JPS61250999A - Ｘ線検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、Ｘ線管を具えるＸ線検査装置１乎おいて、ス
イッチオン管電流の大きさを制御し、予め定められた持
続時間ＴＩ！ｘｐを有する露出の結果として与えられる
放射線露出密度Ｅを提案し、Ｘ線管に夫々予め定められ
た管電圧■と管電流Ｉとを与えることにより露出測定を
行うステップと、Ｘ線露出制御装置に結合され、これか
らスイッチオン管電流に対する露出値ＩＥＸＰを導くよ
うに配設されているセンサ手段によりＸ線管からのＸ線
の通路内に位置する被検体を通り抜けたＸ線の強さを測
定するステップとを含み、スイッチオン管電流と予め定
められた管電圧■とが予め定められた持続時間ＴＩ！Ｘ
Ｐを有する露出により提案される放射線露出密度Ｅを与
えるＸ線検査方法に関するものである。

本発明はまたＸ線管及び制御自在の電源を具備するＸ線
発生器と、Ｘ線管からのＸ線通路内に位置する被検体を
通り抜けたＸ線を検出するセンサ手段と、このセンサ手
段に結合され、Ｘ線管に夫々予め定められた管電圧■及
び管電流Ｉを加えた時、センサ手段で検出される放射線
を測定する露出測定と、スイッチオン管電流の露出値す
、ＸＰを導きだすのに使用される測定とを行うように構
成され、このスイッチオン管電流と、予め定められた管
電流とが一緒になって予め定められた持続時間Ｔ１．Ｘ
Ｐを有する露出により予め定められた露出密度Ｅを与え
るＸ線露出制御装置とを具えるＸ線検査装置に関するも
のである。

このようなＸ線検査装置及びそこにおいて−回の露出に
対するスイッチオン管電流の大きさを制御する方法は、
例えば、英国特許第Ｇｅｌ、　４８９．３７７号明細書
から既知であるが、これは、被検体を通るＸ線の量を測
定できるように位置する電離箱のようなＸ線感応要素を
開示している。このＸ線感応要素の出力はＸ線露出制御
装置に供給される。

このＸ線露出制御装置はまた管電流、管電圧及び露出時
間を受は取る入力端子を具えている。Ｘ線露出制御装置
の出力は所定の管電圧で予め定められた露出密度Ｅを求
めるのに必要な管スイッチオン電流ＩＥＸＰを示す。実
際には最初の露出は管電圧及び管電流をＸ線管の動作範
囲の限界内の適当な初期値ＶＴＥＳＴＩ　ｈｌ：ｓＴに
とったテスト露出である。

英国特許第ＧＢ１．４８９．３７７号明細書に記載され
、権利請求されている装置は、管電流の自然対数に対し
て管電圧をプロットすることにより形成される一定の露
出密度関数と、管動作範囲を限界づける境界関数との交
点を計算し、同じ露出密度に対して使用できる最低管電
圧と、対応する管電流を求めている。蓋し、これより電
圧が低ければ、一般に、コントラストが最大のラジオグ
ラフが与えられるからである。しかし、被検体は、一定
の露出密度関数を作る時仮定されるのと同じ透過性の変
化、その結果としてのＸ線の硬さの変化を示さないから
、最初の表置的な最低管電圧を求めた後、別のテスト露
出が必要となる。これはＸ線管の動作範囲限界内で行う
必要がある。次に計算を繰り返す。これを２〜３回繰り
返すと、予め定められた露出時間に対し、十分に正確な
最低管電圧／最高照射強度の露出条件が求まる。

英国特許第Ｇｅｌ、　４８９．３７７号に記載されてい
る装置は患者を付加的なテストａ出にさらし、露出測定
を直接入射Ｘ線につき行うという欠点を抱えている。そ
こでＸ線映像増倍管を用い、写真のカメラを用いてこの
Ｘ線映像増倍管の出力像に対し露出を行うと、データが
十分信頼できない。この欠点を小さく、更には除くため
には、更に計算を行う必要がある。

本発明の目的は、これらの欠点を小さくした前述した種
類の装置及び方法を提供するにある。

この目的を達成するため、本発明によれば、前述した種
類の方法において、装置がＸ線映像増倍管と、このＸ線
映像増倍管の出力像の少なくとも一部の輝度を求めるよ
うに配設された感光手段とを有するＸ線検査方法におい
て、フルオロスコピー検査のために与えられる管電圧Ｖ
ＦＬ及び管電流ＩＦＬを用いるフルオロスコピー時に露
出測定を行い、フルオロスコピー検査時にＸ線映像増倍
管の出力像の少なくとも一部の輝度ＬＩを測定し、管電
圧ＶＦＬに関連するスイッチオン管電流の露出値Ｉｒ：
ｘｐを管電流１．Ｌ１輝度ＬＩ及び予め定められた露出
持続時間ＴＥＸＰから計算することを特徴とする。

この方法の好適な一実施例は、管電圧ＶＦＬに関連する
スイッチオン管電流の露出値１ｐ：ｘｐを、ＬＡを予め
定められた校正定数とし、関係を用いて計算することに
より導出することを特徴とする。

装置が表示用の螢光像を導き出すためにビデオカメラを
具える場合は、この方法はビデオ信号の振幅から輝度Ｌ
Ｉを求めるステップを含むことができる。フルオロスコ
ピー（ｆ　１ｕｏｒｏｓｃｏｐｙ）時に用いる電圧ｖＰ
Ｌと異なる管電圧Ｖｌ！ＸＰで露出を行うことが望まし
い場合の好適な一実施例は、フルオロスコピー時に使用
される管電圧ＶＦＬに対応する露出値１ｇｘｐ　ｌから
、ｐを管電圧の関数で且つ被検体の性質及びＸ線装置に
関連する高電圧依存ファクタにも依存するものとした時
、関係 に従って、スイッチオン管電流の対応する新しい露出値
ｌ１ｘｐｚを導き出すステップを含むことを特徴とする
。符号たはＸ線映像増倍管に絞りを取り付ける場合に生
ずる状況を考慮に入れるために用いる。蓋し、新しい管
電流ＩＥＸＰ２が絞りを開く程度にも依存するからであ
る。

本発明によれば、前述した種類のＸ線検査装置において
、・装置がＸ線映像増倍管と、このＸ線映像増倍管の出
力像の少なくとも一部の輝度を求めるように配置されて
いる感光手段とを具えるＸ線検査装置において、感光手
段がＸ線映像増倍管の出力像の少なくとも一部の輝度を
表わす出力信号ＬＩを与えるように配置された手段を具
え、この出力信号をＸ線露出制御手段に与え、このＸ線
露出制御手段がフルオロスコピー時に管電圧ＶＦＬと管
電流ＩＦＬとを用いて露出測定を行い、管電流■、い輝
度ＬＩ及び予め定められた露出持続時間ＴＩ！ＸＰから
管電圧ＶＦＬに関連するスイッチオン管電流の露出値１
！！ＸＰＩを計算することを特徴とする。　このＸ線検
査装置の一つの好適な実施例は、Ｘ線露出制御装置が、
ＬＡを予め定められた校正定数とし、関係 を用いて、管電圧ＶＦＬに関連するスイッチオン管電流
の露出値ＩＥＸＰを計算するように構成されていること
を特徴とする。

光検出手段は、光電子増倍管若しくは光トランジスタの
ようなホトセル又はＸ線管映像増倍管の出力スクリーン
から表ボモニタへの螢光像への伝達を行う撮像管及びこ
の撮像管からのビデオ出力信号のピーク値若しくは平均
値から輝度ＬＩを表わす信号を導き出す適当な回路手段
を具えることができる。

本発明は、写真手段によりＸ線映像増倍管の出力スクリ
ーンからラジオグラフィック記録を作るべき時は、Ｘ線
映像増倍管の出力スクリーン上の像の光の強さを測定す
ることにより必要な露出データの一層良好な目安かえら
れることを自覚したことに基づいている。このような測
定は露出時間と密度が与えられた時、スイッチオン管電
流を求めるのに使用することができる。これはＸ線映像
増倍管の伝達関数にしばしば生ずる変動にほとんど独立
している。

本発明は、更に、このような出力像の光の強さの測定は
フルオロスコピー検査の進行中に容易に行うことができ
、付加的なテストＢ出、従って余分な患者に対する照射
を必要とせずにフルオログラフィック露出を行えること
を自覚したことに基づいている。

この発明の実施例は添付の図面を引用し、実施例によっ
て説明されよう。

この発明を具体化するＸ線検査装置が第１図に示されて
いる。Ｘ線管１は制御可能な電源２に接続されている。

通常の二極管型Ｘ線管の場合に、陰極から陰極に流れる
電子放射電流を意味する管電流は、陽極と陰極の間に管
電圧、すなわち高電圧を印加することによって流されて
いる。管電流は制限された放射であり、そして陰極の温
度、従ってヒーター電流およびまた管電圧に依存してい
る。

さらに、実際の管電流は例えば露光の開始後の用な管電
圧の印加後においてのみ測定できる。もしこの電流が不
正確であると、所与の管電圧に対して陰極温度の変化に
よってのみそれは変更でき、そして熱慣性のために、少
なくとも運動による不鮮明化を最少にするために短くし
なければならぬ。

典型的な螢光写真露光の期間と比べてこれは比較的ゆっ
くりした過程である。従って、選ばれた管電圧が印加さ
れる場合、スイッチオン管電流が所望の大きさである様
に、Ｘ線管の陰極は適当なヒーター電流によって予熱さ
れねばならないことは重要である。スイッチオン管電流
のプリセレクションは、例えば英国特許明細舎弟２．０
２１．８１０８号、第１．５９９．７０７号および１．
４８６．１９８号に説明された装置のいずれかによって
実行でき、ここで制御可能な電源２が管電流前制御のい
くつかの形態に対する機能を含むものと仮定されている
。

第１図に示されたＸ線検査装置はさらに、検査している
物体３の先のＸ線放射通路において、Ｘ線映像増倍管４
のアセンブリの形をした、物体３の先のＸ線放射を感知
する感知手段、光分古鏡（ｌｉｇｈｔ　ｄｉｓｔｒｉｂ
ｕｔｉｏｎ　ｍ１ｒｒｏｒ）　５および筺体７の中の撮
像管６を具えている。光分古鏡５はＸ線映像増倍管４の
出力スクリーンから光通路の中に、そして外え偏位可能
である。螢光写真検査の間、映像増倍管出力スクリーン
から中継されたすべての光が撮像管６に向けられる様に
、鏡５は光通路から移動される。螢光写真露光が写真フ
ィルムカメラ８の使用によって行われる場合、鏡５は光
通路に戻され、フィルムカメラ８への光の約８５％を反
射し、撮像管６に約１０％の光が通過する様に配列され
、従って露光が行われている間に映像フィールドは螢光
写真表示スクリーン１０上で連続してモニターされる様
になっている。

光電セル１２の形をした光感短手段（光増倍器あるいは
光半導体装置が適当である）が、Ｘ線映像倍増管４の出
力映像の少なくとも一部分の発光強度を感知するために
配列されている。フォトセル１２の出力は増幅器１３に
よって増幅され、螢光透視の間に制御アセンブリ１４に
供給され、ここでそれは映像増倍管４の出力に所定の（
低い）平均輝度レベルを維持する様に、螢光透視の間に
Ｘ線管１の管電流を制御するために制御可能な電源２に
対して制御信号を与えるプレセット基準と比較されてい
る。

制御アセンブリ１４は、マイクロプロセッサ１５、揮発
性および不揮発性ＲＡＭ　１６と１７、およびＯ８と種
々の動作ルーチンを実行するプログラムを蓄積するＲｆ
ｌＭ　１８を含む蓄積プログラム・マイクロプロセッサ
制御装置の形を己でいる。制御アセンブリ１４はまたデ
ータと命令アクセスおよび出力指令実行のための入出力
装置１９と２０を備えている。オペレータは種々の制御
命令を入力するためのく略図的に示さ゛れた）キーボー
ド２１の形態をした制御パネルが備えられ、表示２２は
装置の動作状態を示すのに備えられている。

光電セル１２は累積光メータ（ｃｕｒｎｕｌａｔｉｖｅ
　ｌｉｇｈｔｍｅｔｅｒ）としてＸ線検査装置に使用さ
れており、この光メータは制御アセンブリ１４に含まれ
たＸ線露光制御装置と共に所定の露光線量（ｅｘｐｏｓ
ｕｒｅ　ｄｏｓｅ　）の端で電源２を経てＸ線管１をス
イッチオフするのに使われている。しかし、この動作モ
ードでは、露光期間は不確定であり、そして検査のある
形態の場合には所定の露光期間（これはまた用いられた
Ｘ線管の動作限界内でできる限り短いことが好ましい）
を使えることが望ましい。

従って、所定の期間ＴＩ！ＸＰを有する露光の結果とし
て、予め定められた露光密度Ｅを与える様にＸ線管１の
スイッチオン電流を大きさを制御する方法を実行するた
めに、この発明に従って第１図の実施例は螢光透視の間
に露光測定を行うために配列され、その目的で電源２は
管電圧ＶＦＬと管電流ＩＦＬをＸ線管１に印加し、その
間映像増倍管４の少なくとも出力映像の部分の発光強度
ＬＩはフォトセル１２によって測定され、そして制御ア
センブリ１４中のＸ線露光制御装置はその測定および管
電流ＩＦＬ、　露光期間ＴＥＸＰ後に所望の露光密度Ｅ
とる管電流ＶＦＬと関連するスイッチオン管電流値ＩＩ
！ｘｐｌの測定から、関係式 ％式％ を用いた計算によって導かれる様に配列されている。こ
こでＬＡは所定の校正定数である。スイッチオン管電流
ＩＥＸＰＩの計算値は、次の対応する螢光写真露光を実
行する際に電源２の管電流制御回路に制御に用いる様に
用意された状態でメモリ１６に蓄積されている。

校正因数ＬＡは光センサ校正因数であって、これは螢光
透視中の平均映像増倍管光出力と次の螢光写真露光の中
の平均光出力との間の関係を与え、そして対応する値は
、Ｘ線検査と結び付いたＸ線ビームで用いられた補助装
置の各形態に対し決定され、かつ適当に蓄積されなくて
はならない。この決定を行う際に、輝度値ＬＩと管電流
ＩＦＬは管電圧ＶＦＬで測定され、そして一連の露光は
、所望の露光密度Ｅを与える対応の管電流■。、をきめ
るために管電圧ＶＦＬを使用して標準のファントムで実
行されている。校正因数は関係式から見出され、これは
不揮発性メモリ１７に蓄積される。

螢光透視の間に用いられた管電流ＩＦＬにおける映像増
倍管の出力映像の光強度を測定し、それから線形変換を
施すことにより、この発明に基づく露光に対し要求され
た管電流を決定する方法は、所与の露光期間と管電圧に
対する露光密度と、Ｘ線管電流の大きさとの間の関係（
この関係は映像増倍管のガンマ−として考慮されている
）が、線形関係にあると言う事実に依存している。しか
しＸ線管電圧の変化を含む対応関係は非線形である。

それにもかかわらず、螢光透視の間に用いられたものと
異なる管電圧において螢光写真露光を実行することがし
ばしば要望されている。管電圧の変化は生成されたＸ線
放射の硬さを変化し、従って合成映像のコントラストを
変化する。

かくして、この発明による方法によって螢光透視の間に
用いられた管電圧ｖＰＬから異なっている管電圧ＶＥＸ
Ｐにおいて螢光写真露光を実行することが要望されてい
る場合、先ず管電圧ＶＦＬに対するスイッチオン管電流
ＩＩ！ＸＰ　ｌの値は上に説明された様に決定される。

スイッチオン管電流の新しい値ＩＩ！ＸＰ２は関係式 を使用する計算によって決定することができる。

ここでｐは管電圧の所定の関数であり、かつまた検査中
の物体の性質およびＸ線装置に関連する高電圧依存因数
に依存しでいる。

七記号は、式の左辺（例えば管電流ＩＩ！ＸＰ２）がた
記号の右側の表現に比例していることを意味し、そして
これは、例えば管電流ＩＥＸＰ２はダイアフラムカ４Ｘ
線映像増倍管にマウントされている場合にダイアフラム
の開口の程度に依存することを示すのに用いられ、そし
てこれは存在する場合に対応するダイアフラム調節因数
を関係式（１）、　（２）、（３）に導入することにな
ろう。

関係式（３）は、光エネルギーの平均量あるいは記録フ
ィルム上の所与の露光密度を与えるＥ値と、捜 Ｅ＝ＫＸＶＰＸＩＸＴＥＸＰ　　　　（４）によって与
えられる管電圧■、管電流■および露光時間ＴＥＸＰを
具えるＸ線管パラメータとの間の関係から導かれる。こ
こでＫは適当な定数であり、これはなかんずくダイアプ
ラム開口の程度を考慮に入れている。式（４）より、か
つ一連の実測によって、一連の一定露光あるいは８曲線
は、管電流（管電流の自然対数が便利であるが）と一定
置光時間に対する管電圧との間の相互関係を与えるため
に、例えば異なった厚さの水ファントムである異なった
物体に対してプロットされよう。測定から８曲線がプロ
ットされ、そして対応する近似関係が ｎｈＴ　　＝ＡＸＶＢ　ＸＣ（Ｋ）　　　　（５）の形
であると決定される。ここでＡとＢは実験的に決められ
た定数でしり、Ｃ（Ｋ）はＫに依存する定数である。

以下の表に設定された値を与えるフィリップスのタイプ
０Ｍ２０ＯＸ線発生器を用いて測定がおこなれ、対応す
る８曲線は第２図にプロットされている。

表 これ等の曲線は、もちろん特定の装置と露光時間に関す
るものである。所与の任意の装置において、そして所与
の任意の組の露光条件に対し、他の測定系列が処理を設
定する間の装置の校正の一部分として実施されるべきで
あろう。異なった厚さの水ファントムの測定によって一
度Ｅ曲線が決定されてしまうと、式（５）に対し最良の
適合を与える定数ΔとＢの値を実際に決定する必要は無
い。

と言うのは、例えば管電圧ｖｈに関連するアドレスを使
用する不揮発性メモリー７および８曲線が測定された物
体の厚さにおいて、各８曲線上の測定された管電流値Ｉ
７の表が蓄積できるからである。

新しい電流値Ｉ、を導くために、メモリは関連する８曲
線と新しい電圧値Ｖ、に関連するアドレスで供給される
。所与の管電圧ｖ０における露光が管電流Ｉ。に線形的
に関連しているから、そのアドレスにおける所与の電圧
Ｖ。に関連するｌｒｔ　Ｉｈ値よりも実際の電流値１１
を蓄積するのが好ましい。この様にして、他の露光値あ
るいは異なった露光期間に対し、電圧Ｖｌ＝　ＶＦＬで
決められたスイッチオン電流１ｇｘｐｌは、例えば比１
゜ の決定によって乗算回数ｍを形成するためにＶｌに対応
するアドレスで蓄積さた電流値１．と共に使うことがで
き、そしてこの因数ｍは、乗算ｒｔｘｐｘ　＝　ｍ　Ｘ
　Ｉ　２　　　　　　（６）によって、選択された露光
電圧Ｖ２＝ＶＩ！ｘｐに対応するアドレスで蓄積された
電流値Ｉ２から新しいスイッチオン電流ｒｇｘｐａを形
成するのに使用することができる。

ＩＩ　”　ＩＥＸＰＩの場合、ｍはもちろん１に等しい
が、しかし処理ルーチンを簡単可するために、割算と乗
算のステップが前と同様に遂行されよう。

この発明による方法は、最小管電圧を選択する技術を実
行するためにさら用いられ、この電圧は所与の露光を実
施するのに使えるが、一方、英国特許明細舎弟１．４８
９．３７７号の放射線透過写真で説明された様なＸ線管
の動作限界内にとどまっている。現在の場合、Ｘ線管の
動作範囲の限定境界関数は、不揮発性メモリ１７かＲＯ
Ｍ　１８のりずれかの関連電圧Ｖ。に対応する各アドレ
スにおいて最大電流値１．ＭＡＸｈの表として蓄積でき
る。前と同様に、管電圧ＶＦＬにおけるスイッチオン管
電流１！！ＸＰ　ｌは螢光透視の間に、測定された光強
度ＬＩとこれもまた測定せねばならぬ螢光透視管電流Ｉ
ＦＬから研讃によって決定される。それは自動線量制御
がまたフォトセル１２を経て与えられるためにこの実施
例で変わろうとするからである。制御アセンブリ１４に
右いて、マイクロプロセッサ１５は、予定された次々の
各管電圧（例えばＶＦＬあるいはＶＩＰイ＝ｖｈに対応
している位置における限定境界関数表に蓄積された制限
電流ＩＸＡＸｒ＋とを比較するステップバイステップの
検索ルーチンを実施するために配置されている。もしＩ
ＥＸＰ　＝　ＬｔＡｘｈなら、位置に関連する低電圧ｖ
ｈ−１を表わす次の隣接アドレスはＩＢｘｐ　（ｎ−１
）　（＝ｍｌ　（ｈ−１１）の形成に対応して式（６）
を用いてＥ曲線表から対応するＩＥＸＰを先ず形成し、
それからこの値を限定境界関数表から同様に取って来た
ｈＡＸ　（ｎ−１１と比較するために使用されている。

この検索は第２図に破線で示されており、そしてＶ、で
Ｉ！ＸＰ＋ａ＝ＩＸＡＸｍになるまで電圧アドレスを１
つづつステップすることによって続けられている。Ｖ、
に対応する電圧アドレスはＶ（＋ａ＋＋３にステップバ
ックされ、対応する値Ｖｅｘｐ　Ｉ（＝Ｖ　ｔ□８））
とＩＩ！ＸＰ２（＝Ｉ！！ＸＰＩ　ｎ＋＋））　は最大
コントラスト露光条件に対する予定された最小管電圧を
与える初期露光値として蓄積される。これは第２図にｔ
＝ｉ。

ｃｍに対する厚さ曲線（ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ　ｃｕｒｖ
ｅ）　に沿ってｖｌ・ｖｐｔから始まる検索によって示
されており、ここで（Ｂ−１０）として示されている。

ｔに対する値は最初にオペレータによって選択される。

電圧のこの変化、従ってＸ線放射の硬さの変化はその効
果として校正ファントムに対するその対応効果を持つ検
査の下で物体の映像の露光密度に対応しないから、英国
特許第１．４８９．３７７号に説明されている様に一層
の露光測定を追考することが望ましい。

この発明によると、管電流ＩＦＬ、Ｉを発生するために
自動螢光写真線量制御を許容する様に、予定された初期
露光電圧値ＶＥＸＰ　Ｉに管電圧を設定することによっ
てこのことは実行される。電流値が安定化されるや否や
、映像光強度ＬＩの新しい測定と管電流ＩＦＬ、Ｉが行
われ、そしてスイッチオン管電流ＩＩ！ＸＰ３の新しい
値は関係式〔１〕からＩＥＸＰ　ｌの場合と同様に計算
によって決定される。新しい値ＴＥＸＰ３は物体の性質
によって、ＩＩ！ＸＰ　ｌから８曲線によって決定され
た値ＩＥＸＰ２と同じではないであろう。

もし２つの値ＩＩ！ＸＰ２とＩＥＸＰ３が所定の合格限
界内で同じであるなら、予定されたスイッチオン管電流
と螢光写真露光に対する電圧パラメータが要求されたこ
の値であるべきであるから、値ｂＸＰ２は受入れられ、
そして予定された管電圧と共に蓄積される。

もし２つの電流値が合格限界を越える範囲で等しくない
なら、厚さｔ＝ｌＱｃｍとＥ−１０表に関連する仮の等
価表依存電流値（ｐｒｏｖｉｓｉｏｎａｌ　ｅｑｕｉｖ
ａｌｅｎｔｔａｂｌｅ−ｂａｓｅｄ　ｃｕｒｒｅｎｔ　
ｖａｌｕｅ）　Ｉ、を発生するためにコンピュータは先
ずＩＥＸＰ３を同じ因数ｍによって割算し、そして値■
２に対し最も近い値■□１゜（ト１）を与えるファント
ム厚さ曲線（トｔ）のＶＥＸＰに対応する電圧アドレス
Ｖ＋ａ＋　ＩでＥ曲線表を検索する。ここでｔは第２図
で示された値５　、１０．２０゜３０、４０のいずれか
を持つことができる。このことはｔの各位に対し ｌ　ｈ　ａ（Ｅ−ｔｌ　＝Ｉ　ｉｎＬ＋＋、（Ｅ−ＬＩ
−Ｉ！ｈｌｐ　ｌから比ａ　（Ｅ−ｔｌ　を発生するこ
と、およびａ（Ｅ−１の最小値に対応するｔ値を選択す
ることによって実施できる。２つの等しく小さい値の場
合に、より小さいｔ値が選択される。このことは検査中
の器官あるいは進退部分に関連してオペレータによって
選択のできるところの元々続いている曲線に対応するこ
とが証明されよう。しかし第２図の例では、曲線（Ｂ−
２０）が選択されている。いずれにしても、コンピュー
タはＥ値表の識別された厚さ領域を選択し、ＶＥｘｐ＋
　（＝Ｖ　、、＋）　テ蓄積されたｌ１ｌｌ＋１゜（Ｅ
−２０４の値にＩ＋！ＸＰ３で蓄積されたＩ＋ａ＋ｌ＋
　Ｉｅ−２０１の値にＩＥＸＰ３を同様に関連させるｍ
の新しい値（ｍ　／と示される）を計算し、そしてＩＥ
ＸＰ３が電圧Ｖ０，１に対してＩｘＡｘ（□１）より、
大きいか小さいかを決定する。その結果によって、コン
ピュータは電圧アドレス値を等しい方向にステップし、
毎回ＩｔにＰ＝ｍ’Ｘｌ（こで■はＥ曲線メモリから取
られた管電流値である）からＩＩ！ＸＰの新しい値を形
成し、ＩＥＸＰがＩＩＩＩＡＸより丁度小さいアドレス
になった時あるいはそれに戻るとストップし、そして次
の螢光写真露光に対する管電圧としてそのアドレスに対
応する新しい電圧値Ｖ■Ｐ２およびスイッチオン管電流
として対応するＥ曲線決定値ＩＥＸＰ４”ｍ′×■を選
択する。特にＩＥＸＰ３がＩＥＸＰ２と非常にことなっ
ているかおよび／またはＶＥＸＰ２がＶＥＸＰＩから著
しくことなっている場合に、電圧ＶＦＬと露光に対し用
いられるべき電圧との間で大きな差のあるケースでは、
上の処理は管電圧ＶＥＸＰ２を用いる螢光透視の間に一
層の露光測定を行うことから初めて繰返すことができる
。

管電圧とスイッチオン管電流の最終値に到達するや否や
、制御アセンブリ１４はこれ等を蓄積し、そして制御可
能電源２が連続螢光透視に対する管電圧の元の値ＶＦＬ
に戻る様に指令する。

制御アセンブリ１４は、露光測定が螢光透視検査の開始
のすぐ後で、すなわち適当な螢光透視制御がオペレータ
によって起動された後の所定の短い期間でこの露光測定
が自動的に遂行される様にプログラムされ、そしてＸ線
露光パラメータの次の計算は螢光写真露光がそのあと何
時でも行なえる様に直ちに実行される。制御アセンブリ
１４は制御された管電流ＩＦＬ、を連続的あるいは頻繁
的にモニタすることにより螢光透視の間に露光条件にお
けるどんな変化もモニタできる。と言うのは測定された
光強度ＬＩは自動螢光透視線量制御ループによって、お
よび、もし露光測定がもはや有効でないことを示す指定
の量だけ電流が変化するなら感知（センシング）によっ
て比較的一定に維持されているからである。この変化が
感知これると、露光に対する管電圧とスイッチオン管電
流の蓄積された値がオペレータからの何の注意を必要と
せず連続的にアップデートされる様に制御アセンブリ１
４が新しい露光測定シーケンスを開始させる。

電源２をＸ線管と接続する高圧ケーブルが、電源２から
の高電圧がスイッチオフされた後で螢光写真露光の終り
でＸ線管に著しい追加の放電電流を供給するのに十分な
電気容量を有することを思出す必要がある。このことは によって与えられた計算された露光電流ＩＩ！ＸＰから
オフセット電流Ｉ。を引くことによって許容され、ここ
でＬは高圧ケーブルの長さであり、露光時間ＴＲＸＰは
ミリ秒で与えられている。

対応する補正は校正式（２）に対し、この場合にはオフ
セットを加算することによってまた行われなくてはなら
ない。従って式は となる。

この発明による方法はＸ線装置がパルス化螢光透視条件
の下で使用されている状態に容易に適用できる。パルス
化螢光透視は移動体あるいは心臓の様な脈動器官の運動
を［凍結（ｆｒｅｅｚｅ）　Ｊするために用いられ、そ
して短い期間Ｔ、に対して、連続螢光透視についての電
流よりむしろ大きい管電流ＩＦＬ、Ｐの適用を含んでい
る。このパルスは繰返し印加され、そして心臓脈動サイ
クルの所定の作動時間点（ｔｉｍｉｎｇ　ｐｏｉｎｔ）
と同期でき、これはオペレータによって調節できる。こ
の状況の下で、量ＬＱを与えるために螢光透視パスの期
間Ｔｐに増幅器１３中のフォトセル１２の出力信号を積
分することで量ＬＩが導かれ、光強度ＬＩ はによって与えられる。ここでｎはその間にこの量が積
分されるところのパルスの数である。ｎ＝１であること
が好ましく、従って露光データは急速に利用可能になる
。ケーブル容量の効果は、接続３０を経るゲーティング
・パルス印加でフォトセル１２から積分信号をゲートす
ることでこの測定からのぞかれるから、信号はパルス期
間Ｔｐについてのみ積分される。露光値は式（９）から
この様に導かれた値ＬＴを用いて前ど同様に計算されて
いる。

ここで説明された実施例はフォトセル１２によって出力
スクリーンの発光強度を測定しているが、この測定はビ
デオ撮像管６によって発生されたビデオ信号の振幅の測
定によって同様にうまく行うことができる。このことは
単一のゲーティング・比較・測定回路３２で行われてい
る。この様にして導かれた測定信号は光強度ＬＩの表現
であり、そして螢光透視の間にＸ線管線量比の自動制御
についてまた使用することができる。

測定回路３２は先ずビデオ信号をゲートするので、フラ
イバックの間の信号期間は除かれる。白対黒尖頭信号振
幅が測定され、黒レベルがクランプされる。尖頭振幅に
おける、および尖頭振幅の丁度下における所与の窓領域
（ｗｉｎｄｏｗ　ｒａｎｇｅ）内の信号振幅（白）の存
在は適当な比較回路を使用して感知され、そしてビデオ
信号がこの窓領域に存在する時間の割合が測定され、そ
して螢光写真線量制御に使用される。この割合は選択で
き、例えば線量制御信号は管電流ＴｐＬを設定するため
に導くことができるので、ビデオ信号は円形モニタリン
グ面積を表わす走査フレーム内の所与の期間の約８．７
％だけ尖頭比較器窓内に存在している。このことは一般
に尖頭強度制御（ｐｅａｋ　１ｎｔｅｎｓｉｔｙ　ｃｏ
ｎｔｒｏｌ）あるいはしばしばＴ（ｌＰｌとよばれてい
る。代案として、失意窓内のビデオ信号の生起に対する
標的期間（ｔａｒｇｅｔ　ｄｕｒａｔｉｏｎ）は上記の
所与の期間の約１９．２％であり、これは一般に平均強
度制御（ａｖｅｒａｇｅｉｎｔｅｎｓｉｔｙ　ｃｏｎｔ
ｒｏｌ）あるいはＴＯＰ２として引用されている。

光強度値ＬＩの測定に対し、映像フィールドにわたるビ
デオ信号の平均値あるいは円形である映像フィールドの
選択可能領域は、画像フレームにわたってビデオ信号の
ゲートされた部分を適当にゲートしかつ積分することに
よって測定される。

さらにフォトセル１２とビデオ信号測定装置の組合せを
用いることができ、例えばビデオ信号測定回路３２は螢
光透視線量を制御するために使用でき、そしてフォトセ
ル１２は露光光強度ＬＩの測定に使用できるかその逆も
そうである。もしビデオカメラレンズ３３が制御された
アイリス・ダイアフラム３４を備えるなら、対応する制
御３５はてイリス３４の設定に無関係な出力を維持する
ために測定回路３２に印加されなくてはならないことに
注意しなくてはならない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を具体化したＸ線検査装置を示す略図、 第２図はこの装置で用いられたＥ値曲線を示す図である
。 １・・・Ｘ線管　　　　　　２・・・電源３・・・物体
　　　　　　　４・・・Ｘ線映像倍増管５・・・光分重
鐘　　　　　６・・・ビデオカメラ管７・・・筺体　　
　　　　　訃・・フィルムカメラ１０・・・表示スクリ
ーン １２・・・光電セル（あるいはフォトセル）１３・・・
増倍器　　　　　　１４・・・制御アセンブリ１５・・
・マイクロプロセッサ １６・・・揮発性ＲＡＭ　　　　　１７・・・不揮発性
ＲＡＭ１８・・・ＲＯＭ　　　　　　　　１９．２０・
・・入出力装置２１・・・キーボード　　　　２２・・
・表示３０・・・接続　　　　　　　３２・・・比較・
測定回路３３・・・ジズオカメラレンズ ３４・・・アイリス・ダイアフラム ３５・・・制御

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、Ｘ線管を具えるＸ線検査装置において、スイッチオ
   ン管電流の大きさを制御し、予め定められた持続時間Ｔ
   ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを有する露出の結果として与えられる放射
   線露出密度Ｅを提案し、Ｘ線管に夫々予め定められた管
   電圧Ｖと管電流Ｉとを与えることにより露出測定を行う
   ステップと、Ｘ線露出制御装置に結合され、これからス
   イッチオン管電流に対する露出値 Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを導くように配設されているセンサ手段
   によりＸ線管からのＸ線の通路内に位置する被検体を通
   り抜けたＸ線の強さを測定するステップとを含み、スイ
   ッチオン管電流と予め定められた管電圧Ｖとが予め定め
   られた持続時間Ｔ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを有する露出により提案
   される放射線露出密度Ｅを与えるＸ線検査方法であって
   、装置がＸ線映像増倍管と、このＸ線映像増倍管の出力
   像の少なくとも一部の輝度を求めるように配設された感
   光手段とを有するＸ線検査方法において、フルオロスコ
   ピー検査のために与えられる管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌ及び管電
   流Ｉ＿Ｆ＿Ｌを用いるフルオロスコピー時に露出測定を
   行い、フルオロスコピー検査時にＸ線映像増倍管の出力
   像の少なくとも一部の輝度ＬＩを測定し、管電圧Ｖ＿Ｆ
   ＿Ｌに関連するスイッチオン管電流の露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ
   ＿Ｐを管電流Ｉ＿Ｆ＿Ｌ輝度ＬＩ及び予め定められた露
   出持続時間Ｔ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐから計算することを特徴とす
   るＸ線検査方法。 ２、管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌに関連するスイッチオン管電流の
   露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを、ＬＡを予め定められた校正 定数とし、関係 Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１＝Ｉ＿Ｆ＿Ｌ×ＬＡ／ＬＩ×Ｔ＿Ｅ
   ＿Ｘ＿Ｐを用いて計算することにより導出することを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線検査方法。 ３、感光手段が撮像管を具え、この撮像管により発生さ
   せられたビデオ信号の振幅から輝度ＬＩを求めるステッ
   プを含むことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第
   ２項記載のＸ線検査方法。 ４、提案される露出の時使用するために選択される管電
   圧Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐがフルオロスコピー時に使用される電
   圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌと異なる場合の特許請求の範囲第１項、第
   ２項又は第３項のいずれか一項に記載のＸ線検査方法に
   おいて、フルオロスコピー時に使用される管電圧Ｖ＿Ｆ
   ＿Ｌに対応する露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１から、ｐを管
   電圧の関数で且つ被検体の性質及びＸ線装置に関連する
   高電圧依存ファクタにも依存するものとした時、関係 Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿２≒Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１×｜Ｖ＿Ｆ＿
   Ｌ／Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ｜＾ｐに従って、スイッチオン管電
   流の対応する新しい露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿２を導き出
   すステップを含むことを特徴とするＸ線検査方法。 ５、管電圧Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを露出密度が一定の場合の管
   ターンオン電流及び管電圧の関数と、Ｘ線管の動作範囲
   を限界づける境界関数との計算された下側電圧の交点に
   より定める特許請求の範囲第４項記載のＸ線検査方法に
   おいて、この計算された管電圧Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐと管電流
   Ｉ＿Ｆ＿Ｌ＿１とを用いて別の露出測定を行い、管電圧
   Ｖ＿Ｆ＿Ｌと管電流Ｉ＿Ｆ＿Ｌとを用いる前のフルオロ
   スコピー検査時とほぼ同じＸ線の強さ（ドーズ速度）を
   与えことを特徴とすＸ線検査方法。 ６、Ｘ線管及び制御自在の電源を具備するＸ線発生器と
   、Ｘ線管からのＸ線通路内に位置する被検体を通り抜け
   たＸ線を検出するセンサ手段と、このセンサ手段に結合
   され、Ｘ線管に夫々予め定められた管電圧Ｖ及び管電流
   Ｉを加えた時、センサ手段で検出される放射線を測定す
   る露出測定と、スイッチオン管電流の露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ
   ＿Ｐを導きだすのに使用される測定とを行うように構成
   され、このスイッチオン管電流と、予め定められた管電
   流とが一緒になって予め定められた持続時間Ｔ＿Ｅ＿Ｘ
   ＿Ｐを有する露出により予め定められた露出密度Ｅを与
   えるＸ線露出制御装置とを具えるＸ線検査装置であって
   、装置がＸ線映像増倍器と、このＸ線映像増倍器の出力
   像の少なくとも一部の輝度を求めるように配置されてい
   る感光手段とを具えるＸ線検査装置において、感光手段
   がＸ線映像増倍管の出力像の少なくとも一部の輝度を表
   わす出力信号ＬＩを与えるように配置された手段を具え
   、この出力信号をＸ線露出制御手段に与え、このＸ線露
   出制御手段がフルオロスコピー時に管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌと
   管電流Ｉ＿Ｆ＿Ｌとを用いて露出測定を行い、管電流Ｉ
   ＿Ｆ＿Ｌ、輝度ＬＩ及び予め定められた露出持続時間 Ｔ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐから管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌに関連するスイッ
   チオン管電流の露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１を計算するこ
   とを特徴とするＸ線検査装置。 ７、Ｘ線露出制御装置が、ＬＡを予め定められた校正定
   数とし、関係 Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１≒Ｉ＿Ｆ＿Ｌ×ＬＡ／ＬＩ×Ｔ＿Ｅ
   ＿Ｘ＿Ｐを用いて、管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌに関連するスイッ
   チオン管電流の露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを計算するように
   構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第６項
   記載のＸ線検査装置。 ８、電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌを短いパルスの系列としてＸ線管に
   与え各パルスの持続時間をＴ＿ｐとし、その各々におい
   て管電流Ｉ＿Ｆ＿Ｌを流さしめる特許請求の範囲第６項
   又は第７項に記載のＸ線検査装置において、ｎ個の短い
   パルスの各々の持続時間Ｔ＿ｐ間感光手段の出力をゲー
   トすることにより露出測定を行い、このゲートされた出
   力を積分して量ＬＱを求め、ｎを１を含 む自然数とし、出力信号ＬＩを ＬＩ＝ＬＱ／ｎ×Ｔ＿ｐ から形成することを特徴とするＸ線検査装置。 ９、前記感光手段が光電子増倍管であることを特徴とす
   る特許請求の範囲第６項、第７項又は第８項のいずれか
   一項に記載のＸ線検査装置。 １０、前記感光手段が撮像管であり、この撮像管のビデ
   オ出力信号の振幅から輝度ＬＩを表わす信号を導き出す
   回路手段を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第６
   項、第７項又は第８項のいずれか一項に記載のＸ線検査
   装置。 １１、前記Ｘ線露出制御装置が、フルオロスコピー時に
   用いられた管電圧Ｖ＿Ｆ＿Ｌとは異なる露出を行うため
   の管電圧Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐを選択したことに応答して、ｐ
   を就中管電圧の関数として関係Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿２≒Ｉ
   ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿１×｜Ｖ＿Ｆ＿Ｌ／Ｖ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ｜＾
   ｐにより管電流の新しい露出値Ｉ＿Ｅ＿Ｘ＿Ｐ＿２を導
   き出すことを特徴とする特許請求の範囲第６項ないし第
   １０項のいずれか一項に記載のＸ線検査装置。