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JPS61205875A - Operation tester of microcomputer chip - Google Patents

Operation tester of microcomputer chip

Info

Publication number
JPS61205875A
JPS61205875A JP60046173A JP4617385A JPS61205875A JP S61205875 A JPS61205875 A JP S61205875A JP 60046173 A JP60046173 A JP 60046173A JP 4617385 A JP4617385 A JP 4617385A JP S61205875 A JPS61205875 A JP S61205875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microprocessor
data
circuit
tester
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60046173A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoyuki Yoshida
知行 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Signal Co Ltd
Original Assignee
Nippon Signal Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Signal Co Ltd filed Critical Nippon Signal Co Ltd
Priority to JP60046173A priority Critical patent/JPS61205875A/en
Publication of JPS61205875A publication Critical patent/JPS61205875A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/16Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
    • G06F11/1629Error detection by comparing the output of redundant processing systems
    • G06F11/1641Error detection by comparing the output of redundant processing systems where the comparison is not performed by the redundant processing components
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G06F11/2736Tester hardware, i.e. output processing circuits using a dedicated service processor for test

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make it possible to simply inspect the chip of the microprocessor of a system side, by using a microprocessor secured in normal operation and same to that of the system side and comparing data by a non-coincidence circuit. CONSTITUTION:An operation tester 3 for the chip of a microprocessor is constituted of a microprocessor 4 secured in normal operation and performing the same operation as one used in an applied system 1, a non-coincidence circuit 5, a gate circuit 6 and a timing circuit 7. The address pass A, data pass D and system control signal of the system 1 are inputted to the non-coincidence circuit 5 and the passes A, D and a system control signal S are inputted thereto from the microprocessor 4 and, when both data are compared and a non- coincidence signal is issued, the microprocessor of the system 1 judges abnormality. By this mecha- nism, a test can be rapidly carried out by the simple apparatus.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、マイクロコンピュータチップが正常に動作し
ているかどうかを試験する動作試験器に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an operation tester for testing whether a microcomputer chip is operating normally.

従来の技術 従来におけるマイクロコンピュータシステムは、マイク
ロプロセッサを2重系や3重系等の多重系として各マイ
クロプロセッサのデータの一致、不一致を取ることによ
り、各マイクロプロセッサのチェックを行ないながら動
作することによってフェイルセーフな処理を行なうよう
になっていた。
BACKGROUND ART Conventional microcomputer systems operate by checking each microprocessor by checking whether the data of each microprocessor matches or does not match, using multiple microprocessors such as a dual system or a triple system. It was designed to perform fail-safe processing.

発明が解決しようとする問題点 しかし上記従来例においては、各マイクロプロセッサの
データを比較するためのプログラムが必要であり、それ
だけ複雑となる他、高速でデータ比較を行なうことがで
きないという問題点を有している。
Problems to be Solved by the Invention However, in the conventional example described above, a program is required to compare the data of each microprocessor, which increases the complexity, and also has the problem that data comparison cannot be performed at high speed. have.

本発明は、高速でマイクロプロセッサのチップそのもの
の動作を簡単に正常であるかの試験を行なうことができ
るマイクロコンピュータチップの動作試験器を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a microcomputer chip operation tester that can easily test whether the operation of a microprocessor chip itself is normal at high speed.

問題点を解決するための手段 上記問題点は本発明によれば、マイクロプロセッサ応用
システム側のマイクロプロセッサと同一であり、かつ正
常動作が保証されたマイクロプロセッサと、両マイクロ
プロセッサの基本的な動作に必要なデータを比較して不
一致を検出する不一致検知回路とからなり、該両データ
が不一致の場合は前記システム側のマイクロプロセッサ
自体の動作が異常であるとすることにより解決される。
Means for Solving the Problems According to the present invention, the above problems are solved by using a microprocessor that is the same as the microprocessor on the microprocessor application system side and whose normal operation is guaranteed, and a basic operation of both microprocessors. and a mismatch detection circuit that compares the data required for the data and detects a mismatch, and if the data do not match, the problem is resolved by determining that the operation of the microprocessor itself on the system side is abnormal.

実施例 以下、本発明を図面に示す実施例に基いて説明する。Example Hereinafter, the present invention will be explained based on embodiments shown in the drawings.

(1)はマイクロプロセッサ応用システムであって、中
央処理装置としてマイクロプロセッサ(2)を有してい
る。該マイクロプロセッサ(2)はアドレスバス(A)
に出されたアドレスに対応するメモリのデータをデータ
バス(D)に乗せて読み出し演算処理を行なう。この場
合アドレスバス(A)及びデータバス(D)はシステム
コントロール信号(S)に基いてマイクロプロセッサ(
2)で一定の処理を行われるようになっている。
(1) is a microprocessor application system, and has a microprocessor (2) as a central processing unit. The microprocessor (2) has an address bus (A)
The data in the memory corresponding to the address issued is loaded onto the data bus (D) and read arithmetic processing is performed. In this case, the address bus (A) and data bus (D) are connected to the microprocessor (
2) certain processing is performed.

(3)は本発明に係るマイクロコンピュータチップの動
作試験器であって、前記応用システム(1)に使用され
ているマイクロプロセッサ(2)と同一の動作をするマ
イクロプロセッサ(4)と、前記マイクロプロセッサ(
2)及びマイクロプロセッサ(4)の出力するアドレス
バス(A)に乗るアドレス信号とデータバス(D)に乗
るデータとシステムコントロール信号(S)の各々をそ
れぞれ比較し、不一致のときは不一致の出力信号を出力
する不一致検知回路(5)とからなっている。
(3) is an operation tester for a microcomputer chip according to the present invention, which includes a microprocessor (4) that operates in the same way as the microprocessor (2) used in the application system (1), and Processor (
2) and the address signal on the address bus (A) output from the microprocessor (4), the data on the data bus (D), and the system control signal (S) are compared respectively, and if they do not match, a mismatch is output. It consists of a mismatch detection circuit (5) that outputs a signal.

ここにおいて動作試験器(3)に使用されるマイクロプ
ロセッサ(4)は正常な動作が保証されたものであって
、本発明においてこれが前提となるものである。(6)
はゲート回路であって、データバス(D)のデータをマ
イクロプロセッサ(4)のデータバスに取込むものであ
り、タイミング回路(7)によりその取込みが制御され
ている。該タイミング回路(7)はアンドゲート(8)
とオアゲート(9)からなる論理回路である。
The microprocessor (4) used in the operation tester (3) is guaranteed to operate normally, and this is a premise of the present invention. (6)
is a gate circuit which takes in data from the data bus (D) to the data bus of the microprocessor (4), and the taking in is controlled by a timing circuit (7). The timing circuit (7) is an AND gate (8)
This is a logic circuit consisting of an OR gate (9).

前記不一致検知回路(5)からの不一致出力はウェイト
(W)信号として前記マイクロプロセッサ(2)と(4
)に入力されることにより両マイクロプロセッサ(2,
4)は待機状態となる。
The mismatch output from the mismatch detection circuit (5) is sent as a wait (W) signal to the microprocessors (2) and (4).
), both microprocessors (2,
4) is in a standby state.

このように前記動作試験器(3)はハードウェアで組ま
れたユニット形式のものであって、システム(1)を動
作させる際に試験器(3)を着装させてもよいし、固定
的に装着させるようにしてもよい。
In this way, the operation tester (3) is in the form of a unit assembled with hardware, and the tester (3) may be attached when operating the system (1), or it may be fixed. It may be made to be worn.

なお、システム(1)のマイクロプロセッサ(2)と動
作試験器(3)のマイクロプロセッサ(4)とはクロッ
クパルス発生回路(10)からのクロック信号に同期し
て動作するものであるが、試験器(3)・のマイクロプ
ロセッサ(4)はマイクロプロセッサ(2)自体の動作
をチェックするためだけの動作であって、他の処理、例
えば入出力装置等を動作させる処理は行なっていないも
のである。従ってマイクロプロセッサ(2)をチェック
するための特殊のプログラム等は全く必要ないものであ
る。
Note that the microprocessor (2) of the system (1) and the microprocessor (4) of the operation tester (3) operate in synchronization with the clock signal from the clock pulse generation circuit (10). The microprocessor (4) in the device (3) only operates to check the operation of the microprocessor (2) itself, and does not perform any other processing such as operating input/output devices. be. Therefore, there is no need for any special program or the like to check the microprocessor (2).

作  用 次にその動作を説明すると、システム(1)のアドレス
バス(A)、データバス(D)及びシステムコントロー
ル信号(S)は動作試験器(3)の不一致検知回路(5
)に入力され、シス′テム(1)のマイクロプロセッサ
(2)と同一の動作をする正常動作が保証されたマイク
ロプロセッサ(4)からは、前記各バス(A、D)及び
信号(S)と同一のものが不一致検知回路(5)に入力
される。そしてクロックパルス発生回路(10)からの
クロック信号により順次前記不一致検知回路(5)に入
力される各データ等が夫々比較され、各データ等が一致
している場合はシステム(1)は通常通り動作し各処理
を行なう。しかし、不一致検知回路(5)においてデー
タ等が比較され不一致を生じると不一致である旨の出力
信号を発生し続け、その出力信号はウェイト信号(W)
としてマイクロプロセッサ(2)及び(4)にウェイト
をかけ待機状態とさせる。これにより動作試験器(3)
におけるマイクロプロセッサ(4)は正常動作が保証さ
れているので、システム(1)側のマイクロプロセッサ
(2)が異常を起こしていると判断できる。すなわち、
動作試験器(3)を用いることによって、システム(1
)を動作させながらシステム(1)側のマイクロプロセ
ッサ(2)自体の正常、異常を速やかに検出することが
できる。
Function Next, to explain its operation, the address bus (A), data bus (D), and system control signal (S) of the system (1) are connected to the mismatch detection circuit (5) of the operation tester (3).
), and from the microprocessor (4) which is guaranteed to operate in the same way as the microprocessor (2) of the system (1), the buses (A, D) and signals (S) The same one is input to the mismatch detection circuit (5). The data sequentially inputted to the mismatch detection circuit (5) are compared using the clock signal from the clock pulse generation circuit (10), and if the data match, the system (1) continues as usual. It operates and performs each process. However, when the data etc. are compared in the mismatch detection circuit (5) and a mismatch occurs, it continues to generate an output signal indicating a mismatch, and the output signal is a wait signal (W).
As a result, the microprocessors (2) and (4) are placed in a standby state. With this, the operation tester (3)
Since the microprocessor (4) in the system (1) is guaranteed to operate normally, it can be determined that the microprocessor (2) in the system (1) is abnormal. That is,
By using the operation tester (3), the system (1)
) can quickly detect whether the microprocessor (2) on the system (1) side is normal or abnormal.

発明の効果 以上のように本発明によれば、正常な動作が保証され、
かつシステム側のマイクロプロセッサと同一のマイクロ
プロセッサを用いて、不一致検知回路により各データ等
を比較して不一致の場合は、システム側のマイクロプロ
セッサが異常であることを検出できるようにしたので、
マイクロコンピュータ応用システムを動作させながらも
簡単にマイクロプロセッサのチップの正常、異常を検知
できるとともに、他重系で各マイクロプロセッサを動作
させるシステムに必要な特殊なプログラムが必要でなく
、簡単な装置で高速に処理を行なうことができるという
利点を有する。
As described above, according to the present invention, normal operation is guaranteed;
In addition, using the same microprocessor as the system side microprocessor, we have made it possible to compare each data etc. with a discrepancy detection circuit, and if there is a discrepancy, it can be detected that the system side microprocessor is abnormal.
It is possible to easily detect the normality or abnormality of a microprocessor chip while operating a microcomputer application system, and it does not require special programs required for systems that operate each microprocessor in another system, using a simple device. It has the advantage of being able to process at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は、本発明に係る動作試験器を用いたシステムの回路
図である。 (1)二マイクロプロセッサ応用システム、(2,4)
 :マイクロプロセッサ、 (5):不一致検知回路。
The figure is a circuit diagram of a system using an operation tester according to the present invention. (1) Two microprocessor application systems, (2,4)
: Microprocessor, (5) : Mismatch detection circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 〔1〕マイクロプロセッサ応用システム(1)側のマイ
クロプロセッサ(2)と同一であり、かつ正常動作が保
証されたマイクロプロセッサ(4)と、両マイクロプロ
セッサ(2、4)の基本的な動作に必要なデータを比較
して不一致を検出する不一致検知回路(5)とからなり
、該両データが不一致の場合は前記システム(1)側の
マイクロプロセッサ(2)自体の動作が異常であるとす
ることを特徴とするマイクロコンピュータチップの動作
試験器。
[Scope of Claims] [1] A microprocessor (4) that is the same as the microprocessor (2) on the side of the microprocessor application system (1) and whose normal operation is guaranteed, and both microprocessors (2, 4) and a discrepancy detection circuit (5) that compares data necessary for the basic operation of the system and detects a discrepancy, and if the two data do not match, the microprocessor (2) itself on the system (1) operates. An operation tester for a microcomputer chip, characterized in that the tester detects an abnormality.
JP60046173A 1985-03-08 1985-03-08 Operation tester of microcomputer chip Pending JPS61205875A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60046173A JPS61205875A (en) 1985-03-08 1985-03-08 Operation tester of microcomputer chip

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60046173A JPS61205875A (en) 1985-03-08 1985-03-08 Operation tester of microcomputer chip

Publications (1)

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JPS61205875A true JPS61205875A (en) 1986-09-12

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Family Applications (1)

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JP60046173A Pending JPS61205875A (en) 1985-03-08 1985-03-08 Operation tester of microcomputer chip

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JP (1) JPS61205875A (en)

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