ja) 1985-05-24 1985-05-24 光ファイバの分散特性測定装置

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JPS61269037A true JPS61269037A (ja) 1986-11-28
JPH0528338B2 JPH0528338B2 (ja) 1993-04-26

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ID=14528973

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01176920A (ja) * 1987-12-31 1989-07-13 Hamamatsu Photonics Kk 分光計測装置
WO2002011321A2 (en) * 2000-08-01 2002-02-07 Wavecrest Corporation Multichannel system analyzer
WO2002010705A3 (en) * 2000-08-01 2002-08-15 Wavecrest Corp Electromagnetic and optical analyzer
JP2014013191A (ja) * 2012-07-04 2014-01-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光デバイスの周波数測定装置
JP2017049167A (ja) * 2015-09-03 2017-03-09 Kddi株式会社 伝搬遅延差の測定装置

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